FI62906B - Foerfarande och anordning foer magnetisk inspektion - Google Patents

Foerfarande och anordning foer magnetisk inspektion Download PDF

Info

Publication number
FI62906B
FI62906B FI771785A FI771785A FI62906B FI 62906 B FI62906 B FI 62906B FI 771785 A FI771785 A FI 771785A FI 771785 A FI771785 A FI 771785A FI 62906 B FI62906 B FI 62906B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
workpiece
current
magnetic
magnetic field
particles
Prior art date
Application number
FI771785A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI62906C (fi
FI771785A (fi
Inventor
Amos Earl Holt
William Eugene Lawrie
Albert Stingel Birks
Original Assignee
Babcock & Wilcox Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Babcock & Wilcox Co filed Critical Babcock & Wilcox Co
Publication of FI771785A publication Critical patent/FI771785A/fi
Publication of FI62906B publication Critical patent/FI62906B/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI62906C publication Critical patent/FI62906C/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/83Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws by investigating stray magnetic fields
    • G01N27/84Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws by investigating stray magnetic fields by applying magnetic powder or magnetic ink
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Description

ΓΒΊ f11^UULUTU*|ULKAISU , 0 n lBJ {11) utlAcgninosskiiift 62906 +¾¾¾ W Potent LC-JJelTt (51) ^W3 G 01 N 27/84 SUOMI—FINLAND (21) iwttih*k.»iu.-PK«K*»efcn4ni 771785 (22) H*k*mfoptlv* — Ana6knlR|«4ag 03.06.77 (FI) (23) AlkuptNt—GHtlghttafec 03.06.77 (41) Tulkit JulklMkal—lllvk offancMf 05.12.77
Patentti- j· rekifterihsllltus /44) NthttvtkfipMOA j· kmiprflaUaun pwn. — 30.1182
Petut och rflufrttyreluun ' AmMom uttafd och utl.*rtfMn pwMkarad (32)(33)(31) ^ryduey wmoHmw tugtrd priorttut 0U.06.76 USA(US) 693021 (71) The Babcock & Wilcox Company, l6l East l+2nd Street, Nev York,
Nev York 10017, USA(US) (72) Amos Earl Holt, Eynchburg, Va., William Eugene Lavrie, Eynchburg, Va., Albert Stingel Birks, Doylestovn, Ohio, USA(US) (7¾) Berggren Qy Ab (5^+) Menetelmä ja laite magneettista tarkastusta varten - Förfarande och anordning för magnetisk inspektion
Keksintö koskee menetelmää ja laitetta ferromagneettisten työkap-paleiden tarkastusta varten, ja tarkemmin määriteltynä sähkö-magneettisesti työkappaleeseen indusoitujen magneettisten kenttien vaikutuksen alaisina olevien magneettisten hiukkasten käyttämistä osoittamaan vikojen, kuten säröjen, halkeamien, sulkeumien tai katkonaisuuksien läsnäoloa työkappaleessa. Viat vääristävät ferromagneettiseen koeainekseen indusoidun magneettisen kentän, muodostaen koeaineksen ulkopuolelle vuotokentän ja myös synnyttäen vikojen poikki vastakkaisia magneettisia polariteetteja, jotka muun muassa vetävät puoleensa aineksen pinnalle kerrostettujen magneettisten hiukkasten kertymän, jos magneettisen kentän häiriö on riittävän voimakas tunkeutuakseen aineksen pinnan läpi.
Esillä olevan keksinnön mukaan menetelmä vikojen ilmaisemiseksi magnetoitavissa olevassa työkappaleessa, jossa menetelmässä levitetään magneettisia hiukkasia kappaleen pintaan sekä kohdistetaan kappaleeseen magneettisia kenttiä ja hiukkasten orientoitumisen perusteella päätellään vikojen esiintymisestä, on tunnettu siitä, että kohdistetaan työkappaleeseen pulssinmuotoinen vaihtovirta- 2 62906 ja tasavirtamagneettikenttä sekä säädetään vaihtovirta- ja tasa- virtamagneettikenttien pulsseerauksen nopeatta ja kestoa viko jen ilmaisun tehostamiseksi.
