ES2279894T3 - Elemento sensor de desplazamiento optico. - Google Patents
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Abstract
Elemento sensor de desplazamiento óptico que comprende al menos dos superficies esencialmente paralelas (1, 2) que están separadas por una cavidad definida por un separador (5) y las superficies (1, 2), siendo variable la distancia entre las superficies, en el que una primera de dichas superficies (1) está colocada en un soporte al menos parcialmente transparente (3) y proporcionándose con un patrón reflectante, siendo dicha segunda superficie (2) una superficie reflectante, caracterizado porque el patrón reflectante se conforma como una lente de difracción.
Description
Elemento sensor de desplazamiento óptico.
La presente invención se refiere a un elemento
sensor de desplazamiento óptico. Un ejemplo puede ser un sensor de
presión o un micrófono, que comprende dos superficies esencialmente
planas que están separadas por una cavidad que está definida por un
separador, siendo variable la distancia entre las superficies en
función de la fluctuación de presión en el entorno en relación a la
presión en la cavidad. El cambio en la distancia entre las
superficies puede estar causado por la deflexión de una o las dos
superficies, o por compresión del separador.
Hasta hace poco tiempo, los sensores de
desplazamiento como los micrófonos se han basado en estructuras de
condensador y medidas de impedancia. Esto tiene una serie de
desventajas relacionadas con la sensibilidad, la polarización de
alta tensión, el aislamiento entre capas, la alineación y el
posicionamiento de membrana en relación con el electrodo posterior,
los altos requisitos de preamplificadores y la respuesta no lineal,
todo lo cual tiene como resultado soluciones costosas y
complicadas.
Los micrófonos ópticos son capaces de resolver
muchos de los problemas importantes de los que adolecen los
sensores capacitivos. No existen problemas con la polarización o la
necesidad de aislamiento eléctrico. Los sensores interferométricos
son capaces de alcanzar igual o mejor sensibilidad que los sensores
de desplazamiento capacitivos con menor demanda de componentes
electrónicos, pero hasta ahora estas soluciones han sido
relativamente caras, con lo que el problema con alineación y
posicionamiento no se ha resuelto.
En Hall N.A. y Deterkin F.L.
"Self-calibrating Micromachined Microphones with
Integrated Optical Displacement Detection", Transducers '01, 11ª
Conferencia Internacional sobre Sensores y Accionadores de Estado
Sólido, Munich, Alemania, 10 a 14 de junio de 2001, se exponen
estos problemas y se sugiere una solución alternativa que
implementa redes de difracción ópticas para medida del
desplazamiento.
El procedimiento descrito en el artículo se basa
en parte en el modulador óptico descrito en el documento
US-5.311.360 y proporciona una solución óptica
fiable que usa electrónica sencilla para detectar los
desplazamientos, ya que los circuitos electrónicos sólo miden el
cambio en la intensidad de las señales ópticas reflejadas. La parte
óptica es, sin embargo, todavía bastante complicada, ya que exige el
uso de lentes para dirigir y enfocar la luz a y desde las redes,
requiriendo así que las partes ópticas se coloquen detenidamente
para que funcionen adecuadamente.
El documento US-5.794.023
describe un uso diferente de la óptica de difracción en el que se
colocan dos placas zonales de fase adyacentes entre sí de manera
que la segunda placa cancele el efecto de la primera. Sin
influencias exteriores, la luz transmitida está inalterada.
En el documento US-4.636.076 se
describe un decodificador óptico para medir cambios de posición. Se
usa una red de reflexión además de una red de transmisión que tiene
también avances por incrementos en la posición. Se obtiene un
efecto Moiré que se usa para medir en cuántos periodos se mueve la
red de reflexión con respecto a la red de transmisión.
El documento WO-99/29.139
describe un elemento sensor de desplazamiento óptico (ver, por
ejemplo, la fig. 3, y el texto asociado) que tiene dos superficies
reflectantes, siendo una de dichas superficies móvil. La luz entra
y sale del sensor a través de una guía de onda de entrada y salida.
La segunda superficie reflectante es estática y está cubierta con
un revestimiento de espejo.
Un objeto de esta invención es mejorar la
solución desvelada en el artículo mencionado anteriormente
suministrando un elemento de sensor óptico para medida de
desplazamiento, presión, señales acústicas o similares sin requerir
una óptica complicada. Esto se consigue proporcionando un sensor de
desplazamiento según se describe anteriormente, y que se
caracteriza además según se expone en las reivindicaciones
adjuntas.
Según la invención, la red se proporciona con
capacidad de enfoque de manera que se elimine o reduzca la necesidad
de óptica complicada. Esto se explica más adelante basándose en las
placas zonales de Fresnel. Se conoce que una placa zonal de Fresnel
proporciona una lente plana basada en difracción.
Una lente de difracción está compuesta por un
número de zonas con un salto en el límite de cada zona, teniendo el
límite una distancia r_{j} desde el centro de la lente, y j es el
número de salto. Para una lente de transmisión, la altura óptica
h_{0} del salto es igual a menudo a la longitud de onda
\lambda_{0} del diseño de la lente, y así la altura física
h_{f} puede expresarse como:
h_{p} =
\frac{\lambda_{0}}{n(\lambda_{0}) -
1}
en la que n(\lambda_{0})
es el índice de refracción en
\lambda_{0}.
\newpage
La función de altura general f(r) para
una lente de difracción de transmisión con distancia focal f es:
f(r) =
h_{p} \cdot \left(j - \frac{r^{2}}{2\lambda_{0} f}\right),
r_{j-1} \leq r <
r_{j}
r^{2}_{j} = 2j
\lambda_{0}f, \ j = 1,2,3,...,
N
en la que N es el número de zonas y
n es el índice de
refracción.
La función de fase \Phi(r, \lambda)
cuando se ilumina con una onda plana de longitud de onda \lambda,
se define así como:
\Phi(r,
\lambda) = \frac{2\pi}{\lambda} \cdot [n(\lambda) - 1] \cdot
f(r) = 2\pi \left(\frac{\lambda_{0}}{\lambda}\right) \cdot
\left(\frac{n(\lambda) - 1}{n(\lambda_{0}) - 1}\right) \cdot
\left(j - \frac{r^{2}}{2\lambda_{0}f}\right),
r_{j-1} \leq r <
r_{j}
Esta lente de difracción no puede usarse en
aplicaciones de banda ancha, ya que su distancia focal es
dependiente en gran medida de la longitud de onda, que puede
expresarse como:
f_{m}(\lambda)
= \frac{\lambda_{0}}{m\lambda} \cdot f
(\lambda_{0})
en la que f_{m} es la distancia
focal del orden de difracción m para \lambda \neq
\lambda_{0}.
Si una lente de difracción debe usarse en
reflexión, el salto es igual a la mitad de la longitud de onda del
diseño. En el caso general de orden múltiple, las ecuaciones
correspondientes son las siguientes:
\Phi(r,
\lambda) = \frac{2\pi}{\lambda} \cdot 2 \cdot f(r) = 2\pi
\left(\frac{\lambda_{0}}{\lambda}\right) \cdot \left(j -
\frac{r^{2}}{2\lambda_{0}f}\right), r_{j-1} \leq r
<
r_{j}
r^{2}_{j} =
2j\lambda_{0}f, \ j = 1,2,3,...,
N
y
f_{m}(\lambda)
= \frac{\lambda_{0}}{m\lambda} \cdot f
(\lambda_{0})
El grosor activo grosor de la lente de
difracción es así en este caso:
t_{p}(r) =
\{|\Phi(r, \lambda)_{2\pi}|\}
\frac{\lambda}{4\pi}
despreciando la inclinación de la
trayectoria del
rayo.
Se hace referencia a las fig. 3 y 4 adjuntas
para ilustrar la teoría explicada anteriormente.
Una placa zonal de fase de Fresnel de reflexión
tiene una altura física h_{f} = \lambda/2 y un perfil continuo
dentro de zona, según se ilustra en la fig. 3A. Una placa zonal de
fase binaria tiene sólo dos niveles, y puede obtenerse definiendo
un umbral de la lente a la mitad de la altura según se ilustra en la
fig. 3B. La nueva placa zonal de fase binaria de reflexión tiene
ahora una capa superior reflectante para todas las alturas por
encima del umbral, y una capa inferior reflectante para todas las
alturas por debajo del umbral, y las dos capas están separadas
ahora por sólo h_{f}/2 o \lambda/4, según se ilustra en la fig.
3C. La fig. 3D ilustra la lente desde arriba, en la que los campos
blancos son la capa reflectante inferior y los campos negros son la
capa reflectante superior. Debe observarse que una placa zonal de
fase binaria tiene menos eficacia que una placa zonal de fase de
Fresnel con perfil de altura continuo (fig. 3A).
La fig. 4 ilustra lo mismo que la fig. 3D, pero
este patrón se toma de un diseño real, y las relaciones
altura-anchura son más realistas.
La invención se basa en la idea de separar la
capa reflectante superior y la capa reflectante inferior en dos
estructuras separadas que permitan cambiar la distancia entre las
dos capas. El cambio en altura entre las capas reflectantes
superior e inferior proporcionará un cambio en la intensidad según
se ilustra en la fig. 5. Si la altura es 0, la lente funcionará
como un espejo, y si la altura es ¼ de la longitud de onda, se
obtiene el máximo efecto de
enfoque.
enfoque.
La invención se describirá en más detalle a
continuación, con referencia a los dibujos anexos que ilustran la
invención por medio de ejemplos.
La fig. 1 ilustra la sección transversal de un
sensor según la invención.
La fig. 2 ilustra el principio de la lente de
difracción.
La fig. 3 a)ilustra una sección
transversal de placa zonal de fase de Fresnel.
b) ilustra una sección transversal de una placa
zonal con un umbral marcado.
c)ilustra una sección transversal de una
placa zonal de fase binaria.
d)ilustra una placa zonal binaria vista
desde arriba.
La fig. 4 muestra otro ejemplo de una placa de
fase binaria.
La fig. 5 ilustra la intensidad en el foco de
la lente en función de la distancia entre las superficies
reflectantes superior e inferior.
La fig. 6 es como la fig. 5, pero indica la
parte más sensible cuando se usa como sensor.
La fig. 7 ilustra una forma de realización de
la invención con altura de placa zonal controlada.
La fig. 8 ilustra un sistema que usa una serie
de sensores de desplazamiento según la invención para medidas
acústicas.
La fig. 9 ilustra un sensor de difracción
diferencial según la invención.
La fig. 10 Las señales de los dos niveles
diferentes de altura mostrados en la fig. 9 se enfocan en dos
detectores diferentes.
La fig. 11 ilustra una lente de fase de
difracción en 3-D que trabaja en reflexión.
La fig. 12 ilustra la lente de fase mostrada en
la fig. 11 cuando las dos partes de la lente de reflexión suman la
luz en fase.
La fig. 13 ilustra la producción de una lente
según se muestra en las fig. 11 y 12.
El elemento sensor de desplazamiento óptico
ilustrado en la fig. 1 comprende dos superficies esencialmente
planas 1,2 separadas por una distancia escogida. La primera
superficie 1 está constituida por una red de reflexión óptica
circular o curva que proporciona una lente de difracción reflectante
según se define anteriormente que está colocada en una parte de
elemento transparente 3 hecha, por ejemplo, de plástico o
vidrio.
La segunda superficie 2 está constituida por una
superficie reflectante que está colocada en una parte de elemento
estable 4 de cualquier tipo adecuado, por ejemplo, vidrio.
En los dibujos, las dos partes de elementos 3,4
están separadas por un separador 5 para proporcionar la distancia
escogida entre las superficies 1,2. El cambio en distancia entre las
superficies puede estar causado por la deflexión de una o las dos
superficies.
Alternativamente, el separador 5 puede ser de
cualquier material adecuado que permita que la distancia entre las
superficies cambie con presiones de fluctuación, y puede
proporcionarse alternativamente como una parte de una de las partes
de elementos 3,4.
El elemento de sensor según la invención puede
incluir también un canal de fuga 8 entre la cavidad y el entorno
para un lento equilibrio de presión entre los dos, así como un
filtro de paso bajo físico dependiendo del flujo de aire del canal.
El canal puede colocarse en cualquier parte adecuada del elemento de
sensor, dependiendo de la situación, no teniendo importancia la
posición exacta para esta invención.
La fig. 2 ilustra el principio de la invención
esquemáticamente, ilustrando el modo en que una fuente de luz 6
emite luz hacia la placa zonal, siendo reflejada a continuación
dicha luz hacia un detector 7. Cuando la distancia d entre las
superficies 1,2 se cambia por una distancia \Deltax, se cambia la
eficacia de enfoque de la lente, de lo que se obtiene como
resultado una reducción de la intensidad medida en el detector
7.
La fig. 2 muestra un detector y una fuente de
luz colocada en diferentes posiciones. Como una alternativa, estos
elementos pueden suministrarse en la misma posición óptica, por
ejemplo, mediante el uso de un divisor de haz. Esto requiere un
sistema ligeramente más complicado, pero también permite una unidad
de fuente/detector, que en algunos casos puede ser más conveniente.
Un sistema más compacto puede comprender una fibra óptica única
terminada en el eje óptico al doble de la distancia focal de la
lente, estando colocados la fuente y el detector en el otro extremo
de dicha fibra óptica, estando separados por un acoplador
óptico.
Si se usa una fuente colimada o parcialmente
colimada (es decir, un diodo láser o un LED), puede usarse la lente
binaria ajustable para enfocar la luz en el detector.
También, puede conseguirse una precisión
mejorada usando al menos dos detectores, o posiblemente una matriz
de detectores, colocados en el foco o a lo largo de la línea de
puntos de foco de los órdenes de reflexión adicionales de la lente
de difracción.
El sensor según la invención tiene una membrana
que es sensible a variaciones de presión. Un pequeño cambio de
presión tiene como resultado un desplazamiento \Deltax de la
membrana. Se sitúa una máscara (adherida a un sustrato de vidrio)
encima de la membrana. La combinación de la membrana reflectora y la
máscara funciona como una placa zonal de Fresnel. Esta lente
binaria es tal que conjuga la fuente en el detector según se muestra
en la fig. 2.
Según se menciona anteriormente, para una
distancia entre máscara y membrana d tal que d es un múltiplo impar
de \lambda/4, el foco está en el detector. Para una distancia
entre máscara y membrana d tal que d es un múltiplo de \lambda/2,
el retardo de fase se hace 2\pi y el sistema actúa como un espejo
(o, en otras palabras, no produce enfoque).
Midiendo la energía en el detector, es posible
deducir la calidad del enfoque y el desplazamiento \Deltax de la
membrana.
Cuando se usa esta lente ajustable como un
sensor de desplazamiento, la distancia desde la parte reflectante
del patrón de reflexión y la membrana reflectante debe ser un
múltiplo impar de \lambda/8.
Las dimensiones físicas de un sensor usado como
micrófono, basándose en la forma de realización mostrada en las
fig. 1 y 2 puede ser como sigue:
El diámetro de la superficie según el patrón
puede ser de aproximadamente 2 a 3 mm, el grosor del separador de
0,1 a 8 micrómetros dependiendo de qué intervalo de frecuencias
acústicas se cubra. El diámetro de la membrana puede ser de 5 mm
aproximadamente. La distancia desde las superficies al detector y la
fuente puede ser de 5 a 10 mm aproximadamente. Si el detector y la
fuente están demasiado cerca, las zonas se acercan demasiado entre
sí, y empiezan a dominar los efectos de apantallamiento. Los efectos
de apantallamiento son también un problema si el separador se hace
demasiado grueso.
Según se ilustra en la fig. 4, la forma de
realización preferida comprende un patrón de bandas circulares en
la lente de difracción. Sin embargo, es posible usar otras
soluciones, siendo la más estrechamente relacionada secciones
circulares, por ejemplo, usando sólo el tercio más a la derecha del
patrón de bandas de la fig. 4. Las características de enfoque de
esta lente serán esencialmente las mismas que con un patrón
circular, pero como la luz enfocada llegará al eje óptico desde una
dirección, puede colocarse una matriz de detectores a lo largo del
eje óptico. En este caso, el detector que recibe la máxima
intensidad de luz puede indicar la posición del foco. También, esta
forma de realización puede proporcionar medios para medir la
posición de varios modos de reflexión de la red, proporcionando una
medida sin ambigüedad de la distancia entre las superficies.
En algunos casos pueden usarse también otras
curvas relacionadas con secciones cónicas más generales, así como
dos matrices de detectores dimensionales colocadas en o cerca del
eje óptico.
La fig. 5 ilustra la intensidad relativa R en el
foco de la lente de difracción reflectante en función de las
distancias entre las superficies 1,2 medidas con respecto a la
longitud de onda \lambda. Como queda claro a partir de la figura,
la sensibilidad está en el máximo cuando la intensidad relativa es
del 50% aproximadamente, a la distancia de 1/8 \lambda y 3/8
\lambda. Manteniendo distancias próximas a uno de estos
intervalos, se eleva al máximo la sensibilidad. Sin embargo, la
sensibilidad disminuye a entradas mayores cuando la distancia se
aproxima a 1/4 \lambda. Por tanto, el elemento de sensor debería
dimensionarse preferentemente para mantener el intervalo operativo
en el intervalo de \lambda/8 + m\lambda/4 + n\lambda, en el
que n, m = 0, 1, 2, 3, ..., según se ilustra en la fig. 6.
La fig. 6 ilustra los puntos de sensibilidad
máxima a lo largo de la curva de la fig. 5. Debe observarse que los
ejemplos ilustrados en el presente documento muestran una situación
ideal en la que los índices de refracción y, así, los coeficientes
de reflexión no se tienen en cuenta. Los puntos operativos pueden
así colocarse de forma diferente dependiendo de estos factores,
siendo posible calcular las posiciones exactas de los puntos
operativos calculando las posiciones correspondientes a la segunda
variación de derivada de la señal reflejada R que es cero.
La curva es periódica con periodos de 1/2
\lambda. Para evitar el denominado "efecto de película de
presión" a pequeñas distancias entre superficies, debido a que
el aire se presiona en y hacia el exterior del espacio entre las
superficies, pueden preferirse distancias mayores que las
ilustradas. El efecto de película de presión puede usarse, sin
embargo, como efecto de amortiguación que evita una resonancia en el
sistema, proporcionando así un parámetro que ha de considerarse
cuando se prepare el elemento sensor.
Las redes y superficies reflectantes 1,2 pueden
ser dieléctricas o metálicas dependiendo de las características de
uso y longitud de onda. Según una forma de realización de la
invención ilustrada en la fig. 7, las superficies son metálicas y
están conectadas a una fuente de alimentación eléctrica de manera
que proporcionen una tensión entre las dos superficies. La fig. 7
ilustra una forma de realización en la que las superficies
reflectantes no se usan para este fin, pero en la que se
proporcionan capas metálicas adicionales 9 en una serie de
posiciones para obtener superficies paralelas.
En la forma de realización ilustrada en la fig.
7, el detector se acopla a un amplificador 10, proporcionando una
señal a una unidad de control 11. La unidad de control 11
proporciona una tensión a las capas metálicas 9 para controlar la
distancia entre las superficies 1,2.
Ajustando la tensión, puede ajustarse la
distancia entre las superficies y pueden obtenerse características
de enfoque óptimas en todo momento. La tensión requerida para
obtener la distancia escogida es indicativa de la presión
proporcionada en el elemento sensor, proporcionando así un
procedimiento para obtener una señal de lectura del detector. La
circuitería eléctrica para obtener esto es bien conocida y la
naturaleza exacta de la misma no es importante para esta invención.
Así, no se describirá en detalle en el presente documento.
Puede aplicarse un campo electrostático para
ajustar la distancia entre el patrón de difracción y la membrana
reflectante para optimizar la sensibilidad de los sensores
consiguientemente, o bloquear el desplazamiento en una posición
dada (como un sensor de extremo de tunelización), lo que aumentará
el intervalo dinámico del sensor.
El patrón de difracción podría, naturalmente,
estar en una membrana, o el patrón de difracción podría estar hecho
de una fina capa en la que se han grabado las partes de transmisión,
permitiendo que corra el aire a través del patrón de
difracción.
La fig. 8 ilustra una aplicación de la invención
en la que se usa un láser/LED 6 para iluminar una matriz
2-D de micrófonos de difracción 13, y cada uno de
los patrones de difracción se diseñan para enfocar en una parte
predeterminada de una matriz de detectores ópticos
1-D o 2-D 14.
Por ejemplo, los micrófonos de difracción pueden
diseñarse de manera que un detector de luz de matriz, es decir, una
cámara CCD, pueda detectarlos todos. Entonces es posible preparar un
sensor acústico que es capaz de medir la fase de la señal acústica,
y con ello, mediante medios o software de cálculo electrónico
conocidos per se, reconstruir la fase de una señal acústica
desde un punto/dirección 12 en la sala. Así, es posible preparar un
detector acústico, que es capaz de enfocar y recoger el sonido
desde, por ejemplo, una persona 12 y suprimir el ruido del resto de
la sala.
La fig. 9 ilustra un sensor de difracción
diferencial según la invención que se proporciona con dos patrones
de enfoque 1a, 1b en dos alturas diferentes con respecto a la
membrana reflectante inferior. Las dos alturas diferentes pueden
producirse fácilmente primero preparando un patrón en el sustrato de
vidrio, a continuación pulverizando o evaporando una fina capa de
vidrio, y a continuación poniéndola en el segundo patrón. En la
fig. 10, las señales de los dos niveles de altura diferentes
mostrados en la fig. 9 se enfocan en dos detectores diferentes
7a,7b.
La ventaja principal con un sensor diferencial
es que es posible compensar la desviación de la fuente, y obtener
medidas precisas. Según se ilustra en la fig. 9, la diferencia en la
distancia entre los primeros patrones reflectantes 1a,1b se adapta
para proporcionar medidas de diferentes partes de la curva expuestas
con referencia a las fig. 5 y 6. Así, las señales A, B medidas en
los detectores 7a, 7b pueden proporcionar una señal diferencial:
A = I(1
- \delta), B = I(1 + \delta), \delta <<
1
\Delta = (A-
B) / (A + B) \approx
2\delta,
en las que las contribuciones de la
fuente están cerca de ser eliminadas, y en las que A es la señal
detectada desde la primera lente mientras B es la señal detectada
desde la segunda red. I es la intensidad recibida desde la fuente,
\delta es la desviación en la intensidad reflejada R de la luz
reflejada como consecuencia de un movimiento relativo entre las
superficies y \Delta es la señal diferencial entre los
detectores.
La fig. 11 ilustra una lente de fase de
difracción en 3-D que funciona en reflexión. Si la
lente se divide en una parte superior y una inferior, puede
prepararse una lente ajustable, que puede actuar como un sensor
similar al sensor de enfoque binario. La lente estará activa cuando
las capas superior e inferior estén separadas por (m x
\lambda/2), m = 0, 1, 2, 3,..., e inactiva cuando las capas estén
separadas por (m x \lambda/2) \pm \lambda/4, m = 0, 1, 2,
3... Entre las posiciones activa e inactiva, la construcción puede
usarse como un sensor.
La fig. 12 ilustra la lente de fase mostrada en
la fig. 11 cuando las dos partes de la lente reflectante suman la
luz en fase, configurando así la lente en un modo operativo.
La fig. 13 ilustra la producción de una lente
según se muestra en las fig. 11 y 12. La producción de la lente del
sensor puede hacerse preparando primero una forma de molde y después
replicando la parte inferior del patrón en 3-D en
un material transparente en, por ejemplo, la membrana, y a
continuación recubriéndola con metal, o simplemente
electrodepositando la membrana directamente en el molde con níquel.
El metal en las regiones "apantalladas" no afectará al
rendimiento. La parte superior puede prepararse preparando primero
una forma de molde y después replicando el patrón en
3-D en un material transparente, por ejemplo,
mediante técnicas de moldeo en plástico o replicación UV. Cuando la
parte superior del patrón en 3-D está lista, debe
también revestirse con metal. Como sólo se quiere metal en los
pozos de la parte superior 3-D, el metal en la
superficie plana debe eliminarse, por ejemplo, mediante pulido.
La invención se ha descrito en el presente
documento principalmente en relación con micrófonos o sensores de
presión. Sin embargo, puede usarse también, posiblemente con
adaptaciones menores, en otras situaciones como acelerómetros o
similar, en las que una superficie se mueve con respecto a la otra.
En el caso del acelerómetro, la superficie móvil puede
proporcionarse, por ejemplo, con un peso tal que aumente la
sensibilidad.
Claims (17)
1. Elemento sensor de desplazamiento óptico
que comprende al menos dos superficies esencialmente paralelas
(1,2) que están separadas por una cavidad definida por un separador
(5) y las superficies (1,2), siendo variable la distancia entre las
superficies, en el que una primera de dichas superficies (1) está
colocada en un soporte al menos parcialmente transparente (3) y
proporcionándose con un patrón reflectante, siendo dicha segunda
superficie (2) una superficie reflectante, caracterizado
porque el patrón reflectante se conforma como una lente de
difracción.
2. Elemento óptico según la reivindicación 1,
en el que el patrón es un patrón circular.
3. Elemento óptico según la reivindicación 1,
en el que la distancia entre las superficies está próxima a
\lambda/8 +
m\lambda/4 + n\lambda, n, m = 0, 1, 2, 3,... y siendo \lambda la longitud de onda óptica.
m\lambda/4 + n\lambda, n, m = 0, 1, 2, 3,... y siendo \lambda la longitud de onda óptica.
4. Elemento óptico según la reivindicación 1,
en el que las superficies reflectantes del elemento son superficies
metálicas.
5. Elemento óptico según la reivindicación 1,
en el que el elemento incluye un canal de fuga entre la cavidad y
el entorno para un lento equilibrio de presión entre los dos.
6. Elemento óptico que comprende un elemento
óptico según la reivindicación 1, que comprende también una fuente
de luz dirigida hacia la lente de difracción y proporcionándose al
menos un detector en una posición escogida para medir reflexiones
de la lente de difracción.
7. Elemento óptico según la reivindicación 6,
que comprende una matriz de detectores que mide las posiciones de
al menos un orden de reflexión de la lente de difracción.
8. Elemento óptico según la reivindicación 7,
en el que la matriz de detectores tiene una orientación al menos
parcialmente axial.
9. Elemento óptico según la reivindicación 6,
en el que cada superficie se proporciona con un conductor
eléctrico, estando los conductores acoplados a una unidad de control
eléctrica para aplicar una tensión en los conductores, estando
acoplada la fuente de alimentación a dicho al menos un detector de
manera que controla la distancia entre superficies cuando se
detecta un cambio, siendo también la tensión de salida indicativa
de los cambios en la presión del entorno.
10. Elemento óptico según la reivindicación 9,
en el que la unidad de control se adapta para ajustar la distancia
de trabajo entre la superficie a un valor escogido.
11. Elemento óptico según la reivindicación 1,
que comprende un canal para flujo de aire controlado entre el
espacio entre las superficies y el entorno.
12. Elemento óptico según la reivindicación 1,
en el que las superficies primera y segunda definen una estructura
en forma de anillo que define una lente de fase reflectante,
definiendo dicho patrón en dicha primera superficie una primera
parte de dicha lente en una dirección perpendicular a las
superficies y definiendo dicha segunda parte una segunda parte de
dicha lente.
13. Sistema óptico para medir señales acústicas
que comprende al menos dos elementos según una cualquiera de las
reivindicaciones precedentes, en el que los elementos ópticos se
colocan en una matriz de 1 ó 2 dimensiones, comprendiendo también
el sistema una matriz de detectores de 1 ó 2 dimensiones para
detectar fluctuaciones en la luz recibida correspondiente a la
señal acústica recibida, estando acoplada dicha matriz de detectores
a un medio de cálculo para medir la fase de la señal acústica
recibida en cada elemento óptico.
14. Sistema óptico según la reivindicación 13,
en el que dicho medio de cálculo comprende también un medio para
calcular la posición de la fuente acústica.
15. Sistema óptico según la reivindicación 14,
en el que dicho medio de cálculo comprende un medio de filtrado
para atenuar señales acústicas sobre la base de sus posiciones o
direcciones, según se proporcionan por la fase calculada.
16. Uso de un elemento según la reivindicación
1 como un sensor de presión.
17. Uso de un elemento según la reivindicación
1 como un micrófono.
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