FI117834B - Paperipinnan laadun testaus - Google Patents
Paperipinnan laadun testaus Download PDFInfo
- Publication number
- FI117834B FI117834B FI20040600A FI20040600A FI117834B FI 117834 B FI117834 B FI 117834B FI 20040600 A FI20040600 A FI 20040600A FI 20040600 A FI20040600 A FI 20040600A FI 117834 B FI117834 B FI 117834B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- paper
- intensity
- coherent
- light beam
- radiation
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/21—Polarisation-affecting properties
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N2021/4704—Angular selective
- G01N2021/4709—Backscatter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/86—Investigating moving sheets
- G01N2021/8663—Paper, e.g. gloss, moisture content
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
117834
Paperipinnan laadun testaus 1. Keksinnön ala Tämä keksintö liittyy paperin pinnan laadun testaamiseen. Keksintöä 5 voidaan hyödyntää ainakin testaamaan paperin painettavuusominaisuuksia.
2. Tekniikan tason kuvaus
Painettavuusominaisuudet ovat erittäin tärkeitä paperinvalmistajille ja painotaloille. Paperin pinnan rakenteen karakterisointi on kuitenkin haasteellista. Ennestään tunnetaan ratkaisu paperin pinnan laadun mittaamiseksi, jos-10 sa levy järjestetään paperin pinnalle. Tämä levy sisältää reikiä, joiden läpi il- I
maa puhalletaan kohti paperin pintaa. Kun voima, jolla levy puristetaan vasten paperia pidetään vakiona säätämällä kohti paperin pintaa puhallettavaa ilmaa, riippuu paperin pinnan ja levyn pinnan välistä vuotavan ilman määrä paperin pinnan karheudesta. Täten on mahdollista määritellä paperin pinnan laatu mit-15 taamalla ilmamäärää joka puhalletaan ulos levyssä olevista rei’istä.
Eräs ongelma yllä kuvatussa tekniikan tason ratkaisussa on mittausten tarkkuus. Huokosia, joiden koko on pm-alueella, ei voida ottaa huomioon näissä mittauksissa, vaikkakin ne ovat tärkeitä kun paperin painettavuusominaisuuksia arvioidaan.
• · · • · 20 Keksinnön yhteenveto » · **"* Tämän keksinnön tarkoitus on ratkaista edellä selostettu heikkous ja
* * I
tarjota käyttöön ratkaisu, joka mahdollistaa paperin pinnan laadun mittaamisen *·..** sellaisella tavalla että paperin ominaisuudet voidaan määritellä paremmin kuin tekniikan tason mukaisissa ratkaisuissa. Nämä ja muut esillä olevan keksinnön 25 päämärät saavutetaan itsenäisen patenttivaatimuksen 1 mukaisella menetelmällä ja itsenäisen patenttivaatimuksen 4 mukaisella laitteistolla.
: *** Esillä olevassa keksinnössä koherenttia takaisinsirontaa hyödynne- • · · .**·. tään paperin pinnan ominaisuuksien testaamiseen. Mittaamalla koherentin ta- kaisinsironnan intensiteettiä eri kulmilla on mahdollista saavuttaa mittaustulok- • · · ’· " 30 siä, joilla on paljon parempi tarkkuus kuin aikaisemmin. Ratkaisu mahdollistaa mittaustulosten saamisen, jotka ottavat huomioon todelliset partikkelit tai ra- * kennevariaatiot tulevan valon aallonpituuden suurusluokassa. Partikkeleiden koot, partikkeleiden keskimääräiset etäisyydet, tai huokoset testattavan paperin pinnassa vahvistavat heijastumista lähellä takaisinsirontakulmaa interfe- • · · · 117834 2 renssistä johtuen. Täten esimerkiksi paperin pinnoitteen huokoset voidaan ottaa huomioon kun pinnan laatua määritetään. Siksi on myös mahdollista määrittää paperin painettavuusominaisuuksia paremmin kuin ennen.
Keksinnön mukaisen menetelmän ja laitteiston edullisia suoritus-5 muotoja ilmenee epäitsenäisistä vaatimuksista 2 - 3 ja 5 -10.
/
Kuvioiden lyhyt kuvaus
Seuraavassa esillä olevaa keksintöä selostetaan yksityiskohtaisemmin esimerkinomaisesti ja viittaamalla oheisiin kuvioihin, joista: kuvio 1 esittää vuokaaviota keksinnön ensimmäisestä edullisesta 10 suoritusmuodosta, kuvio 2 on lohkokaavio joka havainnollistaa keksinnön ensimmäistä edullista suoritusmuotoa, kuvio 3 havainnollistaa koherenttia takaisinsirontaa, kuvio 4 havainnollistaa mittaustuloksia jotka on saatu kuvion 2 lait- 15 teistolla, kuvio 5 on lohkokaavio joka havainnollistaa keksinnön toista edullista suoritusmuotoa, kuviot 6 ja 7 havainnollistavat mittaustuloksia jotka on saatu kuvion 5 laitteistolla, ja 20 kuvio 8 on lohkokaavio joka havainnollistaa keksinnön kolmatta edul- :***: lista suoritusmuotoa.
* * * .
• * * • * **"* Edullisten suoritusmuotojen kuvaus • · · .
• · ·
Kuvion 1 mukaista menetelmää voidaan edullisesti käyttää paperin **”* pinnan laadun testaamiseen kyseisen paperin painettavuusominaisuuksien ··· 25 määrittämiseksi.
• ··
Lohkossa A tuotetaan valosäde valolähteellä, kuten laserilla. Lohkossa B tämä valolähde suunnataan kohti paperin pintaan. Suuntaaminen voi-daan saada aikaan esimerkiksi osittain läpäisevän peilin avulla, joka suuntaa ainakin osan säteestä olennaisesti kohtisuoraan kohti paperin pintaa. Jotta m·] . 30 saataisiin aikaan säde jolla on olennaisesti vakio intensiteetti, on mahdollista, ** j mikäli on tarpeen, järjestää detektori osittain läpäisevän peilin toiselle puolelle.
* Tämä mahdollistaa intensiteettiä kuvaavan mittaustuloksen saamisen, ja tä- .,·[· män tuloksen käyttämisen valolähteen säätämiseen vakiointensiteetin saavut- ··**: tamiseksi.
3 117834
Lohkossa C koherentin takaisinsironnan intensiteetti mitataan eri kulmille. Tämä mittaustulos analysoidaan lohkossa D pinnan laadun määrittämiseksi.
Kuvio 2 on lohkokaavio joka havainnollistaa keksinnön ensimmäistä 5 edullista suoritusmuotoa. Kuviossa 2 esitettyä laitteistoa voidaan käyttää sen menetelmän toteuttamiseksi jota on selostettu kuvioon 1 viitaten.
Valosäde 2 tuotetaan valolähteellä 1, joka edullisesti on laser. Säde suunnataan kohti suuntausvälinettä 3, joka edullisesti on osittain läpäisevä peili (säteenjakaja). Tämä suuntausväline suuntaa ainakin osan 4 säteestä olen-10 naisesti kohtisuoraan kohti paperin 5 pintaa. Säteen toinen osa 6 kulkee osittain läpäisevän peilin läpi detektorille 7. Detektori mittaa säteen 6 intensiteettiä. Mittaustulosta käytetään säätämään valolähdettä 1 vakiointensiteetin aikaansaamiseksi säteelle 2. Säätövälineet voivat olla integroituna valolähteeseen. On havaittava, että detektori 7 ei välttämätön mikäli valolähdettä 1 voidaan 15 säätää jollakin toisella tavalla tuottamaan valosäteen, jolla on olennaisesti vakio intensiteetti.
Kuviossa 2 esitetty laitteisto sisältää myös mittausvälineen 9 koherentin takaisinsironnan 8 intensiteetin mittaamiseksi pinnasta eri kulmilla. Paperin 5 pintaominaisuuksilla on vaikutus takaisinsirontaan. Tätä hyödynnetään 20 esillä olevassa keksinnössä siten, että mittausvälineitä käytetään aikaansaamaan mittaustulos, joka osoittaa koherentin takaisinsironnan intensiteetin eri kulmilla, kuten on selostettu kuvion 4 yhteydessä. Mittausvälineet 9 voidaan käytännössä toteuttaa kamerana joka käsittää CCD (Charge Coupled Device) : elementin, jolloin analysointivälineet voidaan toteuttaa piireillä, ohjelmana tai * · · 25 näiden yhdistelmänä.
···
Mittausvälineellä 9 saatu mittaustulos analysoidaan analysointiväli- )···. neillä 10 paperin 5 pinnan ominaisuuksien määrittämiseksi. Analysointivälineet • · 10 voidaan toteuttaa esimerkiksi tietokoneohjelmalla ja PC.IIä (Personal Com- . puter). Vaihtoehtoisesti on myös mahdollista, että mittausvälineet ja analysoin- * * * *;j·* 30 tivälineet on integroitu yhdeksi fyysiseksi komponentiksi.
Kuviossa 2 esitetty laitteisto voidaan toteuttaa siten, että se on osa :*·.· paperinvalmistuskonetta joka jatkuvasti mittaa ja analysoi tuotetun paperin pin- • · ....: nan laatua. Mikäli analysointi osoittaa, että ennalta määrättyä laatutasoa ei *, enää saavuteta, liipaistaan hälytys.
• · · ···! 35 Mikäli päämääränä on toteuttaa mittaukset kapeakaistaisella valosä- teellä, niin tämä voidaan toteuttaa käyttämällä laajakaistaista valolähdettä yh- i 4 117834 dessä suodattimen kanssa, joka suodatin sallii ainoastaan halutun aallonpituuden omaava säteen osan läpikulun. Täten suodatin voi olla sijoitettuna valolähteen 1 ja suuntausvälineen 3 välissä kuviossa 2. Vaihtoehtoisesti suodatin voi olla sijoitettuna suuntausvälineen 3 ja mittausvälineen 9 välissä kuviossa 2.
5 Kuvio 3 havainnollistaa koherenttia takaisinsirontaa, joka ilmenee kun esimerkiksi kuvion 2 laitteistoa käytetään Kuvio 3 esittää kahta tulevaa aaltoa 4' ja 4" jotka on suunnattu olennaisesti kohtisuoraan kohti paperin 5 pintaa. Näiden aaltojen kulkureittejä on havainnollistettu kuviossa. Nämä kulkureitit riippuvat epäsäännöllisyyksistä, kuten huokosista 11, joita paperissa on.
10 Kuviossa takaisinsironneilla aalloilla 8' ja 8" on sama reittipituus ja ne ovat samassa vaiheessa. Tuloksena on rakenteellinen interferenssi, joka voidaan detektoida kuvion 2 laitteistolla suoritettavilla mittauksilla.
Kuvio 4 havainnollistaa mittaustuloksia jotka on saatu kuvion 2 laitteistolla. Koherentin takaisinsironnan piikki on selvästi nähtävissä muun "nor-15 maalin" taustasironnan joukosta, joka kuviossa 4 on merkitty suhteellisella intensiteetillä 1.
Näkyvän piikin muoto ja korkeus antaa indikaation paperin pinnan ominaisuuksista. Piikin kulmaleveys riippuu sirottimien (partikkeleiden tai huokosten) tilavuusdensiteetistä. Yksityiskohtaisemmin kulmaleveys on suhteessa 20 valon / keskimääräiseen vapaaseen kulkureittiin pienten partikkeleiden väliaineessa. Keskimääräinen vapaa kulkureitti on pallomaisille partikkeleille tila-vuusdensiteetin v, yksittäisten partikkeleiden koon a, ja ekstinktiotehokkuuden :***: qe (ekstinktiopoikkileikkaus jaettuna partikkelin geometrisella poikkileikkauksel- + * * .
. la ) funktio, / = (4a)/(3v</c). Ei-absorboiville sirottimille puolileveys koherentin 25 takaisinsironnan piikin a puoli-maksimissa on karkeasti a = 0.6(1-g)/(k*l), • · jossa g on yksittäissironta-assymetrisyysparametri ja k = 2π/λ on aaltoluku. [HI Täten piikin leveys riippuu epäsäännöllisyyksien fyysisistä ominaisuuksista, se *·**' esimerkiksi kapenee keskimääräisen vapaan kulkureitin kasvaessa ja kasva van assymetrisyysparametrin yhteydessä. On esimerkiksi mahdollista määritel-30 lä rajat piikin kulmaleveydelle ja piikin intensiteetille, ja käyttää näitä rajoja sen * · * määrittämiseen onko vai eikö paperin laatu ole riittävän hyvä painotarkoituk- .·! : siin.
