DE4231069A1 - Variabler Auflicht-Interferenzansatz nach Mirau - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft einen variablen Auflicht-Interferenzansatz nach Mirau für die Beobachtung und Messung an Objektoberflächen.

Zu den interferenzmikroskopischen Verfahren, die unter Zuhilfenahme der Erscheinungen der Interferenz des Lichtes Aufschluß über die Mi­ krostruktur der Objekte geben, gehören neben der Vielstrahl-Interfe­ renz-Einrichtung nach Tolansky auch Zweistrahl-Interferenz-Einrichtun­ gen nach Michelson bzw. nach Mirau.

Aus K. Mütze: "ABC der Optik", Verlag Werner Dausien, Hanau 1960, Sei­ ten 400 und 401, ist ein Auflicht-Interferenzmikroskop nach Mirau be­ kannt, vgl. Seite 401, rechte Spalte in Verbindung mit Abb. 2, bei dem zwischen der Frontlinse eines Auflichtobjektives und dem zu prüfenden Objekt eine teildurchlässige Fläche angeordnet ist. Außerdem weist die zum Objekt weisende Seite der Frontlinse in ihrem Zentralbe­ reich einen verspiegelten Fleck auf. Bei dieser bekannten Anordnung wird das einfallende Beleuchtungslicht an der senkrecht zur Mikroskop­ achse angeordneten teildurchlässigen Fläche in zwei Teile aufgespal­ ten. Ein Teil fällt nach Durchtritt durch die teildurchlässige Fläche auf das Objekt, wird dort reflektiert und durchdringt erneut die teil­ durchlässige Fläche und tritt schließlich wieder in die Frontlinse des Objektivs ein. Der andere Teil wird an der teildurchlässigen Fläche reflektiert, trifft sodann auf den metallisch reflektierenden Fleck, wird anschließend auf die teildurchlässige Fläche zurückgeworfen und überlagert sich nach nochmaliger Reflexion dieser Teilerfläche mit dem vom Objekt kommenden reflektierten Licht.

Der Nachteil dieser bekannten Anordnung besteht unter anderem darin, daß die zu untersuchenden Objekte Reflektivitäten (Reflexionswerte) aufweisen können, die in weiten Grenzen variieren. Wenn beispielsweise ein Objekt ausgemessen werden soll, das lediglich einen Reflexionswert von 5% aufweist (z. B. ein Kohle-Präparat), so können extreme Hellig­ keitsprobleme auftreten, da der metallisch reflektierende, verspie­ gelte Fleck im Vergleich zum schwach reflektierenden Kohle-Präparat eine sehr hohe Reflektivität aufweist.

Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einen Auflicht- Interferenzansatz bereitzustellen, mit dem Objektoberflächen unter­ schiedlichster Reflektivitäten ohne Helligkeitsprobleme beobachtet und vermessen werden können, wodurch die Verwendung des erfindungsgemäßen Interferenzansatzes für alle praktisch in Frage kommenden Objekte ohne Einschränkungen ermöglicht wird.

Die Aufgabe wird bei einem Interferenzansatz der eingangs genannten Art erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß der Träger mehrere Teilerspie­ gel aufweist, die sich in ihren jeweiligen Reflexions-/Transmissions- Charakteristiken definitiv unterscheiden und die in Abhängigkeit von der Reflektivität des zu untersuchenden Objektes wahlweise in Wirk­ stellung bringbar sind.

Weitere zweckmäßige Ausgestaltungen ergeben sich aus den Unteransprü­ chen.

Die Erfindung ist anhand der Fig. 1 und 2 näher erläutert. Es zei­ gen:

Fig. 1 eine schematische Darstellung des erfindungsgemäßen Auflicht-Interferenzansatzes im Vertikal-Schnitt;

Fig. 2 eine Draufsicht auf die die unterschiedlichen Teilerspiegel tragende Revolverscheibe.

In Fig. 1 ist die Frontlinse 2 eines Objektives 1 eines nicht mit dar­ gestellten Mikroskops gezeigt, dessen optische Achse 3 gleichzeitig die optische Achse des erfindungsgemäßen Interferenzansatzes ist. Auf einer Glasplatte 5, die vertikal zur optischen Achse 3 angeordnet ist, befindet sich auf der zum Objektiv 1 weisenden Seite ein Referenzspie­ gel 6. Dabei handelt es sich um einen metallisch reflektierenden, zen­ tral positionierten Belag, der beispielsweise durch Aufdampfen aufge­ bracht werden kann. Zwischen der Glasplatte 5 und dem Objekt 4 befin­ det sich eine beispielsweise aus Glas bestehende Revolverscheibe 7, deren Drehachse 9 parallel zur optischen Achse 3 verläuft, aber seit­ lich zu dieser versetzt angeordnet ist. Auf der Revolverscheibe befin­ den sich - wie in Fig. 2 erkennbar - vier Teilerspiegel 8a-8d, die durch Betätigung der Revolverscheibe 7 wahlweise in Wirkstellung, also in den Bereich der optischen Achse, gebracht werden können. Die Revol­ verscheibe 7 zeigt vier derartige Teilerspiegel, wobei beispielsweise der Teilerspiegel 8a ein Reflexions-/Transmissions-Verhältnis (R/T- Verhältnis) von 20/80, der Teilerspiegel 8b ein R/T-Verhältnis von 35/65, der Teilerspiegel 8c ein R/T-Verhältnis von 43/57 und der Tei­ lerspiegel 8d ein R/T-Verhältnis von 50/50 aufweist. Natürlich ist es auch möglich, noch weitere Teilerspiegel mit speziellen R/T-Charakte­ ristiken auf der Revolverscheibe 7 vorzusehen.

Die Glasplatte 5 und die Revolverscheibe 7 sind zweckmäßigerweise als separate Baueinheit ausgeführt, vgl. in Fig. 1 den Ansatz-Modul 12, wo­ bei die Betätigung der Revolverscheibe 7 beispielsweise derart erfol­ gen kann, daß der Peripher-Bereich der Revolverscheibe aus dem separa­ ten Ansatz-Modul-Gehäuse etwas herausragt, so daß eine manuelle Drehung durch den Bediener vorgenommen werden kann. Natürlich sind auch moto­ rische Verstellmittel möglich.

Die Funktion der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist folgende:
Ein Be­ leuchtungsstrahlenbündel 13 durchdringt nach Verlassen der Frontlinse 2 die Glasplatte 5 und wird an dem Teilerspiegel 8a in zwei Teile aufgespalten. Der eine Teil wird reflektiert und gelangt als Referenz­ strahl 10 nach Durchtritt durch die Glasplatte 5 auf den metallisch reflektierenden Referenzspiegel 6 und wird von dort aus in Richtung des Teilerspiegels 8a zurückreflektiert und von dort wiederum in Rich­ tung der Glasplatte 5 umgelenkt. Dieser Referenzstrahlengang ist durch die entsprechenden Pfeile in der Fig. 1 gekennzeichnet. Der andere Teil durchdringt den Teilerspiegel 8a und trifft nach Verlassen der aus transparentem Material bestehenden Revolverscheibe 7 auf der Oberflä­ che des Objekts 4 als Objektstrahl 11 auf. Von dort gelangt er nach Reflexion am Objekt 4 und nach Wiederdurchtritt durch die Revolver­ scheibe 7 sowie den Teilerspiegel 8a mit dem Referenzstrahl 10 zur In­ terferenz. Beide Teilstrahlen 10 und 11 gelangen nach Durchtritt durch das Objektiv 1 als Abbildungs- bzw. Meßstrahlenbündel in das eigentli­ che Mikroskop.

Da es Objekte mit extrem unterschiedlichen Reflexionswerten gibt, müßte die Reflektivität des Referenzspiegels 6 derart variabel gestal­ tet sein, daß sie an die Gegebenheiten des gerade untersuchten Objek­ tes optimal angepaßt ist, um die ansonsten auftretenden Hellig­ keitsprobleme zu vermeiden. Das bedeutet, daß in beiden Teilstrahlen­ gängen 10 und 11 möglichst gleiche Helligkeiten vorhanden sein soll­ ten, um einen optimalen Kontrast zu erzielen. Dies geschieht in erfin­ dungsgemäßer Weise nun dadurch, daß die optimale Anpassung an den je­ weiligen Reflexionsgrad des mikroskopischen Objektes mittels der Re­ volverscheibe 7 dadurch erfolgt, daß derjenige Teilerspiegel 8a bzw. 8b bzw. 8c bzw. 8d in Wirkstellung gebracht wird, der die für das auszumessende Objekt 4 optimalste R/T-Charakteristik aufweist. Durch eine derartige Anpassung mittels Betätigung der Revolverscheibe an den Reflexionswert des gerade zu untersuchenden Objektes wird insbesondere bei dunklen Objekten (sehr schwache Reflektivität) eine größere Präpa­ rat- und Bildhelligkeit erreicht. So ist es beispielsweise möglich, bei einem Objekt, daß einen Reflexionswert von nur 5% aufweist, eine Helligkeitserhöhung um den Faktor 2 bis 3 zu erreichen.

