FI114049B - Menetelmä jatkuvasti tuotettavan materiaalirainan poikkileikkausprofiilin analysointiin - Google Patents
Menetelmä jatkuvasti tuotettavan materiaalirainan poikkileikkausprofiilin analysointiin Download PDFInfo
- Publication number
- FI114049B FI114049B FI962296A FI962296A FI114049B FI 114049 B FI114049 B FI 114049B FI 962296 A FI962296 A FI 962296A FI 962296 A FI962296 A FI 962296A FI 114049 B FI114049 B FI 114049B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- profile
- control
- eopt
- material web
- calculated
- Prior art date
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 29
- 238000013178 mathematical model Methods 0.000 claims abstract description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 13
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 8
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 6
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims description 5
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims description 4
- 241000375392 Tana Species 0.000 claims 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 15
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 9
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D21—PAPER-MAKING; PRODUCTION OF CELLULOSE
- D21G—CALENDERS; ACCESSORIES FOR PAPER-MAKING MACHINES
- D21G9/00—Other accessories for paper-making machines
- D21G9/0009—Paper-making control systems
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/34—Paper
- G01N33/346—Paper sheets
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S162/00—Paper making and fiber liberation
- Y10S162/09—Uses for paper making sludge
- Y10S162/10—Computer control of paper making variables
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Paper (AREA)
- Preliminary Treatment Of Fibers (AREA)
- Control Of Metal Rolling (AREA)
- Dry Formation Of Fiberboard And The Like (AREA)
- Nonwoven Fabrics (AREA)
Description
, 114049
Menetelmä jatkuvasti tuotettavan materiaalirainan poikkileik-kausprofiilin analysointiin
Keksintö koskee jatkuvasti tuotettavan materiaalirainan poikkileik-5 kausprofiilin analysointiin tarkoitettua menetelmää, jolloin poikkiieikkausprofiilin säätäminen tapahtuu sellaisen säätölaitteen avulla, joka aluksi voi antaa esiase-tetun suunnitellun profiilin ja materiaalirainalta mitatun profiilin välisen säätöpoik-keaman ja joka lopuksi voi ohjata säätöpoikkeamasta riippuen tiettyä lukumäärää paikoituselimiä materiaalirainan profiilin säätämiseksi, jolloin laskulaitteessa 10 voidaan laskea säätövälin matemaattisesta mallista riippuen suunniteltu profiili. Esimerkiksi US-patenttijulkaisusta 5 170 357 tunnetaan ennestään eräs tapa varsinaisen poikkiieikkausprofiilin säätämisen optimointiin.
Useissa prosesseissa, joissa tuotetaan jatkuvaa materiaalirainaa, on hyödyllistä, että tuotteella, esimerkiksi paperirainalla tai kalvolla, on kaikkialla 15 samanlaiset ominaisuudet: sen tulee olla tasa-aineista ja pysyvästi laadukasta. Jotta kulloinkin mielenkiinnon kohteena oleva materiaalin ominaisuus, kuten esimerkiksi paksuus, ominaispaino tai kosteuspitoisuus, voidaan ilmaista lukumääräisenä, mitataan tätä ominaisuutta materiaalirainasta pitkittäis- ja poikittais-suuntaisesti, ja se esitetään profiilina näissä suunnissa. Poikkileikkausprofiili 20 lasketaan tällöin yleisesti ratkaistuna mittausarvojen lukumäärällä, jolloin laskettu profiili voi noudattaa keskiarvojen tai jonkin muun menetelmän perusteella : laskettua käyrää. On toivottavaa, että mitattu profiili vastaa esiasetettua suunni- > « teltua profiilia. Usein tämä suunniteltu profiili on yksinkertaisesti kaikkialla nolla.
: Tämän saavuttamiseksi on materiaalirainaan nähden poikittain sijoitettu tietty . * 25 määrä paikoituselimiä, joita säätölaite ohjaa esiasetetun suunnitellun profiilin ja » I « / mitatun profiilin välisestä säätöpoikkeamasta riippuen.
: ; On todennäköistä, että kun paikoituselimiä on rajoitettu lukumäärä, • · * on tuotettavan poikkiieikkausprofiilin muoto rajoitettu. Erityisesti ei voida saavut taa täydellistä tasaisuutta. Tästä seuraa kysymys, kuinka pitkälle poikkileikkaus-.. :' 30 profiilin säätämisen avulla ylipäänsä voidaan lähentyä toivottua suunniteltua pro- fiilia.
Julkaisussa R. Miinch: "Der JECTOmmander- ein fortschrittliches ’,··. System zur Fernverstellung der Stoffauflaufblende und zur Regelung des *!' FlächengevvichtQuerprofils", Wochenblatt fur Papierfabrikation 7, 1992, sivut 35 259 - 265, on esitetty menetelmä parannusmahdollisuuden arvioimiseksi neliö- • · » metripaino-poikkileikkausprofiilin säätämiseksi paperikoneessa, jolloin mitatun 2 114049 profiilin varianssi hajotetaan sen aallonpituusosiin, ja tästä arvioidaan mitatun profiilin parannuspotentiaali. Kuitenkin arvioinnin tarkkuus on siten rajoitettua, ettei optimaalista saavutettavissa olevaa profiilia tunneta.
Keksinnön tavoitteena on sen sijaan antaa ilmi menetelmä, joka pa-5 rantaa säätölaitteiden arviointia jatkuvasti tuotettavien materiaalirainojen poikki-leikkausprofiileille.
Tavoite on saavutettu keksinnön mukaisesti patenttivaatimuksessa 1 annettujen menetelmätunnusmerkkien kokonaisuuden avulla. Menetelmän li-säilmentymiä on annettu ilmi epäitsenäisissä patenttivaatimuksissa.
10 Keksinnön mukaisen menetelmän oleellinen etu on siinä, että aluksi määritetään todellinen, haluttu, optimaalisesti saavutettavissa oleva profiili. Kuten jäljempänä vielä esitetään, tämä profiili ei ole vakio, vaan se riippuu kulloinkin mitatusta profiilista. Kun tätä profiilia verrataan mitattuun profiiliin, saadaan hyvin havainnollinen arviointityökalu mahdollisen profiilinparannuksen arvioimi-15 seen.
Muita keksinnön edullisia suoritusmuotoja on annettu ilmi alivaati- muksissa.
Keksintöä kuvataan jatkossa tarkemmin yksityiskohtaisten kuvioiden avulla seuraavasti: 20 kuvio 1 näyttää yleisen lohkokaavion laitteesta, joka soveltuu keksin nön mukaisen menetelmän toteuttamiseen, kuvio 2 näyttää säätöpiirin perusrakenteen poikkileikkausprofiilin sää- tämiseksi, kuviot 3-6 näyttävät esimerkkejä mitatuista ja niihin liittyvistä, kek-: 25 sinnön mukaisen menetelmän avulla määritellyistä vastaavista optimaalisesti • I · saavutettavissa olevista profiileista, • · t.·'! kuviot 7-10 näyttävät kuvioissa 3 - 6 esitettyjen profiilien fourier- ' spektrit ja kuvio 11 näyttää rajakäyrän kulun, josta ilmenee, miten hyvä opti- · ·: 30 maalisesti saavutettavissa olevan profiilin spektri vähintään on.
Kuvio 1 näyttää jatkuvasti tuotettavan materiaalirainan 1 poikkileik- kausprofiilin säätämiseen tarkoitetun laitteen, jolloin säädeltävä prosessi, siis .···. ennalta asetetun poikkileikkausprofiilin tuottaminen, liikkuu nuolen 2 suuntaan.
