FI114337B - Menetelmä ja mittalaite liikkuvan rainan ainakin yhden ominaisuuden mittaamiseksi - Google Patents

Menetelmä ja mittalaite liikkuvan rainan ainakin yhden ominaisuuden mittaamiseksi Download PDF

Info

Publication number
FI114337B
FI114337B FI20011447A FI20011447A FI114337B FI 114337 B FI114337 B FI 114337B FI 20011447 A FI20011447 A FI 20011447A FI 20011447 A FI20011447 A FI 20011447A FI 114337 B FI114337 B FI 114337B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
web
measuring
measuring device
reference piece
measuring head
Prior art date
Application number
FI20011447A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI20011447A0 (fi
FI20011447A (fi
Inventor
Jussi Graeffe
Hannu Moisio
Jari Koivu
Timo Saikanmaeki
Mauri Ojala
Original Assignee
Metso Automation Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Metso Automation Oy filed Critical Metso Automation Oy
Priority to FI20011447A priority Critical patent/FI114337B/fi
Publication of FI20011447A0 publication Critical patent/FI20011447A0/fi
Priority to EP02014650A priority patent/EP1273879B1/en
Priority to AT02014650T priority patent/ATE338259T1/de
Priority to US10/187,584 priority patent/US6743338B2/en
Priority to DE60214287T priority patent/DE60214287T2/de
Priority to CA2390198A priority patent/CA2390198C/en
Publication of FI20011447A publication Critical patent/FI20011447A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI114337B publication Critical patent/FI114337B/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/08Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0691Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of objects while moving
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2210/00Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
    • G01B2210/40Caliper-like sensors
    • G01B2210/42Caliper-like sensors with one or more detectors on a single side of the object to be measured and with a backing surface of support or reference on the other side
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S162/00Paper making and fiber liberation
    • Y10S162/06Moisture and basic weight

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Arrangements Characterized By The Use Of Fluids (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Paper (AREA)
  • Treatment Of Fiber Materials (AREA)
  • Belt Conveyors (AREA)

Description

114337
Menetelmä ja mittalaite liikkuvan rainan ainakin yhden ominaisuuden mittaamiseksi
Keksinnön kohteena on menetelmä liikkuvan rainan ainakin yhden 5 ominaisuuden mittaamiseksi, missä menetelmässä liikkuvan rainan ominaisuutta mitataan mittalaitteella, jossa on ainakin yksi mittapää, jossa on refe-renssikappale ja jossa referenssikappaleessa on referenssipinta, jota vasten liikkuva raina tuetaan rainan ominaisuuden mittaamiseksi.
Edelleen keksinnön kohteena on mittalaite liikkuvan rainan ainakin 10 yhden ominaisuuden mittaamiseksi, jossa mittalaitteessa on ainakin yksi mittapää, jossa on referenssikappale ja jossa referenssikappaleessa on referenssipinta, jota vasten liikkuva raina on sovitettu tuettavaksi rainan ominaisuuden mittaamiseksi.
Paperinvalmistuksessa paperin laatuominaisuuksia, kuten esimer-15 kiksi paperin paksuutta tai jotain muuta ominaisuutta, mitataan tyypillisesti jat-kuvatoimisesti valmistettavan paperirainan liikkuessa paperikoneessa. Tavallisesti paperin laatuominaisuuksien mittaamiseen käytetään niin sanottuja tra-versoivia mittalaitteita, joissa varsinaiset mittausanturit tai -sensorit on sovitettu paperirainan vastakkaisilla puolilla oleviin mittapäihin, jotka puolestaan on so-20 vitettu paperirainan poikkisuunnassa yli koko paperirainan leveyden liikkuviin mittakelkkoihin. Mittakelkkojen välissä on kapea rako eli ilmaväli, missä paperi-raina kulkee suurella nopeudella. Mittalaitteet voivat kuitenkin olla myös kiinte-·:· asti asennettuja, jolloin ne mittaavat koko ajan samaa kohtaa paperirainan poikkisuunnassa.
25 Nykyaikaisessa paperinvalmistuksessa erityisesti paperin paksuu- • · ,,,,: den mittausmenetelmille asetetaan hyvin korkeat vaatimukset. Esimerkiksi sa nomalehtipaperikoneella valmistettavan rainan paksuus on tyypillisesti noin 70 *···’ pm ja mittauksessa tavoiteltava ulkoinen mittaustarkkuus on alle 1 pm. Tavoi teltava mittaustarkkuus voi olla jopa 0,3 pm. Paperin paksuuden mittaukseen 30 käytettävät tekniikat perustuvat tyypillisesti sähkömagnetismin, optiikan tai nii- 1*1 :den yhdistelmän hyväksikäyttöön. Optiikkaa hyödyntävissä paperin paksuuden : ! ·. mittalaitteissa onkin erittäin tärkeää pitää paperi mahdollisimman suorassa ja ‘i··’ tasaisena mittauksen aikana, mikä on pyritty varmistamaan saattamalla raina ‘1’ mittapään välittömään läheisyyteen tai jopa kosketuksiin mittapään kanssa, :, ·.: 35 missä tapauksessa mittapään tai siihen sovitetun referenssikappaleen rainaan koskettava pinta muodostaa referenssipinnan mittausta varten. Nykyisissä rat- 114337 2 kaisuissa on kuitenkin se ongelma, että paperin liikkuessa eteenpäin kovalla vauhdilla raina värähtelee korkeilla taajuuksilla, mikä värähtely etenee rainas-sa myös rainan paksuuden mittauspisteeseen siten, että raina ei mittauspisteessä pysy kiinni referenssipinnassa, minkä seurauksena mittauksesta tulee 5 epätarkka.
Fl-julkaisussa 973448 on esitetty liikkuvan aineen, kuten paperirai-nan, paksuuden mittaukseen käytetty sähkömagnetismiin perustuva mittalaite, jossa on liukulevy, jota vasten liikkuva aine tukeutuu mittausta varten. Liukule-vyn pinnassa on yksi tai useampia liikkuvan aineen liikesuunnassa liukulevyn 10 reunaan asti työstettyjä uria. Urat on työstetty siten, että urien leveys kasvaa liukulevyn reunaa kohti siirryttäessä. Liukulevyyn on edelleen työstetty kanavat, jotka syöttävät uriin niiden kapeammasta päästä paineenalaista ilmaa, jolloin paineenalaisen ilman ja urien vaikutuksesta liukulevyn ja liikkuvan aineen välille muodostuu alipaine, joka vetää liikkuvaa ainetta liukulevyä vasten, jol-15 loin liukulevyyn sovitetun mittauskelan ja liukulevyn suhteen rainan vastakkaisella puolella olevan mittauskohtion avulla voidaan liukulevyn ja kohtion etäisyys ja siten liikkuvan aineen paksuus määrittää. Ongelmana julkaisussa esitetyssä ratkaisussa on se, että liikkuvan aineen ollessa esimerkiksi ohut pape-riraina raina helposti värähtelee liikkuessaan suurella nopeudella sekä kuprui-20 lee ja taipuu urissa vaikuttavan alipaineen vaikutuksesta, jolloin raina helposti nousee irti liukulevyn muodostamasta referenssipinnasta siten heikentäen mit-talaitteen mittaustarkkuutta.
DE-julkaisussa 19913928 on esitetty mittalaite liikkuvan rainan ominaisuuksien ja erityisesti liikkuvan paperirainan paksuuden määrittämisek-25 si. Mittalaitteeseen kuuluu rainan yläpuolelle sovitettu yläosa, joka pidetään ] matkan päässä rainan yläpinnasta siten, että se ei kosketa rainaan. Edelleen • »* * · ’ ’ mittalaitteeseen kuuluu rainan alapuolelle sovitettu alaosa, joka pidetään kiinni rainan alapinnassa alaosan yläpinnan muotoilun ja liikkuvan rainan mukana kulkevan ilman aiheuttamien ilmavirtausten muodostaman imuvaikutuksen ja 30 sen lisäksi mahdollisesti erityisten kannatinvälineiden avulla. Mittalaitteen ala-:'' ‘; osa voidaan saattaa kosketuksiin rainan kanssa myös rainaan kohdistettavien puhallus- tai imuvaikutusten ansiosta. Julkaisussa esitetyn mittalaitteen erään soveilutusmuodon mukaan mittalaitteen yläosassa on sähkömagnetismiin ja optiikkaan perustuvat mittausvälineet ensimmäisen ja toisen mittapään välisen 35 etäisyyden ja ensimmäisen mittapään ja rainan yläpinnan välisen etäisyyden ja siten rainan paksuuden määrittämiseksi. Julkaisussa esitetyssä ratkaisussa 114337 3 rainan mukana liikkuvan ilman käyttäminen mittalaitteen alaosan ja rainan kontaktin turvaamiseksi on ongelmallista esimerkiksi liikkuvan rainan kulkunopeuden vaihdellessa. Lisäksi liikkuvaan rainaan voi muodostua kupruja mittalaitteen alaosan yläpinnan muotoilun ja rainan mukana kulkevan ilman muo-5 dostaman alipaineen vaikutuksesta siten, että raina voi paikoitellen nousta irti mittalaitteen alaosan muodostamasta referenssipinnasta, mikä heikentää mittalaitteen mittaustarkkuutta.
Tämän keksinnön tarkoituksena on saada aikaan uudentyyppinen ratkaisu liikkuvan rainan tukemiseksi mittalaitteessa olevaan referenssikappa-10 leeseen.
Keksinnön mukaiselle menetelmälle on tunnusomaista se, että refe-renssipinnassa on mittausalue, jonka mittausalueen osoittaman alueen sisäpuolelta rainan ominaisuus mitataan ja että muodostetaan referenssikappa-leen läpi liikkuvan rainan ja referenssipinnan väliin alipaine siten, että alipaine 15 vaikuttaa liikkuvaan rainaan rainan tason suunnassa eri etäisyyksien päässä mittausalueesta siten, että liikkuva raina tukeutuu alipaineen vaikutuksesta re-ferenssipintaan olennaisesti koko mittausalueen alueelta.
Edelleen keksinnön mukaiselle mittalaitteelle on tunnusomaista se, että referenssipinnassa on mittausalue, jonka mittausalueen osoittaman alu-20 een sisäpuolelta rainan ominaisuus on sovitettu mitattavaksi ja että referenssi-kappale on sovitettu mittapään yhteyteen siten, että referenssikappaleen ala-puolella on olennaisesti avonainen ilmatila ja että mittapäässä on välineet ali-··· paineen muodostamiseksi referenssikappaleen alapuolella olevaan ilmatilaan .:. ja että referenssikappaleessa on sen läpi eri etäisyyksien päähän mittausalu- 25 eesta muodostettuja reikiä siten, että ilmatilaan muodostettava alipaine on so-. vitettu vaikuttamaan referenssikappaleen läpi muodostettujen reikien läpi refe- renssipinnan ja liikkuvan rainan väliin siten, että liikkuva raina on alipaineen *··* vaikutuksesta tuettuna referenssipintaan olennaisesti koko mittausalueen alu eelta.
