EP1529220A2 - Method and circuit arrangement for current measurement - Google Patents

Method and circuit arrangement for current measurement

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Publication number
EP1529220A2
EP1529220A2 EP03790695A EP03790695A EP1529220A2 EP 1529220 A2 EP1529220 A2 EP 1529220A2 EP 03790695 A EP03790695 A EP 03790695A EP 03790695 A EP03790695 A EP 03790695A EP 1529220 A2 EP1529220 A2 EP 1529220A2
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
signal
circuit arrangement
current
potential
shunt
Prior art date
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Withdrawn
Application number
EP03790695A
Other languages
German (de)
French (fr)
Inventor
Reinhard Maier
Jürgen RUPP
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Publication of EP1529220A2 publication Critical patent/EP1529220A2/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/32Compensating for temperature change
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/146Measuring arrangements for current not covered by other subgroups of G01R15/14, e.g. using current dividers, shunts, or measuring a voltage drop
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
    • G01R19/252Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques using analogue/digital converters of the type with conversion of voltage or current into frequency and measuring of this frequency

Definitions

  • the invention relates to a method for current measurement according to the preamble of claim 1.
  • the invention also relates to the associated circuit arrangement.
  • a known method for current measurement is to measure the voltage drop using a shunt resistor.
  • ADC's di- gital-to-analog converter
  • the accuracy must not be adversely affected by the influence of the ambient temperature.
  • the electronic components (ADC, processor, etc.) must be supplied with power.
  • the invention is essentially characterized by the following measures or features: a) Dynamics: The ADC is not realized with a linear, but with a curved characteristic. This compresses the measurement signal and a lower number of bits is sufficient for the same dynamics. This method, which is known under the term compression, is intended to be used advantageously for current measurement. Possible characteristics are logarithmic characteristics (with special those zero treatment), the constants kon the advantage of a ⁇ , relative accuracy, ie errors based on the measured value, having, or a root function, in a microcontroller, provides the advantage of simple expansion by squaring, for example. b) Influence of the ambient temperature on the accuracy: No special resistance alloy is chosen for the shunt, but a piece of conductor material that is already present is used.
  • the subject of the already mentioned DE 101 05 982 AI with the designation 'method for evaluating a measured value and associated circuit arrangement ⁇ is, inter alia, a method for measuring current at potential, in which the supply current of the components at potential is obtained directly from the Relative to the network and transmit the measured value to the low potential by modulating the supply current.
  • the proposed method has the advantage that cheaper ADCs can be used which do not have to provide a high resolution over the entire measuring range.
  • Influence of the ambient temperature on the accuracy The proposed method has the advantage that no expensive special alloy has to be used, but a piece of conductor material that is already present is used. In addition, there is no need to attach (screw, rivet) the resistance element to the copper. Nevertheless, the temperature compensation achieves high measuring accuracy.
  • Power supply The proposed method has the advantage that costs, weight and space requirements are reduced, d) The voltage drop across the resistors occurs in any case with the current measuring device described and can therefore be used with simple means and inexpensively for the additional voltage measurement.
  • FIG. 1 shows the arrangement of a measuring device with a shunt at high potential and the shunt resistance
  • FIG. 2 shows a logarithmically compressed code for use in the measuring device according to FIG. 1
  • 3 shows a logarithmically expanded measured value USAGE ⁇ dung at the measuring device according to Figure 1
  • Figure 4 a corresponding to a square root curve Kompri ⁇ -programmed code as an alternative to Figure 2
  • Figure 5 is a corresponding expanded a square function measured value as an alternative to Figure 3.
  • Figure 6 shows an arrangement for current and voltage measurement in a three-phase system
  • FIG. 7 shows an alternative arrangement with means for short-circuit and / or overload shutdown.
  • FIG. 1 of DE 101 05 982 AI An advantageous arrangement of shunt resistance and measuring device is shown in FIG.
  • a shunt 1 is present in a phase L1 which is at a high potential, from which the measuring voltage Udiff 1 is passed via an amplifier 2 to an analog-digital converter 3 as part of a measuring device 5.
  • the voltage difference Uiff / which is a measure of the current through the shunt 1, is converted into a binary measured value by the analog / digital converter (ADC) 3 and transmitted as a binary signal to ground potential.
  • a unit 4 for signal compression is connected upstream of the ADC 3, with which, in particular, great signal dynamics can be taken into account in a cost-effective manner, the binary signal being subjected to a reverse expansion after it has been transmitted.
  • the latter can be carried out by software in the relevant evaluation unit, in particular in the microcontroller that is usually present, at ground potential.
  • the shunt resistance is temperature dependent according to the function:
  • FIGS. 2 and 3 The signals for a logarithmic compression / expansion are shown in FIGS. 2 and 3, in FIGS. 4 and 5 for a root / square compression / expansion.
  • the relevant characteristic curves are designated with 21, 31, 41 and 51.
  • FIG. 6 shows a measuring device for the current and voltage measurement in a 3-phase system with phases L1, L2 and L3.
  • the evaluation channel for Ll is complete, the identical channels for L2 and L3 only partially. It is essential here that three identical shunt resistors 61, 61, 61 ⁇ ⁇ are present in the individual channels, each of which is connected to a measuring unit 60 corresponding to the measuring device 5 according to FIG. 1.
  • Both the voltage supply at high and the voltage supply at low potential are obtained from the network via voltage dividers 66, 66 and 67, 67 ⁇ .
  • resistors 69, 69 at high potential and further switching elements, such as capacitors and blocking diodes, are present, with the means for signal rectification being generally referred to as 64, 64 ⁇ .
  • the neutral conductor N is connected to the consumers 70, 70 ⁇ , 70 V and a star point is formed.
  • Al ternatively ⁇ the three voltage dividers form an artificial neutral point in the switching device when the neutral conductor is not connected, which corresponds to cost reasons, the normal case.
  • the voltage drops at the lower or upper resistors can alternatively be used for the voltage measurement. If the upper voltage is measured, both measurements, i.e. Current and voltage transferred to low potential via the modulated supply current.
  • a circuit arrangement with a measuring unit 60 corresponding to FIG. 6 is constructed in FIG.
  • Voltage dividers are controlled by the shunt 71 with circuit elements 72 via a control unit 73 and a rectifier 74: in detail, voltage dividers are constructed here from resistors 76, 76 ⁇ and 77, 77 ⁇ and alternatively 79, 79 ⁇ , the power supply alternatively being high or low potential.
  • a differential amplifier 78 is connected downstream of the amplifier 2 present in FIG. 1 and the AD converter 3, which is capacitively coupled to the voltage dividers by means of capacitors which are not further designated.
  • the circuit contains, via the elements already described, a device comprising two comparators 85 and 95 with two mutually independent, respectively adjustable threshold values.
  • the first comparator 85 compares the current value with the threshold I and gives a signal for short-circuit detection when exceeded with which the main circuit can be switched off.
  • the second comparator 95 compares the current temperature ⁇ turwert the load which is obtained by means of a thermal model 94, with the threshold II and are at exceeded, a signal for overload detection, with which the main circuit can be switched off. Only one of the two comparators can also be provided.
  • the evaluation unit 75 can be a microcontroller and corresponds to the unit 65 from FIG. 6.
  • the described method with associated circuit arrangement is particularly suitable for current measurement for potential and evaluation of the measurement signals which are obtained as an analog value at a potential which is higher than zero potential and whose measurement information is transmitted after an A / D conversion as a digital signal to an evaluation unit which is at ground potential.
  • the generated digital signal provides the clock for a modulation of the supply current and thus also fulfills the function of the carrier for the information content of the measurement signal. Curved characteristic curves are advantageously used for the compression / decompression of the signals. Suitable means for temperature compensation are also available.

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Abstract

A method with corresponding circuit arrangement is disclosed, whereby for evaluation of a measured signal arising as an analogue value with a potential greater than zero potential in a measuring device requiring a supply current, the measured information therefrom is transmitted as a digital signal to an analytical unit lying at earth potential after an A/D conversion. The generated digital signal thus provides the clock signal for a modulation of the supply current and thus also carries out the function of the carrier for the information content of the measured signal. According to the invention, curved characteristic lines for compression/decompression of the signals are used. Suitable means for temperature compensation are similarly provided.

Description

Beschreibungdescription
Verfahren und Schaltungsanordnung zur StrommessungMethod and circuit arrangement for current measurement
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Strommessung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruches 1. Daneben bezieht sich die Erfindung auch auf die zugehörige Schaltungsanordnung.The invention relates to a method for current measurement according to the preamble of claim 1. In addition, the invention also relates to the associated circuit arrangement.
Eine bekannte Methode zur Strommessung besteht darin, den Spannungsabfall über einen Shunt- iderstand zu messen. Zur Messung werden in modernen Mess- und Schaltgeräten häufig Di- gital-Analog-Wandler (ADC s) verwendet, die das analoge Mess¬ signal in einen digitalen Messwert wandeln. Dabei können fol- gende Probleme auftreten: a) Das Messsignal weist einen hohen Dynamikbereich auf, da kleine Ströme (< 10 % Nennstrom) noch mit akzeptabler Auflösung gemessen werden müssen und große Ströme (> = lOfacher Nennstrom) auch noch erfasst werden müssen. b) Die Genauigkeit darf durch den Einfluss der Umgebungstemperatur nicht unzulässig beeinträchtigt werden. c) Die elektronischen Komponenten (ADC, Prozessor, etc.) müssen mit Strom versorgt werden. Häufig sind dabei zwei (galvanisch) getrennte Stromversorgungen nötig, da Kompo- nenten sowohl auf niedrigem Potential (N-Potential oder künstlicher Sternpunkt) als auch auf hohem Außenleiter- Potential vorhanden sind. d) Außer dem Außenleiterstrom muss häufig auch noch die Au- ßenleiterspannung gegen N-Potential gemessen werden. e) Bei Überlast oder Kurzschluss muss der Hauptstromkreis abgeschaltet werden.A known method for current measurement is to measure the voltage drop using a shunt resistor. To measure di- gital-to-analog converter (ADC's) are used in modern measuring and switching devices frequently, which convert the analog signal into a digital measurement ¬ measured value. The following problems can occur: a) The measurement signal has a high dynamic range, since small currents (<10% nominal current) still have to be measured with an acceptable resolution and large currents (> = 10 times the nominal current) also have to be recorded. b) The accuracy must not be adversely affected by the influence of the ambient temperature. c) The electronic components (ADC, processor, etc.) must be supplied with power. Often two (galvanically) separate power supplies are necessary, since components are available both at low potential (N potential or artificial star point) and at high outer conductor potential. d) In addition to the outer conductor current, the outer conductor voltage must often also be measured against N potential. e) In the event of an overload or short circuit, the main circuit must be switched off.
