DE4214102A1 - Multi-chip semiconductor module e.g. of LOC-TSOP type - has two blank chips which are interconnected by solder, while several TAB strips have each inner and outer leads - Google Patents

Multi-chip semiconductor module e.g. of LOC-TSOP type - has two blank chips which are interconnected by solder, while several TAB strips have each inner and outer leads

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Abstract

The blank chips belong to chip group and are interconnected by intermediate solder. There are several TAB strips, each with an inner and an outer lead. The chips are fitted with solder pips on facing sides, with the inner leads bonded between them. To the outer leads is bonded a system support. The chip group is pref. coupled to a second one of identical design such that the respective blank chips of one group are adjacent to those of the other one. The outer leads of the groups are interconnected to corresponding points of the system support. USE/ADVANTAGE - For vertically stacked semicondutor chips with improved integration in tape automated bonding (TAB).

Description

Die Erfindung bezieht sich auf einen Multichip-Halbleiterbaustein, der einen verbesserten Integrationsgrad durch Übereinanderschichten mehrerer Halbleiterchips aufweist, und insbesondere auf einen Multichip-Halblei­ terbaustein, der unter Verwendung einer TAB-Technik (Tape Automated Bonding Technology) und einer CA-Bondierungstechnik die dünnste Struktur besitzt.The invention relates to a multichip semiconductor device an improved degree of integration by stacking several Has semiconductor chips, and in particular on a multichip half lead terbausstein, which uses a TAB (Tape Automated Bonding Technology) and a CA bonding technology the thinnest Has structure.

Seit kurzem geht bei Halbleiterbausteinen die Tendenz in Richtung auf eine Miniaturisierung, d. h. zu leichten und dünnen Bausteinen, während der blanke Chip dimensionsmäßig zunehmend größer wird, so daß das Flächen- oder Volumenverhältnis des blanken Chips zum Halbleiterge­ samtbaustein zunimmt. Dementsprechend wandelt sich die Technik zur Herstellung von Halbleiterbausteinen allmählich von der herkömmlichen Kunststoffverpackungstechnik, bei der der Chip auf einem Paddel plaziert ist, zur LOC-Technik (Lead-On-Chip), bei der Zuleitungen auf dem Chip angebracht werden. Weiter ist der Halbleiterbaustein üblicherweise mit einem einzelnen blanken Chip ausgerüstet, wobei natürlich bekannt ist, daß ein Multichip-Halbleiterbaustein durch Übereinandersetzen mehrerer Chips unter Bildung eines Huckepack-Bausteins, oder durch Überein­ andersetzen mehrerer Chips innerhalb eines Halbleiterbausteins hergestellt wird (offenbart in Nikkei Micro Devices, April 1991). The trend towards semiconductor components has recently started to move in the right direction miniaturization, d. H. to light and thin building blocks, while the bare chip is dimensionally larger, so that Area or volume ratio of the bare chip to the semiconductor device velvet building block increases. Accordingly, the technology is changing Manufacture of semiconductor devices gradually from the conventional Plastic packaging technology in which the chip is placed on a paddle is to LOC technology (lead-on-chip), with the leads on the chip be attached. Furthermore, the semiconductor module is usually included equipped with a single bare chip, of course it is known that a multichip semiconductor device by stacking several Chips forming a piggyback building block, or by matching different set of several chips within a semiconductor device (disclosed in Nikkei Micro Devices, April 1991).  

In Fig. 1 ist eine perspektivische Ansicht zur Wiedergabe einer typischen Ausführungsform eines herkömmlichen Multichip-Halbleiterbausteins mit Huckepack-Struktur dargestellt. Gemäß Fig. 1 ist eine Vielzahl von Halbleiterbausteinen 2 übereinander auf dem untersten Halbleiterbaustein 1 aufgesetzt, wobei äußere Zuleitungen 2a, die mit dem oberen Halblei­ terbaustein 2 verbunden sind, mit äußeren Zuleitungen 1a bondiert sind, die mit dem untersten Halbleiterbaustein 1 in herkömmlicher Weise verbunden sind, derart, daß die äußeren Zuleitungen 1a und 2a elek­ trisch miteinander verbunden sind. Die äußeren Zuleitungen 1a des untersten Halbleiterbausteins 1 sind nach außen hin als SOP-Typ (Small Outline Package) ausgebildet und in einen Speichermodul oder eine Platinenebene eingepaßt. Auf diese Weise erzielt der herkömmliche Huckepack-Typ des Halbleiterbausteins dreidimensional einen verbesserten Integrationsgrad.In Fig. 1 is a perspective view for showing a typical embodiment of a conventional multi-chip semiconductor device with piggy-back structure shown. Referring to FIG. 1, a plurality of semiconductor devices 2 is above the other mounted on the lowermost semiconductor package 1, wherein outer leads 2 a, the terbaustein with the upper semiconducting are connected 2 are bonded with outer leads 1 a, with the lowermost semiconductor package 1 in conventional Are connected in such a way that the outer leads 1 a and 2 a are electrically connected to each other. The outer leads 1 a of the lowermost semiconductor component 1 are designed as an SOP type (Small Outline Package) and fitted into a memory module or a circuit board level. In this way, the conventional piggyback type of semiconductor device achieves an improved degree of integration in three dimensions.

Da jedoch der herkömmliche Halbleiterbaustein so beschaffen ist, daß der getrennt hergestellte Halbleiterbaustein 1 übereinandergestapelt wird, weist das herkömmliche Halbleiterpaket den Nachteil auf, daß jeder Halbleiterbaustein in der Dicke wegen der Drahtbondierung und der Gußformdicke der Epoxykunstharzumkapselung um eine Drahtschleifenhö­ he wächst. Dadurch nimmt die Dicke des gesamten Halbleiterpaketes unvermeidlicherweise zu.However, since the conventional semiconductor device is such that the separately manufactured semiconductor device 1 is stacked on top of one another, the conventional semiconductor package has the disadvantage that each semiconductor device increases in thickness due to the wire bonding and the mold thickness of the epoxy resin encapsulation by a wire loop height. This inevitably increases the thickness of the entire semiconductor package.

Fig. 2 stellt eine Querschnittsansicht zur Veranschaulichung des Aufbaus eines herkömmlichen Multichip-Halbleiterbausteins dar, bei dem ein oberer und ein unterer blanker Chip längsseitig parallel zueinander in einem einzelnen Halbleiterbaustein angeordnet sind. FIG. 2 shows a cross-sectional view to illustrate the structure of a conventional multichip semiconductor module, in which an upper and a lower bare chip are arranged longitudinally parallel to one another in a single semiconductor module.

Nachfolgend wird das Verfahren zur Herstellung des Multichip-Halbleiter­ bausteins unter Bezugnahme auf Fig. 2 beschrieben. Zuerst werden zwei blanke Chips 3 und 4 miteinander verbunden. Innere Zuleitungen von TAB-Bändern 5 und 6 werden mit Hilfe der TAB-Technik an Höckern 8 bondiert, die auf den Anschlußabschnitten der blanken Chips 3 und 4 vorgesehen sind. Die äußeren Zuleitungen der TAB-Bänder 5 und 6 werden jeweils mit den Systemträgem 9 und 9′ verbunden. Schließlich wird ein Gußteil 10, das die entstandene Chipanordnung umhüllt, durch Anbringen eines Epoxyharzes gebildet. Dementsprechend enthält ein einzelner Halbleiterbaustein zwei blanke Chips 3 und 4, wodurch der Integrationsgrad der Elemente verbessert und der Baustein miniaturisiert wird, d. h. leicht und dünn wird.The method for producing the multichip semiconductor module is described below with reference to FIG. 2. First, two bare chips 3 and 4 are connected together. Inner leads of TAB tapes 5 and 6 are bonded to bumps 8 using the TAB technique, which are provided on the connection sections of the bare chips 3 and 4 . The outer leads of the TAB tapes 5 and 6 are each connected to the system supports 9 and 9 '. Finally, a casting 10 , which envelops the resulting chip arrangement, is formed by attaching an epoxy resin. Accordingly, a single semiconductor device contains two bare chips 3 and 4 , which improves the degree of integration of the elements and miniaturizes the device, ie it becomes light and thin.

Weiter ist in Fig. 3 eine Querschnittsansicht zur Darstellung einer weite­ ren Ausführungsform der herkömmlichen Multichip-Halbleiterbausteine dargestellt, in denen vier blanke Chips 11, 12, 11a und 12a eingebaut sind.Next 3 is a sectional view showing a wide ren embodiment of the conventional multi-chip semiconductor devices is illustrated in FIG., In which four bare chips 11, 12, 11 a and 12 a are incorporated.

Der in Fig. 3 dargestellte Multichip-Halbleiterbaustein wird in ähnlicher Weise hergestellt, wie in bezug auf Fig. 2 beschrieben wurde. In der oberen Hälfte des Multichip-Halbleiterbausteins werden ein oberer und ein unterer blanker Chip 11 und 12 miteinander verbunden. Innere Zuleitungen der TAB-Bänder 15 und 16 werden jeweils an Höckern 13 und 14 der Chips 11 und 12 bondiert. Die Höcker 13 und 14 sind an den entgegengesetzten Seiten jeweils der oberen und der unteren Ober­ fläche der Chips 11 und 12 vorgesehen. Äußere Zuleitungen der TAB-Bänder 15 und 16 werden jeweils an den Systemträgern 17 und 17′ bondiert. Gleichzeitig werden in der unteren Hälfte des Multichip-Halb­ leiterbausteins ein oberer blanker Chip 11a und ein unterer blanker Chip 12a miteinander verbunden. Innere Zuleitungen der TAB-Bänder 21 und 22 werden mit den Höckern 18 und 19 bondiert, die an ent­ gegengesetzten Seiten der oberen und unteren Oberfläche jeweils des oberen und unteren blanken Chips 11a und 12a angebracht sind. Äuße­ re Zuleitungen der TAB-Bänder 20 und 21 werden jeweils an den Systemträgern 17 und 17′ bondiert. Schließlich wird ein Gußteil 22, das die sich ergebende Chipanordnung umhüllt, durch Anbringen der Epoxy­ harzkapselung gebildet. Dementsprechend enthält ein einzelner Halblei­ terbaustein vier blanke Chips 11, 12, 11a und 12a, wodurch sein Integra­ tionsgrad verbessert und eine noch stärkere Miniaturisierung des Bau­ steins erzielt wird als im Falle der Fig. 2.The multichip semiconductor device shown in FIG. 3 is manufactured in a similar manner to that described with reference to FIG. 2. An upper and a lower bare chip 11 and 12 are connected to one another in the upper half of the multichip semiconductor module. Inner leads of TAB tapes 15 and 16 are bonded to bumps 13 and 14 of chips 11 and 12, respectively. The bumps 13 and 14 are provided on the opposite sides of the upper and lower upper surface of the chips 11 and 12 , respectively. Outer supply lines of the TAB tapes 15 and 16 are bonded to the system carriers 17 and 17 ', respectively. At the same time, an upper bare chip 11 a and a lower bare chip 12 a are connected to one another in the lower half of the multichip semiconductor component. Inner leads of the TAB tapes 21 and 22 are bonded to the bumps 18 and 19 , which are attached to ent opposite sides of the upper and lower surfaces of the upper and lower bare chips 11 a and 12 a, respectively. Outer re leads of the TAB tapes 20 and 21 are bonded to the system carriers 17 and 17 ', respectively. Finally, a casting 22 that envelops the resulting chip assembly is formed by attaching the epoxy resin encapsulation. Accordingly, a single semiconductor component contains four bare chips 11 , 12 , 11 a and 12 a, whereby its degree of integration is improved and an even greater miniaturization of the block is achieved than in the case of FIG. 2.

Da aber bei den in den Fig. 2 und 3 dargestellten und oben be­ schriebenen Multichip-Halbleiterbausteinen die inneren Zuleitungen der TAB-Bänder 6 und 15, 16, 20, 21 an den Höckern 7, 8 und 13, 14, 18, 19 bondiert sind, die auf der oberen und unteren Oberfläche der blan­ ken Chips 3, 4 und 11, 12, 11a, 12a angebracht sind, nehmen die Höhen H bzw. H′ zwischen dem oberen TAB-Band 5 und dem unteren TAB-Band 6 bzw. zwischen dem oberen TAB-Band 15 und dem unteren TAB-Band 21 zu, so daß die Dicke des gesamten Halbleiterpaketes zunimmt.However, since in the case of the multichip semiconductor components shown in FIGS . 2 and 3 and described above, the inner leads of the TAB bands 6 and 15 , 16 , 20 , 21 are bonded to the bumps 7 , 8 and 13 , 14 , 18 , 19 are attached to the top and bottom surfaces of the blan ken chips 3 , 4 and 11 , 12 , 11 a, 12 a, take the heights H and H 'between the upper TAB band 5 and the lower TAB band 6 or between the upper TAB band 15 and the lower TAB band 21 , so that the thickness of the entire semiconductor package increases.

Da weiter die Anzahl der TAB-Bänder 5, 6 und 15, 16, 20, 21 zunimmt, nehmen auch die Herstellungskosten des Multichip-Halbleiterbausteins zu, und außerdem bedingt die Herstellung des Bausteins notwendigerweise ein komplexes Verfahren.As the number of TAB tapes 5 , 6 and 15 , 16 , 20 , 21 continues to increase, the manufacturing cost of the multichip semiconductor device also increases, and moreover, the manufacturing of the device necessitates a complex process.

Da weiter jede innere Zuleitungsbondierung (ILB) zwischen den blanken Chips 3, 4, 11, 12, 11a und 12a und den TAB-Bändern 5, 6, 15, 16, 20 und 21 an einer äußeren Oberfläche der blanken Chips 3, 4, 11,12, 11a und 12a′ ausgeführt werden, sind die Multichip-Halbleiterbausteine nicht für die LOC-Technik geeignet. Aufgrund der relativ kurzen Längen der TAB-Bänder 5, 6, 15 und 16 ist das Verfahren zum Bondieren der inneren Zuleitungen kompliziert und nicht leicht durchzuführen. Furthermore, since each inner lead bond (ILB) between the bare chips 3 , 4 , 11 , 12 , 11 a and 12 a and the TAB bands 5 , 6 , 15 , 16 , 20 and 21 on an outer surface of the bare chips 3 , 4 , 11 , 12 , 11 a and 12 a 'are executed, the multichip semiconductor devices are not suitable for LOC technology. Due to the relatively short lengths of the TAB tapes 5 , 6 , 15 and 16 , the method for bonding the inner leads is complicated and not easy to carry out.

Es ist daher ein Ziel der Erfindung, einen Multichip-Halbleiterbaustein zu schaffen, der mit Hilfe einer TAB-Technik und einer für das Flip-Chip-Verfahren geeigneten C-4-Bondierungstechnik in der dünnsten Struktur hergestellt wird, um: den Halbleiterbaustein zu miniaturisieren, die LOC-Technik entsprechend der zunehmenden Größe eines blanken Chips zu verwenden und gleichzeitig zwei oder vier blanke Chips zu umkapseln.It is therefore an object of the invention to provide a multichip semiconductor device to create the one with the help of a TAB technique and one for the Flip-chip method suitable C-4 bonding technology in the thinnest Structure is made to: miniaturize the semiconductor device, the LOC technique according to the increasing size of a bare To use chips and two or four bare chips at the same time encapsulate.

Um dieses Ziel zu erreichen, weist der Multichip-Halbleiterbaustein gemäß der vorliegenden Erfindung auf: eine erste Chipgruppe mit einem ersten blanken Chip und einem zweiten blanken Chip, die mitein­ ander durch ein eingefügtes Lot verbunden sind, und eine Vielzahl von TAB-Bändern, von denen jedes eine innere Zuleitung und eine äußere Zuleitung aufweist, wobei der erste und der zweite blanke Chip mit einer Vielzahl von Lothöckern auf entgegengesetzten Seiten der einander zugekehrten Oberflächen versehen sind, wobei die inneren Zuleitungen zwischen entsprechenden Lothöckern der ersten und zweiten blanken Chips bondiert sind, und einen Systemträger, der an die äußeren Zulei­ tungen der TAB-Bänder bondiert ist.In order to achieve this goal, the multichip semiconductor device according to the present invention on: a first chip group with a first bare chip and a second bare chip others are connected by an inserted solder, and a plurality of TAB tapes, each with an inner lead and an outer one Has supply line, the first and the second bare chip with a variety of solder bumps on opposite sides of each other facing surfaces are provided, the inner leads between corresponding solder bumps of the first and second bare Chips are bonded, and a leadframe attached to the outer lead TAB tapes are bonded.

Diese und weitere Ziele, Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung gehen aus der nachfolgenden Beschreibung in Verbindung mit den Zeichnungen deutlich hervor, deren wesentlicher Gegenstand kurz beschrieben wird.These and other objectives, features and advantages of the present Invention go from the description below in conjunction with the drawings clearly, the essential subject brief is described.

Fig. 1 stellt eine perspektivische Ansicht zur Veranschaulichung eines Huckepack-Typs des Multichip-Halbleiterbausteins gemäß dem Stande der Technik dar; Fig. 1 is a perspective view illustrating a piggyback type of the multi-chip semiconductor device according to the state of the art;

Fig. 2 stellt eine Querschnittsansicht eines TSOP-Typs entsprechend einer weiteren Ausführungsform des in Fig. 1 dargestellten Multichip-Halbleiterbausteins dar, bei dem zwei Halbleiterchips übereinander angeordnet sind; FIG. 2 shows a cross-sectional view of a TSOP type in accordance with a further embodiment of the multichip semiconductor module shown in FIG. 1, in which two semiconductor chips are arranged one above the other;

Fig. 3 stellt eine Querschnittsansicht eines TSOJ-Typs entsprechend einer noch weiteren Ausführungsform des in Fig. 1 dargestellten Multichip-Halbleiterbausteins dar, bei dem vier Chips überein­ ander angeordnet sind; Fig. 3 is a cross-sectional view of a TSOJ type according to yet another embodiment of the multi-chip semiconductor device shown in Figure 1 represents, in which four chips are arranged in line on the other.

Fig. 4 stellt eine Querschnittsansicht eines LOC-TSOP-Typs dar, der eine Ausführungsform des Multichip-Halbleiterbausteins gemäß der vorliegenden Erfindung wiedergibt, bei der TAB-Zuführun­ gen zwischen zwei Chips plaziert sind; Fig. 4 is a cross-sectional view of a LOC-TSOP type showing an embodiment of the multichip semiconductor device according to the present invention, in which TAB feeders are placed between two chips;

Fig. 5 stellt eine Querschnittsansicht eines LOC-TSOP-Typs dar, der eine weitere Ausführungsform des Multichip-Halbleiterbausteins gemäß der vorliegenden Erfindung wiedergibt, bei der TAB-Zuführungen bis in die Mitte des Chips verlängert sind; Fig. 5 is a cross-sectional view of a LOC-TSOP type showing another embodiment of the multichip semiconductor device according to the present invention, in which TAB leads are extended to the center of the chip;

Fig. 6 stellt eine Querschnittsansicht eines LOC-TSOJ-Typs dar, der wiederum eine weitere Ausführungsform des in Fig. 4 dargestell­ ten Multichip-Halbleiterbausteins wiedergibt; Fig. 6 is a cross-sectional view of a LOC-TSOJ type, which in turn shows another embodiment of the multichip semiconductor device shown in Fig. 4;

Fig. 7 stellt eine Querschnittsansicht eines Multichip-Halbleiterbausteins vom Andruck-Typ dar, der eine weitere Ausführungsform des in Fig. 4 dargestellten Multichip-Halbleiterbausteins bildet; und FIG. 7 illustrates a cross-sectional view of a pressure-type multichip semiconductor device constituting another embodiment of the multichip semiconductor device shown in FIG. 4; and

Fig. 8 stellt eine Querschnittsansicht eines LOC-TSOP-Typs dar, der eine noch weitere Ausführungsform des in Fig. 4 dargestellten Multichip-Halbleiterbausteins wiedergibt. FIG. 8 illustrates a cross-sectional view of a LOC-TSOP type that represents yet another embodiment of the multichip semiconductor device shown in FIG. 4.

Nachfolgend werden die bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung im einzelnen beschrieben.The following are the preferred embodiments of the invention described in detail.

Bezugnehmend auf Fig. 4 ist ein LOC-TSOP-Baustein (Thin Small Outline Package) dargestellt, der eine Ausführungsform des Multichip-Halb­ leiterbausteins gemäß der vorliegenden Erfindung bildet. Der in der Zeichnung dargestellte Multichip-Halbleiterbaustein umfaßt einen oberen und einen unteren blanken Chip 32 und 34. Der obere blanke Chip 32 ist mit Lothöckern 33 an entgegengesetzten Seiten der unteren Ober­ fläche versehen. Entsprechend ist der untere blanke Chip 34 mit Lot­ höckern 35 an entgegengesetzten Seiten der oberen Oberfläche versehen. Zwischen dem oberen und dem unteren blanken Chip 32 und 34 ist ein Lot 36 eingefügt, so daß die Chips 32 und 34 miteinander verbunden sind. Die inneren Zuleitungen der TAB-Bänder 31 sind zwischen den Lothöckern 33 des oberen blanken Chips 32 und den Lothöckern 35 des unteren blanken Chips 34 an entgegengesetzten Seiten der blanken Chips 32 und 34 bondiert. Die äußeren Zuleitungen der TAB-Bänder 31 sind jeweils mit einem Systemträger 37 (rechts in Fig. 4), 37′ (links in Fig. 4) verbunden (wobei zum leichteren Verständnis der Struktur des Bausteins nur zwei TAB-Bänder 31 mit den zugehörigen Komponenten dargestellt sind). Die wie beschrieben aufgebaute Chipgruppe ist von einem Guß­ formabschnitt 38 umgeben.Referring to FIG. 4, a LOC-TSOP-block (thin small outline package) is illustrated which forms an embodiment of the multi-chip semiconductor device according to the present invention. The multichip semiconductor device shown in the drawing comprises an upper and a lower bare chip 32 and 34 . The upper bare chip 32 is provided with solder bumps 33 on opposite sides of the lower upper surface. Accordingly, the lower bare chip 34 is provided with bumps 35 on opposite sides of the upper surface. Between the upper and lower bare chip 32 and 34, a solder is inserted 36, so that the chips 32 and 34 are connected to each other. The inner leads of the TAB tapes 31 are bonded between the solder bumps 33 of the upper bare chip 32 and the solder bumps 35 of the lower bare chip 34 on opposite sides of the bare chips 32 and 34 . The outer leads of the TAB tapes 31 are each connected to a system carrier 37 (right in Fig. 4), 37 '(left in Fig. 4) (whereby for easier understanding of the structure of the module, only two TAB tapes 31 with the associated Components are shown). The chip group constructed as described is surrounded by a casting section 38 .

Nachfolgend wird das Verfahren zur Herstellung des beschriebenen Multichip-Halbleiterbausteins gemäß der vorliegenden Erfindung erläutert. Below is the process for making the described Multichip semiconductor device according to the present invention explained.  

Zuerst werden die inneren Zuleitungen der TAB-Bänder 31 mit den an entgegengesetzten Seiten der unteren Oberfläche des oberen blanken Chips 32 durch die C-4-Bondierungstechnik verbunden. Dabei werden die inneren Zuleitungen des Bandes 31 zunächst annähernd mit den Lothöckern 33 des Chips 32 ausgefluchtet. Danach werden der Chip 32 und das Band 31 zur Erwärmung in einem Ofen gebracht, wodurch sich die inneren Zuleitungen des Bandes 31 relativ zu den Lothöckern 33 des Chips 32 selbstausrichten. Im Unterschied zum Stande der Technik müssen also die inneren Zuleitungen des Bandes 31 nicht genau mit den Lothöckern 33 ausgefluchtet sein.First, the inner leads of the TAB tapes 31 are connected to the opposite sides of the lower surface of the upper bare chip 32 by the C-4 bonding technique. The inner feed lines of the strip 31 are initially approximately aligned with the solder bumps 33 of the chip 32 . Thereafter, the chip 32 and the tape 31 are heated in an oven, whereby the inner leads of the tape 31 align themselves relative to the solder bumps 33 of the chip 32 . In contrast to the prior art, the inner leads of the strip 31 do not have to be exactly aligned with the solder bumps 33 .

Anschließend wird der getrennte untere blanke Chip 34 umgedreht. Dann wird er in bezug auf die inneren Zuleitungen des Bandes 31 ausgefluchtet, das mit den Lothöckern 33 des oberen Chips 32 verbunden wurde. Daraufhin wird es erwärmt, so daß es durch C-4-Bondieren mit den inneren Zuleitungen des Bandes 31 verbunden wird. Dabei kann sich der untere Chip 34 in bezug auf die inneren Zuleitungen des Bandes 31 selbstausrichten, so daß eine genaue Ausrichtung des oberen Chips 34 nicht erforderlich ist, wie oben beschrieben. Anschließend wird das Lot 36 zwischen den oberen blanken Chip 32 und den unteren blanken Chip 34 eingefügt.The separated lower bare chip 34 is then turned over. Then it is aligned with the inner leads of the tape 31 which has been connected to the solder pads 33 of the upper chip 32 . It is then heated so that it is bonded to the inner leads of the tape 31 by C-4 bonding. The lower chip 34 can thereby self-align with respect to the inner leads of the tape 31 , so that an exact alignment of the upper chip 34 is not necessary, as described above. The solder 36 is then inserted between the upper bare chip 32 and the lower bare chip 34 .

Da in diesem Falle das TAB-Band 31 mit einem Kleber auf seinen beiden Oberflächen versehen ist, wirkt das Band für den LOC-Baustein als dämpfende Polyimidzwischenschicht. Nach dem Bondieren der inne­ ren Zuleitungen des TAB-Bandes 31 mit den Lothöckern 33 und 35 werden die Chips 32 und 34 durch Thermokompression miteinander verbunden. In this case, since the TAB tape 31 is provided with an adhesive on both of its surfaces, the tape acts as a damping polyimide intermediate layer for the LOC component. After the inner leads of the TAB tape 31 have been bonded to the solder bumps 33 and 35 , the chips 32 and 34 are connected to one another by thermal compression.

Der obere und der untere Chip 32 und 34, die wie oben beschrieben fest miteinander verbunden worden sind, und die TAB-Bänder 31 bilden eine Chipgruppe C. Nachdem die Chipgruppe C auf einem Systemträger für ein SOP (Small Outline Package) oder ein SOJ (Small Outline J-Lead Package) befestigt worden ist, werden die äußeren Zuleitungen des TAB-Bandes 31 der Chipgruppe C durch Thermokompression jeweils mit Systemträgern 37 und 37′ bondiert. Danach wird die entstandene Chip­ anordnung einer Gußkapselung unterzogen, wodurch ein die Chipan­ ordnung umgebender Gußteil 38 gebildet wird.The upper and lower chips 32 and 34 , which have been firmly connected to one another as described above, and the TAB bands 31 form a chip group C. After the chip group C on a system carrier for a SOP (Small Outline Package) or an SOJ ( Small Outline J-Lead Package) has been attached, the outer leads of TAB tape 31 of chip group C are bonded by thermocompression to system carriers 37 and 37 ', respectively. The resulting chip arrangement is then subjected to a casting encapsulation, as a result of which a casting 38 surrounding the chip arrangement is formed.

Gewünschtenfalls können die Umkapselungskosten für den Multichip-Halb­ leiterbaustein durch Testen der Chipanordnung vor dem Bondieren der äußeren Zuleitungen des TAB-Bandes 31 mit den Systemträgern 37 und 37′ verringert werden.If desired, the encapsulation costs for the multichip semiconductor device can be reduced by testing the chip arrangement before bonding the outer leads of the TAB tape 31 with the system carriers 37 and 37 '.

Da der Multichip-Halbleiterbaustein gemäß der oben beschriebenen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung so aufgebaut ist, daß das einzelne TAB-Band 31 gleichzeitig mit dem oberen blanken Chip 32 und dem unteren blanken Chip 34 bondiert wird, kann die dünnste LOC-Paketierung erzielt und eine verdoppelte Paketierungskapazität erreicht werden.Since the multichip semiconductor device according to the above-described embodiment of the present invention is constructed such that the single TAB band 31 is bonded to the upper bare chip 32 and the lower bare chip 34 simultaneously, the thinnest LOC packaging can be achieved and doubled Packing capacity can be achieved.

Obgleich in dieser Beschreibung die vorliegende Erfindung im Falle der LOC-TSOP-Ausführung auf gewisse Besonderheiten abstellt, ist sie natür­ lich nicht auf eine solche spezifische Ausführungsform beschränkt, son­ dern kann auf alle Arten von Halbleiterbausteinen angewandt werden, wie beispielsweise auf Ausführungen vom LOC-SOJ-Typ, vom LOC-SOI-Typ und vom LOC-SOP-Typ. Although in this specification, the present invention in the case of LOC-TSOP version focuses on certain special features, it is natural Lich not limited to such a specific embodiment, son can be applied to all types of semiconductor devices, such as on LOC-SOJ type, LOC-SOI type and of the LOC-SOP type.  

Fig. 5 veranschaulicht eine weitere Ausführungsform der Erfindung. Der Multichip-Halbleiterbaustein umfaßt einen oberen und einen unteren blanken Chip 32 und 34. Zwischen die blanken Chips 32 und 34 sind Systemträger 37 und 37′ eingefügt und befestigt. Die inneren Seiten der Systemträger 37 und 37′ sind mit TAB-Bändern 34 bondiert, so daß die Zuführungen der TAB-Bänder 34 an Lothöcker 33 und 35 angeschlossen sind, die auf den Anschlüssen der oberen und unteren blanken Chips 32 und 34 angebracht sind. Die blanken Chips 32 und 34 werden guß­ umkapselt, so daß die anderen Seiten der Systemträger 37 und 37′ nach außen freiliegen. Fig. 5 illustrates a further embodiment of the invention. The multichip semiconductor device comprises an upper and a lower bare chip 32 and 34 . Between the bare chips 32 and 34 system carriers 37 and 37 'are inserted and attached. The inner sides of the system carriers 37 and 37 'are bonded to TAB tapes 34 so that the feeds of the TAB tapes 34 are connected to solder bumps 33 and 35 which are attached to the connections of the upper and lower bare chips 32 and 34 . The bare chips 32 and 34 are cast encapsulated so that the other sides of the system carrier 37 and 37 'are exposed to the outside.

Bei dieser Ausführungsform der Erfindung werden die Zuleitungen der TAB-Bänder 31, die mit den Seiten der Systemträger 37 und 37′ ver­ bunden sind, durch C-4-Bondieren mit den jeweiligen Anschlüssen der oberen und unteren blanken Chips 32 und 34 unter Benutzung der Lothöcker 33 und 35 bondiert. Danach werden der obere und der untere Chip 32 und 34 und die zwischen ihnen eingefügten Systemträger 37 und 37′ miteinander bondiert, so daß eine Chipgruppe C hergestellt wird. Dann wird die Chipgruppe C mit Polyimid gußumkapselt.In this embodiment of the invention, the leads of the TAB tapes 31 connected to the sides of the lead frames 37 and 37 'are connected by C-4 bonding to the respective terminals of the upper and lower bare chips 32 and 34 using the Solder bumps 33 and 35 bonded. Then the upper and lower chips 32 and 34 and the system carriers 37 and 37 'inserted between them are bonded to one another, so that a chip group C is produced. Then the chip group C is encapsulated with polyimide.

Der Spalt zwischen den blanken Chips 32 und 34 wird also durch die Systemträger 37 und 37′ beibehalten, so daß zwei blanke Chips fest und stabil übereinander gestapelt werden können und ein getrenntes Lot nicht erforderlich ist. Da die Systemträger 37 und 37′ weiter zwischen zwei blanken Chips 32 und 34 fixiert sind, können die Anschlüsse der blanken Chips nicht nur an den periphären Abschnitten der blanken Chips gebil­ det werden, sondern auch in der Mitte oder in jedem beliebigen Ab­ schnitt der blanken Chips. The gap between the bare chips 32 and 34 is thus maintained by the system carrier 37 and 37 ', so that two bare chips can be stacked firmly and stably one above the other and a separate solder is not required. Since the system carrier 37 and 37 'are further fixed between two bare chips 32 and 34 , the connections of the bare chips can be formed not only on the peripheral sections of the bare chips, but also in the middle or in any section of the bare chips Crisps.

Dementsprechend können die Anschlüsse wie gewünscht in die Auslegung des blanken Chips einbezogen werden.Accordingly, the connections can be designed as desired of the bare chip are included.

Im Falle, daß eine vielfache Zahl von blanken Chips übereinander gestapelt wird, können Systemträger auch in den Gußteil verzweigt werden und dann zwischen die beiden blanken Chips eingefügt und dort befestigt werden.In the event that a multiple number of bare chips are stacked system stack can also be branched into the casting and then inserted between the two bare chips and there be attached.

Bezugnehmend auf die Fig. 6 bis 8 sind dort Multichip-Halbleiterbaustei­ ne gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung dargestellt, in denen vier blanke Chips übereinandergesetzt sind.Referring to Figure, the. 6 to 8 are there multichip Halbleiterbaustei ne in accordance with another embodiment of the invention, in which four bare chips are superposed one upon another.

Der Multichip-Halbleiterbaustein umfaßt eine obere und eine untere Chipgruppe C und C′. Gleichermaßen wie in Fig. 4 dargestellt, weist die obere Chipgruppe C einen oberen blanken Chip 32 und einen unteren blanken Chip 34 auf. Der obere blanke Chip 32 ist mit Lot­ höckern 33 an den entgegengesetzten Seiten der unteren Oberfläche des Chips versehen, während der untere blanke Chip 34 mit Lothöckern 35 an entgegengesetzten Seiten seiner oberen Oberfläche versehen ist. Innere Zuführungen des TAB-Bandes 31 sind zwischen den Lothöckern 33 und 35 bondiert. Der obere blanke Chip 32 und der untere blanke Chip 34 sind durch ein zwischen die Chips eingefügtes Lot 36 fest miteinander verbunden. Auch hier sind zum leichteren Verständnis der Struktur des Bausteins nur zwei TAB-Bänder 31 mit den zugehörigen Komponenten dargestellt. In gleicher Weise umfaßt die untere Chip­ gruppe C′ einen oberen blanken Chip 42 und einen unteren blanken Chip 44. Der obere blanke Chip 42 ist mit Lothöckern 43 an entgegen­ gesetzten Seiten seiner unteren Oberfläche versehen, während der untere blanke Chip 44 mit Lothöckern 45 an entgegengesetzten Seiten seiner oberen Oberfläche versehen ist. Innere Zuleitungen des TAB-Bandes 41 sind zwischen den Lothöckern 43 und 45 bondiert. Der obere blanke Chip 42 und der untere blanke Chip 44 sind durch ein zwischen die Chips eingefügtes Lot 46 fest miteinander verbunden. Die Systemträger 47, 47′, 48, 48′, 49 und 49′ sind zwischen den äußeren Zuleitungen der TAB-Bänder 31 und den äußeren Zuleitungen der TAB-Bänder 41 bondiert. Die untere Chipgruppe C haftet an der unteren Chipgruppe C′ durch Aufbringen eines Klebers 51 zwischen dem unteren blanken Chip 34 der oberen Chipgruppe C und dem oberen blanken Chip 42 der unteren Chipgruppe C′. Die so aufgebaute Chipanordnung ist mit einem Gußteil 50 umhüllt.The multichip semiconductor device comprises an upper and a lower chip group C and C '. In the same way as shown in FIG. 4, the upper chip group C has an upper bare chip 32 and a lower bare chip 34 . The upper bare chip 32 is provided with bumps 33 on the opposite sides of the lower surface of the chip, while the lower bare chip 34 is provided with solder bumps 35 on opposite sides of its upper surface. Inner leads of the TAB tape 31 are bonded between the solder bumps 33 and 35 . The upper bare chip 32 and the lower bare chip 34 are firmly connected to one another by a solder 36 inserted between the chips. Here too, only two TAB bands 31 with the associated components are shown for easier understanding of the structure of the module. In the same way, the lower chip group C 'comprises an upper bare chip 42 and a lower bare chip 44th The upper bare chip 42 is provided with solder bumps 43 on opposite sides of its lower surface, while the lower bare chip 44 is provided with solder bumps 45 on opposite sides of its upper surface. Inner leads of the TAB tape 41 are bonded between the solder bumps 43 and 45 . The upper bare chip 42 and the lower bare chip 44 are firmly connected to one another by a solder 46 inserted between the chips. The system carrier 47 , 47 ', 48 , 48 ', 49 and 49 'are bonded between the outer leads of the TAB tapes 31 and the outer leads of the TAB tapes 41 . The lower chip group C adheres to the lower chip group C 'by applying an adhesive 51 between the lower bare chip 34 of the upper chip group C and the upper bare chip 42 of the lower chip group C'. The chip arrangement constructed in this way is encased in a casting 50 .

