EP2449339A1 - Verfahren zur berührungslosen bestimmung der dicke einer materialbahn - Google Patents

Verfahren zur berührungslosen bestimmung der dicke einer materialbahn

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EP2449339A1
EP2449339A1 EP10720795A EP10720795A EP2449339A1 EP 2449339 A1 EP2449339 A1 EP 2449339A1 EP 10720795 A EP10720795 A EP 10720795A EP 10720795 A EP10720795 A EP 10720795A EP 2449339 A1 EP2449339 A1 EP 2449339A1
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EP
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material web
measuring
distance
magnetic
web
Prior art date
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Withdrawn
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EP10720795A
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English (en)
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Inventor
Pekka Typpo
Willy Knabe
Jörg Bröckel
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Voith Patent GmbH
Original Assignee
Voith Patent GmbH
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    • G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/10—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
    • G01B7/107—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance for measuring objects while moving
    • D—TEXTILES; PAPER
    • D21—PAPER-MAKING; PRODUCTION OF CELLULOSE
    • D21F—PAPER-MAKING MACHINES; METHODS OF PRODUCING PAPER THEREON
    • D21F7/00—Other details of machines for making continuous webs of paper
    • D21F7/06—Indicating or regulating the thickness of the layer; Signal devices
    • G—PHYSICS
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    • G01B21/08—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness
    • G—PHYSICS
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    • G01B2210/00—Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
    • G01B2210/40—Caliper-like sensors
    • G01B2210/44—Caliper-like sensors with detectors on both sides of the object to be measured

Definitions

  • the invention relates to a method for contactless determination of the thickness of a material web, in particular fibrous web, by means of a sensor arrangement comprising at least two measuring plates, between which the material web can be passed, wherein between each measuring plate and the material web in each case an air cushion is generated to the measuring plates in to keep a distance to the material web.
  • Optical thickness sensors for the contactless determination of the thickness of a material web, in particular fibrous web are known from the publications EP 1 855 082 A1 and EP 1 855 083 A1.
  • the opposite sides of the material web-positioned optical measuring units to be arranged exactly in the same optical axis to eliminate erroneous measurements by a non-perpendicular to the optical axis extending paper web.
  • FIG. 1 shows a schematic representation of a conventional device for non-contact thickness determination in which only one optical sensor 16 or 18 is assigned to a respective measuring unit.
  • FIG. 1 shows a schematic representation of a conventional device for non-contact thickness determination in which only one optical sensor 16 or 18 is assigned to a respective measuring unit.
  • an inclination of the measuring plates 12, 14 can not be compensated.
  • an inaccurate measurement results in such a conventional device with only one beam path on a respective web side, an inaccurate measurement results.
  • the invention has for its object to provide an improved method of the type mentioned above, with which in particular for thin webs or papers and especially for material webs or papers with a thickness ⁇ 50 microns reliable measurements are obtained.
  • this object is achieved in that a sensor arrangement is used which comprises both at least one magnetic sensor and optical distance measuring devices, wherein the Distance between the arranged on opposite sides of the material web measuring plates magnetically and the distance between a respective measuring plate and the material web is determined by optical distance measuring means which are provided on the arranged on the opposite sides of the material web measuring plates.
  • a magnetic and an optical measuring method are combined with one another.
  • the measuring plates can be kept at a constant distance to the material web via the air cushions.
  • the magnetically determined measuring plate distance can also be used.
  • the magnetic determination of the distance between the measuring plates arranged on opposite sides of the material web preferably takes place via a magnetic measurement at at least three different points.
  • optical determination of the distance between a respective measuring plate and the material web takes place via at least three optical spacing devices provided on a respective measuring plate.
  • the thickness of the material web from the magnetically determined distance between the mutually opposite sides the material web arranged measuring plates and the optically determined distances between the mutually opposite sides of the material web arranged measuring plates and the material web determined.
  • an evaluation device with a corresponding algorithm for calculating the material web thickness can be used.
  • the magnetically determined distance measurement values between the measuring plates arranged on mutually opposite sides of the material web are converted at the position of the magnetic sensors to the position of the optical sensors, wherein the required accuracy is achieved by converting the magnetic measurement value to the position of the optical sensors.
  • a further improvement in accuracy is achieved by using in each case all the magnetically determined distance measurement values between the measuring plates arranged on opposite sides of the material web at the positions of the magnetic sensors for calculating the respective distance value at the position of the optical sensors.
  • the magnetic determination of the distance between the mutually opposite sides of the material web arranged measuring plates is preferably carried out via at least one provided on the measuring plate on one side of the material web magnetic sensor.
  • Magnetic sensor seen the measuring plate on the opposite side of the material web preferably at least partially made of ferrite.
  • a respective optical distance measuring device or optical sensor of the sensor arrangement according to the invention can be designed in particular as described in EP 1 855 082 A1 or EP 1 855 083 A1.
  • EP 1 855 082 A1 discloses an optical sensor with a device for determining the distance to an object, in which at least one lens arrangement is provided in order to focus light from a light source, in particular a laser light source, on the object and from the object to collect reflected and backscattered light, a pinhole with a circular aperture is provided to form a circular beam of light from the reflected and backscattered light, and a circular light beam receiving detector system responsive to the beam diameter is provided the distance to the object is based on signals from the detector system.
  • An analyzer in particular assigned to the detector system, can be designed to determine the thickness of the object.
  • At least one lens arrangement can be provided on both sides of the object, and the lens arrangements arranged on different sides can have a defined spacing from one another.
  • the thickness of the object can be determined in this case in particular by the fact that the respectively determined distances between the provided on the two sides of the object lens arrays are summed to the object and the sum obtained is subtracted from the defined distance between the lens assemblies.
  • a comparable optical sensor is described in EP 1 855 083 A1, in which a light source of low coherence is used which, in particular, may comprise a superluminescent diode.
  • An optical window can be provided between a respective lens arrangement and the object.
  • FIG. 2 shows a schematic representation of a measuring plate 10, on or on which both a plurality of magnetic sensors 121 - 123 and a plurality of optical distance measuring devices or sensors 14i - 143 are arranged.
  • the measuring plate (not shown), which is provided on the opposite side of the material web, may consist at least partially or entirely of ferrite and serves as a counterpart to the magnetic sensors of the example shown in FIG. 2, for example upper measuring plate 10.
  • the measuring plate not shown, for example Also includes a plurality of optical sensors, which are advantageously the optical sensors 14i - 143 of the illustrated upper measuring plate 10 exactly opposite.
  • a method for the contactless determination of the thickness of a material web, in particular fibrous web by means of a sensor arrangement which encompasses at least two measuring plates, between which the material web can be guided, wherein between each measuring plate and the material web in each case an air cushion is generated in order to keep the measuring plates at a distance from the material web.
  • the fibrous web may in particular be a paper or board web.
  • a sensor arrangement which comprises both at least one magnetic sensor 121-123 as well as optical distance measuring devices 14i-143.
  • the distance between the mutually facing sides of the material web arranged measuring plates is determined magnetically and the distance between a respective measuring plate and the material web via optical distance measuring devices 14i - 143, which are provided on the arranged on the opposite sides of the material web measuring plates.
  • the measuring plates can be kept at a constant distance to the material web via the air cushions.
  • the magnetic determination of the distance between the mutually opposite sides of the material web arranged measuring plates can, as is apparent from Fig. 2, carried out by a magnetic measurement at least three different points, in the present case, only three such magnetic measurements are provided.
  • the optical determination of a distance between a respective measuring plate and the material web can, as is also apparent from FIG. 2, in each case take place via at least three optical distance measuring devices provided on a respective measuring plate, in the present case being arranged on the mutually opposite sides of the material web. Neten measuring plates in each case only three optical measuring distance devices 14i - 143 are provided.
  • the thickness of the material web can be determined from the magnetically determined distance between the measuring plates arranged on opposite sides of the material web and the optically determined distances between the measuring plates arranged on opposite sides of the material web and the material web.
