EP1459106A2 - Support optique a double niveau d'enregistrement - Google Patents

Support optique a double niveau d'enregistrement

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EP1459106A2
EP1459106A2 EP02785597A EP02785597A EP1459106A2 EP 1459106 A2 EP1459106 A2 EP 1459106A2 EP 02785597 A EP02785597 A EP 02785597A EP 02785597 A EP02785597 A EP 02785597A EP 1459106 A2 EP1459106 A2 EP 1459106A2
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EP
European Patent Office
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level
recording
phase change
layer
layers
Prior art date
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Withdrawn
Application number
EP02785597A
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Bernard Bechevet
Ludovic Poupinet
Alain Fargeix
Véronique GEHANNO
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MPO International
Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Original Assignee
Commissariat a lEnergie Atomique CEA
MPO International
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Filing date
Publication date
Application filed by Commissariat a lEnergie Atomique CEA, MPO International filed Critical Commissariat a lEnergie Atomique CEA
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Withdrawn legal-status Critical Current

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    • G11B7/2585—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material characterised by the selection of the material of layers other than recording layers of reflective layers based on aluminium

Definitions

  • the present invention relates to a recordable optical medium with double recording level.
  • the term “dual recording level support” is understood to mean a support having, on at least one face, two levels, or two superimposed recording areas. To distinguish them, the superimposed levels are said to be “shallow” and "buried".
  • a dual-level optical disc can be of the single-sided or double-sided type. In the latter case, each side of the disc can be double-level, with a total number of recording levels equal to four.
  • the invention finds applications in the recording of audio, video or computer data.
  • phase change material has on one or two of their faces a single recording level provided with a layer of phase change material.
  • a layer of phase change material is, for example, a layer of crystalline material capable of being locally amorphous under the action of a writing beam.
  • the modulation of the writing beam according to a digital signal makes it possible to form in the phase change layer a succession of zones of amorphous material and zones of crystalline material.
  • the succession of zones corresponds to the coding of the signal which is thus written into the material.
  • the transitions between the phases of the material are caused by a local heating of the layer under the effect of the writing beam. Heating to a temperature allowing recrystallization of the phase change layer can be implemented for possible erasure of the recorded data.
  • Subsequent playback of the recorded signal takes place by scanning a succession of areas on the recording level.
  • the reading uses different reflectivity properties of the material in its amorphous phase and its crystalline phase.
  • the scanning is carried out by a reading beam focused on the level, and is combined with a measurement of the intensity of the reflected light.
  • the reading and writing equipment for recording the discs is provided with a laser diode providing the writing beam. It is a diode emitting a beam of red light whose wavelength is close to 650 nm.
  • Two-level discs present difficulties in recording and, to a lesser extent, playback. These difficulties arise from the fact that the limited transparency of the surface level constitutes an obstacle for access to the buried level.
  • Another difficulty is that too slow cooling of the phase change layer can cause uncontrolled crystallization of an area to be amorphous.
  • the object of the invention is to provide a recording medium, and in particular a disc, of the double-level type, which does not have the limitations indicated above.
  • One goal is in particular to provide a support compatible with the write and read wavelength of existing equipment.
  • Another goal is to offer a support allowing a fast and reliable recording, enjoying a good durability.
  • the invention more specifically proposes an optical medium having, on at least one face, a surface recording level and a buried recording level, capable of being read and recorded by means of a beam.
  • optical having a wavelength between 620 and 670 nanometers, and in which each of the levels has a reflectivity between 6% and 12%.
  • the inventors have in fact discovered that it is possible to write and read data on a double-level support, with existing equipment, the wavelength of which is around 650 nm.
  • the reflectivity ranges indicated above allow recording and reading of media with a power of less than 22 mW.
  • Each recording level has one or more layers of phase change material. It can be a material such as chalcogenides, of the GeSbTe, AglnSbTe or InSbTe type, as well as selenides or tellurium oxides. These materials exhibit phase change properties between an amorphous state and a crystalline state, with different reflectivities.
  • the phase change material can also be a magneto-optical type material.