Aus der älteren, nicht-vorveröffentlic ten DE 101 05 982 AI der Anmelderin ist ein Verfahren der eingangs genannten Art bekannt, bei dem ein Messsignal auf gegenüber Nullpotential höherem Potential liegt und eine Messeinrichtung vorhanden ist, die einen Versorgungsstrom benötigt, wobei das Messsig- nal als Analogwert anfällt und dessen Messinformation nach einer A/D-Wandlung als Digitalsignal zu einer auf Erdpotential liegenden Auswerteeinheit übertragen wird und wobei nach der A/D-Wandlung des Messsignals das erzeugte Digitalsignal den Takt für eine Modulation des Versorgungsstromes liefert, der somit gleichermaßen die Funktion des Trägers für den Informationsgehalt des Messsignals erfüllt. Zur Beherrschung vorgenannter Problempunkte werden dabei folgende Maßnahmen ausgeführt : a) Hohe Dynamik: Es werden Analog-Digitalwandler mit linearer Kennlinie und entsprechend hoher Auflösung (Bitzahl) verwendet . b) Einfluss der Umgebungstemperatur auf die Genauigkeit: Es werden für den Shunt (teuere) Speziallegierungen gewählt, die einen kleinen Temperaturkoeffizienten aufweisen. c) Die Spannung wird entweder über Spannungswandler, d.h. transformatorisch, oder über Spannungsteiler direkt einem ADC auf niedrigem Potential zugeführt.From the applicant's older, non-prepublished DE 101 05 982 AI, a method of the type mentioned at the outset is known in which a measurement signal is at a potential which is higher than zero potential and a measuring device is available which requires a supply current, the measurement signal nal arises as an analog value and its measurement information is transmitted after an A / D conversion as a digital signal to an evaluation unit which is at ground potential and, after the A / D conversion of the measurement signal, the digital signal generated provides the clock for a modulation of the supply current, which therefore likewise fulfills the function of the carrier for the information content of the measurement signal. The following measures are taken to master the aforementioned problem points: a) High dynamics: analog-digital converters with a linear characteristic and a correspondingly high resolution (number of bits) are used. b) Influence of the ambient temperature on the accuracy: Special (expensive) alloys are chosen for the shunt that have a small temperature coefficient. c) The voltage is supplied either directly to an ADC at low potential via voltage converters, ie using transformers, or via voltage dividers.
Von letzterem Sachverhalt ausgehend ist es Aufgabe der Erfindung, bei einem Verfahren der eingangs genannten Art technische Verbesserungen vorzuschlagen und hierzu eine geeignete Schaltungsanordnung zu schaffen.Based on the latter, it is the object of the invention to propose technical improvements in a method of the type mentioned at the outset and to create a suitable circuit arrangement for this.
Die Aufgabe ist erfindungsgemäß durch die Maßnahmen der Verfahrensansprüche gelöst. Zugehörige Schaltungsanordnungen sind in den Sachansprüchen angegeben.The object is achieved by the measures of the method claims. Associated circuit arrangements are specified in the claims.
Die Erfindung ist im Wesentlichen durch folgende Maßnahmen bzw. Merkmale gekennzeichnet: a) Dynamik: Der ADC wird nicht mit einer linearen, sondern mit einer gekrümmten Kennlinie realisiert. Dadurch wird das Messsignal komprimiert und für die gleiche Dynamik reicht eine geringere Bitzahl aus. Dieses Verfahren, wel- ches unter dem Begriff Kompression bekannt ist, soll so vorteilhaft auf die Strommessung angewandt werden. Mögliche Kennlinien sind logarithmische Kennlinien (mit beson- derer Nullpunktsbehandlung) , die den Vorteil einer kon¬ stanten, relativen Genauigkeit, d.h. Fehler bezogen auf Messwert, haben, oder eine Wurzelfunktion, die den Vorteil einer einfachen Expansion durch Quadrieren, z.B. in einem MikroController, bietet. b) Einfluss der Umgebungstemperatur auf die Genauigkeit: Für den Shunt wird keine spezielle Widerstandslegierung gewählt, sondern ein Stück ohnehin vorhandener Schiene aus Leitermaterial verwendet. Zur lokalen Widerstandserhöhung (für den Shunt) wird der Querschnitt durch Verengungen vermindert. Der hohe Temperaturkoeffizient von Kupfer wird kompensiert, indem der ADC über eine Referenzspannung verfügt, die einen möglichst gleich großen und gleichlaufenden Temperaturkoeffizienten aufweist. Die Messeinheit, die ohnehin auf hohem Potential liegt, kann in gutem thermischen Kontakt mit der verwendeten Kupferschiene montiert werden, so dass beide auf gleichem Temperaturniveau liegen. c) Spannungsversorgung: Gegenstand der bereits erwähnten DE 101 05 982 AI mit der Bezeichnung 'Verfahren zur Auswertung eines Messwertes und zugehörige Schaltungsanord- nungλ ist unter anderem ein Verfahren zur Strommessung auf Potential, bei dem der Versorgungsstrom der auf Potential liegenden Komponenten direkt aus dem Netz zu beziehen und den Messwert durch Modulation des Versorgungsstromes auf niedriges Potential zu übertragen. Diese Grundidee kann nunmehr vorteilhaft dahingehend erweitert werden, dass neben dem Versorgungsstrom der Komponenten auf hohem Potential auch der Versorgungsstrom der auf niedrigem Potential liegenden Komponenten aus dem