DE4416108C2 - Vorrichtung zum berührungsfreien Vermessen einer Objektoberfläche - Google Patents
Vorrichtung zum berührungsfreien Vermessen einer ObjektoberflächeInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum berührungsfreien
Vermessen einer Objektoberfläche.
Aus der DE 42 06 836 A1 ist eine als Handsonde ausgestaltete
Vorrichtung bekannt, bei der eine Projektionsvorrichtung vorge
sehen ist, mit der mit mehreren ringförmig und fest zueinander
angeordneten, vorzugsweise als Lichtleitfasern ausgebildeten
Projektionsstrahlführungsvorrichtungen entlang räumlich verschie
den ausgerichteter Projektionsachsen in einem Phasenverschiebe
verfahren sich überlappende Streifenmuster auf die Oberfläche von
als Zähne oder Zahngruppen ausgebildeten Objekten projizierbar
sind. Zu den Projektionsachsen paralleler Einfallsgeraden schnei
den sich in einem Referenzpunkt und schließen mit einer durch
den Referenzpunkt verlaufenden Referenzgeraden jeweils einen
von null verschiedenen Projektionswinkel ein. Dabei sind Zwi
schenwinkel zwischen Einfallsebenen, die von durch die Einfall
geraden verlaufenden und rechtwinklig zu der Objektoberfläche
stehenden Ebenen gebildet sind, von null verschieden und bei
Abtragen der Zwischenwinkel einen Kreis um den Referenzpunkt
ist wenigstens einer der Zwischenwinkel kleiner als 180 Grad.
Die Detektionsvorrichtung verfügt über vorzugsweise als Licht
leitfasern ausgebildete Beobachtungsstrahlführungsvorrichtungen,
mit denen die auf der Objektoberfläche abgebildeten Streifen
muster auf eine Anzahl von Detektorelementen zeitlich oder räum
lich getrennt abbildbar ist. Dabei ist jeder Projektionsstrahlfüh
rungsvorrichtung eine Beobachtungsstrahlführungsvorrichtung
zugeordnet, wobei die zugeordneten Strahlführungsvorrichtungen
unter einem Paralaxewinkel zueinander angeordnet sind.
Nach Aufnahme der Streifenmuster mit überlappender Projektion
mehrerer parallel zueinander verschobener Einzelstreifenmuster
aus verschiedenen Richtungen in einer Rundumaufnahme ist ein
verbesserter Datensatz der Konturen des Objektes verfügbar und
in einer Auswertevorrichtung auf der Grundlage von einem Phasen
Wert für jede Projektionsrichtung, den Relativkoordinaten der
Detektorelemente sowie Kenntnis der die Projektionsvorrichtungen
und Beobachtungsvorrichtungen kennzeichnenden Parameter zur
Bestimmung der Oberflächenkontur des Objektes gewinnbar.
Mit dieser optischen Mundsonde sind zwar Zähne in der Mund
höhle eines Patienten dreidimensional vermessbar, allerdings ist
zur genauen Bestimmung der Oberflächenkontur eine genaue
Kenntnis der die Projektionsvorrichtung und die Beobachtungsvor
richtung kennzeichnenden geometrischen und optischen Parameter
notwendig. Gerade dies ist jedoch nur mit einem sehr hohen
Aufwand wie beispielsweise einer exakten Einzelvermessung der
optischen Projektions- und Beobachtungsverhältnisse der Vor
richtung durchführbar.
Aus der DE 41 42 676 A1 ist eine weitere Vorrichtung zum be
rührungsfreien Vermessen von Zahnrädern mittels projizierter
Streifenmuster bekannt. Bei dieser Vorrichtung ist jeweils ein
Streifenmuster auf eine Zahnflanke eines Zahnrades projizierbar,
so daß gleichzeitig eine Vermessung der beiden Zahnflanken eines
Zahnes möglich ist. Zum Vermessen der einzelnen Zähne ist das
Zahnrad drehbar gelagert. Dabei ist jedoch die genaue Kenntnis
der die Projektionsvorrichtung und die Detektionsvorrichtung kenn
zeichnenden Parameter notwendig.
Aus der US-A-4,657,394 ist eine weitere Vorrichtung zum berüh
rungsfreien Vermessen einer Objektoberfläche bekannt, bei der ein
mittels einer Projektionsvorrichtung mit einem verschiebbaren
Streifenmuster bestrahltes dreidimensionales Objekt drehbar ist,
wobei mittels einer Detektorelemente aufweisenden Detektions
vorrichtung die Streifenmuster bei unterschiedlichen Stellungen
des Objektes detektierbar sind. Bei dieser Vorrichtung sind Linien
profile des Objektes berechenbar, allerdings müssen hierfür auch
die Projektions- und Detektionsparameter bekannt sein.
Aus der US-A-4,511,252 ist eine weitere Vorrichtung zum berüh
rungsfreien Vermessen einer Objektoberfläche bekannt, bei der auf
ein Objekt mehrere, das Objekt in verschiedene Bereiche unter
teilende Muster projizierbar sind. Mittels mehrerer Bildaufnahme
vorrichtung, die das gesamte Objekt in ihrem Sichtbereich haben,
ist das Objekt mit jedem projizierten Muster aufnehmbar. Die
einzelnen zusammengefügten Bilder der Bildaufnahmevorrichtun
gen ergeben ein Bild der Objektoberfläche, wobei zur Bestimmung
der dreidimensionalen Koordinaten die Objektdaten mit zuvor an
einem Referenzobjekt aufgenommenen Bildern korreliert sind.
Weitere Vorrichtungen zum berührungsfreien Vermessen von
Objekten sind aus der EP 0 445 618 A2 und der EP 0 451 474 A2
bekannt. Bei der Vorrichtung gemäß der EP 0 445 618 A2 weist
die Projektionsvorrichtung in einem Ausführungsbeispiel drei in
einer Gitterebene angeordnete, jeweils von einer Projektionslampe
ausgeleuchtete Projektionsgitter mit zueinander parallel ausgerich
teten Gitterlinien auf. Mit einer als Detektionsvorrichtung dienen
den Kamera sind die nacheinander im Zeitmultiplexbetrieb auf die
Objektoberfläche projizierten Streifenmuster detektierbar und in
eine Auswerteeinheit einspeisbar. Die Projektionsgitter liegen in
der Gitterebene auf einer Geraden und die von den Projektions
lampen über die Projektionsgitter zu der Objektoberfläche ver
laufenden Projektionsachsen schließen mit der Beobachtungsachse
der Kamera verschiedene Winkel ein, wobei die Projektionsachsen
durch zwei Projektionsgitter einen verhältnismäßig großen Winkel
von etwa 30 Grad zueinander aufweisen und die Projektionsach
sen durch zwei dicht nebeneinander angeordneten Projektions
gitter einen verhältnismäßig kleinen Winkel von 0,5 Grad einschlie
ßen.
Durch diese Anordnung sind zwei Sätze von Ebenen konstanter
Phasendifferenz definiert, wobei die beiden Sätze unterschiedlich
effektive Wellenlängen in Projektionsrichtung zugeordnet werden
können. Die effektiven Wellenlängen sind durch die Gitterkon
stante der Projektionsgitter und die Winkel zwischen den
Projektionsachsen der jeweiligen Projektoren bestimmt und hängen
bei gleichen Gitterkonstanten der Projektionsgitter nur von den
Winkeln zwischen den Projektionsachsen ab. Durch Auswerten
von Schwebungsfrequenzen beziehungsweise von Phasendifferen
zen an den Meßpunkten sind der Abstand sowie die Lateralkoor
dinaten von Meßpunkten auf der Objektoberfläche unter Berück
sichtigung der Anordnung der Beobachtungslinse und der geo
metrischen Abmessungen der Kamera bestimmbar.
Mit den letztgenannten Vorrichtungen ist zwar eine eindeutige, ab
solute Abstandmessung im gesamten Meßbereich gewährleistet,
allerdings gehen in die Berechnung der Meßpunktkoordinaten
Abbildungsfehler der Projektionsvorrichtung sowie der Detektions
vorrichtung und prinzipiell stark fehlerbehaftete Subtraktionen von
etwa gleich großen Meßgrößen ein, so daß bei ungünstigen Meß
bedingungen die Meßpunktkoordinaten verhältnismäßig fehler
behaftet sind.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung der
eingangs genannten Art zu schaffen, die sich durch präzise Meß
ergebnisse auch bei nur unzureichender Kenntnis insbesondere der
die Projektionsvorrichtung kennzeichnenden Parameter auszeich
net.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch eine Vorrich
tung zum berührungsfreien Vermessen einer Objektoberfläche mit
- - Mitteln, mit denen in Richtung von wenigstens drei bezüglich eines Koordinationssystems der Objektoberfläche räumlich verschieden ausgerichteten Projektionsachsen sich überlappen de Streifenmuster so auf die Objektoberfläche eines Objekts projizierbar sind, daß sich zu den Projektionsachsen parallele Einfallsgeraden in einem Referenzpunkt auf der Objektober fläche schneiden sowie mit einer durch den Referenzpunkt verlaufenden Referenzgeraden jeweils einen von Null verschie denen Projektionswinkel einschließen und daß Zwischenwinkel (43, 44, 45) zwischen Einfallsebenen, die von durch die Einfallsgeraden verlaufenden und rechtwinklig zu der Objekt oberfläche stehenden Ebenen gebildet sind, von Null verschie den sind sowie bei Abtragen der Zwischenwinkel in einem Kreis um den Referenzpunkt wenigstens einer der Zwischenwinkel kleiner als 180 Grad ist,
- - einer Detektionsvorrichtung, mit der Linien aller paarweise von Null verschiedene Streifenwinkel einschließenden Streifenmu ster aus einer Beobachtungsrichtung im Koordinationssystem der Objektoberfläche erfaßbar sind, und
- - einer Auswertevorrichtung, mit der die Phasenlagen aller proji zierten Streifenmuster an den Meßpunkten in bezug auf den Referenzpunkt bestimmbar sind und allein mit den vorgegebe nen Projektionswinkeln, Zwischenwinkeln und Ortsfrequenzen der Streifenmuster mit einer Recheneinheit der Auswertevor richtung die aufgrund der Projektionsgeometrie linear vonein ander unabhängigen Phasenlagen der Streifenmuster an den Meßpunkten in bezug auf den Referenzpunkt in Meßpunktkoor dinaten umrechenbar sind.
Dadurch, daß Linien von verschiedenen paarweise von null ver
schiedene Streifenwinkel einschließenden Streifenmustern mit der
gleichen, starr mit dem Objekt koppelbaren Detektionsvorrichtung
erfaßbar sind und die Bestimmung der Phasenlage aller projizierten
Streifenmuster in bezug auf den sich auf der Objektoberfläche
befindlichen Referenzpunkt sowie die Umrechnung der Phasen
lagen der Streifenmuster an den Meßpunkten in bezug auf den
Referenzpunkt in Meßpunktkoordinaten allein anhand der vor
gegebenen Projektionswinkel, Zwischenwinkel und Ortsfrequenzen
der Streifenmuster erfolgt, ist die Vorgabe weiterer, die optischen
Verhältnisse kennzeichnender Parameter überflüssig, da die wink
lig zueinander ausgerichteten Streifenmuster linear voneinander
unabhängige Phasenwerte liefern, aus denen die Meßpunktkoor
dinaten ableitbar sind.
In einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung sind Gitterlinien
eines einzelnen Projektionsgitters als Streifenmuster in einem aus
einer Beleuchtungsvorrichtung der Projektionsvorrichtung aus
tretenden Projektionslichtbündel über drei auf einem Kreisumfang
angeordnete Projektionsspiegel auf die Objektoberfläche projizier
bar, wobei in diesem Ausführungsbeispiel die Referenzgerade
durch den Mittelpunkt des Kreises verläuft und sich die Projek
tionsachsen in dem Referenzpunkt schneiden. Mit einem dreh
baren Umlenkspiegel sind die Projektionsspiegel nacheinander mit
dem Projektionslichtbündel beaufschlagbar. Die Streifenwinkel, Pro
jektionswinkel und Zwischenwinkel weisen jeweils gleiche Werte
auf, so daß diese Vorrichtung zum Vermessen von Objektober
flächen mit vollkommen unregelmäßigen Konturen besonders
geeignet ist, da bei der Projektion der Streifenmuster keine Raum
richtung bevorzugt ist. Insbesondere wird durch eine derartige
Geometrie der Anordnung erreicht, daß sich nicht vermeidbare
Fehler bei der Messung der Phasenlagenwerte minimal auf die Ge
nauigkeit der Koordinatenbestimmung auswirken.
In einem weiteren vorteilhaften Ausführungsbeispiel der
Erfindung ist das Objekt mit der zu vermessenden Objekt
oberfläche zentrisch auf einem Drehtisch angebracht. Die
Projektionsvorrichtung und der Drehtisch sind starr
miteinander verbunden, so daß in allen Stellungen des
Drehtisches jeweils gleiche Meßpunkte auf der Objekt
oberfläche an gleiche Orte der Detektionsvorrichtung
abgebildet sind. Die Beobachtungsrichtung der
Detektionsvorrichtung fällt in diesem Ausführungsbei
spiel mit der Drehachse des Drehtisches zusammen. Mit
der Projektionsvorrichtung sind die Gitterlinien eines
einzigen Projektionsgitters unter einem Projektions
winkel auf die Objektoberfläche projizierbar, wobei
durch Verdrehen des Drehtisches bezüglich des Ko
ordinatensystems des Meßraumes verschiedene Zwischen
winkel und Streifenwinkel einstellbar sind.