Nachfolgend wird das Verfahren zur Herstellung des vorerwähnten Multi­ chip-Halbleiterbausteins gemäß einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben, bei der der Baustein vier blanke Chips 32, 34, 42 und 44 besitzt.The method for producing the aforementioned multi-chip semiconductor module according to a further embodiment of the present invention is described below, in which the module has four bare chips 32 , 34 , 42 and 44 .

Zuerst werden entsprechend der in Fig. 4 dargestellten Art und Weise die inneren Zuleitungen der TAB-Bänder 31 zwischen den an entgegen­ gesetzten Seiten der unteren Oberfläche des oberen blanken Chips 32 angebrachten Lothöckern 33 und den an entgegengesetzten Seiten auf der oberen Oberfläche des unteren blanken Chips 34 angebrachten Lothök­ kern 35 befestigt, und zwar durch C-4-Bondieren. Dabei wird zwischen den oberen blanken Chip 32 und den unteren blanken Chip 34 ein Lot 36 eingefügt, so daß der obere blanke Chip 32 fest an den unteren blanken Chip 34 angeschlossen ist. Der obere und der untere blanke Chip 32 und 34, die wie oben beschrieben fest miteinander verbunden worden sind, und das TAB-Band 31 bilden eine obere Chipgruppe C.First, according to the manner shown in Fig. 4, the inner leads of the TAB tapes 31 become between the solder bumps 33 attached on opposite sides of the lower surface of the upper bare chip 32 and those on opposite sides on the upper surface of the lower bare chip 34 attached solder core 35 attached, by C-4 bonding. A solder 36 is inserted between the upper bare chip 32 and the lower bare chip 34 , so that the upper bare chip 32 is firmly connected to the lower bare chip 34 . The upper and lower bare chips 32 and 34 , which have been firmly connected to one another as described above, and the TAB band 31 form an upper chip group C.

Wie bei der oberen Chipgruppe C werden die inneren Zuleitungen der TAB-Bänder 41 durch C-4-Bondieren zwischen den Lothöckern 33 an den entgegengesetzten Seiten der unteren Oberfläche des oberen blanken Chips 42, und den Lothöckern 45 an den entgegengesetzten Seiten der oberen Oberfläche des unteren blanken Chips 44 befestigt. Dabei wird zwischen den oberen blanken Chip 42 und den unteren blanken Chip 44 ein Lot 46 eingefügt, so daß der obere blanke Chip 42 mit dem unteren blanken Chip 44 fest verbunden ist. Auf diese Weise wird die untere Chipgruppe C′ gebildet.As with the upper chip group C, the inner leads of the TAB tapes 41 are bonded by C-4 bonding between the solder bumps 33 on the opposite sides of the lower surface of the upper bare chip 42 , and the solder bumps 45 on the opposite sides of the upper surface of the lower bare chips 44 attached. A solder 46 is inserted between the upper bare chip 42 and the lower bare chip 44 , so that the upper bare chip 42 is firmly connected to the lower bare chip 44 . In this way, the lower chip group C 'is formed.

Anschließend werden die äußeren Zuführungen der TAB-Bänder 41 der unteren Chipgruppe C′ mit den unteren Oberflächen der Systemträger 47, 47′, 48, 48′, 49 und 49′ verbunden. Der Kleber 51 wird auf einer oberen Oberfläche des oberen blanken Chips 42 der unteren Chipgruppe C′ aufgebracht. Dann wird die obere Chipgruppe C auf den oberen blanken Chip 42 der unteren Chipgruppe C′ plaziert, und die unteren Zuführungen der TAB-Bänder 31 der oberen Chipgruppe C werden mit der oberen Oberfläche der Systemträger 47, 47′, 48, 48′, 49 und 49′ durch Thermokompression bondiert. Die aus vier blanken Chips 32, 34, 42 und 44 gebildete Chipanordnung wird einer Formkapselung unterzo­ gen, wodurch ein die Chipanordnung umschließendes Gußteil 50 gebildet wird. Der aus dem Gußteil 50 vorstehende Systemträger kann einer der folgenden Typen sein: LOC-SOJ-Typ 47, 47′ (Fig. 5), LOC-SOI-Typ 48, 48′ (Fig. 6) oder LOC-SOP-Type 49, 49′ (Fig. 7).Then the outer feeds of the TAB tapes 41 of the lower chip group C 'are connected to the lower surfaces of the system carriers 47 , 47 ', 48 , 48 ', 49 and 49 '. The adhesive 51 is applied to an upper surface of the upper bare chip 42 of the lower chip group C '. Then the upper chip group C is placed on the upper bare chip 42 of the lower chip group C ', and the lower feeds of the TAB tapes 31 of the upper chip group C are with the upper surface of the system carrier 47 , 47 ', 48 , 48 ', 49 and 49 'bonded by thermal compression. The chip arrangement formed from four bare chips 32 , 34 , 42 and 44 is subjected to a mold encapsulation, whereby a casting 50 enclosing the chip arrangement is formed. The system carrier protruding from the casting 50 can be one of the following types: LOC-SOJ type 47 , 47 '( FIG. 5), LOC-SOI type 48 , 48 ' ( FIG. 6) or LOC-SOP type 49 , 49 '( Fig. 7).

Wie aus der obigen Beschreibung hervorgeht, kann die Anzahl der für die Paketierung benötigten TAB-Bänder um die Hälfte reduziert werden, da der Multichip-Halbleiterbaustein gemäß der Erfindung so aufgebaut ist, daß zwei blanke Chips an ein einzelnes TAB-Band oder vier blanke Chips an zwei TAB-Bänder bondiert werden. Dementsprechend kann der dünnstmögliche Multichip-Halbleiterbaustein hergestellt werden, wodurch das Herstellungsverfahren der Paketierung vereinfacht und die Herstellungskosten reduziert werden.As can be seen from the above description, the number of for the packaging required TAB tapes are reduced by half, since the multichip semiconductor device is constructed in accordance with the invention is that two bare chips on a single TAB tape or four bare Chips are bonded to two TAB tapes. Accordingly, the thinnest possible multichip semiconductor device is manufactured,  which simplifies the manufacturing process of packaging and the Manufacturing costs can be reduced.

Es wird weiter davon ausgegangen, daß verschiedene Abänderungen und Varianten der Erfindung im Rahmen des fachmännischen Könnens liegen, ohne daß vom Wesen und Umfang der Erfindung abgewichen wird.It is further assumed that various changes and Variants of the invention lie within the scope of the expert ability, without deviating from the nature and scope of the invention.

Claims (9)

1. Multichip-Halbleiterbaustein, umfassend:
eine erste Chipgruppe mit einem ersten blanken Chip und einem zweiten blanken Chip, die miteinander durch ein eingefügtes Lot verbunden sind, und eine Vielzahl von TAB-Bändern, von denen jedes eine innere Zuleitung und eine äußere Zuleitung aufweist, wobei der erste und der zweite blanke Chip mit einer Vielzahl von Lothöckern auf entgegengesetzten Seiten der einander zugekehrten Oberflächen versehen sind, wobei die inneren Zuleitungen zwischen entsprechenden Lothöckern der ersten und zweiten blanken Chips bondiert sind, und einen Systemträger, der an die äußeren Zuleitun­ gen der TAB-Bänder bondiert ist.
1. Multi-chip semiconductor device comprising:
a first chip group having a first bare chip and a second bare chip connected by an inserted solder, and a plurality of TAB tapes, each having an inner lead and an outer lead, the first and the second bare Chip are provided with a plurality of solder bumps on opposite sides of the facing surfaces, wherein the inner leads are bonded between corresponding solder bumps of the first and second bare chips, and a lead frame which is bonded to the outer leads of the TAB tapes.
2. Multichip-Halbleiterbaustein nach Anspruch 1, wobei die Chipgruppe mit einer weiteren Chipgruppe, die den gleichen Aufbau wie die erste Chipgruppe besitzt, so miteinander verbunden sind, daß jeder der beiden blanken Chips der einen Chipgruppe jedem der beiden blanken Chips der anderen Chipgruppe benachbart ist, und jede äußere Zuführung der anderen Chipgruppe mit jedem zugehörenden Punkt des Systemträgers bondiert ist, der mit jeder entsprechenden äußeren Zuleitung der einen Chipgruppe bondiert ist. 2. Multi-chip semiconductor device according to claim 1, wherein the chip group with another chip group that has the same structure as that has the first chip group, are interconnected so that each of the two bare chips of one chip group each of the two bare chips are adjacent to the other chip group, and each external supply of the other chip group with each associated one Point of the system carrier is bonded to each corresponding one outer lead of a chip group is bonded.   3. Multichip-Halbleiterbaustein nach Anspruch 2, wobei ein Kleber zwischen den blanken Chips der Chipgruppen angebracht ist, die einander benachbart sind.3. Multichip semiconductor device according to claim 2, wherein an adhesive is attached between the bare chips of the chip groups that are adjacent to each other. 4. Multichip-Halbleiterbaustein nach Anspruch 2, bei dem die äußeren Zuführungen des TAB-Bandes mit dem SOJ-Typ des Systemträgers bondiert sind.4. Multichip semiconductor device according to claim 2, wherein the outer Feeds of the TAB tape with the SOJ type of the system carrier are bonded. 5. Multichip-Halbleiterbaustein nach Anspruch 2, bei dem die äußeren Zuführungen des TAB-Bandes mit dem SOI-Typ des Systemträgers bondiert sind.5. Multichip semiconductor device according to claim 2, wherein the outer Feeds of the TAB tape with the SOI type of the system carrier are bonded. 6. Multichip-Halbleiterbaustein nach Anspruch 2, bei dem die äußeren Zuführungen des TAB-Bandes mit dem SOP-Typ des Systemträgers bondiert sind.6. Multichip semiconductor device according to claim 2, wherein the outer Feeds of the TAB tape with the SOP type of the system carrier are bonded. 7. Multichip-Halbleiterbaustein, umfassend:
eine Chipgruppe mit einem oberen blanken Chip und einem unteren blanken Chip; einem ersten und einem zweiten Systemträger, von denen ein Ende zwischen das obere und das untere blanke Chip eingefügt und dort befestigt ist, während das andere Ende nach außen freiliegt; erste und zweite Lothöckern, die auf Anschlußab­ schnitten jeweils des oberen und des unteren blanken Chips ange­ bracht sind; und erste und zweite TAB-Bänder, von denen jedes mit einem Ende an ein inneres Ende jedes der Systemträger und mit dem anderen Ende an die Lothöcker angeschlossen ist, wobei die Chipgruppe gußumkapselt ist und die äußeren Seiten der System­ träger nach außen freiliegen.
7. Multichip semiconductor device comprising:
a chip group with an upper bare chip and a lower bare chip; a first and a second leadframe, one end of which is inserted and fixed between the upper and lower bare chips, while the other end is exposed to the outside; first and second solder bumps, which were cut on Anschlussab each of the upper and lower bare chips are introduced; and first and second TAB tapes, each having one end connected to an inner end of each of the lead frames and the other end to the solder bumps, the die set being encapsulated and the outer sides of the lead frames exposed to the outside.
8. Multichip-Halbleiterbaustein nach Anspruch 7, wobei die Einfügungs­ länge der Systemträger von der Position der Anschlußpartie des oberen und unteren blanken Chips abhängt.8. Multichip semiconductor device according to claim 7, wherein the insertion length of the leadframe from the position of the connecting part of the top and bottom bare chips depends. 9. Multichip-Halbleiterbaustein nach Anspruch 7, bei dem eine Vielzahl von Chipgruppen gleicher Gestalt gebildet ist, wobei jeder der Systemträger der Chipgruppen mit den entsprechenden Systemträgern an der linken und an der rechten Seite bondiert sind, und die Chipgruppen derart gußumkapselt sind, daß nur einer der linken und rechten Systemträger freiliegt.9. Multi-chip semiconductor device according to claim 7, wherein a plurality is formed by chip groups of the same shape, each of the System carrier of the chip groups with the corresponding system carriers are bonded to the left and right sides, and the Chip groups are encapsulated in such a way that only one of the left and right system carrier is exposed.
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