DE4303231A1 - Infrarot-Strahlendetektoreinrichtung - Google Patents

Infrarot-Strahlendetektoreinrichtung

Info

Publication number
DE4303231A1
DE4303231A1 DE4303231A DE4303231A DE4303231A1 DE 4303231 A1 DE4303231 A1 DE 4303231A1 DE 4303231 A DE4303231 A DE 4303231A DE 4303231 A DE4303231 A DE 4303231A DE 4303231 A1 DE4303231 A1 DE 4303231A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
cold
aperture
shield
cold shield
detector element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE4303231A
Other languages
English (en)
Other versions
DE4303231C2 (de
Inventor
Christoph Dipl Phys Dr Thoma
Matthias Dipl Ing Erdmann
Johann Dipl Ing Schweiger
Karl Dipl Phys Dr Pietzsch
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BAE Systems PLC
Original Assignee
Steinheil Optronik GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Steinheil Optronik GmbH filed Critical Steinheil Optronik GmbH
Priority to DE4303231A priority Critical patent/DE4303231C2/de
Priority to PCT/EP1994/000322 priority patent/WO1994018530A1/de
Priority to AU60020/94A priority patent/AU6002094A/en
Priority to DE59404390T priority patent/DE59404390D1/de
Priority to EP94906220A priority patent/EP0634005B1/de
Publication of DE4303231A1 publication Critical patent/DE4303231A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4303231C2 publication Critical patent/DE4303231C2/de
Priority to US08/658,403 priority patent/US6057550A/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/0018Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 with means for preventing ghost images
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/06Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
    • G01J5/061Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity by controlling the temperature of the apparatus or parts thereof, e.g. using cooling means or thermostats
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/005Diaphragms
    • G02B5/006Diaphragms cooled
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/024Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Infrarot- Strahlendetektoreinrichtung gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1.
Infrarot-Strahlendetektoreinrichtungen die ein gekühl­ tes Dewar aufweisen, in dem sich ein Infrarotempfänger, vorzugsweise ein flächiges Detektorelement (focal plane array) befindet und das zur Infrarot-Optik (IR-Optik) ein durch ein für Infrarotstrahlen durchlässiges IR- Fenster verschlossen ist, sind hinlänglich bekannt. Das Dewar besteht vielfach aus einem an ein Vakuum angeschlossenes Gehäuse, das nach außen von dem IR- Fenster abgeschlossen ist. Innerhalb des Gehäuses befindet sich gegenüber dem IR-Fenster ein an eine Kühlvorrichtung angeschlossenes Kälteschild, dessen gekühlte Bodenwand als Träger des flächigen Detektorelements dient.
Das bekannte Kälteschild ist ohne das Dewar in einer schematischen Skizze in Fig. 1a der beigefügten Zeichnung mit 1 bezeichnet. An die gekühlte Bodenwand 2 als Träger des Detektorelements 3 schließen Seitenwände 4 und 5 an, die gekühlt sein können. Im Abstand zo von der Bildebene an der Oberfläche des Detektorelements 3 befindet sich eine Blende 6 (Kaltblende bzw. Cold-Stop) mit einer zentralen Öffnung 7. Die Kaltblende 6 schließt an die gekühlten Seitenwände 4 und 5 an. Die Kaltblende 6 kann ebenfalls gekühlt sein. Die Öffnung 7 der Kaltblende 6 besitzt eine gewählte Randhöhe ho. Die gekühlte Bodenwand 2 mit den anschließenden Seitenwänden 4 und 5 und der zwischen ihnen gehaltenen Kaltblende 6 bilden gemeinsam das gekühlte Kälteschild 1 innerhalb eines nicht dargestellten an eine Vakuumvorrichtung angeschlossenen Dewars. Das Kaltblendenöffnungsver­ hältnis ko ist durch zo/2 ho bestimmt, wobei zo der Abstand der Öffnung 7 Kaltblende 6 von der Bildebene und ho die Randhöhe ho der Kaltblende ist. Die Bildhöhe yo auf der Oberfläche des Detektorelementes 3 ist maximal ± d.
Übliche flächige Detektorelemente in bekannten Kälteschilden arbeiten mit einem Kaltblendenöffnungs­ verhältnis zo/2 ho von 1 bis 3.
Um die vorgeschaltete IR-Optik mit minimaler optischer Öffnung (minimaler optischer Aufwand, minimale Aberation) auslegen zu können, ist beim gebräuchlichen Stand der Technik (Fig. 1a) ein relativ großer Abstand zo zwischen der Bildebene auf der Oberfläche des flächigen Detektorelementes 3 und der Kaltblende 6 zu wählen, wenn diese als Aperaturblende wirkt und die Austrittspupille der IR-Optik darstellt, denn je kürzer der Abstand zo zwischen der Bildebene und der Kaltblende 6 ist, umso größer ist der Winkel R zwischen dem Strahlenbüschel der Randpunkte des Detektorelementes und der optischen Achse. Das führt zu Gewichts-, Volumen- und Preisnachteilen aufgrund der großen Linsendurch­ messer der IR-Optik. Bei minimaler optischer Öffnung der IR-Optik ist in der Praxis bei einem optimalen Winkel Ropt der minimale Abstand zwischen der Bildebene und der Kaltblende daher auf etwa den 2fachen diagonalen Durchmesser des flächigen Detektors begrenzt, will man nicht Vignettierung der Optik oder einen schlechten Kälteschild-Wirkungsgrad in Kauf nehmen. Bei modernen großflächigen IR-Detektorelementen führt das zu einem entsprechend großvolumigen inneren Kälteschild bzw. zu einem entsprechend großen Dewar. Die zu erbringende Kälteleistung der an das innere Kälteschild angeschlossenen Kühlvorrichtung ist daher beträchtlich.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine konstruktiv weitgehend einfach ausgebildete Infrarot-Strahlen­ detektoreinrichtung der eingangs genannten Art für eine vorgeschaltete IR-Optik mit minimaler optischer Öffnung bei einem optischen Öffnungsverhältnis kopt von 1/2 cot (Rmax) anzugeben, bei der bei weitgehend großem Durchmesser des flächigen Detektorelementen der räumliche und bauliche Aufwand für das Dewar mit einer vignettierungsfreien Strahleneintrittsöffnung ver­ gleichsweise klein und in der optischen Achse wesentlich kürzer als beim Stand der Technik ausgebildet ist, so daß auch der Aufwand für die zu erbringende Kühlleistung auf ein weitgehend niedrigeres Niveau gedrückt werden kann. Dabei soll auch die Möglichkeit eröffnet sein, das Kälteschild extern vom Detektorelement anzuordnen, um dadurch eine größere Flexibilität des verwendeten Detektor/Dewar-Systems gegenüber dem Stand der Technik zu erhalten.
Durch die DE-37 16 358 ist zwar bereits eine Infrarot- Strahlenabschirmeinrichtung bekannt, dessen an eine Kühlvorrichtung angeschlossenes und innerhalb eines Dewars angeordnetes Kältschild als inneres Kälteschild bezeichnet ist, zum Unterschied von einem äußeren Kälteschild, das dem Dewar in Achsrichtung vorgeschaltet ist und das von dem inneren Kälteschild thermisch getrennt ist. Die Öffnung des äußeren Kälteschildes bildet eine äußere Kaltblende, die die Austrittspupille der vorgeschalteten IR-Optik darstellt. Demgegenüber wirkt die innere Kaltblende des inneren Kälteschildes innerhalb des Dewars als Baffel. Das äußere Kälteschild mit der äußeren Kaltblende ist derart ausgebildet und gegenüber dem inneren Kälteschild derart angeordnet, daß die Öffnung der inneren Kaltblende durch das äußere Kälteschild in sich selbst abgebildet wird. Dabei ist das äußere Kälteschild beispielsweise als innenverspiegelter Hohlspiegel mit einer die äußere Kaltblende bildenden Öffnung ausgebildet, wobei der Krümmungsmittelpunkt im Zentrum der Öffnung der inneren Kaltblende liegt. Dieser Stand der Technik vermittelt noch keine allgemeine Lehre, mit konstruktiv einfachen Mitteln den Aufwand für die zu erbringende Kühlleistung für das innere Kälteschild auf ein vergleichsweise wesentlich niedrigeres Niveau zu bringen.
Die vorstehende Aufgabe der Erfindung wird mit den Merkmalen des Anspruches 1 gelöst. Vorteilhafte Ausführungen ergeben sich aus der Beschreibung und/oder den Merkmalen der Unteransprüche. Hierdurch werden dem Fachmann allgemeine Regeln für vignettierungsfreie Kälteschild-Einrichtungen mit hohem Kälteschild- Wirkungsgrad an die Hand gegeben, die auch die Möglichkeit zum einfachen Umbau bekannter Einrichtungen eröffnen, um mit geringem Aufwand in den Genuß der erfindungsgemäßen Vorteile zu gelangen. Im Vergleich mit dem relevanten Stand der Technik kann bei identischen optischen Verhältnissen erfindungsgemäß der Abstand des inneren Kälteschildes in bezug auf das flächige Detektorelement (focal plane array) wesentlich zurück­ genommen werden (beispielsweise auf 2/3 des Abstandes oder weniger, der nach dem Stand der Technik gegeben ist).
Die Forderung der Vignettierungsfreiheit der äußeren und der inneren Kaltblende wird erfindungsgemäß durch Bedingungen sichergestellt, die nachstehend anhand einer Skizze in Fig. 1b der Zeichnung erläutert sind.
Gleiche bzw. entsprechende Teile in den Fig. 1a und 1b sind mit den gleichen Bezugszeichen versehen. Dabei sind die Skizzen in den Fig. 1a und 1b im gleichen Maßstab fluchtend untereinander gezeichnet, um dadurch den Vergleich der Erfindung (Fig. 1b) mit dem Stand der Technik (Fig 1a) zu erleichtern.
Im Unterschied zum Stand der Technik nach Fig. 1a ist in Fig. 1b dem inneren Kälteschild 1 i mit einer inneren Kaltblende 6 i und einer Kaltblendenöffnung 7 i ein äußeres Kälteschild 1 a vorgeschaltet, das hier aus einer äußeren Kaltblende 6 a mit einer Öffnung 7 a und einem Kaltblendenöffnungsverhältnis za/2 ha besteht, das dem Kaltblendenöffnungsverhältnis zo/2 ho in Fig. 1a entspricht, wobei za der Abstand der Öffnung 7 a der äußeren Kaltblende 1 a von der Bildebene und ha die Höhe der äußeren Kaltblendenöffnung 7 a ist. Die äußere Kaltblende 6 a ist im Beispielsfalle als innenverspiegelter Hohlspiegel ausgebildet. Das Kaltblendenöffnungsverhältnis der inneren Kaltblende 6 i des inneren Kälteschildes 1 i ist entsprechend durch zi/2 hi bestimmt, wobei zi der Abstand der Öffnung 7 i der inneren Kälteblende 1 i von der Bildebene und hi die Höhe der inneren Kaltblendenöffnung 7 i ist. Wie in Fig. 1a ist die Bildhöhe yo in der Detektorebene maximal ± d (Der maximale′ Gesamtdurchmesser des flächigen Detektor­ elementes beträgt 2 d), und bei minimaler optischer Öffnung der vorgeschalteten IR-Optik ist das Öffnungsverhältnis der Optik kopt = 1/2 cot (Rmax). Die Verhältnisse in den beiden Einrichtungen nach Fig. 1a und 1b sind so gewählt, daß die Winkel Rmax gleichgroß sind.
Die in der nachstehenden Berechnung verwendeten Parameter für eine erfindungsgemäße Einrichtung werden nachfolgend nochmals zusammengefaßt:
R = Winkel zwischen dem optischen Strahl und der optischen Achse
kopt = Öffnungsverhältnis der Optik 1/2 cot (Rmax)
ka = äußeres Kaltblendenöffnungsverhältnis za/2 ha
ki = inneres Kälteschild-Öffnungsverhältnis
zi/2 hi
za = Abstand Bildebene - äußere Kaltblenden­ öffnung 7 a
zi = Abstand Bildebene - innere Kaltblendenöffnung 7 i
yo= Bildhöhe in der Detektorebene (maximale Bildhöhe = + d)
ha = Randhöhe der äußeren Kaltblendenöffnung 7 a
hi = Randhöhe der inneren Kaltblendenöffnung 7 i
für den Randstrahl der Bildmitte gilt die Funktion (Geradengleichung)
Für den unvignettierten Randstrahl des Bildrandes gilt die Funktion (Geradengleichung)
Da die innere und die äußere Kaltblendenöffnung keine Vignettierung verursachen soll, gilt
hi gy (xi) (3)
und für das benötigte Öffnungsverhältnis der vorgeschalteten Optik gilt
Die nachstehenden Gleichungen (5) beschreiben den Zusammenhang zwischen einem optimal kleinstmöglichen (effektivsten) inneren Kälteschild-Öffnungsverhältnis ki und dem optimal kleinstmöglichen Abstand zi zwischen Bildebene (Detektorfläche) und der inneren Kälteblende 6 i bei maximaler Bildhöhe yo = d in der Detektorebene und bei einem maximalen Öffnungsverhältnis ka der äußeren Kaltblende, die die Austrittspupille für die vorgeschaltete Optik bildet
Die Randbedingungen für die Abstände za in zi sind durch die folgende Beziehung bestimmt
zi 1/2 za (6)
In der Gegenüberstellung der beiden Skizzen (Fig. 1a = Stand der Technik; Fig. 1b = Erfindung) sind za = zo, ha = ho und hi = ho; zi∼1/2 zo.
Die Erfindung wird anhand von Ausführungsbeispielen in schematischer Darstellung beschrieben. In der zugehörigen Zeichnung zeigt:
Fig. 1a eine vorstehend beschriebene Skizze einer Kälteschildanordnung nach dem Stand der Technik einer prinzipiellen Dar­ stellung;
Fig. 1b eine vorstehend ebenfalls beschriebene Skizze einer erfindungsgemäßen Kälte­ schildanordnung in einer vergleichbaren Darstellung zu Fig. 1a;
Fig. 2 bis 4 drei erfindungsgemäße Ausführungen.
Entsprechende Teile der Fig. 1b sind mit gleichen Be­ zugszeichen versehen.
In Fig. 2 ist das innere Kälteschild mit 1 i bezeichnet, das eine kalte Bodenfläche 2 aufweist, die ein flächiges Detektorelement 3 trägt. An die kalte Bodenfläche 2 schließen kalte seitliche Wände 4 und 5 an, die auch eine Zylinderwand bilden können und die sich bis zu einer inneren Kaltblende 6 i erstrecken. Die kalte Bodenfläche mit den anschließenden seitlichen Wänden 4 und 5 und, der strahleneingangsseitigen inneren Kaltblende 6 i mit der Öffnung 7 i bilden das gekühlte innere Kälteschild 1 i, das das flache Detektorelement 3 umschließt. Die Kühlung des inneren Kälteschildes 1 i erfolgt durch eine nicht dargestellte Kühlvorrichtung. Dabei kann lediglich die Bodenfläche 2 gekühlt sein. Es können aber auch die seitlichen Wände 4 und 5 und die innere Kaltblende 6 i gekühlt sein.
Das innere Kälteschild 1 i befindet sich in einem Gehäuse (Dewar), das an ein Vakuum angeschlossen ist und durch ein strahleneingangsseitiges Infrarot-strahlendurch­ lässiges Fenster 8 (IR-Fenster) abgeschlossen ist. In Fig. 2 ist von dem Dewar nur das IR-Fenster 8 (Abschlußscheibe des Dewar) gezeigt.
Dem inneren Kälteschild 1 i ist in Fig. 2 ein thermisch von dem inneren Kälteschild 1 i getrenntes äußeres Kälteschild 1a zur optischen Abschirmung von Infrarotstörstrahlen, z. B. in der Gestalt eines innen­ verspiegelten Hohlspiegels vorgeschaltet, der eine sphärische oder asphärische Innenfläche aufweisen kann und eine äußere Kaltblende 6 a bildet, die beispielsweise eine zentrisch zur optischen Achse liegende Öffnung (Loch) 7 a aufweist. Die Öffnung 7 a der äußeren Kaltblende 6 a bildet die Austrittspupille der vorgeschalteten, nicht dargestellten Infrarot-Optik (IR- Optik).
Die innere Kaltblende 6 i des inneren Kälteschildes 1 i wirkt als Baffle, und der Abstand zi zwischen der Bildebene auf der Oberfläche des Detektors 3 und der inneren Kaltblende 6 i mit der Öffnung 7 i kann nach dem vorstehenden erfindungsgemäßen Regeln minimiert, d. h. vergleichsweise wesentlich verkürzt werden (vgl. vorstehende Gleichung (6)), wobei sichergestellt ist, daß es nicht zu einer Vignettierung an den äußeren und inneren Kaltblenden kommt.
Im Inneren des inneren Kälteschildes 1 i befindet sich ein optischer Filter 12, der dem flachen Detektorelement 3 unmittelbar vorgeschaltet ist. Der Filter 12 kann aber auch entfallen. Derartige kalte Filter sind in der Infrarot-Technik bekannt.
Erfindungsgemäß ist das äußere Kälteschild 1 a ist gemäß so gestaltet und gegenüber dem inneren Kälteschild 1 i so angeordnet, daß die Kaustiken 13 bis 17 der von Punkten 18 bis 21 der Bildebene ausgehenden und von dem äußeren Kälteschild 1a durch das IR-Fenster 8 in das innere Kälteschild 1 i reflektierten Strahlenbüschel nahe vor, aber nicht auf dem IR-Fenster 8 liegen. Bei der erfindungsgemäßen Strahlendetektoreinrichtung sind die Parameter etwa wie folgt gewählt:
ka = 2,0
ki = zi/2 hi = 1,5
za = 60 mm
zi = 40 mm
d = 10 mm.
Der Krümmungsradius der äußeren Kaltblende 6 a wird mittels bekannter optischer Rechenverfahren optimiert. Er weist bei der Ausführung nach Fig. 2 den Wert 27,5 auf.
Fig. 3 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Infrarot-Strahlendetektoreinrichtung entsprechend Fig. 2, in der lediglich die Detektorfläche des Detektorelementes 3 und die innere Kaltblende 6 i mit ihrer Öffnung 7 i angedeutet sind. Mit 8 ist das IR- Fenster und mit 6 a die äußere Kaltblende bezeichnet. Die abgeänderten Parameter sind bei dieser Ausführung wie folgt gewählt:
ka = 2,0
ki = zi/2hi = 1,25
za = 40 mm
zi = 25 mm
d = 10 mm.
Die Bildpunkte 18′, 19′ und 20′ liegen etwas hinter der Detektoroberfläche. Bei dieser Ausführung liegen die Kaustiken teilweise im IR-Fenster 8 und teilweise vor und hinter dem IR-Fenster 8 und vor der inneren Kaltblende 6 i.
In sämtlichen Ausführungsbeispielen ist wie auch beim Stand der Technik der maximale Strahlenwinkel des zentralen Bildpunktes 18 bzw. 18′ mit Rmax bezeichnet. Das entspricht einer optischen Öffnung von kopt = 1/2 cot (Rmax) Für den maximalen Strahlenwinkel gilt Rmax 30°. Das entspricht einer optischen Öffnung von etwa 0,8. Hierbei weist jedoch erfindungsgemäß das innere Kälteschild 1 i gegenüber dem Stand der Technik vorteilhafterweise eine etwa bis zu einem Faktor 2 reduzierte Länge zi aufweist.
Beim Stand der Technik (Fig. 1a) beträgt die minimale axiale Länge zo des inneren Kälteschildes etwa 4 d, wenn der maximale Gesamtdurchmesser des flächigen Detektorelementes 2 d ist. Bei dem gleichen maximalen Gesamtdurchmesser des Detektorelementes beträgt der Abstand zi der Öffnung 7 i der inneren Kaltblende 6 i bei der Erfindung (Fig. 1b) jedoch nur etwa 2 d.
Das innere Kälteschild läßt sich damit erfindungsgemäß gegenüber den bekannten Einrichtungen axial um etwa die Hälfte verkürzen.
Fig. 4 zeigt eine weitere erfindungsgemäße Ausführung, die sich besonders für weit geöffnete Systeme eignet. Wenn der maximale Durchmesser des Detektors 2 d ist, ist nach Fig. 4 der Abstand zi der Kaltblendenöffnung 7 i von der Bildebene etwa 2 d. Das innere Kälteschild 1 i besitzt dabei eine radiale kranz- bzw. kragenartige Bodenstruktur mit gekühlten seitlichen Wandabschnitten 4′ und 5′ und mit beidseitig von der optischen Achse radial nach außen verlängerten gekühlten Bodenabschnitten 2′ und 2′′, durch die der gekühlte Boden 2 des inneren Kälteschildes als Träger des Detektorelementes 3 über die seitlichen, in Achsrichtung verlaufenden Wände 4′ und 5′ hinaus verbreitert ist. Die innere Kaltblende 6 i wird hier von dem freien Öffnungsquerschnitt der seitlichen Wandabschnitte 4′ und 5′ gebildet. Die äußere Kaltblende 6a besteht beispielsweise aus einer torischen Spiegelfläche. Die Seitenwände 4′ und 5′ können einen offenen Zylinder bilden, der einseitig durch den Boden 2 abgeschlossen ist. Die überstehenden Bodenabschnitte 2′ und 2" können einen Ring bilden.
In sämtlichen Ausführungsbeispielen, einschließlich der prinzipiellen Skizzen nach der Fig. 1b ist das äußere Kälteschild 1 a derart ausgebildet und gegenüber dem Detektorelement 3 angeordnet, daß die von Bildpunkten des optischen Bildes auf der Oberfläche des Detektorelementes ausgehenden und von dem äußeren Kälteschild 1 a reflektierten Strahlenbüschel nur auf gekühlte Flächen des internen Kälteschildes 1 i fallen. Statt des inneren Kälteschildes 1 i innerhalb eines Dewars (internes Kälteschild) kann auch eine extern angebrachte gekühlte Lichtfalle verwendet werden, die von dem Ort des Detektorelementes 3 entfernt seitlich versetzt angeordnet ist und beispielsweise eine Struktur entsprechend den inneren Kälteschildern 1 i nach Fig. 1b bis 4 aufweist, die hierbei frei von der Lage des Detektorelementes gewählt werden kann. Andererseits kann es vorteilhaft sein, das ungekühlte äußere Kälteschild 1 a zusammen mit dem gekühlten inneren Kälteschild 1 i innerhalb eines Vakuumgefäßes (Dewar) anzuordnen, wobei das äußere Kälteschild 1 a nicht an die Kühlvorrichtung angeschlossen ist. Ein Vorteil besteht dabei darin, daß die entstehenden Kaustiken keine Rolle in bezug auf das IR-Fenster spielen.
In sämtlichen Ausführungsbeispielen ist sichergestellt, daß von Bildpunkten auf der Detektoroberfläche ausge­ hende Strahlenbüschel, die von dem äußeren Kälteschild 1 a reflektiert werden, nicht auf das Detektorelement 3 fallen, sondern ausschließlich auf Wände des inneren Kälteschildes 1 i, die vorzugsweise sämtlich gekühlt sind, wobei die möglicherweise entstehenden Kaustiken vorzugsweise im vom Detektorelement 3 entfernt liegenden Eintrittsbereich des inneren Kälteschildes 1 i mit Abstand von seinen Wänden liegen.
Die Auslegung eines optimalen Dewars erfolgt erfindungsgemäß wie folgt:
Das äußere Kälteschild 1 a soll verhindern, daß das Detektorelement 3 Strahlung erfaßt, die nicht aus dem gekühlten Dewar kommt. Das Detektorelement 3 soll also keine Strahlung erfassen, die innerhalb unerwünschter Raumwinkelbereiche liegt, d. h. außerhalb des äußeren Kälteschildöffnungsverhältnisses ka. Anders ausgedrückt, das Detektorelement 3 soll in den unerwünschten Raumwin­ kelbereichen - über das äußere Kälteschild - ausschließlich auf gekühlte Flächen und im wesentlichen nicht auf sich selbst oder auf Dewarbereiche außerhalb des internen Kälteschildes 1 i "sehen".
Nachdem vorstehend der Abstand za der äußeren Kaltblen­ denöffnung von der Bildebene (Detektoroberfläche) und das äußere Kaltblendenöffnungsverhältnis ka festgelegt sind, versucht man die optimal kleinste Länge zi des inneren Kaltschildes 1 i zu finden. Man nimmt einen Startwert für zi = za/2 an und ermittelt mit der Strahldurchrechnung, ob es möglich ist, alle Strahlen, die vom Detektorelement kommen und das Loch 7 a des äußeren Kälteschildes 6 a verfehlen, auf die gekühlten Wände des inneren Kälteschildes 1 i zu richten. Trifft man dabei mit Fehlstrahlung auf das Detektorelement 3, wird zi sukzessiv verlängert, bis keine Fehlstrahlung mehr auf das Detektorelement 3 fällt. Unter paraxialen Abbildungsverhältnissen wird zi = za/2 erreicht (vgl. Gleichung (6)).
Bei der auf diese Weise durchzuführenden Auslegung des inneren Kälteschildes 1 i muß die Randbedingung erfüllt sein, daß die Dewarabschlußscheibe bzw. das IR-Fenster 8 oder Bereiche hiervon nicht auf das Detektorelement 3 selbst abgebildet werden. Hierzu muß die Position des IR-Fensters 8 optimiert werden, wie es vorstehend anhand der Ausführungsbeispiele in den Fig. 1 bis 4 und der Gleichungen (1) bis (6) aufgezeigt ist.
Erfindungsgemäß weist ein inneres Kälteschild 1 i für einen Flächendetektor 3 eine als Baffle wirkende innere Kaltblende 6 i und bin äußeres Kälteschild 1 a eine körperliche Blende als Austrittspupille der vorgeschalteten IR-Optik auf. Das äußere Kälteschild 1 a ist so beschaffen, daß die vom Detektorelement 3 wahrgenommenen Raumwinkelbereiche zwischen der Kaltblendenöffnung 7 i des inneren Kälteschildes 1 i und der Öffnung 7 a des äußeren Kälteschildes 1 a nahezu vollständig auf gekühlte Wände des inneren Kälteschildes 1 i gespiegelt werden. Hierzu wird der Abstand zi zwischen der Kaltblende 6 i des inneren Kälteschildes 1 i mit optimal kleinstmöglichen (effektiven) inneren Kälteschild-Öffnungsverhältnis ki und der Detektorebene (Bildebene) minimiert, während das Öffnungsverhältnis ka der äußeren Kaltblende 6 a maximiert wird. Es werden keine Bereiche des IR-Fensters des Dewar auf dem Detektor abgebildet. Die Kaustiken der von dem Detektorelement ausgehenden und über die verspiegelte Innenfläche des äußeren Kaltschildes reflektierten Strahlen liegen im Bereich des IR-Fensters oder vorzugsweise im Inneren des Dewar. Die verspiegelte Innenfläche des äußeren Kälteschildes 1 a kann sphärisch oder asphärisch sein. Dabei können mehrere gestaffelte äußere Kälteschilde vorhanden sein. Die körperliche Blende wird in diesem Falle vom äußersten, vom inneren Kälteschild 1 i am entferntesten liegenden Kälteschild gebildet. Die übrigen äußeren Kälteschilde und die innere Kaltblende bilden Baffles. Die Randbereiche des inneren Kälteschildes sind so bemessen (Reflexionsvermögen, Temperatur, mechanische Abmessungen), daß keine störenden Einflüsse auf den Detektor 3 verursacht werden. Es kann dabei von Vorteil sein, zwischen dem Detektorelement und der inneren Kaltblende 6 i des internen Kälteschildes 1 i ein internes Filter 12 (Hoch-/Tief-/Bandpaß) anzuordnen (Fig. 2). Das IR-Fenster 8 des Dewar kann zusätzlich oder allein vorteilhafterweise als ein solches internes Filter gestaltet sein. Die Vorderseite der inneren Kaltblende (Baffle) 6 i erstreckt sich vorteilhafterweise bis zur Innenseite der äußeren Außenwand des Dewar-Gehäuses.
Die Öffnung 7 i der inneren Kaltblende 6 i kann vergleichsweise zur Öffnung 7 a des äußeren Kälteschildes 1 a grob toleriert sein, was von Vorteil ist, da sich die innere Kaltblende 6 i innerhalb des nach außen dicht abgeschlossenen Vakuumgefäßes (Dewar) befindet. Anderseits kann es erfindungsgemäß von Vorteil sein, das äußere Kälteschild 1 a mit der äußeren Kaltblende 6 a in das Dewar zu integrieren, ohne daß es an die Kühlvorrichtung für das innere Kälteschild 1 i angeschlossen ist. Wenn erfindungsgemäß die Öffnung 7 a des äußeren Kälteschildes 1a an die Stelle der Öffnung 7 des bekannten Kälteschildes nach Fig. 1a gesetzt wird, kann das vorhandene Dewar für das bekannte Kälteschild weitgehend beibehalten werden. Ein bekanntes Dewar für ein Kälteschild nach Fig. 1a läßt sich damit erfindungsgemäß verwenden, um das axial wesentlich verkürzte innere Kälteschild 1 i und das vorgeschaltete äußere Kälteschild 1 a in dem vorhandenen Dewar ohne wesentliche Änderungen integrieren zu können. Auf diese Weise ist die Umrüstung bekannter Dewars mit Kälteschildern entsprechend Fig. 1a in erfindungsgemäße Einrichtungen bei weitgehender Übernahme der vorhandenen Raumaufteilungen mit geringem Bau- und Kostenaufwand möglich.
Die Erfindung ist nicht auf die dargestellten und/oder beschriebenen Ausführungsbeispiele beschränkt. Dem Fachmann ist hierdurch aber eine technische Lehre vermittelt, durch die er in die Lage versetzt ist, abgeänderte Ausführungen anzugeben, die im Rahmen der Erfindung liegen, wie er durch die vorstehende Berechnung im wesentlichen festgelegt ist. So kann ein Dewar mit einer Kaltblendenöffnung 6 i derart gestaltet werden, daß durch einfachen Wechsel des äußeren Kälteschildes 1 a das Gesamtsystem mit geändertem äußeren Öffnungsverhältnissen betrieben werden kann. Das innere Kälteschild 1 i läßt sich auch getrennt vom Detektorelement 3 extern anordnen.

Claims (16)

1. Infrarot-Strahlendetektoreinrichtung mit
  • - einem gekühlten Detektorelement,
  • - einer das gekühlte Detektorelement von Infrarotstrahlen weitgehend abschirmenden ersten Einrichtung (inneres Kälteschild) mit einer ersten Strahleneintrittsöffnung (innere Kaltblende),
  • - einer Infrarot-Optik (IR-Optik) zur Abbildung eines Infrarotbildes auf dem Detektorelement, und
  • - einer in Lichtrichtung dem inneren Kälteschild vorgeschalteten, von dem inneren Kälteschild thermisch getrennten zweiten Einrichtung (äußeres Kälteschild) mit einer zweiten Strahleneintrittsöffnung (äußere Kaltblende),
    dadurch gekennzeichnet, daß bei
  • - einer IR-Optik mit minimaler optischen Öffnung und vignettierungsfreien Kaltblendenöffnungen 7i, 7a) und einer äußeren Kaltblende (6 a) als Austrittspupille der IR-Optik,
  • - einem kleinstmöglichen inneren Kaltblendenöffnungs­ verhältnis ki = zi/2 hi mit zi für den Abstand der Bildebene von der inneren Kaltblendenöffnung (7 i) und hi der Randhöhe der inneren Kaltblende (6 i),
  • - einem größtmöglichen äußeren Kaltblendenöffnungs­ verhältnis ka = za/2 ha mit za für den Abstand der Bildebene von der äußeren Kaltblendenöffnung (7 a) und ha der Randhöhe der äußeren Kaltblende (6 a)
der Abstand des inneren Kälteschildes in bezug auf das Detektorelement vergleichsweise wesentlich zurückgenommen ist.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß folgende Bedingungen eingehalten sind:
3. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß bei einem maximalen Strahlenwinkel 0 30° (optisches Öffnungsverhältnis 0.8) und bei einem maximalen Gesamtdurchmesser von 2 d des Detektorelements (3) der Bildabstand (zi) von der inneren Kaltblendenöffnung (7 i) etwa d bis 2 d beträgt.
4. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das innere und das äußere Kälteschild (1 i, 1a) mit einer die Austrittspupille der Optik bildenden äußeren Kälteschildöffnung (7 a) in einem Vakuumgefäß (Dewar) integriert sind, das strahleneintrittseitig von einem IR-Fenster (8) abgeschlossen ist, welches der äußeren Kälteschild­ öffnung vorgelagert ist, wobei zi 1/2 za gewählt ist.
5. Einrichtungen nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das innere Kaltblendenöffnungs­ verhältnis ki = zi/2 hi etwa 1,25 bis 1,5 und das äußere Kaltblendenöffnungsverhältnis ka = za/2 ha etwa 2 ist.
6. Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der innere Kaltblendenöffnungsabstand (zi) von der Bildebene etwa 25 mm bis 40 mm und der äußere Kaltblendenöffnungsabstand (za) von der Bildebene etwa 40 bis 60 mm ist.
7. Einrichtung nach den Ansprüchen 5 und 6, dadurch gekennzeichnet, daß die maximale Bildhöhe (d) in der Detektorebene etwa 10 mm ist.
8. Einrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Kaustiken (13-17, 13′- 17′) der von Bildpunkten (18-21; 18′-20′) auf der Detektoroberfläche ausgehenden und von dem äußeren Kälteschild (1 a) gespiegelten Strahlen im Bereich der Öffnung (7 i) der inneren Kaltblende (6 i) mit Abstand von den Wänden (4, 5) des inneren Kälteschildes (1 i) liegen.
9. Einrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere hintereinander gestaffelt angeordnete äußere Kälteschilde vorhanden sind, wobei das äußerste Kälteschild die körperliche Blende als Austrittspupille bildet und die übrigen äußeren Kälteschilde Baffle sind.
10. Einrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das die Austrittspupille bildende äußere Kälteschild (1 i) eine sphärische oder asphärische verspiegelte Innenfläche aufweist.
11. Einrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Krümmungsradius des äußeren Kälteschildes (1 a) etwa 22,5 mm beträgt.
12. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Abstand (zi) des Detektorelements (3) von der Öffnung (7 i) des inneren Kälteschildes (6 i) etwa d beträgt, wobei der das Detektorelement (3) tragende Boden radial äußere Bodenabschnitte aufweist, die die axialen seitlichen Wände des Kälteschildes kranz- bzw. kragenförmig nach außen überragen und der radiale Durchmesser des Bodenabschnittes etwa d beträgt.
13. Einrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekenn­ zeichnet, daß das interne Kälteschild (1 i) getrennt von der Bodenfläche (2) des Detektorelementes (3) extern angeordnet ist und daß das äußere Kälteschild (1 a) asymmetrisch zur optischen Achse angeordnet ist.
14. Einrichtung nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß dem Detektorelement (3) außerhalb der Kaustiken (13-17, 13′-17′) ein Filter (11) (Hoch-, Tief-/Bandpaß) vorgeschaltet ist.
15. Einrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekenn­ zeichnet, daß das IR-Fenster als Filter (Hoch-, Tief- /Bandpaß) ausgebildet ist.
DE4303231A 1993-02-04 1993-02-04 Infrarot-Strahlendetektoreinrichtung Expired - Fee Related DE4303231C2 (de)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4303231A DE4303231C2 (de) 1993-02-04 1993-02-04 Infrarot-Strahlendetektoreinrichtung
PCT/EP1994/000322 WO1994018530A1 (de) 1993-02-04 1994-02-04 Infrarot-strahlendetektoreinrichtung
AU60020/94A AU6002094A (en) 1993-02-04 1994-02-04 Infrared radiation detector
DE59404390T DE59404390D1 (de) 1993-02-04 1994-02-04 Infrarot-strahlendetektoreinrichtung
EP94906220A EP0634005B1 (de) 1993-02-04 1994-02-04 Infrarot-strahlendetektoreinrichtung
US08/658,403 US6057550A (en) 1993-02-04 1996-06-05 Infrared objective

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4303231A DE4303231C2 (de) 1993-02-04 1993-02-04 Infrarot-Strahlendetektoreinrichtung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4303231A1 true DE4303231A1 (de) 1994-08-11
DE4303231C2 DE4303231C2 (de) 1995-02-23

Family

ID=6479657

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4303231A Expired - Fee Related DE4303231C2 (de) 1993-02-04 1993-02-04 Infrarot-Strahlendetektoreinrichtung
DE59404390T Expired - Fee Related DE59404390D1 (de) 1993-02-04 1994-02-04 Infrarot-strahlendetektoreinrichtung

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE59404390T Expired - Fee Related DE59404390D1 (de) 1993-02-04 1994-02-04 Infrarot-strahlendetektoreinrichtung

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6057550A (de)
EP (1) EP0634005B1 (de)
AU (1) AU6002094A (de)
DE (2) DE4303231C2 (de)
WO (1) WO1994018530A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007035682A1 (de) * 2007-07-30 2009-02-05 Lfk-Lenkflugkörpersysteme Gmbh IR-Detektionsvorrichtung

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7598506B2 (en) * 2006-12-22 2009-10-06 The Boeing Company Low-temperature adjustable blackbody apparatus
US7504609B2 (en) * 2007-02-07 2009-03-17 Raytheon Company Phased-array light telescope
FR2936878B1 (fr) * 2008-10-07 2010-12-17 Onera (Off Nat Aerospatiale) Systeme d'imagerie grand infrarouge a chambre obscure integrant une lentille
US20110080483A1 (en) * 2009-10-07 2011-04-07 Semi-Conductor Devices - An Elbit Systems-Rafael Partnership Infra-red imager
US9194750B2 (en) 2009-10-07 2015-11-24 Semi Conductor Devices—Elbit Systems—Rafael Partnership Infra-red imager
US9157806B2 (en) * 2010-02-18 2015-10-13 Rafael Advanced Defense Systems Ltd. System and method for changing spectral range of a cryogenically cooled detector
US20170034455A1 (en) * 2015-07-27 2017-02-02 Flir Systems Ab Detector unit, optical system and thermal camera assembly

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3040176A (en) * 1959-01-26 1962-06-19 Siemens Ag Hot box detector
FR2300332A1 (fr) * 1975-02-04 1976-09-03 Rank Organisation Ltd Ensemble de blindage pour detecteurs de rayonnement thermique
US4011452A (en) * 1975-11-06 1977-03-08 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Antinarcissus reflector assembly for infrared detector
GB2119117A (en) * 1982-04-17 1983-11-09 Zeiss Stiftung Cooled field optical system for infrared telescopes
EP0044791B1 (de) * 1980-07-22 1984-11-07 Thomson-Csf Einrichtung zum Detektieren von Infrarotstrahlung
DD218454A1 (de) * 1983-03-22 1985-02-06 Univ Dresden Tech Gesichtsfeldblende fuer gekuehlte infrarotdetektoren
EP0300130A2 (de) * 1987-07-20 1989-01-25 Steinheil Optronik Gmbh Infrarot-Strahlungsdetektoreinrichtung
US4937450A (en) * 1987-02-25 1990-06-26 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Infrared detector comprising an evacuated and cooled Dewar having an elliptical spheroid end window
DE3716358C2 (de) * 1987-05-15 1990-12-20 "Steinheil" Optronik Gmbh, 8045 Ismaning, De
DE3930828C2 (de) * 1989-09-14 1991-07-11 Wolfgang Dipl.-Ing. 8000 Muenchen De Knappe

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6176923A (ja) * 1984-09-21 1986-04-19 Toshiba Corp 赤外光測定装置
FR2586292B1 (fr) * 1985-08-13 1989-02-03 Thomson Csf Barrette de detecteurs infrarouge comportant un ecran froid a angle de vue constant
US4783593A (en) * 1985-12-26 1988-11-08 General Electric Company Optical system for wide angle IR imager
US4820923A (en) * 1986-06-19 1989-04-11 Santa Barbara Research Center Uncooled reflective shield for cryogenically-cooled radiation detectors
JPH01299421A (ja) * 1988-05-27 1989-12-04 Fujitsu Ltd 赤外線撮像装置
JPH0629778B2 (ja) * 1988-12-13 1994-04-20 三菱電機株式会社 赤外線光学装置
US4990782A (en) * 1989-06-23 1991-02-05 Santa Barbara Research Center Radiation shield for thermoelectrically cooled infrared detectors

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3040176A (en) * 1959-01-26 1962-06-19 Siemens Ag Hot box detector
FR2300332A1 (fr) * 1975-02-04 1976-09-03 Rank Organisation Ltd Ensemble de blindage pour detecteurs de rayonnement thermique
US4011452A (en) * 1975-11-06 1977-03-08 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Antinarcissus reflector assembly for infrared detector
EP0044791B1 (de) * 1980-07-22 1984-11-07 Thomson-Csf Einrichtung zum Detektieren von Infrarotstrahlung
GB2119117A (en) * 1982-04-17 1983-11-09 Zeiss Stiftung Cooled field optical system for infrared telescopes
DD218454A1 (de) * 1983-03-22 1985-02-06 Univ Dresden Tech Gesichtsfeldblende fuer gekuehlte infrarotdetektoren
US4937450A (en) * 1987-02-25 1990-06-26 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Infrared detector comprising an evacuated and cooled Dewar having an elliptical spheroid end window
DE3716358C2 (de) * 1987-05-15 1990-12-20 "Steinheil" Optronik Gmbh, 8045 Ismaning, De
EP0300130A2 (de) * 1987-07-20 1989-01-25 Steinheil Optronik Gmbh Infrarot-Strahlungsdetektoreinrichtung
DE3930828C2 (de) * 1989-09-14 1991-07-11 Wolfgang Dipl.-Ing. 8000 Muenchen De Knappe

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
J. VORTMAN, A. BAR-LEV, Optical Engineering 25 (1986) 1, 123-131 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007035682A1 (de) * 2007-07-30 2009-02-05 Lfk-Lenkflugkörpersysteme Gmbh IR-Detektionsvorrichtung
DE102007035682B4 (de) * 2007-07-30 2018-01-11 Mbda Deutschland Gmbh IR-Detektionsvorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
DE4303231C2 (de) 1995-02-23
EP0634005B1 (de) 1997-10-22
US6057550A (en) 2000-05-02
WO1994018530A1 (de) 1994-08-18
DE59404390D1 (de) 1997-11-27
AU6002094A (en) 1994-08-29
EP0634005A1 (de) 1995-01-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0639783B1 (de) Detektoreinrichtung
DE69727102T2 (de) Integrierte hochauflösende Rundum-Sensoroptik
DE69630749T2 (de) Optischer Panoramakopf mit planem reflektierenden Eingangselement
DE69309338T2 (de) Refraktives, afokales Infrarotteleskop mit drei Gesichtsfeldern
DE3214269C2 (de)
DE3513672C2 (de)
DE3300728C2 (de) Ein im infraroten Spektralbereich arbeitendes optisches Beobachtungssystem
EP0065159B1 (de) Bewegungsmelder zur Raumüberwachung
DE3143385C2 (de)
DE4303231A1 (de) Infrarot-Strahlendetektoreinrichtung
DE3138818A1 (de) Afokales linsenfernrohr
DE3716358C2 (de)
EP0516641B1 (de) Monokulares teleskop
DE4331735C1 (de) Objektiv
DE602004008054T2 (de) Bildgebendes System für den Infrarot-Spektralbereich mit monolithischem Linsen-und Reflektorelement
DE69618887T2 (de) Asphärische Elemente für Infrarot-Abbildungssystem
DE69805792T2 (de) Optische Architektur für infrarotes Betrachtungssystem
DE69503580T2 (de) Optische abbildungsvorrichtung zur anwendung mit strahlenabschirmenden umschliessungen
EP0821804B1 (de) Konusoptik zur fokussierung von strahlung und verwendung derselben für optische bewegungsmelder
DE2605837A1 (de) Optische abtasteinrichtung
DE69404054T2 (de) Infrarotfernrohr mit Schwingspiegel
DE1087366B (de) Ausziehfernrohr mit Vergroesserungswechsel
EP0300130A2 (de) Infrarot-Strahlungsdetektoreinrichtung
DE3540019C1 (en) Thermal imaging camera
DE29817048U1 (de) Solano-Schiefspiegler

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: BRITISH AEROSPACE PLC LTD. CO., FARNBOROUTH, HANTS

8328 Change in the person/name/address of the agent

Free format text: PAETZOLD, H., DIPL.-ING. DR.-ING., PAT.-ANW., 82166 GRAEFELFING

8339 Ceased/non-payment of the annual fee