FI112540B - Menetelmä väliaineessa olevien partikkeleiden valaisemiseksi optista analysointia varten ja optinen partikkelianalysaattori - Google Patents
Menetelmä väliaineessa olevien partikkeleiden valaisemiseksi optista analysointia varten ja optinen partikkelianalysaattori Download PDFInfo
- Publication number
- FI112540B FI112540B FI20020289A FI20020289A FI112540B FI 112540 B FI112540 B FI 112540B FI 20020289 A FI20020289 A FI 20020289A FI 20020289 A FI20020289 A FI 20020289A FI 112540 B FI112540 B FI 112540B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- medium
- light beam
- window
- light
- prism
- Prior art date
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims description 53
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 19
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title claims description 6
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 15
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 6
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 bubble Substances 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000008187 granular material Substances 0.000 description 1
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
- G01N15/0227—Investigating particle size or size distribution by optical means using imaging; using holography
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N2015/1497—Particle shape
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
112540
Menetelmä väliaineessa olevien partikkeleiden valaisemiseksi optista analysointia varten ja optinen partikkelianalysaattori
Keksinnön kohteena on menetelmä väliaineessa olevien partikkelei-5 den valaisemiseksi optista analysointia varten, jossa väliaine on kosketuksissa ikkunan kanssa ja väliaineeseen kohdistetaan valolähteeltä tuleva, ikkunan läpi kulkeva, partikkeleita valaiseva valonsäde kuvan muodostamiseksi partikkeleista, jolloin ikkunana käytetään trapetsinmuotoista prismaa, jonka yhdensuuntaisista sivupinnoista pitempi muodostaa väliaineeseen päin olevan pin-10 nan, jolloin valonsäde muokataan säteeksi, jonka paksuus ikkunan normaalin suunnassa on ennalta määrätty, jolloin valonsäde ohjataan kulkemaan ikkunan muodostavan prisman toisen vinopinnan läpi ja edelleen partikkeleita sisältävässä väliaineessa lähellä ikkunan väliaineeseen rajoittuvaa pintaa ja olennaisesti yhdensuuntaisena pinnan kanssa ja näin valaisemaan väliaineen tarkasti 15 ennalta määrätyssä tilavuusosassa olevat partikkelit ja jolloin kuva muodostetaan partikkeleista takaisin ikkunan läpi heijastuvasta valosta. Keksinnön kohteena on myös partikkelianalysaattori.
Edellä mainitut partikkeleiden valaisumenetelmät ja niitä hyväksikäyttävät analysaattorit ovat teollisuudessa hyvin tunnettuja. Teollisuudessa on 20 nykyään yleistä, että materiaalia kuljetetaan tai käsitellään partikkelisuspensio-na väliaineessa esimerkiksi nesteessä. Partikkeli voi tällöin olla esimerkiksi ki-v : de, kuitu, rae, kupla, pisara jne. Väliaine voi puolestaan olla muukin kuin vesi, * ’ esimerkiksi jokin sopiva kaasumainen aine.
: ; Erilaisten valmistusprosessien seurantaa ja säätöä varten tarvitaan : : 25 tietoa partikkeleiden määrästä, kokojakautumasta tai muodosta. On edullista, . : mikäli edellä mainittu tieto saadaan käyttöön nopeasti ja jatkuvasti. Näin ollen .··.' on selvää, että ko. tiedot saataisiin parhaiten analysaattorista, joka mittaa suo raan prosessiputkesta tai säiliöstä. Tällöin voitaisiin olla varmoja, että mitattu näyte antaa oikean kuvan prosessista.
30 Optisen mittausperiaatteen avulla voidaan aikaansaada partikke lianalysaattori, jossa partikkelit valaistaan ja niiden heijastama valo mitataan : : optisella tunnistimella. Optisen tunnistimen valinta riippuu kulloisestakin ana lyysitehtävästä. Optinen tunnistin voi siis tällöin olla mikä tahansa alkaen yksinkertaisesta valokennosta päätyen monielementtiseen kuva-analysaattorin. 35 Heijastunutta valoa voidaan myös tutkia paljaalla silmällä tai sopivan apuoptii-kan avulla. Olennainen seikka on, että partikkeleiden valaistus on järjestetty 2 112540 niin, että valaistu väliaineen tilavuusosa on tarkasti rajattu ja tunnettu. Kun vain määrätyn tilavuusosan partikkelit on valaistu, saavutetaan hyvä kontrasti optisen tunnistimen vastaanottamalle kuvalle. Kvantitatiivisen analyysin kanalta saavutetaan ratkaiseva etu kun tiedetään, kuinka suuressa nestetilavuudessa 5 valaistut partikkelit ovat.
Aiemmin tunnetuista ratkaisuista voidaan mainita sokeriteollisuudessa yleinen kidemikroskooppi, joista voidaan esimerkkinä mainita Jungner Crystal Projector tyyppi KP3. Tällaisessa laitteessa on kasi ikkunaa, joiden välistä mitattava suspensio kulkee. Ikkunat muodostavat kaksi välimatkan päässä 10 toisistaan olevaa yhdensuuntaista tasopintaa, joiden etäisyyttä toisistaan voidaan säätää. Partikkelit, esimerkiksi sokerikiteet valaistaan toisen ikkunan läpi ja kuva partikkeleista muodostetaan toisen ikkuna takaa olevan objektiivin avulla. Kuva projisoidaan mattapintaiseen lasilevyyn suurennettuna, jolloin käyttöhenkilökunta voi seurata partikkeleiden kokoa ja muotoa. Kontrasti on 15 heikko, koska valaistut partikkelit näkyvät vastavalossa, jolloin tarkkaa elektronista automatisoitua kuva-analyysiä ei voida soveltaa. Kvantitatiivisia johtopäätöksiä ei voida myöskään tehdä, koska virtaus ikkunoiden välisessä raossa ei anna oikeata kuvaa päävirtauksesta, ts. näyte ei ole tarpeeksi edustava.
Toisen hyvin laajan tunnettujen laitteiden ryhmän muodostavat ns. 20 fotometrit, jotka mittaavat partikkeleiden aiheuttamaa valon absorptiota tai valon heijastusta. Tyypillisenä esimerkkeinä fotometreistä voidaan mainita US-patenttijulkaisusta 3 962 581 esitetty laite. Fotometrityyppiselle laitteelle on : ominaista, että valaistuksen muodostaa valokeila, joka kulkee melko koh- : ‘ , · tisuorasti prosessi-ikkunan läpi. Epäkohtana on se, että valaistu tilavuusosa ei . \ 25 ole tarkasti rajattu, jolloin laite kelpaa ainoastaan kvantitatiiviseen määrityk- : seen, joka perustuu virityskäyrään. Em. virityskäyrä on aina määriteltävä ko- _'.. ’ keellisesti jokaiselle sovellutukselle.
Edellä esitetyn tunnetun tekniikan mukaisten ratkaisujen epäkohtien eliminoimiseksi on aikoinaan kehitetty menetelmä väliaineessa olevien partik-: 30 keleiden valaisemiseksi optista analyysiä varten ja optinen partikkelianalysaat- ; tori, joka on kuvattu Fl-patenttijulkaisussa 77330 (US-patenttijulkaisu 4 776 697, JP-patenttijulkaisu 1 681 781, DE-patenttijulkaisu 3 700 286). Tämän tun-, . netun ratkaisun epäkohtana on valaistuksessa käytettävän valonsäteen kulma muuttaminen. Edellä mainittu seikka liittyy siihen, että koska laitteella on tarkoi-• 35 tus mitata partikkeleita erilaisissa väliaineissa, joiden taitekertoimet eroavat : toisistaan, täytyy valaistuksessa käytettävän valonsäteen kulmaa muuttaa tai- 3 112540 tekertoimen mukaisesti. Valaistuskulman säädön ei tarvitse olla jatkuvaa, mutta kulma täytyy voida asettaa sovellutuskohtaisesti, ts. aina, kun mitattavan väliaineen taitekerroin muuttuu. Toisena epäkohtana on se, että kulma, jonka partikkeleiden katselusuunta ja valaistuksen suunta muodostavat, on suuri, 5 jonka vuoksi analysaattorista tulee helposti epäkäytännöllisen kokoinen ja muotoinen. Näihin epäkohtiin ei Fl-patenttijulkaisussa puututa millään tavalla, ts. ko. julkaisussa ei edes millään tavalla ehdoteta, miten ko. epäkohdat voidaan korjata.
Keksinnön tarkoituksena on saada aikaan menetelmä ja optinen 10 partikkelianalysaattori, joiden avulla aiemmin tunnetun tekniikan epäkohdat pystytään eliminoimaan. Tähän on päästy keksinnön avulla. Keksinnön mukainen menetelmä on tunnettu siitä, että valolähteeltä tuleva valonsäde ohjataan ikkunana toimivan prisman läheisyydessä kulkemaan peilaavan pinnan ja sy-linterimäisen linssin kautta, jotka ohjaavat valonsäteen prismalle ja muuntavat 15 valolähteen siirtymän valonsäteen kulmamuutokseksi. Keksinnön mukainen optinen partikkelianalysaattori on puolestaan tunnettu siitä, että partikkelianalysaattori käsittää ikkunana toimivan prisman läheisyyteen sijoitetun peilaavan pinnan ja sylinterimäisen linssin, jotka on sovitettu ohjaamaan valolähteeltä tulevan valonsäteen prismalle ja muuntamaan valolähteen siirtymän va-20 lonsäteen kulmamuutokseksi.
Keksinnön etuna on ennen kaikkea se, että valaistuksessa käytettä-*' vän valonsäteen kulmaa pystytään säätämään erittäin yksinkertaisella tavalla väliaineen taitekertoimen mukaan. Etuna on edelleen se, että partikkeleiden : katselusuunta ja valaistussuunta ovat valolähteestä katsoen samat, jolloin ana- : 25 lysaattorista saadaan käytännöllisen kokoinen ja muotoinen. Keksinnön etuna . . : on myös sen yksinkertaisuus, jolloin keksinnön käyttöönotto muodostuu edulli- .· ··' seksi.
Keksintöä ryhdytään selvittämään seuraavassa tarkemmin oheisessa piirustuksessa kuvatun erään edullisen sovellutusesimerkin avulla, jolloin : 30 kuvio 1 esittää periaatteellisena kuvantona keksinnön mukaisessa ’ · · menetelmässä ja laitteessa käytettyä perusperiaatetta, kuvio 2 esittää periaatekuvantona tarkasti rajattua valaistua tila-, vuusosaa, jota käytetään hyväksi keksinnön perusperiaatteessa, kuvio 3 esittää keksinnön mukaista optista partikkelianalysaattoria 35 periaatteellisena sivulta nähtynä kuvantona ja 4 112540 kuvio 4 esittää keksinnön mukaista optista analysaattoria periaatteellisena perspektiivikuvantona.
Kuviossa 1 on periaatteellisesti esitetty keksinnön perusperiaate. Mitattavasta väliaineesta ja siinä olevista partikkeleista muodostuva partikke-5 lisuspensiovirtaus 1 ja optinen järjestelmä erotetaan toisistaan ikkunan 2 avulla. Näin ollen kuviossa 1 partikkelisuspensio virtaa ikkunan 2 yläpinnan yläpuolella, jolloin ikkunan 2 yläpinta rajoittuu partikkelisuspensioon.
Viitenumeron 3 avulla kuvioon 1 on merkitty valolähde. Valolähteestä 3 lähtevä valonsäde muunnetaan ikkunan normaalin suunnassa tarkasti en-10 naita määrätyn paksuiseksi nauhamaiseksi säteeksi 5 käyttämällä esimerkiksi kondensorioptiikkaa 4. Nauhamainen valonsäde ohjataan kulkemaan partikkeleita sisältävässä väliaineessa lähellä väliaineeseen, ts. partikkeleita sisältävään suspensioon rajoittuvan ikkunan 2 pintaa 6 ja lisäksi olennaisesti yhdensuuntaisena pinnan 6 kanssa. Termillä ’’olennaisesti yhdensuuntaisena” tarkoi-15 tetaan tässä sitä, että nauhamaisen säteen 5 ja pinnan 6 välinen kulma on pieni. Säde ja pinta ovat lisäksi lähellä toisiaan.
Valonsäteen 5 paksuuden ollessa tarkasti määrätty ja säteen kulkiessa lähellä pintaa 6 ja olennaisesti yhdensuuntaisena pinnan 6 kanssa, valaistaan väliainevirtauksen tarkasti ennalta määrätyssä tilavuusosassa 9 olevat 20 partikkelit 10. Edellä mainittu tarkasti määritelty tilavuusosa 9 on esitetty kuviossa 2. Valaistut partikkelit 10 on puolestaan esitetty periaatteellisesti kuviois-' ’ sa 1 ja 2. Valonsäteen 5 kulkusuunta on merkitty kuvion 2 nuolen avulla.
Edellä mainitulla tavalla valaistu kuva partikkeleista 10 projisoidaan ; objektiivilinssijärjestelmän 7 avulla ja kuvatasoon muodostetaan kuva 8, jota ;' : 25 voidaan analysoida paljaalla silmällä tai muokata viestiksi tunnistimen avulla.
Ikkuna voidaan muodostaa esimerkiksi trapetsinmuotoisesta .· , prismasta. Prisma on kuvion 1 esimerkissä sijoitettu niin, että yhdensuuntaisista sivupinnoista pitempi on väliaineeseen päin oleva pinta. Nauhamainen valonsäde 5 on ohjattu kulkemaan prisman toisen vinopinnan 30 11 läpi. Koska prisman materiaali on optisesti tiheämpää kuin väliaine, niin säde taipuu pintanormaalista poispäin. Valaistu tilavuusosa 9 säädetään : ; pinnan normaalin suunnassa asettamalla rajoittimet kondensorioptiikkaan 4, jotka rajoittavat säteen 5 paksuuden tarkasti haluttuun arvoon. Pinnan 6 tasossa tilavuusosan 9 rajoittaminen voidaan tehdä esimerkiksi objektiivin 7 35 näkökentän rajoittimella.
5 112540
Edellä on kuvattu perustekniikka, johon keksinnön mukainen menetelmä ja optinen partikkelianalysaattori perustuu. Edellä mainitut seikat on tuotu esille myös aiemmin mainitussa Fl-patenttijulkaisussa 77330.
Kuten aiemmin on jo tuotu esille, mikäli edellä esitettyä perusperiaa-5 tetta aiotaan käyttää mittauksissa, joissa partikkeleita mitataan erilaisissa väliaineissa, joiden taitekertoimet eroavat tosistaan, täytyy valaistuksessa käytettävän valonsäteen 5 kulmaa, ts. sitä kulmaa jossa valonsäde tulee ikkunana 2 toimivalle prismalle, muuttaa kulloisenkin väliaineen taitekertoimen mukaisesti. Valaistuskulman säädön ei tarvitse olla jatkuvaa, mutta kulma täytyy voida 10 asettaa sovellutuskohtaisesti väliaineesta riippuen. Edellä kuvatun perusperiaatteen ongelmana onkin ollut se, että aiemmin ei ole ollut olemassa edullista tapaa valonsäteen kulman muuttamiseen. Lisäksi on todettu, että kulma, jonka partikkeleiden katselusuunta ja valaistuksen suunta muodostavat, on suuri. Tämä seikka tulee selvästi esille kuviosta 1. Edellä mainitusta seikasta johtuen 15 edellä kuvattua perusperiaatetta hyväksikäyttävää analysaattoria on ollut vaikeata toteuttaa niin, että se olisi käytännöllisen kokoinen ja muotoinen.
Kuvioissa 3 ja 4 on esitetty periaatteellisesti keksinnön eräs sovellu-tusmuoto. Kuvioissa 3 ja 4 on vastaavissa kohdissa käytetty samoja viitenumerolta kuin kuvioissa 1 ja 2.
20 Kuvioiden 3 ja 4 esimerkissä valolähteeltä 3 tuleva valonsäde 5 oh jataan keksinnön perusajatuksen mukaisesti ikkunana 2 toimivan prisman lä-v ·' heisyydessä kulkemaan peilaavan pinnan 9 kautta sylinterimäiselle linssille 10.
Sylinterimäinen linssi 10 ohjaa valonsäteen prismalle ja muuntaa valolähteen '·,· siirtymän valonsäteen kulmamuutokseksi. Erityisen edulliseksi on havaittu, että ‘ ‘ *; 25 valolähdettä siirretään lineaarisesti ja valolähteen lineaarinen siirtymä muunne- ,·, : taan sylinterimäisen linssin 10 avulla valonsäteen kulmamuutokseksi. Valoläh- , · · ’ teen lineaarinen siirto on esitetty kuvioissa 3 ja 4 nuolen N avulla. Valolähde 3 voi olla edullisesti laserdiodi.
,, , Keksinnön perusajatuksena on siis se, että valaistus- ja katse- 30 lusuunta saadaan valolähteestä katsoen samaksi ja valaistussuunta muute-’ : taan peilaavan pinnan 9 avulla vasta lähellä prismaa. Tällä menettelyllä analy saattori saadaan edullisen kokoiseksi ja muotoiseksi. Valaistuskulmaan saadaan tarvittava väliaineen taitekertoimesta riippuva muutos, kun valonsäde ohjataan peilaavan pinnan jälkeen sylinterimäiselle linssille 10. Edellä mainittu 35 seikka näkyy erityisen selvästi kuviossa 3. Sylinterimäisen linssin 10 avulla saadaan siis valolähteen 3 paikkaa muuttamalla aikaan erilaisia valaistuskul- 6 112540 mia. Asiaa voidaan selventää kuvion 3 avulla siten, että kuviossa 3 viitenumerolla 5a esitetty valonsäde on pienen taitekertoimen omaavalle väliaineelle käytetty säde. Mikäli väliaineella on suuri taitekerroin, niin valolähdettä 3 siirretään nuolen N mukaisesti niin, että valonsäde kulkee kuviossa viitenumerolla 5 5b kuvatun säteen mukaisesti.
Edellä mainittua sylinterimäistä linssiä 10 käytetään keksinnössä myös kohdistamaan valonsäteet eri kulmista tiettyyn kohtaan pinnalla 6. Valonsäteet on edullista kohdistaa samaan kohtaan, koska tällöin objektiivilinssi-järjestelmän 7 paikkaa ei tarvitse muuttaa kulmamuutoksen yhteydessä. Erityi-10 sen edullista on kohdistaa symmetrisen prisman tapauksessa valonsäteet prisman keskelle.
Termiä sylinterimäinen linssi ei ole tässä tarkoitettu mitenkään rajoitetuksi määrittelyksi, vaan termiä on tässä tulkittava laajemmin. Ajatuksena on se, että edellä mainittu termi kattaa tässä myös erilaiset useasta linssistä muo-15 dostetut linssijärjestelmät yms. Keksintö voidaan toteuttaa myös niin, että peilaava pinta ja sylinterimäinen linssi ovat käänteisessä järjestyksessä verrattuna kuvioiden 3 ja 4 esimerkkiin, ts. kulmamuutos tehdään ennen peilipintaa. Kuvioiden 3 ja 4 mukainen rakenne mahdollistaa kuitenkin pienempien komponenttien käytön.
20 Ikkunana 2 toimiva prisma voidaan edullisesti muodostaa sellaisek si, että prisman ja väliaineen välisestä rajapinnasta heijastunut valo poistuu ’ prismasta vastakkaisella puolella olevan kiillotetun pinnan kautta. Prisman tii vistys voidaan toteuttaa edullisesti kartiomaista pintaa vasten.
: , · Edellä esitettyä keksinnön sovellutusmuotoa ei ole mitenkään tarkoi- * » 25 tettu rajoittamaan keksintöä, vaan keksintöä voidaan muunnella patenttivaati-: musien puitteissa täysin vapaasti. Näin ollen on selvää, että keksinnön mukai- ' sen optisen analysaattorin tai sen yksityiskohtien ei välttämättä tarvitse olla juuri sellaisia kuin kuvioissa on esitetty vaan toisenlaisetkin ratkaisut ovat mahdollisia.
: '* 30 * *
Claims (8)
1. Menetelmä väliaineessa olevien partikkeleiden valaisemiseksi optista analysointia varten, jossa väliaine on kosketuksissa ikkunan (2) kanssa ja väliaineeseen kohdistetaan valolähteeltä (3) tuleva, ikkunan läpi kulkeva, par- 5 tikkeleita valaiseva valonsäde (5) kuvan (8) muodostamiseksi partikkeleista, jolloin ikkunana (2) käytetään trapetsinmuotoista prismaa, jonka yhdensuuntaisista sivupinnoista pitempi muodostaa väliaineeseen päin olevan pinnan, jolloin valonsäde (5) muokataan säteeksi, jonka paksuus ikkunan normaalin suunnassa on ennalta määrätty, jolloin valonsäde (5) ohjataan kulkemaan ik-10 kunan muodostavan prisman toisen vinopinnan läpi ja edelleen partikkeleita sisältävässä väliaineessa lähellä ikkunan väliaineeseen rajoittuvaa pintaa ja olennaisesti yhdensuuntaisena pinnan kanssa ja näin valaisemaan väliaineen tarkasti ennalta määrätyssä tilavuusosassa olevat partikkelit ja jolloin kuva (8) muodostetaan partikkeleista takaisin ikkunan (2) läpi heijastuvasta valosta, 15 tunnettu siitä, että valolähteeltä (3) tuleva valonsäde (5) ohjataan ikkunana (2) toimivan prisman läheisyydessä kulkemaan peilaavan pinnan (9) ja sylinte-rimäisen linssin (10) kautta, jotka ohjaavat valonsäteen (5) prismalle ja muuntavat valolähteen (3) siirtymän (N) valonsäteen kulmamuutokseksi.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, 20 että valolähteen (3) lineaarinen siirtymä muunnetaan sylinterimäisen linssin (10) avulla valonsäteen kulmamuutokseksi.
, : 3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että valonsäteet (5) kohdistetaan eri kulmista prisman samaan kohtaan ‘·.I sylinterimäisen linssin (10) avulla. : : 25
4. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen 1-3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että valionsäde (5) ohjataan peilaavan pinnan (9) kautta sy-linterimäiselle linssille (10).
5. Optinen partikkelianalysaattori, joka käsittää analysoitavia partikkeleita sisältävään väliaineeseen rajautuvasti sovitettavan, trapetsinmuotoisen : 30 prisman käsittävän ikkunan (2), jonka yhdensuuntaisista sivupinnoista pitempi on sovitettu muodostamaan väliaineeseen päin olevan pinnan, valolähteen (3), joka on sovitettu valaisemaan partikkeleita ikkunan läpi ja linssijärjestelmän (7), joka on sovitettu muodostamaan optisen kuvan (8) valaistuista partikkeleista, jolloin laite käsittää optisen välineen (4), joka on sovitettu muuntamaan va-’ 35 lolähteestä lähtevän valonsäteen tarkasti ennalta määrätyn paksuiseksi nau hamaiseksi säteeksi, joka valonsäde (5) on sovitettu ohjattavaksi kulkemaan 8 112540 ikkunan muodostavan prisman toisen vinopinnan läpi ja ohjattu edelleen kulkemaan partikkeleita sisältävässä väliaineessa lähellä ikkunan (2) väliaineeseen rajoittuvaa pintaa ja olennaisesti yhdensuuntaisena pinnan kanssa, jolloin linssijärjestelmä (7) on sovitettu keräämään nauhamaisen valonsäteen valai-5 semassa tarkasti ennalta määritellyssä väliainevirtauksen tilavuusosassa olevista partikkeleista takaisin ikkunan (2) läpi heijastuvan valon optisen kuvan (8) muodostamista varten, tunnettu siitä, että partikkelianalysaattori käsittää ikkunana (2) toimivan prisman läheisyyteen sijoitetun peilaavan pinnan (9) ja sylinterimäisen linssin (10), jotka on sovitettu ohjaamaan valolähteeltä (3) tule-10 van valonsäteen prismalle ja muuntamaan valolähteen (3) siirtymän (N) valonsäteen kulmamuutokseksi.
6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen partikkelianalysaattori, tunnettu siitä, että valolähteen (3) lineaarinen siirtymä (N) on sovitettu muunnettavaksi sylinterimäisen linssin (10) avulla valonsäteen kulmamuutokseksi.
7. Patenttivaatimuksen 5 tai 6 mukainen partikkelianalysaattori, tunnettu siitä, että valonsäteet (5) on sovitettu kohdistettavaksi eri kulmista prisman keskelle sylinterimäisen linssin (10) avulla.
8. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen 5-7 mukainen partikkelianalysaattori, tunnettu siitä, että peilaava pinta (9) on sovitettu ohjaa-20 maan valonsäteen sylinterimäiselle linssille (10). * t · * » · * I 9 112540
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20020289A FI112540B (fi) | 2002-02-13 | 2002-02-13 | Menetelmä väliaineessa olevien partikkeleiden valaisemiseksi optista analysointia varten ja optinen partikkelianalysaattori |
US10/365,448 US6819419B2 (en) | 2002-02-13 | 2003-02-13 | Method for illuminating particles contained in a medium for optical analysis, and optical particle analyser |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20020289A FI112540B (fi) | 2002-02-13 | 2002-02-13 | Menetelmä väliaineessa olevien partikkeleiden valaisemiseksi optista analysointia varten ja optinen partikkelianalysaattori |
FI20020289 | 2002-02-13 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI20020289A0 FI20020289A0 (fi) | 2002-02-13 |
FI20020289A FI20020289A (fi) | 2003-08-14 |
FI112540B true FI112540B (fi) | 2003-12-15 |
Family
ID=8563188
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI20020289A FI112540B (fi) | 2002-02-13 | 2002-02-13 | Menetelmä väliaineessa olevien partikkeleiden valaisemiseksi optista analysointia varten ja optinen partikkelianalysaattori |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6819419B2 (fi) |
FI (1) | FI112540B (fi) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008536095A (ja) * | 2005-02-11 | 2008-09-04 | スワゲロック カンパニー | 流体濃度感知配置 |
US9063080B2 (en) | 2013-07-26 | 2015-06-23 | Ecolab Usa Inc. | Method of deposition monitoring |
EP3134729A1 (en) | 2014-04-22 | 2017-03-01 | Q-State Biosciences, Inc. | Analysis of compounds for pain and sensory disorders |
CA2986583A1 (en) | 2015-05-21 | 2016-11-24 | Q-State Biosciences, Inc. | Optogenetics microscope |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3975084A (en) * | 1973-09-27 | 1976-08-17 | Block Engineering, Inc. | Particle detecting system |
US3962581A (en) * | 1975-10-06 | 1976-06-08 | Westvaco Corporation | Infra-red consistency meter |
US4451147A (en) * | 1981-08-31 | 1984-05-29 | Karel Dobes | Refractometer |
US4637719A (en) * | 1984-08-14 | 1987-01-20 | Canadian Patents And Development Limited | Optical measurement of marine conditions |
FI77330C (fi) * | 1986-01-08 | 1989-02-10 | K Patents Oy | Foerfarande foer belysning av partiklar i en mellanprodukt foer optisk analys och optisk partikelanalysator. |
US5201220A (en) * | 1990-08-28 | 1993-04-13 | Schlumberger Technology Corp. | Apparatus and method for detecting the presence of gas in a borehole flow stream |
JP2721616B2 (ja) * | 1992-05-26 | 1998-03-04 | 株式会社日立製作所 | 減衰全反射プリズムを用いた赤外スペクトル測定法 |
CA2228499C (en) * | 1998-02-02 | 2004-11-02 | Alex W. Herman | Optical measurement of marine conditions |
-
2002
- 2002-02-13 FI FI20020289A patent/FI112540B/fi not_active IP Right Cessation
-
2003
- 2003-02-13 US US10/365,448 patent/US6819419B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20030179374A1 (en) | 2003-09-25 |
FI20020289A (fi) | 2003-08-14 |
FI20020289A0 (fi) | 2002-02-13 |
US6819419B2 (en) | 2004-11-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA2775506C (en) | Method and particle analyzer for determining a broad particle size distribution | |
AU2020357863B2 (en) | Determination of protein concentration in a fluid | |
EP3039408A1 (en) | Prism-coupling systems and methods for characterizing curved parts | |
JPH0544622B2 (fi) | ||
US10495576B2 (en) | Surface-plasmon enhanced fluorescence measurement method, surface-plasmon enhanced fluorescence measurement device, and analytical chip | |
EP2726852B1 (en) | Multiple examinations of a sample | |
WO2005015120A3 (en) | Method and arrangement for focusing detection in an optical measurement and method and arrangement for migitating the effect of surface reflection | |
US20090073579A1 (en) | Beam-adjusting optics | |
US20100220330A1 (en) | Optical resonance analysis using a multi- angle source of illumination | |
FI77330B (fi) | Foerfarande foer belysning av partiklar i en mellanprodukt foer optisk analys och optisk partikelanalysator. | |
FI112540B (fi) | Menetelmä väliaineessa olevien partikkeleiden valaisemiseksi optista analysointia varten ja optinen partikkelianalysaattori | |
RU2500993C1 (ru) | Спектрометр на основе поверхностного плазмонного резонанса | |
KR950014849A (ko) | 콜로이드 매체의 박막에 의해 산란된 광도 측정용 검출기 | |
US20170138859A1 (en) | Detection device | |
JP4696959B2 (ja) | 光学検出装置 | |
FI96451C (fi) | Refraktometri | |
US6788415B2 (en) | Turntable measuring apparatus utilizing attenuated total reflection | |
CN214472763U (zh) | 一种基于扫描振镜的角度调制型spr传感器及spr检测设备 | |
US20040036881A1 (en) | Optical configuration for SPR measurement | |
RU46099U1 (ru) | Устройство для определения размеров и концентрации частиц коллоидно-дисперсных систем | |
US6804007B2 (en) | Apparatus for multiplexing two surface plasma resonance channels onto a single linear scanned array | |
US20240027324A1 (en) | Apparatus for detecting microplastics based on differential interference contrast microscope system | |
US20240230510A9 (en) | Optical particle analyser with illumination at an oblique angle onto a non-transparent microfluidic chip | |
Hausler et al. | Homogeneous Light Source for Surface Plasmon Resonance Imaging. | |
EP4328569A1 (en) | Measuring high protein concentrations |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM | Patent lapsed |