ES2335755T3 - Procedimiento para optimizar el proceso de calibracion de un laser sintonizable. - Google Patents
Procedimiento para optimizar el proceso de calibracion de un laser sintonizable. Download PDFInfo
- Publication number
- ES2335755T3 ES2335755T3 ES03708443T ES03708443T ES2335755T3 ES 2335755 T3 ES2335755 T3 ES 2335755T3 ES 03708443 T ES03708443 T ES 03708443T ES 03708443 T ES03708443 T ES 03708443T ES 2335755 T3 ES2335755 T3 ES 2335755T3
- Authority
- ES
- Spain
- Prior art keywords
- laser
- matrix
- points
- values
- tuning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/0683—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
- H01S5/0687—Stabilising the frequency of the laser
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/0617—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium using memorised or pre-programmed laser characteristics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
- H01S5/0625—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
- H01S5/06255—Controlling the frequency of the radiation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Lasers (AREA)
Abstract
Procedimiento de calibración de un láser sintonizable de múltiples secciones a una frecuencia específica, estando caracterizado el procedimiento porque presenta las etapas siguientes: a) medir los valores de salida desde el láser como una función de intensidades de sintonización aproximada del láser, b) formar una primera matriz discreta a partir de dichos valores de salida desde el láser, estando definida la matriz por una característica óptica de la salida del láser a intensidades de sintonización de determinación específicas, c) procesar la matriz para determinar puntos de funcionamiento estables dentro de la matriz, definiendo los puntos de funcionamiento estables unas frecuencias específicas en las que puede hacerse funcionar el láser, y d) determinar si los puntos de funcionamiento estables determinados representan los puntos de funcionamiento estables óptimos, mediante las subetapas siguientes: aumentar en un píxel el conjunto de puntos que se definen como que contribuyen a un borde en la matriz de bordes para ampliar los bordes de la matriz, obligando de este modo a los bordes a unirse cuando existan espacios; determinar si hay más de un punto de funcionamiento en cada región limitada aumentada, y determinar si la diferencia entre la frecuencia medida del láser y el espaciado de saltos de modo está dentro de un valor predeterminado y, si está dentro del valor, calcular el promedio de la pluralidad de puntos de funcionamiento para proporcionar un único punto de funcionamiento dentro de esa región limitada o, si no está dentro de ese valor predeterminado, permitir una pluralidad de puntos dentro de esa región.
Description
Procedimiento para optimizar el proceso de
calibración de un láser sintonizable.
La presente invención se refiere a láseres
sintonizables, en particular a un diodo láser de múltiples secciones
que puede conmutarse entre diferentes longitudes de onda o
frecuencias y, más particularmente, a un procedimiento adaptado
para proporcionar las intensidades de control correctas para
conseguir cada una de las frecuencias de salida deseadas desde el
láser.
Los diodos láser de múltiples secciones se
conocen bien en la técnica y pueden conmutarse entre diferentes
longitudes de onda. Típicamente, el diodo se calibra durante su
fabricación para determinar las intensidades de control correctas
que deben aplicarse al láser para producir las frecuencias de salida
deseadas desde el láser.
Uno de los primeros diodos láser de múltiples
secciones conocidos es un láser con reflectores Bragg distribuidos
(DBR) sintonizable de tres secciones. Otros tipos de láseres de
diodo de múltiples secciones son los DBR de rejilla de muestreo
(SG-DBR), los DBR de muestreo de superestructura
(SSG-DBR) y el acoplador asistido de rejilla con
reflector de rejilla de superestructura o de muestreo posterior
(GCSR). Una revisión de los láseres de este tipo se proporciona en
Jens Buus, Markus Christian Amann, "Tuneable Laser Diodes"
Artect House, 1998 y "Widely Tuneable Semiconductor Lasers"
ECOC'00. Beck Mason.
La figura 1 es un dibujo esquemático de un
SG-DBR 10. El láser comprende secciones de reflector
anterior y posterior 2 y 8 con una sección activa o de ganancia en
intervención 6 y una sección de fase 4. Un recubrimiento 9
antirreflectante se proporciona habitualmente en las caras anterior
y posterior del chip para evitar modos de cara. Los reflectores
posterior y anterior adoptan la forma de rejillas de Bragg de
muestreo 3 y 5. El paso de las rejillas de los reflectores
posterior y anterior varía ligeramente para proporcionar un efecto
de sintonización Vernier variando la intensidad suministrada a estas
secciones. La longitud del trayecto óptico de la cavidad también
puede sintonizarse con la sección de fase, por ejemplo mediante
cambios de índice de refracción inducidos variando la densidad de
portadora en esta sección. Una descripción más detallada del
SG-DBR y otros láseres de diodo de múltiples
secciones sintonizables puede encontrarse además en Jens Buus,
Markus Christian Amann, "Tuneable Laser Diodes" Artect House,
1998.
Los láseres de diodo de múltiples secciones son
útiles en sistemas multiplexados por división de longitud de onda
(WDM). Aplicaciones a título de ejemplo son como fuentes de
transmisor, como convertidores de longitud de onda en conexiones
ópticas cruzadas (OXC) y para fuentes de referencia en receptores
heterodinos. Típicamente, los sistemas WDM presentan un espaciado
de canales que cumple la norma G962 de la Unión Internacional de
Telecomunicaciones (ITU), que tiene un punto fijado en 193,1 THz y
un espaciado entre canales en un múltiplo entero de 50 GHz o 100
GHz. Un sistema WDM denso a modo de ejemplo podría presentar un
espaciado de canales de 50 GHz y oscilar desde 191 THz hasta 196
THz (1529,6-1559,6 nm).
Puesto que se trata de láseres de múltiples
secciones, requieren una cierta calibración antes de utilizarse
para determinar los valores correctos de intensidad para conseguir
cada una de las longitudes de onda de salida deseadas del láser
sintonizable. Por ejemplo, un láser SG-DBR presenta
4 secciones de sintonización. Si cada una de estas secciones
presenta 300 posibles valores de intensidad (0-90 mA
en etapas de 0,3 mA por ejemplo) y puesto que cada una de
las secciones del láser son interdependientes en la salida del
láser, hay 300x300x300x300 posibles combinaciones de intensidad que
pueden aplicarse al láser.
Además, el láser también debe cumplir los
requisitos de ancho de línea, SMSR, etc. Esto significa que el láser
debe calibrarse y obtenerse una tabla de consulta de intensidades
en la que cada entrada en la tabla consiste en las intensidades
requeridas para conseguir cada longitud de onda en el plan de
frecuencias. Cada una de estas entradas se denomina punto de
funcionamiento.
El procedimiento de fabricación de láseres
sintonizables no está completamente desarrollado y cada dispositivo
presentará su propia firma de longitud de onda única lo que
significa que cada dispositivo es lo suficientemente diferente para
requerir una calibración completa y que los datos de otro láser no
funcionarán. Esto significa que cada dispositivo debe calibrarse
completamente para obtener la tabla de consulta y esta tabla debe
utilizarse con el dispositivo cuando esté en funcionamiento.
Se han publicado varias técnicas para obtener
esta tabla de consulta de información, entre los que se incluyen
"Fast Generation of Optimum Operating Points for Tuneable
SG-DBR Laser over 1535-1565nm
Range" John Dunne et al. Conference on Lasers and
Electroptics (CLEO) Baltimore, mayo de 1999, págs.
147-148 proceedings, "Fast Accurate
Characterisation of a GCSR laser over the complete EDFA Band" Tom
Farrell et al. LEOS'99 noviembre, San Francisco, "Control
of widely tuneable SSG-DBR lasers for dense
wavelength division multiplexing" Gert Sarlet, G. Morthier, R.
Baets J. Lightwave Technol. vol. 18, n.º 8, págs.
1128-1138, agosto de 2000, y también en la patente
WO 00/54380. La primera publicación mencionada anteriormente también
utiliza una configuración de medición como la mostrada en la figura
2. El aparato comprende un láser 600 que se controla mediante
fuentes de intensidad y un elemento 610 de control de la
temperatura. La salida del láser se hace pasar a través de un
primer acoplador 620 para proporcionar una parte de la salida a un
medidor 630 de longitud de onda y una segunda parte a un segundo
acoplador en el que se divide adicionalmente. Una primera parte de
la salida de luz dividida se pasa directamente a un primer
fotodiodo (fotodiodo A), mientras que la segunda parte pasa a
través de un filtro lineal y a continuación se detecta la señal
filtrada usando un fotodiodo B. Dividiendo el nivel de tensión
detectada en el fotodiodo B (que es proporcional a la cantidad de
luz que llega al fotodiodo A) entre la tensión detectada en el
fotodiodo A, se obtiene un valor que es proporcional a la longitud
de onda de la luz emitida por el láser. Puede utilizarse o bien el
valor medido por el medidor de longitud de onda o bien el valor del
fotodiodo B dividido por el fotodiodo A, como la longitud de onda de
la luz emitida por el láser.
La publicación de patente PCT nº WO9940654 a
nombre de 'Altitun AB' describe un procedimiento de optimización
del punto de funcionamiento de un láser que comprende caracterizar
el láser y controlar las diferentes secciones de láser.
Aunque estos procedimientos ofrecen soluciones
al concepto general de calibración, son muy complicados porque
implican muchas operaciones y parámetros (los números típicos para
sistemas convencionales se encuentran entre 10 y 20) para guiar el
procedimiento de calibración. De manera inevitable, esto lleva a
varios parámetros que controlan la calibración y éstos son
sensibles a estructuras particulares del dispositivo y no pueden
asumir la variación de dispositivos de una línea de producción.
Además, estos parámetros serán a menudo interdependientes, lo que
lleva a un espacio multidimensional para configurar la calibración
en el que sólo un subconjunto pequeño de posibles parámetros
proporcionará buenos resultados de calibración del láser
sintonizable. De manera ideal, la calibración debe presentar un
pequeño conjunto de parámetros que simplifique en gran medida la
calibración y minimice su dependencia de características
particulares del dispositivo.
Por tanto, existe una necesidad de proporcionar
un procedimiento que permita obtener resultados constantes y
precisos para proporcionar un control de procedimiento del
procedimiento de calibración.
\vskip1.000000\baselineskip
Un objetivo de la presente invención es
proporcionar un procedimiento de control de procedimiento para
garantizar la calibración precisa de diodos láser.
\vskip1.000000\baselineskip
Por consiguiente, la presente invención
proporciona un procedimiento de calibración de un diodo láser
sintonizable de múltiples secciones a una rejilla de frecuencia
específica con un conjunto pequeño de parámetros para controlar
este procedimiento. La metodología y técnica de la presente
invención es ventajosa porque es genérica y puede aplicarse a
diversos tipos de láseres sintonizables tales como DBR,
SG-DBR, SSG-DBR, GCSR, etc.
Este enfoque genérico al algoritmo de
calibración núcleo puede utilizarse para reducir el número de
parámetros de calibración a un conjunto de valores menor de lo que
era posible hasta el momento.
Utilizando la metodología de la presente
invención no se realizan suposiciones del tipo específico de saltos
de tal modo que se producen en un láser y en su lugar se tratan
todos como regiones de inestabilidad en las que no debería hacerse
funcionar el láser. La presente invención proporciona una técnica
mediante la cual pueden obtenerse todos los puntos de
funcionamiento posibles del láser y es fácil obtener un parámetro de
calidad para cada uno de los puntos de funcionamiento de modo que
se establece su estabilidad en esa región de funcionamiento. Esto
puede utilizarse como base para un procedimiento de criba para
realizar una selección de puntos de funcionamiento que entren
dentro de un intervalo de criterios predefinido.
El procedimiento de la presente invención
permite comprobar el rendimiento de la calibración sin requerir la
determinación de un conjunto completo de calibraciones con todos los
valores de parámetros de calibración posibles.
\vskip1.000000\baselineskip
Según una primera realización de la presente
invención, se proporciona un procedimiento de calibración de un
láser sintonizable de múltiples secciones a una rejilla de
frecuencia específica, comprendiendo el procedimiento las etapas
siguientes:
- formar una primera matriz discreta de valores de salida desde el láser, estando definida la matriz por una característica óptica de la salida del láser a intensidades de sintonización de determinación específicas, y
- procesar la matriz para determinar puntos de funcionamiento estables dentro de la matriz, definiendo los puntos de funcionamiento estables frecuencias específicas en las que puede hacerse funcionar el láser.
\vskip1.000000\baselineskip
La invención proporciona adicionalmente un
procedimiento de calibración de un láser sintonizable, comprendiendo
el procedimiento las etapas siguientes:
- formar una primera matriz discreta de valores de salida desde el láser, estando definidos los valores de salida por valores de por lo menos una característica óptica de la salida del láser determinada a intensidades de sintonización específicas, y
- procesar la matriz para determinar puntos de funcionamiento estables dentro de la matriz, definiendo los puntos de funcionamiento estables frecuencias específicas en las que puede hacerse funcionar el láser.
\vskip1.000000\baselineskip
Los valores de salida desde el láser son de
manera deseable mediciones indicativas de las características del
láser, seleccionándose las características a partir de una o más de
las siguientes:
- la potencia de salida del láser,
- la longitud de onda del láser,
- la SMSR del láser,
- el ancho de línea, o
- algunas otras características del láser.
\vskip1.000000\baselineskip
Típicamente, la primera matriz se determina
midiendo los valores de salida desde el láser como una función de
intensidades de sintonización aproximada del láser.
La matriz puede visualizarse normalmente de
manera gráfica como un plano de valores relacionados con la potencia
de salida del láser con parámetros de sintonización de control
específicos.
\vskip1.000000\baselineskip
De manera deseable, la etapa de procesar la
matriz incluye las etapas siguientes:
- definir regiones dentro de la matriz en las cuales está presente un borde o discontinuidad, y
- determinar puntos que están limitados por discontinuidades o bordes, representando los puntos determinados regiones de funcionamiento estables para los parámetros de sintonización específicos.
\vskip1.000000\baselineskip
La etapa de definir regiones dentro de la matriz
en las que está presente un borde o discontinuidad se lleva a cabo
de manera deseable realizando una detección de bordes en los valores
de la matriz, produciendo la detección de bordes la formación de un
conjunto de valores de la matriz procesada, presentando el conjunto
de valores de la matriz procesada valores indicativos de si está
presente un borde.
\vskip1.000000\baselineskip
La detección de bordes se realiza de manera
deseable:
- procesando la matriz mediante la utilización de un algoritmo de filtrado en una dirección sustancialmente equivalente a la dirección de saltos de modo de la salida del láser,
- determinando un conjunto de puntos máximos dentro de la matriz filtrada,
- determinando un conjunto de puntos mínimos dentro de la matriz filtrada,
- estableciendo un conjunto de pares máximos y mínimos,
- determinando la diferencia entre el máximo y el mínimo de cada par para proporcionar una pluralidad de valores de diferencia, y
- aplicando un umbral a los valores de diferencia determinados de modo que los valores de pares de puntos superiores a un valor umbral determinado son zonas que contribuyen a un borde dentro de la matriz.
\vskip1.000000\baselineskip
La aplicación de umbral se lleva a cabo de
manera deseable utilizando el valor del parámetro de salto de modo
como valor umbral. El valor del mismo puede determinarse
seleccionando de manera arbitraria una secuencie de valores y
seleccionando el valor que proporciona el mejor resultado.
Adicionalmente, pueden realizarse otras
mediciones tales como la utilización de un filtro de longitud de
onda aproximado para convertir cambios de longitud de onda en el
láser en cambios de potencia. Puesto que la potencia a través del
filtro es proporcional a la potencia de entrada y a la longitud de
onda, dividiendo la potencia de entrada en la salida de potencia
del filtro, se determina un valor proporcional a la longitud de
onda. Técnicas similares descritas anteriormente o un umbral y una
operación laplaciana sencilla pueden extraer más bordes del láser y
dar como resultado una matriz de bordes que puede combinarse con la
matriz anterior utilizando un operador O lógico para proporcionar
resultados más robustos y garantizar la detección de todos los
bordes. Se observará que la simple utilización de la medición del
filtro de longitud de onda aproximado solamente no proporcionará
bordes exhaustivos para todos los modos de salto del láser, aunque
puede considerarse suficiente o satisfactoria para
determinadas
aplicaciones.
aplicaciones.
La etapa de definir puntos de funcionamiento
estables dentro del conjunto de valores de la matriz se realiza
normalmente llevando a cabo una operación de mapas de distancias en
el conjunto de la matriz procesada para determinar las distancias
entre bordes adyacentes y seleccionar los puntos que están en el
centro de la región limitada por los bordes.
El procedimiento proporciona el procedimiento de
determinar si cada punto de funcionamiento estable obtenido
representa el punto de funcionamiento estable óptimo para ese modo,
incluyendo el procedimiento las etapas siguientes:
- aumentar el conjunto de puntos que se definen como que contribuyen a un borde en la matriz de bordes obligando así a los bordes a juntarse cuando existan espacios,
- determinar si hay más de un punto de funcionamiento en cada región limitada aumentada, y
- si se encuentra más de un punto de funcionamiento en la región limitada aumentada, medir la frecuencia del láser en estos puntos,
- determinar si la diferencia entre la frecuencia medida del láser y el espaciado de saltos de modo está dentro de un valor predeterminado y, si está dentro del valor, calcular el promedio de la pluralidad de puntos de funcionamiento para proporcionar un único punto de funcionamiento dentro de esa región limitada o, si no está dentro de ese valor predeterminado, permitir una pluralidad de puntos dentro de esa región.
Se apreciará que el espaciado de saltos de modo
es una característica física de todos los dispositivos sintonizables
de este tipo y depende de la cavidad Fabry Perot principal
configurada en el diodo láser.
Se apreciará además que cada punto de
funcionamiento se encuentra en una región limitada por bordes
aumentados y que si se determina que un punto es el único ocupante
de tal región y no hay otro punto de funcionamiento en la misma
región limitada, entonces se optimiza este punto de
funcionamiento.
El procedimiento puede proporcionar
adicionalmente una repetición de las una o más etapas anteriores con
diferentes parámetros de sintonización para proporcionar una
pluralidad de matrices, siendo cada matriz indicativa de un
conjunto de puntos de funcionamiento para un conjunto particular de
parámetros de sintonización facilitando el enlace de puntos de
funcionamiento desde diferentes matrices para formar una región de
sintonización continua.
El enlace de puntos entre dos matrices
diferentes se realiza normalmente uniendo puntos que cumplen los
criterios de que un punto de una primera matriz y un punto de una
segunda matriz se unen si el punto de la segunda matriz presenta
una intensidad anterior y posterior mayor pero estas intensidades
están dentro de un valor de distancia predeterminado de los dos
puntos de funcionamiento.
Este valor de distancia predeterminado se
obtiene fácilmente a partir de las características de los
dispositivos y depende de la eficacia de sintonización de las
secciones de sintonización de longitud de onda aproximada del
láser. Se apreciará que puede realizarse una aproximación a esto
seleccionando un valor superior a la intensidad en la parte
anterior y/o posterior que hace que el láser pase de una longitud de
onda a otra.
Alternativamente, puede medirse la frecuencia de
cada punto de funcionamiento y se unen los puntos de funcionamiento
que son adyacentes y presentan una diferencia de frecuencia dentro
de un intervalo predeterminado. Se apreciará que esto forma un
parámetro de tasa de sintonización que define la mayor cantidad en
la que pueden diferir las frecuencias y aún así unirse.
Además, se proporciona un procedimiento que
comprende las etapas siguientes:
- a)
- realizar una medición de un primer conjunto de puntos de funcionamiento para una corriente monofásica,
- b)
- trazar este número de puntos de funcionamiento como una función de un parámetro de salto de modo,
- c)
- repetir las etapas a) y b) para una pluralidad de intensidades de fase, y
- d)
- analizar el gráfico resultante y determinar un parámetro de salto de modo medio que puede utilizarse para todos los planos del diodo láser. Éstas y otras características de la presente invención se entenderán mejor con referencia a los dibujos siguientes.
La figura 1 es un dibujo esquemático de un diodo
láser conocido,
la figura 2 muestra una configuración de
medición para medir las frecuencias y la potencia de un láser
sintonizable,
la figura 3 muestra un plano de potencia de
salida de un diodo láser medida según dos intensidades de
sintonización,
la figura 4 muestra una representación gráfica
de una matriz formada según el procedimiento de la presente
invención,
la figura 5 es una representación gráfica de una
matriz procesada que identifica puntos de funcionamiento según la
presente invención,
la figura 6 es una representación gráfica de la
salida del filtro utilizado para detectar los saltos de modo del
láser según un procedimiento de la presente invención,
la figura 7 muestra un subconjunto de las
regiones de sintonización continua de un láser como una función de
la intensidad de fase, y
la figura 8 muestra un subconjunto de las
regiones de sintonización continua de un láser como una función de
las dos intensidades de sintonización aproximada y la intensidad de
sintonización fina, sección de rejilla anterior, de rejilla
posterior y de fase respectivamente para un láser
SG-DBR.
La presente invención proporciona un
procedimiento de calibración de un diodo láser sintonizable de
múltiples secciones a una rejilla de frecuencia específica con un
conjunto pequeño de parámetros que controlan el procedimiento. La
técnica es genérica y puede aplicarse a diversos tipos de láseres
sintonizables tales como DBR, SG-DBR,
SSG-DBR, GCSR, etc.
Las técnicas utilizadas por el procedimiento de
la presente invención no se basan en suposiciones con respecto al
tipo específico de saltos de modo que se producen en el láser. Según
la presente invención, los saltos de modo se tratan como regiones
de inestabilidad en las que no debe hacerse funcionar el láser.
Además, se obtienen todos los posibles puntos de funcionamiento del
láser junto con un parámetro de calidad correspondiente para cada
uno de los puntos de funcionamiento para cuantificar su estabilidad.
Entonces puede implementarse un procedimiento de criba para
seleccionar puntos de funcionamiento que cumplan un determinado
criterio.
En formas de realización preferidas de la
presente invención se llevan a cabo diversas mediciones en el láser.
Éstas son medir la potencia de salida frente a todas las
intensidades de sintonización aproximada, por ejemplo para un láser
SG-DBR de 4 secciones esto da como resultado un
plano. La figura 3 muestra un plano de potencia de salida de un
láser según dos intensidades de sintonización.
Este plano puede obtenerse utilizando un
elemento selectivo de longitud de onda aproximado que utiliza
técnicas adecuadas tales como las descritas en "Fast Accurate
Characterisation of a GCSR laser over the complete EDFA Band"
Tom Farrell et al. LEOS'99 noviembre, San Francisco. Estas
mediciones se repiten como una función de cualquier otra sección de
sintonización que pueda presentar el dispositivo. Por ejemplo, con
un láser SG-DBR se miden diversos planos de rejilla
anterior frente a rejilla posterior respecto a la intensidad de
fase.
A continuación, se procesan cada uno de estos
planos para obtener los puntos de funcionamiento estables
disponibles a esa intensidad de fase particular. Esto se lleva a
cabo mediante las etapas siguientes:
- 1.
- Aplicar un algoritmo de detección de bordes que producirá un plano de tamaño similar en el que los píxeles se activan si hay un borde y se desactivan si no hay un borde presente en la ubicación correspondiente en el plano. Un ejemplo de un plano de este tipo se muestra en la figura 4,
- 2.
- Llevar a cabo una operación de mapa de distancias en el mapa de bordes,
- 3.
- Seleccionar los picos del mapa de bordes,
- 4.
- Unir los picos en el mapa de bordes que están más próximos entre sí que la suma de sus dos valores de mapa de distancias.
La detección de bordes puede llevarse a cabo
habitualmente en dos etapas. La primera etapa es pasar un filtro
paso alto tal como los del tipo [-1 -2 0 2 1] o los del tipo de 2D
1 a través de cada plano en la dirección
predominante de los saltos de modo. A continuación, siguiendo en la
dirección del filtro y buscando un conjunto de puntos de máximo a
mínimo en la línea, puede obtenerse un grupo de máximos/mínimos y
puntos de diferencia. Esto se lleva a cabo buscando máximos locales
en los que el punto que está considerándose es superior o igual a
los puntos a cada lado. De manera similar, se localizan los mínimos
locales buscando un punto que es inferior o igual a los puntos a
cada lado.
A continuación, en la misma dirección en la que
se pasó el filtro por los datos, es posible localizar pares de
máximos a mínimos. Para cada uno de estos pares se registra el valor
en el máximo y el mínimo, y se restan entre sí. Esto se denomina
valor de diferencia. Aplicando un umbral a este valor utilizando el
parámetro de salto de modo se permiten aceptar saltos de máximos a
mínimos de un determinado tamaño como borde. Una alternativa a la
utilización de un parámetro de aplicación de umbral fijo para
extraer los bordes es utilizar un algoritmo de K medias u
optimización de histograma para seleccionar el umbral correcto. El
parámetro de salto de modo seleccionado puede seleccionarse
basándose en análisis de rendimiento de uno o más valores de
parámetro de salto de modo y utilizando el valor de parámetro que
da como resultado el rendimiento óptimo. Esto puede observarse en
la figura 4 que muestra un mapa de bordes de un láser
SG-DBR.
Se apreciará que el mecanismo funciona igual de
bien en todos los bordes que se obtienen a partir de saltos de modo
en láseres sintonizables.
\vskip1.000000\baselineskip
Si se calculan los efectos de este filtro sobre
los datos [x_{0}, x_{1}, x_{2},..., x_{n-2},
x_{n-1}, x_{n}, x_{n+1}, x_{n+2},...]
utilizando un filtro que presenta un valor de filtro tal como
[-1,-2,0,2,1], se apreciará que la función:
\vskip1.000000\baselineskip
\vskip1.000000\baselineskip
\vskip1.000000\baselineskip
en la que f(n) es el
resultado en n tras llevar a cabo la operación de filtrado,
proporciona una relación
resultante:
\vskip1.000000\baselineskip
\vskip1.000000\baselineskip
\vskip1.000000\baselineskip
Esto corresponde a la pendiente de los puntos
alrededor del punto central, es decir, la pendiente de los puntos
x_{n-1}, x_{n+1} y la pendiente de
x_{n-2}, x_{n+2} como:
\newpage
Combinando las dos pendientes puede demostrarse
que:
Se apreciará por tanto que f(n) =
4(m_{1} + m_{2}), es decir, la respuesta del filtro es
igual a cuatro veces la suma de los dos conjuntos de pendientes
alrededor del punto central.
La etapa siguiente es encontrar el máximo y
mínimo local, es decir
y
\vskip1.000000\baselineskip
y el valor de diferencia d
es
donde n_{min} >
n_{max} y n_{min} - n_{max} se
minimiza.
\vskip1.000000\baselineskip
Por tanto, un borde está presente cuando d >
P_{mj}, siendo P_{mj} el parámetro de salto de
modo.
La figura 3 muestra un plano de potencia de un
láser SG-DBR como una función de las dos
intensidades de sintonización aproximada (rejilla anterior y
rejilla posterior). Se toma una línea desde el plano en la dirección
en la que se buscan saltos de modo, es decir, una intensidad de
rejilla anterior fija. La figura 6 muestra una de estas líneas tras
pasar el filtro [-1,-2,0,2,1] a través de la misma. A continuación,
se le aplicará un umbral utilizando las técnicas descritas
anteriormente para obtener todos los puntos que contribuyen a los
bordes.
El resultado de esto cuando se repite para todos
los valores de intensidad de rejilla anterior se muestra en la
figura 4.
A continuación se lleva a cabo una operación de
mapa de distancias donde D(x,y) es la distancia desde (x,y)
hasta el borde más próximo. Hay algunos ejemplos de cómo llevar esto
a cabo en "Control of widely tuneable SSG-DBR
lasers for wavelength division multiplexing" Gert Sarlet, G.
Morthier, R. Baets J. Lightwave Technol. vol. 18, n.º 8, págs.
1128-1138, agosto de 2000. Localizando los picos del
mapa de distancias, es decir, cuando D(x,y) \geq D
(x\pm1, y\pm1), es posible obtener el centro de las regiones
limitadas por bordes. En muchos casos se hallarán múltiples picos
máximos locales y éstos pueden fusionarse utilizando la regla
siguiente.
Siguiendo esto se obtiene un conjunto de puntos
que están en el centro de regiones limitadas por bordes. Estos
puntos son puntos de funcionamiento del láser para esa intensidad de
ganancia y fase y se muestran en la figura 5, que es el mapa de
bordes correspondiente a la figura 4 con los puntos de
funcionamiento seleccionados.
Como comprobación final de los puntos de
funcionamiento obtenidos, puede aumentarse el mapa de bordes en un
píxel y a continuación dividirse en regiones limitadas por saltos de
modo. Si hay más de un punto de funcionamiento hallado en el mapa
de distancias en cualquiera de las regiones halladas anteriormente,
entonces debe medirse la frecuencia del láser en estos puntos.
Cualquier punto que presente una diferencia de frecuencia inferior
al 10% del espaciado de saltos de modo es el mismo punto y puede
calcularse el promedio del mismo para obtener sólo un punto. Se
permiten los puntos que presentan una diferencia de frecuencia
grande superior al 10% del espaciado de saltos de modo puesto que
son puntos de funcionamiento diferentes.
La fase siguiente tras haber llevado a cabo lo
anterior en todos los planos medidos es unir puntos de
funcionamiento que presentan una sintonización continua entre
ellos. Ejemplos de las líneas de sintonización continua se muestran
en las figuras 7 y 8. Esto se lleva a cabo tomando el primer plano
(a la intensidad de fase más baja) y uniendo puntos de
funcionamiento que cumplen el criterio siguiente: "un punto de la
intensidad de fase inferior y un punto de la intensidad de fase
superior, cuando el punto de intensidad de fase superior presenta
intensidades anterior y posterior mayores pero estas intensidades
están dentro de los valores de pico del mapa de distancias promedio
de los dos puntos de funcionamiento".
Alternativamente, la frecuencia de cada punto de
funcionamiento puede medirse utilizando un medidor de longitud de
onda en una disposición conocida, tal como la descrita en la figura
2.
Como se ha detallado anteriormente, el aparato
comprende un láser 600 que se controla mediante fuentes de
intensidad y un elemento 610 de control de la temperatura. La salida
del láser se hace pasar a través de un primer acoplador 620, de
modo que se proporciona una parte de la salida a un medidor 630 de
longitud de onda y una segunda parte a un segundo acoplador 625 en
el que se divide adicionalmente. Una primera parte de la salida de
luz dividida se pasa directamente a un primer fotodiodo (fotodiodo
A), mientras que la segunda parte pasa a través de un filtro 635
lineal y a continuación se detecta la señal filtrada utilizando el
fotodiodo B.
Dividiendo el nivel de tensión detectada en el
fotodiodo B (que es proporcional a la cantidad de luz que llega al
fotodiodo A) entre la tensión detectada en el fotodiodo A, se
obtiene un valor que es proporcional a la longitud de onda de la
luz emitida por el láser. Puede utilizarse o bien el valor medido
por el medidor de longitud de onda o bien el valor del fotodiodo B
dividido por el fotodiodo A, como la longitud de onda de la luz
emitida por el láser.
La ventaja principal de utilizar el valor del
fotodiodo para la longitud de onda es que es mucho más rápido de
medir que utilizando un medidor de longitud de onda en varios
órdenes de magnitud. A continuación, pueden unirse los puntos de
funcionamiento que son adyacentes y presentan una pequeña diferencia
de frecuencia (o longitud de onda, puesto que la velocidad de la
luz dividida entre la frecuencia es igual a la longitud de onda).
Esto proporciona un parámetro "parámetro de tasa de
sintonización" que es la mayor cantidad en la que pueden
diferenciarse las frecuencias y aún así unirse.
Cuando se unen todos estos puntos para todas las
fases, representan las regiones de sintonización continua del
láser. A continuación se muestrean estas líneas en frecuencia de
salida del láser. Esto se lleva a cabo estableciendo algunos puntos
en cada línea en el láser y midiendo la longitud de onda de salida
del láser. A continuación, pueden calcularse las frecuencias
deseadas mediante interpolación, puesto que la sintonización del
láser es continua entre los puntos de muestreo.
Alternativamente, puede utilizarse un etalón
Fabry Perot de alta fineza. Otra derivación de una parte de la luz
desde el láser se hace pasar a través del etalón y a continuación
sobre un fotodiodo. A medida que el láser se explora a través de
sus regiones de sintonización de longitud de onda continua se
monitoriza la tensión en el fotodiodo de etalón. Si se configura el
etalón para presentar picos de resonancia a la longitud de onda
deseada, se observará una tensión pico en el fotodiodo y por tanto
pueden localizarse fácilmente las longitudes de onda correctas. Una
configuración de este tipo implicaría configurar el etalón para una
resonancia cada 50 GHz y localizaría las longitudes de onda
requeridas para la especificación ITU G692 sobre frecuencia.
Esto permite la generación de una tabla de
consulta de intensidades en la que cada entrada en la tabla presenta
las intensidades requeridas en cada sección de modo que cuando se
aplica al láser, éste proporcionará luz a una longitud de onda de
luz deseada. Típicamente, esto se lleva a cabo para la
especificación ITU G692 sobre frecuencia aunque puede utilizarse
para generar cualquier plan de frecuencias requerido. Las ventajas
de este enfoque son que puede generar la tabla de consulta
utilizando un sistema de calibración automatizado. Esto es
enormemente significativo en la fabricación de estos dispositivos
puesto que el tiempo de prueba requerido añade un coste
significativo a la producción de láseres sintonizables. La
posibilidad de generar la tabla de consulta para un dispositivo en
un procedimiento automatizado y rápido permite una configuración
sencilla del diodo respecto a los requisitos del cliente y
comprobar que el láser cumple una especificación.
Además, este sistema puede utilizarse en
diferentes fases de la producción de láseres sintonizables para
mejorar la productividad en cada fase de producción. Por ejemplo,
el empaquetado corresponde a aproximadamente el 70% del coste del
componente de modo que cuando se utiliza este sistema para someter a
prueba los dispositivos antes del empaquetado, sólo se permitirá
empaquetar un dispositivo adecuado conocido, siendo un dispositivo
adecuado conocido aquél que puede conseguir el intervalo de salidas
de frecuencia deseado requerido. Esto garantiza que el
procedimiento de empaquetado sea lo más eficaz posible y mejora la
productividad del dispositivo.
Se apreciará que puesto que el procedimiento de
la presente invención utiliza sólo la potencia de salida del láser
para identificar puntos de funcionamiento estables adecuados, este
procedimiento proporciona un procedimiento rápido de calibración.
Se requiere una referencia de frecuencia para calibrar el láser a un
plan de frecuencias deseado y se describen procedimientos que
permiten su medición rápida. Además, pueden utilizarse componentes
tales como un elemento de enganche de longitud de onda en esta fase
para optimizar la velocidad de calibración.
Se apreciará que la descripción anterior es
ilustrativa de las técnicas tal como se proporcionan por la presente
invención y no pretende limitar la invención a ninguna técnica de
filtrado específica o a otro parámetro. Lo anterior se proporciona
sólo a título de ejemplo y se apreciará que el procedimiento de la
presente invención puede adaptarse y funcionará igual de bien para
cualquier láser sintonizable de múltiples secciones. Las etapas
implementadas según el procedimiento de la invención pueden
resumirse de la siguiente manera:
- 1.
- Medir la potencia de salida del dispositivo como una función de las secciones de sintonización aproximada (por ejemplo láser DBR - sección Bragg, láser SG-DBR secciones de rejilla anterior y rejilla posterior, láser GCSR - secciones de acoplador y reflector)
- 2.
- Hallar el mapa de bordes o discontinuidades en los datos medidos
- 3.
- Tomar puntos que se encuentran entre los bordes
- 4.
- Repetir las etapas 1-3 para diferentes valores de intensidad de sintonización fina (normalmente o bien la sección de fase o bien la temperatura del diodo)
- 5.
- Medir la frecuencia óptica de todos los puntos hallados y unir los puntos como una función de la intensidad de sintonización fina cuando la sintonización es continua
- 6.
- Interpolar/ajustar la curva de las líneas halladas en la parte 5 para obtener las intensidades reales para conseguir las frecuencias de salida deseadas del dispositivo
- 7.
- Si se desea un control de la potencia de salida pueden repetirse las etapas 1 a 6 para diferentes intensidades de ganancia.
A continuación, los puntos finales obtenidos
mediante la etapa 7 pueden interpolarse para encontrar la potencia
de salida deseada para cada frecuencia de salida.
A partir de la descripción anterior, se
apreciará que hasta el momento no ha habido ninguna descripción de
la extensión de la presente invención para cubrir situaciones de
histéresis. Algunos dispositivos tales como DBR y GCSR presentan
histéresis en la sección Bragg/reflector, lo que significa que si el
Bragg se sube repentinamente y luego se baja, los saltos de modo no
están en la misma región. Estas regiones no pueden utilizarse puesto
que son sensibles a la dirección de aproximación y, cuando se
conmuta el láser de un punto de funcionamiento a otro, el salto en
la intensidad podría ser desde una intensidad de Bragg o superior o
inferior. Esto implica una etapa adicional en la que debe medirse
la línea en ambas direcciones aunque la región intermedia se
identifica fácilmente como estable cuando la potencia de salida es
la misma en ambas direcciones. A continuación, pueden identificarse
los saltos de modo y entonces el algoritmo puede proceder como se ha
definido anteriormente.
Se apreciará que la presente invención
proporciona un procedimiento que reduce el número de parámetros
requeridos para realizar una medición de puntos de funcionamiento
estables para un diodo láser. La formación de una matriz que
representa la salida del láser para parámetros de sintonización
específicos y la selección de puntos de funcionamiento específicos
dentro de la matriz que representan puntos de funcionamiento
estables para un diodo láser a intensidades de funcionamiento
específicas permite una calibración más eficaz del láser.
Las expresiones "comprende/que comprende" y
las expresiones "que presenta/incluye" cuando se utilizan en la
presente memoria haciendo referencia a la presente invención se
utilizan para especificar la presencia de componentes, etapas,
unidades o características mencionadas pero no excluyen la presencia
o adición de uno o más grupos, componentes, etapas, unidades o
características diferentes de los mismos.