Weitere zweckmäßige Ausgestaltungen und Vorteile der
Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen und der
nachfolgenden Figurenbeschreibung. Es zeigen:
Fig. 1 eine Vorrichtung zum berührungslosen Vermessen
einer Objektoberfläche mit einer sequentiellen
Projektion von Streifenmustern über drei
Projektionsspiegel,
Fig. 2 in einer vergrößerten Darstellung die Anordnung
der Projektionsspiegel gemäß Fig. 1 und
Fig. 3 eine weitere Vorrichtung zum berührungslosen
Vermessen einer Objektoberfläche, bei der die
Objektoberfläche gegenüber der Projektionsvor
richtung drehbar ist.
Bei der in Fig. 1 dargestellten Vorrichtung zum be
rührungsfreien Vermessen einer Objektoberfläche weist
eine Projektionsvorrichtung 1 eine Weißlichtquelle 2
auf, deren Ausgangslicht 3 über Kondensorlinsen 4, 5 ein
Projektionsgitter 6 mit äquidistanten, parallel zuein
ander angeordneten Gitterlinien 7 beaufschlagt. Nach
Durchtritt durch das Projektionsgitter 6 fällt das
Ausgangslicht 3 durch eine lichtdurchlässige, plan
parallele Phasenschieberplatte 8, die um eine parallel
zu den Gitterlinien verlaufende Achse mit einem in Fig.
1 nicht dargestellten Schrittmotor drehbar ist. Nach
Durchtritt durch die Phasenschieberplatte 8 durchläuft
das durch die Gitterlinien 7 intensitätsmodulierte
Ausgangslicht 3 zwei Projektionslinsen 9, 10 eines
telezentrischen Abbildungssystemes, mit denen ein
Projektionslichtbündel 11 gebildet ist, das aus der
durch die Lichtquelle 1, den Linsen 3, 4, 9, 10 sowie
dem Projektionsgitter 7 und der Phasenschieberplatte 8
gebildeten Beleuchtungsvorrichtung 12 austritt.
Das Projektionslichtbündel 11 ist nach Austritt aus der
Beleuchtungsvorrichtung 12 in Richtung eines Verteiler
spiegels 13 einer Umlenkvorrichtung 14 gerichtet. Der
Verteilerspiegel 13 ist drehbar, wobei in einer ersten,
aus der Strahlachse 15 des Projektionslichtbündels 11
gedrehten Stellung das Projektionslichtbündel 11 auf
einen ersten Projektionsspiegel 16 fällt und in zwei
weiteren Stellungen des Verteilerspiegels 13 das Pro
jektionslichtbündel 11 auf einen zweiten Projektions
spiegel 17 sowie einen dritten Projektionsspiegel 18
gelenkt ist.
Die Projektionsspiegel 16, 17, 18 lenken das
Projektionslichtbündel 11 auf eine zu vermessende
Objektoberfläche 19 eines sich in dem Meßraum befind
lichen Objektes 20. Auf der Objektoberfläche 19 sind
somit durch Drehen des Verteilerspiegels 13 nacheinander
ein erstes Streifenmuster 21, ein zweites Streifenmuster
22 und ein drittes Streifenmuster 23 mit einer großen
Tiefenschärfe projizierbar. In der Darstellung gemäß
Fig. 1 sind die Streifenmuster 21, 22, 23 zusammen
dargestellt, um die weiter unten genauer erläuterte
winklige Ausrichtung der Streifenmuster 21, 22, 23 zu
zeigen. Durch die Anordnung der Projektionsspiegel 16,
17, 18 beispielsweise auf einem Kreisumfang um den
Verteilerspiegel 13 mit vorzugsweise jeweils gleichen
Zwischenwinkeln fallen die Streifenmuster 21, 22, 23
winklig zueinander ausgerichtet auf die Objektoberfläche
19.
Über einen Ablenkspiegel 24 ist mit einer ortsauf
lösenden Kamera 25 der Verlauf der Streifenmuster 21,
22, 23 auf der Objektoberfläche 19 detektierbar. Die
Kamera 25 ist vorzugsweise eine sogenannte "charged
coupled device"- (CCD-) Kamera. Das Ausgangssignal der
Kamera 25 ist über eine Datenleitung 26 einer als Aus
wertevorrichtung dienenden Auswerteeinheit 27 mit einer
Eingabetastatur 28 und einem Bildschirm 29 einspeisbar.
