DE4225270A1 - Verfahren zur Lagebestimmung eines Positionierkörpers relativ zu einem Bezugskörper und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents
Verfahren zur Lagebestimmung eines Positionierkörpers relativ zu einem Bezugskörper und Vorrichtung zur Durchführung des VerfahrensInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Lagebestimmung
eines Positionierkörpers relativ zu einem Bezugskörper
nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 und eine Vor
richtung zur Durchführung des Verfahrens.
Ein solches Verfahren dient z. B. dazu, bei der Steuerung
von Meß- und Fertigungsmaschinen Wegstrecken zwischen
längsverschieblichen Gegenständen, wie Meßköpfen, Greif-
oder Montagearmen zu erfassen. Dabei ist die Genauigkeit,
mit der diese Wegstrecken ermittelt werden können, von
ausschlaggebender Bedeutung für die Fertigungsgenauigkeit
des Automaten.
Aus der DE-OS 39 09 856 ist bereits ein Verfahren be
kannt, das eine hohe Meßgenauigkeit unabhängig von einer
exakten Führung des Abtasters ermöglicht. Dabei werden
von einem Abtaster drei Marken eines Maßstabes ausgewer
tet. Bei zwei Marken wäre der zwischen einem Projekti
onszentrum und diesen Marken gebildete Projektionswinkel
noch davon abhängig, in welchem Abstand sich das Projek
tionszentrum über den Marken befindet und wie weit er
seitlich versetzt ist. Bei drei Marken gelingt es, über
den weiteren Projektionswinkel zwischen dem Projekti
onszentrum, dieser weiteren Marke und einer der anderen
Marken das Projektionszentrum exakt zu bestimmen. Für
eine Kombination von zwei Kombinationswinkeln existiert
nämlich nur ein einziger Ort, auf dem sich das Projekti
onszentrum befinden kann.
Weiterhin ist aus dem Buch von G. Konecny und G. Lehmann:
Photogrammetrie, 4. Auflage, de Gruyter, Berlin - New
York, 1984, S. 48-55 für sich bekannt, zur Koordinaten
bestimmung eine projektive Verwandtschaft auszunutzen und
einen Neigungswinkel zwischen einer Projektionsfläche und
einer Urbildebene zu berücksichtigen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, alle Lagepara
meter der Lage eines Positionierkörpers gegenüber einem
Bezugskörper mit einem einzigen Abtaster zu erfassen.
Diese Aufgabe wird bei dem im Oberbegriff des Patentan
spruchs 1 beschriebenen Verfahren durch die im Kennzei
chen angegebenen Merkmale sowie durch die Vorrichtung zur
Durchführung des Verfahrens nach Patentanspruch 7 gelöst.
Bei der Erfindung enthalten die Marken die Absolutinfor
mation ihrer Koordinaten auf der Maßstabsanordnung in
kodierter Form. Die Kodierung ist als unterschiedliche
Strichbreite realisiert. Die Schwerpunkte der Überschnei
dungsbereiche der Marken entsprechen dabei exakt den Or
ten, die durch die Kodierung beschrieben sind.
Über die projektive Verwandtschaft besteht eine Beziehung
zwischen den Koordinaten auf dem Positionierkörper, also
der die Marken tragenden Ebene der Maßstabsanordnung und
der Projektionsfläche des Flächenmeßaufnehmers. Die Be
ziehung läßt sich mathematisch durch die Gleichungen der
kollinearen Transformation beschreiben, die in ihrer all
gemeinen Formel lautet:
Es handelt sich hierbei um zwei Gleichungen mit acht Un
bekannten. Durch die Auswahl von vier Schwerpunkten ge
lingt es nun, acht Gleichungen aufzustellen und auf diese
Weise die acht Unbekannten zu bestimmen. Damit ist es
möglich, alle Parameter zur Festlegung der räumlichen
Lage eines Positionierkörpers relativ zu einem Bezugs
körper anzugeben (sechs Freiheitsgrade).
Die exakte Berechnung kann mit den in Anspruch 2 angege
benen Formeln durchgeführt werden, die bereits nach den
Koordinaten des Projektionszentrums und den Orientie
rungswinkeln zwischen der Projektionsfläche des Flächen
meßaufnehmers und der Ebene der Maßstabsanordnung aufge
löst sind.
Eine Weiterbildung sieht vor, daß mehr als vier Schwer
punkte von Überschneidungsbereichen der Marken bei den
Flächenmaßstäben bestimmt werden und daß eine Ausgleichs
rechnung vorgenommen wird.