* * ·
Kuvio 5 on lohkokaavio joka havainnollistaa keksinnön toista edullis- • a . ta suoritusmuotoa. Kuviossa 5 esitetty laitteisto on hyvin samankaltainen kuin 35 kuviossa 2 esitetty. Täten kuvion 5 suoritusmuotoa selostetaan pääasiassa "**: osoittamalla erot näiden kahden suoritusmuodon välillä.
117834 s
Kuviossa 5 ensimmäinen polarisaattori 12 on järjestetty säteen kulkureitille valolähteen 1 ja suuntausvälineen 3 väliin. Toinen polarisaattori 13 on järjestetty koherentin takaisinsironnan 8 kulkureitille suuntausvälineen 3 ja mittausvälineen 9 väliin. Muussa tapauksessa kuvion 5 laitteisto vastaa kuviossa 5 2 esitettyä laitteistoa. Syy ensimmäisen ja toisen polarisaattorin 12 ja 13 käyttöön on, että käytännön kokeet ovat osoittaneet niiden mahdollistavan mittausten tarkkuuden parantamisen.
Kuviot 6 ja 7 havainnollistavat esimerkinomaisia mittaustuloksia jotka on saatu kuvion 5 laitteistolla. Kuvioissa 6 ja 7 mittaukset on tehty paperille 10 sellaisella tavalla, että aallonpituus oli 0, 49 pm kuviossa 6 ja 0,66 pm kuviossa 7. Molempien kuvioiden tulokset vahvistavat että koherentin takaisinsironnan piikin suhteellinen intensiteetti on korkeampi kun käytössä on yhteispolarisaa-tio (co-polarization); toisin sanoen, kun ensimmäinen polarisaattori 12 ja toinen polarisaattori 13 on valittu siten, että polarisaatio on sama.
15 Kuvio 8 on lohkokaavio joka havainnollistaa keksinnön kolmatta edullista suoritusmuotoa. Kuviossa 8 esitetty laitteisto on hyvin samanlainen kuin kuviossa 8 esitetty. Siten kuvion 8 suoritusmuotoa selostetaan pääasiassa osoittamalla eroja näiden kahden suoritusmuodon välillä.
Kuvio 8 liittyy moni-aaltopituusmittauksiin. Moni-aaltopituusmittauk-20 set mahdollistavat informaation hankkimisen koskien huokosten kokojakaumaa paperissa. Tällainen moni-aaltopituusmittaus voidaan toteuttaa ainakin kahdel-la vaihtoehtoisella tavalla: • · · 1) Käyttämällä kuvioiden 2 tai 5 laitteistoa. Tässä tapauksessa usei- • * * ; ta kapeakaistaisia valosäteitä joilla on eri aaltopituuksia käytetään vuorollaan.
.···. 25 Koherentti takaisinsironta mitataan kullekin säteelle erikseen, ja eri säteille • « saadut mittaustulokset analysoidaan pinnan laadun määrittämiseksi.
2) Käyttämällä kuvion 8 laitteistoa. Tässä tapauksessa laajakaistais- '**·' ta valolähdettä 1 käytetään tuottamaan laajakaistainen säde. Monisuodatinväli- ne 14, kuten pyörivä suodatinlevy 14, jossa on eri kaistanpäästösuodattimia 30 levyn eri sektoreissa, järjestetään mittausvälineen 9 eteen. Täten monisuoda- * * * tinväline 14 sallii eri aallonpituuksia olevan koherentin takaisinsironnan läpiku-: lun mittausvälineelle eri ajanhetkinä. Tämä mahdollistaa mittaustulosten saa- misen eri aallonpituuksille erikseen samalla mittausvälineellä 9. Mikäli levyä * · . pyöritetään suurella nopeudella on mahdollista saada mittaustuloksia eri aal- 35 lonpituuksille lyhyen aikajakson sisällä, käytännössä lähes samanaikaisesti.
• · : 117834 6 Täten on mahdollista esimerkiksi saada mittaustuloksia eri aallonpituuksilla paperin pinnan samasta osasta paperista, joka liikkuu paperikoneessa.
Kuviossa 8 polarisaattori 12 ja polarisaattori 13 on esitetty katkoviivoin sen osoittamiseksi, että ne voivat olla käytössä tai poissa käytöstä suori-5 tusmuodossa, joka hyödyntää pyörivää levyä 14.
On ymmärrettävä, että edellä oleva selitys ja siihen liittyvät kuviot on ainoastaan tarkoitettu havainnollistamaan esillä olevaa keksintöä. Alan ammat-timiehille tulevat olemaan ilmeistä, että keksintöä voidaan myös muunnella ja modifioida muulla tavoin poikkeamatta keksinnön suojapiiristä.
• · φ · • * · ··· • · ♦ · ***-:''' * * · · * · · • · · *· • · • · *· · ··· • ...
* * · · . i .
• · · • · • · · · · ·*· • · * • · • · • * · • · ··· • · · • · • ‘ * · ··* *··· • ·
Claims (10)
1. Menetelmä paperin pinnan laadun testaamiseksi, jossa menetelmässä: tuotetaan (A) valosäde joka on ainakin osittain suunnattu (B) olen-5 naisesti kohtisuoraan kohti mainitun paperin pintaa, tunnettu siitä, että mitataan (C) ja analysoidaan jatkuvasti paperinvalmistuskoneen tuottaman paperin ominaisuuksia mittaamalla eri kulmilla koherentin takaisinsironnan intensiteetti mainitun paperin pinnasta, ja määritetään (D) mainitun paperin pinnan laatu analysoimalla eri kul-10 millä mitatun koherentin takaisinsironnan intensiteettiä, eli koherentin takaisinsironnan piikkiä siten, että paperin pinnan painettavuusominaisuudet määritetään piikin kulmaleveyden ja intensiteetin perusteella.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mainittu menetelmä käsittää: 15 tuotetaan useita valosäteitä eri aallonpituuksilla jotka on ainakin osit tain suunnattu olennaisesti kohtisuoraan kohti mainitun paperin pintaa, mitataan eri kulmilla mainituille useille valosäteille koherentin takaisinsironnan intensiteetti mainitun paperin pinnasta, ja määritetään mainitun paperin pinnan laatu analysoimalla mittaustu-20 loksia jotka on saatu mainituille useille valosäteille.
:***: 3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, ···''> :**·. että mainittu menetelmä käsittää: φ · · . tuotetaan laajakaistainen valosäde joka on ainakin osittain suunnattu .···. olennaisesti kohtisuoraan kohti mainitun paperin pintaa, • · 25 mitataan eri kulmilla useille aallonpituuksille koherentin takaisinsiron- •;:l nan intensiteetti mainitun paperin pinnasta, ja • · *···* määritellään mainitun paperin pinnan laatu analysoimalla mittaustu loksia jotka on saatu mainituille useille aallonpituussäteille.
4. Laitteisto paperin pinnan laadun testaamiseksi, joka käsittää: 30 valolähteen (1) valosäteen (2) tuottamiseksi, : suuntausvälineet (3) mainitun tuotetun säteen ainakin osan (4) suun- • · · taamiseksi olennaisesti kohtisuoraan kohti mainitun paperin (5) pintaa, . tunnettu siitä, että paperinvalmistuskoneen tuottaman paperin jatkuvaksi ..*·* mittaamiseksi ja analysoimiseksi laitteisto käsittää: • · * * · • · 117834 ,, mittausvälineet (7) koherentin takaisinsironnan (8) intensiteetin mittaamiseksi paperin pinnasta eri kulmilla, ja analysointivälineet (10) eri kulmilla mitatun intensiteetin, eli koherentin takaisinsironnan piikin analysoimiseksi mainitun paperin pinnan painetta-5 vuusominaisuuksien määrittämiseksi piikin kulmaleveyden ja intensiteetin perusteella.
5. Patenttivaatimuksen 4 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että mainittu valolähde (1) on laser.
6. Patenttivaatimuksen4tai 5 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, 10 että mainitut suuntausvälineet (3) sisältävät osittain läpäisevän peilin järjestettynä suuntaamaan ainakin osaa mainitusta valosäteestä (2) kohti mainitun paperin pintaa (5) ja sallimaan koherentin takaisinsironnan (8) läpikulun mainittujen mittausvälineiden saavuttamiseksi.
7. Jonkin patenttivaatimuksen 4-6 mukainen laitteisto, tunnettu 15 siitä, että mainittu laitteisto käsittää: detektorin (7) järjestettynä mittaamaan valolähteen (1) tuottaman valosäteen (2) intensiteettiä, ja säätövälineet valosäteen (1) säätämiseksi vasteena mitatulle intensi- ; teetille vakiointensiteetin omaavan valosäteen aikaansaamiseksi.
8. Jonkin patenttivaatimuksen 4 - 7 mukainen laitteisto, t u n n ett u siitä, että mainittu laitteisto käsittää: ' ensimmäisen polarisaattorin (12) järjestettynä valosäteen (2) kulku- :***: reitille valolähteen (1) ja suuntausvälineiden (3) väliin, ja • · · . toisen polarisaattorin (13) järjestettynä koherentin takaisinsironnan .···. 25 (8) kulkureitille suuntausvälineiden (3) ja mittausvälineiden (9) väliin. • · "\m
9. Jonkin patenttivaatimuksen 4 - 8 mukainen laitteisto, tunnettu *"! siitä, että mainitut mittausvälineet (9) sisältävät CCD-elementin.
* · **·*’ 10. Jonkin patenttivaatimuksen 4 - 9 mukainen laitteisto, t u n n et- t u siitä, että ^ 30 mainittu valolähde tuottaa laajakaistaisen (1) valosäteen, • * * mainittu laitteisto käsittää monisuodatinvälineen (14) jossa on useita : suodattimia, kunkin suodattimen ollessa järjestetty sallimaan koherentin takai- sinsironnan (8) suodatinkohtaisen aallonpituuden läpikulun, • * • . . ··· * «*·· ··*·· • · 117834 mainitut mittausvälineet (9) on järjestetty mittaamaan mainitun moni-suodatinvälineen (14) läpi kulkevan koherentin takaisinsironnan (8) intensiteetin erikseen kullekin aallonpituudelle, ja mainitut analysointivälineet (10) on järjestetty analysoimaan eri kul-5 millä eri aallonpituuksille mitattua intensiteettiä mainitun paperin laadun määrittämiseksi. ··· • · ···.. • * · • * • · • · * • · « ·*· • · · * k • · • * * • · · • · Φ · • · · • * • · • · · • Φ · • · * · * # t . * · • • · Φ · · •f·.. * · · · · ♦ * ♦ »·· • * · · ····· • « 10 1 1 7834
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI20040600A FI117834B (fi) | 2004-04-28 | 2004-04-28 | Paperipinnan laadun testaus |
| PCT/FI2005/050134 WO2005106436A1 (en) | 2004-04-28 | 2005-04-27 | Paper surface quality testing |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI20040600A FI117834B (fi) | 2004-04-28 | 2004-04-28 | Paperipinnan laadun testaus |
| FI20040600 | 2004-04-28 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI20040600A0 FI20040600A0 (fi) | 2004-04-28 |
| FI20040600A FI20040600A (fi) | 2005-10-29 |
| FI117834B true FI117834B (fi) | 2007-03-15 |
Family
ID=32104234
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI20040600A FI117834B (fi) | 2004-04-28 | 2004-04-28 | Paperipinnan laadun testaus |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| FI (1) | FI117834B (fi) |
| WO (1) | WO2005106436A1 (fi) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101158640B (zh) * | 2007-11-06 | 2010-06-09 | 山东大学 | 一种使用线阵ccd快速测量相干背散射的装置及方法 |
| CN106442870A (zh) * | 2016-07-29 | 2017-02-22 | 维达纸业（中国）有限公司 | 一种纸张在线质检系统及其方法 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4097751A (en) * | 1976-09-24 | 1978-06-27 | Grumman Aerospace Corporation | Retroreflectance measuring apparatus |
| SU1383168A1 (ru) * | 1986-04-28 | 1988-03-23 | Ленинградский институт текстильной и легкой промышленности им.С.М.Кирова | Оптический способ контрол прочности листовых волокнистых светопропускающих материалов в процессе их производства |
| WO1990005297A1 (de) * | 1988-10-31 | 1990-05-17 | Schweizerische Eidgenossenschaft Psi Paul Scherrer Institut | Vorrichtung zur gleichzeitigen berührungslosen prüfung einer mehrzahl von stellen eines prüfguts sowie deren verwendung |
