EP1272437A1 - Substrate comprising a thick film consisting of an inorganic gel, glass, vitroceramic or ceramic material, a method for the production of the same and the use thereof - Google Patents

Substrate comprising a thick film consisting of an inorganic gel, glass, vitroceramic or ceramic material, a method for the production of the same and the use thereof

Info

Publication number
EP1272437A1
EP1272437A1 EP01931595A EP01931595A EP1272437A1 EP 1272437 A1 EP1272437 A1 EP 1272437A1 EP 01931595 A EP01931595 A EP 01931595A EP 01931595 A EP01931595 A EP 01931595A EP 1272437 A1 EP1272437 A1 EP 1272437A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
glass
substrate
ceramic
layers
coating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP01931595A
Other languages
German (de)
French (fr)
Inventor
Anette Berni
Andreas Frantzen
Axel Kalleder
Martin Mennig
Navin Suyal
Helmut Schmidt
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
LEIBNIZ-INSTITUT fur NEUE MATERIALIEN GEMEINNUETZ
Original Assignee
Leibniz Institut fuer Neue Materialien Gemeinnuetzige GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leibniz Institut fuer Neue Materialien Gemeinnuetzige GmbH filed Critical Leibniz Institut fuer Neue Materialien Gemeinnuetzige GmbH
Publication of EP1272437A1 publication Critical patent/EP1272437A1/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/006Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with materials of composite character
    • C03C17/007Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with materials of composite character containing a dispersed phase, e.g. particles, fibres or flakes, in a continuous phase
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/006Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with materials of composite character
    • C03C17/008Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with materials of composite character comprising a mixture of materials covered by two or more of the groups C03C17/02, C03C17/06, C03C17/22 and C03C17/28
    • C03C17/009Mixtures of organic and inorganic materials, e.g. ormosils and ormocers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y30/00Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2217/00Coatings on glass
    • C03C2217/40Coatings comprising at least one inhomogeneous layer
    • C03C2217/425Coatings comprising at least one inhomogeneous layer consisting of a porous layer
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2218/00Methods for coating glass
    • C03C2218/10Deposition methods
    • C03C2218/11Deposition methods from solutions or suspensions
    • C03C2218/113Deposition methods from solutions or suspensions by sol-gel processes

Definitions

  • the present invention relates to a substrate with at least one thick layer of inorganic gel, glass, glass ceramic or ceramic material, a method for producing substrates with at least one layer of inorganic gel, glass, glass ceramic or ceramic material and their use, e.g. in optics, optoelectronics or electronics.
  • Si0 2 layers and doped SiO 2 layers with a layer thickness in the ⁇ m range are suitable for different applications in the field of optics and optoelectronics.
  • SiO 2 layers with layer thicknesses in the ⁇ m range are used as dielectric insulation layers on silicon for semiconductor production. Another focus is the production of sufficiently thick buffer layers on silicon for the production of integrated optical components.
  • SiO 2 layers doped with different ions are used in the production of passive and active planar optical waveguides.
  • Thick SiO 2 layers in the ⁇ m range are generally produced using thermal oxidation or flame hydrolysis. Both methods are very costly and time-consuming. A 10-15 ⁇ m thick SiO 2 layer is required for buffer layers for the production of planar waveguides. For the production of materials with dopings for matching the refractive index, such as Pb, P, Al, or dopings for the production of active materials such as He, the problem arises that flame hydrolysis cannot achieve sufficiently high doping concentrations.
  • the sol-gel process represents an alternative to the production of thick SiO 2 layers and doped SiO 2 layers.
  • the sol-gel process can be used to easily incorporate suitable ions for the production of reinforcing materials.
  • Tetraethoxysilane (TEOS) in ethanol which has been hydrolyzed with aqueous hydrochloric acid or water, is frequently used as the starting material for sol-gel SiO 2 layers on silicon wafers and on glass substrates. It was only possible to achieve maximum layer thicknesses of 400 nm or coarse porous layers were obtained which are unusable for optical applications because of their porosity.
  • wave-guiding layers are based on inorganic sol-gel materials, with the problem of the low layer thickness arising in all cases.
  • SiO 2 -Ti0 2 layers are discussed as wave-guiding materials.
  • Other doping materials for SiO 2 layers besides Ti0 2 are P 2 O 5 and GeO 2 .
  • the invention was therefore based on the object of developing a method for producing gel, glass or ceramic layers, in particular of SiO 2 layers and doped SiO 2 layers, on substrates, by means of which thick layers can be obtained with a coating process, which are crack-free and are particularly suitable for optical or optoelectronic applications.
  • this could be achieved by a process for producing substrates with at least one layer of inorganic gel, glass, glass ceramic or ceramic material, in which a coating composition comprising nanoscale particles and water-soluble organic flexibilizers is applied to the substrate and heat-treated.
  • This is apparently due to the agglomerate-free arrangement of the nanoscale particles in the gel layer.
  • the highly porous layers are transparent, which means that the pores contained therein are predominantly or essentially nanopores. Obviously, these nanopores enable crack-free sintering at Tg.
  • the process according to the invention now makes it possible to produce crack-free thick layers with a thickness of up to several micrometers, which can be sintered to form dense layers by means of thermal compression.
  • the diffusion paths to be covered during sintering are small, so that crack-free compaction is achieved.
  • the layers remain transparent in every stage from the gel to the glass, so that there is the possibility of adjusting the refractive index and / or the dielectric constant via the compression temperature.
  • Layers with thicknesses in the ⁇ m range or gel body have always been white.
  • the large pores contained in the prior art layers not only contribute to the scattering of light, but also lead to the formation of cracks when compacted. In contrast to this, they enable the process according to the invention available nanoporous layers the formation of transparent and crack-free layers at every stage.
  • any temperature-stable substrate can be used as the substrate.
  • metal substrates can also be used, but this is not preferred.
  • semi-metals and in particular semiconductors are suitable substrates.
  • Preferred substrates are glass substrates such as float glass, borosilicate glass, lead crystal or silica glass, glass ceramic substrates, semiconductor substrates such as optionally doped Si or Ge, or ceramic substrates such as Al 2 O 3 , ZrO 2 or SiO 2 mixed oxides.
  • Glass and semiconductor substrates, in particular substrates made of silicon or silicon dioxide are particularly preferred.
  • the silicon can be doped, for example with P, As, Sb and / or B.
  • the silicon dioxide can also be doped. Examples of doping are given below in the description of the nanoscale particles. It can be, for example, silicon wafers or silicon coated with silicon dioxide, as are used in the semiconductor industry and optoelectronics.
  • the substrate must be selected so that it survives the necessary thermal treatment.
  • the substrate may have been pretreated, e.g. by structuring or by in particular partial coating, e.g. about printing techniques. Therefore, e.g. there are optical and / or electrical microstructures, e.g. Optical fibers or conductor tracks.
  • the coating composition is, in particular, a coating sol which contains a flexibilizer in the form of a water-soluble organic polymer and / or oligomer and nanoscale particles.
  • the nanoscale particles are in particular nanoscale inorganic particles.
  • the particle size is, for example, in the range from below 100 nm. In particular, the particle sizes are in the range from 1 nm to 40 nm, preferably 5 nm to 20 nm, particularly preferably 8 nm to 12 nm.
  • the size specifications relate to average particle diameters. This material can be used in the form of a powder, but is preferably used in the form of a sol.
  • nanoscale particles examples include oxides or oxide hydrates of Si, Al, B, Zn, Cd, Ti, Zr, Ce, Sn, Sb, In, La, Fe, Cu, Ta, Nb, V, Mo or W, for example, if appropriate hydrated oxides, such as ZnO, CdO, SiO 2 , TiO 2 , ZrO 2 , CeO 2 , SnO 2 , Sb 2 O 3 , AIOOH, Al 2 O 3 , ln 2 O 3) La 2 O 3 , Fe 2 O 3 , Cu 2 O, Ta 2 O 5 , Nb 2 O 5 , V 2 O 5 , MoO 3 or WO 3 , phosphates, silicates, zirconates, aluminates, stannates and corresponding mixed oxides (for example those with a perovskite structure such as BaTiO 3 and PbTiO 3 ).
  • nanoscale particles are SiO 2 , CeO 2 , Al 2 O 3 , AIOOH, TiO 2 , ZrO 2 , SnO 2 , Sb 2 O 3 and ZnO.
  • SiO 2 is very particularly preferably used as a nanoscale particle.
  • the nanoscale particles can be produced by the known methods.
  • SiO 2 particles can be produced, for example, via base-catalyzed hydrolysis and condensation of silicon alcoholates or via other known processes for the production of silica sols, for example via the water glass route. Pyrogenic or thermal production processes are also known. Such SiO 2 particles are commercially available, for example as silica sols. Analogous processes are also known for other oxide particles.
  • Aqueous sols of the nanoscale particles are preferably used, for example aqueous silica sols and in particular colloidal, electrostatically stabilized aqueous silica sols.
  • dopants can be used. All glass or ceramic-forming elements are generally suitable as dopants.
  • glass or ceramic-forming components (in their oxide form) for doping are B 2 O 3 , Al 2 O 3 , P 2 O 5 , GeO 2 , Bi 2 O 3 or oxides of gallium, tin, arsenic, antimony, lead, Niobium and tantalum, network converters, such as alkali and alkaline earth oxides, components which increase the refractive index, such as, for example, PbO, TiO 2 , ZrO 2 , HfO 2 , Ta 2 O 5 , Tl 2 0, optically active components, such as rare earth oxides, for example Er 2 O 3 , Yb 2 O 3 , Nd 2 O 3 , Sm 2 O 3 , Ce 2 O 3 , Eu 2 O 3 , subgroup elements, for example La 2 O 3 , Y 2 0 3 , WO 3> and ln 2 O 3 , S
  • the doping is e.g. in concentrations between 0% and 15 mol%, preferably 0% and 10 mol% and particularly preferably 0% and 7.5 mol%, measured on the total oxide content.
  • the doping is e.g. by adding the doping components as water-soluble salts, as alkoxides or as soluble complexes, e.g. Acetylacetonates, acid complexes or amine complexes, to the coating sol and optionally hydrolysis.
  • the nanoscale particles used such as the silica sols
  • the flexibilizer for example a PVA binder
  • the nanodispersive state of the (SiO 2 ) xerogel framework is important in order to achieve a homogeneous element distribution in a short time.
  • Another advantage is that due to the real nanoporosity, complete densification is achieved at Tg.
  • Water-soluble organic flexibilizers are also used in the coating composition. These are in particular water-soluble organic polymers and / or oligomers. Water-soluble organic polymers are preferably used, for. B. water-soluble organic binder. They are, for example, polymers and / or oligomers which have polar groups, such as hydroxyl, primary, secondary or tertiary amino, carboxyl or carboxylate groups.
  • Typical examples are polyvinyl alcohol, polyvinyl pyrrolidone, polyacrylamide, polyvinyl pyridine, polyallylamine, polyacrylic acid, polyvinyl acetate, polymethyl methacrylic acid, starch, gum arabic, other polymeric alcohols, such as, for example, polyethylene-polyvinyl alcohol copolymers, polyethylene glycol, polypropylene glycol and poly (4-vinylphenol).
  • a preferred flexibilizer is polyvinyl alcohol, for example the commercially available Mowiol® 18-88 from Hoechst. Polyvinyl alcohols, for example with an MW of 1200, can also be used.
  • the flexibilizers can be used individually or as a mixture of two or more of them.
  • the flexibilizers In contrast to the solvent, the flexibilizers cannot be distilled off at elevated temperatures either, but are burned out by the heat treatment, i.e. they cannot be vaporized (non-destructively). In particular, they are substances that are solid at room temperature.
  • the coating composition in particular also contains one or more solvents as the third component.
  • suitable solvents known to the person skilled in the art can be used.
  • suitable solvents are water, alcohols, preferably lower aliphatic alcohols, for example C 1 -C 4 -alcohols, such as methanol, ethanol, 1-propanol, i-propanol and 1-butanol, ketones, preferably lower dialkyl ketones, for example C r C 4 Dialkyl ketones, such as acetone and methyl isobutyl ketone, ethers, preferably lower dialkyl ethers, for example C 1 -C 4 dialkyl ethers, such as dioxane and THF, amides, such as dimethylformamide, and acetonitrile.
  • the solvents can be used alone or in their mixtures.
  • Particularly preferred solvents are water, alcohol-water mixtures with alcohol contents between 0% and 90% by volume, mixtures of water and tetrahydrofuran (THF) with THF contents between 0% and 90% by volume, other single-phase mixtures of water and organic solvents such as dioxane, acetone or acetonitrile, a minimum water content of 10% by volume being preferred.
  • Particularly preferred solvents contain at least 10% by volume of water.
  • the water content in the solvent is particularly preferably> 50%, in particular> 90%.
  • Aqueous coating compositions, ie with a minimum water content, are therefore preferably used.
  • the proportion of solvent in the coating composition largely depends on the coating method chosen. It is e.g. for spray coatings e.g. about 95%, for spin or dip coatings e.g. about 80%, for doctor blade coatings e.g. about 50% and for printing pastes e.g. about 30%.
  • the coating composition can in principle contain further additives, e.g. Fluorosilane condensates, e.g. are described in EP 587667.
  • the flexibilizer is processed with the nanoscale particles (and the solvents specified above) to form a coating sol such that this flexibilizer takes over the steric stabilization of the SiO 2 nanoparticles when the corresponding sol-gel layers dry. As a result, no agglomerates or aggregates are formed when the layers dry, which lead to large pores.
  • the volume ratio between the flexibilizer and the nanoscale particles is selected so that the flexibilizer approximately fills the gaps between the solvent-free particles.
  • the share of the flexibilizer is preferably selected so that it largely fills the spaces between the nanoparticles after evaporation of the solvent, ie the volume ratio of nanoparticles to flexibilizer is preferably 72:28 to 50:50, particularly preferably 70:30 to 60:40 and in particular 68: 32 to 62:38, e.g. about 65:35.
  • the layer production can be carried out with all common wet processes.
  • the coating composition is applied to the substrate via conventional coating methods, e.g. Dipping, flooding, drawing, pouring, spinning, spraying, spraying, brushing, knife coating, rolling or conventional printing techniques, e.g. with printing pastes.
  • Electrophoretic coating processes are less or not suitable at all because of the disadvantages listed above.
  • the coating composition applied to the substrate is dried, the flexibilizing agent is burned out and, if appropriate, the coating is then partially or completely compacted.
  • the drying can also be partially or completely before the heat treatment, e.g. by simply venting.
  • the solvent is also suitably removed by the heat treatment.
  • heat treatment conventional methods, such as. B. heating in the oven or the so-called "Rapid Thermal Annealing" (flash annealer, flame treatment) can be used, the latter especially for compression.
  • radiant heaters such as IR radiators or lasers
  • the heat treatment is carried out for example under an oxygen-containing or inert atmosphere, for example nitrogen, or air, but other components, such as ammonia, chlorine or carbon tetrachloride, can also be used as the atmosphere, alone or as an additional component.
  • temperatures of up to approx. 450 ° C. are used, for example by tempering in an oven.
  • the compression temperatures depend on the desired degree of residual porosity and on the composition. They are generally in the range from 450 ° C. to 1200 ° C. for glass layers and in the range from 500 ° C. to 2000 ° C. for ceramic layers. Temperature programs are preferably used for the heat treatment, the parameters, such as heating rates, holding temperatures and temperature ranges, being regulated. These are known to the person skilled in the art.
  • a gel still containing the flexibilizing agent is obtained, e.g. in the case of higher-boiling solvents, it can also be removed in parallel.
  • This inorganic gel or xerogel can be converted into a glass, glass ceramic or ceramic-like layer by partial or complete compaction. The layers remain transparent at every stage from the gel to the glass. This also gives the possibility of setting the refractive index and / or the dielectric constant via the compression temperature.
  • even crack-free thick layers for example with a thickness of more than 1 ⁇ m, in particular more than 3 ⁇ m or 5 ⁇ m or even more than 8 ⁇ m, can be obtained, which are moreover transparent and therefore suitable for optical applications.
  • the gel layers after removal of the solvent but not the flexibilizer have, for example, layer thicknesses from 0.5 ⁇ m to 200 ⁇ m, preferably 5 ⁇ m to 50 ⁇ m and particularly preferably from 10 ⁇ m to 20 ⁇ m.
  • the inorganic layers obtained in the process according to the invention can also be structured, in particular microstructured.
  • the structuring or microstructuring can be carried out in particular for the production of optical or electronic structures. It can take place in the gel layer or in the compressed, partially compressed or non-compressed inorganic layers.
  • the structuring is preferably carried out in the gel state, in particular after removal of the solvent but before removal of the flexibilizing agent.
  • methods known from the prior art e.g. photolithography, embossing or etching and masking methods, are used.
  • Microstructuring before thermal compression allows the production of particularly thick (8 ⁇ m to 20 ⁇ m) compacted microstructures.
  • the coated substrates produced are particularly suitable as optical, optoelectronic, electronic, micromechanical or dirt-repellent components.
  • Typical application examples are passive and active optical waveguides, buffer and cladding layers for passive and active optical waveguides on glass, ceramic and Si substrates, dielectric layers and microstructures on glass, ceramic and silicon substrates for the production of semiconductor components, silicate and alkali silicate layers and microstructures for the thermal and anodic bonding of silicon substrates, optical components, for example gratings and light-scattering structures, microlenses, microcylinder lenses, microfresnel lenses or arrays made of these, microreactors or transparent dirt-repellent microstructures.
  • silica sols Two different silica sols were used to synthesize the SiO 2 sols.
  • a silica sol was synthesized beforehand from TEOS with ammonia in ethanol, the process being designed so that after the synthesis the SiO 2 pond size was 10 nm and the solids content was adjusted to 5.58% by weight (name of this silica sol: KS10 ).
  • the second silica sol used is commercially available (Levasil VPAc 4039, Bayer). To prepare the sol, 75 g of KS10 and 23.25 g of VPAc 4039 are combined and 39.06 g of a 10% strength by weight aqueous solution of the organic binder PVA (Mowiol 18-88, Hoechst) are added to this solution.
  • the desired solids content (25% by weight, based on the oxide content of the sol) is achieved by removing solvent by distillation on a rotary evaporator. After concentrating the sol, the pH is adjusted to pH 9-9.5, in which 0.4 g of a 25% NH 3 solution are added dropwise. Before the coating process, the brine is filtered through syringe filters (1.2 ⁇ m).
  • the distillative removal is then carried out of the solvent on a rotary evaporator until a solids content of 10% by weight (based on the oxide content) has been set in.
  • the sol is filtered through syringe filters to 1.2 ⁇ m.
  • KS10 100 g of KS10 are slowly added dropwise to 6.5 g of 1 molar aqueous HNO 3 with stirring. Then 40 g of acetate-stabilized, particulate CeO 2 sol (CeO 2 ACT, 20% by weight, from AKZO-PQ) are slowly added at room temperature with stirring. Then 37.7 g of the organic flexibilizer PVA-18-88 are added as a 10% strength by weight solution in water. Before coating, this sol is filtered through a syringe filter to 1.2 ⁇ m.
  • sols synthesized as stated above are applied to various substrates, preferably SiO 2 and silicon, using the customary coating methods (for example spinning, spraying, dipping or knife coating).
  • the layers are compressed in the muffle furnace in accordance with a specified temperature program.
  • the layers are heated from room temperature to 250 ° C at a heating rate of 0.8 K / min, the temperature is kept at 250 ° C for 1 hour. From 250 ° C is heated at a heating rate of 0.8 K / min to 450 ° C and again held at this temperature for 1 h.
  • the final compression temperature for the undoped SiO 2 layers is 1100 ° C, which is held for 1 hour.
  • Final compression temperatures of 500 to 1000 ° C lead to porous layers with a correspondingly lower refractive index.
  • the heating rate for compression from 450 to 1100 ° C is 2 K / min.
  • the doped layers are compacted at the same heating rate up to 1000 ° C for 1 h.

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Composite Materials (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)
  • Glass Melting And Manufacturing (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)

Abstract

Method for the production of substrates comprising a layer consisting of inorganic gel, glass, vitroceramic or ceramic material, according to which a coating composition containing nanoscalar particles and water-soluble organic flexibilizers is applied to the substrate and is thermally treated. Said method allows transparent thick films which are devoid of cracks to be obtained. The coated substrates are particularly suitable for use as optical, optoelectronic, electronic, micromechanical or dirt-repellent components.

Description

Substrate mit einer Dickschic t aus anorganischem Gel-, Glas-, Glaskeramikoder Keramikmaterial, Verfahren zu deren Herstellung und ihre VerwendungSubstrates with a thick layer of inorganic gel, glass, glass ceramic or ceramic material, process for their production and their use
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Substrat mit mindestens einer Dickschicht aus anorganischem Gel-, Glas-, Glaskeramik- oder Keramikmaterial, ein Verfahren zur Herstellung von Substraten mit mindestens einer Schicht aus anorganischem Gel-, Glas-, Glaskeramik- oder Keramikmaterial und ihre Verwendung, z.B. in der Optik, Optoelektronik oder Elektronik.The present invention relates to a substrate with at least one thick layer of inorganic gel, glass, glass ceramic or ceramic material, a method for producing substrates with at least one layer of inorganic gel, glass, glass ceramic or ceramic material and their use, e.g. in optics, optoelectronics or electronics.
Si02-Schichten und dotierte SiO2-Schichten mit einer Schichtdicke im μm-Bereich eignen sich für unterschiedliche Anwendungen im Bereich der Optik und Optoelektronik. So werden SiO2-Schichten mit Schichtdicken im μm-Bereich als dielektrische Isolationsschichten auf Silicium für die Halbleiterproduktion angewendet. Ein weiterer Schwerpunkt ist die Herstellung von ausreichend dicken Bufferschichten auf Silicium für die Herstellung integriert optischer Komponenten. Mit unterschiedlichen Ionen dotierte SiO2-Schichten finden Anwendung in der Herstellung von passiven und aktiven planaren Lichtwellenleitern.Si0 2 layers and doped SiO 2 layers with a layer thickness in the μm range are suitable for different applications in the field of optics and optoelectronics. SiO 2 layers with layer thicknesses in the μm range are used as dielectric insulation layers on silicon for semiconductor production. Another focus is the production of sufficiently thick buffer layers on silicon for the production of integrated optical components. SiO 2 layers doped with different ions are used in the production of passive and active planar optical waveguides.
Die Herstellung von dicken SiO2-Schichten im μm-Bereich erfolgt im allgemeinen über thermische Oxidation oder über Flammenhydrolyse. Beide Verfahren sind sehr kosten- und zeitintensiv. Für Bufferschichten zur Herstellung planarer Wellenleiter wird eine 10-15 μm dicke SiO2-Schicht benötigt. Für die Herstellung von Materialien mit Dotierungen zur Brechzahlanpassung, wie Pb, P, AI, oder Dotierungen zur Herstellung aktiver Materialien wie Er stellt sich das Problem, daß mittels Flammen- hydrolyse keine ausreichend hohen Dotierungskonzentrationen erzielt werden können.Thick SiO 2 layers in the μm range are generally produced using thermal oxidation or flame hydrolysis. Both methods are very costly and time-consuming. A 10-15 μm thick SiO 2 layer is required for buffer layers for the production of planar waveguides. For the production of materials with dopings for matching the refractive index, such as Pb, P, Al, or dopings for the production of active materials such as He, the problem arises that flame hydrolysis cannot achieve sufficiently high doping concentrations.
Eine Alternative zur Herstellung dicker SiO2-Schichten und dotierter SiO2-Schichten stellt das Sol-Gel-Verfahren dar. Der Einbau von geeigneten Ionen zur Herstellung von verstärkenden Materialien gestaltet sich über das Sol-Gel-Verfahren problemlos.The sol-gel process represents an alternative to the production of thick SiO 2 layers and doped SiO 2 layers. The sol-gel process can be used to easily incorporate suitable ions for the production of reinforcing materials.
Im Vergleich zu den herkömmlichen Synthesemethoden erhält man homogene Materialien mit hohen Dotierungskonzentrationen. Das Sol-Gel-Verfahren bietet somit eine Alternative zur Herstellung dieser Komponenten. Es ist bis jetzt jedoch nicht möglich, verdichtete, hochreine SiO2-Schichten oder dotierte SiO2-Schichten mit Schichtdicken im μm-Bereich auf Silicium oder SiO2 als Substratmaterial rißfrei herzustellen.In comparison to the conventional synthesis methods, one obtains homogeneous Materials with high doping concentrations. The sol-gel process thus offers an alternative to the production of these components. Up to now, however, it has not been possible to produce compacted, high-purity SiO 2 layers or doped SiO 2 layers with layer thicknesses in the μm range on silicon or SiO 2 as the substrate material without cracks.
Bei der Ausbildung von anorganischen Sol-Gel-Schichten führt das Verdunsten der Lösungsmittel beim Sol-Gel-Übergang und im weiteren Verlauf die thermische Behandlung zur Verdichtung und zum Ausbrennen restlicher Organik sowie das Kollabieren der daraus resultierenden Poren zu einer Schrumpfung der Beschichtung, die aufgrund der chemischen Bindung zum Substrat nur in einer Richtung senkrecht zur Oberfläche erfolgen kann.When inorganic sol-gel layers are formed, the evaporation of the solvents during the sol-gel transition and, in the further course, the thermal treatment leads to the compression and burning out of the remaining organic matter, and the collapse of the resulting pores, which causes the coating to shrink the chemical bond to the substrate can only occur in a direction perpendicular to the surface.
Daraus resultieren mechanische Spannungen in der Beschichtung und an der Grenzfläche zum Substrat, die neben der Schrumpfung der sich verdichtenden Beschichtung auch von der thermischen Ausdehnung von Substrat und Beschichtung beim Aufheiz- bzw. Abkühlvorgang bestimmt werden. Den Fachleuten ist bekannt, daß diese Spannungen mit der Schichtdicke wachsen, so daß sich für alle bekannten Schichtsysteme eine Grenze von ca. unter 1 μm ergibt. Bei dickeren Beschichtungen können keine rißfreien Einfachbeschichtungen ausgebildet werden.This results in mechanical stresses in the coating and at the interface to the substrate, which, in addition to the shrinkage of the compacting coating, are also determined by the thermal expansion of the substrate and coating during the heating or cooling process. The experts are aware that these tensions increase with the layer thickness, so that there is a limit of approximately less than 1 μm for all known layer systems. Crack-free single coatings cannot be formed for thicker coatings.
Als Ausgangsmaterial für Sol-Gel-SiO2-Schichten auf Siliciumwafem und auf Glassubstraten wird häufig Tetraethoxysilan (TEOS) in Ethanol, das mit wäßriger Salzsäure oder Wasser hydrolysiert wurde, verwendet. Es konnten dabei nur maximale Schichtdicken von 400 nm erzielt werden oder es wurden grobporöse Schichten erhalten, die für optische Anwendungen wegen ihrer Porosität unbrauchbar sind.Tetraethoxysilane (TEOS) in ethanol, which has been hydrolyzed with aqueous hydrochloric acid or water, is frequently used as the starting material for sol-gel SiO 2 layers on silicon wafers and on glass substrates. It was only possible to achieve maximum layer thicknesses of 400 nm or coarse porous layers were obtained which are unusable for optical applications because of their porosity.
Von Williams et al., Proc. SPIE-Int. Soc. Opt. Eng. (1994), 2288 (Sol-Gel-Optics III), 55-56, wird die Herstellung von SiO2-Schichten ausgehend von kolloidalem SiO2-Sol, das mit Polysiloxanen gemischt wurde, beschrieben. Die Schichtdicke, die bei den nach Trocknung bei 150 °C verdichteten rißfreien Schichten erhalten wurde, lag zwischen 100 nm und 1 μm.By Williams et al., Proc. SPIE-Int. Soc. Opt. Eng. (1994), 2288 (Sol-Gel-Optics III), 55-56, describes the production of SiO 2 layers starting from colloidal SiO 2 sol which has been mixed with polysiloxanes. The layer thickness that the after drying at 150 ° C., compacted crack-free layers were obtained, were between 100 nm and 1 μm.
Die Herstellung von dicken SiO2-Schichten mittels Elektrophorese beschreiben Nishimori et al., J. Sol-Gel-Sci. Technol. (1996), 7(3), 211-216. Die Synthese der Schichten erfolgt ausgehend von SiO2-Partikeln und Polyacrylsäure. Der Schichtauftrag erfolgt auf Edelstahl mittels elektrophoretischer Abscheidung, eine Sinterung wird nicht durchgeführt. Mittels Elektrophorese hergestellte Schichten weisen den Nachteil auf, daß sie eine hohe Porosität nach dem Verdichten zeigen und nicht transparent sind. Weiterhin besteht bei der elektrophoretischen Abscheidung der Nachteil, daß die Substrate metallisch leitfähig sein müssen.The production of thick SiO 2 layers by means of electrophoresis is described by Nishimori et al., J. Sol-Gel-Sci. Technol. (1996), 7 (3), 211-216. The layers are synthesized from SiO 2 particles and polyacrylic acid. The layer is applied to stainless steel by means of electrophoretic deposition, sintering is not carried out. Layers produced by means of electrophoresis have the disadvantage that they show a high porosity after densification and are not transparent. Another disadvantage of electrophoretic deposition is that the substrates have to be metallically conductive.
Die Herstellung von wellenleitenden Schichten erfolgt auf Basis anorganischer Sol- Gel-Materialien, wobei sich in allen Fällen das Problem der geringen Schichtdicke stellt. Als wellenleitende Materialien werden SiO2-Ti02-Schichten diskutiert. Andere Dotiermaterialien für SiO2-Schichten neben Ti02 sind P2O5 und GeO2.The production of wave-guiding layers is based on inorganic sol-gel materials, with the problem of the low layer thickness arising in all cases. SiO 2 -Ti0 2 layers are discussed as wave-guiding materials. Other doping materials for SiO 2 layers besides Ti0 2 are P 2 O 5 and GeO 2 .
Mit üblichen Sol-Gel-Verfahren können nur sehr dünne Schichten erzielt werden, die für viele Anwendungen, z. B. Prägen von Multimode-Wellenleitern, nicht geeignet sind. Bei der elektrophoretischen Abscheidung von vorverdichteten SiO2-Partikeln auf Metallsubstraten können zwar dicke Schichten erhalten werden, elektrophoretische Beschichtungsverfahren sind aber bei Substraten wie sie in der Optik und Optoelektronik verwendet werden (z.B. Si, Glas), prinzipiell ungeeignet. Außerdem können keine transparente Schichten erhalten werden wie sie für optische Anwendungen notwendig sind.With conventional sol-gel processes, only very thin layers can be achieved, which for many applications, e.g. B. embossing multimode waveguides are not suitable. Thick layers can be obtained in the electrophoretic deposition of pre-compressed SiO 2 particles on metal substrates, but electrophoretic coating processes are in principle unsuitable for substrates such as those used in optics and optoelectronics (eg Si, glass). In addition, no transparent layers can be obtained as are necessary for optical applications.
Der Erfindung lag daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Herstellung von Gel-, Glas- oder Keramikschichten, insbesondere von SiO2-Schichten und dotierten SiO2-Schichten, auf Substraten zu entwickeln, durch das man mit einem Beschichtungsvorgang dicke Schichten erlangen kann, die rißfrei sind und insbesondere für optische oder optoelektronische Anwendungen geeignet sind. Dies konnte überraschenderweise durch ein Verfahren zur Herstellung von Substraten mit mindestens einer Schicht aus anorganischem Gel-, Glas-, Glaskeramik- oder Keramikmaterial erreicht werden, in welchem man eine Beschichtungszusammensetzung, umfassend nanoskalige Teilchen und wasserlösliche organische Flexibilisatoren, auf das Substrat aufbringt und wärmebehandelt.The invention was therefore based on the object of developing a method for producing gel, glass or ceramic layers, in particular of SiO 2 layers and doped SiO 2 layers, on substrates, by means of which thick layers can be obtained with a coating process, which are crack-free and are particularly suitable for optical or optoelectronic applications. Surprisingly, this could be achieved by a process for producing substrates with at least one layer of inorganic gel, glass, glass ceramic or ceramic material, in which a coating composition comprising nanoscale particles and water-soluble organic flexibilizers is applied to the substrate and heat-treated.
Besonders erstaunlich ist, daß bei dem erfindungsgemäßen Verfahren die Schichten nach Ausbrennen des Flexibilisators eine hohe Porosität besitzen (z.B. eine Brechzahl von nD=1 ,22, was einer Porosität von 52% entspricht) und beim weiteren Verdichten (z.B. bei ca. 1100°C) unterhalb der theoretischen Tg trotz hoher Schrumpfung (z.B. ca. 40-50 % in der Dicke) keine Rißbildung zeigen, wie man es von allen anderen bisher bekannten Systemen her kennt. Dies liegt anscheinend an der agglomeratfreien Anordnung der nanoskaligen Teilchen in der Gelschicht. Die hoch porösen Schichten sind transparent, woraus sich ergibt, daß es sich bei den darin enthaltenen Poren überwiegend oder im wesentlichen um Nanoporen handelt. Offensichtlich ermöglichen diese Nanoporen ein rißfreies Sintern bei Tg.It is particularly surprising that, in the process according to the invention, the layers have a high porosity after the flexibilizer has burned out (for example a refractive index of n D = 1.22, which corresponds to a porosity of 52%) and with further compaction (for example at about 1100 ° C) below the theoretical Tg, despite high shrinkage (for example approx. 40-50% in thickness), no crack formation, as is known from all other previously known systems. This is apparently due to the agglomerate-free arrangement of the nanoscale particles in the gel layer. The highly porous layers are transparent, which means that the pores contained therein are predominantly or essentially nanopores. Obviously, these nanopores enable crack-free sintering at Tg.
Durch das erfindungsgemäße Verfahren gelingt es nun, rißfreie Dickschichten mit bis zu mehreren Mikrometern Dicke herzustellen, die über eine thermische Verdichtung zu dichten Schichten gesintert werden können. Zum einen sind die beim Sintern zurückzulegenden Diffusionswege klein, so daß eine rißfreie Verdichtung gelingt. Zum anderen bleiben die Schichten im jedem Stadium vom Gel bis zum Glas transparent, so daß sich die Möglichkeit ergibt, die Brechzahl und/oder die Dielektrizitätskonstante über die Verdichtungstemperatur einzustellen. Schichten mit Dicken im μm-Bereich oder Gelkörper waren bisher immer weiß. Die in den Schichten nach dem Stand der Technik enthaltenen großen Poren tragen nicht nur zur Lichtstreuung bei, sondern führen auch beim Verdichten zur Rißbildung. Im Gegensatz dazu ermöglichen die nach dem erfindungsgemäßen Verfahren erhältlichen nanoporösen Schichten die Bildung von in jedem Stadium transparenten und rißfreien Schichten.The process according to the invention now makes it possible to produce crack-free thick layers with a thickness of up to several micrometers, which can be sintered to form dense layers by means of thermal compression. On the one hand, the diffusion paths to be covered during sintering are small, so that crack-free compaction is achieved. On the other hand, the layers remain transparent in every stage from the gel to the glass, so that there is the possibility of adjusting the refractive index and / or the dielectric constant via the compression temperature. Layers with thicknesses in the μm range or gel body have always been white. The large pores contained in the prior art layers not only contribute to the scattering of light, but also lead to the formation of cracks when compacted. In contrast to this, they enable the process according to the invention available nanoporous layers the formation of transparent and crack-free layers at every stage.
Als Substrat kann jedes beliebige temperaturstabile Substrat eingesetzt werden. Prinzipiell können auch Metallsubstrate eingesetzt werden, dies ist aber nicht bevorzugt. Dagegen sind Halbmetalle und insbesondere Halbleiter geeignete Substrate. Bevorzugte Substrate sind Glassubstrate, wie Floatglas, Borosilicatglas, Bleikristall oder Kieselglas, Glaskeramiksubstrate, Halbleitersubstrate, wie gegebenenfalls dotiertes Si oder Ge, oder Keramiksubstrate, wie AI2O3, ZrO2 oder SiO2-Mischoxide. Besonders bevorzugt sind Glas- und Halbleitersubstrate, insbesondere Substrate aus Silicium oder Siliciumdioxid. Das Silicium kann dotiert sein, z.B. mit P, As, Sb und/oder B. Auch das Siliciumdioxid kann dotiert sein. Beispiele für Dotierungen sind nachstehend bei der Beschreibung der nanoskaligen Teilchen angegeben. Es kann sich z.B. um Siliciumwafer oder mit Siliciumdioxid beschichtes Silicium handeln, wie sie in der Halbleiterindustrie und der Optoelektronik eingesetzt werden.Any temperature-stable substrate can be used as the substrate. In principle, metal substrates can also be used, but this is not preferred. In contrast, semi-metals and in particular semiconductors are suitable substrates. Preferred substrates are glass substrates such as float glass, borosilicate glass, lead crystal or silica glass, glass ceramic substrates, semiconductor substrates such as optionally doped Si or Ge, or ceramic substrates such as Al 2 O 3 , ZrO 2 or SiO 2 mixed oxides. Glass and semiconductor substrates, in particular substrates made of silicon or silicon dioxide, are particularly preferred. The silicon can be doped, for example with P, As, Sb and / or B. The silicon dioxide can also be doped. Examples of doping are given below in the description of the nanoscale particles. It can be, for example, silicon wafers or silicon coated with silicon dioxide, as are used in the semiconductor industry and optoelectronics.
Selbstverständlich ist das Substrat so auszuwählen, daß es die notwendige thermische Behandlung übersteht. Das Substrat kann bereits vorbehandelt worden sein, z.B. durch Strukturierung oder durch insbesondere teilweise Beschichtung, z.B. über Drucktechniken. Es können daher z.B. optische und/oder elektrische MikroStrukturen vorliegen, z.B. Lichtwellenleiter oder Leiterbahnen.Of course, the substrate must be selected so that it survives the necessary thermal treatment. The substrate may have been pretreated, e.g. by structuring or by in particular partial coating, e.g. about printing techniques. Therefore, e.g. there are optical and / or electrical microstructures, e.g. Optical fibers or conductor tracks.
Bei der Beschichtungszusammensetzung handelt es sich insbesondere um ein Beschichtungssol, das einen Flexibilisator in Form eines wasserlöslichen organischen Polymers und/oder Oligomers und nanoskalige Teilchen enthält.The coating composition is, in particular, a coating sol which contains a flexibilizer in the form of a water-soluble organic polymer and / or oligomer and nanoscale particles.
Die nanoskaligen Teilchen sind insbesondere nanoskalige anorganische Teilchen.The nanoscale particles are in particular nanoscale inorganic particles.
Es handelt sich bevorzugt um nanoskalige Nichtmetalloxid- und/oder Metalloxid- Teilchen. Die Teilchengröße liegt z.B. im Bereich von unter 100 nm. Insbesondere sind die Teilchengrößen im Bereich von 1 nm bis 40 nm, bevorzugt 5 nm bis 20 nm, besonders bevorzugt 8 nm bis 12 nm. Die Größenangaben beziehen sich auf durchschnittliche Teilchendurchmesser. Dieses Material kann in Form eines Pulvers eingesetzt werden, wird jedoch vorzugsweise in Form eines Sols verwendet.They are preferably nanoscale non-metal oxide and / or metal oxide particles. The particle size is, for example, in the range from below 100 nm. In particular, the particle sizes are in the range from 1 nm to 40 nm, preferably 5 nm to 20 nm, particularly preferably 8 nm to 12 nm. The size specifications relate to average particle diameters. This material can be used in the form of a powder, but is preferably used in the form of a sol.
Beispiele für einsetzbare nanoskalige Teilchen sind Oxide oder Oxidhydrate von Si, AI, B, Zn, Cd, Ti, Zr, Ce, Sn, Sb, In, La, Fe, Cu, Ta, Nb, V, Mo oder W, z.B. gegebenenfalls hydratisierte Oxide, wie ZnO, CdO, SiO2, TiO2, ZrO2, CeO2, SnO2, Sb2O3, AIOOH, AI2O3, ln2O3) La2O3, Fe2O3, Cu2O, Ta2O5, Nb2O5, V2O5, MoO3 oder WO3, Phosphate, Silicate, Zirconate, Aluminate, Stannate und entsprechende Mischoxide (z.B. solchen mit Perowskitstruktur wie BaTiO3 und PbTiO3). Diese können einzeln oder als Mischung von zwei oder mehr derselben eingesetzt werden. Bevorzugt eingesetzte nanoskalige Teilchen sind SiO2, CeO2, AI2O3, AIOOH, TiO2, ZrO2, SnO2, Sb2O3 und ZnO. Ganz besonders bevorzugt wird SiO2 als nanoskaliges Teilchen eingesetzt.Examples of nanoscale particles that can be used are oxides or oxide hydrates of Si, Al, B, Zn, Cd, Ti, Zr, Ce, Sn, Sb, In, La, Fe, Cu, Ta, Nb, V, Mo or W, for example, if appropriate hydrated oxides, such as ZnO, CdO, SiO 2 , TiO 2 , ZrO 2 , CeO 2 , SnO 2 , Sb 2 O 3 , AIOOH, Al 2 O 3 , ln 2 O 3) La 2 O 3 , Fe 2 O 3 , Cu 2 O, Ta 2 O 5 , Nb 2 O 5 , V 2 O 5 , MoO 3 or WO 3 , phosphates, silicates, zirconates, aluminates, stannates and corresponding mixed oxides (for example those with a perovskite structure such as BaTiO 3 and PbTiO 3 ). These can be used individually or as a mixture of two or more of them. Preferred nanoscale particles are SiO 2 , CeO 2 , Al 2 O 3 , AIOOH, TiO 2 , ZrO 2 , SnO 2 , Sb 2 O 3 and ZnO. SiO 2 is very particularly preferably used as a nanoscale particle.
Die nanoskaligen Teilchen können nach den bekannten Verfahren hergestellt werden. SiO2-Teilchen können z.B. über basenkatalysierte Hydrolyse und Kondensation von Siliciumalkoholaten oder über andere bekannte Verfahren zur Herstellung von Kieselsolen, z.B. über die Wasserglasroute, hergestellt werden. Auch pyrogene oder thermische Herstellungsverfahren sind bekannt. Solche SiO2- Teilchen sind im Handel, z.B. als Kieselsole, erhältlich. Analoge Verfahren sind auch für andere Oxid-Teilchen bekannt. Bevorzugt werden wäßrige Sole der nanoskaligen Teilchen eingesetzt, z.B. wäßrige Kieselsole und insbesondere kolloidale, elektrostatisch stabilisierte wäßrige Kieselsole.The nanoscale particles can be produced by the known methods. SiO 2 particles can be produced, for example, via base-catalyzed hydrolysis and condensation of silicon alcoholates or via other known processes for the production of silica sols, for example via the water glass route. Pyrogenic or thermal production processes are also known. Such SiO 2 particles are commercially available, for example as silica sols. Analogous processes are also known for other oxide particles. Aqueous sols of the nanoscale particles are preferably used, for example aqueous silica sols and in particular colloidal, electrostatically stabilized aqueous silica sols.
Zusätzlich zu den nanoskaligen Teilchen können Dotierungsmittel verwendet werden. Als Dotierungsmittel eignen sich allgemein alle glas- oder keramikbildenden Elemente. Beispiele für glas- oder keramikbildende Komponenten (in ihrer Oxidform) zur Dotierung sind B2O3, AI2O3, P2O5, GeO2, Bi2O3 oder Oxide von Gallium, Zinn, Arsen, Antimon, Blei, Niob und Tantal, Netzwerkwandler, wie Alkali- und Erdalkalioxide, brechzahlerhöhende Komponenten, wie z.B. PbO, TiO2, ZrO2, HfO2, Ta2O5, Tl20, optisch aktive Komponenten, wie Seltenerdoxide, z.B. Er2O3, Yb2O3, Nd2O3, Sm2O3, Ce2O3, Eu2O3, Nebengruppenelemente, z.B. La2O3, Y203, WO3> sowie ln2O3, SnO bzw. SnO2 und Sb2O3. Unter optisch aktiven Komponenten werden hierbei insbesondere Komponenten verstanden, die im Sinne von Photolumineszenz im sichtbaren und NIR-Spektralbereich oder 2-Photonen-Absorptionsprozesse (Upconversion) optisch aktiv sind.In addition to the nanoscale particles, dopants can be used. All glass or ceramic-forming elements are generally suitable as dopants. Examples of glass or ceramic-forming components (in their oxide form) for doping are B 2 O 3 , Al 2 O 3 , P 2 O 5 , GeO 2 , Bi 2 O 3 or oxides of gallium, tin, arsenic, antimony, lead, Niobium and tantalum, network converters, such as alkali and alkaline earth oxides, components which increase the refractive index, such as, for example, PbO, TiO 2 , ZrO 2 , HfO 2 , Ta 2 O 5 , Tl 2 0, optically active components, such as rare earth oxides, for example Er 2 O 3 , Yb 2 O 3 , Nd 2 O 3 , Sm 2 O 3 , Ce 2 O 3 , Eu 2 O 3 , subgroup elements, for example La 2 O 3 , Y 2 0 3 , WO 3> and ln 2 O 3 , SnO or SnO 2 and Sb 2 O 3 . In this context, optically active components are understood to mean, in particular, components which are optically active in the sense of photoluminescence in the visible and NIR spectral range or 2-photon absorption processes (upconversion).
Die Dotierung erfolgt z.B. in Konzentrationen zwischen 0% und 15 mol %, bevorzugt 0% und 10 mol % und besonders bevorzugt 0% und 7,5 mol %, gemessen am Gesamtoxidgehalt. Die Dotierung erfolgt z.B. durch Zugabe der Dotierungskomponenten als wasserlösliche Salze, als Alkoxide oder als lösliche Komplexe, z.B. Acetylacetonate, Säurekomplexe oder Aminkomplexe, zu dem Beschichtungssol und gegebenenfalls einer Hydrolyse.The doping is e.g. in concentrations between 0% and 15 mol%, preferably 0% and 10 mol% and particularly preferably 0% and 7.5 mol%, measured on the total oxide content. The doping is e.g. by adding the doping components as water-soluble salts, as alkoxides or as soluble complexes, e.g. Acetylacetonates, acid complexes or amine complexes, to the coating sol and optionally hydrolysis.
Durch das Prinzip der Dotierung besteht auch die Möglichkeit der Herstellung homogener μm-dicker Mehrkomponentenglasschichten. Dabei zeigte sich, daß die verwendeten nanoskaligen Teilchen, wie die Kieselsole, in Verbindung mit dem Flexibilisator, z.B. einem PVA-Binder, sowohl im Sauren als auch im Basischen stabile Sole und Gelschichten liefern, so daß eine vielfältige Dotierung möglich ist. Die Homogenisierung erfolgt beim Sintern. Auch hier ist der nanodispersive Zustand des (SiO2)-Xerogelgerüsts wichtig, um eine homogene Elementverteilung in kurzer Zeit zu erzielen. Ein weitere Vorteil besteht darin, daß durch die echte Nanoporosität eine vollständige Verdichtung bereits bei Tg erzielt wird. Nur auf diese Weise ist es möglich, vor allem bei niedrigdotierten SiO2-Zusammensetzungen bekannte Phasenseparationsprozesse zu vermeiden, die bei höheren Temperaturen unvermeidlich sind und oft zu nicht transparenten Beschichtungen führen. Dies ist besonders für die Herstellung optisch aktiver Schichten wichtig, da hier Phasenseparationsphänomene ein Konzentrationsquenching der Emission begünstigen. In der Beschichtungszusammensetzung werden weiter wasserlösliche organische Flexibilisatoren eingesetzt. Dabei handelt es sich insbesondere um wasserlösliche organische Polymere und/oder Oligomere, bevorzugt werden wasserlösliche organische Polymere eingesetzt, z. B. wasserlösliche organische Binder. Es handelt sich z.B. um Polymere und/oder Oligomere, die polare Gruppen, wie Hydroxyl-, primäre, sekundäre oder tertiäre Amino-, Carboxyl- oder Carboxylatgruppen, aufweisen. Typische Beispiele sind Polyvinylalkohol, Polyvinylpyrrolidon, Polyacrylamid, Polyvinylpyridin, Polyallylamin, Polyacrylsäure, Polyvinylacetat, Polymethylmethacrylsäure, Stärke, Gummi arabicum, andere polymere Alkohole wie z.B. Polyethylen-Polyvinylalkohol-Copolymere, Polyethylenglycol, Polypropylenglycol und Poly(4-vinylphenol). Ein bevorzugt eingesetzter Flexibilisator ist Polyvinylalkohol, z.B. das im Handel erhältliche Mowiol® 18-88 der Fa. Hoechst. Es können auch Polyvinylakohole z.B. mit einem MG von 1200 eingesetzt werden. Die Flexibilisatoren können einzeln oder als Mischung von zwei oder mehr derselben eingesetzt werden.Due to the principle of doping, there is also the possibility of producing homogeneous μm-thick multi-component glass layers. It was found that the nanoscale particles used, such as the silica sols, in combination with the flexibilizer, for example a PVA binder, provide stable brine and gel layers in both acidic and basic form, so that diverse doping is possible. Homogenization takes place during sintering. Here, too, the nanodispersive state of the (SiO 2 ) xerogel framework is important in order to achieve a homogeneous element distribution in a short time. Another advantage is that due to the real nanoporosity, complete densification is achieved at Tg. This is the only way to avoid known phase separation processes, especially with low-doped SiO 2 compositions, which are unavoidable at higher temperatures and often lead to non-transparent coatings. This is particularly important for the production of optically active layers, since phase separation phenomena favor concentration quenching of the emission. Water-soluble organic flexibilizers are also used in the coating composition. These are in particular water-soluble organic polymers and / or oligomers. Water-soluble organic polymers are preferably used, for. B. water-soluble organic binder. They are, for example, polymers and / or oligomers which have polar groups, such as hydroxyl, primary, secondary or tertiary amino, carboxyl or carboxylate groups. Typical examples are polyvinyl alcohol, polyvinyl pyrrolidone, polyacrylamide, polyvinyl pyridine, polyallylamine, polyacrylic acid, polyvinyl acetate, polymethyl methacrylic acid, starch, gum arabic, other polymeric alcohols, such as, for example, polyethylene-polyvinyl alcohol copolymers, polyethylene glycol, polypropylene glycol and poly (4-vinylphenol). A preferred flexibilizer is polyvinyl alcohol, for example the commercially available Mowiol® 18-88 from Hoechst. Polyvinyl alcohols, for example with an MW of 1200, can also be used. The flexibilizers can be used individually or as a mixture of two or more of them.
Die Flexibilisatoren sind im Gegensatz zum Lösungsmittel auch nicht bei erhöhten Temperaturen abdestillierbar, sondern werden durch die Wärmebehandlung ausgebrannt, d.h. sie sind nicht (zerstörungsfrei) verdampfbar. Es handelt sich insbesondere um bei Raumtemperatur feste Substanzen.In contrast to the solvent, the flexibilizers cannot be distilled off at elevated temperatures either, but are burned out by the heat treatment, i.e. they cannot be vaporized (non-destructively). In particular, they are substances that are solid at room temperature.
Neben den nanoskaligen Teilchen und den Flexibilisatoren enthält die Beschichtungszusammensetzung insbesondere noch ein oder mehrere Lösungsmittel als dritte Komponente. Es können alle geigneten, dem Fachmann bekannten Lösungsmittel verwendet werden. Beispiele für geeignete Lösemittel sind Wasser, Alkohole, vorzugsweise niedere aliphatische Alkohole, z.B. C^C^-Alkohole, wie Methanol, Ethanol, 1-Propanol, i-Propanol und 1-Butanol, Ketone, vorzugsweise niedere Dialkylketone, z.B. CrC4-Dialkylketone, wie Aceton und Methylisobutylketon, Ether, vorzugsweise niedere Dialkylether, z.B. C^C^Dialkylether, wie Dioxan und THF, Amide, wie Dimethylformamid, und Acetonitril. Die Lösemittel können allein oder in ihren Mischungen eingesetzt werden. Besonders bevorzugte Lösungsmittel sind Wasser, Alkohol-Wasser-Gemische mit Alkoholgehalten zwischen 0% und 90 Vol.-%, Gemische aus Wasser und Tetrahydrofuran (THF) mit THF-Gehalten zwischen 0% und 90 Vol.-%, andere einphasige Gemische aus Wasser und organischen Lösungsmitteln, wie z.B. Dioxan, Aceton oder Acetonitril, wobei ein Mindestwassergehalt von 10 Vol. % bevorzugt ist. Besonders bevorzugte Lösungsmittel enthalten mindestens 10 Vol. % Wasser. Besonders bevorzugt ist der Wassergehalt im Lösungsmittel > 50%, insbesondere > 90%. Es werden daher bevorzugt wäßrige Beschichtungszusammensetzungen, d.h. mit einem Mindestgehalt an Wasser, eingesetzt.In addition to the nanoscale particles and the flexibilizers, the coating composition in particular also contains one or more solvents as the third component. All suitable solvents known to the person skilled in the art can be used. Examples of suitable solvents are water, alcohols, preferably lower aliphatic alcohols, for example C 1 -C 4 -alcohols, such as methanol, ethanol, 1-propanol, i-propanol and 1-butanol, ketones, preferably lower dialkyl ketones, for example C r C 4 Dialkyl ketones, such as acetone and methyl isobutyl ketone, ethers, preferably lower dialkyl ethers, for example C 1 -C 4 dialkyl ethers, such as dioxane and THF, amides, such as dimethylformamide, and acetonitrile. The solvents can be used alone or in their mixtures. Particularly preferred solvents are water, alcohol-water mixtures with alcohol contents between 0% and 90% by volume, mixtures of water and tetrahydrofuran (THF) with THF contents between 0% and 90% by volume, other single-phase mixtures of water and organic solvents such as dioxane, acetone or acetonitrile, a minimum water content of 10% by volume being preferred. Particularly preferred solvents contain at least 10% by volume of water. The water content in the solvent is particularly preferably> 50%, in particular> 90%. Aqueous coating compositions, ie with a minimum water content, are therefore preferably used.
Der Lösungsmittelanteil in der Beschichtungszusammensetzung richtet sich weitgehend nach dem gewählten Beschichtungsverfahren. Er beträgt z.B. für Sprühbeschichtungen z.B. etwa 95 %, für Schleuder- oder Tauchbeschichtungen z.B. etwa 80 %, für Rakelbeschichtungen z.B. etwa 50% und für Druckpasten z.B. etwa 30 %.The proportion of solvent in the coating composition largely depends on the coating method chosen. It is e.g. for spray coatings e.g. about 95%, for spin or dip coatings e.g. about 80%, for doctor blade coatings e.g. about 50% and for printing pastes e.g. about 30%.
Die Beschichtungszusammensetzung kann prinzipiell weitere Additive enthalten, z.B. Fluorsilan-Kondensate, wie sie z.B. in der EP 587667 beschrieben sind.The coating composition can in principle contain further additives, e.g. Fluorosilane condensates, e.g. are described in EP 587667.
Der Flexibilisator wird dabei mit den nanoskaligen Teilchen (und den vorstehend angegebenen Lösungsmitteln) so zu einem Beschichtungssol verarbeitet, daß dieser Flexibilisator beim Trocknen der entsprechenden Sol-Gel-Schichten die sterische Stabilisierung der SiO2-Nanopartikel übernimmt. Dadurch werden beim Trocknen der Schichten keine Agglomerate oder Aggregate gebildet, die zu großen Poren führen.The flexibilizer is processed with the nanoscale particles (and the solvents specified above) to form a coating sol such that this flexibilizer takes over the steric stabilization of the SiO 2 nanoparticles when the corresponding sol-gel layers dry. As a result, no agglomerates or aggregates are formed when the layers dry, which lead to large pores.
