DE4228344A1 - Verfahren zur Photoresistbeschichtung von mikromechanisch dreidimensional strukturierten Bauteilen in der Mikrostrukturtechnik sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents
Verfahren zur Photoresistbeschichtung von mikromechanisch dreidimensional strukturierten Bauteilen in der Mikrostrukturtechnik sowie Vorrichtung zur Durchführung des VerfahrensInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Photoresist-Beschichtung von mikromecha
nisch dreidimensional strukturierten Bauteilen in der Mikrostrukturtechnik mittels
einer Kombination aus elektrohydrodynamischer Ionenquelle und der Ionenspray-
Methode. Die Erfindung betrifft ferner eine Vorrichtung zur Durchführung des Ver
fahrens.
Beschichtungsverfahren der vorgenannten Art lassen sich u. a. in folgenden Bereichen
einsetzen:
- - Halbleitertechnologie, Beschichtung von
- - Leiterplatten
- - Hybridschaltungen
- - Wafern
- - Mikrostrukturtechnik, Beschichtung von
- - LIGA-Strukturen (E.W. Becker, W. Ehrfeld, P. Hagmann, A. Maner, D. Münchmeyer: Fabrication of Microstructures with High Aspect Ra tios and Great Structural Heights by Synchrotron Radiation Lithography, Galvanoforming, and Plastic Moulding (LIGA Process); Microelectronic Engineering 4 (1986) 35).
- - dreidimensional strukturierten Kunststoff- oder Keramikbauteilen.
Als konventionelle Methoden zur Herstellung dünner Photoresist-Schichten sind be
kannt:
- - Schleuderbeschichtung (Spin-on-Verfahren)
Ein Tropfen des in einem Lösungsmittel gelösten Photoresists wird auf das Substrat aufgebracht, welches in Rotation (typisch: 5000 min-1) versetzt wird. Durch die auftretenden Zentrifugalkräfte bildet sich ein homogener Photoresist-Film, dessen Schichtdicke von der Drehzahl des Substrates und der Viskosität des Photoresists abhängt (siehe: D. Widmann, H. Mader, H. Fried rich: Technologie hochintegrierter Schaltungen; Springer-Verlag, Berlin 1988). - - Elektrostatische Sprühbelackung
Dieses Verfahren wird zur Beschichtung von großflächigen stark strukturierten Bauteilen i. allg. in der Form der elektrostatischen Pulverbeschichtungstechnik angewandt (siehe J.F. Hughes: Electrostatic Powder Coating; in: Encyclopedia of Physical Science and Technology, Vol. 4; Academic Press, London 1987). In neuerer Zeit wird bei vielen Anwendungen immer mehr die Verbindung der elektrostatischen Sprühbelackung mit der sog. Hochrotationszerstäubung ein gesetzt (B. Böndel, VDI Nachrichten, 46(13) (1992) S.15). Der Einsatz dieser Techniken zur Photoresist-Beschichtung ist nur in wenigen Fällen bekannt (siehe: Produktinformation der Firma Böllhoff Verfahrenstechnik: Rationelle Beschichtungstechnologie für die Elektronik, Druckschrift 13-01D, Fa. Böllhoff Verfahrenstechnik, Duisburger Str. 7, 4800 Bielefeld 14). Der mit Lösungsmit tel vermischte Photoresist trifft hier auf eine mit hoher Drehzahl rotierende Sprühglocke ( 35000 min-1), die am äußeren Rand mit kleinen Öffnungen versehen ist. Durch die auftretenden Zentrifugalkräfte wird die Photoresist- Lösung nach außen geschleudert und durch die Öffnungen der Sprühglocke gedrückt. Dabei werden die entstehenden Tröpfchen durch Reibungselektri zität aufgeladen. Die Tröpfchenbildung ist also rein mechanisch; die hohen eingesetzten Spannungen ( 100 kV) zwischen der Rotationsglocke und dem zu beschichtenden Substrat dienen der Fokussierung der Tröpfchen auf das Substrat. Die Tröpfchengröße hängt von der Anzahl und Größe der Öffnun gen, der zugeführten Photoresist-Menge und der Drehzahl der Sprühglocke ab. - - Trocken-Resist
Eine Photoresist-Folie wird in einem sog. Laminator auf das Substrat mit Hilfe von Druck (typisch: einige bar) und Wärme (typische Temperaturen um 110°C) aufgebracht (siehe J.G. Fish: Organic Polymer Coatings; in: Deposition Technologies for Films and Coatings, Noyes Publication, Park Ridge (N.J.) 1982).
Nachteilig ist bei diesen Verfahren:
- 1. Die zu beschichtenden Bauteile unterliegen sowohl beim Spin-on Verfahren als auch beim Trocken-Resist Verfahren einer relativ hohen mechanischen Bean spruchung. Deshalb ist eine Beschichtung von mechanisch empfindlichen Sub straten nicht möglich.
- 2. Dreidimensional strukturierte Bauteile können mit dem Trocken-Resist Ver fahren nicht beschichtet werden.
- 3. Scharfe Kanten auf mikromechanisch strukturierten Bauteilen werden beim Spin-on Verfahren unvollständig oder überhaupt nicht bedeckt (Filmabriß).
- 4. Elektrostatische Sprühbelackung:
Damit das Material nicht durch die sehr starken Zentrifugalkräfte im gan zen das Sprüh-System umgebenden Raum verteilt wird, müssen relativ hohe Spannungen (Bereich: 100 kV) zwischen Sprühglocke und Substrat angelegt werden. Auf Grund dieser hohen Spannungen sind aufwendige Sicherheits maßnahmen erforderlich. Zudem erfordert die Hochrotationszerstäubung eine hochwertige sehr teure Mechanik, die mit hohen Wartungskosten verbunden ist. Problematisch ist auch der große Platzbedarf einer solchen Apparatur, was insbesondere bei Einsatz dieses Verfahrens in Reinräumen einen erheblichen Kostenfaktor darstellt. Ein weiterer Nachteil ist durch die mechanisch deter minierte Tröpfchenbildung gegeben. Hierdurch kann die Tröpfchengröße nicht dynamisch an vorgegebene Oberflächenstrukturen der Substrate angepaßt wer den.
Der Erfindung liegt also die Aufgabe zugrunde, mit einem preiswerten Verfahren
homogene Photoresist-Schichten mit variabler Schichtdicke (typisch: 1 µm) auf
mikromechanisch dreidimensional strukturierten Bauteilen herzustellen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß geladene mesoskopische
Photoresist-Tröpfchen durch eine elektrohydrodynamische (EHD) Ionenquelle er
zeugt und durch Kombination mit der Ionenspray-Methode auf das zu beschichtende
Substrat gesprüht werden.
Das Photoresist-Material wird in einem Lösungsmittel mit geeignetem Dampfdruck
(meist Aceton oder Methanol) gelöst und einer - inneren - Kapillaren aus Glas
oder einem anderen elektrisch isolierenden Material zugeführt. Durch Kapillarkräfte
wird die Photoresist-Lösung an einem in der Glaskapillaren befindlichen Metall
draht bis zu dessen Spitze entlang geführt, welche einige mm aus der Glaskapillaren
herausragt. Kapillare und Draht arbeiten somit in der Form eines Nadelventils. An
der Drahtspitze ist die Photoresist-Lösung der Einwirkung eines relativ hohen elek
trischen Feldes (Größenordnung 106 V/m) ausgesetzt. Bei dem hier vorgestellten
Verfahren handelt es sich um eine rein elektrohydrodynamische Tröpfchenbildung
und Tröpfchenaufladung. Durch das Zusammenspiel von Oberflächenspannung der
Lösung und elektrischem Feld bildet sich ein sog. Taylorkonus aus. Von diesem Konus
werden bei geeigneter Wahl von elektrischer Feldstärke, Formgebung der Drahtspitze
und Oberflächenspannung der Lösung sog. Jets emittiert, die zu kleinen Tröpfchen
in der Gasphase führen. Diese Tröpfchen sind auf Grund von elektrophoretischer
Ladungstrennung im Taylor-Konus hoch geladen (Elektrohydrodynamische Ionen
quelle). Die aktuelle Feldstärke EK an der Spitze der Kapillare (Spitzenradius: rK),
die sich im Abstand d von einem Substrat befindet, berechnet sich hierbei mit UK
als Potential des Metalldrahtes zu (siehe D.P.H. Smith, IEEE Trans. Ind. Appl.,
IA-22 (1986) 527 und L.B. Loeb, A.F. Kip, G.G. Hudson, W.H. Bennett, Phys.
Rev., 60 (1941) 714):
Die Instabilität des Taylorkonus, bei der der Sprayvorgang einsetzt, tritt nach Taylor
(siehe G.I. Taylor, Proc. R. Soc. A, A280 (1964) 383) bei der Feldstärke Eon auf:
hierbei sind Ro der halbe Öffnungswinkel des Taylorkonus und γ die Oberflächen
spannung der Flüssigkeit. Mit Ro = 49,3° für den Taylorkonus gilt dann für die
entsprechende Spannung bei Einsetzen des Sprühvorganges:
Ohne Gaszufuhr durch eine weitere - äußere - Kapillare aus Glas oder einem anderen
isolierenden Material ist die Tröpfchenbildung also auf eine durch die Oberflächenla
dung des Taylor-Konus bewirkte Instabilität zurückzuführen. Mit Gaszufuhr ist die
Tröpfchenbildung nahezu ausschließlich durch den aus der äußeren Glaskapillaren
zusätzlich austretenden turbulenten Gasfluß (meist Stickstoff) verursacht (Gaspha
senreaktionen). Durch die zusätzliche Edelgasatmosphäre in der Nähe der Kapillar
spitze wird die Bildung und Aufladung der Tröpfchen entkoppelt, d. h.: In diesem
Fall wird die duale Funktion des elektrischen Feldes (Aufladung und Vernebelung des
Photoresist-Materials) aufgehoben. Hierdurch erhöht sich die Anzahl der Freiheits
grade für die Wahl der Flußrate der Lösung, der Tröpfchengröße und des Lösungsmit
tels. Es kann also gezielt Einfluß auf die Ladung und Größe der Tröpfchen genommen
werden. Die Tröpfchen besitzen Durchmesser im mesoskopischen Bereich (⌀ = 0,05-1 µm).
Der Transport der entstandenen Tröpfchen geschieht durch Drift im elektrischen
Feld zum Substrat. Die versprühten Tröpfchen der Lösung enthalten noch Polymer
molekülionen und Lösungsmittelmoleküle. Bei geeignetem Abstand zwischen Ka
pillarende und Substratoberfläche verdampfen die Lösungsmittelmoleküle bevor die
Tröpfchen die Oberfläche erreichen. Hierdurch wird ein direktes Fließen des Photo
resists auf der Substratoberfläche verhindert. Mittels der Ionenlinse ist eine Fokus
sierung der Tröpfchen auf das Substrat und damit eine Einstellung der Größe des
besprühten Substratbereiches möglich. Auf Grund dieses gezielten Versprühens be
sitzt das hier vorgestellte System eine Transferrate von nahezu 100%. Optional wird
auch ein Gitter über dem Substrat bzw. ein Extraktor direkt vor der Kapillare ein
gesetzt. Das Gitter wird auf Substratpotential gelegt. Hierdurch entsteht zwischen
Gitter und Substrat ein feldfreier Raum. Somit können Photoresist-Tröpfchen auch
tiefe Gräben oder Hohlräume erreichen, in die sie sonst entsprechend des Verlaufes
der elektrischen Feldlinien nicht gelangen würden. Der Extraktor dient im Zusam
menspiel mit der Ionenlinse zur Strahlbildung bzw. Strahlfokussierung.
Obwohl es sich bei den üblichen Photoresist-Materialien um Mehrkomponenten-
Systeme (internes und externes Lösungsmittel des Photoresist, schichtbildendes
Novolack-Harz, Inhibitoren) handelt, findet weder eine Fraktionierung noch eine
Degradation der Photopolymere statt. Somit können die erzeugten Photoresist-
Schichten photolithographisch weiterverarbeitet werden. Eine besonders hohe Homo
genität der aufgesprühten Schichten wird durch eine Prozeßführung unter Lösungs
mittelatmosphäre oder durch eine Nachbehandlung der Photoresist-Filme in einer
Lösungsmittelatmosphäre erreicht. Hierdurch kann ein lateraler Fließprozeß während
oder im Anschluß an den Sprühprozeß gezielt eingestellt werden. Durch Rotation,
Schwingung oder Translation des Substrates können beliebig orientierte Oberflächen
beschichtet werden.
Die mit der Erfindung erzielten Vorteile sind
- - im Vergleich zur elektrostatischen Sprühbelackung:
- - Die Tröpfchengröße ist dynamisch einstellbar (z. B. durch die Gaszufuhr beim Ionenspray) und kann somit leicht an die jeweilige Problemstel lung angepaßt werden. Die Durchmesser der Tröpfchen liegen zwischen 0,05 µm und 1 µm.
- - Es handelt sich um ein extrem wirtschaftliches Verfahren.
- * Die Transferrate ist aufgrund der sehr kurzen Zuführungswege noch größer als bei der elektrostatischen Sprühbelackung und erreicht na hezu 100%.
- * Die Anschaffungskosten der Vorrichtung sind um ca. eine Größenord nung niedriger (zwischen 10 000 DM und 20 000 DM).
- * Der Platzbedarf der Vorrichtung ist sehr gering, was bei den hohen Unkosten pro Reinraumflächeneinheit von besonderer Bedeutung ist. Zudem ergibt sich aus dem geringen Platzbedarf die äußerst vorteil hafte Möglichkeit der Integration in eine bestehende Spin-Coating- Maschine als alternativen Prozeßschritt. Insbesondere ist die Benut zung des gleichen Aufbaus in einem späteren Prozeßschritt zum Ver sprühen des Entwicklers (sog. Spray-Entwicklung) vorgesehen.
- - im Vergleich zum Spin-Coating und Trocken-Resist-Verfahren:
- - Die Flugbahn der Photoresist-Tröpfchen ist durch den Verlauf der elektri schen Feldlinien vorgegeben. Auf Grund des elektrischen Spitzeneffektes werden Kanten oder Spitzen von mikromechanisch strukturierten Sub stratoberflächen bevorzugt bedeckt.
- - Der Lackverbrauch ist deutlich geringer.
- - Die Beschichtung beliebig orientierter Flächen (auch senkrechter Gra benwände) ist möglich. Hierzu wird das Substrat relativ zur sprühenden Ka pillare mit geeigneter Geschwindigkeit bewegt (Translation, Rotation, Schwin gung).
- - Die Wandbedeckung in Hohlräumen ist möglich. Durch Rotation und Schwin gung des Substrates wird der Photoresistnebel in Hohlräumen verwirbelt, wo durch dort eine Wandbedeckung stattfindet.
- - Die Beeinflussung geladener Photoresist-Tröpfchen mittels ionenoptischer Linsen und Ablenkplatten eröffnet die Möglichkeit eines sog. Photoresist- Schreibens. Hierbei wird ein Ionenstrahl durch das System aus Extraktor und Ionenlinse geformt und zu einem kleinen Spot auf dem Substrat fokussiert. Mittels senkrecht (x- bzw. y-Richtung) zur Systemachse der Apparatur (z- Richtung) angebrachter Ablenkplatten können bei Anlegen bestimmter Po tentiale gezielt Punkte auf der Substratoberfläche angesteuert und mit Photo resist beschichtet werden. Ein entsprechendes Layout für die zu beschichtenden Flächen kann über eine Computer-Software in die dazu notwendigen Potentiale von Linse, Extraktor, und Ablenkplatten umgerechnet und auf die Apparatur übertragen werden.
