EP4599261A1 - Messaufbau und verfahren zum messen eines stroms - Google Patents

Messaufbau und verfahren zum messen eines stroms

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EP4599261A1
EP4599261A1 EP23772176.6A EP23772176A EP4599261A1 EP 4599261 A1 EP4599261 A1 EP 4599261A1 EP 23772176 A EP23772176 A EP 23772176A EP 4599261 A1 EP4599261 A1 EP 4599261A1
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EP
European Patent Office
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measuring
umk
omk
transistors
signals
Prior art date
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Pending
Application number
EP23772176.6A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Göran SCHUBERT
Diego ANTONGIROLAMI
Sahaya Kulandai Raj JOSEPH
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Schaeffler Technologies AG and Co KG
Original Assignee
Schaeffler Technologies AG and Co KG
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Publication date
Application filed by Schaeffler Technologies AG and Co KG filed Critical Schaeffler Technologies AG and Co KG
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Pending legal-status Critical Current

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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0092—Measuring current only
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16533—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application
    • G01R19/16538—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application in AC or DC supplies
    • G01R19/16547—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values characterised by the application in AC or DC supplies voltage or current in AC supplies

Definitions

  • the invention relates to a measuring setup for measuring a current from a center tap between two transistors of a half-bridge by a consumer according to the preamble of claim 1 and a method for measuring a current from a center tap between two transistors of a half-bridge by a consumer according to the preamble of claim 5.
  • low-pass filters TPF are usually used, usually designed as a first or higher order RC element as shown in Figure 1 .
  • the low-pass filter TPF is connected in parallel to a shunt SH.
  • the prerequisite for the measurement setup shown in Figure 1 is that the signal to be measured has a continuous course. This is the case for the current I from a center tap of a half-bridge made up of two transistors T1, T2 through the shunt SH, which in this example allows the current I to be measured using a voltmeter V.
  • the voltmeter V can thus be protected against higher frequency interference by a low-pass filter TPF.
  • the measurement configuration in Figure 2 does not meet this requirement.
  • analog-digital converter ADC1, ADC2, which is usually used to record the measuring signal is not protected and the occurrence of beats is the result.
  • interference signals in the higher frequency range such as signal jumps, are modulated into the functional range due to the violation of the Nyquist-Shannon theorem and interpreted as a measuring signal.
  • the invention is based on the object of specifying a novel measuring setup and a novel method for measuring a current from a center tap between two transistors of a half-bridge through a consumer.
  • the object is achieved according to the invention by a measuring setup having the features of claim 1 and by a method having the features of claim 5.
  • a measuring setup for measuring a current from a center tap between two transistors of a half-bridge through a consumer, wherein the measuring setup is configured to measure a voltage across a channel resistance of the transistor in both transistors in separate measuring channels when the respective transistor is conductive.
  • each of the measuring channels has an adder, a low-pass filter and an analog-digital converter, so that in each measuring channel signals of the respective voltage drop can be fed to the analog-digital converter via the adder and the low-pass filter, wherein the adder of each of the measuring channels is configured to additively add the signals of the other measuring channel to the signals of the respective measuring channel.
  • the discontinuous signal curve in each of the measuring channels is converted into a continuous signal curve, thus enabling filterability.
  • the low-pass filter is a first or higher order low-pass filter.
  • a device comprising a measuring setup as described above and a half-bridge comprising two transistors, as well as a load fed from a center tap between the two transistors.
  • the transistors are designed as field effect transistors, with the source of the upper transistor connected to the drain of the lower transistor.
  • a method for measuring a current from a center tap between two transistors of a half-bridge by a consumer, wherein a voltage is measured across a channel resistance of the transistor in each of the two transistors in separate measuring channels when the respective transistor is conductive.
  • signals of the respective voltage drop are fed to an analog-digital converter via an adder and a low-pass filter, wherein in the adder of each of the measuring channels the signals of the other measuring channel are additively added to the signals of the respective measuring channel.
  • the discontinuous signal curve in each of the measuring channels is converted into a continuous signal curve, thus enabling filterability.
  • Figure 1 is a schematic view of a half-bridge with a measuring setup for measuring a current from the half-bridge through a consumer according to the prior art
  • Figure 2 is a schematic view of a half-bridge with a further measuring setup for measuring the current from the half-bridge through a consumer according to the prior art
  • Figure 3 shows a current profile through an upper transistor of the measuring setup according to the prior art
  • Figure 4 shows a current profile through a lower transistor of the measuring setup according to the prior art
  • Figure 5 is a schematic view of a measuring setup according to the invention for measuring the current from the half-bridge through a consumer
  • Figure 6 is a schematic diagram of a current profile in a lower measuring channel of the measuring setup according to Figure 5,
  • Figure 7 is another schematic view of the measurement setup according to Figure 5.
  • Figure 8 is a schematic diagram of a current profile in an upper measuring channel of the measuring setup according to Figures 5 and 7.
  • FIG. 1 is a schematic view of a half-bridge HB comprising two transistors T1, T2, in particular field effect transistors, wherein source S of the upper transistor T1 is connected to drain D of the lower transistor T2.
  • a measuring setup is provided that has a shunt SH between the consumer L and the center tap M.
  • the current I can be determined knowing the resistance of the shunt SH.
  • low-pass filters TPF are usually used, usually designed as a first-order or higher-order RC element.
  • the low-pass filter TPF shown as an example comprises a series circuit connected in parallel to the shunt SH, consisting of a resistor R and a capacitor C, to which the voltmeter V is connected in parallel.
  • the signal to be measured should have a continuous course. This is the case for the current I from the center tap M of the half bridge HB consisting of two
  • Transistors T1, T2 are connected via the shunt SH, which in this example allows the current I to be measured using a voltmeter V.
  • the voltmeter V can thus be protected against high-frequency interference by the low-pass filter TPF.
  • Figure 2 is a schematic view of a half-bridge HB, comprising two transistors T1, T2, in particular field-effect transistors, wherein the source S of the upper transistor T1 is connected to the drain D of the lower transistor T2.
  • a current I that flows from a center tap M between the two transistors T1, T2 through a consumer L
  • an alternative measuring setup is provided in which the voltage drop across a channel resistance of a respective conductive transistor T1, T2 of the half-bridge is measured and in turn evaluated with a voltmeter V.
  • this combination is shown as an ammeter A.
  • FIG 5 is a schematic view of a measuring setup 1 with an upper measuring channel OMK for signals SO of the voltage drop across the channel resistance of the upper transistor T1 according to Figure 2 and with a lower measuring channel UMK for signals SU of the voltage drop across the channel resistance of the lower transistor T2 according to Figure 2.
  • the signals SO, SU of the respective voltage drop are fed to an analog-digital converter ADC1, ADC2 via an addition element AG and a low-pass filter TPF.
  • Figure 7 is a schematic view of the measurement setup 1 according to Figure 5, wherein the signals SU of the lower measurement channel UMK are added additively to the upper measurement channel OMK via the addition element AG. Taking the channel resistance into account, this results in a curve of the current I before the low-pass filter TPF as shown schematically in Figure 8.
  • Figures 6 and 8 clearly show that signal jumps are avoided by this addition. Therefore, filtering using the low-pass filter TPF is possible with the measurement setup according to Figures 6 and 8. If measurements are only taken in the active time window, i.e. while the respective transistor T1, T2 is conducting, then other desired information can be evaluated as before, for example current corner points.
  • ADC1 Analog-digital converter

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Power Engineering (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft einen Messaufbau und ein Verfahren zum Messen eines Stroms (I) aus einem Mittelabgriff (M) zwischen zwei Transistoren (T1, T2) einer Halbbrücke (HB) durch einen Verbraucher (L), wobei der Messaufbau dazu konfiguriert ist, bei beiden Transistoren (T1, T2) in separaten Messkanälen (OMK, UMK) jeweils eine Spannung über einem Kanalwiderstand des Transistors (T1, T2) zu messen, wenn der jeweilige Transistor (T1, T2) leitend ist, wobei jeder der Messkanäle (OMK, UMK) ein Additionsglied (AG), einen Tiefpassfilter (TPF) und einen Analog-Digital-Wandler (ADC1, ADC2) aufweist, so dass in jedem Messkanal (OMK, UMK) Signale (SO, SU) des jeweiligen Spannungsabfalls über das Additionsglied (AG) und den Tiefpassfilter (TPF) dem Analog-Digital-Wandler (ADC1, ADC2) zuführbar sind, wobei das Additionsglied (AG) jedes der Messkanäle (OMK, UMK) dazu konfiguriert ist, zu den Signalen (SO, SU) des jeweiligen Messkanals (OMK, UMK) die Signale (SO, SU) des jeweils anderen Messkanals (OMK, UMK) additiv hinzuzufügen.

Description

Beschreibung
Messaufbau und Verfahren zum Messen eines Stroms
Die Erfindung betrifft einen Messaufbau zum Messen eines Stroms aus einem Mittelabgriff zwischen zwei Transistoren einer Halbbrücke durch einen Verbraucher gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1 sowie ein Verfahren zum Messen eines Stroms aus einem Mittelabgriff zwischen zwei Transistoren einer Halbbrücke durch einen Verbraucher gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 5.
Um Messkanäle in elektronischen Schaltungen gegen die Einkopplung von Störungen zu schützen, verwendet man üblicherweise Tiefpassfilter TPF, meist ausgeführt als RC-Glied erster oder höherer Ordnung gemäß Figur 1 . Der Tiefpassfilter TPF ist parallel zu einem Shunt SH geschaltet.
Voraussetzung bei dem in Figur 1 gezeigten Messaufbau ist, dass das zu messende Signal einen kontinuierlichen Verlauf hat. Dies ist für den Strom I aus einem Mittelabgriff einer Halbbrücke aus zwei Transistoren T1 , T2 durch den Shunt SH, der in diesem Beispiel die Messung des Stromes I mittels eines Voltmeters V erlaubt, der Fall. Somit kann das Voltmeter V durch einen Tiefpassfilter TPF gegen höherfrequente Störungen geschützt werden. Die Messkonfiguration in Figur 2 erfüllt diese Voraussetzung nicht.
Im Beispiel in Figur 2 wird der Spannungsabfall über einem Kanalwiderstand eines jeweils leitenden Transistors T1 , T2 der Halbbrücke gemessen und wiederum mit einem Voltmeter ausgewertet. In Figur 2 ist diese Kombination vereinfacht als Amperemeter A dargestellt. Folglich kann der Strom I nur gemessen werden, solange der jeweilige Transistor T1 , T2 leitend ist. Daraus ergeben sich zwei Teilstrommessungen, die in den Figuren 3 und 4 dargestellt sind. Dabei zeigt Figur 3 einen Verlauf des Stroms I durch den oberen Transistor T1 über der Zeit t und Figur 4 einen Verlauf des Stroms I durch den unteren Transistor T2. Da ein Tiefpassfilter TPF ab etwa dem zehnfachen der Eckfrequenz nur noch den Mittelwert des Messsignals anzeigt, kann er nicht zum Schutz des Amperemeters A gegen Störungen am Messeingang genutzt werden. Dadurch wird der zur Messignalaufnahme übliche Analog-Digital-Wandler ADC1 , ADC2 nicht geschützt und das Auftreten von Schwebungen ist die Folge. Anders ausgedrückt, Störsignale im höherfrequenten Bereich, beispielsweise Signalsprünge, werden wegen der Verletzung des Nyquist-Shannon-Theorems in den funktionalen Bereich moduliert und als Messsignal interpretiert.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zu Grunde, einen neuartigen Messaufbau und ein neuartiges Verfahren zum Messen eines Stroms aus einem Mittelabgriff zwischen zwei Transistoren einer Halbbrücke durch einen Verbraucher anzugeben.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch einen Messaufbau mit den Merkmalen des Anspruchs 1 und durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 5.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
Erfindungsgemäß wird ein Messaufbau zum Messen eines Stroms aus einem Mittelabgriff zwischen zwei Transistoren einer Halbbrücke durch einen Verbraucher vorgeschlagen, wobei der Messaufbau dazu konfiguriert ist, bei beiden Transistoren in separaten Messkanälen jeweils eine Spannung über einem Kanalwiderstand des Transistors zu messen, wenn der jeweilige Transistor leitend ist. Erfindungsgemäß weist jeder der Messkanäle ein Additionsglied, einen Tiefpassfilter und einen Analog-Digital-Wandler auf, so dass in jedem Messkanal Signale des jeweiligen Spannungsabfalls über das Additionsglied und den Tiefpassfilter dem Analog-Digital-Wandler zuführbar sind, wobei das Additionsglied jedes der Messkanäle dazu konfiguriert ist, zu den Signalen des jeweiligen Messkanals die Signale des jeweils anderen Messkanals additiv hinzuzufügen.
Auf diese Weise wird der diskontinuierliche Signalverlauf in jedem der Messkanäle in einen kontinuierlichen Signalverlauf überführt und damit die Filterbarkeit ermöglicht. In einer Ausführungsform ist der Tiefpassfilter ein Tiefpassfilter erster oder höherer Ordnung.
Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung wird eine Vorrichtung vorgeschlagen, umfassend einen Messaufbau wie oben beschrieben und eine Halbbrücke, umfassend zwei Transistoren, sowie einen aus einem Mittelabgriff zwischen den beiden Transistoren gespeisten Verbraucher.
In einer Ausführungsform sind die Transistoren als Feldeffekttransistoren ausgebildet, wobei Source des oberen Transistors mit Drain des unteren Transistors verbunden ist.
Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zum Messen eines Stroms aus einem Mittelabgriff wischen zwei Transistoren einer Halbbrücke durch einen Verbraucher vorgeschlagen, wobei bei beiden Transistoren in separaten Messkanälen jeweils eine Spannung über einem Kanalwiderstand des Transistors gemessen wird, wenn der jeweilige Transistor leitend ist. Erfindungsgemäß werden in jedem Messkanal Signale des jeweiligen Spannungsabfalls über ein Additionsglied und einen Tiefpassfilter einem Analog- Digital-Wandler zugeführt, wobei im Additionsglied jedes der Messkanäle zu den Signalen des jeweiligen Messkanals die Signale des jeweils anderen Messkanals additiv hinzugefügt werden. Auf diese Weise wird der diskontinuierliche Signalverlauf in jedem der Messkanäle in einen kontinuierlichen Signalverlauf überführt und damit die Filterbarkeit ermöglicht.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden im Folgenden anhand von Zeichnungen näher erläutert.
Dabei zeigen: Figur 1 eine schematische Ansicht einer Halbbrücke mit einem Messaufbau zur Messung eines Stroms aus der Halbbrücke durch einen Verbraucher gemäß dem Stand der Technik,
Figur 2 eine schematische Ansicht einer Halbbrücke mit einem weiteren Messaufbau zur Messung des Stroms aus der Halbbrücke durch einen Verbraucher gemäß dem Stand der Technik,
Figur 3 einen Verlauf eines Stroms durch einen oberen Transistor des Messaufbaus gemäß dem Stand der Technik,
Figur 4 einen Verlauf eines Stroms durch einen unteren Transistor des Messaufbaus gemäß dem Stand der Technik,
Figur 5 eine schematische Ansicht eines erfindungsgemäßen Messaufbaus zur Messung des Stroms aus der Halbbrücke durch einen Verbraucher,
Figur 6 ein schematisches Diagramm eines Verlaufs des Stroms in einem unteren Messkanal des Messaufbaus gemäß Figur 5,
Figur 7 eine weitere schematische Ansicht des Messaufbaus gemäß Figur 5, und
Figur 8 ein schematisches Diagramm eines Verlaufs des Stroms in einem oberen Messkanal des Messaufbaus gemäß Figur 5 und 7.
Einander entsprechende Teile sind in allen Figuren mit den gleichen Bezugszeichen versehen.
Figur 1 ist eine schematische Ansicht einer Halbbrücke HB, umfassend zwei Transistoren T1 , T2, insbesondere Feldeffekttransistoren, wobei Source S des oberen Transistors T1 mit Drain D des unteren Transistors T2 verbunden ist. Um einen Strom I zu messen, der aus einem Mittelabgriff M zwischen den beiden Transistoren T1 , T2 durch einen Verbraucher L fließt, ist ein Messaufbau vorgesehen, der einen Shunt SH zwischen dem Verbraucher L und dem Mittelabgriff M aufweist. Durch Messung des Spannungsabfalls über dem Shunt SH mittels eines Voltmeters V kann in Kenntnis des Widerstands des Shunts SH der Strom I bestimmt werden. Um Messkanäle in elektronischen Schaltungen gegen die Einkopplung von Störungen zu schützen, verwendet man üblicherweise Tiefpassfilter TPF, meist ausgeführt als RC-Glied erster oder höherer Ordnung. Der beispielhaft dargestellte Tiefpassfilter TPF umfasst eine zum Shunt SH parallel geschaltete Reihenschaltung aus einem Widerstand R und einem Kondensator C, zu dem das Voltmeter V parallel geschaltet ist.
Das zu messende Signal soll einen kontinuierlichen Verlauf aufweisen. Dies ist für den Strom I aus dem Mittelabgriff M der Halbbrücke HB aus zwei
Transistoren T1 , T2 durch den Shunt SH, der in diesem Beispiel die Messung des Stromes I mittels eines Voltmeters V erlaubt, der Fall. Somit kann das Voltmeter V durch den Tiefpassfilter TPF gegen höherfrequente Störungen geschützt werden.
Figur 2 ist eine schematische Ansicht einer Halbbrücke HB, umfassend zwei Transistoren T1 , T2, insbesondere Feldeffekttransistoren, wobei Source S des oberen Transistors T1 mit Drain D des unteren Transistors T2 verbunden ist. Um einen Strom I zu messen, der aus einem Mittelabgriff M zwischen den beiden Transistoren T1 , T2 durch einen Verbraucher L fließt, ist ein alternativer Messaufbau vorgesehen, bei dem der Spannungsabfall über einem Kanalwiderstand eines jeweils leitenden Transistors T1 , T2 der Halbbrücke gemessen und wiederum mit einem Voltmeter V ausgewertet wird. In Figur 2 ist diese Kombination als Amperemeter A dargestellt. Folglich kann der Strom I nur gemessen werden, solange der jeweilige Transistor T1 , T2 leitend ist, beispielsweise bei Ansteuerung der Gates G der Transistoren T1 , T2 mit pulsweitenmodulierten Signalen. Daraus ergeben sich zwei Teilstrommessungen, die in den Figuren 3 und 4 dargestellt sind. Dabei zeigt Figur 3 einen Verlauf des Stroms I durch den oberen Transistor T1 über der Zeit t und Figur 4 einen Verlauf des Stroms I durch den unteren Transistor T2. Da ein Tiefpassfilter TPF ab etwa dem zehnfachen der Eckfrequenz nur noch den Mittelwert des Messsignals anzeigt, kann er beim Messaufbau gemäß Figur 2 nicht zum Schutz gegen Störungen am Messeingang genutzt werden. Dadurch wird ein zur Messignalaufnahme üblicher Analog-Digital-Wandler ADC1 , ADC2 nicht geschützt und das Auftreten von Schwebungen ist die Folge. Anders ausgedrückt, Störsignale im höherfrequenten Bereich, beispielsweise Signalsprünge, werden wegen der Verletzung des Nyquist-Shannon-Theorems in den funktionalen Bereich moduliert und als Messsignal interpretiert.
Figur 5 ist eine schematische Ansicht eines Messaufbaus 1 mit einem oberen Messkanal OMK für Signale SO des Spannungsabfalls über dem Kanalwiderstand des oberen Transistor T1 gemäß Figur 2 und mit einem unteren Messkanal UMK für Signale SU des Spannungsabfalls über dem Kanalwiderstand des unteren Transistor T2 gemäß Figur 2. In jedem der Messkanäle OMK, UMK werden die Signale SO, SU des jeweiligen Spannungsabfalls über ein Additionsglied AG und einen Tiefpassfilter TPF einem Analog-Digital-Wandler ADC1 , ADC2 zugeführt.
In Figur 5 werden dem unteren Messkanal UMK über das Additionsglied AG die Signale SO des oberen Messkanals OMK additiv hinzugefügt. Dabei ergibt sich unter Berücksichtigung des Kanalwiderstands ein Verlauf des Stroms I vor dem Tiefpassfilter TPF wie schematisch in Figur 6 gezeigt.
Figur 7 eine schematische Ansicht des Messaufbaus 1 gemäß Figur 5, wobei dem oberen Messkanal OMK über das Additionsglied AG die Signale SU des unteren Messkanals UMK additiv hinzugefügt werden. Dabei ergibt sich unter Berücksichtigung des Kanalwiderstands ein Verlauf des Stroms I vor dem Tiefpassfilter TPF wie schematisch in Figur 8 gezeigt.
In den Figuren 6 und 8 wird deutlich, dass Signalsprünge durch diese Addition vermieden werden. Daher ist Filtern mittels des Tiefpassfilters TPF beim Messaufbau gemäß den Figuren 6 und 8 möglich. Misst man weiterhin nur im jeweils aktiven Zeitfenster, das heißt während der jeweilige Transistor T1 , T2 leitend ist, dann können wie bisher weitere angestrebte Informationen ausgewertet werden, beispielsweise Stromeckpunkte.
Bezugszeichenliste
1 Messaufbau
A Amperemeter
ADC1 , ADC2 Analog-Digital-Wandler
AG Additionsglied
C Kondensator
D Drain
G Gate
HB Halbbrücke
I Strom
L Verbraucher
M Mittelabgriff
OMK oberer Messkanal
R Widerstand
S Source
SH Shunt
SO, SU Signale t Zeit
T1 , T2 Transistor
TPF Tiefpassfilter
UMK unterer Messkanal
V Voltmeter

Claims

Patentansprüche
1. Messaufbau zum Messen eines Stroms (I) aus einem Mittelabgriff (M) zwischen zwei Transistoren (T1 , T2) einer Halbbrücke (HB) durch einen Verbraucher (L), wobei der Messaufbau dazu konfiguriert ist, bei beiden Transistoren (T1 , T2) in separaten Messkanälen (OMK, UMK) jeweils eine Spannung über einem Kanalwiderstand des Transistors (T1 , T2) zu messen, wenn der jeweilige Transistor (T1 , T2) leitend ist, dadu rch gekennzeichnet, dass jeder der Messkanäle (OMK, UMK) ein Additionsglied (AG), einen Tiefpassfilter (TPF) und einen Analog-Digital- Wandler (ADC1 , ADC2) aufweist, so dass in jedem Messkanal (OMK, UMK) Signale (SO, SU) des jeweiligen Spannungsabfalls über das Additionsglied (AG) und den Tiefpassfilter (TPF) dem Analog-Digital-Wandler (ADC1 , ADC2) zuführbar sind, wobei das Additionsglied (AG) jedes der Messkanäle (OMK, UMK) dazu konfiguriert ist, zu den Signalen (SO, SU) des jeweiligen Messkanals (OMK, UMK) die Signale (SO, SU) des jeweils anderen Messkanals (OMK, UMK) additiv hinzuzufügen.
2. Messaufbau nach Anspruch 1 , dadu rch gekennzeichnet, dass der Tiefpassfilter (TPF) ein Tiefpassfilter (TPF) erster oder höherer Ordnung ist.
3. Vorrichtung, umfassend einen Messaufbau nach Anspruch 1 oder 2, dadu rch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung ferner eine Halbbrücke (HB), umfassend zwei Transistoren (T1 , T2), sowie einen aus einem Mittelabgriff (M) zwischen den beiden Transistoren (T1 , T2) gespeisten Verbraucher (L) aufweist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadu rch gekennzeichnet, dass die Transistoren (T1 , T2) als Feldeffekttransistoren ausgebildet sind, wobei Source (S) des oberen Transistors (T1 ) mit Drain (D) des unteren Transistors (T2) verbunden ist.
5. Verfahren zum Messen eines Stroms (I) aus einem Mittelabgriff (M) zwischen zwei Transistoren (T1 , T2) einer Halbbrücke (HB) durch einen Verbraucher (L), wobei bei beiden Transistoren (T1 , T2) in separaten Messkanälen (OMK, UMK) jeweils eine Spannung über einem Kanalwiderstand des T ransistors (T 1 , T2) gemessen wird, wenn der jeweilige Transistor (T1 , T2) leitend ist, dadu rch gekennzeichnet, dass in jedem Messkanal (OMK, UMK) Signale (SO, SU) des jeweiligen Spannungsabfalls über ein Additionsglied (AG) und einen Tiefpassfilter (TPF) einem Analog-Digital-Wandler (ADC1 , ADC2) zugeführt werden, wobei im Additionsglied (AG) jedes der
Messkanäle (OMK, UMK) zu den Signalen (SO, SU) des jeweiligen Messkanals (OMK, UMK) die Signale (SO, SU) des jeweils anderen Messkanals (OMK, UMK) additiv hinzugefügt werden.
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