Keksintö kohdistuu myös laitteeseen vikojen havaitsemiseksi mag-netoitavissa olevassa työkappaleessa, johon laitteeseen kuuluu magnetoitavissaoleva ies, joka sijoitetaan työkappaleeseen, ikeen ympäri käämitty magnetointikäämi sekä käämiin yhdistetyt virran-syöttöelimet, jolle laitteelle on tunnusomaista se, että virran-syöttöelimet käsittävät sekä vaihtovirtalähteen että tasavirta-lähteen, viimeksimainitun käsittäessä tasasuuntauselimet vaihtovirran tasasuuntaamiseksi tasavirraksi, jolloin vaihtovirta- ja tasavirtapiirit ovat kytketyt rinnan yhteiseen vaihtovirtaläh-teeseen ja kumpikin piiri sisältää säädettävän ulostulomuuntajän magneettiseen käämiin menevän virran säätämiseksi, ja jolloin vaihto- ja tasavirtapiirit sisältävät suodattimet tasavirran vast, vaihtovirran päästämiseksi niiden läpi, laitteen käsittäessä edelleen säädettävät viivereleet pulssinmuotoisten vaihto- ja tasa-virtojen synnyttämiseksi sekä magneettiseen käämiin syötetyn vaihto- ja tasavirran keston ja pulssinnopeuden säätämiseksi.
Mikään aikaisemmin tunnettu menetelmä ei esitä sellaista yhdistelmää, joka on määritelty päävaatimuksessamme, toisin sanottuna yhdistetyn pulsseeratun vaihtovirtamagneettikentän ja vastaavan tasavirtamagneettikentän käyttämistä.Itse asiassa mikään viite-julkaisuista ei esitä pulssinmuotoisen kentän soveltamista. US-patenteissa 3 378 762 ja 3 246 396 käytetään joko vaihtovirta-kenttää tai tasavirtakenttää, mutta ei molempia yhdistettynä. Patenteissa ei myöskään esitetä kentän pulsseeraustamagneetti-hiukkasten orientoitumisen tehostamiseksi.
DE-patenttijulkaisussa 746 226 sivulla 1 riveillä 31-35 on myös ehdotettu käyttämään vaihtovirtaa tasavirran ohella, joko samanaikaisesti tai erikseen, mutta julkaisussa ei ole muutoin millään tavalla esitetty miten tuollainen yhdistelmä voitaisiin toteuttaa. Itse asiassa selityksessä ei ole missään muualla mainittu koko asiaa. Viitejulkaisussa selostetaan kahden kentän käyttöä, jotka kentät ovat 90° kulmassa toisiinsa nähden, mikä on saatu aikaan käämimällä toinen käämi säteettäisesti toisen ympärille.
62906 3
Molempiin käämeihin syötetään virtaa samasta lähteestä ja resul-toitava magneettikenttä on noin 45°:n kulmassa tutkittavaan putkeen nähden. Jos käytettäisiin vaihtovirtaa, muuttuisi kenttä jokaisella jaksolla, eikä olisi mitään tarvetta havaita magneettikentän voimaviivojen suuntaisia vikoja "kääntämällä samanaikaisesti syötettyjen käämien polariteettia", niin kuin julkaisussa esitetään. Näin ollen siinä suoritusmuodossa, jota julkaisussa selostetaan, on kysymys vain tasavirran käytöstä.
Keksintö selitetään nyt esimerkkinä oheisen, osaksi kaaviollisen piirustuksen yhteydessä, jossa: kuvio 1 on osaksi lohkodiagramma virtapiiristä, jolla indusoidaan magneettisia kenttiä, ja osaksi esittää myös sähkövirran kulkua virtapiirin eri kohdissa ajasta riippuvana; kuvio 2 on perspektiivinen pystykuvanto magneettisesta ikeestä toiminta-asennossa työkappaleen osan päällä, magneettisine voi-maviivoineen; ja kuviot 3A, 3B ja 3C ovat leikkaus-pystykuvantoja kolmesta tyypillisestä työkappaleesta ja esittävät työkappaleeseen tasavirralla indusoituja magneettisia kenttiä, jolloin poikkileikkausvarjostus on selvyyden vuoksi jätetty pois.
Kuviosta 1 näkyy, että magneettinen induktio-ies 10 voidaan ener-gisoida käämin 12 avulla kahden rinnan kytketyn virtapiirin kautta, joiden erillisiä osia on merkitty nuolilla 14 ja vastaavasti 16, vaihtovirran lähteestä (esittämättä), joista saadaan esimerkiksi 120 voltin, 60 Herz'in tai 240 voltin, 50 Herz'in virtaa, syöttö-johtimia 18 myöten. Alavirtapiiriin 14 eli virtapiirin vaihto-virtaosaan sisältyy säädettävä muuntaja 20, joka on ensiöpuo-leltaan yhdistetty johtimiin 18 ja toisiopuoleltaan 20 A yhdistetty vaihtovirtasuotimeen, jonka muodostaa tasasuuntaaja eli diodi 26 sarjassa reaktanssin eli kuristuskäämin 28 kanssa. Rinnakkaiset alavirtapiirit 14 ja 16 on kytketty napojen 25,27 kautta Jcäämiin 12,joka on käämitty ikeelle 10. Näin ollen ikeen 10 indusoitu magneettinen kenttä on tuloksena virtapiirin 14 vaihtovirran indusoiman magneettisen kentän ja virtapiirin 16 neliö-aaltoisen, tasasuunnatun virran indusoiman magneettisen kentän algebraalisesta summasta, joiden kenttien relatiivisia arvoja voidaan asetella säätömuuntajien 20 62906 4 ja 22 avulla. Näin ollen tasavirralla indusoidun magneettisen kentän suurentaminen ei samalla suurenna vaihtovirralla indusoitua magneettista kenttää.
Maksimitehojen saamiseksi sekä vaihtovirralla että tasavirralla indusoituihin magneettisiin kenttiin molemmissa alavirtapiireissä 14 ja vast. 16 on vakiotyyppiset, sähköiset, aseteltavat hidastusreleet 30 ja 32 kuten Potter and Brumfield, Type CKB-38-70010, sykkeen taajuuden ja keston säätämiseksi alavirtapiireissä. Niinpä tyypillinen aaltomuoto alavirtapiirissä 14 on esitetty kohdassa 64 ja tyypillinen aaltomuoto alavirtapiirissä 16 on esitetty kohdassa 66 ja näiden aaltomuotojen algebrallinen summa, kun ne kohdistetaan käämiin 12 tahdistettuina, on esitetty kohdassa 68. Selvää on, että sykkeet vaihtoehtoisesti voidaan sovittaa kokonaan tai osaksi epä-tahdissa.
Ikeelle 10 käämityn käämin 12 läpi kulkeva virta kehittää magneettisen kentän ikeen sisään ja indusoi magneettisen kentän 40 (kuvio 2) työkappaleeseen 50 (kuvio 2), joka on sovitettu ikeen päiden 10A ja 10β väliin. Aineksessa olevat viat aiheuttavat magneettisen kentän häiriytymiä eli vääristymiä ja muodostavat vikojen molemmin puolin magneettisia napoja, jotka ovat havaittavissa monin eri tavoin. Kuvio 3A esittää leikkauskuvantona tyypillistä työkappaletta 50A, jossa ei ole mitään vikoja, ja siihen liittyvää indusoitua magneettista kenttää 40A· Samalla tavoin kuvio 3B esittää tyypillistä työ-kappaletta 50β, jossa on pintavika 55, ja ilmaisee indusoidun magneettikentän 40 „ vääristymän 40_. Samalla tavoin kuvio 3-, esittää . D D L- tyypillistä työkappaletta 50^,, jossa on pinnan alainen vika 56, ja ilmaisee magneettisen kentän 40c vääristymän 40c'. Huomattakoon, että pinnan alaiseen vikaan 56 liittyvä kentän vääristymä 40c' saattaa jäädä tunkeutumatta työkappaleen 50^, pinnan läpi ellei indusoidun magneettisen kentän 40^ voimakkuus ole riittävän suuri tai jos vika sijaitsee huomattavasti työkappaleen pinnan alapuolella. Näin ollen, elleivät vääristymät 40^' ulotu työkappaleen 50^, pinnan läpi, magneettinen tarkastus esimerkiksi testatun työkappaleen pinnalle siroteltujen magneettisten hiukkasten avulla saattaa olla ilmaisematta vikaa. Toisin sanoen magneettiset vääristymät 40c' eivät vaikuta magneettisiin hiukkasiin. Ikeen 10 päiden välissä olevassa aineksessa olevat viat ovat kuitenkin alttiina sykkivälle tasavirta-mag-neettikentälle ja perättäisesti tai samanaikaisesti alttiina sykkivälle vaihtovirta-magneettikentälle. Lisäksi nämä sykkivät magneettikentät vaikuttavat merkitsevästi magneettisten hiukkasten reagoin- 5 62906 tiin syvällä pinnan alla olevaan vikaan eli sen aiheuttamaan magneettikentän vääristymään.
Laitetta käytettäessä ies 10 asetetaan kosketukseen testattavana olevan työkappaleen kanssa ja vaihtovirtalähde kytketään johtimiin 18. Ikeen päiden 10A ja 10β välissä olevalle testattavalle ainekselle asetetut tai sirotetut magneettiset jauhehiukkaset saatetaan sitten alttiiksi indusoiduille, sykkiville magneettikentille. Kun kummankin virran voimakkuutta ja kestoa asetellaan sopivasti, magneettiset hiukkaset ilmaisevat pienenkin vuotokentän, joka johtuu syvällä aineksen pinnan alla olevasta viasta, sen suuren liikkuvuuden ansiosta, jonka niissä kehittää indusoidun magneettisen kentän sykkivä vaihtovirtaosa. Lisäksi, koska tasavirta-magneettikenttä pysyttää magneettiset hiukkaset paikoillaan ja vaihtovirta-magneettikenttä aiheuttaa hiukkasissa liikkuvuutta, nämä sykkivät tasavirta- ja vaihtovirta-magneettikentät vaikuttavat hiukkasiin niin, että ne, itse asiassa, "kävelevät" testattavaa ainesta pitkin sykkivään dynaamiseen tapaan. Esimerkiksi viasta johtuva vääristynyt tasavirta-magneettikenttä pitelee hiukkaset paikoillaan ja sen jälkeinen tai samanaikainen vaihtovirta-magneettikenttä panee paikoilleen jääneet hiukkaset liikekannalle. Sen jälkeen, jos tasavirtasyke lakkaa, vaihtovirtakenttä, jos se vielä on "päällä", panee hiukkaset liike-kannalle. Tämän jälkeen toinen tasavirtasyke tai tasavirtajäännös-magneettikenttä vääristää kentän vian kohdalla, mikä pysyttää magneettiset hiukkaset sen vaikutuksen alaisina. Itse asiassa viasta saadaan dynaaminen eli liikkuva kuva, josta vika on helposti tunnistettavissa. Näin ollen magneettisten hiukkasten mainitun "kävelyn" testattavan aineksen pinnan poikki saavat yhdessä aikaan vaihtovirralla ja tasavirralla indusoidut sykkivät magneettiset kentät olkootpa ne vaikuttamassa perättäin tai yhtä aikaa. Toisin sanoen siinäkin tapauksessa, että vaihtovirta on päällä vain tasavirran ollessa poissa päältä eli vuorotellen sen kanssa, tai pelkästään tasavirran päällä ollessa eli samanaikaisesti sen kanssa, hiukkasten tasavirralla indusoitu magneettikenttä ja sen jäännöskenttä sekä pinnalla vaikuttavan vaihtovirta-magneettikentän pintavaikutus saavat aikaan hiukkasten "kävelyn".
Tämän keksinnön mukainen magneettinen tarkastusmenetelmä ja laite testattiin kahdella testilevyllä, joissa oli huolellisesti mitatut "viat" eli reiät (katso taulukkoa 1), verraten niitä samanlaiseen ikeeseen, johon vaikutti (1) vaihtovirta yksinään ja (2) tasavirta yksinään. Käytettäessä pelkkää vaihtovirtaa tai pelkkää tasavirtaa käyttävää magnetoimisjärjestelmää reiät numerot 7 ja 8 havaittiin 6 62906 testilevyssä #1 ja reikä numero 3 testilevyssä #2 oli syvimmällä oleva havaittu vika. Sen sijaan tämän keksinnön mukaisella laitteella havaittiin reiät numero 7 ja 8 ja testilevyn #1 syvemmällä olevat reiät 5 ja 6; ja myös testilevyn #2 reiät l:stä 5:een. Näin ollen tämän keksinnön mukainen laite ja menetelmä antoivat 60 % parannuksen syvällä olevien vikojen havainnissa; ja lisäksi ne antoivat dynaamisen, visuaalisen vikailmaisun, nimittäin hiukkasten "kävelyn", jota muut menetelmät eivät tarjoa.
Taulukko 1 Levy $ 1
Reikä Reikä- Reiän Reiän sijainti n:o läpimitat pituus (L) syvyyspinnan alapuolella 1 0,794 mm pora katkennut 2 0,794 mm 27,9 mm 1,32 mm 3 0,794 mm pora katkennut 1,17 mm 4 0,794 mm 25,7 mm 0,97 mm 5 0,794 mm 10,2 mm 0,89 mm 6 0,794 mm 25,2 mm 0,61 mm 7 0,794 mm 25,0 mm 0,53 mm 8 0,794 mm 27,1 mm 0,31 mm
Levy
Reikä Reikä- Reiän Reiän sijainti n:o läpimitat pituus (L) syvyyspinnan alapuolella 1 1,587 mm 25,6 mm 0,25 mm 2 1,587 mm 25,7 mm 0,63 mm 3 1,587 mm 25,4 mm 1,02 mm 4 1,587 mm 25,0 mm 1,37 mm 5 1,587 mm 25,4 mm 1,83 mm 6 1,587 mm 25,2 mm 2,18 mm 7 1,587 mm 25,0 mm 2,57 mm 8 1,587 mm 25,1 mm 3,74 mm
Lisäksi tämän keksinnön ensisijaisessa sovellutuksessa on todettu, että kuristimen, induktorin 28 reaktanssin (X) on oltava suurempi kuin 10 kertaa ikeen impedanssi (Z), so.
XT > 10XZ L ies 7 62906 ja että suotimen eli kondensaattorin 24 reaktanssin on oltava pienempi kuin kymmenesosa ikeen impedanssista, so.
x <0,1 x Z .
C ies
Ohimennen huomattakoon, että impedanssi (Z) on virran kokonaisvas-tuksen mitta vaihtovirtapiirissä, jota tavallisesti esitetään kompleksikaavalla Z = R + iX, jossa R on ohminen vastus ja X se vastus, jonka induktanssi tai kapasitanssi aiheuttaa vaihtovirtapiirissä.
Lisäksi keksinnön erääseen toiseen sovellutusmuotoon sisältyy kon- i densaattori 40, (esitetty "haamuna" kuviossa 1), joka on toisesta päästään kytketty katodin 26A ja kuristimen 28 väliin ja toisesta päästään käämin 12 pääteosaan, tasavirran kulun varmistamiseksi piirissä 16 muuntajien 20 ja 22 kaikissa faasiyhdistelmissä.
Huomattakoon, että haluttaessa voidaan käyttää tasavirran lähdettä alavirtapiirin 16 muuntajan 22 ja tasasuuntaajan 26 sijasta.

Claims (6)

62906 8
1. Menetelmä vikojen ilmaisemiseksi magnetoitavissa olevassa työkappaleessa (50), jossa menetelmässä levitetään magneettisia hiukkasia kappaleen (50) pintaan sekä kohdistetaan kappaleeseen (50) magneettisia kenttiä ja hiukkasten orientoitumisen perusteella päätellään vikojen esiintymisestä, tunnettu siitä, että kohdistetaan työkappaleeseen (50) pulssinmuotoinen vaihtovirta, ja tasavirtamagneettikenttä sekä säädetään vaihtovirta- ja tasavirtamagneettikenttien pulsseerauksen nopeutta ja kestoa vikojen ilmaisun tehostamiseksi.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että pulssinmuotoinen vaihtovirta- ja tasavirtamagneettikenttä kohdistetaan samanaikaisesti työkappaleeseen (50).
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että pulssinmuotoinen vaihtovirta- ja tasavirtamagneettikenttä kohdistetaan vuorotellen työkappaleeseen.
4. Laite vikojen havaitsemiseksi magnetoitavissa olevassa työ-kappaleessa (50), johon laitteeseen kuuluu magnetoitavissa oleva ies (10), joka sijoitetaan työkappaleeseen (50), ikeen ympäri käämitty magnetointikäämi (12) sekä käämiin yhdistetyt virran-syöttöelimet, tunnettu siitä, että virransyöttöelimet käsittävät sekä vaihtovirtalähteen että tasavirtalähteen, viimeksimainitun käsittäessä tasasuuntauselimet (26, 28, 40) vaihtovirran tasasuuntaamiseksi tasavirraksi, jolloin vaihtovirta, ja tasavirtapiirit ovat kytketyt rinnan yhteiseeen vaihtovirtaläh-teeseen (18) ja kumpikin piiri sisältää säädettävän ulostulo-muuntajan (20, 22) magneettiseen käämiin menevän virran säätämiseksi, ja jolloin vaihto- ja tasavirtapiirit sisältävät suodattimet tasavirran vast, vaihtovirran päästämiseksi niiden läpi, laitteen käsittäessä edelleen säädettävät viivereleet (30, 32) pulssinmuotoisten vaihto- ja tasavirtojen synnyttämiseksi sekä magneettiseen käämiin (12) syötetyn vaihto- ja tasavirran keston ja pulssinnopeuden säätämiseksi. 62906 9
5. Patenttivaatimuksen 4 mukainen laite, tunnettu siitä, että tasavirtapiiri sisältää kondensaattorin (40), jonka toinen pää on yhdistetty suodattimen (28) ja tasasuuntaajan (26) väliseen pisteeseen ja toinen pää on yhdistetty muuntajan (22) ja magneettikäämin (12) väliseen pisteeseen sen varmistamiseksi, että tasavirta kulkee piirin läpi riippumatta muuntajien vaiheyhdistelmistä.
6. Patenttivaatimuksen 4 tai 5 mukainen laite, tunnet-t u siitä, että vaihtovirtapiirin poikki on sivuvirtaan kytketty kondensaattori (24).
FI771785A 1976-06-04 1977-06-03 Foerfarande och anordning foer magnetisk inspektion FI62906C (fi)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/693,021 US4058762A (en) 1976-06-04 1976-06-04 Method and apparatus for magnetic inspection through adjustable pulsed alternating and direct current magnetic fields
US69302176 1976-06-04

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI771785A FI771785A (fi) 1977-12-05
FI62906B true FI62906B (fi) 1982-11-30
FI62906C FI62906C (fi) 1983-03-10

Family

ID=24782990

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI771785A FI62906C (fi) 1976-06-04 1977-06-03 Foerfarande och anordning foer magnetisk inspektion

Country Status (15)

Country Link
US (1) US4058762A (fi)
JP (1) JPS5316685A (fi)
AU (1) AU512325B2 (fi)
BE (1) BE855396A (fi)
CA (1) CA1096941A (fi)
DE (1) DE2725306B2 (fi)
DK (1) DK247377A (fi)
FI (1) FI62906C (fi)
FR (1) FR2353851A1 (fi)
GB (1) GB1584671A (fi)
IN (1) IN148533B (fi)
IT (1) IT1077222B (fi)
NL (1) NL7706147A (fi)
NO (1) NO771923L (fi)
SE (1) SE7706471L (fi)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1499209A1 (ru) * 1986-07-02 1989-08-07 Белорусский Политехнический Институт Намагничивающее устройство дл магнитографического контрол изделий
DE4034751A1 (de) * 1990-10-30 1991-05-23 Michael Schulz Verfahren und vorrichtung zur magnetischen risspruefung von nur einseitig zugaenglichen bohrungslaibungen in behaeltnissen der dampf- und druckerzeugungstechnik
US6316845B1 (en) 1999-11-05 2001-11-13 Parker Research Corporation Battery powered AC electromagnetic yoke for magnetic particle inspection
US20080258719A1 (en) * 2007-04-18 2008-10-23 The University Of Houston Apparatus and methods for ferromagnetic wall inspection of tubulars
DE102007024060A1 (de) * 2007-05-22 2008-11-27 Illinois Tool Works Inc., Glenview Vorrichtung und Verfahren zur Prüfmittel-Kontrolle
DE102007024058A1 (de) * 2007-05-22 2008-11-27 Illinois Tool Works Inc., Glenview Vorrichtung und Verfahren zur Prüfmittel-Kontrolle
DE102008048592B4 (de) * 2008-09-23 2010-08-26 Mr-Chemie Gmbh Verstellbarer Handmagnet
UA117542C2 (uk) 2017-06-16 2018-08-10 Олександр Григорович Калениченко Система для визначення структури електромагнітного поля і матеріалу об'єкта і спосіб визначення структури електромагнітного поля і матеріалу об'єкта
US11402351B1 (en) 2019-08-20 2022-08-02 Scan Systems Corp. Apparatus, systems, and methods for discriminate high-speed inspection of tubulars
US11402352B1 (en) 2019-08-20 2022-08-02 Scan Systems Corp. Apparatus, systems, and methods for inspecting tubulars employing flexible inspection shoes
US11307173B1 (en) 2019-08-20 2022-04-19 Scan Systems Corp. Apparatus, systems, and methods for inspection of tubular goods

