DE9312945U1 - Spektrum-Analysator - Google Patents
Spektrum-AnalysatorInfo
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
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- G—PHYSICS
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- G01J3/0218—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using optical fibers
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Gebrauchsmusteranme!dung
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Spektrum-Analysator
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Die Neuerung betrifft einen Spektrum-Analysator. Insbesondere bezieht sich die Neuerung auf einen Spektrum-Analysator zur
Analyse der Emissions-Spektren von Halbleiter-Lasern.
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Der Neuerung liegt die Aufgabe zugrunde, einen einfach aufgebauten Spektrum-Analysator mit hoher Auflösung und
geringer Rückstreuung zu schaffen.
Neuerungsgemäß wird diese Aufgabe gelöst durch einen faseroptischen Ringresonator, einen photoelektrischen
Detektor, eine lichtleitende Faser, in welche zu analysierendes Licht einkoppelbar ist und durch welche dieses
Licht auf den photoelektrischen Detektor geleitet wird, einen Koppler zum optischen Koppeln der Faser mit dem faseroptischen
Ringresonator und Mittel zum Variieren der Resonanzfrequenz
des faseroptischen Ringresonators.
Bei einem solchen Spektrum-Analysator ergibt sich eine geringe Rückstreuung in die zu analysierende Lichtquelle zurück. Das
ist wichtig bei der Messung an Lasern, weil diese durch Rückstreuung gestört würden. Der Spektren-Analysator ist
vollständig mit Faseroptik aufgebaut. Dadurch wird der Spektren-Analysator preisgünstig und störunanfällig.
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Ausgestaltung der Neuerung sind Gegenstand der Unteransprüche.
Ein Ausführungsbeispiel der Neuerung ist nachstehend unter Bezugnahme auf die zugehörigen Zeichnungen näher erläutert.
Fig.l zeigt den Aufbau des Spektrum-Analysators.
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Fig.2 zeigt den Anschluß des Spektrum-Analysators.
Fig.3 zeigt den Verlauf des Detektorsignals bei Anliegen eines
Kontinuums von über die Frequenzen hinweg im wesentlichen konstanter Intensität in Abhängigkeitvon
der Frequenz.
Fig.4 zeigt den Verlauf des Detektorsignals bei gegenüber der
Darstellung von Fig.4 gedehnter Abszisse.
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Fig.5 zeigt ein typisches Spektrum eines Einmoden-Lasers, wie
es mit einem Spektren-Analysator der beschriebenen Art gemessen wird.
In Fig.l ist mit 10 eine lichtleitende Faser bezeichnet, in welche Licht einer zu untersuchenden (nicht dargestellten)
Lichtquelle eingespeist werden kann. Die Faser 10 ist zu einem photoelektrischen Detektor 12 geführt. An dem Detektor 12 sind
Vorkehrungen getroffen, die eine Reflexion an dem Detektor weitgehend verhindern. Dadurch wird die Rückstreuung des
Lichts vermindert, die bei der Vermessung eines Lasers als Lichtquelle eine Störung dieser Lichtquelle bewirkt.
Die lichtleitende Faser 10 ist über einen Koppler 14 mit einem ebenfalls von einer lichtleitenden Faser 16 gebildeten
Ringresonator 18 gekoppelt. Ein von der Lichtquelle zu dem Detektor 12 hin laufendes Lichtbündel wird teilweise über den
Koppler 14 im Uhrzeigersinn von Fig.l in den Ringresonator 18 eingekoppelt. Der Ringresonator 18 enthält einen Steller 20,
durch welchen die optische Weglänge des Ringresonators 18 nach Maßgabe eines elektrischen Signals veränderbar ist. Dadurch
wird auch die Resonanzfrequenz des Ringresonators 18
verändert. Das elektrische Signal liegt an einem Eingang 22 an. Der Steller 20 enthält einen zylindrischen Körper aus
einem piezoelektrischen, sich bei Anlegen einer Spannung verformenden Material, um den die Faser 16 des Ringresonators
18 in einer Schleife 26 herumgelegt ist.
Der in Fig.l dargestellte Spektrum-Analysator ist in Fig.2
generell mit 28 bezeichnet. Die lichtleitende Faser 10 ist über einen Polarisations-Steller 30 mit einem optischen
Eingang 32 verbunden.
An dem Eingang 22 liegt ein Dreiecks-Frequenzgenerator 34, der ein Dreieckssignal 36 erzeugt. Der Dreiecks-Frequenzgenerator
34 ist außerdem mit einem Oszilloskop verbunden. Das Signal des Dreiecks-Frequenzgenerators 34 steuert die Abszissen-Ablenkung
des Oszilloskops 38. Das Oszilloskop 38 ist weiterhin mit einem Ausgang 40 des Spektrum-Analysators 28
verbunden. An dem Ausgang 40 liegt das Detektor-Signal des photoelektrischen Detektors 12. Der Ausgang 40 steuert die
Ordinaten-Ablenkung des Oszilloskops 38. An einem Eingang 42 des Spektrum-Analysators 28 liegt ein Netzteil 44. Das
Netzteil 44 liefert die Stromversorgung für den Detektor 12.
Fig. 3 zeigt frequenzabhängig das über den Koppler 14 zum
Detektor 12 hindurchtretende Licht und damit frequenzabhängig das am Detektor auftretende Detektor-Signal. Die Abszisse ist
das Verhältnis der Frequenz des Lichtes zum freien Spektralbereich FSB des Ringresonators. Die Ordinate ist das
Detektor-Signal des Detektors 12 bezogen auf dasjenige Detektor-Signal, das bei Abwesenheit des Ringresonators 18 und
Kopplers 14 auftreten würde. Man erkennt, daß bei einer Folge von Resonanzfrequenzen, die jeweils um den freien
Spektralbereich FSB voneinander getrennt sind, das Licht in einem scharfen Peak in den Ringresonator 18 geleitet wird und
das Detektor-Signal einen entsprechenden Einschnitt 46 zeigt.
In Fig.4 ist dieser Einschnitt bei gedehnter Abszisse
dargestellt. Man erkennt aus Fig.4, daß der Einschnitt 46 eine
sehr geringe Bandbreite besitzt. Über den Steller 20 kann die optische Weglänge des Ringresonators 18 entsprechend dem
Dreieckssignal 36 verändert werden. Damit kann ein Emissions-Spektrum
einer Lichtquelle abgetastet werden. Dieses Emissions-Spektrum wird durch das Oszilloskop 38 dargestellt:
Die Abszisse des Oszilloskops 38 entspricht dem Dreieckssignal 36 von Fig.2 und damit der Änderung der Resonanzfrequenz
gegenüber einer ohne Ansteuerung des Stellers 20 als Resonanzfrequenz auftretenden Referenzfrequenz. Die Amplitude
entspricht der frequenzabhängigen Intensität.
Ein solches Emissions-Spektrum eines Einmoden-Lasers, wie es
auf dem Bildschirm des Oszilloskops erscheint, ist in Fig.5 als Beispiel dargestellt. Der Spektrum-Analysator kann benutzt
werden für hochauflösende spektrale Messungen, Messung der Modenstruktur und Stabilität, Linienbreiten- und Jittermessung
oder die Messung des Modulationsindex (Seitenbänder).
Bei dem beschriebenen Spektren-Analysator 28 und der Meßanordnung von Fig.2 ist kein optischer Isolator zur
Eliminierung von rückgestreutem Licht vorgesehen.
Claims (4)
1. Spektrum-Analysator, gekennzeichnet durch einen
faseroptischen Ringresonator (18), einen photoelektrischen Detektor (12), eine lichtleitende Faser (10), in welche zu
analysierendes Licht einkoppelbar ist und durch welche dieses Licht auf den photoelektrischen Detektor (12)
geleitet wird, einen Koppler (14) zum optischen Koppeln der Faser (10) mit dem faseroptischen Ringresonator (18)
und Mittel (20) zum Variieren der Resonanzfrequenz des
faseroptischen Ringresonators (18).
2. Spektrum-Analysator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel zum Variieren der
Resonanzfrequenz einen piezoelektrischen Steller (20) zur
Veränderung der Länge des Resonanzhohlraumes enthalten, der von einem Dreieckssignal-Generator (34) angesteuert
wird.
3. Spektrum-Analysator nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der photoelektrische Detektor (12)
Mittel zur Verminderung der Reflexion an dem Detektor (12) aufweist.
4. Spektrum-Analysator nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß kein optischer Isolator zur
Eliminierung von rückgestreutem Licht vorgesehen ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE9312945U DE9312945U1 (de) | 1993-08-28 | 1993-08-28 | Spektrum-Analysator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE9312945U DE9312945U1 (de) | 1993-08-28 | 1993-08-28 | Spektrum-Analysator |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE9312945U1 true DE9312945U1 (de) | 1993-11-18 |
Family
ID=6897380
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE9312945U Expired - Lifetime DE9312945U1 (de) | 1993-08-28 | 1993-08-28 | Spektrum-Analysator |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE9312945U1 (de) |
-
1993
- 1993-08-28 DE DE9312945U patent/DE9312945U1/de not_active Expired - Lifetime
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