DE69926885D1 - Messung und kompensation der durchbiegung bei der inspektion von bestückten leiterplatten - Google Patents

Messung und kompensation der durchbiegung bei der inspektion von bestückten leiterplatten

Info

Publication number
DE69926885D1
DE69926885D1 DE69926885T DE69926885T DE69926885D1 DE 69926885 D1 DE69926885 D1 DE 69926885D1 DE 69926885 T DE69926885 T DE 69926885T DE 69926885 T DE69926885 T DE 69926885T DE 69926885 D1 DE69926885 D1 DE 69926885D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
compensation
inspection
bending
measurement
pcb
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69926885T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69926885T2 (de
Inventor
Harold Wasserman
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
LANDREX TECHNOLOGIES CO
Original Assignee
LANDREX TECHNOLOGIES CO
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LANDREX TECHNOLOGIES CO filed Critical LANDREX TECHNOLOGIES CO
Application granted granted Critical
Publication of DE69926885D1 publication Critical patent/DE69926885D1/de
Publication of DE69926885T2 publication Critical patent/DE69926885T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/306Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/302Contactless testing
    • G01R31/308Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation
    • G01R31/309Contactless testing using non-ionising electromagnetic radiation, e.g. optical radiation of printed or hybrid circuits or circuit substrates
DE69926885T 1998-06-10 1999-06-10 Messung und kompensation der durchbiegung bei der inspektion von bestückten leiterplatten Expired - Lifetime DE69926885T2 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US8871798P 1998-06-10 1998-06-10
US88717P 1998-06-10
PCT/US1999/013233 WO1999064882A1 (en) 1998-06-10 1999-06-10 Measuring and compensating for warp in the inspection of printed circuit board assemblies

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69926885D1 true DE69926885D1 (de) 2005-09-29
DE69926885T2 DE69926885T2 (de) 2006-03-30

Family

ID=22213029

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69926885T Expired - Lifetime DE69926885T2 (de) 1998-06-10 1999-06-10 Messung und kompensation der durchbiegung bei der inspektion von bestückten leiterplatten

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP1086382B1 (de)
DE (1) DE69926885T2 (de)
WO (1) WO1999064882A1 (de)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4910378B2 (ja) * 2005-03-01 2012-04-04 株式会社デンソー X線検査装置及びx線検査方法
KR101292634B1 (ko) * 2006-09-11 2013-08-16 파나소닉 주식회사 전자부품 탑재장치 및 전자부품 실장방법
DE102008016340B3 (de) * 2008-03-28 2009-10-15 Lpkf Laser & Electronics Ag Verfahren und Vorrichtung zur Bearbeitung einer Leiterplatte
DE102010050445B4 (de) 2010-11-04 2014-02-20 Göpel electronic GmbH Anordnung und Verfahren zur Korrektur von Messpositionen von zur Inspektion elektronischer Flachbaugruppen aufgenommener Messbilder
JP5421409B2 (ja) * 2012-03-02 2014-02-19 Wit株式会社 外観検査装置及び外観検査方法
DE102013017878B4 (de) 2013-10-28 2016-04-07 Mühlbauer Gmbh & Co. Kg Verfahren und System zum Markieren platten- oder stabförmiger Objekte
CN113720270B (zh) * 2021-09-13 2023-06-20 广州大学 一种板类器件翘曲在线测量方法、系统、装置及存储介质

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3850840T2 (de) * 1987-10-14 1995-02-09 Hitachi Ltd Vorrichtung und Verfahren zur Fehlerinspektion in befestigten Bauteilen, unter Verwendung eines Lichtschlitzes.
US4978220A (en) * 1988-03-04 1990-12-18 Cimflex Teknowledge Corporation Compensating system for inspecting potentially warped printed circuit boards
US5083867A (en) * 1988-11-28 1992-01-28 Allegheny Ludlum Corporation Slab surface contour monitor
JP3143038B2 (ja) * 1994-11-18 2001-03-07 株式会社日立製作所 自動焦点合わせ方法及び装置並びに三次元形状検出方法及びその装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP1086382B1 (de) 2005-08-24
DE69926885T2 (de) 2006-03-30
WO1999064882A1 (en) 1999-12-16
EP1086382A1 (de) 2001-03-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69816431D1 (de) Taupunkt- und blasenpunktmessung
DE69840753D1 (de) Sensor zur messung von dehnungen
DE69930426D1 (de) Messung der Last in einer Aufzugskabine
DE69814198D1 (de) Messverfahren und Messinstrument mit Triggersonde
DE69531728D1 (de) Gerät zur messung und auswertung der elektrischen stabilität des herzens
DE59805163D1 (de) Messanordnung
DE69841212D1 (de) Vorrichtung zur Messung der NOx Konzentration
DE69929851D1 (de) Messung und Validierung von Interaktion und von Kommunikation
DE69815118D1 (de) Gerät zur messung der autofluoreszenz der augenhornhaut
DE69926885D1 (de) Messung und kompensation der durchbiegung bei der inspektion von bestückten leiterplatten
DE69829817D1 (de) Einheit zur Überprüfung der transversalen Dimensionen von strangfömigen Gegenständen
DE69828219D1 (de) Lichtmessvorrichtung zur einfachen und hochgenauen Bestimmung der optischen Leistung
DE29814996U1 (de) Meßgerät zur amperometrischen Vermessung von Teststreifen
DE59807961D1 (de) Sensorenanordnung bestehend aus sensor und auswerteschaltung
DE69910911D1 (de) Gerät zur Messung der dynamischer Festigkeit von Papierkernen
DE1137907T1 (de) Elektrische messkomponente und ihre verwendung
DE59706964D1 (de) Schaltungsanordnung zur messtechnischen bestimmung von durchmessern metallischer körper
DE29712962U1 (de) Detektor zur Messung und Prüfung der mikroskopischen Permittivitätsfluktuationen von Materie
DE29712064U1 (de) Zeitmeßinstrument
DE69809829T2 (de) Untergrunderkennung und Kompensation
DE9301078U1 (de) Niveausonde zur Messung und Übertragung von kapazitiven Strömen
DE29712882U1 (de) Meßanordnung
DE9401675U1 (de) Meßvorrichtung zur Ermittlung der Abmasse von Briefsendungen
DE29710307U1 (de) Meß- und Kalibrieranordnung
FR2764707B1 (fr) Transformateur de mesure

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition