DE69202362T2 - Kathode. - Google Patents
Kathode.Info
- Publication number
- DE69202362T2 DE69202362T2 DE69202362T DE69202362T DE69202362T2 DE 69202362 T2 DE69202362 T2 DE 69202362T2 DE 69202362 T DE69202362 T DE 69202362T DE 69202362 T DE69202362 T DE 69202362T DE 69202362 T2 DE69202362 T2 DE 69202362T2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- substrate
- layer
- heating element
- electron
- electron source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 58
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 40
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 28
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 26
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 17
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 14
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 12
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 claims description 4
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 11
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 5
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 4
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 2
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 2
- BCFYIZNSWUFRFT-UHFFFAOYSA-H calcium;strontium;barium(2+);tricarbonate Chemical compound [Ca+2].[Sr+2].[Ba+2].[O-]C([O-])=O.[O-]C([O-])=O.[O-]C([O-])=O BCFYIZNSWUFRFT-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 2
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 2
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NEDFZELJKGZAQF-UHFFFAOYSA-J strontium;barium(2+);dicarbonate Chemical compound [Sr+2].[Ba+2].[O-]C([O-])=O.[O-]C([O-])=O NEDFZELJKGZAQF-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M (z)-4-oxopent-2-en-2-olate Chemical compound C\C([O-])=C\C(C)=O POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M 0.000 description 1
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 1
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QAKIDWGXFZCSRP-UHFFFAOYSA-N [Ti].[Mo].[Ti] Chemical compound [Ti].[Mo].[Ti] QAKIDWGXFZCSRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 150000001242 acetic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 125000005595 acetylacetonate group Chemical group 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012876 carrier material Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 229910000449 hafnium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N hafnium(4+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[Hf+4] WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000011118 potassium hydroxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 229910001404 rare earth metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- CGZLUZNJEQKHBX-UHFFFAOYSA-N titanium tungsten Chemical compound [Ti][Ti][W] CGZLUZNJEQKHBX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/02—Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof
- H01J29/04—Cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J1/00—Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J1/02—Main electrodes
- H01J1/13—Solid thermionic cathodes
- H01J1/20—Cathodes heated indirectly by an electric current; Cathodes heated by electron or ion bombardment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2201/00—Electrodes common to discharge tubes
- H01J2201/28—Heaters for thermionic cathodes
- H01J2201/2803—Characterised by the shape or size
- H01J2201/2878—Thin film or film-like
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S148/00—Metal treatment
- Y10S148/135—Removal of substrate
Landscapes
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
- Solid Thermionic Cathode (AREA)
- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
Description
- Die Erfindung betrifft eine Elektronenquelle mit einem Substrat, das auf einer Hauptfläche ein Erwärmungselement mit einem elektronenemitierenden Werkstoff enthält und mit einer Ausnehmung unterhalb des Erwärmungselements versehen ist. Die Erfindung bezieht sich ebenfalls auf ein Verfahren zum Herstellen einer Elektronenquelle und auf eine Kathodenstrahlröhre mit einer Elektronenquelle.
- Elektronenquellen eingangs erwähnter Art werden in Kathodenstrahlröhren verwendet und insbesondere in flachen Wiedergabeanordnungen, in denen jedes Bildelement oder Spalte von Bildelementen eine individuelle zugeordnete Elektronenquelle enthält.
- Beispielsweise ist in der US-Patentschrift 4 069 436 eine Elektronenquelle beschrieben, die eine elektronenemittierende Schicht enthält, die von einem unterliegenden Erwärmungselement durch eine Isolierschicht getrennt ist, wobei das Erwärmungselement selbst wieder vom Substrat durch eine Isolierschicht getrennt ist. Das Substrat wird vorzugsweise dünn gewählt, um die Gesamtdissipation zu reduzieren, aber ein dünnes Substrat macht die Anordnung anfälliger für Bruch sowohl in mechanischer Hinsicht als auch durch Wärmespannungen. Letztgenanntes stelle klar Grenzen an die Reduktion der Substratdicke, die daher noch eine bedeutende Wärmekapazität aufrechterhält. Infolgedessen geht im Betrieb ein großer Teil der gelieferten Energie nach dem Substrat verloren, so daß das tatsächliche Emissionsmaterial nicht optimal erwärmt wird, was auf Kosten der Elektronenemission geht. Diese große Wärmekapazität verursacht ebenfalls eine lange Reaktionszeit der Kathode.
- Zur Verbesserung des Wirkungsgrades einer Elektronenquelle ist in der eurpäischen Patentanmeldung Nr. 125 859 eine Elektronenquelle nach dem Oberbetgriff des Anspruchs 1 und der eingangs erwähnten Art beschrieben. Nach dieser Veröffentlichung wird auf einer Hauptfläche des Substrats eine Ausnehmung eingeätzt, die sich unterhalb des Erwärmungselements erstreckt. Hierdurch wird das Erwärmungselement nur noch durch eine dünne Schicht mit nur einer geringen Wärmekapazität getragen. Infolgedessen läßt sich der Wirkungsgrad der Anordnung bedeutend verbessern. Da ein Hauptteil des Substrats seine ursprüngliche Dicke behält, kann außerdem die Anordnung als Einheit stark genug sein, um normale wärmetechnische und mechanische Spannungen zu überleben und ist daher nicht besonders anfällig für Bruch.
- Die Anordnung nach der europäischen Patentanmeldung Nr. 125 859 ist jedoch für die Herstellung nicht besonders praktisch. Insbesondere bei Anwendung eines anisotropischen Ätzverfahrens nach der Beschreibung in dieser Anmeldung kann es schwer sein, die Ausnehmung unterhalb des Erwärmungselements einzuätzen, insbesondere wenn das Erwärmungselement einen großen Teil der möglichen Ausnehmung bedeckt, da das vorhandene Erwärmungselement das Ätzverfahren maskiert oder zumindest stört.
- Der Erfindung liegt u.a. die Aufgabe zugrunde, diese Nachteile durch Anbringen einer Elektronenquelle mit einem hohen Wirkungsgrad, einer kurzen Reaktionszeit und einer ausreichenden mechanischen Festigkeit möglichst zu beseitigen, die auf eine praktische Weise herstellbar ist. Der Erfindung liegt außerdem die Aufgabe zugrunde, dafür ein geeignetes Verfahren zum Herstellen einer Elektronenquelle anzugeben.
- Zur Lösung dieser Aufgabe ist eine Elektronenquelle nach der Erfindung dadurch gekennzeichnet, daß die Ausnehmung sich von der Rückfläche des Substrats sich wenigstens fast bis zur Hauptfläche des Substrats erstreckt.
- Die Wärmekapazität einer derartigen Elektronenquelle wird bedeutend reduziert, wenn das Wärmeelement und die wirkliche Elektronenquelle von nicht mehr als nur einem dünnen Film auf der Ausnehmung getragen werden. Daher kann die Elektronenquelle auf die gewünschte Emissionstemperatur mit einer verhältnismäßig hohen Geschwindigkeit und bei einer verhältnismäßig niedrigen Leistungsaufnahme erwärmt werden, wodurch diese Anordnung sich besonders eignet zur Verwendung in Mehrstrahlanordnungen, die eine (große) Anzahl getrennter Elektronenquellen erfordern.
- Der Erfindung liegt weiter die Erkenntnis zugrunde, daß derartige Strukturen einfach durch Ätzen des betreffenden Substrats von der Rückseite her verwirklichbar sind. Ein erstes bevorzugtes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Anordnung ist dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat Silizium und eine dünne Siliziumnitridschicht enthält, wobei das Silizium im wesentlichen an der Stelle des Erwärmungselements ganz entfernt wird.
- Die Wärmekapazität wird nunmehr im wesentlichen vollständig vom Siliziumnitridfilm bestimmt, die sehr dünn sein kann (50...200 nm). Außerdem arbeitet das Siliziumnitrid bei der Herstellung als einen guten Ätzstopp.
- Ein weiteres bevorzugtes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Elektronenquelle ist dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat wenigstens mit einer Zusatzelektrode auf der Oberfläche versehen wird, auf der sich die Elektronenquelle befindet. Diese Elektrode kann beispielsweise eine einzige Elektrode im Betrieb als Beschleunigungselektrode sein, aber sie kann auf andere Weise eine Mehrfachelektrode im Betrieb als Ablenkelektrode sein.
- Das Erwärmungselement wird vorzugsweise als eine meandernde Widerstandsspur implementiert. Mehrere Mischungen sind für das elektronenemittierende Material verwendbar, beispielsweise eine Emissionsschicht aus Barium- Kalzium-Strontium-Karbonat auf einem Trägermaterial aus Wolfram, Kathodennickel oder einem anderen geeigneten Material. Statt Karbonate können metallorganische Verbindungen (beispielsweise die Azetylazetonate oder Azetate von Barium, Kalzium und Strontium) für die Emissionsschicht verwendet werden.
- Die erfindungsgemäße Elektronenquelle kann auf verschiedene Weisen in Abhängigkeit von den benutzten Werkstoffen hergestellt werden. Jedoch wird erfindungsgemäß vorzugsweise ein Herstellungsverfahren für eine Elektronenquelle verwendet, mit dem ein Substrat auf einer Hauptfläche mit einer verhältnismäßig dünnen Ätzbarriereschicht angebracht wird, ein Erwärmungselement und eine Schicht aus elektronenemittierendem Material örtlich auf der Ätzbarriereschicht angebracht wird, und die Rückfläche des Substrats einer großflächigen Reduzierbearbeitung im Bereich des Erwärmungselements unterworfen wird, bis die Ätzbarriereschicht erreicht wird.
- Insbesondere bei Silizium kann eine Siliziumnitridschicht als Ätzstoppmittel verwendet werden, aber ebenfalls kann eine Oxidschicht oder eine hochdotierte Oberflächenschicht in Erwägung gezogen werden. Wenn die erste Oberfläche eine < 100> -Oberfläche ist, kann die Senkung von der anderen Seite her vorteilhaft durch anisotropisches Ätzen erhalten werden.
- Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachstehend anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen
- Fig. 1 eine schematische Draufsicht auf eine erfindungsgemäße Elektronenquelle, und
- Fig. 2 einen schematischen Querschnitt entlang der Linie II-II in Fig. 1.
- In Fig. 1 und 2 sind schematisch und nicht maßstaßgerecht eine Draufsicht bzw. ein Querschnitt durch eine erfindungsgemäße Elektronenquelle 1 dargestellt. Diese Quelle enthält einen Träger oder ein Substrat 2, der bzw. das in diesem Ausführungsbeispiel hauptsächlich aus Silizium mit einer Dicke von etwa 0,4 mm besteht. Eine erste Hauptfläche 3 des Substrats 2 ist mit einer dünnen Schicht 4 (etwa 50 nm) aus Siliziumoxid und mit einer zweiten Schicht 5 aus Siliziumnitrid mit einer Dicke von etwa 120 nm versehen. Das Gesamtoberflächengebiet der Elektronenquelle 1 beträgt etwa 2 x 2 mm².
- An der Stelle des wirklichen emittierenden Teils 11 ist das Substrat 2 viel dünner als außer dieses Teils 11, da das Substrat, von der Rückfläche 6 aus gesehen, eine Senkung mit Seitenwänden 20 enthält. In diesem Fall ist diese Senkung durch anisotropisches Ätzen angebracht. Da das Siliziumnitrid als Ätzstopp in diesem Ausführungsbeispiel verwendet wird, ist das Substrat 2 (und die Schicht aus Siliziumoxid) an der Stelle der Senkung ganz verschwunden. Jedoch ist dies nicht erforderlich, beispielsweise wenn eine Schicht aus hochdotiertem Silizium als Ätzstoppmaterial verwendet wird.
- Ein Erwärmungselement 8, das aus einem Widerstandselement, beispielsweise einem meandernden Streifen oder einem hochschmelzenden Metall wie Wolfram, Tantal oder Molybdän besteht und mit externen Leitern 15 über Verbindungsstreifen 9 durch Anschlußflächen 14 verbunden ist, befindet sich auf der Siliziumnitridschicht 5. Die Einheit ist mit einer zweiten Schutzschicht 10 aus Siliziumnitrid bedeckt, und diese Schicht 10 hat Öffnungen an der Stelle der Anschlußflächen 15. Werkstoffe wie Aluminiumnitrid oder Aluminiumoxid, Bornitrid, Hafniumoxid oder Zirkonoxid können ebenfalls für die Schicht 10 gewählt werden. Statt einer einzigen Metallschicht 8, 9 kann auch eine Schicht gewählt werden, die aus einer Anzahl von Unterschichten besteht, nach Bedarf beispielsweise eine Titan-Wolfram-Titan-Schicht oder eine Titan- Molybdän-Titan-Schicht.
- Ein Metallmuster 12, in diesem Ausführungsbeispiel aus Molybdän befindet sich auf der zweiten Siliziumnitridschicht 10, und dieses Muster arbeitet als Kathodenträger an der Stelle des wirklichen Emissionsteils 11 und kann mit der gewünschten Kathodenspannung über eine externe Verbindung 16 gespeist werden. Weitere geeignete Werkstoffe für das Metallmuster 12 sind beispielsweise (Kathoden-) Nickel, Tantal, Wolfram, Titan oder Doppelschichten aus Titan und Wolfram oder Molybdän. Die Wahi ist ebenfalls von dem zu verwendenden Emissionsmaterial und von der gewünschten Kathodentemperatur abhängig.
- Das Emissionsmaterial 13, in diesem Ausführungsbeispiel ein Barium- Strontium-Karbonat, befindet sich auf diesem Metallmuster 12 an der Stelle des wirklichen Emissionsteils 11, direkt über dem Erwärmungselement 8. Andere mögliche Werkstoffe sind beispielsweise ein Barium-Kalzium-Strontium-Karbonat, dem nach Bedarf geringe Mengen von Seltenerdoxiden zugegeben werden. Außerdem ist es möglich, organometallische Verbindungen als elektronenemittierende Werkstoffe zu wählen, beispielsweise ein Azetylazetonat von Barium, Kalzium oder Strontium. Diese Verbindungen zersetzen sich zu Oxiden auf niedrigeren Temperaturen als die entsprechenden Karbonate, so daß die Elektronenquelle schneller aktiviert werden kann.
- Da erfindungsgemäß das Substrat an der Stelle der wirklichen Emissionsschicht 13 und des zugeordneten Erwärmungselements 8 dünner ist als an anderen Stellen (im vorliegenden Beispiel wird das Substrat sogar vollständig abgeätzt), geht im wesentlichen keine Leitwärme im Substrat verloren und der Emissionswerkstoff 13 wird schneller auf die gewünschte Temperatur erwärmt.
- Die Anordnung nach Fig. 1 und 2 läßt sich wie folgt herstellen.
- Das Ausgangsmaterial ist eine Siliziumscheibe 2 mit einer Dicke von 400 um, die auf ihren < 100> -Flächen poliert wird und deren Hauptfläche 4 mit einer Schicht 3 aus Wärmesiliziumoxid mit einer Dicke von 50 nm versehen wird. Eine Siliziumnitridschicht 5 wird auf der Schicht aus Siliziumoxid 3 unter Anwendung von CVD-Verfahren oder dgl. angebracht. Diese Schicht 5 hat eine Dicke von etwa 120 nm. Gleichartige Schichten werden gleichzeitig an der anderen Seite aufgetragen.
- Nachdem die andere Seite photolithographisch mit einer Maske mit Öffnungen an der Stelle der zu bildenden dünneren Teile versehen ist, werden das Siliziumnitrid und das Siliziumoxid aus diesen Öffnungen entfernt. Danach wird das Silizium von der anderen Seite her mit einer verdünnten Lösung von Kaliumhydrat anisotropisch geätzt. Das Siliziumnitrid 5 arbeitet dabei als Ätzstopp.
- Das Siliziumnitrid 5 wird darauf mit einer 200 nm dicken Schicht aus Molybdän bedeckt. Aus dieser Schicht wird das Metallmuster des Erwärmungselements 8 mit den zugeordneten Verbindungsstreifen 9 und Anschlußflächen 14 durch Ätzen in einer Lösung von Salpetersäure, Phosphorsäure und Essigsäure in Wasser hergestellt. Anschließend wird die Einheit mit einer etwa 200 nm dicken Schicht 10 aus Siliziumnitrid bedeckt, die beispielsweise mittels Kathodenzerstäubung angebracht wird. Dieses Verfahren zum Herstellen des Erwärmungselements und zum Anbringen der Nitridschicht 10 kann ebenfalls vor der anisotropischen Ätzbehandlung ausgeführt werden. Das Siliziumnitrid 10 wird an der Stelle der Anschlußflächen 14 entfernt.
- Eine 200 nm dicke Schicht aus Molybdän, aus der das Metällmuster 12 mittels Ätzen gebildet wird und als die wirkliche Kathodenmetallisierung dient, ist auf der Siliziumnitridschicht 10 angebracht. In diesem Ausführungsbeispiel wird ein zweites Metallmuster 18 gleichzeitig gebildet. Dieses Metallmuster 18 kann beispielsweise als Gitter in einer fertiggestellten Anordnung beispielsweise in einer Elektronenstrahlröhre dienen.
- Anschließend wird die Emissionsschicht 13 angebracht, die aus einer Schicht aus Barium-Strontium-Karbonat in diesem Ausführungsbeispiel besteht. Nach dem Verteilen des Substrats in getrennte Kathoden oder Kathodengruppen durch Anritzen oder Brechen, werden Verbindungsdrähte 15, 16 und 17 beispielsweise durch Wärmekompression oder mit anderen Verbindungstechniken auf den Anschlußflächen 14 sowie auch auf geeigneten Teilen der Metallschicht 12 und des Gitters 18 angebracht. Die Verteilung in Gruppen kann derart verwirklicht werden, daß ein Substrat 2 beispielsweise 3 einzelne Emissionsstrukturen 11 enthält, beispielsweise für Farbbildwiedergaberöhren.
- Auf diese Weise erhaltene Kathoden wurden auf 700...800ºC in einer Diodenanordnung mit einem Kathoden/Anodenspalt von 0,2 mm geprüft. Nach einer ununterbrochenen Belastung wurden Stromdichten von 0,3...2 A/cm² gemessen. Die Lebensdauerergebnisse zeichnen sich also zufriedenstellend.
- Die Erfindung beschränkt sich selbstverständlich nicht auf die dargestellten Ausführungsbeispiele, sondern es sind mehrere Abwandlungen im Rahmen der Ansprüche möglich. Beispielsweise braucht an der Stelle des anzubringenden Emissionsmaterials das Substrat 2 nicht über seine ganze Dicke abgeätzt zu werden, aber es kann eine Siliziumschicht zurückbleiben, insbesondere wenn sie höher dotiert ist und daher als Ätzstopp arbeitet.
- Außerdem kann das Erwärmungselement mehrere Formen aufweisen. Eine Anordnung mit diesem Erwärmungselement kann nur selbstverständlich in sichselbst verwendet werden, oder beispielsweise als Teil einer (Alkali-) Metallquelle oder Feldemitter.
- Eine metallorganische Verbindung kann auf andere Weise als ein Emissionsmaterial neben vielen anderen allgemein bekannten Emissionswerkstoffen verwendet werden. Gleichfalls sind mehrere Abwandlungen der Werkstoffe für das Erwärmungselement, für die Verbindungsschichten und für die anderen Werkstoffe möglich, vorausgesetzt sie sind chemisch (und mechanisch) in einer vorgegebenen Kombination kompatibel.
Claims (9)
1. Elektronenquelle mit einem Substrat (2), das auf einer Hauptfläche (3) ein
Erwärmungselement (8) mit einem elektronenemitierenden Werkstoff (13) enthält und
mit einer Ausnehmung unterhalb des Erwärmungselements versehen ist, dadurch
gekennzeichnet, daß die Ausnehmung sich von der Rückfläche des Substrats nach der
Hauptfläche des Substrats hin erstreckt, so daß wenigstens an der Stelle des
elektronenemittierenden Materials (11) das Substrat dünner ist als an anderen Stellen.
2. Elektronenquelle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das
Erwärmungselement und die elektronenemittierende Schicht von einer verhältnismäßig
dünnen Ätzbarriereschicht getragen werden, die das Erwärmungselement und die
elektronenemittierende Schicht von der Ausnehmung trennt.
3. Elektronenquelle nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das
Substrat ein Halbleitermaterial enthält, und daß die Ätzbarriereschicht eine
verhältnismäßig dünne Oberflächenschicht mit einem vom Dotierungspegel des benachbarten Teils
des Substrat abweichenden Dotierungspegel enthält.
4. Elektronenquelle nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die
Ätzbarriereschicht eine verhältnismäßig dünne Oberflächenschicht oben auf der
Hauptfläche des Substrats enthält, und daß die Ätzbarriereschicht ein Material enthält,
mit dem das Substrat selektiv ätzbar ist.
5. Elektronenquelle nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das
Substrat Silizium und die Ätzbarriereschicht eine verhältnismäßig dünne
Sliziumnitridschicht enthält.
6. Kathodenstrahlröhre mit einer Elektronenquelle nach einem oder mehreren
der vorangehenden Ansprüche.
7. Verfahren zum Herstellen einer Elektronenquelle, mit dem ein Substrat
auf einer Hauptfläche mit einer verhältnismäßig dünnen Ätzbarriereschicht versehen ist,
wobei ein Erwärmungselement und eine Schicht aus elektronenemittierendem Material
örtlich auf der Ätzbarriereschicht angebracht sind, und die Rückfläche des Substrats
eine Gesamtreduktionsoperation im Bereich des Erwärmungselements erfährt, bis die
Ätzbarriereschicht erreicht wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Subtrat eine
Dotierbehandlung auf seiner Hauptfläche erfährt, um eine Ätzbarriereschicht zu bilden,
die aus einer verhältnismäßig dünnen dotierten Oberflächenschicht besteht.
9. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Hauptfläche
des Substrats mit einer verhältnismäßig dünnen Schicht aus einem Material bedeckt ist,
mit dem das Substratmaterial selektiv ätzbar ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL9100327A NL9100327A (nl) | 1991-02-25 | 1991-02-25 | Kathode. |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69202362D1 DE69202362D1 (de) | 1995-06-14 |
DE69202362T2 true DE69202362T2 (de) | 1996-01-25 |
Family
ID=19858926
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69202362T Expired - Fee Related DE69202362T2 (de) | 1991-02-25 | 1992-02-18 | Kathode. |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US5475281A (de) |
EP (1) | EP0501560B1 (de) |
JP (1) | JPH0562589A (de) |
DE (1) | DE69202362T2 (de) |
NL (1) | NL9100327A (de) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5354695A (en) * | 1992-04-08 | 1994-10-11 | Leedy Glenn J | Membrane dielectric isolation IC fabrication |
US6714625B1 (en) * | 1992-04-08 | 2004-03-30 | Elm Technology Corporation | Lithography device for semiconductor circuit pattern generation |
US5841219A (en) * | 1993-09-22 | 1998-11-24 | University Of Utah Research Foundation | Microminiature thermionic vacuum tube |
US5831379A (en) * | 1994-01-28 | 1998-11-03 | Samsung Display Devices Co., Ltd. | Directly heated cathode structure |
US6559818B1 (en) | 1995-01-24 | 2003-05-06 | Micron Technology, Inc. | Method of testing addressable emissive cathodes |
US5751262A (en) * | 1995-01-24 | 1998-05-12 | Micron Display Technology, Inc. | Method and apparatus for testing emissive cathodes |
WO1997044803A1 (en) * | 1996-05-21 | 1997-11-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Cathode body structure, electron gun body structure, grid unit for electron gun, electronic tube, heater, and method for manufacturing cathode body structure |
US5831382A (en) * | 1996-09-27 | 1998-11-03 | Bilan; Frank Albert | Display device based on indirectly heated thermionic cathodes |
US5955828A (en) * | 1996-10-16 | 1999-09-21 | University Of Utah Research Foundation | Thermionic optical emission device |
US5955839A (en) * | 1997-03-26 | 1999-09-21 | Quantum Vision, Inc. | Incandescent microcavity lightsource having filament spaced from reflector at node of wave emitted |
US5915167A (en) * | 1997-04-04 | 1999-06-22 | Elm Technology Corporation | Three dimensional structure memory |
US6551857B2 (en) * | 1997-04-04 | 2003-04-22 | Elm Technology Corporation | Three dimensional structure integrated circuits |
JPH11329290A (ja) * | 1998-05-13 | 1999-11-30 | Toshiba Corp | 陰極線管用電子銃およびその組立方法 |
US6748994B2 (en) * | 2001-04-11 | 2004-06-15 | Avery Dennison Corporation | Label applicator, method and label therefor |
GB0129658D0 (en) * | 2001-12-11 | 2002-01-30 | Diamanx Products Ltd | Fast heating cathode |
US6995502B2 (en) * | 2002-02-04 | 2006-02-07 | Innosys, Inc. | Solid state vacuum devices and method for making the same |
US7005783B2 (en) * | 2002-02-04 | 2006-02-28 | Innosys, Inc. | Solid state vacuum devices and method for making the same |
US7402897B2 (en) * | 2002-08-08 | 2008-07-22 | Elm Technology Corporation | Vertical system integration |
CN101297452A (zh) | 2005-09-14 | 2008-10-29 | 力特保险丝有限公司 | 充气式电涌放电器、激活化合物、点火条及相应方法 |
US7846391B2 (en) | 2006-05-22 | 2010-12-07 | Lumencor, Inc. | Bioanalytical instrumentation using a light source subsystem |
US7709811B2 (en) | 2007-07-03 | 2010-05-04 | Conner Arlie R | Light emitting diode illumination system |
US8098375B2 (en) | 2007-08-06 | 2012-01-17 | Lumencor, Inc. | Light emitting diode illumination system |
US8242462B2 (en) | 2009-01-23 | 2012-08-14 | Lumencor, Inc. | Lighting design of high quality biomedical devices |
US8389957B2 (en) | 2011-01-14 | 2013-03-05 | Lumencor, Inc. | System and method for metered dosage illumination in a bioanalysis or other system |
US8466436B2 (en) | 2011-01-14 | 2013-06-18 | Lumencor, Inc. | System and method for metered dosage illumination in a bioanalysis or other system |
US8967846B2 (en) | 2012-01-20 | 2015-03-03 | Lumencor, Inc. | Solid state continuous white light source |
US9217561B2 (en) | 2012-06-15 | 2015-12-22 | Lumencor, Inc. | Solid state light source for photocuring |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3013328A (en) * | 1954-10-22 | 1961-12-19 | Gen Electric | Method of forming a conductive film |
GB962926A (en) * | 1962-03-19 | 1964-07-08 | Rank Bush Murphy Ltd | Improvements in thermionic cathodes and in methods of manufacturing such cathodes |
US3389290A (en) * | 1965-04-06 | 1968-06-18 | Sony Corp | Electron gun device |
NL6703548A (de) * | 1967-03-07 | 1968-09-09 | ||
US3504220A (en) * | 1967-09-14 | 1970-03-31 | Naum Aronovich Iofis | Cathode unit |
US3959037A (en) * | 1975-04-30 | 1976-05-25 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Electron emitter and method of fabrication |