Es hat sich als vorteilhaft erwiesen, bei Objekten, die einen Reflexi­ onswert im Bereich von 5% aufweisen, beispielsweise einem Kohle-Präpa­ rat oder einer Glasplatte, einen Teilerspiegel mit einem R/T- Verhältnis von 20/80 zu wählen. Bei Kristall-Präparaten, die beipiels­ weise einen Reflexionswert um 25% aufweisen, ist ein Teilerspiegel mit einem R/T-Verhältnis von 35/65 zweckmäßig. Halbleitermaterialien, die einen Reflexionswert um 50% aufweisen, sind zweckmäßigerweise mit ei­ nem Teilerspiegel zu untersuchen, der ein R/T-Verhältnis von 43/57 aufweist. Metallische Objekte, beispielsweise Aluminiumspiegel mit ei­ nem Reflexionsgrad um 85%, werden vorteilhafterweise mit einem Teiler­ spiegel mit einem R/T-Verhältnis von 50/50 untersucht. Darüber hinaus ist es natürlich möglich, weitere Teilerspiegel mit speziellen R/T- Charakteristiken vorzusehen.

Nach einer besonders zweckmäßigen Ausführungsform der vorliegenden Er­ findung ist der Referenzspiegel 6 auf der Glasplatte 5 mit einer Re­ flektivität von vorzugsweise 85% ausgestattet. Auch hier sind Modifi­ zierungen möglich. Beispielsweise kann die Glasplatte 5 in dem Ansatz- Modul 12 austauschbar gehaltert sein, um sie gegen eine andere Glas­ platte auszutauschen, die einen Referenzspiegel mit einer anderen Re­ flexions-Charakteristik bzw. einer anderen geometrischen Größe auf­ weist. Auch ist es möglich, daß der Referenzspiegel 6 Scharfstellmar­ kierungen enthält, die beispielsweise als kleinformatige, linienför­ mige Fenster innerhalb des metallischen Spiegelbelags ausgebildet sind.

Der erfindungsgemäße Interferenzansatz nach Mirau kann in an sich be­ kannter Weise am Objektiv eines Mikroskopes mittels eines Schraubenge­ windes bzw. eines Bajonettverschlusses lösbar adaptiert werden. Mit der erfindungsgemäßen Einrichtung ist es möglich, den Einsatzbereich von an sich bekannten Mikroskopen bezüglich spezieller Beobachtungs­ bzw. Meßaufgaben zu erweitern. Das erfindungsgemäße Prinzip ist indes auch in einem speziellen Mirau′schen Interferenzmikroskop verwendbar.

Claims (7)

1. Variabler Auflicht-Interferenzansatz nach Mirau, enthaltend einen Referenzspiegel und einen einen Teilerspiegel aufweisenden Träger, welcher zwischen dem Referenzspiegel und dem Objekt angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Träger mehrere Teilerspiegel (8a-8c) aufweist, die sich in ihren jeweiligen Reflexions-/Transmissions-Charakteristiken defi­ niert unterscheiden und die in Abhängigkeit von der Reflektivität des zu untersuchenden Objektes (4) wahlweise in Wirkstellung bringbar sind.

2. Interferenzansatz nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Träger als Revolverscheibe (7) ausgebildet ist.

3. Interferenzansatz nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Träger als linearer Schieber ausgebildet ist.

4. Interferenzansatz nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß auf dem Träger mindestens vier Teilerspiegel (8a-8c) mit folgenden Reflexions-/Transmissions-Charakteristiken vorgesehen sind:
20/80, 35/65, 43/57, 50/50.

5. Interferenzansatz nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Referenzspiegel (6) auf der zum Objektiv (1) weisenden Seite einer Glasplatte (5) aufgebracht ist, eine Reflektivität von vorzugsweise 85% aufweist und daß er Scharfstellmarkierungen enthält.

6. Interferenzansatz nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die den Referenzspiegel (6) tragende Glasplatte (5) und der die Teilerspiegel (8a-8c) aufnehmende Träger als Ansatz-Modul (12) in einer separaten Baueinheit zusammengefaßt sind, welcher - gegebenenfalls unter Zwischenschaltung eines weiteren Anflanschteils - am Objektiv (1) lösbar befestigbar ist.

7. Interferenzansatz nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Referenzspiegel (6) gegen einen solchen mit einer anderen Reflektivität bzw. mit einer anderen geometrischen Größe austauschbar ist.