Netz direkt bezogen wird. Um die Verlustleitung nicht unnötig hoch werden zu lassen, können die Spannungsteiler auch teils mit ohmschen Widerständen, teils mit Kondensatoren realisiert werden. d) Außenleiterspannungsmessung: Die Außenleiterspannung wird mit Hilfe eines ohnehin vorhandenen Spannungsteilers gemessen. Dazu wird entweder der Spannungsabfall am oberen Widerstand RLx einem zusätzlichen Kanal der Messeinrich- tung auf Potential zugeführt oder der Spannungsabfall am unteren Widerstand Rx auf einem ADC der Auswerteeinrich¬ tung auf niedrigem Potential. Hierzu wird im Einzelnen auf die weiter unten beschriebene Figur β verwiesen.The invention is essentially characterized by the following measures or features: a) Dynamics: The ADC is not realized with a linear, but with a curved characteristic. This compresses the measurement signal and a lower number of bits is sufficient for the same dynamics. This method, which is known under the term compression, is intended to be used advantageously for current measurement. Possible characteristics are logarithmic characteristics (with special those zero treatment), the constants kon the advantage of a ¬, relative accuracy, ie errors based on the measured value, having, or a root function, in a microcontroller, provides the advantage of simple expansion by squaring, for example. b) Influence of the ambient temperature on the accuracy: No special resistance alloy is chosen for the shunt, but a piece of conductor material that is already present is used. To increase the local resistance (for the shunt), the cross-section is reduced by constrictions. The high temperature coefficient of copper is compensated by the fact that the ADC has a reference voltage that has a temperature coefficient that is as large and as constant as possible. The measuring unit, which is at a high potential anyway, can be mounted in good thermal contact with the copper bar used, so that both are at the same temperature level. c) Power supply: The subject of the already mentioned DE 101 05 982 AI with the designation 'method for evaluating a measured value and associated circuit arrangement λ is, inter alia, a method for measuring current at potential, in which the supply current of the components at potential is obtained directly from the Relative to the network and transmit the measured value to the low potential by modulating the supply current. This basic idea can now advantageously be expanded such that, in addition to the supply current of the components at high potential, the supply current of the components at low potential is also obtained directly from the network. In order to prevent the loss line from becoming unnecessarily high, the voltage dividers can also be implemented partly with ohmic resistors and partly with capacitors. d) Line voltage measurement: The line voltage is measured with the help of an existing voltage divider. To do this, either the voltage drop across the upper resistor R Lx is added to an additional channel of the measuring device. tung supplied to potential or the voltage drop at the lower resistance R x to an ADC of Auswerteeinrich ¬ processing at a low potential. For this purpose, reference is made in detail to the figure β described below.
Gegenüber dem Stand der Technik werden mit der Erfindung insbesondere folgende Vorteile erzielt: a) Hohe Dynamik: Das vorgeschlagene Verfahren hat den Vorteil, dass preisgünstigere ADCs verwendet werden können, die nicht über den gesamten Messbereich eine hohe Auflösung bereitstellen müssen. b) Einfluss der Umgebungstemperatur auf die Genauigkeit: Das vorgeschlagene Verfahren hat den Vorteil, dass keine teure Speziallegierung verwendet werden muss, sondern ein Stück ohnehin vorhandene Schiene aus Leitermaterial benutzt wird. Außerdem entfällt die Befestigung (Schrauben, Nieten) der Widerstandselementes am Kupfer. Trotzdem wird durch die Temperaturkompensation eine hohe Messgenauigkeit erreicht. c) Spannungsversorgung: Das vorgeschlagene Verfahren hat den Vorteil, dass Kosten, Gewicht und Platzbedarf verringert wird, d) Der Spannungsabfall an den Widerständen fällt bei der beschriebenen Strommesseinrichtung ohnehin an und kann somit mit einfachen Mitteln und kostengünstig für die zusätzliche Spannungsmessung benutzt werden.Compared to the prior art, the following advantages are achieved in particular with the invention: a) High dynamics: The proposed method has the advantage that cheaper ADCs can be used which do not have to provide a high resolution over the entire measuring range. b) Influence of the ambient temperature on the accuracy: The proposed method has the advantage that no expensive special alloy has to be used, but a piece of conductor material that is already present is used. In addition, there is no need to attach (screw, rivet) the resistance element to the copper. Nevertheless, the temperature compensation achieves high measuring accuracy. c) Power supply: The proposed method has the advantage that costs, weight and space requirements are reduced, d) The voltage drop across the resistors occurs in any case with the current measuring device described and can therefore be used with simple means and inexpensively for the additional voltage measurement.
Weitere Einzelheiten und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus nachfolgender Figurenbeschreibung von Ausführungsbeispie- len anhand der Zeichnung in Verbindung mit den Patentansprüchen. Es zeigenFurther details and advantages of the invention result from the following description of figures of exemplary embodiments with reference to the drawing in conjunction with the patent claims. Show it
Figur 1 die Anordnung einer Messeinrichtung mit einem auf hohen Potential liegendem Shunt und des Shuntwiderstan- des,FIG. 1 shows the arrangement of a measuring device with a shunt at high potential and the shunt resistance,
Figur 2 ein logarithmisch komprimierter Code zur Verwendung bei der Messeinrichtung gemäß Figur 1, Figur 3 einen logarithmisch expandierter Messwert zur Verwen¬ dung bei der Messeinrichtung gemäß Figur 1, Figur 4 einen entsprechend einer Quadratwurzelkurve kompri¬ mierten Code als Alternative zur Figur 2, Figur 5 einen entsprechend einer Quadratfunktion expandierten Messwert als Alternative zu Figur 3 Figur 6 eine Anordnung für die Strom- und Spannungsmessung in einem Dreiphasensystem und Figur 7 eine alternative Anordnung mit Mitteln zur Kurz- schluss- und/oder Überlastabschaltung.FIG. 2 shows a logarithmically compressed code for use in the measuring device according to FIG. 1, 3 shows a logarithmically expanded measured value USAGE ¬ dung at the measuring device according to Figure 1, Figure 4 a corresponding to a square root curve Kompri ¬-programmed code as an alternative to Figure 2, Figure 5 is a corresponding expanded a square function measured value as an alternative to Figure 3. Figure 6 shows an arrangement for current and voltage measurement in a three-phase system and FIG. 7 shows an alternative arrangement with means for short-circuit and / or overload shutdown.
Nachfolgend wird im Wesentlichen von der älteren DE 101 05 982 AI ausgegangen, deren Offenbarungsgehalt Teil des vorliegenden Anmeldungsgegenstandes ist. Unabhängig davon ist der Anmeldungsgegenstand aber in verallgemeinerter Form auf eine Strom- und Spannungsmessung anwendbar.The older DE 101 05 982 AI, the disclosure content of which is part of the subject matter of the present application, is essentially assumed below. Irrespective of this, the subject of the application can be applied in a generalized form to a current and voltage measurement.
In der Figur 1 ist eine vorteilhafte Anordnung von Shuntwi- derstand und Messeinrichtung gezeigt. Entsprechend der Figur 1 der DE 101 05 982 AI ist ein Shunt 1 in einer auf hohen Potential liegenden Phase Ll vorhanden, von dem die Messspannung Udiff 1 über einen Verstärker 2 auf einen Analog-Digital- Wandler 3 als Teil einer Messeinrichtung 5 gegeben wird. Die Spannungsdifferenz Uiff / die als Maß für den Strom durch den Shunt 1 gilt, wird vom Analog/Digital-Wandler (ADC) 3 in einen binären Messwert gewandelt und als Binärsignal auf Erdpotential übertragen. Dem ADC 3 ist eine Einheit 4 zur Signalkompression vorgeschaltet, mit der in kostengünstiger Weise insbesondere einer großen Signaldynamik Rechnung getragen werden kann, wobei das Binärsignal nach seiner Übertragung einer umgekehrten Expansion unterzogen wird. Letzteres kann softwaremäßig in der diesbezüglichen Auswerteeinheit, insbesondere im üblicherweise vorhandenen MikroController, auf Erdpotential erfolgen.An advantageous arrangement of shunt resistance and measuring device is shown in FIG. According to FIG. 1 of DE 101 05 982 AI, a shunt 1 is present in a phase L1 which is at a high potential, from which the measuring voltage Udiff 1 is passed via an amplifier 2 to an analog-digital converter 3 as part of a measuring device 5. The voltage difference Uiff /, which is a measure of the current through the shunt 1, is converted into a binary measured value by the analog / digital converter (ADC) 3 and transmitted as a binary signal to ground potential. A unit 4 for signal compression is connected upstream of the ADC 3, with which, in particular, great signal dynamics can be taken into account in a cost-effective manner, the binary signal being subjected to a reverse expansion after it has been transmitted. The latter can be carried out by software in the relevant evaluation unit, in particular in the microcontroller that is usually present, at ground potential.
Bei Strommessungen über einen Shunt ist der Einfluss der Umgebungstemperatur auf die Genauigkeit bekannt und nicht zu vernachlässigen: Der Shuntwiderstand ist temperaturabhängig entsprechend der Funktion:When measuring current via a shunt, the influence of the ambient temperature on the accuracy is known and not too neglect: The shunt resistance is temperature dependent according to the function:
Rs = R0(l + a*T) (1)R s = R 0 (l + a * T) (1)
Anhand Figur 1 wird weiterhin verdeutlicht, dass mittels thermischer Kopplung von Shunt 1 und Messeinrichtung 5 der Temperaturgang des Shuntwiderstandes durch einen gleichgroßen Temperaturgang einer Referenzspannungsquelle 6 mit dem Widerstand entsprechender Funktion Uref = U0(l + a*T) (2) kompensiert wird.With the aid of FIG. 1, it is further clarified that the temperature response of the shunt resistor is compensated for by thermal coupling of the shunt 1 and measuring device 5 by an equally large temperature response of a reference voltage source 6 with the resistance corresponding function U ref = U 0 (l + a * T) (2) ,
In den Figuren 2 und 3 sind die Signale für eine logarithmische Kompression/Expansion dargestellt, in den Figuren 4 und 5 für eine Wurzel/Quadrat - Kompression/Expansion. Die diesbezüglichen Kennlinien sind mit 21, 31, 41 und 51 bezeichnet.The signals for a logarithmic compression / expansion are shown in FIGS. 2 and 3, in FIGS. 4 and 5 for a root / square compression / expansion. The relevant characteristic curves are designated with 21, 31, 41 and 51.
In Figur 6 ist eine Messeinrichtung für die Strom- und Spannungsmessung in einem 3-Phasensystem mit Phasen Ll, L2 und L3 dargestellt. Der Auswertekanal für Ll ist komplett ausgeführt, die identischen Kanäle für L2 und L3 nur teilweise. Wesentlich ist hier, dass drei identische Shuntwiderstände 61, 61 , 61 Λ λ in den einzelnen Kanälen vorhanden sind, die jeweils mit einer Messeinheit 60 entsprechend der Messein- richtung 5 gemäß Figur 1 verbunden sind.FIG. 6 shows a measuring device for the current and voltage measurement in a 3-phase system with phases L1, L2 and L3. The evaluation channel for Ll is complete, the identical channels for L2 and L3 only partially. It is essential here that three identical shunt resistors 61, 61, 61 Λ λ are present in the individual channels, each of which is connected to a measuring unit 60 corresponding to the measuring device 5 according to FIG. 1.
Sowohl die Spannungsversorgung auf hohem als auch die Spannungsversorgung auf niedrigem Potential werden über den Spannungsteiler 66, 66 und 67, 67 Λ aus dem Netz gewonnen. Wei- terhin sind Widerstände 69, 69 auf hohem Potential und weitere Schaltelemente, wie Kondensatoren und Sperrdioden, vorhanden, wobei pauschal die Mittel zur Signalgleichrichtung mit 64, 64 λ bezeichnet sind.Both the voltage supply at high and the voltage supply at low potential are obtained from the network via voltage dividers 66, 66 and 67, 67 Λ . Furthermore, resistors 69, 69 at high potential and further switching elements, such as capacitors and blocking diodes, are present, with the means for signal rectification being generally referred to as 64, 64 λ .
Die Schaltglieder, mit denen die gewünschte Signalkompression bzw. die diesbezüglich umgekehrte Signalexpansion entsprechend den beispielhaft in den Figuren 2 bis 5 gezeigten Kennlinien bewirkt wird, ist in Figur 6 in die Messeinheit 60 integriert.The switching elements with which the desired signal compression or the reverse signal expansion in this regard corresponds to that shown by way of example in FIGS. 2 to 5 Characteristic curves is effected is integrated in the measuring unit 60 in FIG.
In Figur 6 ist der Neutralleiter N mit den Verbrauchern 70, 70 λ, 70 V verbunden und es ist ein Sternpunkt gebildet. Al¬ ternativ bilden die drei Spannungsteiler einen künstlichen Sternpunkt im Schaltgerät, wenn der Neutral-Leiter nicht angeschlossen wird, was aus Kostengründen dem Normalfall entspricht.In Figure 6, the neutral conductor N is connected to the consumers 70, 70 λ , 70 V and a star point is formed. Al ternatively ¬ the three voltage dividers form an artificial neutral point in the switching device when the neutral conductor is not connected, which corresponds to cost reasons, the normal case.
Die Spannungsabfälle an den unteren bzw. oberen Widerständen können alternativ für die Spannungsmessung herangezogen werden. Falls die obere Spannung gemessen wird, werden beide Messwerte, d.h. Strom und Spannung, über den modulierten Ver- sorgungsstrom auf niedriges Potential übertragen.The voltage drops at the lower or upper resistors can alternatively be used for the voltage measurement. If the upper voltage is measured, both measurements, i.e. Current and voltage transferred to low potential via the modulated supply current.
In Figur 7 ist eine Schaltungsanordnung mit Messeinheit 60 entsprechend Figur 6 aufgebaut. Vom Shunt 71 mit Beschal- tungsele enten 72 werden über eine Regeleinheit 73 und einen Gleichrichter 74 Spannungsteiler angesteuert: Im Einzelnen sind hier Spannungsteiler aus Widerständen 76, 76 λ und 77, 77 λ sowie alternativ 79, 79 λ aufgebaut, wobei die Stromversorgung alternativ auf hohem oder niedrigem Potential erfolgen.A circuit arrangement with a measuring unit 60 corresponding to FIG. 6 is constructed in FIG. Voltage dividers are controlled by the shunt 71 with circuit elements 72 via a control unit 73 and a rectifier 74: in detail, voltage dividers are constructed here from resistors 76, 76 λ and 77, 77 λ and alternatively 79, 79 λ , the power supply alternatively being high or low potential.
Dem in Figur 7 - entsprechend Figur 1 - vorhandenen Verstärker 2 und dem AD-Wandler 3 ist ein Differentialverstärker 78 nachgeschaltet, der über nicht weiter bezeichnete Kondensatoren kapazitiv an die Spannungsteiler angekoppelt ist.A differential amplifier 78 is connected downstream of the amplifier 2 present in FIG. 1 and the AD converter 3, which is capacitively coupled to the voltage dividers by means of capacitors which are not further designated.
Zusätzlich sind Mittel zur Kurzschluss- bzw. Überlastabschaltung vorhanden: Für diesen Zweck enthält die Schaltung über die bereits beschriebenen Elemente eine Vorrichtung aus zwei Komparatoren 85 und 95 mit zwei voneinander unabhängigen, je- weils einstellbaren Schwellwerten. Der erste Komparator 85 vergleicht den momentanen Stromwert mit der Schwelle I und gibt bei Überschreitung ein Signal zur Kurzschlusser ennung aus, mit dem der HauptStromkreis abgeschaltet werden kann. Der zweite Komparator 95 vergleicht den momentanen Tempera¬ turwert der Last, der mit Hilfe eines thermischen Modells 94 gewonnen wird, mit der Schwelle II und gibt bei Überschrei- tung ein Signal zur Überlasterkennung aus, mit dem der Hauptstromkreis abgeschaltet werden kann. Es kann auch nur einer der beiden Komparatoren vorgesehen sein.In addition, means for short-circuit or overload shutdown are available: for this purpose, the circuit contains, via the elements already described, a device comprising two comparators 85 and 95 with two mutually independent, respectively adjustable threshold values. The first comparator 85 compares the current value with the threshold I and gives a signal for short-circuit detection when exceeded with which the main circuit can be switched off. The second comparator 95 compares the current temperature ¬ turwert the load which is obtained by means of a thermal model 94, with the threshold II and are at exceeded, a signal for overload detection, with which the main circuit can be switched off. Only one of the two comparators can also be provided.
Von den parallelen Spannungsteilern mit den Widerständen 76, 76 und 77, 77 Λ bzw. 79, 79 wird über einen Differentialverstärker 78 ein Signal auf die Auswerteeinheit 75 auf niedrigem Potential gegeben. Die Auswerteeinheit 75 kann ein Mikro- controller sein und entspricht der Einheit 65 aus Figur 6.From the parallel voltage dividers with resistors 76, 76 and 77, 77 Λ and 79, 79, a signal is sent to evaluation unit 75 at a low potential via a differential amplifier 78. The evaluation unit 75 can be a microcontroller and corresponds to the unit 65 from FIG. 6.
Das beschriebene Verfahren mit zugehöriger Schaltungsanordnung eignet sich besonders zur Strommesung auf Potential und Auswertung der Messsignale, die auf gegenüber Nullpotential höherem Potential als Analogwert anfallen und deren Messinformation nach einer A/D-Wandlung als Digitalsignal zu einer auf Erdpotential liegenden Auswerteeinheit übertragen werden. Dabei liefert das erzeugte Digitalsignal den Takt für eine Modulation des Versorgungsstromes und erfüllt somit gleichermaßen die Funktion des Trägers für den Informationsgehalt des Messsignals. Vorteilhafterweise werden gekrümmte Kennlinien zur Ko pression/Dekompression der Signale verwendet. Gleichermaßen sind geeignete Mittel zur Temperaturkompensation vorhanden. The described method with associated circuit arrangement is particularly suitable for current measurement for potential and evaluation of the measurement signals which are obtained as an analog value at a potential which is higher than zero potential and whose measurement information is transmitted after an A / D conversion as a digital signal to an evaluation unit which is at ground potential. The generated digital signal provides the clock for a modulation of the supply current and thus also fulfills the function of the carrier for the information content of the measurement signal. Curved characteristic curves are advantageously used for the compression / decompression of the signals. Suitable means for temperature compensation are also available.

Claims

Patentansprüche claims
1. Verfahren zur Strommessung auf einem Potential, das auf einem gegenüber Nullpotential höherem Wert liegt, wobei der Stromwert als Analogsignal gemessen wird und dessen Informa¬ tion nach einer A/D-Wandlung als Digitalsignal zu einer auf Erdpotential liegenden Auswerteeinheit übertragen wird, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass das Analogsignal vor der A/D-Wandlung und Übertragung einer Kompres- sion und dass das Digitalsignal nach der Übertragung auf Erdpotential einer Expansion unterzogen wird.1. A method for measuring current to a potential which lies on a opposite zero potential higher value, the current value is measured as an analog signal and its Informa ¬ tion after A / D conversion is transmitted as a digital signal to an on-ground evaluation unit, characterized in that the analog signal is subjected to compression before the A / D conversion and transmission and that the digital signal is subjected to an expansion after transmission to earth potential.
2. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass die Kompression und die Expansion logarithmisch erfolgen.2. The method of claim 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that the compression and expansion are logarithmic.
3. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass die Kompression und die Expansion nach Vorgabe von Wurzelfunktionen erfolgen.3. The method of claim 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that the compression and expansion take place according to the specification of root functions.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass eine Temperaturkompensation erfolgt.4. The method according to any one of the preceding claims, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that a temperature compensation takes place.