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA447838A (en) * 1948-04-13 Magnaflux Corporation Method of and apparatus for magnetic testing
US1782462A (en) * 1925-07-06 1930-11-25 Firm Neufeldt & Kuhnke Betr Sg Arrangement for testing magnetizable objects
US1910770A (en) * 1928-02-27 1933-05-23 Kinsley Carl Magnetic testing of masses
US3378762A (en) * 1967-07-05 1968-04-16 Phillip J. Parker Magnetic particle inspection probe with adjustable probe legs and self-contained circuitry for a.c. or d.c. testing

Also Published As

Publication number Publication date
NO771923L (no) 1977-12-06
AU512325B2 (en) 1980-10-02
NL7706147A (nl) 1977-12-06
FI62906C (fi) 1983-03-10
AU2581777A (en) 1978-12-07
DE2725306B2 (de) 1979-06-28
FR2353851A1 (fr) 1977-12-30
US4058762A (en) 1977-11-15
IN148533B (fi) 1981-03-28
CA1096941A (en) 1981-03-03
FI771785A (fi) 1977-12-05
GB1584671A (en) 1981-02-18
IT1077222B (it) 1985-05-04
DE2725306A1 (de) 1977-12-08
FR2353851B1 (fi) 1981-12-18
JPS5316685A (en) 1978-02-15
SE7706471L (sv) 1977-12-05
BE855396A (fr) 1977-12-05
DK247377A (da) 1977-12-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI62906B (fi) Foerfarande och anordning foer magnetisk inspektion
US5930105A (en) Method and apparatus for air ionization
US4803563A (en) Rotor-in-stator examination magnetic carriage and positioning apparatus
US2418553A (en) Flux measuring system
US4188577A (en) Pulse eddy current testing apparatus for magnetic materials, particularly tubes
KR930010556A (ko) 전자유도형 검사장치 및 검사방법
JPH01203965A (ja) 非強磁性金属製被検査材の検査装置
US9846181B2 (en) Flux-gate current sensor with additional frequency measuring
US2255053A (en) Apparatus and method for detecting defects in metallic objects
GB2062235A (en) Measuring velocity and/or distance travelled
US11300591B2 (en) Contactless current measurement
FR2660068B1 (fr) Procede et dispositif de controle de tubes metalliques par courants de foucault.
WO2009071438A1 (de) Verfahren zur detektion von interlaminaren blechschlüssen im stator-blechpaket von elektromaschinen
TR201807225T4 (tr) İmpuls manyetizasyonu ile endüksiyon akımı testi için metot ve cihaz.
KR920701818A (ko) 박강대의 자기탐상 장치
JP2019215282A (ja) 管状体のきず又は欠陥の検査方法及び装置
JP4248627B2 (ja) 地絡検査装置
DE50108834D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln der Qualität eines Kabels
SU1499209A1 (ru) Намагничивающее устройство дл магнитографического контрол изделий
JPH0353155A (ja) 鋼材の内部欠陥又は損傷検出装置
US2428471A (en) Magnetic testing method and apparatus
EP0023456B1 (fr) Procédé et dispositif de contrôle non destructif par courants de Foucault pour la détection de zônes carburées
JP2016180701A5 (fi)
KR920008489A (ko) 전자유도에 의한 검사장치
JPS6028216A (ja) 直流電流検出変流器

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed

Owner name: THE BABCOCK & WILCOX COMPANY