| US5063301A (en) * | 1989-12-21 | 1991-11-05 | The Standard Oil Company | Noninvasive method and apparatus using coherent backscattering for process control |
| US5155558A (en) * | 1990-09-19 | 1992-10-13 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Method and apparatus for analyzing the appearance features of a surface |
| DE19733775A1 (de) * | 1997-08-05 | 1999-02-18 | Honeywell Ag | Verfahren zur Messung von Eigenschaften einer Materialoberfläche |
| US6690473B1 (en) * | 1999-02-01 | 2004-02-10 | Sensys Instruments Corporation | Integrated surface metrology |
| FI991071A0 (fi) * | 1999-05-10 | 1999-05-10 | Valmet Automation Inc | Menetelmä ja mittausjärjestely mitata paperin pintaa |
| DE19950588B4 (de) * | 1999-10-20 | 2013-07-18 | Byk Gardner Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Qualitätskontrolle von insbesondere lackierten Oberflächen |
| JP4164430B2 (ja) * | 2002-10-29 | 2008-10-15 | キヤノン株式会社 | 記録媒体識別装置、記録装置、および記録媒体識別方法 |
-
2004
- 2004-04-28 FI FI20040600A patent/FI117834B/fi active IP Right Grant
-
2005
- 2005-04-27 WO PCT/FI2005/050134 patent/WO2005106436A1/en active Application Filing
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2005106436A8 (en) | 2006-01-19 |
| FI20040600A0 (fi) | 2004-04-28 |
| WO2005106436A1 (en) | 2005-11-10 |
| FI20040600A (fi) | 2005-10-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4738478B2 (ja) | 繊維配向の測定のための方法および装置 | |
| JP7444941B2 (ja) | 粒子特性評価 | |
| JP5325679B2 (ja) | 低コヒーレンス光源を用いた動的光散乱測定装置及び光散乱強度測定方法 | |
| Simonaho et al. | Determination of wood grain direction from laser light scattering pattern | |
| JP5333870B2 (ja) | 繊維状ウェブの製造に使用するための電磁気検出方法および装置 | |
| KR101857950B1 (ko) | 고정확 실시간 미세 입자 크기 및 개수 측정 장치 | |
| CN109477783B (zh) | 用于借助于动态光散射确定悬浮在液体和流动介质中的颗粒的平均颗粒大小的方法及其设备 | |
| US20200150045A1 (en) | Method for the contactless determining of flow parameters | |
| FI78356C (fi) | Metod foer maetning av fuktighet. | |
| US6859276B2 (en) | Extracted polarization intensity differential scattering for particle characterization | |
| CN107677573A (zh) | 一种多峰值颗粒群粒径分布检测方法 | |
| FI117834B (fi) | Paperipinnan laadun testaus | |
| Onofri et al. | Optical particle characterization | |
| Merbold et al. | Multiparameter sensing of paper sheets using terahertz time-domain spectroscopy: Caliper, fiber orientation, moisture, and the role of spatial inhomogeneity | |
| FI128094B (fi) | Mittausmenetelmä, mittausjärjestely ja mittalaite | |
| US6104490A (en) | Multiple pathlength sensor for determining small particle size distribution in high particle concentrations | |
| FI110638B (fi) | Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan silikonipäällysteen määrän mittaamiseksi | |
| EP0909944A1 (en) | Apparatus and procedure for the characterization of sprays composed by spherical particles | |
| Shen et al. | Experimental study of optical scattering and fiber orientation determination of softwood and hardwood with different surface finishes | |
| Castagner et al. | A double Gaussian beam method for the determination of particle size, direction and velocity | |
| JP7265401B2 (ja) | 粒子径取得装置、粒子径取得システム、及び粒子径取得方法 | |
| JPH1090158A (ja) | 浮遊粒子群の濃度及び粒度の測定装置 | |
| Gillandt et al. | Simultaneous measurement of continuous and dispersed phase in a two phase jet flow | |
| Hattuniemi et al. | Thickness measurement of thin wood material by differential laser triangulation method | |
| JP2012117988A5 (fi) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FG | Patent granted |
Ref document number: 117834 Country of ref document: FI |