Dabei hat es sich als besonders günstig erwiesen, wenn das Volumenverhältnis zwischen Flexibilisator und den nanoskaligen Teilchen so gewählt wird, daß der Flexibilisator in etwa die vorhanden Zwischenräume zwischen den lösungsmittelfrei vorliegenden Teilchen ausfüllt. Selbstverständlich können auch bei nicht zu großen Abweichungen von diesem Verhältnis gute Ergebnisse erzielt. Daher wird der Anteil an Flexibilisator vorzugsweise so ausgewählt, daß er nach Verdampfen des Lösungsmittels die Zwischenräume zwischen den Nanopartikeln weitgehend ausfüllt, d.h. das Volumenverhältnis von Nanopartikeln zu Flexibilisator beträgt bevorzugt 72:28 bis 50:50, besonders bevorzugt 70:30 bis 60:40 und insbesondere 68:32 bis 62:38, z.B. etwa 65:35.It has proven to be particularly advantageous if the volume ratio between the flexibilizer and the nanoscale particles is selected so that the flexibilizer approximately fills the gaps between the solvent-free particles. Of course, good results can be obtained even if the ratio is not too great. Hence the share of the flexibilizer is preferably selected so that it largely fills the spaces between the nanoparticles after evaporation of the solvent, ie the volume ratio of nanoparticles to flexibilizer is preferably 72:28 to 50:50, particularly preferably 70:30 to 60:40 and in particular 68: 32 to 62:38, e.g. about 65:35.
Die Schichtherstellung kann mit allen gängigen Naßverfahren durchgeführt werden. Hierfür wird die Beschichtungszusammensetzung über übliche Beschichtungsverfahren auf das Substrat aufgebracht, z.B. Tauchen, Fluten, Ziehen, Gießen, Schleudern, Spritzen, Sprühen, Streichen, Rakeln, Walzen oder herkömmliche Drucktechniken, z.B. mit Druckpasten. Elektrophoretische Beschichtungsverfahren sind wegen der vorstehend aufgeführten Nachteile weniger bzw. gar nicht geeignet.The layer production can be carried out with all common wet processes. For this purpose the coating composition is applied to the substrate via conventional coating methods, e.g. Dipping, flooding, drawing, pouring, spinning, spraying, spraying, brushing, knife coating, rolling or conventional printing techniques, e.g. with printing pastes. Electrophoretic coating processes are less or not suitable at all because of the disadvantages listed above.
Durch die Wärmebehandlung wird die auf das Substrat aufgebrachte Beschichtungszusammensetzung getrocknet, das Flexibilisierungsmittel wird ausgebrannt und gegebenenfalls wird die Beschichtung dann teilweise oder vollständig verdichtet. Die Trocknung kann dabei auch schon teilweise oder vollständig vor der Wärmebehandlung, z.B. durch einfaches Ablüften, erfolgen. Geeigneterweise erfolgt aber auch die Entfernung des Lösungsmittels durch die Wärmebehandlung.As a result of the heat treatment, the coating composition applied to the substrate is dried, the flexibilizing agent is burned out and, if appropriate, the coating is then partially or completely compacted. The drying can also be partially or completely before the heat treatment, e.g. by simply venting. However, the solvent is also suitably removed by the heat treatment.
Für die Wärmebehandlung können herkömmliche Verfahren, wie z. B. Aufheizen im Ofen oder das sogenannte „Rapid Thermal Annealing" (Flash-Annealer, Flammenbehandlung), verwendet werden, letzteres insbesondere für die Verdichtung. Denkbar sind zum Beispiel auch die Verwendung von Heizstrahlern, wie IR-Strahlern oder Lasern. Die Wärmebehandlung erfolgt z.B. unter sauerstoffhaltiger oder inerter Atmosphäre, z.B. Stickstoff, oder Luft. Als Atmosphäre können aber auch z.B. andere Komponenten, wie Ammoniak, Chlor oder Kohlenstofftetrachlorid, allein oder als Zusatzkomponente, verwendet werden. Für die Entfernung des Lösemittels durch Abdampfen und des Flexibilisators durch Ausbrennen werden z.B. Temperaturen von bis zu ca. 450°C angewandt, z.B. durch Tempern in einem Ofen. Die Verdichtungstemperaturen richten sich nach dem gewünschten Grad der Restporosität und nach der Zusammensetzung. Sie liegen im allgemeinen für Glas-Schichten im Bereich von 450°C bis 1200°C und für Keramikschichten im Bereich 500°C bis 2000°C. Für die Wärmebehandlung werden bevorzugt Temperaturprogamme eingesetzt, wobei die Parameter, wie z.B. Aufwärmgeschwindigkeiten, Haltetemperaturen und Temperaturbereiche geregelt werden. Diese sind dem Fachmann bekannt.For the heat treatment, conventional methods, such as. B. heating in the oven or the so-called "Rapid Thermal Annealing" (flash annealer, flame treatment) can be used, the latter especially for compression. For example, the use of radiant heaters such as IR radiators or lasers is also conceivable. The heat treatment is carried out for example under an oxygen-containing or inert atmosphere, for example nitrogen, or air, but other components, such as ammonia, chlorine or carbon tetrachloride, can also be used as the atmosphere, alone or as an additional component. For the removal of the solvent by evaporation and the flexibilizer by burning out, temperatures of up to approx. 450 ° C. are used, for example by tempering in an oven. The compression temperatures depend on the desired degree of residual porosity and on the composition. They are generally in the range from 450 ° C. to 1200 ° C. for glass layers and in the range from 500 ° C. to 2000 ° C. for ceramic layers. Temperature programs are preferably used for the heat treatment, the parameters, such as heating rates, holding temperatures and temperature ranges, being regulated. These are known to the person skilled in the art.
Nach der Trocknung wird ein noch das Flexibilisierungsmittel enthaltendes Gel erhalten, wobei z.B. bei höhersiedenden Lösungsmittel auch ein paralleles Entfernen erfolgen kann. Nach dem Ausbrennen wird dann ein Gel, genauer ein Xerogel, mit Poren, vorzugsweise im wesentlichen Nanoporen, erhalten, das im wesentlichen keine organischen Bestandteile (Kohlenstoff-frei) mehr enthält. Durch teilweises oder vollständiges Verdichten kann dieses anorganische Gel oder Xerogel in eine glas-, glaskeramik- oder keramikartige Schicht überführt werden. Die Schichten bleiben in jedem Stadium vom Gel bis zum Glas transparent. Dadurch ergibt sich auch die Möglichkeit, die Brechzahl und/oder die Dielektrizitätskonstante über die Verdichtungstemperatur einzustellen.After drying, a gel still containing the flexibilizing agent is obtained, e.g. in the case of higher-boiling solvents, it can also be removed in parallel. After burning out, a gel, more precisely a xerogel, with pores, preferably essentially nanopores, is obtained which essentially no longer contains any organic constituents (carbon-free). This inorganic gel or xerogel can be converted into a glass, glass ceramic or ceramic-like layer by partial or complete compaction. The layers remain transparent at every stage from the gel to the glass. This also gives the possibility of setting the refractive index and / or the dielectric constant via the compression temperature.
Es können Schichten mit Trockenschichtdicken von z.B. 0,1 μm bis 30 μm, bevorzugt 5 μm bis 20 μm, besonders bevorzugt 8 μm bis 12 μm, erhalten werden. Dies gilt sowohl für die nanoporösen als auch die dichten anorganischen Schichten. Erfindungsgemäß können überraschenderweise sogar rißfreie Dickschichten, z.B. mit einer Dicke von mehr als 1 μm, insbesondere mehr als 3 μm oder 5 μm oder sogar über 8 μm erhalten werden, die überdies transparent und damit für optische Anwendungen geeignet sind. Die Gelschichten nach Entfernung des Lösemittels aber nicht des Flexibilisators weisen z.B. Schichtdicken von 0,5 μm bis 200 μm, bevorzugt 5 μm bis 50 μm und besonders bevorzugt von 10 μm bis 20 μm auf.Layers with dry layer thicknesses of, for example, 0.1 μm to 30 μm, preferably 5 μm to 20 μm, particularly preferably 8 μm to 12 μm, can be obtained. This applies to both the nanoporous and the dense inorganic layers. According to the invention, surprisingly, even crack-free thick layers, for example with a thickness of more than 1 μm, in particular more than 3 μm or 5 μm or even more than 8 μm, can be obtained, which are moreover transparent and therefore suitable for optical applications. The gel layers after removal of the solvent but not the flexibilizer have, for example, layer thicknesses from 0.5 μm to 200 μm, preferably 5 μm to 50 μm and particularly preferably from 10 μm to 20 μm.
Die im erfindungsgemäßen Verfahren erhaltenen anorganischen Schichten können auch strukturiert, insbesondere mikrostrukturiert werden. Die Strukturierung oder Mikrostrukturierung kann insbesondere zur Herstellung optischer oder elektronischer Strukturen durchgeführt werden. Sie kann in der Gelschicht oder in den verdichteten, teilweise verdichteten oder nicht verdichteten anorganischen Schichten erfolgen. Bevorzugt erfolgt die Strukturierung im Gelzustand, insbesondere nach Abtrennung des Lösungsmittels aber vor Entfernung des Flexibilisierungsmittels. Dazu werden aus dem Stand der Technik bekannte Verfahren, z.B Photolithographie, Prägung oder Ätz- und Maskierverfahren, eingesetzt. Die Mikrostrukturierung vor der thermischen Verdichtung erlaubt die Herstellung besonders dicker (8 μm bis 20 μm) verdichteter MikroStrukturen.The inorganic layers obtained in the process according to the invention can also be structured, in particular microstructured. The structuring or microstructuring can be carried out in particular for the production of optical or electronic structures. It can take place in the gel layer or in the compressed, partially compressed or non-compressed inorganic layers. The structuring is preferably carried out in the gel state, in particular after removal of the solvent but before removal of the flexibilizing agent. For this purpose, methods known from the prior art, e.g. photolithography, embossing or etching and masking methods, are used. Microstructuring before thermal compression allows the production of particularly thick (8 μm to 20 μm) compacted microstructures.
Die hergestellten beschichteten Substrate eignen sich insbesondere als optische, optoelektronische, elektronische, mikromechanische oder schmutzabweisende Bauteile. Typische Anwendungsbeispiele sind passive und aktive optische Wellenleiter, Buffer- und Claddingsschichten für passive und aktive optische Wellenleiter auf Glas-, Keramik- und Si-Substraten, dielektrische Schichten und MikroStrukturen auf Glas- Keramik- und Siliciumsubstraten zur Herstellung von Halbleiterbauelementen, silicatische und alkalisilicatische Schichten und MikroStrukturen zum thermischen und anodischen Bonding von Siliciumsubstraten, optische Komponenten, z.B Gitter und lichtstreuende Strukturen, Mikrolinsen, Mikozylinderlinsen, Mikrofresnel-Linsen bzw. Arrays aus diesen, Mikroreaktoren oder transparente schmutzabweisende MikroStrukturen.The coated substrates produced are particularly suitable as optical, optoelectronic, electronic, micromechanical or dirt-repellent components. Typical application examples are passive and active optical waveguides, buffer and cladding layers for passive and active optical waveguides on glass, ceramic and Si substrates, dielectric layers and microstructures on glass, ceramic and silicon substrates for the production of semiconductor components, silicate and alkali silicate layers and microstructures for the thermal and anodic bonding of silicon substrates, optical components, for example gratings and light-scattering structures, microlenses, microcylinder lenses, microfresnel lenses or arrays made of these, microreactors or transparent dirt-repellent microstructures.
Die folgenden Beispiele erläutern die Erfindung näher. A) Herstellung der BeschichtungssoleThe following examples illustrate the invention. A) Preparation of the coating brine
BEISPIEL 1EXAMPLE 1
Synthese des SiO2-SolsSynthesis of the SiO 2 sol
Zur Synthese der Si02-Sole wurden zwei unterschiedliche Kieselsole verwendet. Ein Kieselsol wurde ausgehend von TEOS mit Ammoniak in Ethanol vorher synthetisiert, wobei die Prozeßführung so gestaltet wurde, daß nach der Synthese die SiO2- Teichengröße 10 nm betrug und der Feststoffgehalt auf 5,58 Gew.% eingestellt wurde (Bezeichnung dieses Kieselsols: KS10). Das zweite verwendete Kieselsol ist käuflich erhältlich (Levasil VPAc 4039, Fa. Bayer). Zur Herstellung des Sols gibt man 75 g KS10 und 23,25 g VPAc 4039 zusammen und fügt zu dieser Lösung 39,06 g einer 10 Gew.-%igen wäßrigen Lösung des organischen Binders PVA (Mowiol 18- 88, Fa. Hoechst). Nach dem Rühren bei Raumtemperatur ist eine homogene Mischung entstanden. Der gewünschte Feststoffgehalt (25 Gew.-%, bezogen auf den Oxidgehalt des Sols) wird durch destillatives Entfernen von Lösemittel am Rotationsverdampfer erzielt. Nach Einengen des Sols wird der pH-Wert auf pH 9-9,5 eingestellt, in dem 0,4 g einer 25 %igen NH3-Lösung zugetropft werden. Vor dem Beschichtungsvorgang werden die Sole durch Spritzenfilter (1 ,2 μm) filtriert.Two different silica sols were used to synthesize the SiO 2 sols. A silica sol was synthesized beforehand from TEOS with ammonia in ethanol, the process being designed so that after the synthesis the SiO 2 pond size was 10 nm and the solids content was adjusted to 5.58% by weight (name of this silica sol: KS10 ). The second silica sol used is commercially available (Levasil VPAc 4039, Bayer). To prepare the sol, 75 g of KS10 and 23.25 g of VPAc 4039 are combined and 39.06 g of a 10% strength by weight aqueous solution of the organic binder PVA (Mowiol 18-88, Hoechst) are added to this solution. After stirring at room temperature, a homogeneous mixture is formed. The desired solids content (25% by weight, based on the oxide content of the sol) is achieved by removing solvent by distillation on a rotary evaporator. After concentrating the sol, the pH is adjusted to pH 9-9.5, in which 0.4 g of a 25% NH 3 solution are added dropwise. Before the coating process, the brine is filtered through syringe filters (1.2 μm).
BEISPIEL 2EXAMPLE 2
Synthese eines SiO2-Sols, das mit Aluminiumoxid dotiert istSynthesis of a SiO 2 sol doped with aluminum oxide
(95 mol % SiO2) 5 mol % AI2O3)(95 mol% SiO 2) 5 mol% AI 2 O 3 )
Zu 100 g KS10 tropft man langsam 40 g 1 molare wäßrige HNO3 zu und erhitzt das Gemisch auf 60°C. Zu dieser Lösung wird in der Wärme eine Lösung von 2,01 g (9,8x10"3 mol) Aluminiumisopropylat, das in 40 ml Tetrahydrofuran gelöst wurde, zugetropft. Danach erfolgt die Zugabe von 21 ,28 g des organischen Binders PVA (10 Gew.-%ige Lösung in Wasser). Anschließend erfolgt die destillative Entfernung des Lösemittels am Rotationsverdampfer, bis ein Feststoffgehalt von 10 Gew.-% (bezogen auf den Oxidgehalt des Sols) eingestellt ist. Vor dem Beschichten wird das Sol durch Spritzenfilter bis 1 ,2 μm filtriert.40 g of 1 molar aqueous HNO 3 are slowly added dropwise to 100 g of KS10 and the mixture is heated to 60.degree. A solution of 2.01 g (9.8x10 "3 mol) of aluminum isopropylate, which was dissolved in 40 ml of tetrahydrofuran, is added dropwise to this solution while warm. Then, 21.28 g of the organic binder PVA (10% by weight) are added % solution in water), followed by distillation of the solvent on a rotary evaporator until a solids content of 10% by weight (based on the oxide content of the sol) is set. Before coating, the sol is filtered through syringe filters to 1.2 μm.
BEISPIEL 3 Synthese eines SiO2-Sols, das mit AI2O3 und PbO dotiert ist. (92,5 mol % SiO2, 5 mol % AI2O3, 2,5 mol % PbO)EXAMPLE 3 Synthesis of an SiO 2 sol doped with Al 2 O 3 and PbO. (92.5 mol% SiO 2 , 5 mol% Al 2 O 3 , 2.5 mol% PbO)
Zu 100 g KS10 tropft man langsam 40 g 1 molare wäßrige HNO3 zu und erhitzt das Gemisch auf 60°C. Zu dieser Lösung wird in der Wärme eine Lösung von 2,053 g (1 ,00x103 mol) Aluminiumisopropylat, das in 40 ml Tetrahydrofuran gelöst wurde, zugetropft. Nach Abkühlen auf Raumtemperatur löst man im Reaktionsgemisch 0,832 g (2,51x10"3 mol) Bleinitrat. Danach erfolgt die Zugabe von 23,02 g des organischen Binders PVA (10 Gew.-%ige Lösung in Wasser). Anschließend erfolgt die destillative Entfernung des Lösemittels am Rotationsverdampfer, bis ein Feststoffgehalt von 10 Gew.-% (bezogen auf den Oxidgehalt) eingestellt ist. Vor dem Beschichten wird das Sol durch Spritzenfilter bis 1 ,2 μm filtriert.40 g of 1 molar aqueous HNO 3 are slowly added dropwise to 100 g of KS10 and the mixture is heated to 60.degree. A solution of 2.053 g (1, 00x10 3 mol) aluminum isopropylate, which was dissolved in 40 ml of tetrahydrofuran, is added dropwise to this solution while hot. After cooling to room temperature, 0.832 g (2.51x10 "3 mol) of lead nitrate is dissolved in the reaction mixture. 23.02 g of the organic binder PVA (10% strength by weight solution in water) are then added. The distillative removal is then carried out of the solvent on a rotary evaporator until a solids content of 10% by weight (based on the oxide content) has been set in. Before coating, the sol is filtered through syringe filters to 1.2 μm.
BEISPIEL 4EXAMPLE 4
Synthese eines SiO2-Sols, das mit AI2O3 und Er2O3 dotiert ist. (92,5 mol % SiO2, 5 mol % AI2O3) 2,5 mol % Er2O3)Synthesis of a SiO 2 sol which is doped with Al 2 O 3 and Er 2 O 3 . (92.5 mol% SiO 2 , 5 mol% Al 2 O 3) 2.5 mol% Er 2 O 3 )
Zu 100 g KS10 tropft man langsam 40 g 1 molare wäßrige HNO3 zu und erhitzt das Gemisch auf 60 °C. Zu dieser Lösung wird in der Wärme eine Lösung von 2,053 g (1,00x10~3 mol) Aluminiumisopropylat, das in 40 ml Tetrahydrofuran gelöst wurde, zugetropft. Nach Abkühlen auf Raumtemperatur löst man im Reaktionsgemisch 2,23 g (5,02x10"3 mol) Erbiumnitratpentahydrat. Danach erfolgt die Zugabe von 23,28 g des organischen Binders PVA (10 Gew.-%ige Lösung in Wasser). Anschließend erfolgt die destillative Entfernung des Lösemittel am Rotationsverdampfer, bis ein Feststoffgehalt von 10 Gew.-% (bezogen auf den Oxidgehalt) eingestellt ist. Vor dem Beschichten wird das Sol durch Spritzenfilter bis 1 ,2 μm filtriert. BEISPIEL 540 g of 1 molar aqueous HNO 3 are slowly added dropwise to 100 g of KS10 and the mixture is heated to 60.degree. A solution of 2.053 g (1.00x10 ~ 3 mol) of aluminum isopropylate, which was dissolved in 40 ml of tetrahydrofuran, is added dropwise to this solution while hot. After cooling to room temperature, 2.23 g (5.02x10 "3 mol) of erbium nitrate pentahydrate is dissolved in the reaction mixture. 23.28 g of the organic binder PVA (10% strength by weight solution in water) are then added Removal of the solvent by distillation on a rotary evaporator until a solids content of 10% by weight (based on the oxide content) has been set in. Before coating, the sol is filtered through syringe filters to 1.2 μm. EXAMPLE 5
Synthese eines SiO2-Sols, das mit B2O3 dotiert ist. (97,5 mol % Si02l 2,5 mol % B2O3)Synthesis of a SiO 2 sol doped with B 2 O 3 . (97.5 mol% Si0 2l 2.5 mol% B 2 O 3 )
Zu 100 g KS10 tropft man langsam 40 g 1 molare wäßrige HNO3 zu und erhitzt das Gemisch auf 60°C. Nach Abkühlen auf Raumtemperatur löst man im Reaktionsgemisch 0,696 g (0,00476 mol) Triethylborat. Danach erfolgt die Zugabe von 20,12 g des organischen Binders PVA (10 Gew.-%ige Lösung in Wasser). Anschließend erfolgt die destillative Entfernung des Lösemittels am Rotationsverdampfer, bis ein Feststoffgehalt von 10 Gew.-% (bezogen auf den Oxidgehalt) eingestellt ist. Vor dem Beschichten wird das Sol durch Spritzenfilter bis 1 ,2 μm filtriert.40 g of 1 molar aqueous HNO 3 are slowly added dropwise to 100 g of KS10 and the mixture is heated to 60.degree. After cooling to room temperature, 0.696 g (0.00476 mol) of triethyl borate is dissolved in the reaction mixture. This is followed by the addition of 20.12 g of the organic binder PVA (10% by weight solution in water). The solvent is then removed by distillation on a rotary evaporator until a solids content of 10% by weight (based on the oxide content) has been set. Before coating, the sol is filtered through syringe filters to 1.2 μm.
BEISPIEL 6EXAMPLE 6
Synthese eines SiO2-Sols, das mit P2O5 dotiert ist. (97,5 mol % SiO2, 5 mol % P2O5)Synthesis of a SiO 2 sol doped with P 2 O 5 . (97.5 mol% SiO 2 , 5 mol% P 2 O 5 )
Zu 100 g KS10 tropft man langsam 40 g 1 molare wäßrige HNO3 zu und erhitzt das Gemisch auf 60°C. Nach Abkühlen auf Raumtemperatur löst man im Reaktionsgemisch 0,694 g (0,00489 mol) Phosphorpentoxid. Danach erfolgt die Zugabe von 20,21 g des organischen Binders PVA (10 Gew.-%ige Lösung in Wasser). Anschließend erfolgt die destillative Entfernung des Lösemittels am Rotationsverdampfer, bis ein Feststoffgehalt von 10 Gew.-% (bezogen auf den Oxidgehalt) eingestellt ist. Vor dem Beschichten wird das Sol durch Spritzenfilter bis 1 ,2 μm filtriert. Beispiel 740 g of 1 molar aqueous HNO 3 are slowly added dropwise to 100 g of KS10 and the mixture is heated to 60.degree. After cooling to room temperature, 0.694 g (0.00489 mol) of phosphorus pentoxide is dissolved in the reaction mixture. This is followed by the addition of 20.21 g of the organic binder PVA (10% by weight solution in water). The solvent is then removed by distillation on a rotary evaporator until a solids content of 10% by weight (based on the oxide content) has been set. Before coating, the sol is filtered through syringe filters to 1.2 μm. Example 7
Synthese eines Sols für eine poröse SiO2-CeO2 Schicht (50 mol % SiO2, 50 mol % CeO2)Synthesis of a sol for a porous SiO 2 -CeO 2 layer (50 mol% SiO 2 , 50 mol% CeO 2 )
Zu 6,5 g 1 molarer wäßriger HNO3 tropft man unter Rühren langsam 100 g KS10 zu. Dann gibt man bei Raumtemperatur langsam unter Rühren 40 g Acetat-stabilisiertes, partikuläres CeO2 Sol zu (CeO2 ACT, 20 Gew.%, Fa. AKZO-PQ). Danach erfolgt die Zugabe von 37,7 g des organischen Flexibilisators PVA-18-88 als 10 Gew.-%ige Lösung in Wasser. Vor dem Beschichten wird dieses Sol durch einen Spritzenfilter bis 1 ,2 μm filtriert.100 g of KS10 are slowly added dropwise to 6.5 g of 1 molar aqueous HNO 3 with stirring. Then 40 g of acetate-stabilized, particulate CeO 2 sol (CeO 2 ACT, 20% by weight, from AKZO-PQ) are slowly added at room temperature with stirring. Then 37.7 g of the organic flexibilizer PVA-18-88 are added as a 10% strength by weight solution in water. Before coating, this sol is filtered through a syringe filter to 1.2 μm.
B) BeschichtungB) coating
Die wie oben angegeben synthetisierten Sole werden mit den üblichen Beschichtungsverfahren (z.B. Schleudern, Sprühen, Tauchen oder Rakeln) auf unterschiedliche Substrate, vorzugsweise SiO2 und Silicium, aufgebracht.The sols synthesized as stated above are applied to various substrates, preferably SiO 2 and silicon, using the customary coating methods (for example spinning, spraying, dipping or knife coating).
C) Wärmebehandlung der SchichtenC) heat treatment of the layers
Die Verdichtung der Schichten erfolgt im Muffelofen gemäß eines festgelegten Temperaturprogramms. Hierbei werden die Schichten von Raumtemperatur auf 250 °C mit einer Heizrate von 0,8 K/min hochgeheizt, die Temperatur wird für 1 Stunde bei 250 °C gehalten. Von 250 °C wird mit einer Heizrate von 0,8 K/min auf 450 °C geheizt und wiederum 1 h bei dieser Temperatur gehalten. Die Verdichtungs- endtemperatur beträgt für die undotierten SiO2-Schichten 1100°C, die 1 Stunde gehalten wird. Verdichtungsendtemperaturen von 500 bis 1000 °C führt zu porösen Schichten mit entsprechend geringerer Brechzahl. Die Heizrate für die Verdichtung von 450 bis 1100°C beträgt 2 K/min. Die dotierten Schichten werden mit gleicher Heizrate bis 1000 °C für 1 h verdichtet.The layers are compressed in the muffle furnace in accordance with a specified temperature program. The layers are heated from room temperature to 250 ° C at a heating rate of 0.8 K / min, the temperature is kept at 250 ° C for 1 hour. From 250 ° C is heated at a heating rate of 0.8 K / min to 450 ° C and again held at this temperature for 1 h. The final compression temperature for the undoped SiO 2 layers is 1100 ° C, which is held for 1 hour. Final compression temperatures of 500 to 1000 ° C lead to porous layers with a correspondingly lower refractive index. The heating rate for compression from 450 to 1100 ° C is 2 K / min. The doped layers are compacted at the same heating rate up to 1000 ° C for 1 h.
Es werden jeweils rißfreie und transparente Schichten erhalten. Crack-free and transparent layers are obtained in each case.

Claims

PATENTANSPRÜCHE
1. Verfahren zur Herstellung von Substraten mit mindestens einer Schicht aus anorganischem Gel-, Glas-, Glaskeramik- oder Keramikmaterial, in welchem man eine Beschichtungszusammensetzung, umfassend nanoskalige Teilchen und wasserlösliche organische Flexibilisatoren, auf das Substrat aufbringt und wärmebehandelt.1. A process for producing substrates with at least one layer of inorganic gel, glass, glass ceramic or ceramic material, in which a coating composition comprising nanoscale particles and water-soluble organic flexibilizers is applied to the substrate and heat-treated.
2. Verfahren nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, daß man die auf das Substrat aufgebrachte Beschichtung durch Wärmebehandlung teilweise oder vollständig verdichtet.2. The method according to claim 1, characterized in that the coating applied to the substrate is partially or completely compressed by heat treatment.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß man die auf das Substrat aufgebrachte Beschichtung zu einem Gel trocknet und strukturiert oder die anorganische Gel-, Glas-, Glaskeramik- oder Keramikschicht strukturiert.3. The method according to claim 1 or 2, characterized in that the coating applied to the substrate is dried to a gel and structured or the inorganic gel, glass, glass ceramic or ceramic layer is structured.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß man nanoskalige Nichtmetalloxid- und/oder Metalloxid-Teilchen aus der Gruppe SiO2, CeO2, AI2O3, AIOOH, TiO2, ZrO2, SnO2, Sb2O3 und ZnO oder Mischungen oder Mischoxide davon als nanoskalige Teilchen verwendet.4. The method according to any one of claims 1 to 3, characterized in that nanoscale non-metal oxide and / or metal oxide particles from the group SiO 2 , CeO 2 , Al 2 O 3 , AIOOH, TiO 2 , ZrO 2 , SnO 2 , Sb 2 O 3 and ZnO or mixtures or mixed oxides thereof are used as nanoscale particles.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Beschichtungszusammensetzung zusätzlich Verbindungen von glas- oder keramikbildenden Elementen, Netzwerkwandlern, brechzahlerhöhenden5. The method according to any one of claims 1 to 4, characterized in that the coating composition additionally compounds of glass or ceramic-forming elements, network converters, refractive index increasing
Komponenten und/oder optisch aktiven Komponenten als Dotierungsmittel enthält.Contains components and / or optically active components as dopants.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß man einen Flexibilisator aus Polyvinylalkohol, Polyvinylpyrrolidon,6. The method according to any one of claims 1 to 6, characterized in that a flexibilizer made of polyvinyl alcohol, polyvinyl pyrrolidone,
Polyacrylamid, Polyvinylpyridin, Polyallylamin, Polyacrylsäure, Polyvinylacetat, Polymethylmethacrylsäure, Polyethylen-Polyvinylalkohol-Copolymere, Polyethylenglycol, Polypropylenglycol und Poly(4-vinylphenol) verwendet.Polyacrylamide, polyvinylpyridine, polyallylamine, polyacrylic acid, polyvinyl acetate, Polymethyl methacrylic acid, polyethylene-polyvinyl alcohol copolymers, polyethylene glycol, polypropylene glycol and poly (4-vinylphenol) are used.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß man die Beschichtungszusammensetzung durch Sprühen, Tauchen,7. The method according to any one of claims 1 to 6, characterized in that the coating composition by spraying, dipping,
Aufschleudern, Fluten, Rakeln, Walzen oder Drucktechniken auf das Substrat aufbringt.Spin coating, flooding, knife coating, rolling or printing techniques onto the substrate.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß man ein Glas-, Glaskeramik-, Halbleiter- oder Keramiksubstrat verwendet.8. The method according to any one of claims 1 to 7, characterized in that one uses a glass, glass ceramic, semiconductor or ceramic substrate.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß man als Substrat Siliciumdioxid, Silicium, dotiertes Siliciumdioxid oder dotiertes Silicium verwendet.9. The method according to any one of claims 1 to 8, characterized in that the substrate used is silicon dioxide, silicon, doped silicon dioxide or doped silicon.
10. Substrat mit mindestens einer Dickschicht aus anorganischem Gel-, Glas-, Glaskeramik- oder Keramikmaterial, erhältlich nach dem Verfahren eines der Ansprüche 1 bis 9.10. substrate with at least one thick layer of inorganic gel, glass, glass ceramic or ceramic material, obtainable by the method of one of claims 1 to 9.
11. Substrat nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Trockenschichtdicke der anorganischen Gel- Glas-, Glaskeramik- oder Keramikschicht mindestens 1 μm beträgt.11. Substrate according to claim 10, characterized in that the dry layer thickness of the inorganic gel, glass, glass ceramic or ceramic layer is at least 1 μm.
12. Substrat nach Anspruch 10 und 11 , dadurch gekennzeichnet, daß die anorganische Schicht transparent ist.12. Substrate according to claim 10 and 11, characterized in that the inorganic layer is transparent.
13. Verwendung eines Substrats nach einem der Ansprüche 10 bis 12 als optisches, optoelektronisches, elektronisches, mikromechanisches oder schmutzabweisendes Bauteil. 13. Use of a substrate according to one of claims 10 to 12 as an optical, optoelectronic, electronic, micromechanical or dirt-repellent component.
EP01931595A 2000-04-14 2001-04-12 Substrate comprising a thick film consisting of an inorganic gel, glass, vitroceramic or ceramic material, a method for the production of the same and the use thereof Withdrawn EP1272437A1 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10018697 2000-04-14
DE10018697A DE10018697A1 (en) 2000-04-14 2000-04-14 Production of inorganic glass or ceramic coated substrates, useful as optical or electronic components, comprises application of nanoscale particles and water soluble organic plasticizers
PCT/EP2001/004215 WO2001079127A1 (en) 2000-04-14 2001-04-12 Substrate comprising a thick film consisting of an inorganic gel, glass, vitroceramic or ceramic material, a method for the production of the same and the use thereof

Publications (1)

Publication Number Publication Date
EP1272437A1 true EP1272437A1 (en) 2003-01-08

Family

ID=7638847

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EP01931595A Withdrawn EP1272437A1 (en) 2000-04-14 2001-04-12 Substrate comprising a thick film consisting of an inorganic gel, glass, vitroceramic or ceramic material, a method for the production of the same and the use thereof

Country Status (8)

Country Link
US (1) US20030059540A1 (en)
EP (1) EP1272437A1 (en)
JP (1) JP2003531087A (en)
KR (1) KR20020093905A (en)
AU (1) AU2001258332A1 (en)
CA (1) CA2405942A1 (en)
DE (1) DE10018697A1 (en)
WO (1) WO2001079127A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110305651A (en) * 2018-03-27 2019-10-08 中国石油化工股份有限公司 A kind of polymer oil-displacing agent and its preparation method and application of nanoparticle crosslinking

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2003133667A (en) * 2001-04-19 2005-05-10 Коммонвелт Сайентифик Энд Индастриал Рисерч Органикоммонвелт Сайентифик Энд Индастриал Рисерч Организейшн (Au) Зейшн (Au) UV COATING COMPOSITION
DE10209949A1 (en) * 2002-03-06 2003-09-25 Schott Glas Glass body with porous coating
DE10313630A1 (en) * 2003-03-26 2004-10-07 BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH Glass-like printing using screen printing
US7064062B2 (en) * 2003-12-16 2006-06-20 Lsi Logic Corporation Incorporating dopants to enhance the dielectric properties of metal silicates
CN1309684C (en) * 2005-04-07 2007-04-11 福州大学 Method for manufacturing anti pollution flashover high tension ceramic and glass insulators
US7744955B2 (en) * 2005-08-02 2010-06-29 Guardian Industries Corp. Method of thermally tempering coated article with transparent conductive oxide (TCO) coating using flame(s) in tempering furnace adjacent TCO to burn off oxygen and product made using same
CL2007000734A1 (en) * 2006-03-22 2008-05-02 Grace W R & Co TRANSPARENT INORGANIC OXIDE COATING PRODUCED WHEN PREPARING COMPOSITION OF COATING, INCLUDING INORGANIC AND POLYMER OXIDE PARTICLES, APPLY SUBSTRATE COMPOSITION, FORM COATING AND HEATING COATING FOR ELIMI
US8322754B2 (en) 2006-12-01 2012-12-04 Tenaris Connections Limited Nanocomposite coatings for threaded connections
US8119233B2 (en) * 2007-02-17 2012-02-21 Nanogram Corporation Functional composites, functional inks and applications thereof
DE102008006785B3 (en) * 2008-01-30 2009-06-10 Schott Ag Process for producing a smear-resistant antireflection coating on a borosilicate glass body and use of the coated glass body for producing lamp bulbs of discharge lamps
KR200449424Y1 (en) * 2008-04-08 2010-07-08 (주)한국에텍 Device for led street-light using solar energy
US20110183831A1 (en) * 2008-10-20 2011-07-28 Agc Glass Europe Glass article with improved chemical resistance
WO2012008427A1 (en) * 2010-07-12 2012-01-19 セントラル硝子株式会社 Low-reflective film, method for formation thereof and low-reflective member equipped therewith, and coating solution for formation of low-reflective film, method for preparation thereof and low-reflective member equipped therewith
DE102011100608B4 (en) 2011-03-03 2024-03-28 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Suspension for protecting a semiconductor material and method for producing a semiconductor body
JP5968469B2 (en) * 2012-02-27 2016-08-10 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー Basic composition comprising inorganic oxide nanoparticles and organic base, coated substrate, article, and method
WO2014025743A1 (en) 2012-08-07 2014-02-13 Cornell University Binder free and carbon free nanoparticle containing component, method and applications
US9812660B2 (en) 2013-12-19 2017-11-07 Nutech Ventures Method for single crystal growth of photovoltaic perovskite material and devices
US9583724B2 (en) 2013-12-19 2017-02-28 Nutech Ventures Systems and methods for scalable perovskite device fabrication
AR100953A1 (en) 2014-02-19 2016-11-16 Tenaris Connections Bv THREADED PIPE FOR AN OIL WELL PIPING
DE102014108348A1 (en) * 2014-06-13 2015-12-17 Osram Opto Semiconductors Gmbh Process for producing a coating and optoelectronic semiconductor component with a coating
CN104152964A (en) * 2014-08-12 2014-11-19 浙江大学 Method for manufacturing sodium yttrium fluoride-4 and cuprous oxide composite solar thin film
WO2016123407A1 (en) * 2015-01-28 2016-08-04 Nutech Ventures Systems and methods for scalable perovskite device fabrication
CN104926148A (en) * 2015-07-06 2015-09-23 吉林大学 Antifogging anti-scratch coating and preparation method thereof
JP2017107921A (en) * 2015-12-07 2017-06-15 株式会社ディスコ Wafer processing method
DE102019201792A1 (en) * 2019-02-12 2020-08-13 Evonik Operations Gmbh Semiconductor circuit arrangement and method for its production
CN110305539B (en) 2019-07-30 2021-04-20 南京工业大学 Day and night dual-efficiency radiation cooler and preparation method thereof
CN110330818B (en) 2019-07-30 2021-04-20 南京工业大学 Infrared selective radiation cooling nano functional composition and preparation method thereof
CN112526671B (en) * 2020-12-15 2022-03-11 新沂市锡沂高新材料产业技术研究院有限公司 Low-loss glass ceramic planar optical waveguide and preparation method thereof

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4118184A1 (en) 1991-06-03 1992-12-10 Inst Neue Mat Gemein Gmbh COATING COMPOSITIONS BASED ON FLUORIC INORGANIC POLYCONDENSATES, THEIR PRODUCTION AND THEIR USE
JP2535303B2 (en) * 1992-09-24 1996-09-18 三ツ星ベルト株式会社 Ultra fine particle dispersed glass and its manufacturing method
JP2888741B2 (en) * 1993-09-27 1999-05-10 日本ペイント株式会社 Thin film pattern formation method
DE4336694A1 (en) * 1993-10-27 1995-05-04 Inst Neue Mat Gemein Gmbh Process for the production of metal and ceramic sintered bodies and layers
DE4407366C2 (en) * 1994-03-05 1996-02-22 Sekurit Saint Gobain Deutsch Burn-in printing paste for glass surfaces and use of the printing paste for printing on car glass panes
US5504042A (en) * 1994-06-23 1996-04-02 Texas Instruments Incorporated Porous dielectric material with improved pore surface properties for electronics applications
US6017389A (en) * 1995-09-19 2000-01-25 Institute Fuer Neue Materialen Gemeinnuetzige Gmbh Thin SiO2 films, a process for producing them and their use
JPH10167727A (en) * 1995-10-26 1998-06-23 Matsumoto Seiyaku Kogyo Kk Modified titanium oxide sol, photocatalyst composition and its forming agent
US6130152A (en) * 1995-11-16 2000-10-10 Texas Instruments Incorporated Aerogel thin film formation from multi-solvent systems
US5807607A (en) * 1995-11-16 1998-09-15 Texas Instruments Incorporated Polyol-based method for forming thin film aerogels on semiconductor substrates
US6037277A (en) * 1995-11-16 2000-03-14 Texas Instruments Incorporated Limited-volume apparatus and method for forming thin film aerogels on semiconductor substrates
US5736425A (en) * 1995-11-16 1998-04-07 Texas Instruments Incorporated Glycol-based method for forming a thin-film nanoporous dielectric
US6063714A (en) * 1995-11-16 2000-05-16 Texas Instruments Incorporated Nanoporous dielectric thin film surface modification
US6159295A (en) * 1995-11-16 2000-12-12 Texas Instruments Incorporated Limited-volume apparatus for forming thin film aerogels on semiconductor substrates
EP0775669B1 (en) * 1995-11-16 2001-05-02 Texas Instruments Incorporated Low volatility solvent-based precursors for nanoporous aerogels
JPH10194780A (en) * 1996-12-26 1998-07-28 Central Glass Co Ltd Glass having performance for cutting ultraviolet ray and heat ray and having antifouling performance and its production
JPH11323195A (en) * 1998-03-13 1999-11-26 Toto Ltd Photocatalytic coating composition
DE19840525A1 (en) * 1998-09-06 2000-03-09 Inst Neue Mat Gemein Gmbh Process for the production of optical layers of uniform layer thickness
IT1306214B1 (en) * 1998-09-09 2001-05-30 Gel Design And Engineering Srl PROCESS FOR THE PREPARATION OF THICK GLASS FILMS OF SILIC OXIDE ACCORDING TO THE SOL-GEL TECHNIQUE AND THICK FILMS SO OBTAINED.
JP2000192021A (en) * 1998-12-25 2000-07-11 Central Glass Co Ltd Hydrophilic, antifogging and antistaining substrate and its preparation

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See references of WO0179127A1 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110305651A (en) * 2018-03-27 2019-10-08 中国石油化工股份有限公司 A kind of polymer oil-displacing agent and its preparation method and application of nanoparticle crosslinking
CN110305651B (en) * 2018-03-27 2021-10-29 中国石油化工股份有限公司 Nano particle crosslinked polymer oil displacement agent and preparation method and application thereof

Also Published As

Publication number Publication date
DE10018697A1 (en) 2001-10-18
WO2001079127A1 (en) 2001-10-25
JP2003531087A (en) 2003-10-21
KR20020093905A (en) 2002-12-16
US20030059540A1 (en) 2003-03-27
AU2001258332A1 (en) 2001-10-30
CA2405942A1 (en) 2002-10-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2001079127A1 (en) Substrate comprising a thick film consisting of an inorganic gel, glass, vitroceramic or ceramic material, a method for the production of the same and the use thereof
EP1181256B1 (en) Tempered safety-glass that is provided with a scratch-resistant, porous sio2 antireflective layer and method for producing the same
Tu et al. A study of the effects of process variables on the properties of PZT films produced by a single-layer sol-gel technique
DE69816273T2 (en) INORGANIC POLYMER MATERIAL BASED ON TANTALOXYD, IN PARTICULAR WITH INCREASED BREAKING INDEX, MECHANICAL WEAR-RESISTANT, ITS METHOD OF MANUFACTURING THEREOF
DE69801217T2 (en) METHOD FOR PRODUCING A MULTI-LAYER OPTICAL OBJECT WITH CROSS-NETWORKING COMPRESSION BY EXPOSURE WITH UV RADIATION AND THE OPTICAL OBJECT OBTAINED THEREFORE
EP1429997B1 (en) Novel hybrid sol for producing abrasion-resistant sio 2 antireflection coatings
EP0897898B1 (en) Method for the deposition of optical layers
EP2173673B1 (en) Method for the production of a composite body from a basic body of opaque quartz glass and a tight sealing layer
DE3408342A1 (en) LOW TEMPERATURE METHOD FOR RECEIVING THIN GLASS LAYERS
DE102010009999B4 (en) Use of nanoparticles and / or organosilanes for producing prestressed, multi-layer coated glass substrates
WO2006114321A1 (en) Anti-reflection coating and method for applying same
EP1430001A2 (en) Glass comprising a porous anti-reflection surface coating and method for producing one such glass
DE4217432A1 (en) Process for the production of glass with improved long-term durability at elevated temperatures
EP0459575A2 (en) Process of making a film capacitor
DE102007025577A1 (en) A method of producing titanium oxide layers having high photocatalytic activity and titanium oxide layers thus prepared
EP2652086A1 (en) Method for producing a radiation conversion element, radiation conversion element, and optoelectronic component containing a radiation conversion element
EP0280085B1 (en) Coating composition and process for the production of glassy layers
EP0676384B1 (en) Perovskite containing composite material, process for its preparation, electronic component and module
WO2011116980A1 (en) Method for applying an antireflection layer to a solar receiver module and solar receiver module comprising an antireflection layer
WO1996022256A1 (en) Process for producing glass coatings for anodic bonding purposes
EP1321444B1 (en) Layer obtained from an aqueous dispersion containing silicium-titanium mixed oxide powder produced by flame hydrolysis
DE10127494A1 (en) Production of inorganic layers on metallic, enameled and/or glass substrates used as a scratch resistant coating comprises mixing boron nitride with solvent and inorganic binder, applying substrate, drying and sealing
EP1371620B1 (en) Method for spin coating including sol-gel processing
DE19534764A1 (en) Sol-gel mfr of thin, crack-free silica films
DE10350788B3 (en) Production of a ceramic layer on a substrate used e.g. in the production of gas sensors comprises mixing a ceramic powder, sol and screen printing carrier to form a screen printing paste, applying on the substrate, and further processing

Legal Events

Date Code Title Description
PUAI Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase

Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012

17P Request for examination filed

Effective date: 20020711

AK Designated contracting states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE TR

AX Request for extension of the european patent

Free format text: AL;LT;LV;MK;RO;SI

RIN1 Information on inventor provided before grant (corrected)

Inventor name: KALLEDER, AXEL

Inventor name: SCHMIDT, HELMUT

Inventor name: MENNIG, MARTIN

Inventor name: FRANTZEN, ANDREAS

Inventor name: BERNI, ANETTE

Inventor name: SUYAL, NAVIN

RAP1 Party data changed (applicant data changed or rights of an application transferred)

Owner name: LEIBNIZ-INSTITUT FUER NEUE MATERIALIEN GEMEINNUET

RAP1 Party data changed (applicant data changed or rights of an application transferred)

Owner name: LEIBNIZ-INSTITUT FUER NEUE MATERIALIEN GEMEINNUETZ

17Q First examination report despatched

Effective date: 20090423

STAA Information on the status of an ep patent application or granted ep patent

Free format text: STATUS: THE APPLICATION IS DEEMED TO BE WITHDRAWN

18D Application deemed to be withdrawn

Effective date: 20141101