ES2311863T3 - Procedimiento y dispositivo optoelectronico de inspeccion de una superficie de revolucion de un recipiente. - Google Patents
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Abstract
Procedimiento optoelectrónico de inspección de una superficie de revolución (T) de un recipiente (3) que presenta un eje de revolución (X), comprendiendo el procedimiento las siguientes etapas: - iluminar la superficie a inspeccionar (T) con ayuda de un sistema de iluminación (5) que presenta una superficie de iluminación (S) con un eje de revolución (A) situado en la prolongación del eje de revolución (X) del recipiente y que comprende al menos tres espectros de radiación dados separados entre sí, - formar una imagen (I) de la superficie a inspeccionar con ayuda de una cámara (7), para cada sector angular (T 1, T 2, T 3) de la superficie a inspeccionar seleccionando únicamente los rayos luminosos reenviados por la superficie a inspeccionar y que presentan uno de dichos espectros de radiación dados, para eliminar los rayos luminosos parásitos cuyo espectro de radiación no corresponde al seleccionado para dicho sector angular, - y analizar la imagen formada para controlar características de la superficie a inspeccionar, caracterizado porque consiste: - en iluminar la superficie a inspeccionar (T) con el sistema de iluminación (5) cuya superficie de iluminación (S) es de revolución dividida según al menos tres sectores angulares (S 1, S 2, S 3) que emiten cada uno un espectro de radiación dado de modo que en cada punto de los sectores angulares (S1, S2, S3) el espectro de radiación emitido está separado del espectro de radiación emitido en las proximidades de un punto simétrico con respecto al eje de revolución (A).
Description
Procedimiento y dispositivo optoelectrónico de
inspección de una superficie de revolución de un recipiente.
La presente invención se refiere al campo
técnico de la inspección optoelectrónica de objetos huecos o
recipientes, en sentido general, de carácter particularmente
transparente o translúcido, tales como por ejemplo, botellas, botes
o frascos de vidrio, para controlar o evaluar características que
presenta dicho recipiente.
El objeto de la invención encuentra una
aplicación particularmente ventajosa para detectar a nivel de la
boca de un objeto transparente o translúcido, defectos de
superficie.
El objeto de la invención encuentra otra
aplicación que pretende detectar los defectos llamados "de
elevación de la boca" correspondientes a la presencia de una
rebaba en la parte interna del borde de la boca de un
recipiente.
En la técnica anterior, se conocen muchas
soluciones técnicas para inspeccionar recipientes para determinar
particularmente defectos. De manera general, un dispositivo de
inspección comprende un sistema de iluminación que produce un haz
luminoso incidente de revolución que ilumina la superficie de la
boca del recipiente. Dicho dispositivo de inspección también
comprende un sistema de formación de una imagen de la superficie de
la boca. Dicho sistema comprende particularmente una cámara y un
objetivo dispuestos para recuperar los haces luminosos reflejados
por la boca del recipiente. La presencia de un defecto perturba la
reflexión de la luz, de modo que un análisis de la señal de vídeo
suministrada por la cámara permite determinar la presencia de dicho
defecto.
Dicho dispositivo de inspección presenta un
inconveniente principal vinculado al problema de los reflejos
parásitos de los rayos luminosos incidentes procedentes en
particular del fondo de la pared del recipiente. Estos parásitos
luminosos que aparecen en la imagen complican el tratamiento de la
imagen, para determinar la presencia efectiva o no de defectos.
Existe un riesgo real de que un recipiente se considere defectuoso
sin razón debido a dichos parásitos. A la inversa y de forma mucho
más grave, estos parásitos pueden incluso impedir a veces la
detección de defectos que presenta el recipiente.
El documento DE 299 07 762 describe un
dispositivo que pretende detectar los defectos que aparecen en el
cuello de un recipiente empleando al menos dos fuentes luminosas de
diferentes colores. Por ejemplo, el cuello de un recipiente es
iluminado por tres haces luminosos concéntricos de color rojo, verde
y azul que iluminan cada uno un sector anular diferente. Debe
observarse que los ángulos de iluminación de las fuentes luminosas
son diferentes para obtener un ángulo adecuado de reflexión de los
haces incidentes que abarque toda la superficie de la boca
inspeccionada.
Se ha demostrado que la colocación de las
fuentes luminosas es relativamente delicada de realizar
correctamente. Por otro lado, el principio de funcionamiento de
dicho dispositivo conduce a la aparición de reflejos parásitos, lo
que perjudica a la calidad de la detección de defectos en los
recipientes.