30 Keksinnön olennaisen ajatuksen mukaan liikkuvan rainan ainakin : ’": yhtä ominaisuutta mitataan mittalaitteella, jossa on ainakin yksi mittapää, jossa '·. on referenssikappale ja jossa referenssikappaleessa on referenssipinta, jota vasten liikkuva raina tuetaan rainan ominaisuuden mittaamiseksi. Edelleen :* olennaisen ajatuksen mukaan referenssipinnassa on mittausalue, jonka mitta ni.1 35 usalueen osoittaman alueen sisäpuolelta rainan ominaisuus mitataan ja että liikkuvan rainan ja referenssipinnan väliin muodostetaan referenssikappaleen 114337 4 läpi alipaine siten, että liikkuva raina tukeutuu alipaineen vaikutuksesta refe-renssipintaan olennaisesti koko mittausalueen alueelta. Keksinnön erään edullisen sovellutusmuodon mukaan referenssikappale on sovitettu mittapään yhteyteen siten, että referenssikappaleen alapuolella on olennaisesti avonainen 5 ilmatila ja että mittapäässä on välineet alipaineen muodostamiseksi referenssikappaleen alapuolella olevaan ilmatilaan ja että referenssikappaleessa on sen läpi muodostettuja reikiä siten, että ilmatilaan muodostettava alipaine on sovitettu vaikuttamaan referenssikappaleen läpi muodostettujen reikien läpi re-ferenssipinnan ja liikkuvan rainan väliin siten, että liikkuva raina on alipaineen 10 vaikutuksesta tuettuna referenssipintaan olennaisesti koko mittausalueen alueelta. Keksinnön erään toisen edullisen sovellutusmuodon mukaan mittapäässä on ainakin yksi kanava, joka on yhteydessä referenssikappaleen alapuolella olevaan avonaiseen ilmatilaan, jolloin ilmatilaan muodostetaan alipaine syöttämällä kaasumaista väliainetta mittapään ja liikkuvan rainan väliin. Keksinnön 15 erään kolmannen edullisen sovellutusmuodon mukaan referenssikappaleen alapinnassa on kaksi liikkuvan rainan kulkusuunnan suhteen olennaisesti yhdensuuntaista ilmakanavaa kaasumaisen väliaineen syöttämiseksi mittapään ja liikkuvan rainan väliin olennaisesti yhdensuuntaisesti liikkuvan rainan kulkusuunnan suhteen. Keksinnön erään neljännen edullisen sovellutusmuodon 20 mukaan referenssipinnan ja liikkuvan rainan välinen alipaine sovitetaan olemaan hiukan alle ympäristössä vallitsevan paineen, tyypillisesti 80 - 99 % ym-päröivän ilman paineesta. Keksinnön erään viidennen edullisen sovellutus-·;· muodon mukaan mittalaitteessa on ensimmäinen mittapää ja toinen mittapää, joiden välissä on ilmaväli, missä liikkuva raina on sovitettu kulkemaan ja että '' ’ ’: 25 referenssikappale on sovitettu toiseen mittapäähän. Keksinnön erään kuuden- • · . nen edullisen sovellutusmuodon mukaan ensimmäisessä mittapäässä on sekä ainakin yksi sähkömagneettinen mittausväline ensimmäisen mittapään ja toi-*·*· sessa mittapäässä olevan referenssikappaleen etäisyyden määrittämiseksi et tä ainakin yksi optinen mittausvälinen ensimmäisen mittapään ja referenssipin-..! i ’ 30 taan tuetun rainan etäisyyden määrittämiseksi.
Keksinnön mukaisen ratkaisun avulla saadaan liikkuva raina tuettua !. referenssikappaleen referenssipinnassa olevaan mittausalueeseen siten, että raina pysyy mittausalueella tuettuna referenssipintaa vasten rainaan sen liikkuessa muodostuvista värähtelyistä huolimatta, minkä ansiosta rainan ominai-35 suus saadaan mitattua erittäin tarkasti. Kun referenssikappale on sovitettu mit-: tapään yhteyteen siten, että referenssikappaleen alapuolella on olennaisesti 114337 5 avonainen ilmatila ja kun referenssikappaleeseen on muodostettu sen läpi ulottuvia reikiä, voidaan liikkuvan rainan ja referenssipinnan väliin helposti muodostaa alipaine ilmatilaan muodostettavan alipaineen avulla. Syöttämällä kaasumaista väliainetta liikkuvan rainan ja ilmatilan väliin kanavasta, joka on 5 yhteydessä referenssikappaleen alapuolella olevaan ilmatilaan, saadaan ilmatilaan muodostettua alipaine yksinkertaisella ja helpolla tavalla. Kun kaasumaista väliainetta syötetään mittapään ja liikkuvan rainan väliin ainoastaan yhdensuuntaisesti liikkuvan rainan liikesuunnan kanssa, riittää hyvinkin pieni kaasumäärä saamaan aikaan riittävän alipaineen rainan ja referenssipinnan 10 väliin. Kun mittalaitteessa on ensimmäinen mittapää ja toinen mittapää, joiden välissä on ilmaväli, missä liikkuva raina kulkee ja kun ensimmäisessä mitta-päässä on välineet ensimmäisen mittapään ja toiseen mittapäähän sovitetun referenssikappaleen etäisyyden määrittämiseksi sekä välineet ensimmäisen mittapään ja referenssipintaan tuetun rainan etäisyyden määrittämiseksi, voi-15 daan liikkuvan rainan paksuus helposti mitata alle yhden mikrometrin tarkkuudella.
Tämän selityksen yhteydessä termillä ’’paperi” tarkoitetaan paperin lisäksi myös kartonkia, pehmopaperia ja sellua.
Keksintöä selitetään tarkemmin oheisissa piirustuksissa, joissa 20 kuvio 1 esittää kaavamaisesti erästä keksinnön mukaista mittalaitet ta sivusta katsottuna ja poikkileikattuna, kuvio 2 esittää kaavamaisesti kuvion 1 mukaisen mittalaitteen mit-•; · tapäätä sivusta katsottuna ja poikkileikattuna, .:. kuvio 3 esittää kaavamaisesti kuvion 2 mukaista mittapäätä yläpuo- ’'": 25 lelta katsottuna, » » . kuvio 4 esittää kaavamaisesti erään toisen keksinnön mukaisen mit- talaitteen mittapäätä sivusta katsottuna ja poikkileikattuna *···* kuvio 5 esittää kaavamaisesti kuvion 4 mukaisen mittapään refe- renssikappaletta alapuolelta katsottuna ja 30 kuvio 6 esittää kaavamaisesti erästä kolmatta keksinnön mukaista mittalaitetta sivusta katsottuna ja poikkileikattuna.
Kuviossa 1 on esitetty kaavamaisesti ja poikkileikattuna eräs keksinnön mukainen mittalaite 1, joka on kuviossa 1 sovitettu mittaamaan nuolen A suunnassa liikkuvan paperirainan 2 paksuutta. Selvyyden vuoksi paperiraina 35 2 on kuviossa 1 esitetty mittalaitteeseen 1 verrattuna olennaisesti paksumpa-: na kuin se todellisuudessa on. Mittalaitteessa 1 on ensimmäinen mittapää 3 ja 114337 6 toinen mittapää 4, joiden välissä on ilmaväli 5, missä paperiraina 2 liikkuu suurella nopeudella. Tyypillisesti ensimmäinen mittapää 3 ja toinen mittapää 4 on sovitettu paperirainan 2 koko leveyden ylitse ulottuvassa mittaraamissa liikkuviin mittakelkkoihin siten, että ensimmäinen mittapää 3 ja toinen mittapää 4 5 liikkuvat edestakaisin eli traversoivat koko valmistettavan rainan leveyden ylitse, jolloin mittalaite 1 olennaisesti jatkuvatoimisesti mittaa paperirainan 2 paksuutta. Selvyyden vuoksi mittaraamia ja mittakelkkoja ei ole esitetty kuviossa 1. Ensimmäinen mittapää 3 ja toinen mittapää 4 voidaan sovittaa paperikoneen yhteyteen myös kiinteästi, jolloin ne mittaavat paperirainan 2 paksuutta 10 ainoastaan yhdessä kohdassa paperirainan 2 leveyssuunnassa.
Paperirainan 2 paksuuden mittaamiseksi ensimmäisen mittapään 3 yhteyteen on sovitettu sekä sähkömagnetismiin että optiikkaan perustuvat mittausvälineet ja toisen mittapään 4 yhteyteen on sovitettu referenssikappale 6, jota vasten liikkuva paperiraina 2 tuetaan ja joka samalla muodostaa referens-15 sipinnan mittausta varten. Edullisesti referenssikappale 6 on kuviossa 1 esitetyllä tavalla levymäinen, mutta referenssikappaleen 6 ulkonäkö voi kuitenkin vaihdella. Sähkömagnetismiin perustuva mittausväline voi olla esimerkiksi kela 7, joka on kuviossa 1 esitetty hyvin kaavamaisesti. Referenssikappale 6 on puolestaan valmistettu hyvin sähköäjohtavasta materiaalista, esimerkiksi te-20 räksestä, alumiinista tai kuparista, jolloin kelan 7 ja referenssikappaleen 6 välinen etäisyys voidaan määrittää alan ammattimiehelle sinänsä tunnetulla ta-valla. Referenssikappale 6 voi myös ainoastaan olla pinnoitettu jollakin hyvin sähköäjohtavalla materiaalilla, jolloin referenssikappale 6 voidaan valmistaa •hyvinkin monesta eri materiaalista. Optiikkaan perustuva mittausväline voi olla 25 esimerkiksi laser 8, joka käsittää lähetinosan 9 mittaussäteen 11 lähettämi-seksi paperirainaa 2 kohti ja vastaanotinosan 10 paperirainan 2 pinnasta heijastuneen mittaussäteen 11’ vastaanottamiseksi. Sähkömagnetismiin perustu-'···' vat mittausvälineet määrittävät ensimmäisen mittapään 3 ja toisen mittapään 4 välisen etäisyyden ja optiikkaan perustuvat mittausvälineet määrittävät en-30 simmäisen mittapään 3 ja paperirainan 2 välisen etäisyyden, jolloin paperirai-nan 2 paksuus voidaan määrittää vähentämällä ensimmäisen mittapään 3 ja paperirainan 2 välinen etäisyys mittapäiden 3 ja 4 välisestä etäisyydestä. Sekä ’··’ kelat 7 ja laser 8 on sovitettu kannatinelementtiin 12, joka on kiinteästi sovitet tu ensimmäisen mittapään 3 yhteyteen. Edelleen mittalaitteeseen 1 kuuluu oh-35 jausvälineet kelojen 7 ja laserin 8 toiminnan ohjaamiseksi sekä analysointilait- 114337 7 teista kelojen 7 ja laserin 8 mittaustietojen käsittelemiseksi, joita ohjausvälineitä ja analysointilaitteistoa ei selvyyden vuoksi ole esitetty kuviossa 1.
Yleisesti optiikkaa hyödyntävissä liikkuvan rainan paksuutta mittaa-vissa mittalaitteissa on erittäin tärkeää pitää liikkuva raina mittaushetkellä 5 mahdollisimman suorana ja tasaisena, mikä on pyritty varmistamaan tukemalla liikkuva raina mittalaitteessa olevaan referenssipintaan. Rainan liikkuessa kovalla vauhdilla eteenpäin syntyyn rainaan suuritaajuisia värähtelyltä, jotka etenevät rainassa ja pyrkivät irrottamaan rainaa referenssipinnasta, jolloin mittauksen tarkkuus heikentyy.
10 Kuvion 1 mukaisessa mittalaitteessa 1 tämä epäkohta on koijattu tavalla, mikä käy yksityiskohdiltaan paremmin esille kuvioista 2 ja 3. Kuviossa 2 toinen mittapää 4 on esitetty sivusta katsottuna ja poikkileikattuna sekä kuvioon 1 verrattuna suurennettuna ja kuviossa 3 toinen mittapää 4 on esitetty kaavamaisesti yläpuolelta eli paperirainan 2 suunnasta katsottuna. Referens-15 sikappaleeseen 6, jonka yläpinta muodostaa referenssipinnan 13 paperirainan 2 paksuuden mittausta varten, on muodostettu useita referenssikappaleen 6 läpi ulottuvia reikiä 14. Referenssikappale 6 on tuettu toisen mittapään 4 runkorakenteeseen 15 yhdellä tai useammalla tukielementillä 16 siten, että referenssikappaleen 6 alapuolelle jää avonainen ilmatila 17. Edelleen toisessa mit-20 tapäässä 4 on syöttökanava 18, virtauskanava 19 sekä suutinrako 20 pai-neenafaisen kaasumaisen väliaineen syöttämiseksi toisen mittapään 4 ja pa-; '· perirainan 2 väliin sekä välineet, esimerkiksi puhallin 21 ja sen ohjaamiseen :* käytetty puhallinohjausyksikkö 22 kaasun syöttämiseksi syöttökanavaan 18.
• · Selvyyden vuoksi kuviossa 1 ei ole esitetty kaasun syötössä käytettäviä venttii- ....: 25 leitä. Syötettävä kaasu on edullisesti ilmaa mutta se voi olla myös jotain muuta kaasua. Syöttökanavaan 18 syötettävä kaasu virtaa syöttökanavasta 18 vir-... tauskanavan 19 kautta suutinrakoon 20. Kuvion 1 mukaisessa sovellutusmuo- * ·’ dossa virtauskanava 19 on renkaanmuotoinen, kuten myöskin suutinrako 20.
Suutinrakoa 20 ympäröi kaareva ohjauspinta 24, jolloin suutinrako 20 ja kaa-···'* 30 reva ohjauspinta 24 muodostavat eräänlaisen Coanda-suuttimen. Suutinraosta 20 kaasu purkautuu kohti paperirainaa 2 ja suutinraon 20 välittömässä lähei-.·. syydessä sijaitseva kaareva ohjauspinta 24 kääntää kaasun virtauksen paperi- ! · · \ rainan 2 ja toisen mittapään 4 väliin. Tällöin kaasu virtaa siis nuolten B mukai- ' ·' sesti. Kaasun paine ja siten sen virtausnopeus sovitetaan niin suureksi, että 35 kaasun virtaus paperirainan 2 ja toisen mittapään 4 väliin saa aikaan alipai-:: neen, joka vetää paperirainaa 2 toista mittapäätä 4 kohti. Coanda-suuttimen 114337 8 vaikutuksesta muodostuva alipaine vaikuttaa ilmatilaan 17 referenssikappa-leen 6 alapuolelle ja edelleen referenssikappaleen 6 läpi muodostettujen reikien 14 kautta referenssikappaleen 6 kohdalla referenssipinnan 13 ja paperirai-nan 2 väliin siten, että paperiraina 2 tukeutuu tämän alipaineen vaikutuksesta 5 referenssikappaleen 6 yläpintaa eli referenssipintaa 13 vasten. Kaareva ohja-uspinta 24 voidaan muodostaa suutinrakoa 20 ympäröivään toisen mittapään 4 runkorakenteeseen 15 tai suutinraon 20 ympärille sovitettavaan muotoele-menttiin 23, kuten kuvioissa on esitetty.
Referenssikappaleen 6 läpi muodostetut reiät 14 on sijoitettu refe-10 rensslkappaleeseen 6 siten, että liikkuva paperiraina 2 asettautuu suorana ja tasaisena referenssipinnassa 13 olevaa mittausaluetta 25 vasten. Mittausalue 25 on se alue, millä kohdalla ensimmäisen mittapään 3 ja liikkuvan paperiral· nan 2 välinen etäisyys mitataan esimerkiksi edellä esitetyn laserin 8 mittaussä-teen 11 avulla. Mittausalueen 25 halkaisija on edullisesti noin 2 mm, mutta mit-15 tausalueen 25 halkaisija voi kuitenkin vaihdella. Reikien 14 referenssikappa-leeseen 6 muodostava reikäkuviointi voi myöskin vaihdella monella tavalla. Reikien 14 muodostavan referenssipinnan 13 avoimen osuuden suhde suljettuun osuuteen voi vaihdella samoin kuin reikien poikkileikkauksen koko. Reiät 14 mitoitetaan siten, että ne ovat riittävän suuria päästämään lävitseen paperi-20 rainan 2 mukana kulkeutuvan pölyn tai muut epäpuhtaudet mutta kuitenkin riittävän pieniä siten, että referenssipintaan 13 tukeutuva paperiraina 2 ei pääse :' .. kupruilemaan tai rypistymään vaan että se asettuu tasaisesti referenssipintaa 13 ja erityisesti mittausaluetta 25 vasten. Referenssikappaleeseen 6 tehtävä reikäkuviointi toteutetaan edullisesti siten, että referenssipintaan 13 jää induk-25 tiomittausta varten ainakin yksi sellainen mittauspinta 26, johon ei ole muodostettu reikiä 14. Kuvion 3 esittämässä tapauksessa referenssikappaleessa 6 on neljä mittausaluetta 26, jolloin sovittamalla ensimmäiseen mittapäähän 3 neljä *··* kelaa 7 tai neljä jotain muuta sähkömagnetismiin perustuvaa mittausvälinettä mittauspintoja 26 vastaaville kohdille voidaan referenssilevyn 6 ja ensimmäi-30 sen mittapään 3 tai kannatinelementin 12 välillä tapahtuvat asentomuutokset kompensoida mittauksesta pois. Luonnollisesti on selvää, että referenssikap-paleen 6 referenssipinnan 13 ja ensimmäisen mittapään 3 välisen etäisyyden määrittämiseksi käytetään kulloinkin tapaukseen sopivaa kelojen 7 lukumää-’ rää, esimerkiksi vain yhtä kelaa 7, jolloin referenssipintana 26 voidaan edulli- 35 sesti käyttää esimerkiksi mittausaluetta 25.
114337 9
Esitetyn ratkaisun avulla liikkuva paperiraina 2 voidaan tukea refe-renssipintaan 13 siten, että rainaan kovassa vauhdissa muodostuneet värähtelyt eivät pääse irrottamaan rainaa referenssipinnasta 13 mittausalueella 25.
Raina ei myöskään pääse muuten kupruilemaan tai rypistymään vaan se py-5 syy mittausalueen 25 alueelta tuettuna referenssipintaa 13 vasten, jolloin mittauksella päästään helposti alle yhden mikrometrin mittaustarkkuuteen. Muodostamalla referenssipintaan 13 neljä sellaista mittauspintaa 26, missä ei ole reikiä ja sovittamalla ensimmäiseen mittapäähän 3 neljä kelaa 7 voidaan mittauksen tarkkuutta edelleen parantaa kompensoimalla mittaustuloksesta pois 10 ensimmäisen mittapään 3 ja referenssikappaleen 6 väliset asentomuutokset. Samaan lopputulokseen päästään kuitenkin mittaamalla ensimmäisen mittapään 3 ja referenssipinnan 13 välinen etäisyys mittausalueen 25 kohdalta. Edelleen valitsemalla reikien 14 poikkileikkauksen koko siten, paperirainan 2 mukana tuleva pöly tai muut epäpuhtaudet mahtuvat kulkemaan alipaineen 15 vaikutuksesta reikien 14 kautta referenssikappaleen 6 alapuolella olevaan ilmatilaan 17 ja sieltä edelleen paperirainan 2 ja toisen mittapään 4 väliin ja edelleen rainan mukana pois mittalaitteelta 1, vältetään toisen mittapään 4 likaantumista, jolloin toiseen mittapäähän 4 kohdistuvat puhdistustoimenpiteet voidaan joko jättää tarpeettomina kokonaan pois tai ainakin puhdistustoimen-20 piteiden aikaväliä voidaan pidentää.
Liikkuvan paperirainan 2 ja toisen mittapään 4 väliin syötettävän kaasun syöttöpaine ja siten sen virtausnopeus voi vaihdella riippuen esimer-!' kiksi paperirainan 2 nopeudesta, kireydestä, lajista ja neliömassasta. Kaasun virtausnopeutta voidaan muuttaa esimerkiksi puhaltimella 21, jota ohjataan 25 puhallinohjausyksiköllä 22. Ilmatilaan 17 voidaan myös sovittaa ilmatilassa 17 ..... vallitsevaa alipainetta mittaava alipaineanturi 27, jonka välittämän alipaineen mittaustiedon PA avulla puhallinohjausyksikkö 22 voi ohjata puhaltimen 21 toimintaa. Paine-ero, joka pitää muodostaa referenssipinnan 13 ja ilmatilan 17 välille paperirainan 2 tukemiseksi referenssipintaan 13 on hyvin pieni. Jopa 30 noin yksi prosenttia pienempi paine ilmatilassa 17 verrattuna referenssipinnan 13 ja paperirainan 2 välissä olevaan paineeseen riittää tukemaan rainan referenssipintaan 13 ilman värähtelyä tai kupruilua. Paperirainan 2 nopeudesta, neliömassasta, lajista ja kireydestä riippuen kyseinen paine-ero vaihtelee tyy-': pillisesti välillä 1-20 prosenttia, mutta voi myös olla pienempi tai suurempi. Mi- 35 tä pienempi kyseinen paine-ero on, sitä vähemmän rainan mukana kulkeutuvaa pölyä siirtyy reikien 14 läpi.
114337 10
Kuvioissa 4 ja 5 on esitetty eräs toinen mittalaitteen 1 sovellutus-muoto, kuviossa 4 toisen mittapään 4 sivusta katsottuna ja poikkileikattuna ja kuviossa 5 referenssikappaleen 6 alapuolelta katsottuna. Referenssikappaleen 6 alapuolelle sen reunoihin on muodostettu korokkeet 28 siten, että korokkei-5 den 28 väliin jää paperirainan 2 liikesuunnassa kaksi ilmakanavaa 29. Asetettaessa referenssikappale 6 paikalleen toiseen mittapäähän 4 korokkeet 28 estävät kaasumaisen väliaineen virtauksen paperirainan 2 ja toisen mittapään 4 väliin muualta kuin ilmakanavien 29 kautta nuolien B esittämällä tavalla. Tämän ratkaisun avulla paperirainan 2 ja toisen mittapään 4 väliin syötettävän 10 kaasun määrää voidaan vähentää saavuttaen silti reikien 14 kautta referenssi-pinnan 13 ja paperirainan 2 väliin riittävä alipaine rainan tukemiseksi tasaisesti referenssipintaan 13.
Kuviossa 6 on kaavamaisesti esitetty eräs kolmas keksinnön mukainen mittalaite 1 sivusta katsottuna ja poikkileikattuna. Kuvion 6 mukaisessa 15 mittalaitteessa 1 on alipainepumppu 30 ja sen ohjausyksikkö 31, joiden avulla voidaan kanavien 32 ja 33 kautta muodostaa ilmatilaan 17 ja edelleen referenssikappaleen 6 reikien 14 läpi referenssipinnan 13 ja paperirainan 2 väliin alipaine siten, että paperiraina 2 tukeutuu referenssipintaan 13 ainakin refe-renssipinnassa 13 olevan mittausalueen 25 alueelta.
20 Piirustukset ja niihin liittyvä selitys on tarkoitettu vain havainnollis tamaan keksinnön ajatusta. Yksityiskohdiltaan keksintö voi vaihdella patenttivaatimusten puitteissa. Kuvioissa 1-6 referenssikappale 6 on ympyränmuotoinen ja suutinrako 20 on sovitettu ulottumaan koko referenssikappaleen 6 •:. ympäri. Referenssikappaleen 6 ulkomuoto voi kuitenkin vaihdella eli se voi olla
• * I I
25 esimerkiksi myös neliön tai suorakulmion muotoinen. Referenssikappaleen 6 ulkomuodosta riippumatta suutinrako 20 voidaan sovittaa joko kokonaan tai ... osittain ympäröimään referenssikappaletta 6. Toisen mittapään 4 sijaan refe- '' · ' renssikappale 6 voidaan sovittaa ensimmäiseen mittapäähän 3, jolloin toiseen mittapäähän 4 voidaan sovittaa rainan paksuuden mittaukseen tarvittavat mit-30 tausvälineet. Edelleen keksinnön mukaista ratkaisua voidaan käyttää liikkuvan rainan muitakin ominaisuuksia mittaavissa mittalaitteissa, joissa on edullista ; ! *. tukea raina referenssipintaan tarkan mittaustuloksen saavuttamiseksi. Tällaisia *···* ominaisuuksia ovat esimerkiksi rainan väri, kiilto tai karheus. Edelleen on mahdollista, että mittalaitteessa on ainoastaan yksi mittapää, joka käsittää se-:: 35 kä referenssikappaleen että rainan ominaisuutta mittaavat mittausvälineet, jol- loin mittausvälineet sovitetaan mittaamaan referenssikappaleen referenssipä- 114337 11 taan tuetun rainan ominaisuuksia referenssikappaleen läpi muodostettujen mittausaukkojen kautta, jolloin myös mittausalue 25 voitaisiin toteuttaa mitta-usaukkona. Tämäntyyppistä mittalaitetta voitaisiin käyttää esimerkiksi liikkuvan rainan kosteuden mittaamiseen optisesti. Edelleen erityinen referenssikappale 5 6 ei ole välttämätön, vaan referenssipinta 13 voidaan myös muodostaa suoraan esimerkiksi liikkuvan rainan puolelle toisen mittapään 4 runkorakenteeseen 15. Tässä tapauksessa käytettäessä alipainepumppua 31 voitaisiin kuviossa 6 esitettyä suoritusmuotoa mukaillen sovittaa useampi kanava 33 suoraan referenssipinnan 13 läpi tehtyihin reikiin, jolloin referenssipinnan 13 ala-10 puolella oleva avonainen ilmatila 17 ei myöskään ole välttämätön. Paperirai-nan 2 tai kartonki-, pehmopaperi- tai sellurainan sijaan liikkuva raina voi olla myös jokin muu raina, kuten esimerkiksi muovikalvo- tai tekstiiliraina.
* I » t · f * ä * * * » »
• « · I
• · • · • · · ♦ » • · ( * « >
I I
• · * * * * * I « i
• I
• »
f I I

Claims (36)

1. Menetelmä liikkuvan rainan ainakin yhden ominaisuuden mittaamiseksi, missä menetelmässä liikkuvan rainan ominaisuutta mitataan mittalaitteella (1), jossa on ainakin yksi mittapää (3, 4), jossa on referenssikappale (6) 5 ja jossa referenssikappaleessa (6) on referenssipinta (13), jota vasten liikkuva raina tuetaan rainan ominaisuuden mittaamiseksi, tunnettu siitä, että referenssipinnassa (13) on mittausalue (25), jonka mittausalueen (25) osoittaman alueen sisäpuolelta rainan ominaisuus mitataan ja että muo-10 dostetaan referenssikappaleen (6) läpi liikkuvan rainan ja referenssipinnan (13) väliin alipaine siten, että alipaine vaikuttaa liikkuvaan rainaan rainan tason suunnassa eri etäisyyksien päässä mittausalueesta (25) siten, että liikkuva raina tukeutuu alipaineen vaikutuksesta referenssipintaan (13) olennaisesti koko mittausalueen (25) alueelta. 15
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että muodostetaan referenssikappaleen (6) läpi liikkuvan rainan ja referenssi-pinnan (13) väliin alipaine siten, että liikkuva raina tukeutuu alipaineen vaikutuksesta referenssipintaan (13) olennaisesti koko referenssipinnan (13) alu- 20 eelta. «· * I
’ 3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu * t» ···; siitä, että referenssikappale (6) on sovitettu mittapään (3, 4) yhteyteen siten, että referenssikappaleen (6) alapuolella on olennaisesti avonainen ilmatila 25 (17) ja että referenssikappaleessa (6) on sen läpi muodostettuja reikiä (14) ja ""i että ilmatilaan (17) muodostetaan alipaine, joka vaikuttaa referenssikappaleen (6) läpi muodostettujen reikien (14) kautta referenssipinnan (13) ja liikkuvan rainan väliin siten, että liikkuva raina tuetaan alipaineen vaikutuksesta refe-.renssipintaan (13). ;···, 30
4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, i.i ! että mittapäässä (3, 4) on ainakin yksi kanava, joka on yhteydessä referenssi- :: kappaleen (6) alapuolella olevaan avonaiseen ilmatilaan (17), jolloin ilmatilaan , (17) muodostetaan alipaine syöttämällä kaasumaista väliainetta mittapään (3, , · ‘, 35 4) ja liikkuvan rainan väliin. * I 114337 13
5. Patenttivaatimuksen 4 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että kanava kaasumaisen väliaineen syöttämiseksi toisen mittapään (4) ja liikkuvan rainan väliin käsittää referenssikappaleen (6) ja mittapään (3, 4) runkorakenteen (15) tai siihen sovitetun lukitusrenkaan (23) välissä olevan suutin- 5 raon (20), jolloin kaasumainen väliaine syötetään suutinraosta (20) toisen mittapään (4) runkorakenteen (15) tai siihen sovitetun lukitusrenkaan (23) reunoja pitkin.
6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, 10 että mittapään (3, 4) runkorakenteeseen (15) tai siihen sovitettuun lukitusren- kaaseen (23) kuuluu kaareva ohjauspinta (24) kaasumaisen väliaineen virtauksen kääntämiseksi virtaamaan toisen mittapään (4) ja liikkuvan rainan väliin.
7. Jonkin patenttivaatimuksen 4 - 6 mukainen menetelmä, t u n -15 nettu siitä, että kaasumainen väliaine on ilmaa.
8. Jonkin patenttivaatimuksen 1-3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että muodostetaan ilmatilaan (17) alipaine mittapään (3, 4) yhteyteen sovitetulla alipainepumpulla (30). 20
9. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mitataan ilmatilan (17) alipainetta ja muutetaan ilmati-Iän (17) alipainetta ilmatilan (17) alipaineen mittaustiedon (PA) perusteella.
10. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, | tunnettu siitä, että referenssipinnan (13) ja liikkuvan rainan välinen alipai ne on 80 - 99 % ympäröivän ilman paineesta.
11. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, t<;: · 30 tunnettu siitä, että mitataan optisesti liikkuvan rainan ainakin yhtä omina i- suutta. * · ·
12. Patenttivaatimuksen 11 mukainen menetelmä, tunnettu sii-tä, että liikkuvan rainan mitattava ominaisuus on liikkuvan rainan väri, kiilto, : ;'; 35 karheus tai kosteus. * I t „ 114337 14
12 114337
13. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittalaitteessa (1) on ensimmäinen mittapää (3) ja toinen mittapää (4), joiden välissä on ilmaväli (5), missä liikkuva raina on sovitettu kulkemaan ja että referenssikappale (6) on sovitettu toiseen mittapäähän 5 (4).
14. Patenttivaatimuksen 13 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mitataan induktiivisesti ensimmäisen mittapään (3) ja referenssikappa-leen (6) referenssipinnan välistä etäisyyttä. 10
15. Patenttivaatimuksen 14 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittalaite (1) on sovitettu mittaamaan liikkuvan rainan paksuutta.
16. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, 15 tunnettu siitä, että liikkuva raina on paperiraina (2), kartonkiraina, peh- mopaperiraina tai selluraina.
17. Mittalaite liikkuvan rainan ainakin yhden ominaisuuden mittaamiseksi, jossa mittalaitteessa (1) on ainakin yksi mittapää (3, 4), jossa on refe- 20 renssikappale (6) ja jossa referenssikappaleessa (6) on referenssipinta (13), jota vasten liikkuva raina on sovitettu tuettavaksi rainan ominaisuuden mit-:·. taamiseksi, tunnettu siitä, että referenssipinnassa (13) on mittausalue (25), jonka mittausalueen osoittaman alueen sisäpuolelta rainan ominaisuus *’*! on sovitettu mitattavaksi ja että referenssikappale (6) on sovitettu mittapään 25 (3, 4) yhteyteen siten, että referenssikappaleen (6) alapuolella on olennaisesti * avonainen ilmatila (17) ja että mittapäässä (3, 4) on välineet alipaineen muo- ' : dostamiseksi referenssikappaleen (6) alapuolella olevaan ilmatilaan (17) ja et- tä referenssikappaleessa (6) on sen läpi eri etäisyyksien päähän mittausalueesta (25) muodostettuja reikiä (14) siten, että ilmatilaan (17) muodostettava ·:· 30 alipaine on sovitettu vaikuttamaan referenssikappaleen (6) läpi muodostettu- jen reikien (14) läpi referenssipinnan (13) ja liikkuvan rainan väliin siten, että liikkuva raina on alipaineen vaikutuksesta tuettuna referenssipintaan (13) t t I :;;,: olennaisesti koko mittausalueen (25) alueelta. * I ; ; ; 35
18. Patenttivaatimuksen 17 mukainen mittalaite, tunnettu siitä, että referenssikappaleessa (6) on sen läpi muodostettuja reikiä (14) siten, että 114337 15 ilmatilaan (17) muodostettava alipaine on sovitettu vaikuttamaan referenssi-kappaleen (6) läpi muodostettujen reikien (14) läpi referenssipinnan (13) ja liikkuvan rainan väliin siten, että liikkuva raina on alipaineen vaikutuksesta sovitettu tuettuna referenssipintaan (13) olennaisesti koko referenssipinnan 5 (13) alueelta.
19. Patenttivaatimuksen 17 tai 18 mukainen mittalaite, tunnettu siitä, että mittapäässä (3, 4) on ainakin yksi kanava, joka on yhteydessä refe-renssikappaleen (6) alapuolella olevaan avonaiseen ilmatilaan (17) ja joka 10 kanava on sovitettu syöttämään kaasumaista väliainetta mittapään (3, 4) ja liikkuvan rainan väliin siten, että kaasumaisen väliaineen syöttäminen on sovitettu aiheuttamaan alipaineen ilmatilaan (17) ja edelleen referenssikappaleen (6) reikien (14) kautta referenssipinnan (13) ja liikkuvan rainan väliin.
20. Patenttivaatimuksen 19 mukainen mittalaite, tunnettu siitä, että kanava kaasumaisen väliaineen syöttämiseksi mittapään (3, 4) ja liikkuvan rainan väliin käsittää referenssikappaleen (6) ja mittapään (3, 4) runkorakenteen (15) tai siihen sovitetun muotoelementin (23) välisen suutinraon (20) siten, että kaasumainen väliaine on sovitettu syötettäväksi suutinraosta (20) 20 mittapään (3, 4) ja liikkuvan rainan väliin mittapään (3, 4) runkorakenteen (15) tai siihen sovitetun muotoelementin (23) reunoja pitkin.
21. Patenttivaatimuksen 20 mukainen mittalaite, t u n n e tt u siitä, että mittapään (3, 4) runkorakenteeseen (15) tai siihen sovitettuun muotoele- 25 menttiin (23) kuuluu kaareva ohjauspinta (24) kaasumaisen väliaineen virta- « ·«* · uksen kääntämiseksi virtaamaan mittapään (3, 4) ja liikkuvan rainan väliin.
22. Jonkin patenttivaatimuksen 19 - 21 mukainen mittalaite, tunnettu siitä, että referenssikappaleen (6) alapinnassa on kaksi liikkuvan rai- t ;:· 30 nan kulkusuunnan (A) suhteen olennaisesti yhdensuuntaista ilmakanavaa (29) kaasumaisen väliaineen syöttämiseksi mittapään (3, 4) ja liikkuvan rainan vä-. \ liin olennaisesti yhdensuuntaisesti liikkuvan rainan kulkusuunnan (A) suhteen.
;·’ 23. Jonkin patenttivaatimuksen 19-22 mukainen mittalaite, t u n - :[·. 35 n e 11 u siitä, että kaasumainen väliaine on ilmaa. 114337 16
24. Patenttivaatimuksen 17 tai 18 mukainen mittalaite, tunnettu siitä, että mittapäässä (3, 4) on alipainepumppu (30) alipaineen muodostamiseksi referenssikappaleen (6) alapuolella olevaan avonaiseen ilmatilaan (17) ja edelleen referenssikappaleen (6) reikien (14) kautta referenssipinnan (13) 5 ja liikkuvan rainan väliin.
25. Jonkin patenttivaatimuksen 17-24 mukainen mittalaite, tunnettu siitä, että referenssikappale (6) on olennaisesti levymäinen.
26. Jonkin patenttivaatimuksen 17-25 mukainen mittalaite, tun nettu siitä, että referenssikappale (6) on valmistettu hyvin sähköjohtavasta materiaalista.
27. Jonkin patenttivaatimuksen 17-26 mukainen mittalaite, tu n - 15 nettu siitä, että ilmatilaan (17) on sovitettu alipaineanturi (27) ilmatilassa (17) vallitsevan alipaineen mittaamiseksi ja että kaasumaisen väliaineen syöt-töpaine tai alipainepumpun (30) käyttö on sovitettu muutettavaksi ilmatilan (17) alipaineen mittaustiedon (PA) perusteella.
28. Jonkin patenttivaatimuksen 17-27 mukainen mittalaite, tun nettu siitä, että referenssipinnan (13) ja liikkuvan rainan välinen alipaine on j\, 80-99 % ympäröivän ilman paineesta. "1·.
29. Jonkin patenttivaatimuksen 17-28 mukainen mittalaite, tun- 25 nettu siitä, että mittapäässä (3, 4) on ainakin yksi optinen mittausväline liikkuvan rainan ainakin yhtä ominaisuutta kuvaavan suureen mittaamiseksi.
30. Patenttivaatimuksen 29 mukainen mittalaite, tunnettu siitä, että optinen mittausväline on laser (8). 30
31. Patenttivaatimuksen 29 tai 30 mukainen mittalaite, tunnettu ; siitä, että liikkuvan rainan mitattava ominaisuus on liikkuvan rainan väri, kiilto, ‘’ karheus tai kosteus.
32. Jonkin patenttivaatimuksen 17-31 mukainen mittalaite, tun- nettu siitä, että mittalaitteessa (1) on ensimmäinen mittapää (3) ja toinen 114337 17 mittapää (4), joiden välissä on ilmaväli (5), missä liikkuva raina on sovitettu kulkemaan ja että referenssi kappale (6) on sovitettu toiseen mittapäähän (4).
33. Patenttivaatimuksen 32 mukainen mittalaite, tunnettu siitä, 5 että ensimmäisessä mittapäässä (3) on ainakin yksi sähkömagneettinen mittausväline ensimmäisen mittapään (3) ja referenssikappaleen (6) referenssi-pinnan (13) välisen etäisyyden määrittämiseksi.
34. Patenttivaatimuksen 33 mukainen mittalaite, tunnettu siitä, 10 että sähkömagneettinen mittausväline on kela (7).
35. Patenttivaatimuksen 33 tai 34 mukainen mittalaite, tunnettu siitä, että mittalaite (1) on sovitettu mittaamaan liikkuvan rainan paksuutta.
36. Jonkin patenttivaatimuksen 17-35 mukainen mittalaite, tun nettu siitä, että liikkuva raina on paperiraina (2), kartonkiraina, pehmopape-riraina tai selluraina. « • | 1 • > 18 11433 7
FI20011447A 2001-07-03 2001-07-03 Menetelmä ja mittalaite liikkuvan rainan ainakin yhden ominaisuuden mittaamiseksi FI114337B (fi)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20011447A FI114337B (fi) 2001-07-03 2001-07-03 Menetelmä ja mittalaite liikkuvan rainan ainakin yhden ominaisuuden mittaamiseksi
EP02014650A EP1273879B1 (en) 2001-07-03 2002-07-02 Method and measuring device for measuring at least one property of a moving web
AT02014650T ATE338259T1 (de) 2001-07-03 2002-07-02 Methode und messvorrichtung für das messen von wenigstens einer eigenschaft eines bewegten bandes
US10/187,584 US6743338B2 (en) 2001-07-03 2002-07-02 Method and measuring device for measuring at least one property of moving web
DE60214287T DE60214287T2 (de) 2001-07-03 2002-07-02 Methode und Messvorrichtung für das Messen von wenigstens einer Eigenschaft eines bewegten Bandes
CA2390198A CA2390198C (en) 2001-07-03 2002-07-02 Method and measuring device for measuring at least one property of a moving web

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20011447 2001-07-03
FI20011447A FI114337B (fi) 2001-07-03 2001-07-03 Menetelmä ja mittalaite liikkuvan rainan ainakin yhden ominaisuuden mittaamiseksi

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20011447A0 FI20011447A0 (fi) 2001-07-03
FI20011447A FI20011447A (fi) 2003-01-04
FI114337B true FI114337B (fi) 2004-09-30

Family

ID=8561573

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20011447A FI114337B (fi) 2001-07-03 2001-07-03 Menetelmä ja mittalaite liikkuvan rainan ainakin yhden ominaisuuden mittaamiseksi

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6743338B2 (fi)
EP (1) EP1273879B1 (fi)
AT (1) ATE338259T1 (fi)
CA (1) CA2390198C (fi)
DE (1) DE60214287T2 (fi)
FI (1) FI114337B (fi)

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10343515A1 (de) * 2003-09-19 2005-04-14 Voith Paper Patent Gmbh Messvorrichtung
US7206076B2 (en) * 2003-11-04 2007-04-17 Lumetrics, Inc. Thickness measurement of moving webs and seal integrity system using dual interferometer
DE10361160A1 (de) * 2003-12-22 2005-07-21 Voith Paper Patent Gmbh Messvorrichtung
DE10361161A1 (de) * 2003-12-22 2005-07-21 Voith Paper Patent Gmbh Messvorrichtung
SE528617C2 (sv) * 2005-05-11 2006-12-27 Elisebergs Teknik & Design Ab Anordning, förfarande och maskin innefattande anordning för att mäta spänning eller spänningsförändring i en pappersbana
DE202005017506U1 (de) * 2005-11-07 2007-03-22 Wangner Gmbh & Co. Kg Vorrichtung zum Inspizieren eines Flächengebildes, z.B. einer Papiermaschinenbespannung
FI119260B (fi) * 2006-03-10 2008-09-15 Metso Automation Oy Menetelmä mittauslaitteiston kalibroimiseksi ja mittauslaitteisto
US8282781B2 (en) 2006-12-11 2012-10-09 Honeywell International Inc. Apparatus and method for stabilization of a moving sheet relative to a sensor
CA2697543C (en) * 2007-08-31 2016-01-26 Abb Ltd. Web thickness measurement device
US9045306B2 (en) * 2007-11-27 2015-06-02 Abb Ltd. Sheet stabilizer with suction nozzle having center protrusion
US8028988B2 (en) * 2008-01-21 2011-10-04 Honeywell International Inc. Apparatus and method for stabilizing a moving sheet relative to a sensor
US8083895B2 (en) 2008-04-18 2011-12-27 Honeywell Asca Inc. Sheet stabilization with dual opposing cross direction air clamps
US8088255B2 (en) * 2008-04-18 2012-01-03 Honeywell Asca Inc Sheet stabilizer with dual inline machine direction air clamps and backsteps
US7892399B2 (en) 2008-05-29 2011-02-22 Honeywell Asca Inc. Local tension generating air stabilization system for web products
US8083896B2 (en) * 2008-09-26 2011-12-27 Honeywell Asca Inc. Pressure equalizing baffle and coanda air clamp
US9109330B2 (en) * 2009-03-09 2015-08-18 Honeywell International Inc. Apparatus and method for measuring properties of unstabilized moving sheets
FI20105485A0 (fi) * 2010-05-04 2010-05-04 Metso Automation Oy Menetelmä ja sovitelma mittalaitteen yhteydessä
US9325860B2 (en) 2010-12-01 2016-04-26 Quadtech, Inc. Line color monitoring system
DE102011107771B4 (de) * 2011-04-15 2013-10-17 Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co. Kg Vorrichtung und Verfahren zur Dickenmessung eines Messobjekts
ES2563647T3 (es) * 2011-08-22 2016-03-15 Windmöller & Hölscher Kg Máquina y procedimiento de impresión de bandas de material
EP2748004B1 (de) * 2011-08-22 2017-01-04 Windmöller & Hölscher KG Maschine und verfahren zum bedrucken von materialbahnen
US8760669B2 (en) 2011-09-30 2014-06-24 Honeywell Asca Inc. Method of measuring the thickness of a moving web
KR102023581B1 (ko) * 2012-11-23 2019-09-24 해성디에스 주식회사 릴-투-릴 검사장치 및 릴-투-릴 검사방법
FI125811B (fi) * 2013-05-29 2016-02-29 Valmet Automation Oy Rainan mittaus
US9007589B2 (en) * 2013-09-16 2015-04-14 Honeywell Asca Inc. Co-located porosity and caliper measurement for membranes and other web products
CN104457593B (zh) * 2014-11-26 2017-02-22 北京特种机械研究所 一种用于测量气垫气膜厚度的装置
FI126243B (fi) * 2015-01-14 2016-08-31 Takso-Ohjelmistot Oy Laite ja menetelmä kuiturainan manipuloimiseksi
US9889995B1 (en) * 2017-03-15 2018-02-13 Core Flow Ltd. Noncontact support platform with blockage detection
FI20185410A1 (fi) * 2018-05-03 2019-11-04 Valmet Automation Oy Liikkuvan rainan kimmokertoimen mittaaminen
FI128235B (fi) * 2018-12-10 2020-01-15 Procemex Oy Ltd Yläpuolinen sivuvalo

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3617872A (en) * 1969-10-06 1971-11-02 Indev Inc Magnetic thickness gauge with a gas-supported sensor and a suction source in the base
CA919937A (en) * 1969-11-24 1973-01-30 J. E. C. Stringer Peter Paper machine tension tester
US3818327A (en) * 1972-09-05 1974-06-18 Industrial Nucleonics Corp Measuring gauge with support for holding measured sheet and discharging foreign matter
US3855524A (en) * 1972-09-05 1974-12-17 Industrial Nucleonics Corp Measuring gauge with air bearing and resistant to tilt
US3827808A (en) * 1973-05-09 1974-08-06 Industrial Nucleonics Corp Method and apparatus for measuring the opacity of sheet material in which the transmittance signal is compensated for the reflectivity of the material
US4246775A (en) * 1979-06-08 1981-01-27 Philip Morris Incorporated Porosity measuring apparatus and perforating system using same
US4311037A (en) * 1980-03-19 1982-01-19 Scott Paper Company Web permeability tester
US4449398A (en) * 1982-06-24 1984-05-22 Accuray Corporation Sheet property sensor with sheet wrinkle remover
US4929895A (en) * 1989-03-22 1990-05-29 Impact Systems, Inc. Thickness gauge for moving sheet material with inner and outer flexibly mounted bearings
DE19506470C2 (de) * 1995-02-24 1998-07-02 Honeywell Ag Gleitplatte und deren Verwendung
JP2776339B2 (ja) * 1995-10-27 1998-07-16 横河電機株式会社 厚み計
US6280573B1 (en) * 1998-08-12 2001-08-28 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Leakage control system for treatment of moving webs
US6281679B1 (en) 1998-12-21 2001-08-28 Honeywell - Measurex Web thickness measurement system
DE19913928B4 (de) 1999-03-26 2015-06-11 Voith Patent Gmbh Vorrichtung zum Bestimmen von Eigenschaften einer laufenden Materialbahn

Also Published As

Publication number Publication date
CA2390198A1 (en) 2003-01-03
DE60214287D1 (de) 2006-10-12
CA2390198C (en) 2013-01-08
US6743338B2 (en) 2004-06-01
FI20011447A0 (fi) 2001-07-03
EP1273879A2 (en) 2003-01-08
ATE338259T1 (de) 2006-09-15
EP1273879A3 (en) 2004-01-02
US20030024301A1 (en) 2003-02-06
FI20011447A (fi) 2003-01-04
DE60214287T2 (de) 2007-09-13
EP1273879B1 (en) 2006-08-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI114337B (fi) Menetelmä ja mittalaite liikkuvan rainan ainakin yhden ominaisuuden mittaamiseksi
FI125343B (fi) Rainan paksuuden mittauslaite
FI119260B (fi) Menetelmä mittauslaitteiston kalibroimiseksi ja mittauslaitteisto
US8760669B2 (en) Method of measuring the thickness of a moving web
EP2262710B1 (en) Sheet stabilization with dual opposing cross direction air clamps
US8083896B2 (en) Pressure equalizing baffle and coanda air clamp
CA2705991C (en) Sheet stabilizers with suction nozzle having center protrusion
WO2009129056A1 (en) Sheet stabilizer with dual inline machine direction air clamps and backsteps
FI108884B (fi) Menetelmä ja laitteisto paperin paksuuden mittaamiseksi
FI108885B (fi) Menetelmä paperin ominaisuuksien mittaamiseksi ja sovitelma paperin mittalaitteen yhteydessä
EP0297271A2 (en) Sheet inspection station with pneumatic sheet guide
WO1999044012A1 (en) Method and apparatus for measuring caliper of moving web
FI94779C (fi) Menetelmä ja laite rainan kireyden poikittaissuuntaisen vaihtelun säätämiseksi

Legal Events

Date Code Title Description
FG Patent granted

Ref document number: 114337

Country of ref document: FI

MA Patent expired