FI75047C - Anordning foer utfoerande av spektralanalys. - Google Patents

Anordning foer utfoerande av spektralanalys. Download PDF

Info

Publication number
FI75047C
FI75047C FI821661A FI821661A FI75047C FI 75047 C FI75047 C FI 75047C FI 821661 A FI821661 A FI 821661A FI 821661 A FI821661 A FI 821661A FI 75047 C FI75047 C FI 75047C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
diffraction
grids
lattice
angle
radiation
Prior art date
Application number
FI821661A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI821661A0 (fi
FI75047B (fi
Inventor
Karl-Peter Christian Lindblom
Sonja Ann-Charlotte Engman
Original Assignee
Scanoptics Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Scanoptics Oy filed Critical Scanoptics Oy
Priority to FI821661A priority Critical patent/FI75047C/fi
Publication of FI821661A0 publication Critical patent/FI821661A0/fi
Priority to JP58501707A priority patent/JPS59500984A/ja
Priority to DE8383901599T priority patent/DE3368462D1/de
Priority to US06/570,930 priority patent/US4684253A/en
Priority to EP83901599A priority patent/EP0120870B1/en
Priority to PCT/FI1983/000040 priority patent/WO1983004093A1/en
Application granted granted Critical
Publication of FI75047B publication Critical patent/FI75047B/fi
Publication of FI75047C publication Critical patent/FI75047C/fi

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Claims (3)

1. Laite spektrianalyysin suorittamiseksi/ joka laite käsittää elimet (10) säteilyn johtamiseksi sisään 5 laitteeseen, elimet aikaansaadun spektrin rekisteröimiseksi ja parillisen määrän porrashiloja (1-6, 12-15), jotka ovat pareittain identtisiä sisään tulevan säteilyn hajottamiseksi niin, että aallonpituusdispersio yhdeltä porrashilalta tapahtuvan diffraktion yhteydessä aikaansaa lisäyksen aal-10 lonpituusdispersiossa seuraavalta porrashilalta tai seuraa-vilta porrashiloilta tapahtuvan diffraktion yhteydessä, jolloin kunkin parin hiloilla on sellainen suuntaus, että kunkin parin ensimmäisen hilan (1, 2) tulokulma OO on likimain yhtä suuri kuin toisen hilan (2, 13) diffraktio-15 kulma φ), ja että ensimmäisen hilan (1, 2) diffraktiokulma </$) on likimain yhtä suuri kuin toisen hilan (2, 13) tulo-kulma (0<) , tunnettu siitä, että hilat (1-6, 12-15) on sovitettu ensimmäiseen ilmatiiviiseen säiliöön (18), joka on varustettu elimillä ensimmäisen säiliön kaasunpai-20 neen säätämiseksi spektrin pyyhkäisemiseksi.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu siitä, että se käsittää lähtöraon (17), josta säteily johdetaan toiseen alloon pituutta dispergoivaan optiseen elimeen (25), jonka avulla säteilyyn sisältyvät 25 allonpituudet, jotka vastaavat hilojen spektrijärjestyksiä, erotetaan toisistaan ja fokusoidaan polttotasossa (26), jolloin mainittu toinen elin on suunnattu siten, että allonpituusdispersio mainitusta toisesta elimestä tapahtuu likimain samassa tasossa kuin aallonpituusdispersio hiloissa. 30
3. Patenttivaatimuksen 2 mukainen laite, tun nettu siitä, että mainittu toinen elin (25) on suljettu toiseen ilmatiiviiseen säiliöön (21), joka on yhteydessä ensimmäisen säiliön (18) kanssa, niin että kummassakin säiliössä vallitsee sama paine. Il
FI821661A 1982-05-11 1982-05-11 Anordning foer utfoerande av spektralanalys. FI75047C (fi)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI821661A FI75047C (fi) 1982-05-11 1982-05-11 Anordning foer utfoerande av spektralanalys.
JP58501707A JPS59500984A (ja) 1982-05-11 1983-05-10 スペクトル分析を実施する装置
DE8383901599T DE3368462D1 (en) 1982-05-11 1983-05-10 Apparatus for carrying out spectral analysis
US06/570,930 US4684253A (en) 1982-05-11 1983-05-10 Apparatus for carrying out spectral analysis
EP83901599A EP0120870B1 (en) 1982-05-11 1983-05-10 Apparatus for carrying out spectral analysis
PCT/FI1983/000040 WO1983004093A1 (en) 1982-05-11 1983-05-10 Apparatus for carrying out spectral analysis

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI821661A FI75047C (fi) 1982-05-11 1982-05-11 Anordning foer utfoerande av spektralanalys.
FI821661 1982-05-11

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI821661A0 FI821661A0 (fi) 1982-05-11
FI75047B FI75047B (fi) 1987-12-31
FI75047C true FI75047C (fi) 1988-04-11

Family

ID=8515502

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI821661A FI75047C (fi) 1982-05-11 1982-05-11 Anordning foer utfoerande av spektralanalys.

