DE4200462A1 - Vorrichtung zum messen einer heiztemperatur in einem hohen elektrischen feld von mikrowellen - Google Patents
Vorrichtung zum messen einer heiztemperatur in einem hohen elektrischen feld von mikrowellenInfo
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- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 title claims description 12
- 230000005684 electric field Effects 0.000 title claims description 9
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 25
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 22
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 19
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 15
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 claims description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 4
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/05—Means for preventing contamination of the components of the optical system; Means for preventing obstruction of the radiation path
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/0044—Furnaces, ovens, kilns
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/04—Casings
- G01J5/041—Mountings in enclosures or in a particular environment
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/05—Means for preventing contamination of the components of the optical system; Means for preventing obstruction of the radiation path
- G01J5/051—Means for preventing contamination of the components of the optical system; Means for preventing obstruction of the radiation path using a gas purge
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- H—ELECTRICITY
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- H05B6/00—Heating by electric, magnetic or electromagnetic fields
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- H05B6/6447—Method of operation or details of the microwave heating apparatus related to the use of detectors or sensors
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Messen
der Temperatur einer Substanz bzw. eines Gegenstandes, der in
einem hohen elektrischen Feld von Mikrowellen geheizt werden
soll.
Wenn man die Temperatur eines zu heizenden Gegenstandes in
einem Mikrowellenheizgerät feststellen will, kann man einen
Sensor wie z. B. ein Thermoelement an den zu heizenden Gegen
stand anlegen, ohne daß man irgendeine Behinderung hat, wenn
ein Mikrowellenheizgerät verwendet wird, das für den Hausge
brauch bestimmt ist und eine elektrische Feldstärke hat, die
einer Leistung von etwa 600 W bis 1 KW entspricht. Jedoch bei
industriellen Mikrowellenheizgeräten mit einer hohen elek
trischen Feldstärke, die einer Oszillationsleistung von mehr
als 1 KW entspricht, führt das Anwenden der Sonde zu solchen
Nachteilen, daß abnormales bzw. unerwünschtes Heizen in der
Sonde auftritt und daß Verbindungen unterbrochen werden oder
ähnliche Probleme durch eine Entladung eines Sondenkabelele
ments oder anderer elektrischer Gegenstände verursacht werden
und folglich eine zufriedenstellende Messung nicht ausgeführt
werden kann.
Selbst wenn ein Thermometer, das mit dem zu messenden Gegen
stand nicht in Berührung stehen muß, wie z. B. ein Infrarot
strahlungsthermometer zum Messen einer Temperatur von außer
halb des Heizers verwendet wird, um die Wirkung des hohen
elektrischen Feldes der Mikrowellen zu umgehen, kann eine
solch genaue Temperaturmessung wie bei einer Messung innerhalb
des Heizers nicht ausgeführt werden, da der Heizer mit einer
Atmosphäre aus Wasserdampf, abgeschiedenem Gas usw. gefüllt
ist, die von dem zu heizenden Gegenstand abgegeben werden.
Um diese Nachteile zu überwinden, wurden bis jetzt Messungen
durch Einführen eines Thermoelementes in den Heizer ausge
führt, nachdem die Mikrowellenheizung angehalten wurde.
Viele Schwierigkeiten und Probleme werden durch die oben
beschriebene herkömmliche Temperaturmessung verursacht, wobei
die Mikrowellenheizung jedesmal zum Temperaturmessen in der
Umgebung der hohen Temperatur oder hoher Strahlung angehalten
wird.
Es ist deshalb eine Aufgabe der Erfindung, die oben be
schriebenen Schwierigkeiten und Probleme zu überwinden und
eine Vorrichtung zum Messen einer Heiztemperatur in einem ho
hen elektrischen Feld von Mikrowellen vorzusehen, bei der es
nicht notwendig ist, daß die Mikrowellenheizung jedesmal zur
Temperaturmessung unterbrochen wird.
Eine Vorrichtung zum Messen einer Heiztemperatur in einem
hohen elektrischen Feld von Mikrowellen gemäß der vorliegenden
Erfindung umfaßt einen Mikrowellenheizer, ein Infrarot
strahlungsthermometer, das außerhalb des Mikrowellenheizers
angeordnet ist, eine Sonde, die aus einem Mikrowellen übertra
genden Material gebildet ist, das innerhalb des Mikrowellen
heizers angeordnet ist, ein Glasfaserkabel, das die Sonde und
das Thermometer miteinander verbindet, und eine Linseneinrich
tung zum Sammeln von Infrarotstrahlung, die von einer in dem
Mikrowellenheizer zu heizenden Substanz erzeugt wird und zum
Übertragen der gesammelten Infrarotstrahlung in das Glasfaser
kabel. Durch die Vorrichtung mit dem oben beschriebenen Aufbau
werden die gesammelten Infrarotstrahlen außerhalb des Mikro
wellenheizers durch das Glasfaserkabel übertragen, um so die
Infrarotstrahlungstemperatur durch das Thermometer zu messen.
In einem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung umfaßt die
Vorrichtung ferner einen Kanal für ein Reinigungsgas, der in
der Sonde ausgebildet ist, eine Reinigungsgaszufuhrquelle, die
außerhalb des Mikrowellenheizers angeordnet ist und ein Reini
gungsgasrohr, das den Kanal, der in der Sonde ausgebildet ist
und die Reinigungsgaszufuhrquelle miteinander verbindet.
Durch den oben beschriebenen Aufbau wird die Infrarot
strahlung durch die Linseneinrichtung gesammelt, während
Wasserdampf und/oder Gasabscheidungen, die von der zu heizen
den Substanz abgegeben werden, durch das Reinigungsgas ent
fernt werden.
Ein Ausführungsbeispiel wird nachfolgend mit Bezug zur ein
zigen Fig. 1 beschrieben, die das Ausführungsbeispiel der
Vorrichtung zum Messen einer Heiztemperatur veranschaulicht.
In Fig. 1 ermöglicht ein Mikrowellenheizer 1 mit Mikrowellen
oszillatoren 3,3, die mit Wellenführungen 4,4 jeweils vor
gesehen sind, die Mikrowellenerhitzung einer zu heizenden
Substanz 2, die in dem Heizer 1 gehalten wird. Ein Überwa
chungsfenster 5 ist auf der Oberseite des Heizers 1 ausgebil
det.
Innerhalb des Heizers 1 wird eine Sonde 6, die aus einem
Mikrowellen übertragenden Material wie z. B. Teflon, Quarz,
Siliziumnitrid oder Aluminiumoxid hergestellt ist, in die
Umgebung der zu heizenden Substanz 2 gesetzt. Wie aus Fig. 1
zu erkennen ist, wird diese Sonde ausgebildet aus einem Son
denhauptkörper 9 mit einem rohrförmigen Teil 7 im unteren Teil
der Sonde und einem Paßloch 8, das so ausgebohrt ist, daß es
mit dem rohrförmigen Teil 7 ausgerichtet wird und mit dem
rohrförmigen Teil 7 verbunden ist, einem Befestigungsteil 12
zum Einpassen einer Linse 10 zum Sammeln infraroter Strah
lung, die von der geheizten Substanz 2 emittiert wird, und
einem Faserkabel bzw. Glasfaserkabel 11 zum Übertragen der
gesammelten Strahlung nach außerhalb des Heizers 1 und einer
Mutter 13, die auf das obere Ende des Befestigungsteils 12
geschraubt ist. Ein eingekoppelter Körper des Befestigungs
teils 12 und der Mutter 13 wird auf das Paßloch 8 des Sonden
hauptkörpers 9 eingepaßt.
Das Glasfaserkabel 11, das innerhalb des Heizers 1 angeordnet
ist, wird durch das Überwachungsfenster nach außerhalb des
Heizers 1 geführt und mit einer Haupteinrichtung 14 eines In
frarotstrahlungsthermometers an dessen Anschluß verbunden.
Eine Temperatur, die durch die Haupteinrichtung 14 des Strah
lungsthermometers gemessen wird, wird auf einem Temperatur
anzeigegerät 15 angezeigt.
In der Sonde 6, wie sie in Fig. 1 gezeigt ist, ist ein Reini
gungsgasansatz bzw. eine Reinigungsgaskappe 16 in dem latera
len Teil des Sondenhauptkörpers 9 ausgebildet. In dem Reini
gungsgasansatz 16 ist ein Reinigungsgaskanal 19 zum Zuführen
eines Reinigungsgases in den oben beschriebenen rohrförmigen
Teil 7 gebohrt. Der Kanal 19, der in den Ansatz 16 gebohrt
ist, ist mit einem Flußregulator 17 und einer Reinigungsgaszu
fuhrquelle (nicht dargestellt in Fig. 1) verbunden, die
außerhalb des Heizers 1 über ein Reinigungsgasrohr 18 ver
bunden sind, das nach außen durch das Überwachungsfenster 5
geführt wird, das auf der Oberseite des Heizers 1 ausgebildet
ist. Das Reinigungsgas wird auf die Oberfläche der geheizten
Substanz 2 durch den rohrförmigen Teil 7 der Sonde 6 zuge
führt. Selbst wenn Wasserdampf, ein gasförmiges Abbauprodukt,
usw. von der Substanz 2 abgegeben werden, kann die Messung der
Infrarotstrahlungstemperatur wirksam ausgeführt werden, wäh
rend die abgegebenen Stoffe durch das Reinigungsgas von dem
Raum zwischen der Sonde 6 und der Substanz 2, die geheizt
werden soll, entfernt werden.
In der Vorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung, das
heißt, durch Ausbilden der Meßsonde des Nicht-Berührungs-
Strahlungsthermometers aus einem Mikrowellen übertragenden
Material, tritt keine abnorme Heizung auf, selbst wenn die
Sonde in dem hohen elektrischen Feld von Mikrowellen gelassen
wird, und es kann deshalb die Sonde ohne irgendeine Behinde
rung selbst in der Umgebung von hoher Temperatur und hoher
Strahlung durch Auswahl eines geeigneten Mikrowellen über
tragenden Materials verwendet werden. Ferner kann die Sonde in
die Umgebung der zu heizenden Substanz gesetzt werden, wodurch
sie wirksam für eine genaue Temperaturmessung wird. Zusätz
lich, da die Sonde bzw. Nachweisvorrichtung einen sehr ein
fachen Aufbau hat, der aus kleinen Bestandteilen aufgebaut
ist, wird die Wartung erleichtert.
In einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung, bei
dem die Sonde so ausgestaltet ist, daß Reinigungsgas auf die
Oberfläche der geheizten Substanz geblasen werden kann, kann
die Linseneinrichtung zum Sammeln infraroter Strahlen ge
schützt werden und eine Infrarotstrahlungsmessung kann auch
ausgeführt werden, wobei Wasserdampf und Gasabscheidungen
entfernt und gereinigt werden, selbst wenn sie durch die
Erhitzung der zu heizenden Substanz abgegeben werden. Folglich
ist eine genaue Messung der Infrarotstrahlungstemperatur
möglich.
Claims (2)
1. Vorrichtung zum Messen einer Heiztemperatur in einem
hohen elektrischen Feld von Mikrowellen eines Mikrowel
lenheizers (1) mit einem Infrarotstrahlungsthermometer
(14, 15), das außerhalb des Mikrowellenheizers (1) an
geordnet ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Sonde (6), die aus einem Mikrowellen übertragen den Material ausgebildet ist, innerhalb des Mikrowellen heizers (1) angeordnet ist,
daß ein Glasfaserkabel (11) die Sonde (6) und das Ther mometer (14, 15) miteinander verbindet, und
daß eine Linseneinrichtung (10) die Infrarotstrahlung, die von einer Substanz (2) abgegeben wird, die in dem Mikrowellenheizer (1) geheizt wird, sammelt und die gesammelte Infrarotstrahlung in das Glasfaserkabel (11) überträgt,
wobei die gesammelte Infrarotstrahlung nach außerhalb des Mikrowellenheizers (1) durch das Glasfaserkabel (11) übertragen wird, um eine Infrarotstrahlungstemperatur durch das Thermometer (14, 15) zu messen.
daß eine Sonde (6), die aus einem Mikrowellen übertragen den Material ausgebildet ist, innerhalb des Mikrowellen heizers (1) angeordnet ist,
daß ein Glasfaserkabel (11) die Sonde (6) und das Ther mometer (14, 15) miteinander verbindet, und
daß eine Linseneinrichtung (10) die Infrarotstrahlung, die von einer Substanz (2) abgegeben wird, die in dem Mikrowellenheizer (1) geheizt wird, sammelt und die gesammelte Infrarotstrahlung in das Glasfaserkabel (11) überträgt,
wobei die gesammelte Infrarotstrahlung nach außerhalb des Mikrowellenheizers (1) durch das Glasfaserkabel (11) übertragen wird, um eine Infrarotstrahlungstemperatur durch das Thermometer (14, 15) zu messen.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß ein Kanal (19) für ein Reinigungsgas in der Sonde (6) ausgebildet ist,
daß eine Reinigungsgaszufuhrquelle außerhalb des Mikro wellenheizers (1) angeordnet ist, und
daß ein Reinigungsgasrohr (18) den Kanal (19), der in der Sonde (6) ausgebildet ist, und die Reinigungsgaszufuhr quelle miteinander verbindet, wobei die Infrarotstrahlung durch die Linseneinrichtung (10) gesammelt wird, während Wasserdampf und/oder abgeschiedenes Gas, die von der Sub stanz (2) abgegeben werden, die geheizt wird, durch das Reinigungsgas entfernt wird.
daß ein Kanal (19) für ein Reinigungsgas in der Sonde (6) ausgebildet ist,
daß eine Reinigungsgaszufuhrquelle außerhalb des Mikro wellenheizers (1) angeordnet ist, und
daß ein Reinigungsgasrohr (18) den Kanal (19), der in der Sonde (6) ausgebildet ist, und die Reinigungsgaszufuhr quelle miteinander verbindet, wobei die Infrarotstrahlung durch die Linseneinrichtung (10) gesammelt wird, während Wasserdampf und/oder abgeschiedenes Gas, die von der Sub stanz (2) abgegeben werden, die geheizt wird, durch das Reinigungsgas entfernt wird.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP3001298A JP2638311B2 (ja) | 1991-01-10 | 1991-01-10 | マイクロ波高電界中における加熱温度測定装置 |
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Family
ID=11497567
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Country | Link |
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US (1) | US5241148A (de) |
JP (1) | JP2638311B2 (de) |
CA (1) | CA2058904C (de) |
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