DEP0036175DA - Photoelectric light meter with several measuring ranges. - Google Patents

Photoelectric light meter with several measuring ranges.

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DEP0036175DA
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German (de)
Inventor
Gerhard Henning
Rudolf Dr.-Ing. v. Freydorf
Original Assignee
Metrawatt AG., Nürnberg
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Description

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METRAWATTMETRAWATT

AKTIENGESELLSCHAFTSHARED COMPANY

Lichtelektrischer Belichtungsmesser . mit mehreren Messbereiches*Lichtelekt ris cher exposure meter. with several measuring ranges *

Die Empfindlichkeit der bekannten fotoelektrischen Belichtungsmesser ist im Wesentlichen durch die Empfindlichkeit des elektri sehen Anz&igeinstrumentes und durch die Grosse der Fotozellenfläche gegeben. Aus Gründen bequemer Handhabung, besonders bei Belichtungsmessern, die auf fotografische Kameras aufgesetzt werden sollen, strebt man danach, mit möglichst kleinen Abmessungen auszukommen. Die Empfindlichkeit derartiger BelichtuLge messer ist für normale fotografische Bedingungen, d.h. für die Messung von Belichtungszeiten bis zu mehreren Sekunden noch ausreichend, ?ur Messung längerer Zeiten sind jedoch Fotoelemente mit grosserer Fläche notwendig, die sich nicht mehr im Innern solcher Belichtungsmesser unterbringen lassen.The sensitivity of the known photoelectric light meter is essentially given by the sensitivity of the electric display instrument and by the size of the photocell area. For reasons of convenient handling, especially in the case of exposure meters that are to be placed on photographic cameras, one strives to get by with the smallest possible dimensions. The sensitivity of such exposure meters is still sufficient for normal photographic conditions, ie for measuring exposure times of up to several seconds, but photo elements with a larger area are necessary for measuring longer times, which can no longer be accommodated inside such exposure meters.

Es ist drSfee^^TT^PSIiBlr^ durchIt is drSfee ^^ TT ^ PSIiBlr ^ by

zum eingebauten Fotoelement parallel zuschaltbare oder ssusteckbare Fotoelemente die Gesamtfläche auf das zum Erreichen der geforderten Empfindlichkeit notwendige Mass su vergro'ssern.Photo elements that can be connected or plugged in parallel to the built-in photo element reduce the total area to that required to achieve the required Increase sensitivity as necessary.

Da. der Skalenverlauf eines Belichtungsmessers jedoch nicht nur von der Stromempfindlichkeit des zur Anzeige benutzten elektrischen MesswerkeS, sondern auch sehr stark durch die von der Flächengrösse und der Beleuchtungsstäreke abhängigen inneren Widerstandesvsrhältnisses des Fotoelementes beeinflusst wird, muss ein Belichtungsmesser, dessen Empfindlichkeit mit diesen Mitteln vergrössert werden soll, um genau zu sein, zwei verschiedene Skalen erhalten, die umso mehr voneinander abweichen, je grosser das Verhältnis der Fläche des eingebauten zur Gesamtfläche des zugesteckten und des eingebauten Fotoelementes ist.There. The scale profile of a light meter, however, not only depends on the sensitivity of the electrical current used for the display MesswerkeS, but also very strongly due to the inner space, which is dependent on the size of the area and the intensity of illumination Resistance ratio of the photo element is influenced, a light meter must be sensitive to this Means should be increased, to be precise, two different scales are obtained, which differ all the more, the greater the ratio of the area of the built-in to the total area of the plugged-in and built-in photo element.

Um bej. 'Verwendung von Zusatz element en deren Flächengrösse in beliebigem Verhältnis zur Flächengrösse des im Belichtungs- ~"!b.\K. U"ii t ' messer eingebauten Elementes steht, genau den gleichen Skalen-To bej. 'Using additional element s whose area size in any proportion to the area size of the exposure ~ "b!. \ K. U" ii t' diameter is built-in element, exactly the same economies of scale

,, ',,,if\ \t, verlauf zu erhalten wie mit dem eingebauten Element allein, , (. ( ' wird erfindungsgemäss vorgeschlagen, da.s Zusatz element in »\ *''' **■"■ mehrere Einzelelemente zu unterteilen und diese zusammen mit ;ii ^ j (( τ?' "· -[ ;> dem eingebauten Element in eine kombinierte Reihen-uiid Parallel-ι, ι <>.' schaltung zu bringen, welche die gleichen Anpassungsverhält-'^1'1"'--1 '1^ nisse ergibt, wie das im Belichtungsmesser eingebaute Element "J'' ti,, *-*? y allein.,, ',,, i f \ \ t , to get a course as with the built-in element alone, (. ( ' is proposed according to the invention that the additional element in »\ * '''**■" ■ several individual elements and to subdivide this together with; ii ^ j (( τ? '"· - [ ;> the built-in element in a combined series-uiid parallel-ι, ι <>.' circuit, which the same adaptation ratio - '^ 1 ' 1 "' - 1 ' 1 ^ nisse results, like the element built into the light meter" J "ti ,, * - *? Y alone.

