DE4411798A1 - Vorrichtung zur Regelung und Messung des Reflexionswinkels in optischen Vorrichtungen unter Verwendung von Zwangsführungen und linearer Positioniereinrichtung - Google Patents
Vorrichtung zur Regelung und Messung des Reflexionswinkels in optischen Vorrichtungen unter Verwendung von Zwangsführungen und linearer PositioniereinrichtungInfo
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Description
Eine Reihe von optischen Vorrichtungen verwendet die Reflexion von
- -Licht
- - anderen elektromagnetischen Wellen
- - Elektronenstrahlen
- - Teilchenstrahlen
an
- - einem Gitter
- - einem Prisma
- - anderen optischen Bauteilen
- - einer zu vermessenden Fläche,
im Folgenden zusammenfassend Reflexionskörper genannt.
Dabei fällt ein Strahl ein, wird am Reflexionskörper reflektiert, dabei z. B.
abgeschwächt und trifft als ausgehender Strahl auf eine weitere optische
Vorrichtung oder auf einen Detektor.
Dabei muß in der Regel der Winkel des einfallenden, von einer Strahlungsquelle
stammenden Strahls in einem Winkel zum Lot positioniert werden. Im gleichen
Betrag muß der Winkel, den das Lot mit dem ausfallenden, zu einem Detektor
oder weiteren optischen Vorrichtungen (im Folgenden als Teil des Detektors
verstanden) fallenden Strahl einschließt, positioniert und vermessen werden.
Relevante Vorrichtungen in optischen Geräten mit dieser Charakteristik sind
Oberflächenplasmonenspektrometer, Ellipsometer, Reflexionsspektrometer und
andere.
Bei Oberflächenplasmonenspektrometern mit Licht wird die Resonanz von Licht
mit Oberflächenplasmonen vermessen. Bei einer Wellenlänge des Lichts ergibt
sich an einem für die Oberflächenbeschaffenheit einer Metall- oder
Halbleiterschicht charakteristischen Einfallswinkel des Lichtes eine Resonanz
des Lichtes mit den Oberflächenplasmonen. Variation des Winkels bei konstanter
Wellenlänge oder Variation der Wellenlänge bei konstantem Einfallswinkels führt
im Resonanzfall zur Abschwächung des reflektierten Lichtes in einer für die
Oberflächeneigenschaft kennzeichnenden Position und Intensität.
Oberflächenplasmonenresonanz findet Anwendung z. B. in oberflächenaktiven
Bio- und Chemosensoren. Zur Variation des Einfallswinkels wird in der Regel
eine der obigen Anordnungen eingesetzt.
In Ellipsometern wird das Verhältnis der Reflexionsabschwächung von s- und p-pola
risierten Lichts an einer Oberfläche vermessen. Dies geschieht bei
verschiedenen, einzustellenden Reflexionswinkeln.
Ellipsometrie wird in großem Umfang in der Halbleiterqualitätskontrolle und
anderen modernen Produktionsverfahren, bei denen Oberflächenbeschaffenheit
optisch vermessen wird, eine wichtige Rolle.
Reflexionsspektroskopie vermißt die unterschiedliche Reflektivität an
Oberflächen zur Bestimmung von Real- und Imaginärteil von Brechungsindices.
Weitere relevante Vorrichtungen in optischen Geräten sind die sogenannten
Monochromatoren. Hier wird die Dispersion von Licht oder Teilchenstrahlen an
Prismen oder Gittern verwendet, um aus Licht einer breitbandigen ("weißen")
Quelle eine einzige Wellenlänge der Strahlung zu selektieren. Teilweise wird eine
ähnliche Anordnung wie eben beschrieben, verwendet, um die gleichnamige
Verstellung des Winkels auf den Reflexionskörper einfallender und ausfallender
Strahlung zu bewerkstelligen. Häufig wird die Verstellung der Winkel statt dessen
über Drehspiegel erzielt. Monochromatorern sind Teile anderer Vorrichtungen
und stellen für andere Vorrichtungen Strahlung einer einzigen, variablen
Wellenlänge zur Verfügung.
In der Regel werden in derartigen Vorrichtungen Winkeldreh-Positionier-
Einrichtungen (Goniometer) verwendet, bei denen auf zwei Drehtischen jeweils
Strahlungsquelle und Detektor in gleichen Betrag und entgegengesetzter
Richtung des Winkels bewegt werden und der Reflexionskörper raumfest bleibt
oder der Reflexionskörper um den Winkel Theta und der Detektor um den Winkel
Zwei-Theta verstellt werden, wobei die Strahlungsquelle raumfest bleibt oder der
Reflexionskörper um den Winkel Theta und die Quelle um den Winkel Zwei-
Theta verstellt werden, wobei der Detektor raumfest bleibt.
Derartige Vorrichtungen sind wegen zwei mechanisch bogenförmig zu
bewegender Teile häufig fehleranfällig oder zu teuer. Die sich bewegenden Teile
sind teilweise nur jeweils an einem Ende (Drehpunkt) befestigt und neigen so zu
Verschiebung, Verbiegung oder Schwingung.
Die Goniometer werden darüber hinaus in geringerer Stückzahl hergestellt, als
andere, z. B. lineare Positioniervorrichtungen.
Wenn möglich, wird deshalb versucht, durch raumfeste ortsabhängig messende
Detektoren (Zeilenkameras, CCD oder Diodenarrays) oder durch Ausleuchtung
des Reflexionskörpers von mehreren Winkeln aus, diese mechanischen
Goniometer zu vermeiden. Dies ist jedoch nicht mit allen Strahlungsarten zu
vernünftigen Preisen und Auflösungen möglich.
Deshalb war es die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine mechanisch
einfachere, genaue und preiswerte Vorrichtung zur Steuerung, Regelung bzw.
Messung von Reflexionswinkeln bereitzustellen.
Diese Aufgabe wird mit einer Vorrichtung gemäß Anspruch 1 gelöst, da hier die
Verstellung und Messung mit einer einfachen Linear-Positioniervorrichtung und
Meßvorrichtung gemeinsam mit Zwangsführungen an mindestens drei einfachen
Drehachsen erfolgt.
In vielen Geräten des Maschinenbaus wird durch Zwangsführung an
Drehgelenken eine lineare Verstellung in eine Winkelverstellung umgesetzt. Aus
dem optischen Apparatebau ist eine derartige Verwendung nicht bekannt.
Besonders vorteilhaft läßt sich dieses Prinzip in zusammengesetzten optischen
Geräten, beispielsweise Monochromator mit Spektrometer kombiniert, einsetzen.
Die Aufgaben, Vorteile und Merkmale der Erfindung werden nachstehend
anhand von Beispielen und mit Bezug auf die Zeichnung erläutert. Es zeigen
Fig. 1 das Beispiel eines Oberflächenplasmonenspektrometers mit einem Prisma
als Herzstück des optischen Aufbaus. Fig. 2 zeigt die Erfindung in einer
Ausführung der Erfindung mit zwei räumlich bewegten Drehachsen. Die
Ausrichtung der Probe wird durch mindestens eine weitere Führung mit zwei
Drehachsen über das Prinzip einer parallelogrammförmigen Verstellung
vorgenommen. Fig. 3 zeigt ebenfalls das Anwendungsbeispiel
Oberflächenplasmonenspektrometer jedoch mit einer einzigen, auf einer
Führungsschiene bewegten Drehachse und zwei ortsfesten Drehachsen. Fig. 4
zeigt die Kombination zweier Vorrichtungen der Erfindung zu einer optischen
Vorrichtung am Beispiel der Kombination eines Monochromators mit einem
Reflexionspektrometer zur Verstellung und Messung von sowohl Wellenlänge als
auch Richtung des reflektierten Strahls.
Die Erfindung besteht aus mindestens einem Probehalter, einem Gestänge und
aus mindestens einer Antriebseinrichtung. Die Antriebseinrichtung wird
vorzugsweise als lineare Verstelleinrichtung ausgeführt. Diese weist mindestens
einen Schlitten 1, bewegt durch Verschiebeeinrichtung 2, auf.
Diese Verschiebeeinrichtung kann ausgeführt werden
als beruhend auf dem Vortrieb einer Gewindespindel, vorzugsweise als
Gewindespindel, vorzugsweise als Kugelgewindespindel
oder als Trapezspindel, als Riementrieb vorzugsweise als Zahnriementrieb oder
als hydraulischer oder pneumatischer Kolben und Zylinder oder durch Koppelung
an den Exzenter einer Kreisscheibe.
Die Wegstreckenzählung kann mit der Positioniervorrichtung erreicht werden,
wenn ein Schrittmotor oder ein Antrieb mit Signalgeber zur Zählung der
Achsendrehung einer genau gearbeiteten Spindel als Antrieb der
Positioniervorrichtung vorgesehen wird. Es kann ebenso ein unabhängiges
Wegstreckenmeßsystem 3 zur Vermessung der Auslenkung des Schlittens 1
etwa als geritzter Glasstab, als Seil-Wegstreckenmeßgerät, als Induktions-,
elektrischer Widerstands oder optischer Wegstreckenmesser oder ein anderes
Wegstreckenmeßsystem eingesetzt werden.
Auf dem bewegten Schlitten 1 befindet sich eine Drehachse 1a, auf der eine oder
mehrere Stangen 4 in präzisen Gleit- oder Wälzlagern am Ende der Stange oder
der Stangen drehbar gelagert sind. Am anderen Ende sind die Stange oder die
Stangen 4 ebenso präzise frei drehbar in der Achse 5 gelagert mit einer Plattform
6 verbunden.
An dieser Plattform 6 ist ein Reflexionskörper 7 also Prisma, Gitter,
Meßoberfläche usw. mit einer Bezugsfläche 7a befestigt. In Fig. 2 ist
beispielhaft die Verwendung der Erfindung in einer Verwendung innerhalb eines
Oberflächenplasmonenspektrometers dargestellt. In einem
Oberflächenplasmonenspektrometer wird in der Regel das Licht in die
interessierende Metallschicht über ein Prisma oder einen Halbzylinder aus einem
optischen Werkstoff, beispielsweise aus Glas, Kunststoff, Quarz, Silizium,
eingekoppelt. Bei einem Oberflächenplasmonenspektrometer trifft Licht auf einer
Rechtecksfläche eines dreiseitigem Prismas oder auf der gekrümmten Fläche
eines Halbzylinders auf. Es wird dort gebrochen und gelangt auf die
Bezugsfläche 7a des Prismas. Diese liegt in der Zeichnung beispielhaft nach
oben offen in der Apparatur. An der auf der Bezugsfläche 7a aufgebrachten
dünnen Metallschicht, deren offene Fläche untersucht werden soll, wird es
reflektiert und gelangt auf eine andere Rechteckseite eines dreiseitigen Prismas
oder im Falle des Halbzylinders auf die andere Hälfte der gekrümmten
Oberfläche eines Halbzylinders. Dort wird es gebrochen und gelangt
beispielsweise durch die Luft oder das Vakuum zum Detektor.
An dieser Plattform ist eine weitere Drehachse 5 eingearbeitet, an der
mindestens eine Stange 8 an einem Ende drehbar gelagert sind. Das
gegenüberliegende Ende der Stange oder Stangen 8 ist drehbar mit einer
Drehachse 9 verbunden, die gegenüber dem Schlitten 1 durch das
Wegstreckenverstellsystem 2 bewegt wird. In Fig. 2 ist dargestellt, wie durch
eine vierte Drehachse eine Ausrichtung von Plattform 6 und Probe 7
bewerkstelligt werden kann. Zusätzlich zu 5 ist an der Plattform 6 eine
Drehachse 10 angebracht. Dritte Stange oder Stangen 11 verbinden drehbar die
Plattform derart mit der Verbindungslinie durch Drehachse 1a und Drehachse 8,
daß die Plattform 6 auch bei Bewegung des Schlittens 1 parallel zu dieser
Verbindungslinie ausgerichtet bleibt.
An den Stangen 8 wird die Strahlungsquelle 12 direkt befestigt oder die
Strahlung durch Spiegel oder Lichtleiter oder andere Zuführungen eingekoppelt,
so daß die Strahlung auf den Reflexionskörper 7 zeigt. An den Stangen 4 wird
der Detektor 13 oder Zuführungen zu weiteren optischen Bauteilen derart
befestigt, daß der reflektierte Strahl vom Reflexionskörper 6 auf diesen Detektor
13 zeigt. Die Variation der Winkel von einfallendem und ausfallendem Strahl wird
durch Bewegung des Schlittens 1 erreicht, wobei die Verstellung des Winkels
durch den Arcussinus des halben Weges, den der Schlitten 1 zurückgelegt hat,
dargestellt und vermessen wird. Es ist auch möglich wie in Fig. 3 gezeigt, die
Stangen 4 und 8 auf jeweils eigenen Schlitten zu verfahren. Die Anordnung von
Verschiebevorrichtung und Wegstreckenmeßsystem in Fig. 3 ist nur
beispielhaft. Vorzugsweise wird nur ein Schlitten wie in Fig. 2 verwendet. Es ist
auch möglich, die Ausrichtung der Plattform 6 bezüglich der Verbindungslinie
zwischen Drehachse 9 und Schlitten 1 durch Linear-Führungen statt durch
Drehgestänge vorzunehmen. Vorzugsweise wird das Drehgestänge 10 wie in
Fig. 2 dargestellt zur Ausrichtung eingesetzt. Es ist auch möglich, den Weg der
Plattform 6 zu vermessen. Vorzugsweise wird der meist längere Weg zwischen
Drehachse 9 und Schlitten 1 zur Winkelbestimmung verwendet. Es ist auch
möglich, die bewegende Kraft direkt an der Plattform 6 angreifen zu lassen, etwa
durch magnetische oder elektrostatische Kräfte oder durch die oben als Teil des
sonst zu verwendenden Positioniersystems 3 beschriebenen Verstellverfahren.
Die Drehachse 9 und das Positioniersystem 2 können raumfest eingesetzt
werden. Ebenso kann die Vorrichtung an der Plattform 6 nach außen befestigt
werden oder an den Stangen 4 oder an den Stangen 8. Vorzugsweise wird wie
in der Fig. 2 das Positioniersystem 3 sowie die Drehachse 9 raumfest
ausgeführt.
Die der Erfindung zugrundeliegende Verwendung von Zwangsführungen an
Drehachsen kann vorteilhaft in Kombination mit gleichen oder anderen optischen
Vorrichtungen innerhalb eines komplexeren optischen Apparates verwendet
werden. In Fig. 4 ist der Strahlengang am Beispiel der Kombination eines
Monochromators mit einem Oberflächenplasmonenspektrometer dargestellt.
Beispielsweise kann ein Monochromator beruhend auf der Verwendung der
vorliegenden Erfindung oder konventionell aufgebaut mit einem
Oberflächenplasmonenspektrometer derart kombiniert werden, daß Strahlung
aus einer breitbandigen Quelle 11, beispielsweise einer Glühbirne, in dem
Monochromator an beispielsweise einem Brechgitter 14 zu einfarbiger Strahlung
selektiert wird, den Monochromator verläßt und zweckmäßig in einem
unmittelbar anschließenden Oberflächenplasmonenspektrometer der
Resonanzwinkel des Lichtes bestimmt wird. Monochromator und Spektrometer
sind über die Gestänge 8 sowie die darauf befestigte Drehachse 17 miteinander
verbunden. Die Reihenfolge ist beispielhaft, ebenso kann die Winkelverstellung
der Wellenlängenselektion vorangehen. Jede andere Kombination von einzelnen
Einheiten zu beliebigen optischen Zwecken ist denkbar.
Bezugszeichenliste
Schlitten der linearen Verstelleinrichtung 1
Drehachse auf Schlitten 1a
Verschiebeeinrichtung der linearen Verstelleinrichtung 2
Wegstreckenmeßsystem 3
Stangen des Gestänges 4
Erste Drehachse auf Probenhalter 5
Probenplattform 6
Reflexionskörper (Prisma, Gitter, Meßoberfläche etc.) 7
Bezugsfläche des Prismas 7a
Stangen des Gestänges 8
Dritte Drehachse 9
Vierte Drehachse 10
Dritte Stange oder Stangen 11
Strahlungsquelle 12
Detektor 13
Monochromatorgitter 14.
Drehachse auf Schlitten 1a
Verschiebeeinrichtung der linearen Verstelleinrichtung 2
Wegstreckenmeßsystem 3
Stangen des Gestänges 4
Erste Drehachse auf Probenhalter 5
Probenplattform 6
Reflexionskörper (Prisma, Gitter, Meßoberfläche etc.) 7
Bezugsfläche des Prismas 7a
Stangen des Gestänges 8
Dritte Drehachse 9
Vierte Drehachse 10
Dritte Stange oder Stangen 11
Strahlungsquelle 12
Detektor 13
Monochromatorgitter 14.
Claims (16)
1. Vorrichtung zur Steuerung, Regelung bzw. Messung von optischen Winkeln,
insbesondere Winkeln, insbesondere von Reflexionswinkeln bei einer elastischen
Streuung von Licht oder anderen Strahlen, mit
- a) einer optischen Quelle (12),
- b) einem optischen Detektor (13),
- c) einer optischen Probe (7),
- d) einer ersten Ausrichteinrichtung (1a, 4, 5), die ein erstes, unteres Drehgelenk (1a), ein oberes Drehgelenk (5) und eine die Drehgelenke (1a, 5) verbindende erste Verbindungseinrichtung (4) aufweist,
- e) einer zweiten Ausrichteinrichtung (9, 8, 5), die ein zweites unteres Drehgelenk (9), ein mit dem oberen Drehgelenk (5) gemeinsames Drehgelenk (5) und ein die Drehgelenke (9, 5) verbindende zweite Verbindungseinrichtung (8) aufweist,
- f) wobei die Quelle (12) entlang der zweiten Verbindungseinrichtung (8) und der Detektor (13) entlang der ersten Verbindungseinrichtung (4) ausgerichtet ist und wobei eine Bezugsfläche (7a) der Probe im wesentlichen am gemeinsamen oberen Drehgelenk (5) im wesentlichen parallel zu einer Strecke zwischen dem ersten unteren Drehgelenk (1a) und dem zweiten unteren Drehgelenk (9) angeordnet ist,
gekennzeichnet durch
- g) eine geradlinige Bewegungseinrichtung (1, 2, 15, 16) zum relativen Bewegen der Probe (7) entlang dem Mittellot der Strecke zwischen den beiden unteren Drehgelenken (1a, 9).
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eines
der unteren Drehgelenk je (1a) auf das andere, untere Drehgelenk (9) geradlinig
bewegbar ist und die erste Verbindungseinrichtung (4) mindestens eine erste
Stange (4) und die zweite Verbindungseinrichtung (8) mindestens eine zweite
Stange (8) aufweist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die
Bewegungseinrichtung (1, 2) einen auf einer Verschiebeeinrichtung (2)
verstellbaren Schlitten (1) aufweist, wobei das erste untere Drehgelenk (1a) am
Schlitten (1) angeordnet ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die
Bezugsfläche (7a) der Probe (7) mittels einer Parallelogrammanordnung
(19, 11, 11a) zu einem der Arme (8) parallel zu der Strecke zwischen den unteren
Drehgelenken (1a, 9) bewegbar ist.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, gekennzeichnet, durch ein
Wegstreckenmeßsystem (3) zum Bestimmen der geradlinigen Bewegung des
Schlittens (1) und damit des zu steuernden, zu regelnden, bzw. zu messenden
Winkels.
6. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß beide unteren
Drehgelenke (1a, 9) gemeinsam auf einer Verschiebungseinrichtung (2)
aufeinander zubewegbar sind.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die
Verschiebungseinrichtung (2) senkrecht ausgerichtet zum Mittellot der Strecke
zwischen den beiden unteren Drehgelenken (1a, 9) entlang dem Mittellot
verschiebbar ist und die geradlinige Verschiebung der Verschiebeeinrichtung (2)
über ein Wegsteckenmeßsystem (3) zum Bestimmen des zu steuernden, zu
regelnden bzw. zu messenden Winkels ablesbar ist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die unteren
Drehgelenke (1a, 9) ortsfest sind und die beiden Verbindungseinrichtungen (4, 8)
längenverstellbar sind.
9. Vorrichtung nach einem Anspruch 1 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß die
beiden Verbindungseinrichtungen (4, 8) durch Teleskopstangen längenverstellbar
sind.
10. Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 9, gekennzeichnet durch Bewegung der
Probe (7) durch eine Verschiebeeinrichtung zwischen einer unteren Achsen (1a
oder 9) und der oberen Achse (5).
11. Vorrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche in einem
Monochromator.
12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-11 in einem Ellipsometer.
13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-11 in einem
Oberflächenplasmonenspektrometer.
14. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1-11 in einem
Reflexionsspektrometer.
15. Kombination mehrerer Vorrichtungen nach jeweils einem der vorstehenden
Ansprüche.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4411798A DE4411798A1 (de) | 1994-04-06 | 1994-04-06 | Vorrichtung zur Regelung und Messung des Reflexionswinkels in optischen Vorrichtungen unter Verwendung von Zwangsführungen und linearer Positioniereinrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4411798A DE4411798A1 (de) | 1994-04-06 | 1994-04-06 | Vorrichtung zur Regelung und Messung des Reflexionswinkels in optischen Vorrichtungen unter Verwendung von Zwangsführungen und linearer Positioniereinrichtung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4411798A1 true DE4411798A1 (de) | 1995-04-27 |
Family
ID=6514720
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4411798A Withdrawn DE4411798A1 (de) | 1994-04-06 | 1994-04-06 | Vorrichtung zur Regelung und Messung des Reflexionswinkels in optischen Vorrichtungen unter Verwendung von Zwangsführungen und linearer Positioniereinrichtung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4411798A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002082062A1 (en) * | 2001-04-04 | 2002-10-17 | Varian Australia Pty Ltd | Measuring specular reflectance of a sample |
CN101710083B (zh) * | 2009-11-02 | 2011-06-01 | 兰州三磊电子有限公司 | 用于x射线材料无损检测的检测设备 |
-
1994
- 1994-04-06 DE DE4411798A patent/DE4411798A1/de not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002082062A1 (en) * | 2001-04-04 | 2002-10-17 | Varian Australia Pty Ltd | Measuring specular reflectance of a sample |
CN101710083B (zh) * | 2009-11-02 | 2011-06-01 | 兰州三磊电子有限公司 | 用于x射线材料无损检测的检测设备 |
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