• · • · ’ Materiaalirainan 1 poikkileikkausprofiilin säätämistä varten on rainan 1 yläpuolel- • I » v : 35 le asetettu tietty lukumäärä n paikoituselimiä 3, jotka sijaitsevat yhtä kaukana • · toisistaan koko materiaalirainan 1 leveydeltä. Katsottaessa prosessin kulkua 3 114049 suuntaan 2 on paikoituselinten 3 taakse asetettu edelleen m kappaletta mittausantureita 4, jotka tuottavat materiaalirainan 1 poikkileikkausprofiilin ratkaistuna m mittausarvon avulla. Materiaalirainan 1 poikkileikkausprofiilin säätämistä palvelee laskulaite 5, joka koostuu digitaalilaskurista, jossa on työ-, ohjelma- ja tieto-5 rekisterit. Laskulaitteen 5 ja prosessin väliin on suunniteltu liitäntälaite 6. Lasku-laite 5 tuottaa siinä itsessään ajettavan säätöohjelman kulun mukaan paikoi-tuselimille 3 asetuskäskyjä, jotka välitetään liitäntälaitteen 6 kautta. Asetuskäs-kyjen tuottaminen paikoituselimille 3 noudattaa sitä säätöpoikkeamaa, joka riippuu mittausantureilta 4 saadusta ja laskulaitteelta 5 liitäntälaitteen 6 kautta joh-10 detusta todellista profiilista yist ja esiasetetusta suunnitellusta profiilista ySoii. Tämä johdetaan laskulaitteelle 5 sellaisen syöttö/tulostusyksikön 7 kautta, jonka avulla laskulaite 5 kommunikoi ulkomaailman kanssa. Laskulaitteeseen 5 on lisäksi liitetty näyttölaite 8 prosessin kulun visualisoimiseksi. Lisäksi laskulaite 5 on yhteydessä erilliseen laitteeseen 9, jossa on kyse joko toisesta laskulaittees-15 ta tai laskulaitteessa 5 määritellyn ohjelman kulun suorittamisesta niin, että saadaan aikaan keksinnön mukainen menetelmä, jota jatkossa kuvataan tarkemmin.
Kuvio 2 näyttää perusrakenteen kuviossa 1 esitetyllä laitteella toteutetusta poikkileikkausprofiilin säätöpiiristä. Tämä koostuu säätimestä 10 ja sää-20 tövälistä 11. Säädin 10 on toteutettu laskulaitteessa 5 ajettavan säätöohjelman muotoon, ja säätöväli 11 muodostetaan säädettävästä prosessista, siis materi-aalirainan 1 poikkileikkausprofiilin säätämisestä. Säädin 10 tuottaa suunnitellun profiilin yson ja mitatun todellisen profiilin yst välisestä säätöpoikkeamasta e riip-puen prosessiin paikoituselinten 3 kautta vaikuttavat säätösuureet tai säätöpro- • · : 25 fiilin u. Säädettävän prosessin ominaispiirteitä vastaten säätövälillä 11 muodos- tetaan säätöprofiilista u lähtöprofiili y. Mitattu todellinen profiili yjSt muodostuu lähtöprofiilista y ja prosessikohtaisesta häiriöprofiilista ystör. Mittausantureiden 4 lukumäärän m mukaisesti todellinen profiili yjSt, suunniteltu profiili ySOii, häiriöpro-fiili ystor, lähtöprofiili y ja säätöpoikkeama e muodostavat kulloinkin m-ulotteisen ·· :’ 30 vektorin, jossa on m muuttujaa. Säätöprofiili u esitetään n-ulotteisella vektorilla,
• I I
jossa n paikoituselintä 3 kohden olevat säätösuureet on koottu yhteen. Säädet-.tävän prosessin ominaispiirteet oletetaan lineaarisiksi ja tässä tarkastellaan vain ,*·. prosessin staattista osaa, nimittäin mxn-käänteismatriisia P, joka muodostaa ’ * ’ säätöprofiilista u lähtöprofiilin y kaavan y = Pu mukaan.
v : 35 On todennäköistä, että kun paikoituselinten 3 lukumäärä n on rajalli-
• I
\‘·· nen, ei voida säätää jokaista mahdollista profiilin y muotoa. Poikkileikkausprofii- 4 114049
Iin säätämisen parannusmahdollisuuksien arvioimiseksi lasketaan ensin yksikössä 9 esiasetetusta suunnitellusta profiilista yS0n ja prosessikohtaisesta häiriö-profiilista ystör optimaalisesti saavutettavissa oleva profiili, siis profiili, jolla on pienin varianssi σ2, ja siten pienin keskihajonta σ. Käytännössä pidetään yleensä 5 kaksinkertaista keskihajonnan suuruutta laatutunnusmerkkinä säädetylle profiilille.
Jatkossa tarkastellaan m-ulotteista säätöpoikkeaman profiilia e = ySOii - (Pu + ystör).
10 u:n avulla ilmaistuna tulee nyt varianssin olla σ2 = eTe = (yson - Pu - ystör)T (ysoii - Pu - ystör), 15 jolloin keskihajonta σ minimoituu. Varianssi σ2 minimoituu, kun pätee do2 /du = -2PT(ySOii - ystör) + 2PTPuopt = 0.
Tästä saadaan ratkaisuksi 20
Uopt = (P P) P (ysoii - ystör)· • ♦ · • * · : ; Optimaaliselle profiilille eopt saadaan siis • · • · · • · ,·, ; 25 OoPt = (I “ P(P P) P ) (ysoii ystör), • · · ♦ · • t · *;;; ’ jossa mxn-yksikkömatriisi I ja näennäinen käänteismatriisi « » · • * · P° = (PTP)'1PT.
30 :]’,*· Häiriöprofiilin ystör määrittelevän yhtälön avulla « t· ·ρ Ystör = yist Pu • » · ‘ 35 saadaan lopulta optimaalitapauksessa saavutettavissa olevalle pienimmälle : \ i mahdolliselle säätöpoikkeamalle 5 114049 eop, = (l-P(PTP)''PT)(yst<-y«t).
Tällä algoritmilla lasketaan yksikössä 9 esiasetetun suunnitellun profiilin ySoii ohessa suoraan mitatusta todellisesta profiilista yist optimaalitapaukses-5 sa saavutettavissa oleva paras poikkileikkausprofiili, siis profiili, jolla on pienin mahdollinen varianssi tai keskihajonta. Säätöpoikkeaman optimaalinen profiili eopt johdetaan yhdessä säätöpoikkeaman hetkellisen profiilin e = yson - yist kanssa näyttölaitteelle 8, jossa ne esitetään graafisesti. Suora kuviin perustuva vertailu optimaalisen profiilin eopt ja hetkellisen säätövirheprofiilin e välillä mahdollis-10 taa tällöin vielä olemassaolevien parannusvaihtoehtojen arvioimisen. Vertailua voidaan käyttää myös sen osoittamiseksi, ettei profiilia voida enää parantaa tai ettei jotain tiettyä profiilissa olevaa piikkiä voida enää pienentää. Tällainen vertailu lasketun optimaalisen profiilin eopt ja hetkellisen säätövirheprofiilin e välillä voi luonnollisesti tapahtua myös automaattisesti yksikössä 9 tai laskulaitteessa 15 5.
Kuvio 3 näyttää esimerkkinä paperikoneen poikkileikkausprofiilin säätämisessä mitatun neliömetripaino-poikkileikkausprofiilin ennen kuin säätäminen on aloitettu. Yksikössä 9 laskettu optimaalinen profiili on esitetty kuviossa 4. Kuvio 5 näyttää mitatun poikkileikkausprofiilin säätämisen käynnistämisen jälkeen, 20 ja kuvio 6 näyttää edelleen tähän liittyvän optimaalisen profiilin. Diagrammit on skaalattu g/m2 suureiksi. Kuvioiden 3 ja 4 vertailu osoittaa, että ennen poikkiieik-kausprofiilin säätämisen käynnistämistä oli parannuspotentiaalia vielä 58 %, kun taas kuvioiden 5 ja 6 vertailu osoittaa, että säätämisen käynnistämisen jälkeen » oli vielä olemassa 14 %:n parannusmahdollisuus; siis todellinen profiili vastaa • · .·. : 25 86-%:isesti optimaalisesti saavutettavissa olevaa profiilia.
