FI111734B - Menetelmä nestemuodossa olevan polymeerin tarkkailemiseksi - Google Patents

Menetelmä nestemuodossa olevan polymeerin tarkkailemiseksi Download PDF

Info

Publication number
FI111734B
FI111734B FI20010010A FI20010010A FI111734B FI 111734 B FI111734 B FI 111734B FI 20010010 A FI20010010 A FI 20010010A FI 20010010 A FI20010010 A FI 20010010A FI 111734 B FI111734 B FI 111734B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
polymer
electromagnetic radiation
image
flow
liquid
Prior art date
Application number
FI20010010A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI20010010A0 (fi
FI20010010A (fi
Inventor
Janusz Sadowski
Peter Huber
Camiel Heffels
Jyrki Salminen
Marian Mours
Klaus Reindel
Juergen Ettmueller
Original Assignee
Valtion Teknillinen
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Valtion Teknillinen filed Critical Valtion Teknillinen
Priority to FI20010010A priority Critical patent/FI111734B/fi
Publication of FI20010010A0 publication Critical patent/FI20010010A0/fi
Priority to PCT/FI2002/000002 priority patent/WO2002054047A1/en
Priority to US10/250,575 priority patent/US7009186B2/en
Priority to EP02716095A priority patent/EP1348118A1/en
Publication of FI20010010A publication Critical patent/FI20010010A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI111734B publication Critical patent/FI111734B/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/33Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using ultraviolet light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/21Polarisation-affecting properties

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Processing And Handling Of Plastics And Other Materials For Molding In General (AREA)
  • Extrusion Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