Fig. 2 zeigt in einer gegenüber Fig. 1 vergrößerten
Darstellung die Anordnung der mit den Bildern der
Gitterlinien 7 beaufschlagten Projektionsspiegel 16, 17,
18, wobei in Fig. 2 aus Gründen der besseren Übersicht
lichkeit der Verteilerspiegel 13 und der Ablenkspiegel
24 nicht dargestellt sind. In Fig. 2 ist ein Ko
ordinatensystem mit zwei in einer Ebene durch einen
Referenzpunktes 30 liegenden Koordinatenachsen 31, 32
als x-Achse beziehungsweise y-Achse sowie einer sich
durch den Referenzpunkt 30 erstreckenden Referenzgeraden
33 als zu der durch die Koordinatenachsen 31, 32 aufge
spannten Ebene rechtwinklig stehenden z-Achse eines
bezüglich dem Objekt 20 festen Koordinatensystems in dem
Meßraum dargestellt.
In dem in Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel sind
die Projektionsspiegel 16, 17, 18 auf einem Kreisumfang
angeordnet, wobei die Referenzgerade 33 rechtwinklig zu
der Kreisfläche durch den Mittelpunkt des Kreises ver
läuft. Die sich zwischen dem ersten Projektionsspiegel
16 und dem Referenzpunkt 30 erstreckende erste Pro
jektionsachse 34, die sich zwischen dem zweiten Pro
jektionsspiegel 17 und dem Referenzpunkt 30 erstreckende
zweite Projektionsachse 35 sowie die sich zwischen dem
dritten Projektionsspiegel 18 und dem Referenzpunkt 30
erstreckende dritte Projektionsachse 36 schneiden sich
als Einfallsgeraden in dem Referenzpunkt 30 und
schließen mit der Referenzgeraden 33 jeweils einen
ersten Projektionswinkel 37, einen zweiten Projektions
winkel 38 und einen dritten Projektionswinkel 39 ein.
Jede der Projektionsachsen 34, 35, 36 liegt außerhalb
einer durch die beiden anderen Projektionsachsen 34, 35,
36 aufgespannten Projektionsachsenebene, wobei bei dem
in Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel die Re
ferenzgerade 33 innerhalb des durch die Projektions
achsen 34, 35, 36 begrenzten Pyramidenvolumens verläuft.
Der in Fig. 2 nicht dargestellte Ablenkspiegel 24 ist
vorteilhafterweise in Richtung der Referenzgeraden 33
angeordnet.
In dem in Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel
weisen die Projektionswinkel 37, 38, 39 einen gleichen
Wert von etwa 35 Grad auf. Bei diesem Winkel wirken sich
Fehler der Phasenlagenmeßwerte minimal auf die Genauig
keit der Koordinatenbestimmung aus. Bei stark kontu
rierten Objektoberflächen 19 ist eine Veränderung der
Projektionswinkel 37, 38, 39 zweckmäßig, wobei die Werte
vorteilhafterweise zwischen 20 Grad und 70 Grad liegen.
Zwischen den Projektionsachsen 34, 35, 36 und der
Referenzgeraden 33 sind jeweils eine erste Projektions
ebene 40, eine zweite Projektionsebene 41 und eine
dritte Projektionsebene 42 aufgespannt. Ein erster
Zwischenwinkel 43 zwischen der ersten Projektionsebene
40 und der zweiten Projektionsebene 41, ein zweiter
Zwischenwinkel 44 zwischen der zweiten Projektionsebene
41 und der dritten Projektionsebene 42 sowie ein dritter
Zwischenwinkel 45 zwischen der dritten Projektionsebene
42 und der ersten Projektionsebene 40 sind jeweils von
Null verschieden und weisen in diesem Ausführungsbei
spiel in der durch Pfeile gekennzeichneten Umlauf
richtung auf einem Kreis jeweils einen Wert von 120 Grad
auf. Gleiche Werte für die Zwischenwinkel 43, 44, 45
sind für eine hohe Genauigkeit der Koordinatenbestimmung
in allen drei Raumrichtungen vorteilhaft. Um Einflüsse
der Objektoberfläche 19, wie beispielsweise Glanz
lichter, auf die Genauigkeit der Phasenlagenmeßwerte und
damit der Koordinatenbestimmung zu vermeiden, kann es
zweckmäßig sein, die Zwischenwinkel 43, 44, 45 mit einem
von 120 Grad verschiedenen Wert vorzusehen, wobei jedoch
bei gleichsinniger Abtragung wenigstens ein Zwischen
winkel 43, 44, 45 kleiner als 180 Grad ist und jeweils
die beiden anderen Zwischenwinkel 43, 44, 45 vorzugs
weise wenigstens einen Wert von 45 Grad aufweisen.
In der Darstellung der Fig. 2 sind entsprechend zu Fig.
1 das erste Streifenmuster 21, das zweite Streifenmuster
22 und das dritte Streifenmuster 23 miteinander über
lagert dargestellt. In einer Ebene schließen die
parallelen Linien des ersten Streifenmusters 21 mit den
parallelen Linien des zweiten Streifenmusters 22 einen
ersten Streifenwinkel 46, die parallelen Linien des
zweiten Streifenmusters 22 mit den parallelen Linien des
dritten Streifenmusters 23 einen zweiten Streifenwinkel
47 und die parallelen Linien des dritten Streifenmusters
23 mit den parallelen Linien des ersten Streifenmusters
21 einen dritten Streifenwinkel 48 ein, so daß zur
Bestimmung der Phasenlagen der Meßpunkte für die drei
Koordinaten Streifenmuster 21, 22, 23 mit sich in drei
Richtungen erstreckenden Linien vorhanden sind.
Mit der in Fig. 1 und Fig. 2 dargestellten Vorrichtung
sind die Koordinaten von Meßpunkten auf die Objektober
fläche 19 in Bezug auf den Referenzpunkt 30 bei vor
gegebenen Projektionswinkeln 37, 38, 39, Zwischenwinkeln
43, 44, 45 sowie der durch die räumliche Periodizität
der Streifenmuster 21, 22, 23 festgelegten Orts
frequenzen der Streifenmuster bestimmbar, wobei zur
Bestimmung der Meßpunktkoordinaten nach einer weiter
unten beschriebenen Messung der Phasenlage der Streifen
muster 21, 22, 23 an den Meßpunkten für die Meßpunkt
koordinaten folgendes Gleichungssystem bei einer tele
zentrischen Projektionsvorrichtung 1 mit einer Rechen
einheit der Auswerteeinheit 27 lösbar ist:
ΔΦi= 2π/Λ [(x cos Θi + y sin Θi)cos αi + z sin αi],
wobei ΔΦi der Phasenlage des i-ten Streifenmusters 21,
22 oder 23, 2π/Λ der Ortsfrequenz der in diesem Aus
führungsbeispiel mit gleicher Periodizität versehenen
Streifenmuster 21, 22, 23, Θi dem i-ten Zwischenwinkel
43, 44 oder 45, wobei die Θi jeweils den Winkeln
zwischen Projektionen von zwei Projektionsachsen 34, 35,
36 auf die durch die Koordinatenachsen 31, 32 aufge
spannten Ebene entsprechen, und αi dem i-ten Pro
jektionswinkel 37, 38 oder 39 mit i = 1, 2, 3 entspricht
sowie x, y, z die Meßpunktkoordinaten in dem durch die
Koordinatenachsen 31, 32 sowie der Referenzgeraden 33
gebildeten objektfesten Koordinatensystem repräsen
tieren. Bei einer telezentrischen Projektionsvorrichtung
1 sind die Ortsfrequenzen 2π/Λ ortsunabhängig und somit
die Lösung des Gleichungssystemes besonders einfach. Bei
einer nicht telezentrischen Projektionsvorrichtung 1
erfolgt die Koordinatenbestimmung in ähnlicher Weise,
wobei sich jedoch das Gleichungssystem durch die orts
abhängigen Ortsfrequenzen 2π/Λ ändert.
Die durch die Projektionsgeometrie linear voneinander
unabhängigen Phasenlagen ΔΦi sind mit der Auswerte
einheit 27 und dem daran angeschlossenen, in Fig. 1
nicht dargestellten Schrittmotor bei verschiedenen
Stellungen der drehbaren Phasenschieberplatte 8 in einem
an sich bekannten Phasenschrittverfahren durch schritt
weises Variieren der Phasenlage und Zählen der Phasen
sprünge sowie einer Korrelation zwischen der Schrittzahl
zum Erreichen des bezüglich der Phasenlage des Meß
punktes nächsten Phasensprunges und der relativen
Phasenlage des Meßpunktes in dem letzten Phaseninterval
bestimmbar. Durch die Projektion der Gitterlinien 7 des
Projektionsgitters 6 auf die Objektoberfläche 19 aus
verschiedenen Richtungen ist einerseits eine schatten
freie Projektion und andererseits durch die Verwendung
von für die Umlenkvorrichtung 14 charakteristischen,
genau bestimmbaren geometrischen Winkel und Phasenlagen
werten eine hohe Genauigkeit sowie insbesondere eine
Unabhängigkeit von für die Beleuchtungseinrichtung 12
kennzeichnenden Parametern erreicht.
Fig. 3 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel einer
Vorrichtung zum berührungsfreien Vermessen einer Objekt
oberfläche 19, bei der die Auswerteeinheit 27 über die
Datenleitung 26 mit der unmittelbar über der zur ver
messenden Objektoberfläche 19 des Objektes 20 ange
ordneten Kamera 25 verbunden ist. Die Kamera 25 ist über
einen Kameraarm 49 an einem Drehtisch 50 angebracht. Der
Drehtisch 50 ist drehbar auf einer Standplatte 51 be
festigt, wobei in diesem Ausführungsbeispiel die Dreh
achse des Drehtisches 50 mit der Beobachtungsachse 52
der Kamera 25 zusammenfällt. In einem Abstand von der
Drehachse des Drehtisches 50 ist an einem an der Stand
platte 51 angebrachten Projektionsarm 53 ein Streifen
projektor 54 angebracht, mit dem in dem raumfesten
Koordinatensystem der gesamten Vorrichtung ein einziges
Streifenmuster auf die Objektoberfläche 19 projizierbar
ist.
Bei der in Fig. 3 dargestellten Vorrichtung sind in drei
unterschiedlichen Stellungen des Drehtisches 50 mit der
Kamera 25 drei bezüglich des Koordinatensystems der
Objektoberfläche 19 verschieden einfallende Streifen
muster auf der Objektoberfläche 19 detektierbar und über
die Datenleitung 26 der Auswerteeinheit 27 einspeisbar.
Bei vorgegebenen Drehwinkeln des Drehtisches 50 sowie
dem Winkel zwischen der Beobachtungsachse 52 und der
Projektionsachse 55 des Streifenprojektors 54 sind bei
bekannter Phasenlage der Meßpunkte in Bezug auf die in
unterschiedlichen Ausrichtungen der Objektoberfläche 19
auftreffenden Linien des Streifenmusters gemäß obiger
Gleichung die Meßpunktkoordinaten bestimmbar. Die in
Fig. 3 dargestellte Vorrichtung zeichnet sich durch
einen optisch stabilen und mechanisch einfachen Ausbau
aus.
In einem gegenüber der in Fig. 1 dargestellten Vor
richtung abgewandelten Ausführungsbeispiel ist der
Verteilerspiegel 13 durch einen Strahlteiler ersetzt,
mit dem die Projektionsspiegel 16, 17, 18 simultan mit
dem Projektionsbündel 11 beaufschlagbar sind. In den
Strahlengängen zwischen den Projektionsspiegeln 16, 17,
18 und der Objektoberfläche 19 sind Farbfilter mit
voneinander separierten Transmissionsbereichen ange
ordnet, so daß spektral unterschiedliche Streifenmuster
auf die Objektoberfläche 19 projiziert sind. In diesem
Ausführungsbeispiel ist die Detektionsvorrichtung als
eine spektral empfindliche, ortsauflösende Kamera ausge
legt, mit der die verschiedenfarbigen Streifenmuster
gegeneinander diskriminierbar sind. Diese Vorrichtung
zeichnet sich durch die gleichzeitige Projektion der
Gitterlinien 7 des Projektionsgitters 6 auf die Objekt
oberfläche 19 zusammen mit der spektral sensitiven
Detektion durch einen schnellen sowie von mechanischen
Ungenauigkeiten durch Verstellen von Spiegeln oder
Drehtischen freien Meßvorgang aus.
Claims (12)
1. Vorrichtung zum berührungsfreien Vermessen einer Objekt
oberfläche mit
- 1. Mitteln, mit denen in Richtung von wenigstens drei be züglich eines Koordinationssystems der Objektoberfläche (19) räumlich verschieden ausgerichteten Projektions achsen (34, 35, 36) sich überlappende Streifenmuster (21, 22, 23) so auf die Objektoberfläche (19) eines Objekts (20) projizierbar sind, daß sich zu den Projektionsachsen (34, 35, 36) parallele Einfallsgeraden in einem Referenzpunkt (30) auf der Objektoberfläche (19) schnei den sowie mit einer durch den Referenzpunkt (30) ver laufenden Referenzgeraden (33) jeweils einen von Null verschiedenen Projektionswinkel (37, 38, 39) einschließen und daß Zwischenwinkel (43, 44, 45) zwischen Einfallsebenen (40, 41, 42), die von durch die Einfalls geraden verlaufenden und rechtwinklig zu der Objektober fläche (19) stehenden Ebenen gebildet sind, von Null verschieden sind sowie bei Abtragen der Zwischenwinkel (43, 44, 45) in einem Kreis um den Referenzpunkt (30) wenigstens einer der Zwischenwinkel (43, 44, 45) kleiner als 180 Grad ist,
- 2. einer Detektionsvorrichtung (25), mit der Linien aller paar weise von Null verschiedene Streifenwinkel (46, 47, 48) einschließenden Streifenmuster (21, 22, 23) aus einer Beobachtungsrichtung im Koordinationssystem der Objekt oberfläche (19) erfaßbar sind, und
- 3. einer Auswertevorrichtung (27), mit der die Phasenlagen aller projizierten Streifenmuster (21, 22, 23) an den Meß punkten in bezug auf den Referenzpunkt (30) bestimmbar sind und allein mit den vorgegebenen Projektionswinkeln, Zwischenwinkeln (43, 44, 45) und Ortsfrequenzen der Streifenmuster (21, 22, 23) mit einer Recheneinheit der Auswertevorrichtung (27) die aufgrund der Projektions geometrie linear voneinander unabhängigen Phasenlagen der Streifenmuster (21, 22, 23) an den Meßpunkten in bezug auf den Referenzpunkt (30) in Meßpunktkoordinaten umrechenbar sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
sich als Einfallsgeraden die Projektionsachsen (34, 35, 36) in
dem Referenzpunkt (30) schneiden und die Streifenmuster
(21, 22, 23) in Richtung der Referenzgeraden (33) detek
tierbar sind.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die Projektionsvorrichtung (1) ein Gitter
(6) aufweist, dessen Gitterlinien (7) als Streifenmuster (21,
22, 23) auf die Objektoberfläche (19) projizierbar sind.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß dem Gitter (6) eine lichtdurch
lässige, planparallele Platte (8) nachgeordnet
ist, die um eine parallel zu den Gitterlinien (7)
verlaufende Achse drehbar ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 3 oder Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die Gitterlinien (7)
des Gitters (6) über einen Verteilerspiegel (13)
und Projektionsspiegel (16, 17, 18) auf die
Objektoberfläche (19) projizierbar sind, wobei
durch Drehen des Verteilerspiegels (13) und Beauf
schlagen von insgesamt drei Projektionsspiegeln
(16, 17, 18) die Gitterlinien (7) als drei winklig
zueinander ausgerichtete Streifenmuster (21, 22,
23) projizierbar sind.
6. Vorrichtung nach Anspruch 3 oder Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet, daß über einen Strahl
teiler gleichzeitig drei Projektionsspiegel mit
dem Bild von polychromatisch beleuchteten Gitter
linien (7) beaufschlagbar sind, wobei zwischen der
Objektoberfläche (19) und den Projektionsspiegeln
Farbfilter mit spektral voneinander vollständig
getrennten Transmissionsbereichen angeordnet sind.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, da
durch gekennzeichnet, daß ein Objekt (20) mit, der
zu vermessenden Objektoberfläche (19) auf einem
Drehtisch (50) mittig zu dessen Drehachse ange
ordnet ist, wobei die Detektionsvorrichtung (25)
mit dem Drehtisch (50) verbunden ist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Detektionsvorrichtung (25) in
Richtung der Drehachse des Drehtisches (50)
detektiert.
9. Vorrichtung nach Anspruch 7 oder 8, dadurch ge
kennzeichnet, daß mit der Detektionsvorrichtung
(25) in drei Stellungen des Drehtisches (50) das
von einer raumfesten Projektionsvorrichtung (54)
auf die Objektoberfläche (19) projizierte
Streifenmuster detektierbar ist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 7 oder 8, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Detektionsvorrichtung (25)
spektral sensitiv ist, wobei die spektral ver
schiedenen Streifenmuster mit der Detektions
vorrichtung (25) voneinander diskriminierbar sind.
11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, da
durch gekennzeichnet, daß die Projektionswinkel
(37, 38, 39) einen Wert zwischen 20 Grad und
70 Grad aufweisen.
12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, da
durch gekennzeichnet, daß die Zwischenwinkel (43,
44, 45) jeweils einen Wert von 120 Grad aufweisen.
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