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4684253A (fi)
EP (1) EP0120870B1 (fi)
JP (1) JPS59500984A (fi)
DE (1) DE3368462D1 (fi)
FI (1) FI75047C (fi)
WO (1) WO1983004093A1 (fi)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE502809C2 (sv) * 1994-05-16 1996-01-22 Now Optics Ab Anordning för spektralanalys av optisk ljuskälla med bilddetektion och uppdelning av spektralordningar
US5675411A (en) * 1996-05-10 1997-10-07 General Atomics Broad-band spectrometer with high resolution
DE19635046A1 (de) * 1996-08-29 1998-03-05 Nis Ingenieurgesellschaft Mbh Spektralanalytische Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung von Elementzusammensetzungen und -konzentrationen
US6151112A (en) * 1997-11-17 2000-11-21 Innovative Lasers Corp. High-resolution, compact intracavity laser spectrometer
US6667804B1 (en) * 1999-10-12 2003-12-23 Lambda Physik Ag Temperature compensation method for wavemeters
US20020039231A1 (en) * 2000-08-11 2002-04-04 Optichrom Inc. Complex grating for compensating non-uniform angular dispersion
US6538737B2 (en) * 2001-01-29 2003-03-25 Cymer, Inc. High resolution etalon-grating spectrometer
US6952260B2 (en) * 2001-09-07 2005-10-04 Jian Ming Xiao Double grating three dimensional spectrograph

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2945953A (en) * 1957-03-19 1960-07-19 Parsons & Co Sir Howard G Grating spectrometers
US3098408A (en) * 1959-02-11 1963-07-23 Applied Physics Corp Double folded-zeta-configuration monochromator
US3306158A (en) * 1962-05-29 1967-02-28 Shimadzu Corp Grating spectroscopes
US3373651A (en) * 1966-11-28 1968-03-19 Design Inc Interferometric spectrometer utilizing three fabry-perot etalons in series
JPS5039693Y1 (fi) * 1970-02-25 1975-11-14
FR2125114B1 (fi) * 1971-02-11 1973-12-07 Nal Etu Spatia Es Centre
SE359648B (fi) * 1972-03-17 1973-09-03 N Danielsson
FR2260788A1 (en) * 1974-02-12 1975-09-05 Balkanski Minko Dispersion of a beam of monochromatic radiation - is effected by three monochromators in series improving resolution
US3888590A (en) * 1974-04-10 1975-06-10 John U White Grating monochromator
JPS5267343A (en) * 1975-10-27 1977-06-03 Hitachi Ltd Double spectroscope
DE2730613C3 (de) * 1977-07-07 1980-04-03 Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co Gmbh, 7770 Ueberlingen Doppelmonochromator
US4455087A (en) * 1981-04-06 1984-06-19 Hamamatsu Systems Inc. Monochromatic imaging apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
EP0120870B1 (en) 1986-12-17
FI821661A0 (fi) 1982-05-11
JPS59500984A (ja) 1984-05-31
US4684253A (en) 1987-08-04
WO1983004093A1 (en) 1983-11-24
EP0120870A1 (en) 1984-10-10
DE3368462D1 (en) 1987-01-29
FI75047B (fi) 1987-12-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7518722B2 (en) Multi-channel, multi-spectrum imaging spectrometer
US8154732B2 (en) Multiband spatial heterodyne spectrometer and associated methods
US4563090A (en) Grating spectrometer
US2922331A (en) Spectroscopic device
CN106441581B (zh) 一种高分辨率的线阵ccd直读型光谱仪
US4087183A (en) Spectrograph
US5424826A (en) Wideband optical micro-spectrometer system
JPH0339572B2 (fi)
FI75047C (fi) Anordning foer utfoerande av spektralanalys.
US5189486A (en) Echelle polychromator
US6597452B1 (en) Compact littrow-type scanning spectrometer
JPS6156921A (ja) スペクトル分析装置用光学系
CN101802572B (zh) 光谱计装置
CN110926612A (zh) 一种多通道宽带高分辨光谱仪
US5066127A (en) Stigmatic imaging with spherical concave diffraction gratings
US5448351A (en) Echelle polychromator
US4289401A (en) Optical system for spectral devices
US4183668A (en) Method of eliminating astigmatism and coma in a spectrograph including a plane grating and two concave, spherical mirrors
US2483746A (en) Optical apparatus utilizing light of a wave length above a selected value
CN110926613A (zh) 一种消慧差宽带高分辨光谱仪
US4391523A (en) Scannable detector system for echelle grating spectrometers
US10578488B1 (en) Compact light dispersion system
JPH06241897A (ja) 分光装置
CN108458784A (zh) 一种单色仪
Krabbe et al. 3D: a new generation imaging spectrometer

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed

Owner name: SCANOPTICS OY