111734
Menetelmä nestemuodossa olevan polymeerin tarkkailemiseksi KEKSINNÖN ALA
Nyt esillä oleva keksintö koskee menetelmää nestemuodossa olevan polymeerin, kuten polymeerisulatteen tai hartsin tarkkailemiseksi siinä olevien epähomogeenisyyksien, kuten muiden faasikohteiden, erityisesti nesteen muodostamassa matriisissa olevien geelien havaitsemiseksi, jossa menetelmässä nestemuodossa olevaa, tarkkailupisteen ohi viilaavaa polymeeriä tarkkaillaan muodostamalla kuva.
KEKSINNÖN TAUSTA
Polymeereissä esiintyvät heterogeenisyydet muodostavat vakavan mahdollisen riskin muovituotteiden laadulle. Joitakin esimerkkejä heterogeenisyyksistä ovat epätäydellisesti jakautuneet lisäaineet, polymeroitumisesta tai seostamisesta aiheutuvat epäpuhtaudet, moolimassan avaruudellinen vaihtelu sekä geelipartikkelit. Esimerkiksi polyeteenissä ja muissa polyolefiineissa geelipartikkeleita pidetään suurimpana syynä prosessoinnissa ja lopputuotteiden laadussa esiintyviin ongelmiin. Geelit voidaan luokitella kolmeen perusryhmään: — silloittuneet geelit (sulamaton molekyylirakenne) : — Teologiset geelit (sulavia, mutta ilmeisiä molekyyliraken- :"': teessä esiintyvien merkittävien erojen johdosta) — faasierotusgeelit (kopolymeerieroja molekyylirakenteessa eli homopolymeerin alueita kopolymeerisulatteessa)
Edellä mainitut tyypit voidaan havaita tavanomaisin menetelmin.
Silloittuneen geelin olemassaolo voi johtua lämpöhapettumisesta, ja tällaisessa tapauksessa sen alkuainekoostumus on erilainen kuin ympäröivässä matriisipolymeerissä. Tätä tyyppiä kutsutaan hapettuneiksi geelipartikkeleiksi. Geelipartikkeli voi myös muodostua polyme-rointiprosessissa, ja tässä tapauksessa se saa saman molekyylikoos-tumuksen kuin matriisipolymeeri mutta suuremman moolimassan. Tätä tyyppiä kutsutaan hapettumattomiksi geelipartikkeleiksi. Tämän viime-: · mainitun tyypin havaitseminen on vaikeaa.
111734 2
Laadunvalvonnan nopeuttamiseksi valmistusprosessin aikana geeli-partikkelit tulisi havaita jo nestemäisessä (sulassa) olomuodossa. Hapettuneet geelipartikkelit voidaan havaita optisesti mikroskoopilla, koska niillä on eri materiaaliominaisuudet ja näin ollen myös eri taitekerroin tai eri absorptio-ominaisuudet kuin ympäröivällä matriisifaasilla. Hapetustuotteet absorboivat UV-alueella, ja myös UV-mikroskopiaa voidaan käyttää niiden havaitsemiseksi. Toisaalta levossa olevassa sulatteessa esiintyviä hapettumattomia geelipartikkeleita ei voida havaita (nähdä) tavallisella optisella mikroskoopilla tai UV-mikroskoo-pilla tai spektroskopiamenetelmillä, koska niillä on sama alkuaine-koostumus (taitekerroin) ja sama toistoyksikkörakenne (spektroskopia-ominaisuudet) kuin matriisipolymeerillä.
KEKSINNÖN YHTEENVETO
Nyt esillä olevan keksinnön tarkoituksena on saada aikaan menetelmä, jossa muita faasikohteita, kuten geelejä, voitaisiin havaita varhaisessa vaiheessa nestemäisessä polymeerissä, kuten polymeerisulatteessa tai -hartsissa.
Tämän tarkoituksen toteuttamiseksi menetelmälle on tunnusomaista ,· pääasiassa se, että tarkkailupisteessä virtauksen läpi johdetaan sähkö- ·: ί magneettista säteilyä, joka on polaroitua sähkömagneettista säteilyä, ja :* : epähomogeenisyyksien aiheuttamia muutoksia sähkömagneettisen säteilyn polarisaatiotilassa käytetään epähomogeenisyyksien tarkkai-.,,,: lemiseksi muodostetusta kuvasta.
• »
Keksinnössä käytetään hyväksi sitä seikkaa, että muovimateriaalit yleensä ja näin ollen myös erityisesti geelit koostuvat ketjumolekyy-
t t I