  • the phase change then results in a modification of a property of rotation of the polarization of a light beam by Kerr or Faraday effect.
  • the material is preferably chosen with reversible phase change properties to allow re-recording.
  • the layers of phase change material are preferably interposed in layers of dielectric materials such as ZnS-Si0 2 or AIN or again If 3 N 4 . These help to adjust the reflectivity values.
  • the dielectric material is ZnS-Si0 2 (80% -20%) and the phase change material is Ge 2 Sb 2 Te 5 .
  • An optical simulation carried out using Abeles' formalism allows the thickness parameters of the different layers of material used to be established.
  • the calculation of these parameters takes into account the optical indices n and k of the dielectric materials and of phase change materials, as well as those of possible optical reflectors and of mechanical or thermal supports associated with these layers.
  • the phase change layers can, in fact, be associated with heat sinks.
  • the heat sinks guarantee faster cooling of the phase change layers and avoid parasitic crystallization.
  • the single appended figure is a schematic section of part of an optical disc according to the invention, usable as a recording medium. It should be noted that, for reasons of clarity, the different parts of the figure are not represented on a uniform scale.
  • the disc of the figure comprises, in order from a reading face 10, a first support substrate 12, a first recording level 20, a transparent intermediate layer of glue 14, a second recording level 30 and a second support substrate 16.
  • the support substrates are conventional polycarbonate substrates used for the manufacture of optical discs. They can be replaced by any other material, provided that the first substrate remains transparent to a writing and reading beam.
  • the optical disc may have two other recording levels, not shown in the figure, which would then be accessible by another face, opposite to the first face 10.
  • the disc in the figure is a double-level disc, but with a single face .
  • the first recording level 20, also called “surface level” comprises, in order from the first substrate 12, a first dielectric layer 22 of ZnS-Si0 2 , a phase change layer 24 in Ge 2 Sb 2 Tes , a thermal resistance layer 25 made of ZnS-Si0 2 , a heat sink layer 26, for example made of ITO (indium tin oxide), and a second dielectric layer 28 made of ZnS-Si0 2 .
  • Heat resistance and heat sink layers are not essential. However, they allow rapid cooling of the layer to phase change when it has been heated by a writing beam. In the case of an amorphous transition layer, that is to say a crystalline layer which is made locally amorphous for writing data, rapid cooling makes it possible to avoid any uncontrolled parasitic recrystallization.
  • the materials of the phase change layers and the dielectric layers can be replaced by other materials having phase change or dielectric properties.
  • the materials of the first level are however chosen in their composition or their thickness so as to let pass a part of the light which is applied to them.
  • the surface recording level is considered semi-transparent.
  • the buried recording level includes substantially the same layers. In the example illustrated, it comprises a first dielectric layer 32 of ZnS-Si0 2 , a phase change layer 34 in Ge 2 Sb 2 Tes, a second dielectric layer 38 in ZnS-Si0 2 and a reflector layer 39.
  • the reflector layer increases the reflectivity of the buried recording level. It is, for example, a layer of aluminum which can also serve as a heat sink. As this is the buried level, the reflector layer 39 can be opaque.
  • the recording levels 20 and 30 each have a reflectivity of between 8% and 12%. Reflectivity can be adjusted by adapting the optical indices of the layers and / or their thickness.
  • the thicknesses of the layers are calculated.
  • the dielectric layers and the layers of phase change material have respectively the following thicknesses for the surface level and the buried level, in order from the surface:
  • CPs (24) 7 nm +/- 0.5 nm
  • D2s (28) 100 nm +/- 10 nm
  • Die (32) 120 nm +/- 10 nm
  • CPe (34) 17.5nm +/- 3nm
  • D2e (38) 120 nm +/- 10 nm.
  • the aluminum layer 39 has in this example a thickness of 120 nm and that the adhesive layer has a thickness of 50 ⁇ m to +/- 5 ⁇ m.
  • a signal-to-noise ratio in reading of the order of 48 and 50 dB is obtained for the surface and buried levels.
  • the reflection layer 39 is an aluminum layer with a thickness of 100 nm and the adhesive layer always has a thickness of the order of 50 ⁇ m +/- 5 ⁇ m.
  • the disc of the figure can be obtained by successively depositing the layers of the first and second recording levels 20, 30 respectively on the substrates 12 and 16.
  • the substrates, provided with the layers of the recording levels 20, 30 are then assembled by through the adhesive layer 14.
  • the reference 40 designates a focusing lens of a reading and writing device. It is therefore not part of the recording medium.
  • the lens makes it possible to selectively focus a writing (or erasing) beam or a reading beam on one of the phase change layers of one of the recording levels.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
  • Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)

Abstract

La présente invention concerne un support optique présentant, sur au moins une face (10), un niveau d'enregistrement superficiel (20) et un niveau d'enregistrement enterré (30), susceptibles d'être lus et enregistrés au moyen d'un faisceau optique présentant une longueur d'onde comprise entre 620 et 670 nanomètres, et dans lequel chacun des niveaux présente une réflectivité comprise entre 6% et 12%.

Description

SUPPORT OPTIQUE A DOUBLE NIVEAU D'ENREGISTREMENT
Domaine technique
La présente invention concerne un support optique enregistrable à double niveau d'enregistrement. On entend par support à double niveau d'enregistrement un support présentant, sur au moins une face, deux niveaux, ou deux zones d'enregistrement superposées. Pour les distinguer, les niveaux superposés sont dits « superficiel » et « enterré ». Un disque optique à double niveau peut être du type à simple face ou à face double. Dans ce dernier cas, chaque face du disque peut être à double niveau, avec un nombre total de niveaux d'enregistrement égal à quatre. L'invention trouve des applications dans l'enregistrement de données audio, vidéo ou de données informatiques .
Etat de la technique antérieure . On connaît des disques optiques enregistrables et même ré-enregistrables, au format DVD.
Ces disques comportent sur une ou sur deux de leurs faces un unique niveau d'enregistrement pourvu d'une couche de matériau à changement de phase. Il s'agit, par exemple, d'une couche de matériau cristallin susceptible d'être rendue amorphe de façon locale sous l'action d'un faisceau d'écriture. La modulation du faisceau d'écriture selon un signal numérique, permet de former dans la couche à changement de phase une succession de zones de matériau amorphe et de zones de matériau cristallin. La succession des zones correspond au codage du signal qui est ainsi inscrit dans la matière. Les transitions entre les phases de la matière sont provoquées par un echauffement local de la couche sous l'effet du faisceau d'écriture. Un echauffement à une température permettant une recristallisation de la couche à changement de phase peut être mis en œuvre pour un éventuel effacement des données enregistrées.
La lecture subséquente du signal enregistré a lieu par balayage d'une succession de zones sur le niveau d'enregistrement. La lecture fait appel à des propriétés de réflectivité différente du matériau dans sa phase amorphe et sa phase cristalline. Le balayage est effectué par un faisceau de lecture focalisé sur le niveau, et est combiné à une mesure de l'intensité de la lumière réfléchie.
Les équipements de lecture et d'écriture permettant d'enregistrer les disques sont pourvus d'une diode laser fournissant le faisceau d'écriture. Il s'agit d'une diode émettant un faisceau de lumière rouge dont la longueur d'onde est voisine de 650 nm.
L'empilement de deux niveaux d'enregistrement dans un disque a été envisagé pour accroître la capacité de stockage de ces disques. On peut se reporter à ce sujet aux documents (1) à (9) dont les références sont précisées à la fin de la présente description. En particulier, les documents (8) et (9) concernent des techniques d'enregistrement réversible.
Les disques à deux niveaux présentent des difficultés d'enregistrement et, dans une moindre mesure, de lecture. Ces difficultés proviennent du fait que la transparence limitée du niveau superficiel constitue un obstacle pour l'accès au niveau enterré.
Une autre difficulté tient au fait qu'un refroidissement trop lent de la couche à changement de phase peut provoquer une cristallisation incontrôlée d'une zone devant être amorphe.
Une nouvelle difficulté apparaît dans le sens qu'un éventuel choix d'une longueur d'onde d'enregistrement différente de la longueur d'onde usuellement retenue, rend les disques à double niveau d'enregistrement incompatibles avec les équipements actuels de lecture et d'enregistrement. Les effets de cette incompatibilité sont particulièrement gênants pour des équipements destinés au grand public.
Exposé de l'invention.
L' invention a pour but de proposer un support d'enregistrement, et en particulier un disque, du type à double niveau, ne présentant pas les limitations indiquées ci-dessus.
Un but est en particulier de proposer un support compatible avec la longueur d'onde d'écriture et de lecture des équipements existants.
Un but est encore de proposer un support permettant un enregistrement rapide et fiable, jouissant d'une bonne pérennité.
Pour atteindre ces buts, l'invention propose plus précisément un support optique présentant, sur au moins une face, un niveau d'enregistrement superficiel et un niveau d'enregistrement enterré, susceptibles d'être lus et enregistrés au moyen d'un faisceau optique présentant une longueur d'onde comprise entre 620 et 670 nanomètres, et dans lequel chacun des niveaux présente une réflectivité comprise entre 6% et 12%. Les inventeurs ont en effet découvert qu' il était possible d'effectuer une écriture et une lecture de données sur un support à double niveau, avec des équipements existants, dont la longueur d'onde est de l'ordre de 650 nm. Les gammes de réflectivités indiquées ci-dessus, permettent en effet l'enregistrement et la lecture des supports avec une puissance inférieure à 22 mW.
Chaque niveau d'enregistrement comporte une ou plusieurs couches de matériau à changement de phase. Il peut s'agir d'un matériau tel que les chalcogénures, de type GeSbTe, AglnSbTe ou InSbTe, de même que des séléniures ou des oxydes de tellure. Ces matériaux présentent des propriété de changement de phase entre un état amorphe et un état cristallin, avec des réflectivités différentes.
Le matériau à changement de phase peut aussi être un matériau de type magnéto-optique. Le changement de phase se traduit alors par une modification d'une propriété de rotation de la polarisation d'un faisceau lumineux par effet Kerr ou Faraday.
Le matériau est de préférence choisi avec des propriétés de changement de phase réversibles pour autoriser un ré-enregistrement.
Les couches de matériau à changement de phase sont de préférence intercalées dans des couches de matériaux diélectriques tels que ZnS-Si02 ou AIN ou encore Si3N4. Celles-ci contribuent à l'ajustage des valeurs de réflectivité.
Selon un exemple particulier, le matériau diélectrique est du ZnS-Si02 (80%-20%) et le matériau à changement de phase est de Ge2Sb2Te5.
Une simulation optique réalisée à partir du formalisme d'Abeles, permet d'établir les paramètres d'épaisseur des différentes couches de matériau utilisées. Le calcul de ces paramètres prend en compte les indices optiques n et k des matériaux diélectriques et des matériaux à changement de phase, de même que ceux d'éventuels réflecteurs optiques et de supports mécaniques ou thermiques associés à ces couches.
Selon une réalisation avantageuse des niveaux d'enregistrement, les couches à changement de phase peuvent, en effet, être associées à des puits thermiques. Les puits thermiques garantissent un refroidissement plus rapide des couches à changement de phase et évitent une cristallisation parasite. D'autres caractéristiques et avantages de l'invention ressortiront de la description qui va suivre, en référence à la figure du dessin annexé. Cette description est donnée à titre purement illustratif et non limitatif.
Description détaillée de modes particuliers de mise en œuyre de l'invention.
La figure unique annexée est une coupe schématique d'une partie d'un disque optique conforme à l'invention, utilisable comme support d'enregistrement. Il convient de préciser que, pour des raisons de clarté, les différentes parties de la figure ne sont pas représentées selon une échelle uniforme.
Le disque de la figure comprend, dans l'ordre depuis une face de lecture 10, un premier substrat de support 12, un premier niveau d'enregistrement 20, une couche intermédiaire transparente de colle 14, un deuxième niveau d'enregistrement 30 et un deuxième substrat de support 16. Les substrats de support sont des substrats de polycarbonate usuels servant à la fabrication de disques optiques. Ils peuvent être remplacés par tout autre matériau, à condition que le premier substrat reste transparent à un faisceau d'écriture et de lecture.
Le disque optique peut présenter deux autres niveaux d'enregistrement, non représentés sur la figure, qui seraient alors accessibles par une autre face, opposée à la première face 10. Le disque de la figure est un disque à double niveau, mais à face simple. Le premier niveau d'enregistrement 20, encore désigné par « niveau superficiel » comprend dans l'ordre depuis le premier substrat 12, une première couche diélectrique 22 de ZnS-Si02, une couche à changement de phase 24 en Ge2Sb2Tes , une couche de résistance thermique 25 en ZnS-Si02, une couche de puits thermique 26, par exemple en ITO (oxyde d' indium- étain) , et une deuxième couche diélectrique 28 en ZnS- Si02 .
Les couches de résistance thermique et de puits thermique ne sont pas indispensables. Elles permettent toutefois un refroidissement rapide de la couche à changement de phase lorsque celle-ci a subi un echauffement par un faisceau d'écriture. Dans le cas d'une couche à transition amorphe, c'est-à-dire une couche cristalline qui est rendue localement amorphe pour l'écriture de données, un refroidissement rapide permet d'éviter toute recristallisation parasite incontrôlée.
Comme indiqué précédemment, les matériaux des couches à changement de phase et des couches diélectriques peuvent être remplacés par d'autres matériaux présentant des propriétés de changement de phase ou diélectriques. Les matériaux du premier niveau sont toutefois choisis dans leur composition ou leur épaisseur de façon à laisser passer une partie de la lumière qui leur est appliquée. Le niveau d'enregistrement superficiel est considéré comme semi- transparent .
Le niveau d'enregistrement enterré comprend sensiblement les mêmes couches. Dans l'exemple illustré, il comprend une première couche diélectrique 32 de ZnS-Si02, une couche à changement de phase 34 en Ge2Sb2Tes, une deuxième couche diélectrique 38 en ZnS- Si02 et une couche de réflecteur 39. La couche de réflecteur permet d'augmenter la réflectivité du niveau d'enregistrement enterré. Il s'agit, par exemple d'une couche d'aluminium qui peut aussi servir de puits thermique. Comme il s'agit du niveau enterré, la couche de réflecteur 39 peut être opaque.
Conformément à l'invention les niveaux d'enregistrement 20 et 30 présentent chacun une réflectivité comprise entre 8% et 12%. La réflectivité peut être ajustée en adaptant les indices optiques des couches et/ou leur épaisseur.
A titre d' illustration, pour un matériau cristallisé à changement de phase présentant des indices optiques tels que n=3,8 et k=4, un matériau diélectrique avec n=2,05 et k=0, du polycarbonate tel que n=l,5 et k=0 on calcule les épaisseurs des couches. Dans l'exemple particulier considéré ici, les couches diélectriques et les couches de matériau à changement de phase présentent respectivement pour le niveau superficiel et le niveau enterré, dans l'ordre depuis la surface, les épaisseurs suivantes :
Dis (22) = 100 nm +/-10 nm,
CPs (24) = 7 nm+/-0,5 nm, D2s (28) = 100 nm +/-10 nm,
Die (32) = 120 nm +/-10 nm,
CPe (34) = 17,5nm +/-3 nm,
D2e (38) = 120 nm +/-10 nm.
Avec les valeurs indiquées ci-dessus, une réflectivité de 10% est obtenue. On précise que la couche d'aluminium 39 présente dans cet exemple une épaisseur de 120nm et que la couche de colle présente une épaisseur de 50μm à +/-5 μm. Les puissances d'écriture Pw et les puissances d'effacement Pe sont respectivement de P =19 mW et Pe=10mW pour le niveau enterré et Pw=12mW et Pe=6mW pour le niveau superficiel. Un rapport de signal à bruit en lecture de l'ordre de 48 et 50 dB est obtenu pour les niveaux superficiel et enterré. Selon un autre exemple, optimisé pour des réflectivités de 8%, on obtient les épaisseurs suivantes, toujours pour les mêmes matériaux : Dis (22) =80 nm +/-8 nm, CPs (24) =7 nm +/-0,5 nm, D2s (28) =100 nm +/-10 nm, Die (32) =1000 nm +/- 10 nm, CPe (34) =17,5 nm +/-3 nm, D2e (38) =40 nm +/-5 nm. Dans ce second exemple, la couche 39 de réflexion est une couche d'aluminium d'une épaisseur de 100 nm et la couche de colle présente toujours une épaisseur de l'ordre de 50μm +/-5 μm.
Le disque de la figure peut être obtenu en déposant successivement les couches des premier et deuxième niveaux d'enregistrement 20, 30 respectivement sur les substrats 12 et 16. Les substrats, pourvus des couches des niveaux d'enregistrement 20, 30 sont ensuite assemblés par l'intermédiaire de la couche de colle 14.
La référence 40 désigne une lentille de focalisation d'un appareil de lecture et d'écriture. Celle-ci ne fait donc pas partie du support d'enregistrement. La lentille permet de focaliser sélectivement un faisceau d'écriture (ou d'effacement) ou un faisceau de lecture sur l'une des couches à changement de phase de l'un des niveaux d' enregistrement .
DOCUMENTS CITES
1) US-6 030 678,
2) US-5 993 930, 3) US-5 828 648,
4) US-4 090 031,
5) US-4 219 704,
6) US-3 946 367, 7) US-4 450 553,
8) US-4 905 215,
9) US-6 143 426.

Claims

REVENDICATIONS
1) Support optique présentant, sur au moins une face (10), un niveau d'enregistrement superficiel (20) et un niveau d'enregistrement enterré (30), susceptibles d'être lus et enregistrés au moyen d'un faisceau optique présentant une longueur d'onde comprise entre 620 et 670 nanomètres, et dans lequel chacun des niveaux présente une réflectivité comprise entre 6% et 12%.
2) Support selon la revendication 1, dans lequel chaque niveau comprend une couche de matériau à changement de phase (24, 34) intercalée entre des couches de matériau diélectrique (22, 28, 32, 38) .
3) Support selon la revendication 2, dans lequel le matériau diélectrique est du ZnS-Si02 et le matériau à changement de phase est Ge2Sb2Te5.
4) Support selon la revendication 3, dans lequel les couches diélectriques (Dis, D2s, Die, D2ec) et les couches de matériau à changement (CPs, CPe) de phase présentent respectivement pour le niveau d'enregistrement superficiel et le niveau d'enregistrement enterré, dans l'ordre depuis la surface, les épaisseurs suivantes : Dls=100nm +/-10 nm, CPs=7 nm+/-0,5 nm D2s=100nm +/-10 nm, Dle=120nm +/-10 nm, CPe=17,5nm +/-3 nm, D2e=120nm +/-10 nm.
5) Support selon la revendication 4, dans lequel les couches diélectriques (Dis, D2s, Die, D2e) et les couches de matériau à changement (CPs, Cpe) de phase présentent respectivement pour le niveau superficiel et le niveau enterré, dans l'ordre depuis la surface, les épaisseurs suivantes :
Dls=80nm +/-8 nm, CPs=7 nm+/-0,5 nm,
D2s=100nm +/-10 nm,
Dle=1000nm +/-10 nm,
CPe=17,5nm +/-3 nm,
D2e=40nm +/-4 nm.
6) Support selon la revendication 1, dans lequel chaque niveau d'enregistrement comprend une couche de matériau à changement de phase (24, 34) du type à transition amorphe, associée à au moins une couche (26, 39) formant un puits thermique.
7) Support selon la revendication 6, dans lequel le niveau enterré comprend une couche métallique (39) formant réflecteur et puits thermique.
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