DE4232902A1 - Substrathalter - Google Patents
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
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Description
Die Erfindung betrifft einen Substrathalter zum Trans
port von flachen kreisscheibenförmigen Substraten in
einer Vakuum-Prozeßanlage, in der das Substrat ein- oder
beidseitig in beliebiger Raumlage einer Behand
lung, wie zum Beispiel Sputterbeschichten oder Plasma
ätzen unterzogen wird.
In der Vakuum-Prozeßtechnik - insbesondere in der Dünn
schichttechnik - ist das Beschichten von kreisscheiben
förmigen Substraten beispielsweise von Glas- oder Alu
miniumscheiben für magneto-optische Datenträger be
kannt. Diese MO-Discs sind ein modernes Speichermedium
für digitale Informationen. In einem Vakuum-Beschich
tungsprozeß werden dünne magneto-optische Schichten aus
zum Beispiel Eisen-Terbium-Kobalt-Legierungen auf
gebracht. Mittels dem Licht von Halbleiter-Lasern läßt
sich die Information in digitaler Form auf die magneto-
optische Speicherschicht übertragen und unter Zuhilfe
nahme von magneto-optischen Effekten (Kerr- oder Fara
day Effekt) in analoger Weise wieder auslesen.
Aus wirtschaftlichen Gründen ist es wünschenswert, die
Scheiben nicht nur einseitig sondern beidseitig zu
beschichten. Sämtliche Entwicklungen auf diesem Gebiet
tendieren bekanntlich zu größeren Speicherdichten bei
gleichzeitig größerer Kompaktheit bzw. kleiner Bauweise
der entsprechenden Geräte. Für derartige Anwendungen
werden Sputteranlagen eingesetzt, in denen die Scheiben
entweder im Durchlaufverfahren oder auf einem kreis
förmigen Wege an mehreren Beschichtungsquellen, so
genannten Magnetrons vorbeibewegt werden, um eine oder
mehrere Schichten aufzubringen. Bei der Beidseitenbe
schichtung können beide Seiten einer Scheibe prinzi
piell hintereinander oder auch gleichzeitig beschichtet
werden. Der gleichzeitigen Beschichtung ist aus mehre
ren Gründen der Vorzug zu geben. Auf der einen Seite
möchte man die Vakuum-Beschichtungsanlage so kompakt
wie möglich aufbauen, zum anderen muß gewährleistet
sein, daß die Beschichtungen auf beiden Seiten unter
gleichen Bedingungen stattfinden. Nur so sind die hohen
Anforderungen an reproduzierbaren Schichteigenschaften
erfüllbar.
Der Erfindung liegt folgende Aufgabe zugrunde:
Für die oben beschriebene Anwendung soll die gesamte
Fläche der Kreisscheibe gleichmäßig mit der Datenträger
schicht versehen werden. Aufgrund der Beidseitenbe
schichtung muß die Halterung der Kreisscheibe so erfol
gen, daß die Elemente der Halterung die zu beschichten
de Fläche nicht abdecken oder abschatten. Die Aufgabe
besteht also darin, eine solche Scheibenhalterung zu
finden, bei der die Greif- und Halteelemente, die für
den Transport der Scheibe in beliebiger Raumlage, vor
zugsweise in senkrechter Position erforderlich sind,
nicht die zu beschichtende Fläche abdecken und den
äußeren Scheibenrand für die Nutzung einer Speicher
schicht ausschließen.
Eine weitere Aufgabe hängt mit der Tatsache zusammen,
daß die Datenträgerschicht aus einer mehrkomponentigen
Legierungsschicht zusammengesetzt ist und, daß gering
ste Variationen der Legierungszusammensetzung über die
Fläche der Scheibe zu unerwünschten Änderungen der
magnetischen Eigenschaften führt. Deshalb besteht die
Aufgabe unter anderem darin, eine Halterung zu finden,
die das Substrat immer reproduzierbar, nach dem Trans
port zentrisch zu den beiden Beschichtungsquellen hal
tert.
Eine weitere Aufgabe besteht darin, eine Vorrichtung zu
finden, die die Halterung zuverlässig über einen länger
en Zeitraum gegen eine Beschichtung abschirmt. Eine
Beschichtung der Halte- oder Greifelemente würde über
einen längeren Produktionszeitraum zu unerwünschter
Flitterbildung und Verunreinigung der aufzubringenden
Schicht führen. Weiterhin besteht die Aufgabe, die
Halterung so zu gestalten, daß durch den Greifvorgang,
beziehungsweise durch das Schließen und Öffnen der
Halteelemente möglichst keine Partikel und kein Abrieb
an der Scheibe entstehen, der wiederum zu unerwünschten
Störungen in der Speicherschicht beziehungsweise in der
Informationsübertragung führen würde. Schließlich be
steht eine weitere Aufgabe darin, eine Halterung zu
finden, die es ermöglicht, das Substrat auf gleichmäßi
ger Beschichtungstemperatur zu halten und zu vermeiden,
daß durch unsymmetrische Kontaktierung der Scheibe ein
Wärmetransport, beziehungsweise ein Wärmeverlust von
der Scheibe zu den Elementen der Halterung erfolgt. Für
die Beschichtung von Eisen-Terbium-Kobalt-Legierungen
ist es bekanntlich von großer Wichtigkeit, daß die Be
schichtungstemperatur des Substrates auf der gesamten
Fläche konstant bleibt.
