DE68902224D1 - Verfahren zum analysieren von optischen komponenten, optischen fasern oder netzwerken von optischen leitern durch zeitbereichsreflektometrie und zeitbereichsreflektometer. - Google Patents

Verfahren zum analysieren von optischen komponenten, optischen fasern oder netzwerken von optischen leitern durch zeitbereichsreflektometrie und zeitbereichsreflektometer.

Info

Publication number
DE68902224D1
DE68902224D1 DE8989403462T DE68902224T DE68902224D1 DE 68902224 D1 DE68902224 D1 DE 68902224D1 DE 8989403462 T DE8989403462 T DE 8989403462T DE 68902224 T DE68902224 T DE 68902224T DE 68902224 D1 DE68902224 D1 DE 68902224D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
optical
time area
ladders
networks
reflectometry
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE8989403462T
Other languages
English (en)
Other versions
DE68902224T2 (de
Inventor
Claude Froehly
Paul Facq
Dominique Pagnoux
Pierre Faugeras
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Engie SA
Original Assignee
Gaz de France SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Gaz de France SA filed Critical Gaz de France SA
Publication of DE68902224D1 publication Critical patent/DE68902224D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE68902224T2 publication Critical patent/DE68902224T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
DE8989403462T 1988-12-14 1989-12-13 Verfahren zum analysieren von optischen komponenten, optischen fasern oder netzwerken von optischen leitern durch zeitbereichsreflektometrie und zeitbereichsreflektometer. Expired - Lifetime DE68902224T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR888816459A FR2640379B1 (fr) 1988-12-14 1988-12-14 Procede d'analyse de composants d'optique guidee, fibres optiques ou reseaux de guides optiques par reflectometrie temporelle et reflectometre dans le domaine temporel

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE68902224D1 true DE68902224D1 (de) 1992-08-27
DE68902224T2 DE68902224T2 (de) 1992-12-10

Family

ID=9372932

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE8989403462T Expired - Lifetime DE68902224T2 (de) 1988-12-14 1989-12-13 Verfahren zum analysieren von optischen komponenten, optischen fasern oder netzwerken von optischen leitern durch zeitbereichsreflektometrie und zeitbereichsreflektometer.

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5045689A (de)
EP (1) EP0374043B1 (de)
JP (1) JPH03122538A (de)
CA (1) CA2005607C (de)
DE (1) DE68902224T2 (de)
FR (1) FR2640379B1 (de)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5189299A (en) * 1988-06-20 1993-02-23 Virginia Polytechnic Institute & State University Method and apparatus for sensing strain in a waveguide
EP0716297B1 (de) * 1994-11-26 1998-04-22 Hewlett-Packard GmbH Optisches Zeitbereichreflektometer und Verfahren zur optischen Zeitbereichreflektometrie
JP3453746B2 (ja) * 1995-02-09 2003-10-06 横河電機株式会社 光ファイバ検査装置
JP3453745B2 (ja) * 1995-02-02 2003-10-06 横河電機株式会社 光ファイバ検査装置
US5844235A (en) * 1995-02-02 1998-12-01 Yokogawa Electric Corporation Optical frequency domain reflectometer for use as an optical fiber testing device
US5566263A (en) * 1995-03-22 1996-10-15 Minnesota Mining And Manufacturing Company System for tuning an integrated optical switch element
US6930813B1 (en) * 2000-04-25 2005-08-16 J.A. Woollam Co. Inc. Spatial filter source beam conditioning in ellipsometer and the like systems
CN109186948B (zh) * 2018-11-14 2020-05-19 温州锐翔装饰工程有限公司 装保护盖装置和光纤器件测试设备
CN114184356B (zh) * 2021-11-25 2024-01-09 苏州六幺四信息科技有限责任公司 一种光电探测器非线性分析方法及装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2393287A1 (fr) * 1977-05-31 1978-12-29 Cables De Lyon Geoffroy Delore Echometre pour la localisation de defauts affectant les conducteurs de lumiere
DE2850430A1 (de) * 1978-11-21 1980-05-29 Siemens Ag Justieren miteinander zu verbindender enden zweier lichtleitfasern
DE3609371A1 (de) * 1986-03-20 1987-09-24 Philips Patentverwaltung Optisches zeitbereichsreflektometer mit heterodyn-empfang
JPS636483A (ja) * 1986-06-27 1988-01-12 Hamamatsu Photonics Kk 時間間隔測定装置
JPH0828680B2 (ja) * 1987-07-23 1996-03-21 国際電信電話株式会社 双方向光ファイバ通信系の障害点監視方式
US4875772A (en) * 1988-10-04 1989-10-24 Laser Precision Corporation Remotely controlled optical time domain reflectometer serving a plurality of fiber optic cables

Also Published As

Publication number Publication date
FR2640379A1 (fr) 1990-06-15
CA2005607A1 (en) 1990-06-14
JPH03122538A (ja) 1991-05-24
EP0374043B1 (de) 1992-07-22
US5045689A (en) 1991-09-03
FR2640379B1 (fr) 1994-07-01
EP0374043A1 (de) 1990-06-20
CA2005607C (en) 1994-12-06
DE68902224T2 (de) 1992-12-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE68907886D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum anwenden von optischen zeitbereichsreflektometern.
DE3482500D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum verbinden optischer fasern.
DE69415867D1 (de) Selektives Abdichten von defekten Fasern
DE69002828D1 (de) Verfahren zum nachweis von elektrischen leitern.
DE69004140D1 (de) Verfahren zum Ziehen von optischen Fasern.
DE69016900D1 (de) Analysator von Isotopenzusammensetzungen.
DE59405710D1 (de) Mittel zur rauchsimulation für streulichtrauchmelder, verfahren zum abgleich von deren rauchempfindlichkeit und verwendung des mittels
DE3485076D1 (de) Reagenzien, testsaetze und verfahren zum nachweis der kannabinoide.
DE3675036D1 (de) Verfahren zum herstellen von optischen mehrkernfasern.
DE68902321D1 (de) Verfahren zum bestimmen der strahlungsverluste von faserverbindungen.
DE68925018D1 (de) Verfahren zum Lichtbogen-Spleissen von hermetisch ummantelten optischen Fasern.
DE59002426D1 (de) Verfahren zum Einfärben von Baustoffen.
DE3668560D1 (de) Verfahren zum reinigen, insbesondere entschwefelung von rauchgas.
DE3879137D1 (de) Verfahren zum pruefen der schweissstelle von optischen fasern.
DE3767747D1 (de) Verfahren zum bestimmen von abmessungen.
DE68902224D1 (de) Verfahren zum analysieren von optischen komponenten, optischen fasern oder netzwerken von optischen leitern durch zeitbereichsreflektometrie und zeitbereichsreflektometer.
DE68916160D1 (de) Zusammensetzung zum Behandeln von Fasern.
DE3787273D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Durchführen von optischen Fasern durch röhrenförmige Artikeln.
DE58904889D1 (de) Verfahren zum monolithischen herstellen von stirnflaechenkoppelbaren optoelektronischen und/oder optischen bauelementen mit stegwellenleiterstruktur.
DE69009215D1 (de) Analysator von optischen Bestandteilen.
DE3873094D1 (de) Verfahren zur aufbereitung von gas.
DE69012199D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Biegen und Härten von Glasscheiben.
ATA8990A (de) Mikrowellenveraschungs- und analysegerät, komponenten und verfahren
DE69301417D1 (de) Vorrichtung zum schrägen Schneiden von einer oder mehreren optischen Fasern
NO164432C (no) Broenntestemetode.

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee