EA019087B1

EA019087B1 - Способ атомно-абсорбционных измерений

Info

Publication number: EA019087B1
Application number: EA201001302A
Authority: EA
Inventors: Александр Александрович Бузук; Константин Петрович Курейчик; Виктор Николаевич Сидоренко
Original assignee: Конструкторско-Технологическое Республиканское Унитарное Предприятие "Нуклон"
Priority date: 2009-07-20
Filing date: 2010-06-29
Publication date: 2014-01-30
Also published as: EA201001302A1

Abstract

Изобретение относится к области атомно-абсорбционной спектрофотометрии и предназначено для использования в атомно-абсорбционном анализе и спектральном приборостроении. Задачей изобретения является повышение точности измерений в условиях действия неселективного поглощения. Поставленная задача достигается тем, что в способе атомно-абсорбционных измерений, при котором попеременно пропускают через атомный пар рабочей пробы излучение от источников сплошного и линейчатого спектров для измерения оптической плотности атомного пара. При этом предварительно в атомизатор вводят пробы с различными концентрациями вещества, обеспечивающего возникновение неселективного поглощения и определяют оптическую плотность неселективного поглощения Dкаждой пробы из выражениягде J- интенсивность излучения источника сплошного спектра до атомизатора; J- интенсивность излучения источника сплошного спектра после атомизатора, и некомпенсированное значение оптической плотности неселективного поглощения Dкаждой пробы из выражениягде J- интенсивность излучения источника сплошного спектра после атомизатора; J- интенсивность излучения источника линейчатого спектра после атомизатора, повторяют измерения для получения зависимости D=F(D), определяют Dрабочей пробы и по упомянутой зависимости - Dрабочей пробы, значение которой используют для коррекции результата измерения оптической плотности атомного пара рабочей пробы.

Description

Изобретение относится к области атомно-абсорбционной спектрофотометрии и предназначено для использования в атомно-абсорбционном анализе и спектральном приборостроении.

Известен способ атомно-абсорбционных измерений, который характеризуется тем, что излучение источника линейчатого спектра попеременно пропускают через атомный пар, образующийся в атомизаторе и через опорный оптический канал [1].

Известен способ атомно-абсорбционных измерений, выбранный в качестве прототипа, включающий попеременное пропускание через атомный пар излучения источника сплошного спектра и рабочем определении оптической плотности атомного пара [2]. Полученные данные далее используют для расчета концентрации определяемого элемента.

Принципиальным недостатком способов является низкая точность измерений, поскольку точно совместить изображение источников излучений в плоскости атомизации нельзя из-за конструктивных особенностей источников излучения и осветительной системы, используемой для данных целей. Этот недостаток характерен при применении дополнительного источника излучения сплошного спектра с целью коррекции неселективного поглощения.

Вследствие этого результат рабочего определения оптической плотности атомного пара характеризуется составляющей некомпенсированного значения оптической плотности неселективного поглощения Ό_ά1£ и рабочей оптической плотностью определяемых атомов Ό„_ΟΓ]ί, что снижает точность измерений.

В ~ Β,Ιίί + ϋ»οι Ιί (1)

Задачей настоящего изобретения является повышение точности измерений в условиях действия неселективного поглощения.

Поставленная задача достигается тем, что в способе атомно-абсорбционных измерений, при котором попеременно пропускают через атомный пар рабочей пробы излучение от источников сплошного и линейчатого спектров для измерения оптической плотности атомного пара. При этом предварительно в атомизатор вводят пробы с различными концентрациями вещества, обеспечивающего возникновение неселективного поглощения, и определяют оптическую плотность неселективного поглощения Э_||?, каждой пробы из выражения

В_ПЛ ^—(2) где 1_о<и₈ - интенсивность излучения источника сплошного спектра до атомизатора;

Ц* - интенсивность излучения источника сплошного спектра после атомизатора, и некомпенсированное значение оптической плотности неселективного поглощения Ό_41£ каждой пробы из выражения

ΟΰπΜοσΙΙ^-Ιοοχ.Ιΐρκ), (3) где Гн, - интенсивность излучения источника сплошного спектра после атомизатора;

Э1_рк - интенсивность излучения источника линейчатого спектра после атомизатора, повторяют измерения для получения зависимости ϋ^_ί£=Ρ(ϋ_η8), определяют Э,,, рабочей пробы и по упомянутой зависимости - ϋ_4£ рабочей пробы, значение которой используют для коррекции результата измерения оптической плотности атомного пара рабочей пробы.

Такие измерения делают с разными значениями оптической плотности неселективного поглощения, получая, таким образом, зависимость Ό_ά1£=Ε(Ό_η8). Например, можно измерить оптическую плотность неселективного поглощения в диапазоне 0,001-0,01-0,1-1 Б и получить некомпенсированные значения Ό_41£ для указанного диапазона. Зависимость Ό_ά1ί=Ρ(Ό_η,) далее используют для коррекции результата измерения при проведении рабочих измерений. Эту зависимость можно аппроксимировать, например, по методу наименьших квадратов и получить, таким образом, промежуточные значения меры коррекции О<11£ ^и Эи,,

Указанный способ реализует атомно-абсорбционный спектрофотометр, схема которого приведена на чертеже фигуры.

Спектрофотометр содержит оптически связанные источники излучения сплошного 1 и линейчатого спектра 2, осветительную систему 3, атомизатор 4, монохроматор 5, фотоприемник 6 и устройство измерения 7, которое выполнено на основе персонального компьютера, сопряженного с аналого-цифровым преобразователем 8.

Способ реализуется следующим образом.

После проведения калибровки прибора путем измерения нескольких стандартных растворов в атомизатор 4 подают несколько проб с разными концентрациями №1С1. что вызывает появление неселективного поглощения в атомизаторе. Устройство измерения работает в соответствии с формулами (2) и (3) и запоминает полученные значения Ό_ά1£=Ρ(Ό_η8).

Теперь в атомизатор 4 подают рабочие пробы и измеряют Ό по формуле (1) и Ό_η, по формуле (2). В соответствии со значением Э_|к выбирают значение Э_41£ и вычитают его из результата, полученного по формуле (1).

Следовательно, в результате измерения рабочей пробы будет скорректировано некомпенсированное значение оптической плотности неселективного поглощения. Результат измерения оптической плотности рабочих проб будет при этом точнее, что и обеспечивает наличие положительного эффекта.

- 1 019087

Таким образом, заявляемая совокупность признаков не является известной из существующего уровня техники, не следует очевидным образом для специалиста в этой области, дает новый положительный результат и технически осуществима.

Источники информации

1. Атомно-абсорбционный спектрофотометр ηονΑΑ-400. Техническое руководство по эксплуатации. 2005 г.

2. К.П. Курейчик. Импульсная атомная спектрофотометрия. Методы измерений. Аппаратура. - Мн. Университетское, 1989, с. 77 (прототип).

Claims

ФОРМУЛА ИЗОБРЕТЕНИЯ

Способ атомно-абсорбционных измерений, при котором попеременно пропускают через атомный пар рабочей пробы излучение от источников сплошного и линейчатого спектров для измерения оптической плотности атомного пара, отличающийся тем, что предварительно в атомизатор вводят пробы с различными концентрациями вещества, обеспечивающего возникновение неселективного поглощения, и определяют оптическую плотность неселективного поглощения Ό_η8 каждой пробы из выражения ϋ_η3 где 1₀аа₈ - интенсивность излучения источника сплошного спектра до атомизатора;

Ι_άά8 - интенсивность излучения источника сплошного спектра после атомизатора, и некомпенсированное значение оптической плотности неселективного поглощения ϋ_άίί· каждой пробы из выражения θάίΗθδΡάάδΗοδΡίρίΑ где 1аа₈ - интенсивность излучения источника сплошного спектра после атомизатора;

11_Рк - интенсивность излучения источника линейчатого спектра после атомизатора, повторяют измерения для получения зависимости Ό_ώί=Ε(Ό_η8), определяют Ό_η8 рабочей пробы и по упомянутой зависимости - Ό_ώί· рабочей пробы, значение которой используют для коррекции результата измерения оптической плотности атомного пара рабочей пробы.