EP2090945B1 - Eingabebaugruppe und Verfahren zur Fehlererkennung - Google Patents

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EP2090945B1
EP2090945B1 EP20080002771 EP08002771A EP2090945B1 EP 2090945 B1 EP2090945 B1 EP 2090945B1 EP 20080002771 EP20080002771 EP 20080002771 EP 08002771 A EP08002771 A EP 08002771A EP 2090945 B1 EP2090945 B1 EP 2090945B1
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analog
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Reinhard Mark
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    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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    • G05B19/02—Programme-control systems electric
    • G05B19/04—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
    • G05B19/042—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using digital processors
    • G05B19/0428—Safety, monitoring
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/20—Pc systems
    • G05B2219/24—Pc safety
    • G05B2219/24196—Plausibility check in channels for correct sequence or result
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
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    • G05B2219/20—Pc systems
    • G05B2219/25—Pc structure of the system
    • G05B2219/25435—Multiplex for analog signals

Definitions

  • the invention relates to an input module for acquiring analog measured values, comprising a first input channel for a first measurement signal, a second input channel for a second measurement signal, a first multiplexer, a second multiplexer, a first analog-to-digital converter, a second analog-to-digital converter , wherein each one input channel is assigned to a multiplexer and the first multiplexer is connected to the first and the second analog-to-digital converter such that the first measurement signal as the first input value at the first analog-to-digital converter and as a second input value at the second analog Digital converter is applied. Furthermore, the invention relates to a method for error detection in the operation of an input module for acquiring analog measured values.
  • the object of the invention is to provide an input module, which allows error detection with internal errors. For example, the error detection of the errors caused by the multiplexers used in the input modules.
  • the object is achieved by an input module having the features of claim 1.
  • the invention is based on the finding that within a voltage mesh, the input voltage of the analog-to-digital converter can be influenced.
  • a potential applied as input to the analog-to-digital converter can be shifted.
  • symmetrical conditions exist in the voltage meshes of an input module in the error-free case.
  • the symmetry is disturbed in the event of a fault. This asymmetry can be evaluated and thus a fault within the input module can be determined.
  • the means for forming the difference are formed as arranged between the multiplexers and the inputs of the analog-to-digital converters series resistors, wherein in the input module, a Aufschaltvorraum for connecting test levels to the analog-to-digital converter is present.
  • a Friedschaltvorraum for connecting test levels to the analog-to-digital converter is present.
  • the fault detection in one input module is increased by another.
  • a current flowing through the series resistor results in a voltage drop across this series resistor and thus influences the symmetry of the voltage mesh or provides a difference between the first input value and the second input value.
  • the series resistances which are connected downstream of the multiplexer, it is possible to detect any errors, such as interruptions, short circuits or common cause errors in the multiplexers by the comparison or the test of the analog-to-digital converter.
  • the input channels are designed as voltage dividers.
  • a process signal flowing across the voltage divider e.g. 4 ... 20 mA causes two equal voltage drops on the voltage divider, which consists of two equivalent resistors.
  • These two equal partial voltages are conducted by means of the multiplexer via a plurality of switches and via the series resistors on the one hand as a first partial voltage to the first analog-to-digital converter and on the other as a second partial voltage to the second analog-to-digital converter. In the fault-free state, an input voltage of the same level must therefore be present at both analog-to-digital converters.
  • a microcontroller is connected to the analog-to-digital converter for comparison of the input values digitized by the analog-to-digital converter.
  • the microcontroller which is designed as an evaluation unit, a comparison of the digitized analog values determined by the analog-to-digital converters takes place.
  • Such an evaluation unit can be designed, for example, as an ASIC or FPGA.
  • the method of error detection in an input module for detecting analog measured values wherein via a first input channel, a first measurement signal by means of a multiplexer to the input of a first analog-to-digital converter as a first input value and to the input of a second analog-to-digital converter as a second input value is switched, in the case of an error, the input values are influenced by means for forming a difference and this difference is detected as an error, are solved by the features of claim 5.
  • the digitized analog first input value is preferably compared with the digitized analog second input value, and if the difference exceeds a determinable limit, an error is reported.
  • an input module 1 for detecting an analog first measurement signal 3a and an analog second measurement signal 3b is illustrated in simplified form.
  • the first measuring signal 3a is applied to the first input channel 2a and is divided over the first voltage divider 4a into two partial voltages of the same height.
  • the switches S1 to S6 of the first multiplexer 5a are closed.
  • the first partial voltage of the first voltage divider 4a is fed via the following current path to the first analog-to-digital converter 6a.
  • the series resistors 8 have a value of 15 k ⁇ compared with the input resistance of the analog-to-digital converters 6a, 6b, with the analog-to-digital converters 6a, 6b having an input resistance of 80 M ⁇ . Since the ratio of the series resistors 8 to the input resistors of the analog-to-digital converters 6a, 6b is very high, the series resistors 8 do not affect the measurement result of the analog-to-digital converters 6a, 6b in the error-free case.
  • the second partial voltage of the first voltage divider 4a from the first input channel 2a is also conducted via a fourth switch S4 and a fifth switch S5 of the first multiplexer 5a by means of a series resistor 8 to the second analog-to-digital converter 6b.
  • the current which in this case causes the voltage for the second input value 7b at the second analog-digital converter 6b finds its way back to the first input channel 2a via a further series resistor 8 and via a sixth switch S6 of the first multiplexer 5a. Due to the redundant mapping of the first measurement signal 3a to a mutually independently operating analog-to-digital converter 6a, 6b, the availability of detection of the first measurement signal 3a already increases.
  • the first multiplexer 5a is active and the second multiplexer 5b is inactive. Active here means that all switches S1 to S6 of the first multiplexer 5a in error-free state are closed. Inactive here means that all switches S1 to S6 of the second multiplexer 5b are open in the faultless state. As an error in the second multiplexer 5b is now that the first switch S1 does not open. A compensating current can now flow via this defective switch S1 of the second multiplexer 5b. This compensating current is noticeable at the relatively low-resistance series resistor 8 as a voltage drop.
  • a microcontroller 9 connected to the first and second analog-to-digital converters 6a, 6b evaluates the digitized analog values and compares them with each other. If a predetermined limit is exceeded in this comparison, then this is reported via the microcontroller 9 as an error. Furthermore, the microcontroller 9 has the task of controlling the multiplexers 5a, 5b and in each case a first and a second switch-on device 10a, 10b via signal lines (not shown). The microcontroller 9 furthermore has a first and a second microcontroller 9a, 9b for the acquisition of the digitized values.
  • test levels A and B are connected to the analog-to-digital converters 6a, 6b. Due to the voltage drop across the series resistors 8 in the event of a fault and the resulting asymmetries in the different voltage loops, faults can be detected.
  • the connection of the test levels A to C takes place in each case in conjunction with a test of a reference signal 11a or 11b of 1.25 V.
  • all switching active devices can be considered, e.g. Semiconductor switches such as transistors.

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Description

  • Die Erfindung betrifft eine Eingabebaugruppe zur Erfassung analoger Messwerte, umfassend einen ersten Eingangskanal für ein erstes Messsignal, einen zweiten Eingangskanal für ein zweites Messsignal, einen ersten Multiplexer, einen zweiten Multiplexer, einen ersten Analog-Digital-Umsetzer, einen zweiten Analog-Digital-Umsetzer, wobei je einem Eingangskanal je ein Multiplexer zugeordnet ist und der erste Multiplexer mit dem ersten und dem zweiten Analog-Digital-Umsetzer derart verschaltet ist, dass das erste Messsignal als erster Eingangswert am ersten Analog-Digital-Umsetzer und als zweiter Eingangswert am zweiten Analog-Digital-Umsetzer anliegt. Des Weiteren betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Fehlererkennung bei dem Betrieb einer Eingabebaugruppe zur Erfassung analoger Messwerte.
  • In der Automatisierungstechnik ist es bei sicherheitsrelevanten Prozessen erforderlich, bestimmte Prozessgrößen fehlersicher zu erfassen. Hierbei erfolgt die Erfassung von analogen Eingangssignalen, wie z.B. Druck, Temperatur, Durchfluss, Füllstand, usw., z.B. durch eine 0...20 mA- oder 4...20 mA-Schnittstelle. Bedingt durch Normen, gesetzliche Auflagen und/oder zum Schutz von Mensch und Maschine ist es erforderlich, diese als Eingangssignale vorliegenden Messwerte nahezu fehlerfrei zu erfassen.
  • Nach dem Stand der Technik gibt es bereits Eingabebaugruppen, welche Analogwerte redundant und fehlersicher erfassen können. Aus der US 2004/007871 5 A1 bzw. aus der korrespondierenden EP 1 282 859 B1 ist ein Peripheriebaustein mit hoher Fehlersicherheit für speicherprogrammierbare Steuerungen bekannt. Der Peripheriebaustein kann als Eingabebaugruppe betrachtet werden und weist dazu eine Analog-Eingabe-Schaltung mit wenigstens zwei weitgehend identisch aufgebauten Kanälen zur parallelen Signal-Ein- und/oder -Ausgabe auf. Nachteilig an den nach dem Stand der Technik bekannten Eingabebaugruppen ist es, dass Fehler, welche beispielsweise bei den Multiplexern oder allgemein innerhalb der Baugruppe auftreten, nicht erkannt werden.
  • Aufgabe der Erfindung ist es, eine Eingabebaugruppe bereitzustellen, welche eine Fehleraufdeckung bei internen Fehlern ermöglicht. Beispielsweise die Fehleraufdeckung der Fehler, die durch die bei den Eingabebaugruppen eingesetzten Multiplexern hervorgerufen werden.
  • Die Aufgabe wird durch eine Eingabebaugruppe mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, dass innerhalb einer Spannungsmasche die Eingangsspannung des Analog-Digital-Umsetzers beeinflusst werden kann. Durch das Einfügen von Mitteln zur Bildung einer Differenz in der Spannungsmasche, welche im Wesentlichen durch die Eingangsspannung am Analog-Digital-Umsetzer und die Eingangsspannung des Messsignals gebildet wird, lässt sich ein als Eingangswert am Analog-Digital-Umsetzer anliegendes Potenzial verschieben. Beispielsweise liegen in der Spannungsmaschen einer Eingabebaugruppe im fehlerfreien Fall symmetrische Verhältnisse vor. Hingegen wird die Symmetrie im Fehlerfall gestört. Diese Unsymmetrie lässt sich auswerten und damit ein Fehlerfall innerhalb der Eingabebaugruppe feststellen.
  • Dabei sind die Mittel zur Bildung der Differenz als zwischen den Multiplexern und den Eingängen der Analog-Digital-Umsetzer angeordnete Längswiderstände ausgebildet, wobei in der Eingabebaugruppe eine Aufschaltvorrichtung zum Aufschalten von Testpegeln an den Analog-Digital-Umsetzer vorhanden ist. Durch die Aufschaltung mehrerer verschiedener Messwerte wird die Fehleraufdeckung in einer Eingabebaugruppe durch ein weiteres erhöht. Ein über den Längswiderstand fließender Strom hat einen Spannungsabfall an diesen Längswiderstand zur Folge und beeinflusst somit die Symmetrie der Spannungsmasche bzw. sorgt er für eine Differenz zwischen dem ersten Eingangswert und dem zweiten Eingangswert. Durch die Längswiderstände, welche dem Multiplexer nachgeschaltet sind, ist es möglich, beliebige Fehler, wie z.B. Unterbrechungen, Kurzschlüsse oder Common Cause-Fehler bei den Multiplexern durch den Vergleich bzw. den Test der Analog-Digital-Umsetzer aufzudecken.
  • In einer weiteren bevorzugten Ausgestaltung sind die Eingangskanäle als Spannungsteiler ausgebildet. Ein über den Spannungsteiler fließendes Prozesssignal, z.B. 4...20 mA ruft an dem Spannungsteiler, welcher aus zwei gleichwertigen Widerständen besteht, zwei gleiche Spannungsabfälle hervor. Diese zwei gleichen Teilspannungen werden mittels des Multiplexers über mehrere Schalter und über die Längswiderstände zum Einen als eine erste Teilspannung an den ersten Analog-Digital-Umsetzer geführt und zum Anderen als eine zweite Teilspannung an den zweiten Analog-Digital-Umsetzer geführt. Im fehlerfreien Zustand muss somit an beiden Analog-Digital-Umsetzern eine Eingangsspannung gleicher Höhe anliegen.
  • Vorzugsweise ist zum Vergleich der durch den Analog-Digital-Umsetzer digitalisierten Eingangswerte ein Microcontroller mit dem Analog-Digital-Umsetzer verschaltet. In dem Microcontroller, welcher als eine Auswerteeinheit ausgelegt ist, findet ein Vergleich der von den Analog-Digital-Umsetzern ermittelten digitalisierten Analogwerte statt. Solch eine Auswerteeinheit kann beispielsweise als ein ASIC oder FPGA ausgestaltet sein.
  • Verfahrensmäßig wird die Fehlererkennung bei einer Eingabebaugruppe zur Erfassung analoger Messwerte, wobei über einen ersten Eingangskanal ein erstes Messsignal mittels eines Multiplexers an den Eingang eines ersten Analog-Digital-Umsetzers als erster Eingangswert und an den Eingang eines zweiten Analog-Digital-Umsetzer als zweiten Eingangswert geschaltet wird, wobei im Fehlerfall die Eingangswerte über Mittel zur Bildung einer Differenz beeinflusst werden und diese Differenz als Fehler erkannt wird, durch die Merkmale des Anspruchs 5 gelöst werden.
  • Weitere verfahrensgemäße Vorteile sind dem Beispiel zu entnehmen.
  • Bevorzugt wird bei dem Verfahren der digitalisierte analoge ersten Eingangswert mit dem digitalisierten analogen zweiten Eingangswert verglichen und wenn die Differenz eine bestimmbare Grenze überschreitet ein Fehler gemeldet. Durch den Vergleich der bereits digitalisierten Werte ist es möglich, auch die fehlerfreie Funktion der Analog-Digital-Umsetzer zu betrachten.
  • Im Folgenden wird die Erfindung anhand der Figuren näher beschrieben und erläutert. Es zeigt:
    • FIG 1 ein Blockschaltbild einer Eingabebaugruppe mit Längswiderständen und Multiplexer.
  • Gemäß FIG 1 ist eine Eingabebaugruppe 1 zur Erfassung eines analogen ersten Messsignals 3a und eines analogen zweiten Messsignals 3b vereinfacht dargestellt. Das erste Messsignal 3a liegt am ersten Eingangskanal 2a an und wird über den ersten Spannungsteiler 4a in zwei Teilspannungen gleicher Höhe aufgeteilt. In der folgenden Beschreibung wird nur das erste Messsignal 3a fehlersicher erfasst und das zweite Messsignal 3b wird vorläufig nicht betrachtet. Zur Erfassung des ersten Messsignals 3a sind die Schalter S1 bis S6 des ersten Multiplexers 5a geschlossen. Die erste Teilspannung des ersten Spannungsteilers 4a wird über folgenden Stromlaufweg an den ersten Analog-Digital-Umsetzer 6a geführt. Ausgehend vom oberen Anschlusspunkt des Eingangskanals 2a über den ersten Schalter S1 des Multiplexers 5a liegt in Reihe zum ersten Schalter S1 des Multiplexers 5a ein Längswiderstand 8. Über diesen Längswiderstand 8 ist der positive Eingangspunkt des ersten Analog-Digital-Umsetzers 6a angeschlossen. Der weitere negative Anschlusspunkt des ersten Analog-Digital-Umsetzers 6a führt über einen weiteren Längswiderstand 8 und über einen zweiten Schalter S2 und einen dritten Schalter S3 des Multiplexers 5a in den Mittelabgriff des ersten Spannungsteilers 4a. Durch diese Schaltungsanordnung wird die erste Teilspannung des ersten Spannungsteilers 4a als erster Eingangswert 7a an den ersten Analog-Digital-Umsetzer 6a geführt. Die Längswiderstände 8 weisen dabei gegenüber dem Eingangswiderstand der Analog-Digital-Umsetzer 6a,6b einen Wert von 15 kΩ auf, wobei die Analog-Digital-Umsetzer 6a,6b ca. einen Eingangswiderstand von 80 MΩ aufweisen. Da das Verhältnis der Längswiderstände 8 zu den Eingangswiderständen der Analog-Digital-Umsetzer 6a,6b sehr hoch ist, beeinflussen die Längswiderstände 8 im fehlerfreien Fall das Messergebnis der Analog-Digital-Umsetzer 6a,6b nicht.
  • Die zweite Teilspannung des ersten Spannungsteilers 4a vom ersten Eingangskanal 2a wird über einen vierten Schalter S4 und einen fünften Schalter S5 des ersten Multiplexers 5a ebenfalls mittels eines Längswiderstandes 8 an den zweiten Analog-Digital-Umsetzer 6b geführt. Der Strom, der hierbei am zweiten Analog-Digital-Umsetzer 6b die Spannung für den zweiten Eingangswert 7b hervorruft, findet seinen Rückweg zum ersten Eingangskanal 2a über einen weiteren Längswiderstand 8 und über einen sechsten Schalter S6 des ersten Multiplexers 5a. Durch die redundante Abbildung des ersten Messsignals 3a an jeweils einen voneinander unabhängig arbeitenden Analog-Digital-Umsetzer 6a,6b erhöht sich bereits die Verfügbarkeit der Erfassung des ersten Messsignals 3a.
  • Da aber auch die Schalter S1 bis S6 der Multiplexer 5a, 5b fehleranfällig sind und bisher keine Möglichkeit zur Verfügung stand, die Funktionsweise der Schalter S1 bis S6 der Multiplexer 5a, 5b zu testen, wird durch die Reihenschaltung der Längswiderstände 8 nun die Möglichkeit der Fehleraufdeckung für Fehler der Multiplexer 5a, 5b gegeben. Folgender Fehlerfall wäre vorstellbar:
  • Während der Erfassung des ersten Messsignals 3a über den ersten Eingangskanal 2a ist der erste Multiplexer 5a aktiv und der zweite Multiplexer 5b inaktiv. Aktiv bedeutet hierbei, dass alle Schalter S1 bis S6 des ersten Multiplexers 5a im fehlerfreien Zustand geschlossen sind. Inaktiv bedeutet hierbei, dass alle Schalter S1 bis S6 des zweiten Multiplexers 5b im fehlerfreien Zustand geöffnet sind. Als Fehler im zweiten Multiplexer 5b liegt nun vor, dass der erste Schalter S1 nicht mehr öffnet. Über diesen defekten Schalter S1 des zweiten Multiplexers 5b kann nun ein Ausgleichsstrom fließen. Dieser Ausgleichsstrom macht sich an dem relativ niederohmigen Längswiderstand 8 als Spannungsabfall bemerkbar. Dieser zusätzliche Spannungsabfall am Längswiderstand 8 führt dazu, dass eine Differenz zwischen dem ersten Eingangswert 7a und dem zweiten Eingangswert 7b auftritt. Ein mit dem ersten und zweiten Analog-Digital-Umsetzer 6a,6b verbundener Microcontroller 9 wertet die digitalisierten Analogwerte aus und vergleicht sie miteinander. Wird bei diesem Vergleich eine vorgegebene Grenze überschritten, so wird das über den Microcontroller 9 als Fehler gemeldet. Der Microcontroller 9 hat des Weiteren die Aufgabe, über nicht dargestellte Signalleitungen die Multiplexer 5a, 5b und jeweils eine erste und eine zweite Aufschaltvorrichtung 10a, 10b zu steuern. Der Microcontroller 9 weist weiterhin für die Erfassung der digitalisierten Werte einen ersten und einen zweiten Microcontroller 9a,9b auf.
  • Für weitere Tests der Funktionstüchtigkeit des ersten und zweiten Multiplexers 5a, 5b und der Funktionstüchtigkeit des ersten und zweiten Analog-Digital-Umsetzers 6a,6b können für den ersten Eingangskanal 2a und den zweiten Eingangskanal 2b über eine erste Aufschaltvorrichtung 10a und über eine zweite Aufschaltvorrichtung 10b je ein Testpegel A von 2,05 V, ein Testpegel B von 1,25 V und ein Testpegel C von 0,45 V an die Analog-Digital-Umsetzer 6a,6b angeschaltet werden. Aufgrund der im Fehlerfall über den Längswiderständen 8 abfallenden Spannung und der dadurch entstehenden Unsymmetrien in den unterschiedlichen Spannungsmaschen können Fehler aufgedeckt werden. Die Aufschaltung der Testpegel A bis C erfolgt jeweils in Verbindung mit einer Prüfung eines Referenzsignales 11a bzw. 11b von 1,25 V.
  • Durch die Integration von Längswiderständen 8 in die Messwerterfassung von Analogwerten und einer entsprechenden Anpassung einer Auswerteeinheit, hier der Microcontroller 9, kann die Fehlersicherheit, d.h. das sichere Erkennen eines Fehlers innerhalb der Eingabebaugruppe 1, erheblich erhöht werden. Des Weiteren kann bei einer Eingabebaugruppe 1 durch die Verwendung von Delta-Sigma-Umsetzern, aufgrund der spezifischen Eigenart dieser Umsetzer ein Test mit den Testpegeln A bis C in einer kürzeren Zeit erfolgen als bei dem Einsatz von herkömmlichen Umsetzern.
  • Als Schalter können sämtliche schaltende aktive Bauelemente betrachtet werden, z.B. Halbleiterschalter wie Transistoren.

Claims (7)

  1. Eingabebaugruppe (1) zur Erfassung analoger Messwerte, umfassend einen ersten Eingangskanal (2a) für ein erstes Messsignal (3a), einen zweiten Eingangskanal (2b) für ein zweites Messsignal (3b), einen ersten Multiplexer (5a), einen zweiten Multiplexer (5b), einen ersten Analog-Digital-Umsetzer (6a), einen zweiten Analog-Digital-Umsetzer (6b), wobei je einem Eingangskanal (2a,2b) je ein Multiplexer (5a,5b) zugeordnet ist und der erste Multiplexer (5a) mit dem ersten und dem zweiten Analog-Digital-Umsetzer (6a,6b) derart verschaltet ist, dass das erste Messsignal (3a) als erster Eingangswert (7a) am ersten Analog-Digital-Umsetzer (6a) und als zweiter Eingangswert (7b) am zweiten Analog-Digital-Umsetzer (6b) anliegt, wobei zwischen den Eingangskanälen (2a,2b) und den Analog-Digital-Umsetzern (6a,6b) Mittel zur Bildung einer Differenz zwischen dem ersten Eingangswert (7a) und dem zweiten Eingangswert (7b) angeordnet sind, wobei die Mittel zur Bildung der Differenz als zwischen den Multiplexern (5a, 5b) und den Eingängen der Analog-Digital-Umsetzer (6a,6b) angeordnete Längswiderstände (8) ausgebildet sind, d a - durch gekennzeichnet, dass eine erste Aufschaltvorrichtung (10a) und eine zweite Aufschaltvorrichtung (10b) vorhanden ist, wobei diese ausgestaltet sind je einen Testpegel an den ersten und zweiten Analog-Digital-Umsetzer (6a,6b) derart zu schalten, dass für den Fall, dass ein Schalter (S1, ..., S6) eines der Multiplexer (5a,5b) nicht mehr korrekt öffnet, über die Längswiderstände (8) Spannungen abfallen können, wobei durch die entstehenden Unsymmetrien ein Fehlerfall aufgedeckt wird.
  2. Eingabebaugruppe (1) nach Anspruch 1, wobei der erste Analog-Digital-Umsetzer (6a) mit einer ersten Referenzspannungsquelle (11a) und der zweite Analog-Digital-Umsetzer (6b) mit einer zweiten Referenzspannungsquelle (11b) verbunden ist.
  3. Eingabebaugruppe (1) nach Anspruch 1, wobei die Eingangskanäle (2a,2b) als Spannungsteiler (4a,4b) ausgebildet sind.
  4. Eingabebaugruppe (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei zum Vergleich der digitalisierten Eingangswerte ein Microcontroller (9) mit den Analog-Digital-Umsetzern (6a,6b) verschaltet ist.
  5. Verfahren zur Fehlererkennung bei einer Eingabebaugruppe (1) zur Erfassung analoger Messwerte (3a,3b), wobei über einen ersten Eingangskanal (2a) ein erstes Messsignal (3a) mittels eines Multiplexers (5a) an den Eingang eines ersten Analog-Digital-Umsetzers (6a) als erster Eingangswert (7a) und an den Eingang eines zweiten Analog-Digital-Umsetzers (6b) als zweiten Eingangswert (7b) geschaltet wird, wobei im Fehlerfall die Eingangswerte (7a,7b) über Mittel zur Bildung einer Differenz beeinflusst werden und diese Differenz als Fehler erkannt wird, wobei über einen Längswiderstand (8), welcher zwischen dem Multiplexern (5a,5b) und dem Eingang des Analog-Digital-Umsetzers (6a,6b) geschaltet wird, die Spannung des Eingangswertes (7a,7b) beeinflusst wird, da - durch gekennzeichnet, dass Testpegel auf die Analog-Digital-Umsetzer (6a,6b) derart aufgeschaltet werden, dass dadurch eine Funktionsweise von Schaltern (S1,...,S6) der Multiplexer (5a,5b) getestet wird, wobei in einem Fehlerfall über den Längswiderständen (8) eine Spannung abfällt und durch entstehende Unsymmetrien kann ein Fehler aufgedeckt werden.
  6. Verfahren nach Anspruch 5, wobei die Aufschaltung der Testpegel in Verbindung mit einer Prüfung eines Referenzsignals (11a, 11b) erfolgt.
  7. Verfahren nach Anspruch 5 oder 6, wobei der digitalisierte analoge erste Eingangswert (7a) mit dem digitalisierten anlogen zweiten Eingangswert (7b) verglichen und wenn die Differenz eine bestimmbare Grenze überschreitet ein Fehler gemeldet wird.
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013111888B4 (de) * 2013-10-29 2018-06-14 Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg Sicherheitsvorrichtung zum mehrkanaligen Verarbeiten eines analogen Eingangssignals
EP3696625B1 (de) * 2019-02-15 2022-04-13 Siemens Aktiengesellschaft Analog-eingabebaugruppe

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4210676A1 (de) * 1992-04-01 1993-10-07 Abb Patent Gmbh Programmierbare Steuerung mit Analoggeräten und Verfahren zum Abgleich
US5589766A (en) * 1995-04-06 1996-12-31 General Electric Company Field-testable integrated circuit and method of testing
DE10035174A1 (de) 2000-05-18 2001-12-06 Siemens Ag Peripheriebaustein mit hoher Fehlersicherheit für speicherprogrammierbare Steuerungen
ES2208609T3 (es) 2000-05-18 2004-06-16 Siemens Aktiengesellschaft Componente periferico con una alta seguridad frente a errores para controles programables con memoria.
DE102004010003A1 (de) * 2004-03-01 2005-09-29 Siemens Ag Automatisierungssystem und Verfahren zur Erkennung und Korrektur von Anschlussfehlern

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