  • FIG. 2 also defines the geometrical distances which are used to calculate the positions of the optical sensors.
  • H12 Hl + (C1 / A1) * [H1 - (H2 + H3) / 2] + [(B2 / 2) / Bl] * (H2-H3)
  • an evaluation device with a corresponding algorithm can be provided which suitably combines all the measured values determined or over which the material web thickness is correspondingly calculated.
  • the magnetic determination of the distance between the measuring plates arranged on opposite sides of the material web preferably takes place via at least one magnetic sensor 12i-12 3 provided on the measuring plate 10 on one side of the material web.
  • the measuring plate on the opposite side of the web partially or entirely made of ferrite.
  • the magnetic determination of the distance between the mutually opposite sides of the material web arranged measuring plates can be carried out via at least three provided on the measuring plate 10 on one side of the mate- rialbahn magnetic sensors 121 - 123, wherein in the embodiment shown in FIG. 2 of the respective measuring plate 10th only three such magnetic sensors 121 - 123 are provided.

Abstract

Ein Verfahren zur berührungslosen Bestimmung der Dicke einer Materialbahn, insbesondere Faserstoffbahn, mittels einer Sensoranordnung, die zumindest zwei Messplatten umfasst, zwischen denen die Materialbahn hindurch führbar ist, wobei zwischen jeder Messplatte und der Materialbahn jeweils ein Luftkissen erzeugt wird, um die Messplatten in einem Abstand zur Materialbahn zu halten, zeichnet sich dadurch aus, dass eine Sensoranordnung verwendet wird, die sowohl wenigstens einen magnetischen Sensor als auch optische Abstandsmesseinrichtungen umfasst, wobei der Abstand zwischen den auf einander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten magnetisch und der Abstand zwischen einer jeweiligen Messplatte und der Materialbahn über optische Abstandmesseinrichtungen ermittelt wird, die an den auf den einander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten vorgesehen sind.

Description

Verfahren zur berührungslosen Bestimmung der
Dicke einer Materialbahn
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur berührungslosen Bestimmung der Dicke einer Materialbahn, insbesondere Faserstoffbahn, mittels einer Sensoranordnung, die zumindest zwei Messplatten umfasst, zwischen denen die Materialbahn hindurchführbar ist, wobei zwischen jeder Messplatte und der Materialbahn jeweils ein Luftkissen erzeugt wird, um die Messplatten in einem Abstand zur Materialbahn zu halten.
Für die berührungslose Dickenmessung wird bisher entweder ein magnetisches oder ein optisches Verfahren eingesetzt. Beide Verfahren erlauben jedoch nur die Messung von dickeren Papieren, d.h. insbesondere von
Papieren mit einer Dicke > 50 μm, da bei dünneren Papieren verfahrensbedingt nicht die erforderliche Genauigkeit erreicht wird.
Optische Dickensensoren zur berührungslosen Bestimmung der Dicke einer Materialbahn, insbesondere Faserstoffbahn, sind aus den Druckschriften EP 1 855 082 Al und EP 1 855 083 Al bekannt.
Bei der berührungslosen Dickenmessung von Papier sind einerseits der Abstand zwischen den aufeinander gegenüberliegenden Seiten der Materi- albahn angeordneten optischen Messeinheiten bzw. Messplatten und andererseits die Abstände zwischen diesen Messeinheiten bzw. Messplatten und der Materialbahn zu ermitteln, wobei die Abstände zwischen den Messeinheiten und der Materialbahn durch eine optische Messung erfolgt. Dabei müssen die auf einander gegenüberliegenden Seiten der Material- bahn positionierten optischen Messeinheiten exakt in derselben optischen Achse angeordnet sein, um Fehlmessungen durch eine nicht senkrecht zur optischen Achse verlaufende Papierbahn zu beseitigen. Insbesondere durch den Luftstau der bewegten Papierbahn kann es jedoch zu einer Schrägstellung zwischen den auf einander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn vorgesehenen optischen Messeinheiten oder Messköpfen kommen, was einer fehlerhaften Messung führt. Ein solcher beispielsweise durch den Luftstau der bewegten Material- bzw. Faserstoffbahn 10 hervorgerufenen Schrägstellung zwischen einer oberen und einer unteren optischen Messeinheit bzw. deren Messplatten 12, 14 kann der Fig. 1 entnommen werden, die in schematischer Darstellung eine herkömmliche Vorrichtung zur berührungslosen Dickenbestimmung zeigt, bei der einer jeweiligen Messeinheit jeweils nur ein optischer Sensor 16 bzw. 18 zugeordnet ist. Bei einer solchen herkömmlichen Vorrichtung kann eine Schrägstellung der Messplatten 12, 14 nicht kompensiert werden. Es ergibt sich also bei einer solchen herkömmlichen Vorrichtung mit nur einem Strahlengang auf einer jeweiligen Materialbahnseite eine unge- naue Messung.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein verbessertes Verfahren der eingangs genannten Art anzugeben, mit dem insbesondere auch für dünnere Materialbahnen bzw. Papiere und insbesondere auch für Material- bahnen bzw. Papiere mit einer Dicke < 50 μm zuverlässige Messwerte erhalten werden.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, dass eine Sensoranordnung verwendet wird, die sowohl wenigstens einen magnetischen Sen- sor als auch optische Abstandsmesseinrichtungen umfasst, wobei der Abstand zwischen den auf einander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten magnetisch und der Abstand zwischen einer jeweiligen Messplatte und der Materialbahn über optische Abstandmesseinrichtungen ermittelt wird, die an den auf den einander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten vorgesehen sind.
Erfindungsgemäß werden somit ein magnetisches und ein optisches Messverfahren miteinander kombiniert.
Die Messplatten können über die Luftkissen jeweils in konstantem Abstand zu der Materialbahn gehalten werden.
Zur entsprechenden Regelung des Messplattenabstandes auf einen kon- stanten Wert kann der magnetisch ermittelte Messplattenabstand mit herangezogen werden.
Bevorzugt erfolgt die magnetische Ermittlung des Abstandes zwischen den aufeinander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten über eine magnetische Messung an wenigstens drei unterschiedlichen Punkten.
Von Vorteil ist insbesondere auch, wenn die optische Ermittlung des Abstandes zwischen einer jeweiligen Messplatte und der Materialbahn jeweils über wenigstens drei an einer jeweiligen Messplatte vorgesehene optische Abstandseinrichtungen erfolgt.
Gemäß einer vorteilhaften praktischen Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens wird die Dicke der Materialbahn aus dem magnetisch ermittelten Abstand zwischen den aufeinander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten und den optisch ermittelten Abständen zwischen den aufeinander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten und der Materialbahn bestimmt. Dazu kann eine Auswerteeinrichtung mit einem entsprechenden Algo- rithmus zur Berechnung der Materialbahndicke eingesetzt werden.
Da die magnetischen Sensoren und die optischen Sensoren nicht an der gleichen Stelle auf der Messplatte angeordnet sein können wird der magnetisch ermittelten Abstandsmesswerte zwischen den auf einander gege- nüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten an der Position der magnetischen Sensoren auf die Position der optischen Sensoren umgerechnet, wobei durch die Umrechnung des magnetischen Messwertes auf die Position der optischen Sensoren die erforderliche Genauigkeit erreicht wird.
Eine weitere Verbesserung der Genauigkeit wird dadurch erreicht , dass jeweils alle magnetisch ermittelten Abstandsmesswerte zwischen den auf einander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten an den Positionen der magnetischen Sensoren zur Berechnung des jeweiligen Abstandswertes an der Position der optischen Sensoren verwendet werden.
Die magnetische Ermittlung des Abstandes zwischen den aufeinander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten erfolgt bevorzugt über wenigstens einen an der Messplatte auf einer Seite der Materialbahn vorgesehenen magnetischen Sensor.
Dabei besteht für eine solche magnetische Ermittlung des Messplattenab- standes über den wenigstens einen auf einer Seite der Materialbahn vor- gesehenen magnetischen Sensor die Messplatte auf der gegenüberliegenden Seite der Materialbahn bevorzugt zumindest teilweise aus Ferrit.
Gemäß einer zweckmäßigen praktischen Ausgestaltung des erfindungs- gemäßen Verfahrens erfolgt die magnetische Ermittlung des Abstandes zwischen den aufeinander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten über wenigstens drei an der Messplatte auf einer Seite der Materialbahn vorgesehene magnetische Sensoren. Eine jeweilige optische Abstandsmesseinrichtung bzw. optische Sensor der erfindungsgemäßen Sensoranordnung kann im Übrigen insbesondere so ausgeführt sein, wie dies in der EP 1 855 082 Al oder EP 1 855 083 Al beschrieben ist. So ist aus der EP 1 855 082 Al beispielsweise ein optischer Sensor mit einer Einrichtung zur Bestimmung der Entfernung zu einem Objekt bekannt, bei der zumindest eine Linsenanordnung vorgesehen ist, um Licht von einer Lichtquelle, insbesondere Laserlichtquelle, auf das Objekt zu fokussieren und vom Objekt reflektiertes und zurück gestreutes Licht zu sammeln, eine Lochblende mit einer kreisförmigen Öffnung vorgesehen ist, um aus dem reflektierten und zurück gestreuten Licht einen kreisförmigen Lichtstrahl zu bilden, und ein den kreisförmigen Lichtstrahl empfangendes Detektorsystem vorgesehen ist, das auf den Lichtstrahldurchmesser anspricht, wobei die Bestimmung des Abstandes zu dem Objekt auf der Basis von Signalen vom Detektorsystem erfolgt. Ein insbesondere dem Detektorsystem zugeordneter Analysator kann zur Bestimmung der Dicke des Objekts ausgeführt sein. Dabei kann auf beiden Seiten des Objekts jeweils wenigstens eine Linsenanordnung vorgesehen sein, und die auf unterschiedlichen Seiten angeordneten Linsenanordnungen können einen definierten Abstand voneinander aufweisen. Die Dicke des Objekts kann in diesem Fall insbesondere dadurch bestimmt werden, dass die jeweils ermittelten Abstände zwischen den auf den beiden Seiten des Objekts vorgesehenen Linsenanordnungen zum Objekt aufsummiert werden und die erhaltene Summe vom definierten Abstand zwischen den Linsen- anordnungen subtrahiert wird.
In der EP 1 855 083 Al ist ein vergleichbarer optischer Sensor beschrieben, bei dem eine Lichtquelle geringer Kohärenz verwendet wird, die insbesondere eine Superlumineszenzdiode umfassen kann. Zwischen einer jeweiligen Linsenanordnung und dem Objekt kann ein optisches Fenster vorgesehen sein.
Die Erfindung wird im folgenden anhand eines Ausführungsbeispiels unter Bezugnahme auf die Zeichnungen näher erläutert.
Dabei zeigt Figur 2 in schematischer Darstellung eine Messplatte 10, an oder auf der sowohl mehrere magnetische Sensoren 121 - 123 als auch mehrere optische Abstandsmesseinrichtungen oder Sensoren 14i - 143 angeordnet sind.
Die auf der gegenüberliegenden Seite der Materialbahn vorgesehene, nicht gezeigte Messplatte kann zumindest teilweise oder ganz aus Ferrit bestehen und dient als Gegenstück zu den magnetischen Sensoren der an der Fig. 2 dargestellten, beispielsweise oberen Messplatte 10. Die nicht darge- stellte, beispielsweise untere Messplatte enthält ebenfalls mehrere optische Sensoren, die vorteilhafterweise den optischen Sensoren 14i - 143 der dargestellten oberen Messplatte 10 exakt gegenüberliegen.
Erfindungsgemäß wird also ein Verfahren zur berührungslosen Bestim- mung der Dicke einer Materialbahn, insbesondere Faserstoffbahn, mittels einer Sensoranordnung angegeben, die zumindest zwei Messplatten um- fasst, zwischen denen die Materialbahn hindurchführbar ist, wobei zwischen jeder Messplatte und der Materialbahn jeweils ein Luftkissen erzeugt wird, um die Messplatten in einem Abstand zur Materialbahn zu halten. Bei der Faserstoffbahn kann es sich insbesondere um eine Papieroder Kartonbahn handeln.
Dabei wird eine Sensoranordnung verwendet, die sowohl wenigstens einen magnetischen Sensor 121 - 123 als auch optische Abstandsmesseinrich- tungen 14i - 143 umfasst. Dabei wird der Abstand zwischen den aufeinander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten magnetisch und der Abstand zwischen einer jeweiligen Messplatte und der Materialbahn über optische Abstandsmesseinrichtungen 14i - 143 ermittelt, die an den auf den einander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten vorgesehen sind.
Die Messplatten können über die Luftkissen jeweils in konstantem Abstand zu der Materialbahn gehalten werden. Die magnetische Ermittlung des Abstandes zwischen den aufeinander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten kann, wie sich aus der Fig. 2 ergibt, über eine magnetische Messung an wenigstens drei unterschiedlichen Punkten erfolgen, wobei im vorliegenden Fall nur drei solche magnetischen Messungen vorgesehen sind.
Die optische Ermittlung eines Abstandes zwischen einer jeweiligen Messplatte und der Materialbahn kann, wie sich ebenfalls aus der Fig. 2 ergibt, jeweils über wenigstens drei an einer jeweiligen Messplatte vorgesehene optische Abstandsmesseinrichtungen erfolgen, wobei im vorliegenden Fall an den aufeinander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeord- neten Messplatten jeweils nur drei optische Messabstandseinrichtungen 14i - 143 vorgesehen sind.
Die Dicke der Materialbahn kann aus dem magnetisch ermittelten Ab- stand zwischen den aufeinander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten und den optisch ermittelten Abständen zwischen den aufeinander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten und der Materialbahn bestimmt werden.
Dabei werden zunächst die magnetisch ermittelten Abstandswerte in den Positionen 12i, 122, 123, auf die Positionen der optischen Sensoren 14i,
142, 143 berechnet. In Figur 2 sind auch die geometrischen Abstände definiert, die zur Berechnung auf die Positionen der optischen Sensoren verwendet werden. H12 = Hl + (C1 /A1)*[H1 - (H2+H3)/2] + [(B2/2)/Bl]*(H2-H3)
H13 = Hl + (Cl /Al)*[ Hl - (H2+H3)/2] - [(B2/2)/Bl]*( H2-H3) HI l = (H2+H3)/2 + (C2/Al)*[(H2+H3)/2 - Hl]
Hl : Magnetische Messung an 121
H2: Magnetische Messung an 122
H3: Magnetische Messung an 123
HI l : Magnetische Werte berechnet an 14i
H 12: Magnetische Werte berechnet an 142
H 13: Magnetische Werte berechnet an 143
Zur Berechnung des eigentlichen Dickenwertes der Materialbahn, kann eine Auswerteeinrichtung mit einem entsprechenden Algorithmus vorgesehen sein, der alle ermittelten Messwerte geeignet kombiniert bzw. über den die Materialbahndicke entsprechend berechnet wird. Wie bereits ausgeführt, erfolgt die magnetische Ermittlung des Abstandes zwischen den aufeinander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten bevorzugt über wenigstens einen an der Messplatte 10 auf einer Seite der Materialbahn vorgesehenen magnetischen Sensor 12i - 123.
Dabei kann zur magnetischen Ermittlung des Messplattenabstandes über den wenigstens einen auf einer Seite der Materialbahn vorgesehenen magnetischen Sensor 121 - 123 die Messplatte auf der gegenüberliegenden Seite der Materialbahn teilweise oder ganz aus Ferrit bestehen.
Die magnetische Ermittlung des Abstandes zwischen den aufeinander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten kann über wenigstens drei an der Messplatte 10 auf einer Seite der Mate- rialbahn vorgesehene magnetische Sensoren 121 - 123 erfolgen, wobei beim in der Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel der betreffenden Messplatte 10 nur drei solche magnetische Sensoren 121 - 123 vorgesehen sind.
Bezugszeichenliste
10 Messplatte
121 magnetischer Sensor
122 magnetischer Sensor
123 magnetischer Sensor
141 optische Abstandsmesseinrichtung
142 optische Abstandsmesseinrichtung
143 optische Abstandsmesseinrichtung Al , Bl , B2, Cl , C2 Abstände

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zur berührungslosen Bestimmung der Dicke einer Materialbahn, insbesondere Faserstoffbahn, mittels einer Sensoranordnung, die zumindest zwei Messplatten umfasst, zwischen denen die Materialbahn hindurchführbar ist, wobei zwischen jeder Messplatte und der Materialbahn jeweils ein Luftkissen erzeugt wird, um die
Messplatten in einem Abstand zur Materialbahn zu halten, dadurch gekennzeichnet,
dass eine Sensoranordnung verwendet wird, die sowohl wenigstens einen magnetischen Sensor (12i - 123) als auch optische Abstands- messeinrichtungen (14i - 143) umfasst, wobei der Abstand zwischen den auf einander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten magnetisch und der Abstand zwischen einer jeweiligen Messplatte und der Materialbahn über optische Abstandmesseinrichtungen (14i - 143) ermittelt wird, die an den auf den einander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten
Messplatten vorgesehen sind.
2. Verfahren nach Anspruch 1 ,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Messplatten über die Luftkissen jeweils in konstantem
Abstand zu der Materialbahn gehalten werden.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, dass die magnetische Ermittlung des Abstandes zwischen den auf einander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten über eine magnetische Messung an wenigstens drei unterschiedlichen Punkten (12i - 123) erfolgt.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass die optische Ermittlung des Abstandes zwischen einer jeweiligen Messplatte und der Materialbahn jeweils über wenigstens drei an einer jeweiligen Messplatte vorgesehene optische Abstandmesseinrichtungen (14i - 143) erfolgt.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Dicke der Materialbahn aus dem magnetisch ermittelten
Abstand zwischen den auf einander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten und den optisch ermittelten Abständen zwischen den auf einander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten und der Material- bahn bestimmt wird.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass die magnetisch ermittelten Abstandsmesswerte zwischen den aufeinander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten an der Position der magnetischen Sensoren (12i - 123) auf die Position der optischen Sensoren (14i - 143) umgerechnet werden.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
dass jeweils alle magnetisch ermittelten Abstandsmesswerte zwischen den auf einander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten an den Positionen der magnetischen Sensoren (12i - 123) zur Berechnung des jeweiligen Abstandswertes an der Position der optischen Sensoren (14i - 143) verwendet werden.
8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass die magnetische Ermittlung des Abstandes zwischen den auf einander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten über wenigstens einen an der Messplatte (10) auf einer Seite der Materialbahn vorgesehenen magnetischen Sensor erfolgt.
9. Verfahren nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
dass zur magnetischen Ermittlung des Messplattenabstandes über den wenigstens einen auf einer Seite der Materialbahn vorgesehenen magnetischen Sensor (12i - 123) die Messplatte auf der gegenüberliegenden Seite der Materialbahn zumindest teilweise aus Ferrit besteht.
10. Verfahren nach Anspruch 8 oder 9,
dadurch gekennzeichnet,
dass die magnetische Ermittlung des Abstandes zwischen den auf einander gegenüberliegenden Seiten der Materialbahn angeordneten Messplatten über wenigstens drei an der Messplatte (10) auf einer Seite der Materialbahn vorgesehene magnetische Sensoren (12i - 123) erfolgt.
EP10720795A 2009-07-02 2010-06-07 Verfahren zur berührungslosen bestimmung der dicke einer materialbahn Withdrawn EP2449339A1 (de)

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US (1) US20130003047A1 (de)
EP (1) EP2449339A1 (de)
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WO (1) WO2011000667A1 (de)

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