Der apparative Aufbau der Sprühvorrichtung ist in Fig. 1 schematisch dargestellt.
Die Vorrichtung besteht aus einer inneren Glaskapillaren (a), die zentral einen Metalldraht
((b), meist aus Wolfram) enthält und von einer zweiten äußeren Glaska
pillaren (c) umgeben ist. Die innere Glaskapillare besitzt einen Anschluß (d) für
die Zuführung der Photoresist-Lösung, während an der äußeren Glaskapillaren ein
Anschluß für eine Gasleitung (e) angebracht ist. Der Metalldraht und die Kapilla
ren stehen einem Substrathalter ((f), meist aus Metall) für die Aufnahme des zu
beschichtenden Substrates in einem variablen Abstand koaxial gegenüber. Der heiz
bare Substrathalter kann durch einen Motor in vertikale Schwingungen, Translation
und Rotation versetzt werden. Zwischen Metalldraht und Substrathalter wird durch
eine Spannung von 1 bis 20 kV ein elektrisches Feld erzeugt. Metalldraht und Sub
strathalter sind isoliert aufgebaut, so daß beide Elemente auf ein Potential von bis
zu ± 20 kV gelegt werden können. Zusätzlich ist zwischen ihnen ein Extraktor (g)
und eine ionenoptische Linse (h) angebracht.
Claims (12)
1. Verfahren zur Photoresist-Beschichtung von mikromechanisch dreidimensional
strukturierten Bauteilen in der Mikrostrukturtechnik, dadurch gekennzeich
net, daß geladene mesoskopische Photoresist-Tröpfchen mit einem Durchmes
ser zwischen 0,05 und 1 µm durch eine elektrohydrodynamische Ionenquelle
erzeugt und durch Kombination mit der Ionenspray-Methode auf das zu be
schichtende Substrat gesprüht werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Photoresist-Ma
terial in einem Lösungsmittel mit geeignetem Dampfdruck gelöst und einer
inneren Kapillaren (a) aus elektrisch isolierendem Material zugeführt wird,
in der sich ein Metalldraht (b) befindet, daß zwischen diesen Metalldraht und
den Substrathalter (f) eine elektrische Spannung gelegt wird, die an der Draht
spitze eine elektrische Feldstärke in der Größenordnung von 106 V/m erzeugt
und daß vom Taylorkonus aus Photoresisttröpfchen auf das Substrat gesprüht
werden.
3. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 2, dadurch gekennzeichnet, daß durch
eine äußere Kapillare (c) ein Gas strömt, das die Bildung von Photoresist-Tröpf
chen bewirkt.
4. Verfahren nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge
kennzeichnet, daß das verwendete Lösungsmittel Aceton oder Methanol ist.
5. Verfahren nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge
kennzeichnet, daß das die äußere Kapillare (c) durchströmende Gas Stickstoff
oder ein Edelgas ist.
6. Verfahren nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Strahl aus Photoresist-Tröpfchen mit Hilfe einer Ionen
linse (h) fokussiert und damit die Größe des besprühten Bereichs eingestellt
wird.
7. Verfahren nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge
kennzeichnet, daß zur Durchführung von Schreibprozessen der fokussierte Pho
toresiststrahl mit Hilfe von Ablenkplatten abgelenkt wird.
8. Verfahren nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge
kennzeichnet, daß zwischen den Kapillaren und dem Substrat ein Gitter (g)
angeordnet wird, daß auf Substratpotential liegt und als Extraktorelektrode
für die Photoresist-Tröpfchen wirkt.
9. Verfahren nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß der Sprühprozeß unter Lösungsmittelatmosphäre durch
geführt wird.
10. Verfahren nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß die aufgesprühten Schichten in einer Lösungsmittelat
mosphäre nachbehandelt werden.
11. Verfahren nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Substrathalter (f) eine Rotations-, Schwingungs- oder
Translationsbewegung ausführt.
12. Vorrichtung für die Durchführung des Verfahrens nach wenigstens einem der
Ansprüche 1 bis 11.
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