.1,·,1 Pääasiallisesti ne profiilin osat, joilla on alhaisempi taajuus, siis sei- • ♦ ! ! laiset, joilla on selvästi suurempi aallonpituus kuin kahden vierekkäin sijaitsevan • i · ’ paikoituselimen 3 välinen etäisyys, ovat hyvin säädettävissä, sitä vastoin korke- ampitaajuuksisia osia voidaan säätää huonosti tai ei lainkaan. Jotta saadaan tie- • · ·' 30 to siitä, kuinka paljon poikkileikkausprofiilin yksittäisiä spektrikomponentteja voi- • ' 1 daan säätämisen avulla optimitapauksessa parantaa, määritellään yksikössä 9 :. käyttöön transformaatiomatriisi T, jonka elementit • · » • · • · tki = exp (^2π^Λη), i,k = 0,1,... ,m-1 # · · tl» # · • » · » · 6 114049 määrittelevät mitatun profiilin säätöpoikkeaman e ja optimaalisen profiilin eopt fourier-muunnokset E ja Eopt - E = Te 5 Eopt = Teopt = T[I-P(PTP)"1 Pt]T"1 E.
Poikkileikkausprofiilin mahdollisen parannuspotentiaalin määrittäminen profiilispektrien E ja Eopt avulla tapahtuu samalla tavoin kuin yllä on jo selitetty profiileille e ja eopt. Kuviot 7-10 esittävät tämän kuvioiden 3-6 profiileihin 10 liittyvien spektrien avulla. Samanaikaisesti yksittäisten spektrikomponenttien Ek amplitudit | Ek | on ilmaistu niiden aallonpituuden mukaisesti
Ak = n/k, 15 jolloin yksittäisten spektrikomponenttien Ek aallonpituudet r|k on ilmaistu paikoi-tuselinten välisen välimatkan kerrannaisina. Yksityiskohtaisemmin, kuvio 7 esittää mitatun profiilin e spektrin E ennen säätämistä, kuvio 8 siihen liittyvän optimaalisen profiilin e0Pt spektrin Eopt, kuvio 9 mitatun säädetyn profiilin e spektrin E ja kuvio 10 vastaavan optimaalisen profiilin eopt spektrin Eopt. Kuten kuvioista 7 -20 10 nähdään, saavutetaan säätämisen avulla profiilin parantuminen ennen muuta sellaisella alueella, jossa on pitkä aallonpituus.
: [: Kuten edellä jo todettiin, jokaista häiriöprofiilia ystör tai mitattua profiilia y,st kohden on olemassa oma erityinen optimaalinen profiili eopt. Jokaisella tällai-sella optimaalisella profiililla eopt on myös oma spektrijakauma Eopt, josta näh-: 25 dään, kuinka suuria yksittäisten aallonpituuksien nk amplitudit |Eopt,k| ovat. Op- timaalisten profiilien erilaiset spektrijakaumat Eopt johtavat kuitenkin yleensä » < · ; myös erilaisiin amplitudin arvoihin |E0Pt,k|. Tärkeä tunnusluku on tällöin suurin * ’ mahdollinen | Eopt,k | :n arvo, siis sen yläraja r)k. Siitä ilmenee, kuinka huono op timaalinen ratkaisu aallonpituudelle Ak enintään voi olla tai kuinka hyvä sen vä- .·>.’ 30 hintään tulee olla. Raja r|k ilmaisee sen, millä tekijällä aallonpituuden Ak häiriön • » « amplitudia | Ek| voidaan vähintään pienentää. Rajan r)k laskeminen tapahtuu . i. yksikössä 9, jolloin saadaan tulokseksi • * ♦ t • »
Hk = max |Eop,.k| = (1-1/m-||P(PTP)'1PTtk||22)’'4.
V; 35 ifiis*i • t » • < » • * 7 114049 tk on transformaatiomatriisin T k:nnes pystyvektori. Raja-arvot r\w muodostavat yhdessä rajakäyrän ηΤ = (Πο,m r|m-i), 5 joka ei ole enää pelkästään riippuvainen yksittäisistä profiileista vaan myös sää-tövälin 11 ominaispiirteistä P. Jos P on vakio, riittää, että rajakäyrä η määritellään vain kerran. Jos P sen sijaan vaihtelee - esimerkiksi prosessin tilan mukaisesti - on yleensä määriteltävä uusi vastaava rajakäyrä η. Kuvio 11 esittää esi-10 merkin rajakäyrän η kulusta aallonpituuksien Ak mukaisesti, jotka ovat paikoi-tuselinten välisen välimatkan kerrannaisia. On selvästi nähtävissä, että lyhyem-missä kuin kahden paikoituselimen välisen välin aallonpituuksissa Ak ei parannuksia voida saavuttaa.
• 1 1 » » 1 • 1 I .
• · • t » • 1 » • · t • · · « · • · · • I I • ·
Claims (5)
1. Menetelmä jatkuvasti tuotettavan materiaalirainan (1) poikkileik-kausprofiilin analysoimiseksi, jolloin poikkileikkausprofiilin säätäminen tapahtuu 5 sellaisen säätölaitteen (10) avulla, joka aluksi tuottaa esiasetetun suunnitellun profiilin (ySOii) ja materiaalirainalta (1) mitatun profiilin (yist) välisen säätöpoik-keaman (e) ja joka lopuksi voi ohjata säätöpoikkeamasta (e) riippuen tiettyä lukumäärää paikoituselimiä (3) materiaalirainan (1) profiilin säätämiseksi, jolloin laskulaitteessa (5, 9) voidaan laskea poikkileikkausprofiileita riippuen säätövälin 10 (11) matemaattisesta mallista, tunnettu siitä, että laskulaitteessa (5, 9) las ketaan mitattua profiilia (Yist) ja matemaattista mallia tarkastelevan säätämisen avulla optimaalisesti saavutettavissa oleva profiili ja että laskettu profiili on käytettävissä mitatun profiilin (Yist) kanssa tehtävää vertailua varten.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tun nettu siitä, 15 että optimaalisen saavutettavissa olevan profiilin aikaansaamiseksi lasketaan pienimmän saavutettavissa olevan säätöpoikkeaman (eopt = (I - P(PTP)'1PT) (ysoii - yist)) profiili, jolloin (P) on säätövälin (11) käänteismatriisi, joka tuottaa pai-koituselimien (3) säätösuureista (u) materiaalirainan (1) poikkileikkausprofiilin (y) kaavan (y = Pu) mukaan, ja jossa (PT) on vastaava transponoitu matriisi ja (I) 20 yksikkömatriisi.
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tun nettu siitä, : että optimaalisen saavutettavissa olevan profiilin aikaansaamiseksi lasketaan . ·: *. pienimmän saavutettavissa olevan säätöpoikkeaman (Eopt = Τ[Ι-Ρ(ΡτΡ)'1 PT]T1 E) : profiilin fourier-muunnokset, jolloin (P) on sellainen säätövälin (11) käänteismat- • * · ! ! 25 riisi, joka tuottaa paikoituselimien (3) säätösuureista (u) materiaalirainan (1) ** / poikkileikkausprofiilin (y) kaavan (y = Pu) mukaan, ja jossa (PT) on vastaava transponoitu matriisi, (I) yksikkömatriisi ja (T) fourier-muunnoksen transformaa- * · k ’ · ‘ ' tiomatriisi.
4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen menetelmä, t u nn e 11 u siitä, et-30 tä laskulaitteessa (5, 9) lasketaan spektrimuotoinen rajakäyrä (ητ = (r)o,r|i,...,r|m- 1)) kaavalla (ηι< = (1-1/m-||P(PTP)"1PTtk||22)1/2), joka tuottaa riippumatta hetkelli- |:, sestä säätöpoikkeamasta (e) jokaiselle aallonpituudelle K pienimmän saavutet- |;;i< tavissa olevan säätöpoikkeaman (eopt) profiilin fourier-spektrin (Eopt) kulloinkin suurimman mahdollisen amplitudin (|Eopt,k|), jolloin (m) on pystyvektoreiden lu- * * * _ : 35 kumäärä ja (tk) on transformaatiomatriisin (T) k:nnes pystyvektori. • · • · · • · t k · 114049 g
5. Jonkin edellä olevan patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mitattu profiili (e) ja laskettu optimaalisesti saavutettavissa oleva profiili (e0pt) tai niiden fourier-muunnokset (E, Eopt) esitetään graafisesti näyttölaitteella (8). • » · • · • - 1 • · tl • 1 # • 1 · • 1 1 • t · t 1 · • · • » · • · • · · • · » 10 114049
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP93119465 | 1993-12-02 | ||
| EP93119465 | 1993-12-02 | ||
| PCT/EP1994/003843 WO1995015492A1 (de) | 1993-12-02 | 1994-11-21 | Verfahren und vorrichtung zur untersuchung des querprofils einer kontinuierlich erzeugten materialbahn |
| EP9403843 | 1994-11-21 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI962296A FI962296A (fi) | 1996-05-31 |
| FI962296A0 FI962296A0 (fi) | 1996-05-31 |
| FI114049B true FI114049B (fi) | 2004-07-30 |
Family
ID=8213461
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI962296A FI114049B (fi) | 1993-12-02 | 1996-05-31 | Menetelmä jatkuvasti tuotettavan materiaalirainan poikkileikkausprofiilin analysointiin |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5781440A (fi) |
| EP (1) | EP0731913B1 (fi) |
| DE (1) | DE59407934D1 (fi) |
| FI (1) | FI114049B (fi) |
| WO (1) | WO1995015492A1 (fi) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19634997C2 (de) * | 1996-08-30 | 1999-08-05 | Voith Sulzer Papiermasch Gmbh | Regeleinrichtung mit einer Sensoren-Mehrzahl |
| DE19653477C2 (de) * | 1996-12-20 | 1999-04-22 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Prozeßführung bei der Herstellung von Papier |
| DE19727460A1 (de) * | 1997-06-27 | 1999-01-07 | Voith Sulzer Papiermasch Gmbh | Steuerungs- und/oder Regelungssystem einer Maschine zur Herstellung einer Faserstoffbahn |
| FI104161B1 (fi) * | 1998-02-17 | 1999-11-30 | Valmet Corp | Menetelmä ja laitteisto rainan rullauksessa |
| DE19831612A1 (de) * | 1998-07-14 | 2000-01-20 | Voith Sulzer Papiermasch Gmbh | Meßsystem |
| US6339727B1 (en) * | 1998-12-21 | 2002-01-15 | Recot, Inc. | Apparatus and method for controlling distribution of product in manufacturing process |
| DE10011067A1 (de) * | 2000-03-07 | 2001-09-13 | Voith Paper Patent Gmbh | Verfahren zur Herstellung und Weiterverarbeitung von Papier |
| DE10350743A1 (de) * | 2003-10-30 | 2005-10-27 | Voith Paper Patent Gmbh | System zur computergestützten Überwachung eines Querprofils eines Qualitätsparameters einer Materialbahn |
| US20060113421A1 (en) * | 2004-11-30 | 2006-06-01 | Stanford Products Llc | Method and apparatus for forming a roll of material |
| US8032246B2 (en) * | 2007-02-02 | 2011-10-04 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Winding method for uniform properties |
| FI121610B (fi) * | 2008-02-12 | 2011-01-31 | Upm Kymmene Oyj | Menetelmä painatusprosessin diagnosoimiseksi |
| FI20080103A0 (fi) * | 2008-02-12 | 2008-02-12 | Upm Kymmene Oyj | Menetelmä painatusprosessin säätämiseksi |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3671726A (en) * | 1969-05-23 | 1972-06-20 | Morvue Inc | Electro-optical apparatus for precise on-line measurement of the thickness of moving strip material |
| US3936665A (en) * | 1972-06-12 | 1976-02-03 | Industrial Nucleonics Corporation | Sheet material characteristic measuring, monitoring and controlling method and apparatus using data profile generated and evaluated by computer means |
| US3953713A (en) * | 1974-11-04 | 1976-04-27 | Westvaco Corporation | Reel diameter discriminator |
| DE2637620C2 (de) * | 1976-08-20 | 1981-10-29 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zum Regeln einer von mehreren Stellgrößen abhängigen Größe |
| SE454365B (sv) * | 1980-06-02 | 1988-04-25 | Svenska Traeforskningsinst | Sett for styrning av en pappersbanas egenskaper tvers matningsriktningen i en pappersmaskin |
| FR2597284B1 (fr) * | 1986-04-10 | 1992-12-31 | Berruyer Yves | Procede de compression d'un ensemble d'informations |
| EP0307076B1 (en) * | 1987-07-17 | 1992-10-21 | Toray Industries, Inc. | Method for controlling the thickness of a sheet material |
| US4965736A (en) * | 1988-06-15 | 1990-10-23 | Measurex Corporation | Cross-directional control of sheetmaking systems |
| FI85731C (fi) * | 1989-06-01 | 1997-08-20 | Valmet Paper Machinery Inc | Reglersystem i en pappers- eller kartongmaskin |
| US5170357A (en) * | 1989-10-31 | 1992-12-08 | Yokogawa Electric Corporation | Paper machine controller for operating slices and method of controlling the same |
-
1994
- 1994-11-21 EP EP95903264A patent/EP0731913B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1994-11-21 US US08/652,457 patent/US5781440A/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-11-21 DE DE59407934T patent/DE59407934D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1994-11-21 WO PCT/EP1994/003843 patent/WO1995015492A1/de active IP Right Grant
-
1996
- 1996-05-31 FI FI962296A patent/FI114049B/fi not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FI962296A (fi) | 1996-05-31 |
| WO1995015492A1 (de) | 1995-06-08 |
| US5781440A (en) | 1998-07-14 |
| EP0731913A1 (de) | 1996-09-18 |
| EP0731913B1 (de) | 1999-03-10 |
| DE59407934D1 (de) | 1999-04-15 |
| FI962296A0 (fi) | 1996-05-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI114049B (fi) | Menetelmä jatkuvasti tuotettavan materiaalirainan poikkileikkausprofiilin analysointiin | |
| US5132897A (en) | Method and apparatus for improving the accuracy of closed loop controlled systems | |
| US5121332A (en) | Control system for sheetmaking | |
| US7513952B2 (en) | Model based detection and compensation of glitches in color measurement systems | |
| US20050145357A1 (en) | System for computer-aided measurement of quality and/or process data in a paper machine | |
| Rao et al. | Modeling and advanced control for process industries: applications to paper making processes | |
| US20120197446A1 (en) | Advanced feed-forward valve-control for a mass flow controller | |
| JP2009506228A (ja) | Ｃｄコントローラアライメントの閉ループ同定用逆バンプ試験 | |
| US10358771B2 (en) | Method of designing model predictive control for cross directional flat sheet manufacturing processes to guarantee spatial robustness and to prevent actuator picketing | |
| EP0167940B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Steuerung der Dichte eines aus einem flüssigen und einem gasförmigen Stoff zusammengesetzen Ausgangsprodukts | |
| EP1315053A2 (en) | Method and controller to control a process | |
| CN114532564A (zh) | 基于主成分分析策略的松散回潮出口烟丝含水率控制方法 | |
| Liu et al. | PH—postharvest technology: Automatic control of crossflow grain dryers, part 2: Design of a model-predictive controller | |
| US6393729B1 (en) | Method, control paradigm and means for monitoring and controlling the process variables of a process gas flowing through a dryer hood used in a drying process | |
| Zhang et al. | Tuning Feedback Controller of Paper Machine for Optimal Process Disturbance Rejection | |
| Zhou et al. | Decoupling control method of paper cross‐directional basis weight based on sparse decomposition | |
| FI116403B (fi) | Menetelmä kalanteroitavan paperirainan ominaisuuden säätämiseksi | |
| Taylor et al. | Detecting mismapping in cross-directional control systems | |
| Gunn et al. | Nonlinear control of a paper-stock flowbox | |
| JPS583075B2 (ja) | シヨウシキニオケルプロフアイルコントロ−ルノホウホウ | |
| Ramaz et al. | Automation of a papermachine and its ancilliaries | |
| SU1072006A1 (ru) | Устройство дл регулировани толщины ковра древесноволокнистых плит | |
| DeVries et al. | Evaluation of the stability of paper basis-weight profiles using multivariate time series | |
| Bon et al. | Management and optimization of curing chambers | |
| Bonzi et al. | Macroscopic Root Water Uptake Modelling Using High-Throughput Screening (HTS) Systems: Design and Validation |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM | Patent lapsed |