Bei mehr als vier Schwerpunkten ergibt sich eine Überbe
stimmung. Durch Einbeziehung dieser weiteren Schwerpunkte
in die Berechnung kann das Meßergebnis durch Ausgleichs
rechnung verbessert werden. Ungenauigkeiten in der mecha
nischen Ausgestaltung der Marken und des Flächenmeßauf
nehmers, optische Fehler sowie Rundungsfehler bei der
Rechnung lassen sich so reduzieren.
Weiterhin ist vorgesehen, daß ausschließlich die Über
schneidungsbereiche der Marken auf dem Flächenmeßauf
nehmer abgebildet werden.
Durch diese Maßnahme läßt sich ein besserer Kontrast bei
der Auswertung der Helligkeitsunterschiede in Zeilen- und
Spaltenrichtung des Pixelfeldes eines Flächenmeßaufneh
mers erzielen. Außerdem sind so die Überschneidungsbe
reiche exakt gegen das Umfeld abgegrenzt, wodurch sich
die Berechnung der Schwerpunkte vereinfacht.
Bei der Auswertung können die Überschneidungsbereiche der
Marken nach Koordinatenrichtung getrennt ausgewertet wer
den, indem nach dem Verfahren der Randverteilung die ab
soluten Häufigkeiten der Helligkeitswerte der Überschnei
dungsbereiche der Marken in Spalten- und Zeilenrichtung
der lichtempfindlichen Pixel des Flächenmeßaufnehmers be
stimmt werden und mit einem Schwellwert verglichen wer
den. Die über dem Schwellwert liegenden Häufigkeiten wer
den dann als die von den Marken belegten Koordinaten ge
wertet.
Das Verfahren ermöglicht es, durch einfaches zeilen- bzw.
spaltenweises Summieren der Helligkeiten des Pixelfeldes
ein Signal zu erzeugen, das eine Funktion der örtlichen
Lage der Marken darstellt. Durch die Einfügung eines
Schwellwertes lassen sich Störsignale und Randunschärfen,
die bei nicht paralleler Ausrichtung der Marken gegenüber
der Ausrichtung der Zeilen und Spalten des Pixelfeldes
entstehen, mindern.
Weiterhin ist vorgesehen, daß die Schwerpunkte der Über
schneidungsbereiche der Marken durch Mittelwertbildung in
beiden Koordinatenrichtungen gewonnen werden, indem je
weils Pixelfelder des Flächenmeßaufnehmers als Suchfelder
ausgebildet werden und in jedem Suchfeld die Koordinaten
des Schwerpunktes XS und YS nach den Schwerpunktgleichun
gen
bestimmt werden.
Diese Vorgehensweise liefert auch dann den Schwerpunkt,
wenn die Marke durch mechanische oder optische Einflüsse
eine unregelmäßige Ausgestaltung aufweist.
Weiterbildungen und vorteilhafte Ausgestaltungen von Ver
fahren und Vorrichtung ergeben sich aus den Ansprüchen,
der weiteren Beschreibung und der Zeichnung, anhand der
die Erfindung näher beschrieben wird.
In der Zeichnung zeigen:
Fig. 1 eine schematische perspektivische
Ansicht eines Positionierkörpers
relativ zu einem Bezugskörper mit
einem Flächenmeßaufnehmer,
Fig. 2 eine Draufsicht auf einen Flächenmeß
aufnehmer mit abgebildeten Marken zur
Veranschaulichung des Verfahrens der
Randverteilung und
Fig. 3 eine vergrößerte Draufsicht auf einen
Flächenmeßaufnehmer zur Veranschauli
chung der Schwerpunktbestimmung.
Fig. 1 zeigt eine schematische perspektivische Ansicht
eines Positionierkörpers mit einer eine Maßstabsanordnung
aufweisenden Ebene 10 relativ zu einem Bezugskörper mit
einem Flächenmeßaufnehmer 12. Der Flächenmeßaufnehmer 12
ist mit einer Abbildungsoptik versehen, deren Projek
tionszentrum im Punkt O liegt. Auf die Darstellung der
Abbildungsoptik wurde aus Gründen der Übersichtlichkeit
verzichtet, da für die Angabe der Parameter nur die Lage
des Projektionszentrums O von Bedeutung ist.
Die Lageparameter, welche die Lage des Positionierkörpers
relativ zu dem Bezugskörper beschreiben, sind einmal
durch die Koordinaten X0, Y0 und Z0 gegeben. Die weitere
Festlegung der Lage erfolgt durch die Orientierungswinkel
æ, f, w zwischen der Projektionsfläche des Flächenmeßauf
nehmers 12 und der Ebene 10 der Maßstabsanordnung. Dabei
ist æ der Orientierungswinkel zur Z-Achse, f der Orien
tierungswinkel zur Y-Achse und w der Orientierungswinkel
zur X-Achse. In Fig. 1 sind diese Winkel auf eine Hilfs
linie bezogen, die von einem Lotfußpunkt H′ der Projek
tionsfläche durch das Projektionszentrum O zu einem
Durchstoßpunkt S mit der Ebene 10 des Positionierkörpers
führt.
Nach den Gleichungen der kollinearen Transformation, die
die projektive Verwandtschaft zwischen einer Grundebene
und einer Bildebene beschreiben, sind acht Gleichungen
mit acht Unbekannten aufzulösen. Hierzu werden die abge
bildeten Koordinaten von vier Punkten des Positionier
körpers ausgewertet. Aus Gründen der Übersichtlichkeit
ist in Fig. 1 nur ein Punkt P auf der Ebene 10 des Posi
tionierkörpers dargestellt, der als Punkt P′ auf der Pro
jektionsfläche des Flächenmeßaufnehmers 12 abgebildet
wird.
Bei Kenntnis der Koordinaten dieser Punkte können diese
in die nachfolgend aufgeführten Gleichungen eingesetzt
werden, die bereits nach X0, Y0, Z0 sowie nach æ, f und w
aufgelöst sind.
mit
Dabei sind æ der Orientierungswinkel zur Z-Achse, f der
Orientierungswinkel zur Y-Achse, w der Orientierungs
winkel zur X-Achse, c die Kammerkonstante entsprechend
dem Abstand zwischen dem Projektionszentrum O und dem
Lotfußpunkt H′ des Bezugskörpers und a1, a2, a3, b3, c1,
c2 stellen Transformationskonstanten dar.
Die Durchführung dieser Maßnahme erfolgt in einem Rech
ner, der die kodierten Koordinaten der auszuwertenden
Punkte zunächst dekodiert, dann die Schwerpunkte der Mar
ken bestimmt und die Rechenschritte zur Erzielung der
Lageparameter automatisch durchführt. Der Rechner kann
auch so gesteuert sein, daß er mehr als vier Punkte bei
der Berechnung auswertet. Es ist dann möglich, durch eine
Ausgleichsrechnung nach Gauss eine höhere Genauigkeit zu
erzielen.
Der Positionierkörper umfaßt eine Maßstabsanordnung mit
Marken 16, deren Schwerpunkte Xs, Ys in konstanten Ab
ständen angeordnet sind. Die Marken 16 besitzen unter
schiedliche Strichbreiten mittels der ihre Koordinaten
kodiert sind. Die Dekodierung der Strichbreite mehrerer
nebeneinander liegender Marken 16 enthaltenden Kodes er
möglicht es, die absoluten Koordinaten der Marken 16 auf
den Flächenmaßstab anzugeben. Da auf dem Flächenmaßstab
in beiden Koordinatenrichtungen, also orthogonal aufein
ander Marken 16 angeordnet sind, liefert der Kode die
Flächenkoordinaten.
Bei bevorzugten Flächenmaßstäben sind die Marken 16 nicht
in der jeweiligen Koordinatenquerrichtung durchgezogen,
sondern es sind nur die Überschneidungsbereiche der Mar
ken 16 unterschiedlicher Koordinatenrichtungen darge
stellt. Es ergibt sich so ein Muster aus Rechtecken
unterschiedlicher Seitenlängen.
Fig. 2 zeigt eine Darstellung der Projektionsfläche des
Flächenmeßaufnehmers 12, bei der Pixel 14 in Spalten- und
Zeilenrichtung angeordnet sind. Die abgebildeten Marken
16 belegen hier mehrere Pixel 14. Die Auswertung der Mar
ken 16 erfolgt nach dem Verfahren der Randverteilung. Um
die Häufigkeiten zu ermitteln, in denen auf den Pixeln 14
Marken 16 abgebildet sind, werden für die X-Richtung, al
so die Spaltenrichtung die Helligkeiten sämtlicher in ei
ner Spalte liegenden Pixel 14 aufaddiert. Dies geschieht
durch zeilenweise Integration. Die Ermittlung der Häufig
keiten in Y-Richtung, also in Zeilenrichtung erfolgt ana
log durch Summierung der Helligkeiten für jede Pixelzei
le, also Integration der Helligkeiten in Spaltenrichtung.
An zwei Seiten des Flächenmeßaufnehmers 12 sind Signale
aufgetragen, die die Randverteilung der absoluten Häufig
keiten veranschaulicht. Wird ein Schwellwert festgelegt,
so können die oberhalb des Schwellwertes liegenden Si
gnale eindeutig den Marken 16 zugeordnet werden, die in
der jeweiligen Koordinatenrichtung liegen. Aus der ört
lichen Breite der Signale in Kombination mit den Signa
len, die durch benachbarte Marken 16 erzeugt werden,
lassen sich die kodiert angegebenen Koordinaten der Mar
ken 16 dekodieren. Es ist somit möglich, die absolute
Lage jeder einzelnen Marke 16 auf der Ebene 10 des Posi
tionierkörpers anzugeben, obwohl nur ein Teil dieser Ebene
10 auf dem Flächenmeßaufnehmer 12 des Bezugskörpers abge
bildet wird.
Da die Marken 16 eine endliche Ausdehnung besitzen, um
durch unterschiedliche Breiten eine kodierte Information
zu speichern, ist die auf der Projektionsebene eingenom
mene Fläche so groß, daß jeweils mehrere Pixel belegt
werden. Dadurch ist es nicht möglich, die Koordinaten ei
nes der Pixel als Abbildungskoordinaten zu verwenden.
Vielmehr erfolgt rechnerisch eine Schwerpunktbildung, die
anhand der Fig. 3 erläutert wird. Diese Figur zeigt einen
vergrößerten Ausschnitt der Projektionsfläche. Darge
stellt ist ein Suchbereich der mehrere Pixel umfaßt. An
einer Stelle dieses Suchbereiches ist eine Marke 16 abge
bildet. Die Bestimmung des Schwerpunktes dieser Marke 16
erfolgt nun nach den folgenden Formeln über eine Mittel
wertbildung:
Man erhält auf diese Weise die exakte Angabe der Koordi
naten der Schwerpunkte der Marken 16. Indem nun die
Koordinaten der abgebildeten Punkte und die durch Deko
dierung der Marken 16 gewonnenen Koordinaten der Origi
nalpunkte auf dem Positionierkörper in die Gleichungen
eingesetzt werden, können die Koordinaten des Projekti
onszentrums O und die Orientierungswinkel errechnet
werden.
Claims (8)
1. Verfahren zur Lagebestimmung eines Positionierkör
pers relativ zu einem Bezugskörper, wobei der Positio
nierkörper eine Maßstabsanordnung mit Marken konstanten
Abstandes trägt und der Bezugskörper einen Abtaster mit
einer Projektionsfläche, auf die die Marken des Maßstabs
projiziert werden, sowie eine Abbildungsoptik aufweist,
wobei die Koordinaten des Projektionszentrums der Ab
bildungsoptik über eine Auswertung der auf dem Maßstab
angeordneten Marken berechnet werden, dadurch gekenn
zeichnet, daß kodierte Marken zweier orthogonal ausge
richteter Flächenmaßstäbe der Maßstabsanordnung des Posi
tionierkörpers dekodiert werden, daß wenigstens vier eine
Fläche begrenzende Schwerpunkte von Überschneidungsbe
reichen der Marken beider Flächenmaßstäbe bestimmt werden
und daß die Berechnung über die projektive Verwandtschaft
zwischen der Projektionsfläche des als Flächenmeßauf
nehmer ausgebildeten Abtasters und der die Marken tra
genden Ebene der Maßstabsanordnung erfolgt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Berechnung der Koordinaten X0, Y0, Z0 des Pro
jektionszentrums und die Orientierungswinkel æ, f, w zwi
schen der Projektionsfläche des Flächenmeßaufnehmers und
der Ebene der Maßstabsanordnung nach folgenden Funktionen
und Gleichungen durchgeführt wird:
mit
wobei æ der Orientierungswinkel zur Z-Achse, f der Orien
tierungswinkel zur Y-Achse, w der Orientierungswinkel zur
X-Achse, c die Kammerkonstante entsprechend dem Abstand
zwischen dem Projektionszentrum und dem Lotfußpunkt der
Projektionsfläche sind und a1, a2, a3, b3, c1, c2 Trans
formationskonstanten darstellen.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß mehr als vier Schwerpunkte von Überschnei
dungsbereichen der Marken beider Flächenmaßstäbe bestimmt
werden und daß eine Ausgleichsrechnung vorgenommen wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß ausschließlich die Überschneidungsbe
reiche der Marken auf dem Flächenmeßaufnehmer abgebildet
werden.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß die Überschneidungsbereiche der Marken nach Koordina
tenrichtung getrennt ausgewertet werden, indem nach dem
Verfahren der Randverteilung die absoluten Häufigkeiten
der Helligkeitswerte der Überschneidungsbereiche der
Marken in Spalten- und Zeilenrichtung der lichtempfind
lichen Pixel des Flächenmeßaufnehmers bestimmt und mit
einem Schwellwert verglichen werden und die über dem
Schwellwert liegenden Häufigkeiten als die von den Marken
belegten Koordinaten gewertet werden.
6. Verfahren nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Schwerpunkte der Überschneidungsberei
che der Marken durch Mittelwertbildung in beiden Koordi
natenrichtungen gewonnen werden, indem jeweils Pixelfel
der des Flächenmeßaufnehmers als Suchfelder ausgewählt
werden und in jedem Suchfeld die Koordinaten des Schwer
punktes Xs und Ys nach folgenden Gleichungen bestimmt
werden:
wobei NLok die Anzahl der Punkte im Pixelfeld sind.
7. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Pa
tentanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Maßstabs
anordnung eine Ebene (10) mit zwei orthogonal ausgerich
teten Flächenmaßstäben umfaßt, auf der Marken (16) beider
Flächenmaßstäbe Überschneidungsbereiche bilden, daß der
Abtaster als zweidimensionaler Flächenmeßaufnehmer (12)
ausgebildet ist und daß der Flächenmeßaufnehmer (12) mit
einem Rechner verbunden ist und dieser so gesteuert ist,
daß wenigstens vier eine Fläche begrenzende Schwerpunk
te (Xs, Ys) von Überschneidungsbereichen der Marken (16)
beider Flächenmaßstäbe bestimmt werden und daß die Be
rechnung über die projektive Verwandtschaft zwischen der
Projektionsfläche des Flächenmeßaufnehmers (12) und der
die Marken (16) tragenden Ebene (10) der Maßstabsanord
nung erfolgt.
8. Vorrichtung nach Patentanspruch 7, dadurch gekenn
zeichnet, daß auf der die Marken (16) tragenden Ebe
ne (10) der Maßstabsanordnung ausschließlich die Über
schneidungsbereiche der Marken (16) beider Flächenmaß
stäbe vorhanden sind.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4225270A DE4225270C2 (de) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | Verfahren zur Lagebestimmung eines Positionierkörpers relativ zu einem Bezugskörper und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
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PCT/DE1993/000628 WO1994003775A1 (de) | 1992-07-31 | 1993-07-14 | Verfahren zur lagebestimmung eines positionierkörpers relativ zu einem bezugskörper und vorrichtung zur durchführung des verfahrens |
DE59305973T DE59305973D1 (de) | 1992-07-31 | 1993-07-14 | Verfahren zur lagebestimmung eines positionierkörpers relativ zu einem bezugskörper und vorrichtung zur durchführung des verfahrens |
EP93914630A EP0653048B1 (de) | 1992-07-31 | 1993-07-14 | Verfahren zur lagebestimmung eines positionierkörpers relativ zu einem bezugskörper und vorrichtung zur durchführung des verfahrens |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4225270A DE4225270C2 (de) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | Verfahren zur Lagebestimmung eines Positionierkörpers relativ zu einem Bezugskörper und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4225270A1 true DE4225270A1 (de) | 1994-02-03 |
DE4225270C2 DE4225270C2 (de) | 1994-06-09 |
Family
ID=6464507
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4225270A Expired - Fee Related DE4225270C2 (de) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | Verfahren zur Lagebestimmung eines Positionierkörpers relativ zu einem Bezugskörper und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
DE59305973T Expired - Fee Related DE59305973D1 (de) | 1992-07-31 | 1993-07-14 | Verfahren zur lagebestimmung eines positionierkörpers relativ zu einem bezugskörper und vorrichtung zur durchführung des verfahrens |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE59305973T Expired - Fee Related DE59305973D1 (de) | 1992-07-31 | 1993-07-14 | Verfahren zur lagebestimmung eines positionierkörpers relativ zu einem bezugskörper und vorrichtung zur durchführung des verfahrens |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5598268A (de) |
EP (1) | EP0653048B1 (de) |
DE (2) | DE4225270C2 (de) |
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DE4225270C2 (de) | 1994-06-09 |
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