leistä, jolloin ne voivat muuttaa materiaalin läpi kulkevan valon polari-:···: saatiotilaa. Jopa hapettumattomissa geeleissä, joilla on sama molekyy- likoostumus, ketjujen rakenne ja suuntautuminen on eri kuin matriisissa » · . ··. (ne voivat olla pitempiä, niissä voi olla sivuketjuja, tai ne voivat olla eri : , tavalla taipuneina tai kietoutuneina), ja näin ollen ne vaikuttavat valon ' * polarisaatiot!laan eri tavalla kuin matriisi.
• · 111734 3
Polymeerimatriisin ja geelin väliset polarisaatiohan erot voidaan saada optisesti näkyviin, jos sulan muovin virta sijoitetaan kahden ristikkäisen polarisaatioerottimen väliin. Geelien väliset erot voidaan myös saada esiin lisäämällä polarisaatioerottimien väliin kaksi neljännesaaltolevyä (λ/4), jotka näin ollen lähettävät ympyräpolaroitua valoa polymeeri-sulatevirran läpi.
PIIRUSTUSTEN LYHYT SELOSTUS
Keksintöä selostetaan tarkemmin seuraavassa selityksessä, jossa edullisia suoritusmuotoja havainnollistetaan esimerkein viittaamalla oheisiin piirustuksiin, joissa kuvat 1 a ja 1 b esittävät kaksi vaihtoehtoista keksinnön ensimmäisen suoritusmuodon mukaista järjestelyä, kuvat 2a ja 2b esittävät havaittujen geelien kuvia, kuva 3 esittää keksinnön toista suoritusmuotoa, ja kuva 4 esittää keksinnön vielä yhden suoritusmuodon mukaista periaatetta.
• · 4 ·
EDULLISTEN SUORITUSMUOTOJEN YKSITYISKOHTAINEN KUVAUS
• · •
Keksintö voidaan toteuttaa on-line-periaatteella joko muodostamalla virtauskammio 1, jossa on kaksi ikkunaa 2 vastakkaisilla sivuilla (kuva 1a) tai yksi ikkuna 2 ja sen edessä peili 3 (kuva 1b), jolloin käy-: tetään puoliläpäisevää peiliä4. Kummassakin vaihtoehdossa valon- lähteestä 5 tuleva valo kulkee polarisaatioerottimen 6 kautta, ja kun polaroitunut valo on kulkenut virtauskammion 1 poikki ja on näin ollen .·! läpäissyt virtauskammiossa 1 virtaavan polymeerisulatteen, se kulkee toisen polarisaatioerottimen, pyöritettävän analysaattorin 7 kautta.
: * : Analysaattorin 7 läpi mennyt valo saapuu tunnistimeen 8, kuten CCD- kameraan. Kuvan 1b mukainen toinen rakenne voisi olla edullisempi kahdesta syystä: a) valo kulkee geelin läpi kahdesti, jolloin valon polari- 111734 4 saatiotilan erot vahvistuvat, ja b) instrumentin koko optinen osa voidaan asentaa yhdelle sivulle virtauskammiossa 1, kuten ekstruude-rin tai muuntyyppisen polymeerisulatteen prosessointilaitteen virtaus-kanavassa. Tätä on käytännöllisempi soveltaa teollisessa ympäristössä.
Ensimmäiseen ja toiseen rakennevaihtoehtoon perustuvalla on-line-järjestelmällä on suoritettu useita kokeita ja saatu myönteisiä tuloksia (ks. kuvat 2a ja 2b). Geelit näyttävät tyypillisiltä polarisaatioaktiivisilta kohteilta, jotka koostuvat vaaleammista ja tummemmista alueista, joissa on heikosti rajatut reunat. Tällä menetelmällä tunnistetaan myös kiinteät partikkelit ja kuidut.
Automatisoidun järjestelmän pitäisi kyetä tunnistamaan erilaisia epäpuhtauksia ja määrittelemään tiettyyn tyyppiin kuuluvien epäpuhtauksien partikkelikokojakauma. Kiinteät partikkelit, kuidut, sulamattomat kiteet sekä hapettuneet polymeerit voidaan tunnistaa esim. muodon ja läpinäkyvyystekijän mukaan, mutta geeleillä ei ole selkeitä rajoja ja ne voidaan helposti sekoittaa kiinteisiin partikkeleihin, jotka eivät ole teräviä. Tämä ongelma voidaan kuitenkin ratkaista käyttämällä hyväksi sitä seikkaa, että geelit näkyvät ainoastaan ristikkäisten polarisaatioerot-j tiimien välissä, mutta ne eivät näy, kun niitä tarkkaillaan suoraan.
·: ·: Käytännössä tämä voidaan saada aikaan jakamalla virtauskammion 1 läpi lähetetty valo valonjakajan 9 avulla kahteen osaan ja muodosta-;··. maila samasta kohteesta kaksi samanaikaista kuvaa kahdella tunnisti- mella8, kuten CCD-kameralla, kuten kuvassa 3 on esitetty. Perusjär-jestely on kuvan 1b mukainen, mutta kahden tunnistimen 8 ja valonja-kajalaitteen mukaista järjestelmää voidaan soveltaa myös kuvan 1a mukaisessa järjestelyssä. Kuva A muodostetaan ristikkäisen analysaattorin 7 avulla, kun taas kuva B muodostetaan ilman sitä. Kummastakin kuvasta tulee identtinen, yhtä poikkeusta lukuunotta-matta: geelit puuttuvat kuvasta B. Sopivan ohjelmiston avulla voidaan .··. nyt erottaa geelien kuvat kiinteiden epäpuhtauksien kuvista (kuva A - ’:'t kuva B = vain geelit; kuva B = vain kiinteät aineet) ja luokitella epäho- ‘ ' mogeenisyystyypit oikein. Tarvittaessa voidaan käyttää myös : muodontunnistusmenetelmiä lisäperusteiden ja -tunnistuksen saarni- 111734 5 seksi. Lisäksi voidaan laskea partikkelikokojakauma jo tunnetuilla algoritmeilla.
Kuvissa 1a, 1b ja 3 on myös esitetty kaksi neljännesaaltolevyä (λ/4) 10 polarisaatioerottimien välissä, kuvassa 1a virtauksen kummallakin puolella ja kuvissa 1b ja 3 virtauksen samalla puolella. Järjestely, jossa valon kulkureitillä on neljännesaaltolevy 9 valonlähteen 5 ja polarisaa-tioerottimen 6 jälkeen, lähettää ympyräpolaroitua valoa polymeeri-sulatevirtauksen läpi. Valon kulkureitillä olevaa linssiä on merkitty viitenumerolla 11.
Valonlähde 5 merkitsee tässä yhteydessä sellaisen sähkömagneettisen säteilyn lähdettä, joka voidaan polaroida polarisaatioerottimella 6. Näin ollen polaroitu sähkömagneettinen säteily voi olla millä tahansa sopivalla aallonpituusalueella, kuten näkyvän valon tai ultraviolettivalon (UV) alueella, ja sitä voidaan käyttää jatkuvasti tai pulssittaisena, esim. käyttäen säteilylähteenä salamavalolamppua.
Käytettäessä UV-valoa voidaan matriisin ja muiden faasiobjektien välinen kontrasti saada esiin geelien ja nestemäisen polymeerimatriisin spektriabsorptio-ominaisuuksien eroina. Erityisesti geelit, jotka ovat muodostuneet ekstruuderin osien ylikuumentumisen takia (palaneet ·:··: partikkelit) ja erittäin silloittuneet rakenteet näkyvät paremmalla kontrastilla käytettäessä UV-valoa, jolloin voidaan taata kohteiden .···. automaattinen tunnistaminen digitaalisessa kuvankäsittelyssä.
.!!!: Käyttämällä kapeakaistaista interferenssisuodatinta poistetaan valon lähteen näkyvän valon aallonpituudet, jolloin vähennetään hajavaloa ja lisätään sulatevirtauksessa olevista kohteista saadun kuvan tarkkuutta. Jos visualisointiin käytetään UV-valoa, kuvantamislaitteen ; (tunnistimen) tulisi sopivimmin olla takaa valaistu CCD tai halvempi edestä valaistu CCD, joka on päällystetty UV-herkällä fluoresoivalla :*·,· kerroksella.
• ·
Menetelmän yhden suoritusmuodon mukaan käytettäessä UV-valoa * ‘ nestemuodossa olevan polymeerin läpi kulkevana sähkömagneettisena säteilynä saadaan epähomogeenisyyksiä sisältävän virtaavan sulatteen valaisu aikaan salamavalolampulla, joka antaa lyhyitä valopuls- 111734 6 seja (<10ps). Salamavalolamppu voi olla vapaasti toimiva, jolloin se toimii välähdysvalaisimena, tai se laukaistaan PC:n ohjaamalla järjes-telmäelektroniikalla. Salamavalo tuottaa lyhytaikaisen suuren valo-voiman, jolloin sulatteessa olevista liikkuvista geeleistä ja pilkuista saadaan kuva, joka on laadultaan kirkas ja tarkka. Salamavalolamppu tuottaa tarvittavan hyvin voimakkaan UV-valon geelien paremman kontrastin saamiseksi.
Vaihtoehdossa, jossa valolähteenä käytetään UV-valolähdettä, kuvien 1a ja 2b mukaiset molemmat optiset järjestelyt ovat mahdollisia, eli valonlähde voi olla polymeerivirtauksen yhdellä puolella, jolloin kammio 1 ja tunnistin ovat sen toisella puolella, tai valonlähde ja tunnistin voivat olla polymeerivirtauskammion 1 samalla puolella, jolloin poly-meerivirtauskammiossa käytetään valon heijastinta (peiliä).
Liikkuvista partikkeleista tai geeleistä halutun tiedon lisäksi kuvantamis-laitteella saatu kuva sisältää päällekkäistä "taustatietoa", joka tekee kuvankäsittelyn vaikeammaksi tai mahdottomaksi. Kuvan epähomo-geenisyyksien "taustan" tärkeimmät lähteet ovat: - näkymän epäyhtenäinen valaisu, - puutteellinen optiikka, ·*..*·* - hajavalo tai optinen tausta, *: · i - heikot pikselit ja kuvantamislaitteen epätasainen herkkyys, : ‘ : - ikkunoihin tarttuneet partikkelit.
.!Standardinmukaisissa toteutuksissa korjaus saadaan aikaan vähentämällä "taustakuva" saadusta kuvasta. Saatu kuva sisältää yleensä edellä tarkemmin esitetyn "taustatiedon", mikä tekee automaattisen kuvankäsittelyn äärimmäisen vaikeaksi. Nämä kuvavirheet poistuvat, ; ·' jos saadun kuvan "taustanäkymä" ja "vertailutausta" ovat samat.
: Tämän menetelmän heikkoutena on se, että erilainen taustakuva kak- :*·.· sinkertaistaa kuvavirheet, jolloin ko. kahden kuvan vähentämisen jäl- ;··. keen näkyy lopulta sekä saadun kuvan että taustakuvan "tausta- näkymä".
Useissa tapauksissa taustanäkymä muuttuu hitaasti ajan myötä, ja kuvankäsittelyvirheiden välttämiseksi on tietyllä kuvantamisnopeudella 111734 7 suoritettava taustakuvan mittausprosessi. Taustan mittauksen aikana ei epäpuhtauksien mittaaminen ole mahdollista, jolloin haitallisia partikkeleita voi jäädä huomaamatta taustakuvan mittauksen ja laskennan aikana.
Nyt esillä olevan keksinnön yhden suoritusmuodon mukaan mukautuvalla taustan korjauksella vältytään taustan mittauksen häiriöiltä ja samalla voidaan kompensoida taustaa aikamukautuvalla taustakuvalla. Tällä tavoin kaikki hitaasti muuttuvat taustan epähomogeenisyydet poistuvat automaattisesti häiritsemättä polymeerisulatteen tarkkailua, kuten ekstruusioprosessin tarkkailua, eikä epäpuhtauksia jää havaitsematta keskeyttävän taustanmittausmenettelyn vuoksi.
Keksinnölle on tunnusomaista se, että saadusta kuvasta vähennetään aiemmin saatuihin kuviin perustuva alipäästösuodatettu taustakuva sen sijaan, että otettaisiin kiinteä taustakuva. Reaaliaikaisten signaalien suodattamiseen tunnetaan useita alipäästösuodatusalgoritmeja. Suodatusalgoritmia sovelletaan saadun kuvasekvenssin kustakin kuva-alkiosta (pikselistä) saatuihin peräkkäisiin intensiteettiarvoihin "taustakuvan" saamiseksi. Suodatusparametrit valitaan tausta vaihtelu n ominaisuuksiin / muutosnopeuteen sopiviksi ja välttäen vaikuttamasta merkitsevästi tuloksena saatavaan kuvaan. Yksinkertaisessa tapauk-sessa "taustakuva" on saatujen n:n viimeisen kuvan liukuva keskiarvo (käsiteltävä kuva mukaanlukien tai poissulkien). Tällä tavoin ei taustan ;···; kompensoimiseksi tarvitse hankkia muita kuvia. Tämän menettelyn tärkeimpänä etuna on se, että "taustakuvaa" päivitetään jatkuvasti uudella taustanäkymällä yksinkertaisesti laskemalla "taustakuva" uudelleen suodatusalgoritmien avulla.
: ·’ Mukautuvan taustavähennyksen keksintö soveltuu sekä jatkuvaan valaisuun että pulssivalaisuun. Suodattimen rajataajuudesta tai vastaa-vasti kuvanäytteiden lukumäärästä riippuen näytteistettyjen kuvien * » .*··. alipäästösuodatus parantaa "taustakuvan" laatua tai tarkkuutta kiinte- ään "taustakuvaan" verrattuna vähentämällä suodatuksesta johtuvaa * | signaaliin tahdistumiskohinaa.
111734 8
Havaittujen kohteiden automaattisessa luokittelussa voi ilmetä lisäongelmia, jotka johtuvat geelien ja tarkentamattomien partikkeleiden väärintulkinnasta, koska kummastakin syntyy kuva, jossa on heikot rajakontrastit. Tarkentamattomia partikkeleita havaitaan aina, kun terä-vyysalue on pienempi (lyhyempi) kuin virtauskammion poikkileikkaus, ja näin on yleensä silloin, kun vaaditaan voimakkaampaa suurennosta tai voimakkaampaa erotuskykyä. Keksinnön vielä yhden suoritusmuodon mukaan tällainen virheellinen luokittelu voidaan välttää "nopeus-suodattimella" tunnistamalla partikkelien nopeus ja käsittelemällä ainoastaan partikkeleita, jotka liikkuvat tietyssä "nopeusikkunassa". Tämä periaate on esitetty kuvassa 4. A osoittaa kuvantamislaitteen terävyys-aluetta, B on tarkkuusalue virtauksessa, ja C on terävästi kuvattuja kohteita vastaava nopeusalue. Tämä alue riippuu nopeudesta virtauksessa olevan kohteen poikkileikkaukseen sijoittuvan aseman funktiona.
Virtauskammion oletetaan pakottavan siirtyvä materiaali (lähes) laminaariseen virtaukseen, jolloin nopeusvektorissa esiintyy vain pieniä vaihteluita ajan suhteen virtauksen tietyssä kohdassa. Toisaalta kuvantamislaitteen (katselukameran) ja siihen liittyvän linssin pikseli-koko määrittää optisen näkökentän ja terävyysalueen. "Nopeusikkuna" voidaan määrittää sovittamalla virtauskammiossa oleva nopeusprofiili käytettävän optiikan terävyysalueeseen.
Keksinnössä "nopeusikkuna" määritellään tavalla, joka takaa, että .··*. kaikki nopeussuodatuskriteerin läpäisevät epäpuhtaudet sijaitsevat tila- alueella, jota kuvannetaan kameran tunnistimella terävyysalueen tole-..... ranssin puitteissa, eli riittävällä terävyydellä.
Tämän keksinnön mukaan nopeussuodatin voidaan toteuttaa seuraa-: f vasti: Käytetään salamavaloa, joka voidaan laukaista riittävän usein saadun kuvan valaisemiseksi kaksi tai useampia kertoja. Järjestely muodoste-taan siten, että kamera kuvantaa sopivasti havaintoalueella olevan : ; epäpuhtauden kulkureittiä useiden välähdysten aikana. Tämä voidaan saada aikaan säätämällä välähdysten välistä viivettä ja ohjaamalla kuvantamisajanjaksoa tietokoneella.
111734 9
Vaihtoehtoisesti voidaan ottaa kaksi tai useampia kuvia, kukin yhdellä valonvälähdyksellä. Tässäkin tapauksessa nopeussuodatuksen vaikutusaika määritellään välähdysten välisenä aikana, ei kameran kuvan-tamisnopeuden mukaan. Vaihtoehtoisesti voidaan käyttää säädettyä suljinta ja jatkuvaa valonlähdettä samankaltaisten kuvien muodostamiseksi nopeussuodatusta varten. Tässä tapauksessa nopeussuodatuksen vaikutusaika määritellään sulkimen aukiolokertojen välisenä ajanjaksona.
Sopivimmin kameraa ja salamavaloa tai suljinta ohjataan täysin tietokoneella ja kuvan ottaminen on täysin synkronoitu. Tässä tapauksessa voidaan ohjelmoida sopivat kuvanottonopeudet, jotta varmistetaan, että kukin epäpuhtaus mitataan vain kerran ja että analysoidaan riittävä määrä materiaalia (tai tilavuutta) sovittamalla kuvanottonopeus virtausnopeuteen.
Nopeussuodatin toteutetaan helposti ohjelmallisesti tunnistamalla samankaltaisten kohteiden pareja tietyllä etäisyysvektoritoleranssilla. Etäisyysvektorin toleranssi voidaan arvioida virtauskammiossa olevan sulatteen nopeusprofiilista. Saatavilla olevat digitaaliset kuvankäsittely-·*',]·· ohjelmat ja -kirjastot sisältävät kohteen tunnistamiseen tarvittavat ·:·: toiminnot. Vain kohteita, jotka täyttävät nopeuskriteerin, käsitellään kuvankäsittelyssä ja lasketaan ja/tai luokitellaan automaattisesti poly-.··. meerimateriaalin, kuten ekstrudoidun materiaalin, puhtauden luonneh- timiseksi.
• I • ·
Tarkkailupiste voi olla nestemäisen polymeerin virtauskanavan poisto-päässä, esimerkiksi suulakkeessa, jossa ainakin yksi suulakkeen sivuseinämistä on valmistettu materiaalista, joka läpäisee käytettävää sähkömagneettista säteilyä. Suulake voi olla esimerkiksi ekstruuderin poistopäässä. Nestemäisen polymeerin virtausta voidaan tarkkailla .*··. myös ekstruuderin (yksiruuvisen tai moniruuvisen ekstruuderin) tai jat kuvan vaivaimen sisällä, ruuvi(e)n ja suulakkeen välisellä siirtymäalu-' : eella, tai ekstruuderin tai jatkuvan vaivaimen suulakkeen sisällä.

Claims (10)

10 111734
1. Menetelmä nestemuodossa olevan polymeerin, kuten polymeeri-sulatteen tai hartsin tarkkailemiseksi siinä olevien epähomogeeni-5 syyksien, kuten muiden faasikohteiden, erityisesti nesteen muodostamassa matriisissa olevien geelien havaitsemiseksi, jossa menetelmässä nestemuodossa olevaa, tarkkailupisteen ohi viilaavaa polymeeriä tarkkaillaan muodostamalla kuva, tunnettu siitä, että tarkkai-lupisteessä virtauksen läpi johdetaan sähkömagneettista säteilyä, joka 10 on polaroitua sähkömagneettista säteilyä, ja epähomogeenisyyksien aiheuttamia muutoksia sähkömagneettisen säteilyn polarisaatiotilassa käytetään epähomogeenisyyksien tarkkailemiseksi muodostetusta kuvasta.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että sähkömagneettinen säteily lähetetään nestemuodossa olevan poly-meerivirtauksen yhdeltä puolelta säteilylähteestä (5), kuten lampusta, ja vastaanotetaan virtauksen toisella puolella tunnistimella (8), kuten CCD-kameralla. 20
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että sähkömagneettinen säteily lähetetään nestemuodossa olevan poly-meerivirtauksen sivulta säteilylähteestä (5), kuten lampusta, ja heijas- ···. tetaan toiselta puolelta takaisin saman virtauksen läpi tunnistimeen (8), .♦··. 25 kuten CCD-kameraan. # · ♦ · *
4. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tun- *···' nettu siitä, että sähkömagneettinen säteily johdetaan virtauksen läpi pulssina, joka tallennetaan tunnistimeen (8). *·!*·: 30
5. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tun- :·. nettu siitä, että epähomogeenisyyksien mittausta ja luokittelua paran- i···. netaan valitsemalla ne kohteet, jotka kulkevat virtauksessa ennalta T määrätyllä nopeudella, välttäen pienestä terävyysalueesta (A) johtuvien 35 epätarkkojen kohteiden mittausta. • · • · · 111734
6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että nopeus määritetään vertaamalla virtauksesta ennalta määrätyin välein saatuja kuvatietoja, esim. valaisemalla virtausta ennalta määrätyin välein. 5
7. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen 1-4 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että saadulle kuvalle tehdään jatkuvasti mukautuvaa taustan korjausta käyttämällä useiden aikaisempien kuvien tietoja, esim. aikaisempien kuvien kuvasekvenssistä tehtyä alipäästösuoda- 10 tettua kuvaa.
8. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että tarkkailupiste on nestemäisen polymeerin virtaus-kanavan poistopäässä, esim. suulakkeessa, jossa ainakin yksi suulak- 15 keen sivuseinämistä on valmistettu materiaalista, joka läpäisee käytettävää sähkömagneettista säteilyä.
9. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen 1-7 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että nestemuodossa olevan polymeerin virtausta tark- 20 käillään ekstruuderin (yksiruuvisen tai moniruuvisen ekstruuderin) tai jatkuvan vaivaimen sisällä, ruuvi(en) ja suulakkeen välisellä siirtymä-alueella, tai ekstruuderin tai jatkuvan vaivaimen suulakkeen sisällä. • «
10. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tun-Γ.Ι 25 nettu siitä, että havaitaan geelipartikkeleita, jotka sisältävät polymee- rejä, joilla on sama molekyylikoostumus kuin matriisipolymeerillä. • · a · 111734
FI20010010A 2001-01-03 2001-01-03 Menetelmä nestemuodossa olevan polymeerin tarkkailemiseksi FI111734B (fi)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20010010A FI111734B (fi) 2001-01-03 2001-01-03 Menetelmä nestemuodossa olevan polymeerin tarkkailemiseksi
PCT/FI2002/000002 WO2002054047A1 (en) 2001-01-03 2002-01-03 Method for monitoring of polymer in liquid state
US10/250,575 US7009186B2 (en) 2001-01-03 2002-01-03 Method for monitoring of polymer in liquid state
EP02716095A EP1348118A1 (en) 2001-01-03 2002-01-03 Method for monitoring of polymer in liquid state

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20010010A FI111734B (fi) 2001-01-03 2001-01-03 Menetelmä nestemuodossa olevan polymeerin tarkkailemiseksi
FI20010010 2001-01-03

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20010010A0 FI20010010A0 (fi) 2001-01-03
FI20010010A FI20010010A (fi) 2002-07-04
FI111734B true FI111734B (fi) 2003-09-15

Family

ID=8559874

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20010010A FI111734B (fi) 2001-01-03 2001-01-03 Menetelmä nestemuodossa olevan polymeerin tarkkailemiseksi

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7009186B2 (fi)
EP (1) EP1348118A1 (fi)
FI (1) FI111734B (fi)
WO (1) WO2002054047A1 (fi)

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US35868A (en) * 1862-07-15 Improvement in seal-locks for mail-bags
JPS5940146A (ja) 1982-08-31 1984-03-05 Fujikura Ltd 押出樹脂中の異物検出方法
US4529306A (en) * 1983-06-13 1985-07-16 Flow Vision, Inc. Apparatus and method for polymer melt stream analysis
US4888484A (en) * 1986-02-20 1989-12-19 Automatik Machinery Corporation Apparatus and method for spectrophotometric analysis of a material in a moving process stream
EP0277629B1 (de) * 1987-02-04 1993-05-05 Harro Höfliger Verpackungsmaschinen GmbH Verfahren und Vorrichtung zum Feststellen von Fremdkörpern in Fluiden
JP3102938B2 (ja) * 1991-12-30 2000-10-23 シスメックス株式会社 粒子画像分析装置
US5495333A (en) * 1992-07-24 1996-02-27 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Method and apparatus of detecting impurities in fluid
CN1078351C (zh) 1992-11-25 2002-01-23 住友电气工业株式会社 检测熔化的树脂中所含杂质的方法
US5383776A (en) * 1992-12-31 1995-01-24 Hoechst Celanese Corporation Apparatus for analyzing polymer defects
JP2806289B2 (ja) 1994-04-04 1998-09-30 住友電気工業株式会社 押出機ヘッドにおける樹脂中異物検出装置
WO1996000381A1 (fr) * 1994-06-27 1996-01-04 The Furukawa Electric Co., Ltd. Appareil de detection de corps etrangers dans une matiere coulante
CA2216046A1 (en) 1997-09-18 1999-03-18 Kenneth Boegh In-line sensor for colloidal and dissolved substances
EP0938961A1 (de) 1998-02-25 1999-09-01 Paul Troester Maschinenfabrik Spritzkopf für die Ummantelung von elektrischen Leitern

Also Published As

Publication number Publication date
FI20010010A0 (fi) 2001-01-03
EP1348118A1 (en) 2003-10-01
FI20010010A (fi) 2002-07-04
US20040070752A1 (en) 2004-04-15
WO2002054047A1 (en) 2002-07-11
US7009186B2 (en) 2006-03-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10949963B2 (en) System and method for inspection of wet ophthalmic lens
EP0501005B1 (en) Flow imaging cytometer
EP0599297B1 (en) Method of detecting impurities in molten resin
CA1064136A (en) Stone detector
JP3075367B2 (ja) 粒子分析方法及び装置
JP2012037538A (ja) 透明材料中の欠陥の検出
JPH0743307A (ja) イメージングフローサイトメータ
US5220178A (en) Apparatus and process for detecting the presence of defects on a moving sheet of material
US5129726A (en) Apparatus for color control of objects
FI111734B (fi) Menetelmä nestemuodossa olevan polymeerin tarkkailemiseksi
KR101676333B1 (ko) 결함 검출 방법 및 장치
US10416077B2 (en) V-block refractometer
JP4707511B2 (ja) 光透過性容器充填液体中の異物検査装置
WO2022224636A1 (ja) 検査装置
JP2959813B2 (ja) 粒子画像分析装置
US4121247A (en) Population and profile display of transparent bodies in a transparent mass
JP2004132773A (ja) 青果物の光沢検査装置
JPH11248643A (ja) 透明フィルムの異物検査装置
JP3048342B2 (ja) 透明板中の気泡検出装置
JP2003047907A (ja) 塗装検査方法及び塗装検査装置
KR20000073446A (ko) 액체에 포함된 이물질의 광학 검사 방법과 장치
WO2005048171A1 (en) Method and apparatus for imaging through glossy surfaces and/or through transparent materials
BR112016015430B1 (pt) Método para medir o brilho dos grãos e aparato para determinar o brilho dos grãos
JPH0611457A (ja) フィルム中の異物検出方法及びその装置
JPH10300680A (ja) 注入樹脂中の異物検査方法