DE9104596U1 - Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von transparenten Kunststoffen - Google Patents

Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von transparenten Kunststoffen

Info

Publication number
DE9104596U1
DE9104596U1 DE9104596U DE9104596U DE9104596U1 DE 9104596 U1 DE9104596 U1 DE 9104596U1 DE 9104596 U DE9104596 U DE 9104596U DE 9104596 U DE9104596 U DE 9104596U DE 9104596 U1 DE9104596 U1 DE 9104596U1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
quality control
transparent plastics
transparent
shadow
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE9104596U
Other languages
English (en)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Roehm GmbH Darmstadt
Original Assignee
Roehm GmbH Darmstadt
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Roehm GmbH Darmstadt filed Critical Roehm GmbH Darmstadt
Priority to DE9104596U priority Critical patent/DE9104596U1/de
Publication of DE9104596U1 publication Critical patent/DE9104596U1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N2021/1765Method using an image detector and processing of image signal
    • G01N2021/177Detector of the video camera type

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

BESCHREIBUNG
Gebiet der Erfindung
Die vorliegende Erfindung betrifft ein optoelektronisches System zur quantitativen Analyse von optischen Defekten in transparenten Kunststoffen, insbesondere in transparenten Kunststoff-Folien, vor allem zu deren Qualitätskontrolle beim Herstellungsprozeß.
Stand der Technik
Die Verwendung von transparenten Kunststoffen in Plattenform oder Folienform, wie z.B. solchen auf Polymethylmethacrylat-Basis in modernen Audio- und Videotechniken, wie den CD-Platten oder den optoelektronischen Displays, erfordern hohe optische Qualitäten dieser Materialien, sowohl an ihrer Oberfläche als auch in den Materialkernen. Vorkommende Fehler an bzw. in den Kunststoffmaterialien sind beispielsweise Welligkeit, Schlieren, Fehlstellen (Löcher), Fremdeinschlüsse, Stellen mit schwankender Brechzahl.
Eine Möglichkeit zur optischen Kontrolle von extrudierten transparenten Kunststoffen, wie z.B. solchen in Folienform, besteht in deren direkten Untersuchung mit Laserscannern. Es hat sich gezeigt, daß mit dieser Untersuchungsmethode erhaltene Ergebnisse nicht verläßlich
sind: Einerseits werden viele Fehler überhaupt nicht erkannt, andererseits werden Folienbereiche als fehlerhaft markiert, die keine Fehlerstelle aufzeigen.
Als zuverlässige Methode zur Erkennung von Fehlern in den transparenten Kunststoffgebilden hat sich deren Durchleuchtung mit einer Punktlichtquelle und Projektion des dabei auftretenden Schattenbildes auf einer davor angebrachten Beobachtungswand erwiesen. Die Erfassung von Größe und Anzahl der im Schattenbild sichtbaren, punktförmigen Fehlstellen wird visuell bzw. photographisch durchgeführt und ist somit zeit- und kostenintensiv.
Aufgabe und Lösung
Für die optische Qualitatsüberprüfung von transparenten Kunststoffen war eine Vorrichtung zur schnellen, zuverlässigen und automatischen Fehlererkennung zu finden, die für ein Verfahren zur in-line Kontrolle von extrudierten, transparenten Kunststoffgebilden, z.B. Kunststoff-Folien, geeignet ist.
Es wurde gefunden, daß durch Bildaufnahme mit einer CCD-Kamera (Charge Coupled Devices) des durch Beleuchtung mit einer Punktlichtquelle auf einer Projektionsfläche erzeugten Schattenbildes des transparenten Kunststoffes, der elektronischen Umsetzung des Bildes und der anschließenden Verarbeitung in einem Auswertungssystem (Rechner), Fehler der vor allem kontinuierlich laufenden, transparenten Gebilde lokalisiert, gezählt und klassifiziert werden.
Aufbau der Vorrichtung
Die Erfindung betrifft eine:
Vorrichtung entsprechend Fig. 1 zur optischen Qualitätskontrolle bei der Herstellung von transparenten Kunststoffgebilden, vor allem von solchen in planaren Formen,
dadurch gekennzeichnet,
daß für die Durchstrahlung des zu untersuchenden Objekts eine Punktlichtquelle (1) zur Erzeugung eines praktisch kegelförmigen Lichtsements (2) in veränderlichem Abstand zur Objektebene (3) verwendet wird, für die Abbildung des Schattenbildes eine Projektionsfläche (4) positionsvariabel in den Lichtstrahlengang nach dem Objektdurchgang angebracht ist, und eine CCD-Kamera (5) zur Aufnahme der Schattenbilder vorhanden ist, von welcher elektronische Impulse zum Auswertesystem (6) und gegebenenfalls zum Monitor (7) gehen.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung, die vorzugsweise mit den Teilen (1) bis (5), zum Schutz vor Fremdlicht als geschlossenes System mit stabilem Gehäuse (8) Verwendung findet, wird vor allem zur in-line Qualitätskontrolle bei der kontinuierlichen Herstellung von transparenten Kunststoffplatten und -folien durch Extrusion eingesetzt. Sie eignet sich insbesondere zur Untersuchung auf Fehler mit Linsenverhalten oder Fehler, welche stärkere Schwankungen der Brechzahl im Material verursachen. Durch dieses Verhalten erscheinen diese Fehler um den Faktor bis 20 vergrößert auf der Projektionsebene vorzugsweise als helle bzw. dunkle Flecken mit konzentrischen dunklen bzw. hellen Ringen.
Messungen von Schattenbildern mit CCD-Kameras sind beschrieben zur meßtechnischen Überprüfung der geometrischen Vorgaben von Werkstücken, beispielsweise als Durchmessermeßgeräte von Drähten bei der Drahtherstellung (Heimburger et al., Wissenschaftliche Zeitschrift der Techn. Hochsch. Magdeburg 1986, 30 (8), S. 30 - 39). Zur Überprüfung transparenter Systeme, wie z.B. CR 39--Kunststoff-Platten auf 10 um Löcher (Imori et al., Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B 1987, B 18 (3) &egr;. 307 - 310) oder zur geometrischen Kontrolle und Qualitätskontrolle in der Glasindustrie (Hülsenberg et al., Szilikatip. Szilikattud. Konf. Proc. 14th 1985, S. 144 - 150 oder Bock et al., Silikattechnik 1985, 36 (4), S. 99 - 102), werden diese Systeme durchleuchtet, und das transmittierte Licht, gegebenenfalls nach Filterung, direkt von einer CCD-Kamera aufgenommen.
Durchführung der Erfindung
BeleuchtungsgueIlen
Für eine gleichmäßige Durchleuchtung der transparenten Objekte können als Punktlichtquellen Quecksilberdampflampen, Halogenlampen oder Laser verwendet werden. Am geeignetsten erwiesen sich Quecksilberdampflampen, z.B. eine 100 W Quecksilberdampflampe, die mit geregeltem Gleichstrom betrieben wird und den für den Kamerabetrieb erforderlichen Lichtstrom aussendet. Er ist weiß, inkohärent, strahlt nahezu gleichmäßig in den Raum, zeigt ausreichende Intensität auch im nahen UV und ist frei von hochfrequenten Intensitätsänderungen.
Halogenlampen besitzen eine große Leuchtfläche.
Die Schattenbildtechnik mit der Quecksilberdampflampe bzw. der Halogenglühbirne läßt sich jedoch durch einen optischen Einsatz verändern. Durch Einschiebung einer Linse von z.B. 10 mm Brennweite und 5 mm Durchmesser in die Lichtaustrittsöffnung der Punktlichtquelle, werden deren Brennfleck bzw. deren Leuchtfläche verkleinert. Bei konstanter Fehlergröße wird so der Halbschatten im \ Verhältnis zum Kernschatten deutlich reduziert und damit das Bild kontraststärker.
Der Nachteil der Laser ist ihre geringe Divergenz. Sie eignen sich daher insbesondere zur Ausleuchtung relativ kleiner Probenbereiche.
Die Punktlichtquelle (1) ist zur Probenebene (3) vertikal und horizontal verschiebbar angebracht.
Proj ektionsschirm
Die Projektionsebene (4), die zur Probenebene (3) ebenfalls positionsvariabel angeordnet ist, besteht im wesentlichen aus einem Schirmmaterial mit hoher Reflexion und vorteilhaft sehr feiner Struktur, wie diese beispielsweise für Dia-Leinwände üblich sind. Der Abstand zwischen Probe und Schirm trägt entscheidend dazu bei, welche Eigenschaften des Schattenbildes herausgearbeitet werden können. Kleine Abstände bilden Fehler mit kleineren Brennweiten deutlicher ab, größere Distanzen heben die Glättstruktur (Oberfläche) besser hervor.
Wählt man einen kleinen Abstand, so werden Glättstrukturen dabei nur angedeutet, da sie in der Regel eine wesentlich
längere Brennweite als kleine Fehler besitzen Glättstruktur wirkt als Zylinderlinse.
Optoelektronische Sensoren auf CCD-Basis und Auswertung der Aufnahme
Zur raschen und automatischen Erfassung der in transparenten KunststofferZeugnissen möglichen Fehler, werden die auf einer Projektionsleinwand entstehenden Schattenbilder erfindungsgemäß mittels bekannter CCD-Kameras (5), die mit ihren Sensoren sowohl als Flächenkamera, vorzugsweise eine solche mit Verschluß, als auch als Zeilenkamera zur Übertragung von Meßdaten an Rechner eingesetzt werden können, erfaßt. Dadurch kann das Schattenbild, das wegen seiner geringen Lichtintensität vorzugsweise innerhalb eines geschlossenen, dunklen Raumes (8) erzeugt wird, außerhalb der Meßvorrichtung auf einem Monitor (7) beobachtet werden und/oder es werden die von der Kamera zum Rechnersystem (6) weitergeleiteten elektronischen Signale dort durch spezielle Rechenanweisungen ausgewertet.
Die Elektronik spricht auf helle und dunkle Stellen im Schattenbild an, die von Pickeln und Fremdeinschlüssen verursacht werden können. Besonders interessierende Fehler, wie sie vor allem in transparenten Folien, z.B. auf Polymethacrylat-Basis oder Bisphenol A-Polycarbonat-Basis vorkommen, zeigen ein ausgeprägtes Linsenverhalten, d.h. sie sind auf dem Projektionsschirm etwa um den Faktor 10 bis 20 vergrößert, gegenüber einer Vergrößerung der beleuchteten Probefläche von nur einem
Faktor von etwa 1,2 bis 1,5. Durch Ausnutzung dieses Verhaltens bestimmter Fehler, ist es möglich, dann eine relativ große Fläche auf kleine Fehler solcher Art.zu überwachen.
'it.,: *■
Zu untersuchende Materialien
Die erfindungsgemäße Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von transparenten Kunststoffen eignet sich beispielsweise für solche aus Acrylglas, Polycarbonat, PVC, Polyester, regenerierter Cellulose, Polyethylen, vor allem als inline Vorrichtung bei kontinuierlichen Herstellungsprozessen dieser Kunststoffe, insbesondere bei Extrusionsprozessen zu Platten und bevorzugt zu Untersuchungen von extrudierten Folien. Aber auch zur Untersuchung für Erzeugnisse von transparenten Kunststoffen aus nicht kontinuierlichen Herstellungsverfahren, ist die erfindungsgemäße Vorrichtung hervorragend geeignet.
Schlagzähmodifizierte Polymethylmethacrylat-Folien (Plexiglas © -Folien F) beispielsweise werden in verschiedenen transparent eingefärbten Variationen als Färb- und Kontrastfilter von optoelektronischen Anzeigen eingesetzt. Bisphenol A-Polycarbonat (Makroion ®) wird u.a. als bruchsicheres, optisches Visier in Sturzhelmen verwendet. Diese Beispiele zeigen, wie notwendig eine effektive Qualitätskontrolle für optisch hochwertige Materialien sein muß.

Claims (3)

SCHUTZANSPRÜCHE
1. Vorrichtung zur optischen Qualitätskontrolle bei der Herstellung von transparenten Kunststoffgebilden, vor allem von solchen in planaren Formen,
dadurch gekennzeichnet,
daß für die Durchstrahlung des zu untersuchenden Objekts nach Fig. 1 eine Punktlichtquelle (1) zur Erzeugung eines praktisch kegelförmigen Lichtsegments (2) in veränderlichem Abstand zur Objektebene (3) verwendet wird, für die Abbildung des Schattenbildes eine Projektionsfläche (4) positionsvariabel in den Lichtstrahlengang nach dem Objektdurchgang angebracht ist, und eine CCD-Kamera (5) zur Aufnahme der Schattenbilder vorhanden ist, von welcher elektronische Impulse zum Auswertesystem (6) und gegebenenfalls zum Monitor (7) gehen.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß vorzugsweise dessen Teile (1) bis (5) in einem Fremdlicht undurchlässigen Gehäuse (8) angeordnet sind.
3. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß sie ein in-line Teil einer Extrusionsanlage ist.
DE9104596U 1991-04-16 1991-04-16 Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von transparenten Kunststoffen Expired - Lifetime DE9104596U1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE9104596U DE9104596U1 (de) 1991-04-16 1991-04-16 Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von transparenten Kunststoffen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE9104596U DE9104596U1 (de) 1991-04-16 1991-04-16 Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von transparenten Kunststoffen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE9104596U1 true DE9104596U1 (de) 1991-07-04

Family

ID=6866336

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE9104596U Expired - Lifetime DE9104596U1 (de) 1991-04-16 1991-04-16 Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von transparenten Kunststoffen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE9104596U1 (de)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0634648A1 (de) * 1993-07-15 1995-01-18 AUTRONIC Gesellschaft für Bildverarbeitung und Systeme mbH Erfassungseinheit für die optronische Oberflächeninspektion
DE4444165A1 (de) * 1994-12-12 1996-06-13 Wissenschaftlich Tech Optikzen Vorrichtung zur Prüfung transparenter und/oder einseitig optisch undurchsichtig beschichteter Objekte auf Materialfehler
EP0729025A1 (de) * 1995-02-15 1996-08-28 Röhm Gmbh Vorrichtung zur Fehlerkennung an transparenten Kunststofftafeln
DE19533043A1 (de) * 1995-09-07 1997-03-13 Laser Sorter Gmbh Verfahren zur Sichtbarmachung von optisch verformenden Fehlern
DE19742093A1 (de) * 1997-09-24 1999-03-25 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Photoelektrisches Sensorarray
WO2023126617A1 (fr) * 2021-12-31 2023-07-06 Biomerieux Carte d'analyse d'un echantillon biologique, procede de fabrication et de controle qualite

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0634648A1 (de) * 1993-07-15 1995-01-18 AUTRONIC Gesellschaft für Bildverarbeitung und Systeme mbH Erfassungseinheit für die optronische Oberflächeninspektion
DE4444165A1 (de) * 1994-12-12 1996-06-13 Wissenschaftlich Tech Optikzen Vorrichtung zur Prüfung transparenter und/oder einseitig optisch undurchsichtig beschichteter Objekte auf Materialfehler
EP0729025A1 (de) * 1995-02-15 1996-08-28 Röhm Gmbh Vorrichtung zur Fehlerkennung an transparenten Kunststofftafeln
DE19533043A1 (de) * 1995-09-07 1997-03-13 Laser Sorter Gmbh Verfahren zur Sichtbarmachung von optisch verformenden Fehlern
DE19742093A1 (de) * 1997-09-24 1999-03-25 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Photoelektrisches Sensorarray
US6452148B1 (en) 1997-09-24 2002-09-17 Leopold Kostal Gmbh & Co. Optoelectronic monitoring device for a motor vehicle
WO2023126617A1 (fr) * 2021-12-31 2023-07-06 Biomerieux Carte d'analyse d'un echantillon biologique, procede de fabrication et de controle qualite

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69714401T2 (de) Optisches Verfahren und Vorrichtung zum Erkennen von Fehlstellen
DE69317103T2 (de) Beleuchtungssystem zur Inspektion von Kontaktlinsen
DE69531588T2 (de) Vorrichtung zum Messen der Haemoglobinkonzentration
DE69800756T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren, Überwachung und Charakterisierung von Kantendefekten in Halbleiterscheiben
DE69622588T2 (de) Fluorometer
US6153873A (en) Optical probe having an imaging apparatus
US4501492A (en) Method for testing specimens
DE102005014415B3 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung einer gewölbten Oberfläche
DE3320939A1 (de) Vorrichtung zur fehlerpruefung der oberflaeche eines konvex gekruemmten koerpers
DE102009044151B4 (de) Vorrichtung zur optischen Waferinspektion
DE19809505A1 (de) Einrichtung zum Prüfen optischer Elemente
DE2459119A1 (de) Vorrichtung zum aufspalten von licht
DE102015201823B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur automatisierten Klassifizierung der Güte von Werkstücken
JPH03175308A (ja) ガラスのような透明材料から成る大面積の板の光学品質検査方法
DE10297337T5 (de) Automatischer Inspektionsapparat und Verfahren zur Erkennung von Anomalien in einem 3-dimensionalen transluzenten Objekt
DE4318174A1 (de) Beleuchtungsvorrichtung für die Hochgeschwindigkeitsabtastung von sich bewegenden Bandmaterialien
EP3496379B1 (de) Vorrichtung zum erfassen eines bildes in einer bildebene, die sich auf einer materialbahn befindet
DE9104596U1 (de) Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von transparenten Kunststoffen
DE102021107115A1 (de) Vorrichtung zur Untersuchung einer Oberfläche eines Bauteils
DE3204146A1 (de) Verfahren zur messung der zusammensetzung und oertlichen konzentration von stoffen an oberflaechen
DE102005038738A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen eines frei fallenden Objekts
DE102015105128B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Glanzgrads und/oder der Mattheit von Gegenständen
DE69924686T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen des internen Brechungsindex von optischen Fasern
EP0729025B1 (de) Vorrichtung zur Fehlerkennung an transparenten Kunststofftafeln
US4121247A (en) Population and profile display of transparent bodies in a transparent mass