JPS51147171A (en) * | 1975-06-11 | 1976-12-17 | Sony Corp | Flat surface multilayer cathode |
NL7607095A (nl) * | 1976-06-29 | 1978-01-02 | Philips Nv | Trefplaatmontage voor een opneembuis, en werkwijze voor de vervaardiging daarvan. |
DE3466127D1 (en) * | 1983-05-09 | 1987-10-15 | Shaye Communications Ltd | Element |
US4904895A (en) * | 1987-05-06 | 1990-02-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Electron emission device |
US5354695A (en) * | 1992-04-08 | 1994-10-11 | Leedy Glenn J | Membrane dielectric isolation IC fabrication |
US5110373A (en) * | 1988-09-13 | 1992-05-05 | Nanostructures, Inc. | Silicon membrane with controlled stress |
-
1991
- 1991-02-25 NL NL9100327A patent/NL9100327A/nl not_active Application Discontinuation
-
1992
- 1992-02-18 DE DE69202362T patent/DE69202362T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-02-18 EP EP92200454A patent/EP0501560B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1992-02-24 JP JP3633292A patent/JPH0562589A/ja active Pending
-
1995
- 1995-03-30 US US08/415,025 patent/US5475281A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-08-29 US US08/520,444 patent/US5595933A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5475281A (en) | 1995-12-12 |
NL9100327A (nl) | 1992-09-16 |
JPH0562589A (ja) | 1993-03-12 |
DE69202362D1 (de) | 1995-06-14 |
US5595933A (en) | 1997-01-21 |
EP0501560B1 (de) | 1995-05-10 |
EP0501560A1 (de) | 1992-09-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69202362T2 (de) | Kathode. | |
DE2536363C3 (de) | Dünnschicht-Feldelektronenemissionsquelle and Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE2413942C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von Dunnfilm-Feldemissions-Elektronenquellen | |
DE68916875T2 (de) | Bildanzeigegerät und Verfahren zur Herstellung desselben. | |
DE69112171T2 (de) | Feldemissionseinrichtung und Herstellungsverfahren. | |
DE69116859T2 (de) | Elektronenquelle und herstellungsverfahren | |
DE4226888C2 (de) | Diamant-Feldeffekt-Transistor und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE69104393T2 (de) | Flachgestaltete Kaltkathode mit spitzen Enden und Herstellungsverfahren derselben. | |
DE3603725C2 (de) | Verfahren zur Strukturierung von Siliciumcarbid | |
DE69205640T2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Mikroelektronisches Bauelement. | |
DE2539234A1 (de) | Feldemissionsgeraet und verfahren zu seiner herstellung | |
DE69101797T2 (de) | Elektronenröhrenkathode. | |
DE2944913A1 (de) | Solarzelle mit amorphem siliziumkoerper | |
DE3151101A1 (de) | Gleichstrom-gasentladungsanzeige | |
DE102007036921A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Siliziumsolarzellen | |
DE2436449C3 (de) | Schottky-Diode sowie Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE2647396A1 (de) | Gasentladungspaneel | |
DE102007026365A1 (de) | Halbleitervorrichtungen und Verfahren zur Herstellung derselben | |
DE2908146C2 (de) | ||
DE1810447A1 (de) | Halbleiterplaettchen und Verfahren zu deren Herstellung | |
DE69016235T2 (de) | Hochtemperaturbauteil. | |
DE3217026A1 (de) | Halbleitervorrichtung | |
DE2550346A1 (de) | Verfahren zum herstellen eines elektrisch isolierenden bereiches in dem halbleiterkoerper eines halbleiterbauelements | |
EP0170130A1 (de) | Leuchtschirm für Bildanzeigegeräte und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE2635289A1 (de) | Traegermetallplatte fuer direkt erhitzte oxidkathode und verfahren zu deren herstellung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |