DE69211202T2 - Verfahren und Gerät zur Beurteilung eines kapazitiven Systems - Google Patents

Verfahren und Gerät zur Beurteilung eines kapazitiven Systems

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    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1312484C (zh) * 2003-03-24 2007-04-25 张文 单节点采样的伏安特性数字化测量电路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS539542B2 (de) * 1972-09-21 1978-04-06
US3882391A (en) * 1973-06-25 1975-05-06 Ibm Testing the stability of MOSFET devices
US4323842A (en) * 1980-02-19 1982-04-06 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Method and apparatus for electrically testing radiation susceptibility of MOS gate devices
FR2514903A1 (fr) * 1981-10-21 1983-04-22 Centre Nat Rech Scient Dispositif de mesure d'une impedance
US4509012A (en) * 1982-12-30 1985-04-02 Lin Shi Tron Method for determining the characteristic behavior of a metal-insulator-semiconductor device in a deep depletion mode
US5027064A (en) * 1989-04-19 1991-06-25 Celeritek, Inc. Method and means for measuring operating temperature of semiconductor devices by monitoring RF characteristics

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