Die übliche Schaltung eines Belichtungsmessers ist in Fig. 1 dargestellt. Die Ersatzschaltung für das Selen-Fotoelement S besteht dabei aus dem eine EMK erzeugenden Element E und dem Innenwiderstand R. Die EKK des Elementes steigt nahezu proportional mit der Beleuchtungsstärke, während der Widerstand R je nach Grosse und Art des Selen-Fotoelementes bei steigenderThe usual circuit of an exposure meter is shown in FIG. The equivalent circuit for the selenium photo element S consists of the element E, which generates an EMF, and the internal resistance R. The EKK of the element increases almost proportionally with the illuminance, while the resistance R increases depending on the size and type of the selenium photo element

Beleuchtung abnimmt, sopass der Skalenverlauf von G-rösse und Art des Selen-Fotoelementes abhängig ist. Das elektrische Messwerk M ist gewöhnlich direkt mit dein Fotoelement verbunden«Illumination decreases, so the course of the scale depends on the size and type of the selenium photo element. The electrical measuring mechanism M is usually connected directly to your photo element «

Figur 2 stellt eine kombinierte Seihen-und Parallelschaltung dar5 deren Sinzelglieder so bemessen sind, dass sich bei Schalterste lung Kl und abgesogenem Zasat selement mit dem jSlement S allein genau die gleichen Anpassungsverhältnisse wie bei Schalterstellung K 2 und dem aus den Einzelelementen S21, S22 und 523 bestehenden angesteckten Zusatzelement ergeben. FIG. 2 shows a combined series and parallel connection, the individual elements of which are dimensioned in such a way that when Switch position Kl and extracted Zasat selement with the jSlement S alone exactly the same adjustment ratios as with switch position K 2 and the attached additional element consisting of the individual elements S21, S22 and 523.

S1Ur die bei normalen Foto-Belichtungsmessern vorliegenden Genauigkeitsforderungen ist gegebenenfalls eine ungefähre Anpassung ausreichend. Dadurch kann, wie in Figo 3 dargestellt, mit einer einfachen Parallel-Schaltung eines in mehrere hintereinander geschaltete Einzelelemente S315 S32,S33 unterteilten Eli sat ζ el θ ment es zum "eingebauten Fotoelement S der gewünschte Zweck, mit einer einzigen Skala für mehrere Messbereiche auszukommen, mit genügender Genauigkeit erreicht weiden.S 1 For the accuracy requirements of normal photo exposure meters, an approximate adjustment may be sufficient. In this way, as shown in FIG. 3, with a simple parallel connection of a single element S31 5 S32, S33 subdivided into a series of individual elements S31 5 S32, S33, it becomes a "built-in photo element S" for the desired purpose, with a single scale for several measuring ranges get along with sufficient accuracy.

Dieses Verfahren ist besonders dann mit genügender Genauigkeit anwendbar, wenn man das im Belichtungsmesser eingebaute Fotoelement beim Gebrauch des Zusatzelementes abdeckt, sodass der Widerstand des eingebauten Elementes S, der bekanntlich von der Beleuchtungsstärke abhängig ist, sehr hoch wird und nur einen unwesentlichen Nebenschluss zu dem unterteilten Lichtelement S31S S325 S33 darstellt. Bei Belichtungsmessern mit einem Zusatzelement, dessen Fläche wesentlich grosser ist, als die des eingebauten Elementes, kann der damit bedingte geringe Empfindlichkeitsverlust vernachlässigt werden»This method can be used with sufficient accuracy when the built-in photo element in the light meter is covered when the additional element is used, so that the resistance of the built-in element S, which is known to be dependent on the illuminance, becomes very high and only has an insignificant shunt to the subdivided element Light element S31 S S32 5 S33 represents. In the case of light meters with an additional element, the area of which is much larger than that of the built-in element, the resulting slight loss of sensitivity can be neglected »

Die in kombinierter Ileihen-und Parallelschaltung elektrisch miteinander verbundenen Einzelelemente können auf verschiedene Weise räumlich angeordnet werden. Für die in Reihe geschalteten Elemente S41, S42 und S43 ist eine dachziegelartige Anordnung nach Bild 4 möglich, die den Vorteil einer guten Ausnutzung der wirksamen Slementenflache mit der oftmals gewünschten Neigung der Zellen nach unten verbindet» Schliesslich gestattet die Unterteilung des Zusatzelementes auch die Unterbringung von Einzelteilen an räumlich voneinander getrennten Stellen, beispielsweise in den freien Flächen der Vorderwand einer fotografischen K a me r a«,The individual elements, which are electrically connected to one another in a combined connection and parallel connection, can be used in different ways Spatially arranged way. A roof tile-like arrangement is required for the elements S41, S42 and S43 connected in series possible according to Figure 4, which has the advantage of making good use of the effective slement area with the often desired Downward inclination of the cells connects »Finally, the subdivision of the additional element also allows it to be accommodated of individual parts in spatially separate locations, for example in the free areas of the front wall of a photographic camera «,

Claims (1)

Pat entanspräche.Pat ent calls. lichtungsmesser durch Vergrössern der FlJ.,eiie ='des' Fotoelementes mittels zu st eck-oder jzu^fhrsTibarem .Element dadurch gekennzeichnet j dajs^^iT^zum Erreichen der geforderten Empfindlicjlfcei-t-^fioiwendige Zusatzfläche derart in para^l^lr-^tntrTiintereinandergeschaltete Einzelelemente unter- ^^ dass zusarmnen mit dem eingebauten Licht elementlight meter by enlarging the area of the photo element by means of an insertable or removable element marked j dajs ^^ iT ^ to achieve the required sensitivity in such a way para ^ l ^ lr- ^ tntrTi interconnected individual elements under- ^^ that together with the built-in light element , g, g die gleichen AnpasBungsTDedingunpen an das zur Anzeige "benutzte elektrische Messwert erreicht werden wie mit dem im Belichtungsmesser eingebauten Element allein*the same adjustment requirements for the electrical measured value used for the display "can be achieved as with the element built into the light meter only * ^ we-r-^ we-r- ίο _ la&s&feg-Bsefe-Aa& dadurch gekennzeichnet, dass das &m& χ :,",. -.^ ^ ; 3:rr^icheri~4©:i^g-e£cat^^ Zusatz-ίο _ la & s & feg-Bsefe-Aa & characterized in that the & m & χ :, ",. -. ^ ^; 3: rr ^ icheri ~ 4 ©: i ^ ge £ cat ^^ additional eli m nt aus mehreren .hintereinander geschalteten Einselel nier1 i,en besteht, w*i^4Br^iB!A««fe©--P®3?ai3!el^ gebauten LichtBl-&rft&n-t----geta-aGh-i>^virur-«fe¥e4:-- die Anpassungs-Verhältnisse an das .zur Anzeige im Belichtungsmesser benutzte elektrische Messwert mit und ohne Zusatζelement nur soweit voneinander abweichen, dass eine einzige Skala mit genügende!' Genauigkeit für mehrere Messbereiche verwendet werden kann,eli m nt consists of several single elements 1 i, en connected one behind the other, w * i ^ 4Br ^ iB ! A «« fe © --P®3? Ai3! El ^ built LichtBl- & rft & n-t ---- geta-aGh-i> ^ viru r - «fe ¥ e4: - the conditions of adaptation to the .zur The display in the light meter used electrical measured value with and without additional element only differ from each other so far that a single scale with sufficient! ' Accuracy can be used for several measuring ranges, ο) 4^w«44#»ä3g^ie^4H«»#ifMi»i>eMfi*irt ft)toelektrischer Belichtungs messer nach Anspruch Iidadurch gekennzeichnet, dass die hintereinander und parallel geschalteten Einzelelemente räumlich voneinander, getrennt angeordnet -wertteBn- -4/Ut^L»ο) 4 ^ w «44 #» ä3g ^ ie ^ 4H «» # ifMi »i> eMfi * irt ft) toelectric exposure meter according to claim Iid, characterized in that the one behind the other and parallel connected individual elements spatially from each other, arranged separately -wertteBn- -4 / Ut ^ L » 4o) ErweiteraHg—der----·'ikipfin-diieäfeeit ftitoelektrischer Eelich-' t'üngsmesser nach Anspruch 1? dadurch gekennzeichnet, dass die gws^fexgrö^^e^uö^ hin-4o) Extension of the ---- · 'ikipfin-diieäfeeit ftito-electric calibration meter according to claim 1 ? characterized in that the gws ^ fexgrö ^^ e ^ uö ^ back tereinaridergei.;chalteten Einzelelemente dachziegelartig angeordnet iii©g?4e«rr ^Ιtereinaridergei.; switched individual elements arranged like roof tiles iii © g? 4e «rr ^ Ι

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