5. Verfahren nach Anspruch 4, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass zur Temperaturkompensation eine thermische Kopplung von Messeinrichtung und Shunt vorgenommen wird.5. The method according to claim 4, so that a thermal coupling of the measuring device and the shunt is carried out for temperature compensation.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem zur Auswertung eines Messsignals, das auf gegenüber Nullpotential höherem Potential als Analogwert in einer Messeinrichtung, die einen Versorgungsstrom benötigt, vorliegt, mit folgenden Maßnahmen: - der komprimierte Informationsgehalt des Messsignals wird nach der A/D-Wandlung als Digitalsignal zu der auf Erdpotential liegenden Auswerteeinheit übertragen, - nach der A/D-Wandlung des Messsignals liefert das erzeugte Digitalsignal den Takt für eine Modulation des Versorgungsstromes, so dass der modulierte Versorgungsstrom der Messeinrichtung gleichermaßen die Funktion des Trägers für den Informationsgehalt des Messsignals erfüllt.6. The method according to any one of the preceding claims, in which for the evaluation of a measurement signal that is at a potential higher than zero potential as an analog value in a measuring device that requires a supply current, with the following measures: - The compressed information content of the measurement signal is determined according to the A / Transmit D-conversion as digital signal to the evaluation unit which is at ground potential, - After the A / D conversion of the measurement signal, the generated digital signal provides the clock for a modulation of the supply current, so that the modulated supply current of the measuring device likewise fulfills the function of the carrier for the information content of the measurement signal.
7. Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 oder einem der Ansprüche 2 bis 6, zwecks Anwendung bei der Strommessung an einem Shunt, bei dem der Spannungsab- fall als Maß für den Strom nach Verstärkung ausgewertet wird, mit einem Shunt (1; 61, 61 λ, 61 ; 71), einem Verstärker (2) für das am Shunt (1; 61, 61 λ, 61 λX; 71) abgegriffene Spannungssignal, einem Analog/Digital-Wandler (3) und einer Auswerteeinheit (5, 65, 7) sowie mit Mitteln zur Stromversorgung der Messkomponenten (2, 3), d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass weitere Mittel (4, 6) zur Signalkompression und zur Signalexpansion vorhanden sind.7. Circuit arrangement for carrying out the method according to claim 1 or one of claims 2 to 6, for use in current measurement on a shunt, in which the voltage drop is evaluated as a measure of the current after amplification, with a shunt (1; 61 , 61 λ , 61; 71), an amplifier (2) for the voltage signal tapped at the shunt (1; 61, 61 λ , 61 λX ; 71), an analog / digital converter (3) and an evaluation unit (5, 65 , 7) and with means for supplying power to the measuring components (2, 3), characterized in that further means (4, 6) for signal compression and signal expansion are present.
8. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass zusätzlich Mittel zur Temperatur ompensation vorhanden sind.8. Circuit arrangement according to claim 7, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that additional means for temperature compensation are available.
9. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass vor dem A/D-Wandler (3) eine Einheit zur Signalkompression geschaltet ist.9. Circuit arrangement according to claim 7, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that a unit for signal compression is connected in front of the A / D converter (3).
10. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass die Mittel zur Signalexpansion in die Auswerteeinheit (5, 65, 75) , vorzugsweise softwaremäßig im vorhandenen Mikrokontroller, integriert sind.10. Circuit arrangement according to claim 7, so that the means for signal expansion are integrated in the evaluation unit (5, 65, 75), preferably software-wise in the existing microcontroller.
11. Schaltungsanordnung nach Anspruch 8, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass Mittel zur Temperatur- kompensation eine temperaturabhängige Referenzspannungsquelle (6) aufweisen. 11. Circuit arrangement according to claim 8, characterized in that means for temperature compensation have a temperature-dependent reference voltage source (6).
12. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 7 bis 11, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass Mittel12. Circuit arrangement according to one of claims 7 to 11, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that means
(85, 95) zur Kurzschlussabschaltung und/oder Überlastabschaltung vorhanden sind.(85, 95) for short-circuit shutdown and / or overload shutdown are available.
13. Schaltungsanordnung nach Anspruch 12, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass ein erster Komparator (85) vorhanden ist, der den Momentanwert des Stromes mit einem ersten Schwellwert vergleicht und bei Überschreiten ein Signal zur Kurzschlussabschaltung erzeugt.13. Circuit arrangement according to claim 12, so that a first comparator (85) is present which compares the instantaneous value of the current with a first threshold value and generates a signal for short-circuit shutdown when exceeded.
14. Schaltungsanordnung nach Anspruch 12, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass ein zweiter Komparator (95) vorhanden ist, der die momentane Temperatur der Last mit einem zweiten Schwellwert vergleicht und bei Überschreiten ein Signal zur Überlastabschaltung ausgibt.14. Circuit arrangement according to claim 12, so that a second comparator (95) is present which compares the instantaneous temperature of the load with a second threshold value and outputs a signal for overload shutdown when exceeded.
15. Schaltungsanordnung nach Anspruch 14, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass ein thermisches Modell (94) der Last vorhanden ist, mit dem die aktuelle Temperatur der Last (80) aus dem gemessenen Strom ermittelt wird. 15. The circuit arrangement as claimed in claim 14, so that a thermal model (94) of the load is present, with which the current temperature of the load (80) is determined from the measured current.
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