Claims (18)
1. Procedimiento de calibración de un láser
sintonizable de múltiples secciones a una frecuencia específica,
estando caracterizado el procedimiento porque presenta las
etapas siguientes:
- a)
- medir los valores de salida desde el láser como una función de intensidades de sintonización aproximada del láser,
- b)
- formar una primera matriz discreta a partir de dichos valores de salida desde el láser, estando definida la matriz por una característica óptica de la salida del láser a intensidades de sintonización de determinación específicas,
- c)
- procesar la matriz para determinar puntos de funcionamiento estables dentro de la matriz, definiendo los puntos de funcionamiento estables unas frecuencias específicas en las que puede hacerse funcionar el láser, y
- d)
- determinar si los puntos de funcionamiento estables determinados representan los puntos de funcionamiento estables óptimos, mediante las subetapas siguientes:
- aumentar en un píxel el conjunto de puntos que se definen como que contribuyen a un borde en la matriz de bordes para ampliar los bordes de la matriz, obligando de este modo a los bordes a unirse cuando existan espacios;
- determinar si hay más de un punto de funcionamiento en cada región limitada aumentada, y
- determinar si la diferencia entre la frecuencia medida del láser y el espaciado de saltos de modo está dentro de un valor predeterminado y, si está dentro del valor, calcular el promedio de la pluralidad de puntos de funcionamiento para proporcionar un único punto de funcionamiento dentro de esa región limitada o, si no está dentro de ese valor predeterminado, permitir una pluralidad de puntos dentro de esa región.
2. Procedimiento según la reivindicación 1, en
el que los valores de salida desde el láser son mediciones
indicativas de las características del láser, estando seleccionadas
las características a partir de una o más de las siguientes:
- a)
- la potencia de salida del láser,
- b)
- la longitud de onda del láser,
- c)
- la SMSR del láser,
- d)
- el ancho de línea, o
- e)
- algunas otras características del láser.
3. Procedimiento según cualquiera de las
reivindicaciones anteriores, en el que la matriz puede visualizarse
de manera gráfica como un plano de valores relacionados con la
potencia de salida del láser con parámetros de sintonización de
control específicos.
4. Procedimiento según cualquiera de las
reivindicaciones anteriores, en el que la etapa de procesar la
matriz incluye las etapas siguientes:
- a)
- definir regiones dentro de la matriz en las que está presente un borde o discontinuidad, y
- b)
- determinar unos puntos que están limitados por discontinuidades o bordes, representando los puntos determinados unas regiones de funcionamiento estables para los parámetros de sintonización específicos.
5. Procedimiento según la reivindicación 4, en
el que la etapa de definir unas regiones dentro de la matriz en las
que está presente un borde o discontinuidad se lleva a cabo
realizando una detección de bordes en los valores de matriz,
produciendo la detección de bordes la formación de un conjunto de
valores de la matriz procesada, presentando el conjunto de valores
de la matriz procesada unos valores indicativos de si está presente
un borde.
6. Procedimiento según la reivindicación 5, en
el que la detección de bordes se realiza:
- a)
- procesando la matriz mediante la utilización de un algoritmo de filtrado en una dirección sustancialmente equivalente a la dirección de saltos de modo de la salida del láser,
- b)
- determinando un conjunto de puntos máximos dentro de la matriz filtrada,
- c)
- determinando un conjunto de puntos mínimos dentro de la matriz filtrada,
- d)
- estableciendo un conjunto de pares máximos y mínimos,
- e)
- determinando la diferencia entre el máximo y el mínimo de cada par para proporcionar una pluralidad de valores de diferencia, y
- f)
- aplicando un umbral a los valores de diferencia determinados de tal modo que los valores superiores a un valor umbral determinado se definen como un borde dentro de la matriz.
7. Procedimiento según la reivindicación 6, en
el que la aplicación de umbral se lleva a cabo mediante la
utilización del valor del parámetro de salto de modo como un valor
umbral.
8. Procedimiento según la reivindicación 7, en
el que el valor del parámetro de salto de modo seleccionado se
selecciona mediante la selección de una secuencia de valores y
mediante la selección del valor que proporciona el mejor
resultado.
9. Procedimiento según cualquiera de las
reivindicaciones anteriores, en el que la etapa de determinar puntos
de funcionamiento estables dentro del conjunto de valores de la
matriz se realiza llevando a cabo una operación de mapas de
distancias en el conjunto de matriz procesada para determinar las
distancias entre los bordes adyacentes y seleccionar los puntos que
están en el centro de la región limitada por los bordes.
10. Procedimiento según cualquiera de las
reivindicaciones anteriores, que comprende la repetición de una o
más etapas anteriores con diferentes parámetros de sintonización
para proporcionar una pluralidad de matrices, siendo cada matriz
indicativa de un conjunto de puntos de funcionamiento para un
conjunto particular de parámetros de sintonización, y el enlace de
puntos de funcionamiento desde diferentes matrices para formar una
región de sintonización continua.
11. Procedimiento según la reivindicación 10,
en el que el enlace de puntos desde diferentes matrices se realiza
uniendo unos puntos que cumplen los criterios de que un punto de una
primera matriz y un punto de la segunda matriz se unen si el punto
de la segunda matriz presenta una intensidad anterior y posterior
mayor pero estas intensidades están dentro de un valor de distancia
predeterminado de los dos puntos de funcionamiento.
12. Procedimiento según la reivindicación 10, en
el que se mide la frecuencia de cada punto de funcionamiento y se
unen los puntos de funcionamiento que son adyacentes y presentan una
diferencia de frecuencia dentro de un intervalo predeterminado.
13. Procedimiento según la reivindicación 1, que
comprende las etapas adicionales siguientes:
- a)
- medir la potencia de salida del láser como una función de las secciones de sintonización aproximada,
- b)
- determinar un mapa de bordes o discontinuidades en los datos medidos,
- c)
- definir puntos que se encuentran entre los bordes hallados,
- d)
- repetir las etapas a-c para valores diferentes de intensidad de sintonización fina, y
- e)
- unir puntos para formar líneas continuas, estando determinadas las líneas como una función de una intensidad de sintonización fina cuando la sintonización de la longitud de onda del láser es continua, y siendo indicativas de regiones de sintonización continua del láser.
14. Procedimiento según la reivindicación 13,
que incluye además la etapa siguiente:
- interpolar las líneas halladas en la parte e para obtener las intensidades reales para conseguir las frecuencias de salida deseadas del dispositivo.
15. Procedimiento según la reivindicación 14,
que incluye además la etapa de muestrear la longitud de onda a lo
largo de las líneas continuas antes de la interpolación.
16. Procedimiento según la reivindicación 13,
que comprende además las etapas siguientes:
- acoplar una parte de la luz láser a través de un filtro de alta fineza sobre un fotodiodo, estando configurado el filtro de alta fineza de tal modo que los picos en su transmisividad se encuentran a frecuencias de calibración deseadas del láser,
- explorar el láser a través de cada una de las líneas halladas en la parte (e) mientras se monitoriza la salida de un fotodiodo, y
- en el que la presencia de una salida detectada del fotodiodo que indica que hay luz presente en la salida del filtro es indicativa de que el láser está a una frecuencia requerida para la calibración, pudiendo registrarse las intensidades en el láser para esas frecuencias requeridas para proporcionar una generación de una tabla de consulta para el láser.
17. Procedimiento según las reivindicaciones 13
a 16, en el que si se desea un control de la potencia de salida, se
repiten las etapas a-e según la reivindicación 13
para intensidades de ganancia diferentes, y se interpolan los
puntos finales obtenidos para encontrar una potencia de salida
deseada para cada frecuencia de salida.
18. Procedimiento según cualquiera de las
reivindicaciones 1 a 17, en el que el láser sintonizable de
múltiples secciones es un láser sintonizable.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
IE2002/0187 | 2002-03-11 | ||
IE20020187A IES20020187A2 (en) | 2002-03-11 | 2002-03-11 | Method for optimising the calibration process of a tuneable laser |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
ES2335755T3 true ES2335755T3 (es) | 2010-04-05 |
Family
ID=27799835
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
ES03708443T Expired - Lifetime ES2335755T3 (es) | 2002-03-11 | 2003-03-11 | Procedimiento para optimizar el proceso de calibracion de un laser sintonizable. |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7436864B2 (es) |
EP (1) | EP1483814B8 (es) |
AT (1) | ATE447783T1 (es) |
AU (1) | AU2003212618A1 (es) |
DE (1) | DE60329904D1 (es) |
ES (1) | ES2335755T3 (es) |
IE (1) | IES20020187A2 (es) |
WO (1) | WO2003077382A2 (es) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SE532997C2 (sv) * | 2008-03-20 | 2010-06-08 | Syntune Ab | Förfarande för att undertrycka sidmoder hos en avstämbar laser |
SE535247C2 (sv) * | 2010-10-06 | 2012-06-05 | Syntune Ab | Förfarande för att kalibrera en avstämbar laser |
SE535248C2 (sv) | 2010-10-06 | 2012-06-05 | Syntune Ab | Förfarande för att kalibrera en avstämbar laser |
WO2020166615A1 (ja) | 2019-02-14 | 2020-08-20 | 古河電気工業株式会社 | 波長可変光源装置および波長可変レーザ素子の制御方法 |
CN116449139B (zh) * | 2023-06-15 | 2023-08-18 | 北京新科以仁科技发展有限公司 | 激光器的性能检测方法、装置、设备及存储介质 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5812572A (en) * | 1996-07-01 | 1998-09-22 | Pacific Fiberoptics, Inc. | Intelligent fiberoptic transmitters and methods of operating and manufacturing the same |
SE519081C3 (sv) | 1998-01-21 | 2003-02-19 | Altitun Ab | Förfarande och anordning för optimering av lasrars operationspunkt, jämte anordning |
SE518827C2 (sv) | 1999-02-17 | 2002-11-26 | Altitun Ab | Metod för karakterisering av en avstämbar laser |
-
2002
- 2002-03-11 IE IE20020187A patent/IES20020187A2/en not_active IP Right Cessation
-
2003
- 2003-03-11 WO PCT/IE2003/000041 patent/WO2003077382A2/en not_active Application Discontinuation
- 2003-03-11 AU AU2003212618A patent/AU2003212618A1/en not_active Abandoned
- 2003-03-11 DE DE60329904T patent/DE60329904D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2003-03-11 AT AT03708443T patent/ATE447783T1/de not_active IP Right Cessation
- 2003-03-11 EP EP03708443A patent/EP1483814B8/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-03-11 US US10/507,328 patent/US7436864B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-03-11 ES ES03708443T patent/ES2335755T3/es not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU2003212618A1 (en) | 2003-09-22 |
ATE447783T1 (de) | 2009-11-15 |
US7436864B2 (en) | 2008-10-14 |
EP1483814A2 (en) | 2004-12-08 |
AU2003212618A8 (en) | 2003-09-22 |
EP1483814B8 (en) | 2009-12-16 |
WO2003077382A3 (en) | 2004-06-03 |
EP1483814B1 (en) | 2009-11-04 |
IES20020187A2 (en) | 2003-09-17 |
DE60329904D1 (de) | 2009-12-17 |
US20060072631A1 (en) | 2006-04-06 |
WO2003077382A2 (en) | 2003-09-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6256328B1 (en) | Multiwavelength modelocked semiconductor diode laser | |
US6661816B2 (en) | Multiwavelength modelocked lasers | |
KR100759820B1 (ko) | 긴 공동 단일모드 레이저 다이오드 | |
EP2805179B1 (en) | Optical system for range finding | |
EP1369742A1 (en) | Standard radio frequency signal generating method and device | |
EP2945012A1 (en) | Laser device | |
CN107065619A (zh) | 一种可调谐激光器的波长控制电极参数设定方法和装置 | |
ES2335755T3 (es) | Procedimiento para optimizar el proceso de calibracion de un laser sintonizable. | |
US6385353B1 (en) | Electrically tuneable optical filter | |
US20160363507A1 (en) | Optical time domain reflectometer using polymer wavelength tunable laser | |
JP2005175021A (ja) | 波長可変光源および光送信器 | |
JP2015115411A (ja) | 高速波長掃引光源 | |
KR20050013165A (ko) | 다수의 광파장 검출을 위한 방법 및 장치 | |
RU2480712C2 (ru) | Оптическая система для многочастотной лазерной локации и способ ее осуществления | |
US6885462B2 (en) | Wavelength monitoring device and method of tunable laser sources | |
Lee et al. | Stable and widely tunable dual-wavelength continuous-wave operation of a semiconductor laser in a novel Fabry-Perot grating-lens external cavity | |
JP2009060022A (ja) | 波長走査型光源 | |
JP2008511131A (ja) | ダイオードレーザ | |
Chi et al. | Micro-integrated high-power narrow-linewidth external-cavity tapered diode laser at 762 nm for daylight imaging | |
KR101967669B1 (ko) | 복수개의 빗살 파장 필터를 이용한 다중 빗살 파장 가변 광원 장치 | |
Tanaka et al. | Optical spectrum analyzer based on arrayed waveguide grating for high-speed optical communication systems | |
US7359648B2 (en) | Wavelength tuning optimization of semiconductor lasers | |
IE20020187U1 (en) | Method for optimising the calibration process of a tuneable laser | |
IES83362Y1 (en) | Method for optimising the calibration process of a tuneable laser | |
Shirao et al. | 112 GBaud PAM-8 operation of 2-ch EML array on high-performance sub-mount |