Die gestellten Aufgaben werden erfindungsgemäß durch
die Merkmale und Einzelheiten der Patentansprüche ge
löst.
Die Erfindung läßt die verschiedensten Ausführungsmög
lichkeiten zu; eine davon ist schematisch in den anhän
genden Zeichnungen näher dargestellt und zwar zeigen:
Fig. 1 in axonometrischer Darstellung (stark verein
facht) den erfindungsgemäßen Substrathalter,
Fig. 2 eine radialsymmetrische Anordnung derartiger
Substrathalter, wie sie in einer ringförmigen
Kathodenzerstäubungsanlage, bei der die Be
schichtungsstationen auf einem Kreisring
angeordnet sind, zum Einsatz kommen und
Fig. 3 den Substrathalter mit beidseitigen Abdeck
blenden zum Schutz der Haltefinger gegen eine
Beschichtung in der Seitenansicht.
Das zu beschichtende Substrat 9 wird mittels zweier
symmetrisch angeordneter Haltefinger 1, 2 bzw. 1′, 2′
zwischen den beiden Spanngliedern 8, 8′ gehalten. Die
Krafteinbringung erfolgt über die beiden Punkte 7, 7′,
die sich durch eine Gerade mit dem Mittelpunkt M der
Scheibe verbinden lassen. Die Angriffspunkte der Halte
finger 3, 4 beziehungsweise 3′, 4′ liegen diametral
gegenüber, wobei sich die Verlängerungen der Halte
finger im Mittelpunkt des Substrats 9, unter Einschluß
des Zentralwinkels α bzw. α′ treffen. Die Haltefinger
weisen Verlängerungen 5, 6 bzw. 5′, 6′ auf, die mittig
am Punkt der Krafteinbringung 7, 7′ zusammengeführt
sind.
Die Krafteinbringung erfolgt gemäß Fig. 2 über die
Spannglieder 8, 8′ einer Transportzange 14, wobei das
Öffnen und Schließen der Spannglieder durch nicht näher
bezeichnete zweiarmige Hebel übertragen wird. Die Trans
portzange 14 ist im Beispiel der Fig. 2 Teil eines mit
mehreren Greifzangen ausgerüsteten Transportrades 15
für den Transport der Substrate auf einer kreisförmigen
Bahn um die Nabe 16. Ein solcher Substratträger findet
zum Beispiel bei den eingangs erwähnten zirkularen
Sputter-Beschichtungsanlagen Verwendung.
In Fig. 3 ist die Seitenansicht einer beidseitigen
Beschichtungsstation mit zwei Beschichtungsquellen 12
und 13 dargestellt. Zwischen diesen Quellen und dem
Substrat 9 sind jeweils die Blenden 10 und 11 vorge
sehen, die nur die zu behandelnde Substratfläche, nicht
aber den Bereich außerhalb des Substrats mit den Halte
fingern für eine Beschichtung freilassen. Wie in Fig. 1
mit strichlierten Linien angedeutet ist, weisen die
Blenden 10, 11 eine etwa kreisringförmige Konfiguration
auf. Die Blenden 10, 11 übergreifen den Rand der Quel
len 12, 13 topfförmig und sind im übrigen koaxial zur
Substratachse M angeordnet.
Bezugszeichenliste
1, 1′ Haltefinger
2, 2′ Haltefinger
3, 3′ Angriffspunkt des Haltefingers
4, 4′ Angriffspunkt des Haltefingers
5, 5′ Verlängerung des Haltefingers
6, 6′ Verlängerung des Haltefingers
7, 7′ Krafteinbringung
8, 8′ Spannglied
9 Substrat
10 Abdeckblende
11 Abdeckblende
12 Beschichtungsquelle
13 Beschichtungsquelle
14 Greifzange
15 Transportrad
16 Nabe
2, 2′ Haltefinger
3, 3′ Angriffspunkt des Haltefingers
4, 4′ Angriffspunkt des Haltefingers
5, 5′ Verlängerung des Haltefingers
6, 6′ Verlängerung des Haltefingers
7, 7′ Krafteinbringung
8, 8′ Spannglied
9 Substrat
10 Abdeckblende
11 Abdeckblende
12 Beschichtungsquelle
13 Beschichtungsquelle
14 Greifzange
15 Transportrad
16 Nabe
Claims (11)
1. Substrathalter zum Transport von flachen kreis
scheibenförmigen Substraten (9) in einer Vakuum-
Prozeßanlage, in der das Substrat ein- oder beid
seitig in beliebiger Raumlage einer Behandlung,
wie z. B. Sputterbeschichten oder Plasmaätzen,
unterzogen wird, gekennzeichnet durch zwei gleich
artige Paare von federnden Haltefingern (1, 2 und
1′, 2′) mit folgenden Merkmalen:
- - die Haltefinger liegen in der Substratebene
- - die Wirkrichtung der Haltefinger erstreckt sich in Längsrichtung hin zum Substratmittel punkt M
- - die beiden Paare von Haltefingern stehen sich diametral gegenüber
- - der von den Kreisscheibenradien durch die Haltepunkte (3, 4 und 3′, 4′) eingeschlossene Winkel (α) liegt über 0° und unter 180°, vor zugsweise aber zwischen 25° und 120°
- - die Haltefinger jeweils eines Paares sind auf der dem Substrat abgewandten Seite über ein gemeinsames Verbindungsglied oder über zwei gleichartig ausgebildete Verlängerungen mit einander kraftschlüssig verbunden
- - die Mitte der Verbindungsglieder (5, 6 bzw. 5′, 6′) liegt auf einer gedachten Geraden, die durch den Kreisscheiben-Mittelpunkt M läuft und bildet den Krafteinleitungsort (7, 7′) für das jeweilige Spannglied (8, 8′) zum Einbringen der Zuspannkraft des Substrats, wobei sich beide Spannglieder (8, 8′) an nähernd längs der gedachten Geraden durch den Substratmittelpunkt bewegen.
2. Substrathalter nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß eine kreisförmige, aus Blechzuschnit
ten gebildete Abdeckblende, die die federnden
Haltefinger bis zum Haltepunkt abdeckt und die
sich zwischen der Kreisscheibe und einer Beschich
tungsquelle nahe der Kreisscheibe in einer zu ihr
parallelen Ebene erstreckt, vorgesehen ist.
3. Substrathalter nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Abdeckblende gegenüber der Kreis
scheibe und den Haltefingern elektrisch isoliert
ist.
4. Substrathalter nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Abdeckblende geerdet ist und die
Kreisscheibe mit den Haltefingern auf positivem
oder negativem Potential liegt, wobei der Abstand
der Abdeckblende zu den Haltefingern kleiner als
der Dunkelraumabstand ist.
5. Substrathalter nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß die federnden Haltefinger (1, 2)
und (1′, 2′) aus flachem, im Vergleich zur Sub
stratdicke etwas breiterem Federband gefertigt
sind und deren substratseitigen Enden zur Aufnahme
des Substratrandes eingekerbt sind, wobei die
Enden den Substratrand geringfügig übergreifen.
6. Substrathalter nach Anspruch 1 und 5, dadurch ge
kennzeichnet, daß die federnden Haltefinger zum
Zweck einer schlechten Wärmeübertragung einen
geringen Querschnitt aufweisen und/oder aus einem
Werkstoff mit geringer Wärmeleitfähigkeit sind.
7. Substrathalter nach Anspruch 1 und 5, dadurch ge
kennzeichnet, daß die federnden Haltefinger aus
stromleitendem Werkstoff gefertigt sind.
8. Substrathalter nach Anspruch 1 und 5, dadurch ge
kennzeichnet, daß die federnden Haltefinger lösbar
mit ihren Verlängerungen verbunden sind.
9. Substrathalter nach Anspruch 1 und 5, dadurch ge
kennzeichnet, daß jeweils ein Paar der Verlänger
ungen lösbar miteinander verbunden ist.
10. Substrathalter nach Anspruch 1 und 5, dadurch ge
kennzeichnet, daß sowohl die Haltefinger als auch
die Verlängerungen eine geradlinige, eine ge
bogene oder eine geschweifte Konfiguration auf
weisen.
11. Substrathalter nach einem oder mehreren der vor
hergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß parallel zur Substratebene Blenden (10, 11)
vorgesehen sind, die Teile der Spannglieder (8,
8′) und/oder der Haltefinger (1, 2, 1′, 2′) zu
mindest teilweise überdecken, wobei die Blenden
aus Blechzuschnitten gebildet sind und eine sichel
förmige oder kreisscheibenförmige Konfiguration
aufweisen und zur Substratachse (M) konzentrisch
angeordnet sind.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4232902A DE4232902C2 (de) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | Substrathalter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4232902A DE4232902C2 (de) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | Substrathalter |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE4232902A1 true DE4232902A1 (de) | 1994-03-31 |
| DE4232902C2 DE4232902C2 (de) | 2001-06-28 |
Family
ID=6469307
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE4232902A Expired - Lifetime DE4232902C2 (de) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | Substrathalter |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE4232902C2 (de) |
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-
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| US11152243B2 (en) | 2017-09-21 | 2021-10-19 | Muehlbauer GmbH & Co. KG | Device for aligning and optically inspecting a semiconductor component |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE4232902C2 (de) | 2001-06-28 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
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Owner name: UNAXIS DEUTSCHLAND HOLDING GMBH, 63450 HANAU, DE |
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