Aparece por lo tanto la necesidad de disponer de
un método de inspección optoelectrónica de la superficie de
revolución de un objeto hueco, diseñado para eliminar los parásitos
luminosos para dar fiabilidad al procedimiento de inspección de
dichos recipientes.
El objeto de la invención pretende por lo tanto
proponer un procedimiento optoelectrónico de inspección de una
superficie de revolución de un recipiente que comprende las
siguientes etapas:
- -
- iluminar la superficie a inspeccionar con ayuda de un sistema de iluminación que presenta un eje de revolución situado en la prolongación del eje de revolución del recipiente y que comprende al menos tres espectros de radiación dados,
- -
- formar una imagen de la superficie a inspeccionar con ayuda de una cámara,
- -
- y analizar la imagen formada para controlar características de la superficie a inspeccionar.
El procedimiento consiste:
- -
- en iluminar según al menos tres sectores angulares que emiten cada uno un espectro de radiación dado y separado de todos los espectros de los demás sectores,
- -
- y en formar para cada sector angular de la superficie a inspeccionar, una imagen seleccionando únicamente los rayos luminosos reenviados por la superficie y que presentan uno de dichos espectros de radiación dados, para eliminar los rayos luminosos parásitos cuyo espectro de radiación no corresponde al seleccionado para dicho sector angular.
De acuerdo con una variante de realización
preferida, el procedimiento de acuerdo con la invención consiste en
formar, para cada sector angular de la superficie a inspeccionar,
una imagen seleccionando únicamente los rayos luminosos reenviados
por la superficie y procedentes de un sector angular del sistema de
iluminación situado en el mismo lado que dicho sector angular de la
superficie a inspeccionar con respecto al eje de revolución.
De acuerdo con esta variante de realización
preferida, los parásitos debidos a la luz procedente de la parte de
la fuente opuesta son suprimidos ya que solamente se tiene en cuenta
la luz procedente de la parte de la fuente adyacente, para la
inspección de la superficie del recipiente.
De acuerdo con otra variante de realización, el
procedimiento de acuerdo con la invención consiste, para cada sector
angular de la superficie a inspeccionar, en formar una imagen
seleccionando únicamente los rayos luminosos reenviados por la
superficie y procedentes de un sector angular del sistema de
iluminación situado en el lado opuesto de dicho sector angular con
respecto al eje de revolución.
Ventajosamente, el procedimiento consiste en
iluminar la superficie a inspeccionar en sectores angulares de
valores iguales.
También ventajosamente, el procedimiento
consiste en iluminar con espectros de radiación que corresponden
cada uno a un color dado.
Una aplicación del procedimiento de acuerdo con
la invención consiste en analizar la imagen formada para determinar
los defectos de rebaba o de superficie de una boca de un
recipiente.
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Otro objeto de la invención es proponer un
dispositivo de inspección que comprende:
- -
- un sistema de iluminación que presenta un eje de revolución situado en la prolongación del eje de revolución del recipiente y que comprende al menos tres espectros de radiación dados,
- -
- y un sistema de formación de una imagen de la superficie a inspeccionar que comprende una cámara y medios de análisis de la imagen para controlar características de la superficie a inspeccionar.
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De acuerdo con la invención,
- -
- el sistema de iluminación presenta una superficie de iluminación dividida en al menos tres sectores angulares que emiten cada uno un espectro de radiación dado y separado de todos los espectros de los demás sectores,
- -
- el sistema de formación, forma para cada sector angular de la superficie a inspeccionar, una imagen seleccionando únicamente los rayos luminosos reenviados por la superficie y que presentan uno de dichos espectros de radiación dados, para eliminar los rayos luminosos parásitos cuyo espectro de radiación no corresponde al seleccionado para dicho sector angular.
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De acuerdo con una variante de realización
preferida, el dispositivo comprende un sistema de formación de
imágenes que forma, para cada sector angular de la superficie a
inspeccionar, una imagen seleccionando únicamente los rayos
luminosos reenviados por la superficie y que proceden de un sector
angular del sistema de iluminación situado en el mismo lado que
dicho sector angular de la superficie a inspeccionar, con respecto
al eje de revolu-
ción.
ción.
De acuerdo con otra variante de realización, el
dispositivo comprende un sistema de formación de imágenes que forma,
para cada sector angular de la superficie a inspeccionar, una imagen
seleccionando únicamente los rayos luminosos reenviados por la
superficie y que proceden de un sector angular del sistema de
iluminación situado en el lado opuesto a dicho sector angular de la
superficie a inspeccionar, con respecto al eje de revolución.
De acuerdo con una primera realización del
sistema de iluminación, dicho sistema comprende una fuente anular
que presenta el conjunto de espectros de radiación dados y una serie
de al menos tres filtros dispuestos entre la fuente anular y la
superficie a inspeccionar, extendiéndose cada uno en un sector
angular, presentando cada filtro un espectro de transmisión dado
separado del de los demás filtros.
De acuerdo con una segunda realización del
sistema de iluminación, dicho sistema comprende una serie de fuentes
luminosas elementales tales como diodos electroluminiscentes
distribuidos según al menos tres sectores angulares, que emiten para
cada sector angular un espectro luminoso separados entre sí.
De acuerdo con una primera realización del
sistema de formación de imágenes, dicho sistema comprende una serie
de al menos tres filtros interpuestos entre la cámara y la
superficie a inspeccionar extendiéndose cada uno en un sector
angular, presentando cada filtro un espectro de transmisión dado
separado del de los demás filtros.
De acuerdo con una segunda realización del
sistema de formación de imágenes, dicho sistema comprende medios de
tratamiento de las señales suministradas por una cámara en color
para obtener, para cada sector angular de la superficie a
inspeccionar, una señal representativa de un espectro de radiación
dado.
Diversas características más resultan de la
descripción que se realiza a continuación en referencia a los
dibujos adjuntos que muestran, a modo de ejemplos no limitantes,
realizaciones del objeto de la invención.
La Figura 1 es una vista en alzado de un
dispositivo de inspección de acuerdo con la invención empleado de
acuerdo con una primera realización.
La Figura 2 es una vista esquemática en alzado
que explicita el principio del dispositivo de inspección de acuerdo
con la invención de acuerdo con una segunda realización.
La Figura 3 es una vista esquemática en el plano
que explicita el principio del dispositivo de inspección de acuerdo
con la invención ilustrado en la Figura 2.
Tal como resulta más exactamente de las Figuras
1 a 3, el objeto de la invención se refiere a un dispositivo
optoelectrónico (1) para inspeccionar una superficie de revolución
(T) de un recipiente (3) en sentido general. Este recipiente (3) que
presenta un eje de simetría o de revolución (X), presenta preferible
pero no exclusivamente un carácter transparente o translucido. Dicho
dispositivo de inspección (1) comprende un sistema (5) de
iluminación de la superficie a inspeccionar (T) y un sistema (6) de
formación de una imagen de la superficie a inspeccionar (T). Dicho
sistema de formación (6) comprende particularmente una cámara (7)
provista de un objetivo (8) y conectada a una unidad de tratamiento
y de análisis adaptada para analizar la señal de vídeo suministrada
por la cámara para controlar características de la superficie a
inspeccionar (T). La unidad de tratamiento y de análisis no se
describirá con más precisión en la medida en que no forma parte del
objeto de la invención y forma parte de los conocimientos del
especialista en la técnica.
Tal como resulta más exactamente de las Figuras
2 y 3, el sistema de iluminación (5) presenta una superficie de
iluminación (S) que posee un eje de revolución (A) y que presenta
cualesquiera formas y tamaños de revolución por ejemplo, cilíndrica,
cónica, semiesférica o plana como se ilustra en las figuras. Esta
superficie de iluminación S se divide en al menos tres sectores
angulares (S_{1}, S_{2}, S_{3}), que emiten cada uno un
espectro de radiación dado, separado de todos los espectros de los
demás sectores. En otras palabras, a cada sector angular (S_{1},
S_{2}, S_{3}) se le atribuye un espectro de radiación dado que
está separado de los demás espectros asignados a los demás
sectores. De este modo, los espectros de radiación no tienen ningún
valor común, es decir no se solapan. Preferiblemente, puede preverse
que cada espectro de radiación corresponda a un color dado por
ejemplo rojo, verde, azul o amarillo. En el ejemplo ilustrado en las
Figuras 2 y 3, los sectores angulares (S_{1}, S_{2}, S_{3})
emiten espectros de radiación respectivamente rojo (R), verde (V) y
azul (B). Debe observarse que, en la invención, cada sector angular
(S_{1}, S_{2}, S_{3}) de la superficie de iluminación S
comprende un espectro de radiación dado, de modo que en cada punto
de los sectores angulares (S_{1}, S_{2}, S_{3}), el espectro
de radiación emitido está separado del espectro de radiación emitido
en las proximidades de un punto opuesto o simétrico tomado con
respecto al eje de revolución (A).
El sistema de iluminación (5), tal como se ha
descrito anteriormente, permite iluminar la superficie a
inspeccionar (T) según al menos, y en el ejemplo ilustrado, tres
sectores angulares (T_{1}, T_{2}, T_{3}). En otras palabras,
la superficie a inspeccionar T se encuentra dividida en al menos
tres sectores angulares (T_{1}, T_{2}, T_{3}) que reciben cada
uno al menos un espectro de radiación dado. Debe observarse que el
recipiente 3 se coloca de manera que su eje de revolución (X) se
encuentre situado en la prolongación del eje de revolución (A) del
sistema de iluminación. En el ejemplo ilustrado en las Figuras 2 y
3, los sectores angulares (T_{1}, T_{2}, T_{3}) de la
superficie de la boca (T) reciben los espectros de radiación que
corresponden respectivamente a rojo (R), verde (V) y azul (B). De
este modo, debe entenderse que se asigna, a cada sector angular
(T_{1}, T_{2}, T_{3}) de la superficie a inspeccionar (T), un
espectro de radiación separado de los demás espectros de radiación.
Cada sector angular (T_{1}, T_{2}, T_{3}) de la superficie de
la boca (T) presenta preferiblemente, una amplitud angular idéntica,
a saber 120º en el ejemplo ilustrado. En el caso en que la
superficie a inspeccionar (T) se divide en cuatro sectores, cada uno
de ellos presenta una amplitud angular de 90º.
De acuerdo con una primera variante de
realización ilustrada en la Figura 1, el sistema de iluminación (5)
comprende una serie de fuentes luminosas elementales (10) tales como
diodos electroluminiscentes distribuidos según tres sectores
angulares (S_{1}, S_{2}, S_{3}) que emiten, para cada sector
angular, un espectro de radiación dado. En el ejemplo ilustrado,
puede estar previsto montar en cada sector angular (S_{1},
S_{2}, S_{3}) diodos de un color dado por ejemplo rojo, verde o
azul.
En el ejemplo ilustrado en la Figura 1 que prevé
más particularmente a un dispositivo de detección de defectos de
superficie, el sistema de iluminación (5) comprende un sistema
óptico (12) dispuesto entre las fuentes luminosas elementales (10) y
la superficie a inspeccionar (T) y adaptado para asegurar la
convergencia o la focalización del anillo luminoso uniforme en un
punto de convergencia (F) situado en el eje de simetría (X) del
recipiente. De acuerdo con este ejemplo, la superficie (T) de la
boca a inspeccionar es iluminada por lo tanto por un haz luminoso
incidente uniforme y convergente. Por supuesto, el objeto de la
invención se aplica sea cual sea la naturaleza de la iluminación.
De este modo, la luz emitida en dirección al recipiente puede
presentar características muy diversificadas tales como por ejemplo,
divergente o convergente, más o menos amplia, homogénea, difusa,
etc.
De acuerdo con una segunda variante de
realización ilustrada más particularmente en las Figuras 2 y 3, el
sistema de iluminación (5) comprende una fuente luminosa anular (13)
de eje de revolución (A), que presenta el conjunto de espectros de
radiación y una serie de filtros (14_{1}, 14_{2}, 14_{3})
dispuestos entre la fuente anular (13) y la superficie a
inspeccionar (T). De este modo, cada filtro (14_{1}, 14_{2},
14_{3}) se extiende en un sector angular dado (S_{1}, S_{2},
S_{3}) de la superficie de iluminación y presenta un espectro de
transmisión dado separado del de los demás filtros. En otras
palabras, cada filtro (14_{1}, 14_{2}, 14_{3}) deja pasar un
espectro de radiación dado y bloquea a los demás espectros de
radiación. En el ejemplo considerado, cada sector angular (S_{1},
S_{2}, S_{3}) de la superficie de iluminación (S) está equipado
con un filtro tal que cada uno de ellos permite la transmisión de un
espectro de radiación diferente, respectivamente rojo (R), verde (V)
y azul (B).
De acuerdo con otra característica de la
invención, el sistema (6) forma, para cada sector angular (T_{1},
T_{2}, T_{3}) de la superficie a inspeccionar (T), una imagen
seleccionando únicamente los rayos luminosos reenviados por la
superficie (T) y que presentan uno de dichos espectros de radiación
dados, para eliminar los rayos luminosos parásitos cuyo espectro de
radiación no corresponda al seleccionado para dicho sector angular.
En otras palabras, el sistema (6) recupera, para cada sector angular
(T_{1}, T_{2}, T_{3}) de la superficie a inspeccionar (T),
únicamente los rayos luminosos reenviados por la superficie a
inspeccionar (T) y que presentan, para cada sector angular (T_{1},
T_{2}, T_{3}) de la superficie a inspeccionar (T), el espectro
de radiación seleccionado o asignado a dicho sector angular. Debe
entenderse que cada sector angular (T_{1}, T_{2}, T_{3}) de la
superficie a inspeccionar (T) puede recibir varios espectros de
radiación. Sin embargo, cada espectro de radiación recibido por un
sector angular (T_{1}, T_{2}, T_{3}) de la superficie a
inspeccionar (T), que es diferente al asignado a dicho sector
angular, es eliminado ya que se considera un parásito luminoso.
Como ejemplo, la Figura 2 muestra que
particularmente cada uno de los sectores angulares (T_{1},
T_{3}) de la superficie a inspeccionar (T) reenvía dos espectros
de radiación, a saber rojo (R) y azul (B). Sin embargo, el sistema
de formación 6 está adaptado para recuperar, para estos sectores
angulares (T_{1}, T_{3}), únicamente los espectros de radiación
atribuidos a estos sectores, a saber respectivamente rojo (R) y azul
(B).
En el ejemplo ilustrado en las Figuras 2 y 3, la
selección de los espectros de radiación para cada sector angular de
la superficie de la boca (T) se realiza mediante la utilización de
filtros ópticos idénticos en número y en posición a los sectores
angulares de la superficie a inspeccionar (T). De este modo se
interponen filtros (15_{1}, 15_{2}, 15_{3}) entre la cámara
(8) y la superficie a inspeccionar (T) que se extienden en una
amplitud angular respectivamente (U_{1}, U_{2}, U_{3})
correspondiente a la de un sector angular (T_{1}, T_{2},
T_{3}) de la superficie de la boca (T). Cada filtro (15_{1},
15_{2}, 15_{3}) presenta un espectro de transmisión dado
separado del de los demás filtros. En otras palabras, cada filtro
deja pasar un espectro de radiación dado y bloquea a los demás
espectros de radiación. En el ejemplo ilustrado en las Figuras 2 y
3, cada sector angular (U_{1}, U_{2}, U_{3}) de la superficie
de un filtro es tal que cada uno de ellos permite la transmisión de
un espectro de radiación diferente, respectivamente rojo (R), verde
(V) y azul (B).
La Figura 1 ilustra una segunda variante, a
saber electrónica o informática, para seleccionar entre los haces
reenviados por la superficie a inspeccionar (T), los espectros de
radiación para cada uno de los sectores angulares de dicha
superficie a inspeccionar. A este respecto, los haces reenviados por
la superficie a inspeccionar (T) son recuperados por una cámara en
color cuya unidad de análisis y de tratamiento asociada permite
separar los espectros de radiación, a saber rojo, verde y azul, para
cada sector angular de la superficie a inspeccionar (T). Tal como se
ilustra, de este modo se obtiene, para cada sector angular de la
superficie a inspeccionar (T), una imagen roja (I_{R}), verde
(I_{V}) y azul (I_{B}) cuya combinación permite obtener una
imagen (I_{T}) de la superficie inspeccionada fragmentada en
sectores angulares. Para cada uno de los sectores angulares, los
medios de tratamiento permiten obtener una señal representativa de
un espectro de radiación dado separado del de los demás sectores
angulares. Debe observarse que este tratamiento informático
realizado a nivel de las señales suministradas por la cámara en
color permite llegar a un tratamiento equivalente al realizado con
los filtros descritos en relación con las Figuras 2 y 3.
De acuerdo con un ejemplo de realización
preferida, cada sector angular (S_{1}, S_{2}, S_{3}) del
sistema de iluminación (5) se sitúa en el mismo lado con respecto al
eje de revolución (X) que un sector angular de la superficie de la
boca (T), cuyo espectro de radiación recuperado corresponde al del
sector angular (S_{1}, S_{2}, S_{3}) cercano. De este modo,
tal como resulta del ejemplo ilustrado en las Figuras 2 y 3, el
sector angular (S_{3}) que emite un espectro de radiación azul se
sitúa en el mismo lado con respecto al eje de revolución (X), que el
sector angular (T_{3}) de la superficie de la boca a partir del
que se recupera el espectro de radiación azul. De este modo, el
sistema de formación de imágenes (6) forma una imagen seleccionando
los rayos luminosos reenviados para cada sector angular de la
superficie a inspeccionar T, situado en el mismo lado que el sector
angular del sistema de iluminación.
De acuerdo con este ejemplo de realización
preferida, el dispositivo (1) de acuerdo con la invención permite
separar totalmente los componentes de la luz llamada opuesta y
adyacente. En otras palabras, los haces luminosos reenviados por la
superficie a inspeccionar (T) y que formarán la imagen proceden
únicamente de los haces luminosos incidentes procedentes de un
sector de iluminación adyacente, es decir situado en el mismo lado
con respecto al eje de revolución (X).
De este modo, los rayos luminosos reenviados por
la superficie de la boca (T) de un sector dado no reenvían los haces
luminosos procedentes de un sector angular de la superficie de
iluminación opuesto, ya que los rayos luminosos reenviados son
bloqueados por el filtro. Observando un sector angular (por ejemplo
T_{1}) iluminado, por ejemplo en rojo a través del filtro rojo
(14_{1}) y que no recibe ninguna luz opuesta verde o azul para el
sector rojo, solamente la luz roja adyacente al sector angular
(T_{1}) contribuye a la imagen. Por lo tanto, los parásitos
procedentes de los haces opuestos pueden suprimirse, lo que ofrece
una mejor discriminación de los defectos.
Debe observarse que para algunas aplicaciones,
puede preverse seleccionar únicamente los rayos luminosos reenviados
por la superficie a inspeccionar (T) y procedentes de un sector
angular del sector de iluminación que se encuentra situado en el
lado opuesto, con respecto al eje de revolución (X), al sector
angular de dicha superficie a inspeccionar. Por ejemplo, en el
ejemplo ilustrado, puede preverse que el filtro (15_{1}) que se
extiende en el sector angular (U_{1}) permita la transmisión del
espectro de radiación azul que es emitido por el sector angular
(S_{3}) situado en el lado opuesto con respecto al eje de
revolución (X), al filtro (15_{1}).
La invención no se limita a los ejemplos
descritos y representados, ya que pueden aportarse diversas
modificaciones de la misma sin salir de su marco.
Claims (11)
1. Procedimiento optoelectrónico de inspección
de una superficie de revolución (T) de un recipiente (3) que
presenta un eje de revolución (X), comprendiendo el procedimiento
las siguientes etapas:
- -
- iluminar la superficie a inspeccionar (T) con ayuda de un sistema de iluminación (5) que presenta una superficie de iluminación (S) con un eje de revolución (A) situado en la prolongación del eje de revolución (X) del recipiente y que comprende al menos tres espectros de radiación dados separados entre sí,
- -
- formar una imagen (I) de la superficie a inspeccionar con ayuda de una cámara (7), para cada sector angular (T_{1}, T_{2}, T_{3}) de la superficie a inspeccionar seleccionando únicamente los rayos luminosos reenviados por la superficie a inspeccionar y que presentan uno de dichos espectros de radiación dados, para eliminar los rayos luminosos parásitos cuyo espectro de radiación no corresponde al seleccionado para dicho sector angular,
- -
- y analizar la imagen formada para controlar características de la superficie a inspeccionar,
caracterizado porque consiste:
- -
- en iluminar la superficie a inspeccionar (T) con el sistema de iluminación (5) cuya superficie de iluminación (S) es de revolución dividida según al menos tres sectores angulares (S_{1}, S_{2}, S_{3}) que emiten cada uno un espectro de radiación dado de modo que en cada punto de los sectores angulares (S_{1}, S_{2}, S_{3}) el espectro de radiación emitido está separado del espectro de radiación emitido en las proximidades de un punto simétrico con respecto al eje de revolución (A).
2. Procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 1, caracterizado porque consiste en formar,
para cada sector angular (T_{1}, T_{2}, T_{3}) de la
superficie a inspeccionar (T), una imagen seleccionando únicamente
los rayos luminosos reenviados por la superficie y procedentes de un
sector angular (S_{1}, S_{2}, S_{3}) del sistema de
iluminación situado en el mismo lado que dicho sector angular de la
superficie a inspeccionar, con respecto al eje de revolución
(X).
3. Procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 1, caracterizado porque consiste en iluminar
la superficie a inspeccionar (T) en sectores angulares de valores
iguales.
4. Procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 1, caracterizado porque consiste en iluminar
con espectros de radiación que corresponden cada uno a un color
dado.
5. Procedimiento de acuerdo con la
reivindicación 1, caracterizado porque consiste en analizar
la imagen formada para determinar los defectos de rebaba o de
superficie de una boca de un recipiente.
6. Dispositivo optoelectrónico de inspección de
una superficie de revolución (T) de un recipiente (3) que presenta
un eje de revolución (X), comprendiendo el dispositivo:
- -
- un sistema de iluminación (5) que presenta una superficie de iluminación (S) con un eje de revolución (A) situado en la prolongación del eje de revolución (X) del recipiente y que comprende al menos tres espectros de radiación dados separados entre sí,
- -
- y un sistema (6) de formación de una imagen (I) de la superficie a inspeccionar que comprende una cámara (7) y medios (9) de análisis de la imagen para controlar características de la superficie a inspeccionar, donde el sistema de formación de imágenes (6) forma, para cada sector angular (T_{1}, T_{2}, T_{3}) de la superficie a inspeccionar, una imagen seleccionando únicamente los rayos luminosos reenviados por la superficie y que presentan uno de dichos espectros de radiación dados, para eliminar los rayos luminosos parásitos cuyo espectro de radiación no corresponda al seleccionado para dicho sector angular,
caracterizado porque:
- -
- el sistema de iluminación (5) presenta una superficie de iluminación de revolución (S) dividida en al menos tres sectores angulares (S_{1}, S_{2}, S_{3}) que emiten cada uno un espectro de radiación dado, de modo que en cada punto de los sectores angulares (S_{1}, S_{2}, S_{3}) el espectro de radiación emitido está separado del espectro de radiación emitido en las proximidades de un punto simétrico tomado con respecto al eje de revolución (A).
7. Dispositivo de acuerdo con la reivindicación
6, caracterizado porque el sistema de formación de imágenes
(6) forma, para cada sector angular (T_{1}, T_{2}, T_{3}) de
la superficie a inspeccionar, una imagen seleccionando únicamente
los rayos luminosos reenviados por la superficie y procedentes de un
sector angular (S_{1}, S_{2}, S_{3}) del sistema de
iluminación situado en el mismo lado que dicho sector angular de la
superficie a inspeccionar, con respecto al eje de revolución
(X).
8. Dispositivo de acuerdo con la reivindicación
6, caracterizado porque el sistema de iluminación (5)
comprende una fuente anular (13) que presenta el conjunto de
espectros de radiación dados y una serie de al menos tres filtros
(14_{1}, 14_{2}, 14_{3}) dispuestos entre la fuente anular
(13) y la superficie a inspeccionar (T), que se extienden cada uno
en un sector angular (S_{1}, S_{2}, S_{3}), presentando cada
filtro un espectro de transmisión dado separado del de los demás
filtros.
9. Dispositivo de acuerdo con la reivindicación
7, caracterizado porque el sistema de iluminación (5)
comprende una serie de fuentes luminosas elementales (10) tales como
diodos electroluminiscentes distribuidos según al menos tres
sectores angulares (S_{1}, S_{2}, S_{3}), que emiten para cada
sector angular un espectro luminoso separados entre sí.
10. Dispositivo de acuerdo con la reivindicación
6, caracterizado porque el sistema de formación de imágenes
(6) comprende una serie de al menos tres filtros (15_{1},
15_{2}, 15_{3}) interpuestos entre la cámara (7) y la superficie
a inspeccionar (T) que se extienden cada uno en un sector angular
(U_{1}, U_{2}, U_{3}), presentando cada filtro un espectro de
transmisión dado separado del de los demás filtros.
11. Dispositivo de acuerdo con la reivindicación
6, caracterizado porque el sistema de formación de imágenes
(6) comprende medios de tratamiento de las señales suministradas por
una cámara en color (7) para obtener, para cada sector angular de la
superficie a inspeccionar (T_{1}, T_{2}, T_{3}), una señal
representativa de un espectro de radiación dado.
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