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Die
vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren gemäß den Oberbegriffen der Ansprüche 1 und
2 zum Bestrahlen von lichtempfindlichem Glas mit Licht, um es zu
bearbeiten. Solche Verfahren sind z. B. aus der DE-OS 3814720 bekannt,
die nachfolgend näher
erläutert
werden.
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Ein
UV-Verfahren zum Bestrahlen von lichtempfindlichem Glas mit Licht
und anschließender thermischer
Entwicklung des Glases ist bereits bekannt. Ein solches entwickeltes
Glas kann anschließend
geätzt
werden. Beispielsweise wird dieses Verfahren von Takashi Matsuura, "Photosensitive Glass for
Chemical Cutting" in
Practical Surface Technologies" Nr.
11, Seiten 1 bis 7, 1988, beschrieben. Dieser Artikel wird im Folgenden
als Referenz 1 bezeichnet. Dieses Verfahren umfasst einen Bestrahlungsschritt,
einen thermischen Entwicklungsschritt und einen Ätzschritt. Im Bestrahlungsschritt
werden gewünschte
Bereiche eines lichtempfindlichen Glases dem Licht von einer Ultraviolettlampe
wie etwa einer Superhochdruck-Quecksilberlampe ausgesetzt. Im thermischen
Entwicklungsschritt wird das Glas auf 500 bis 700°C erhitzt,
um die bestrahlten Bereiche zu kristallisieren. Im Ätzschritt
werden die kristallisierten bestrahlten Bereiche mittels einer Ätzflüssigkeit
(Lösung
einer Fluorwasserstoffsäure)
herausgelöst.
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Selbst
wenn das Verfahren mit dem thermischen Entwicklungsschritt und ohne
Ausführung
des Ätzschrittes
endet, erscheint ein im Glas ausgebildeter kristalliner Bereich
wegen der Lichtdurchlasseigenschaften des kristallinen Bereichs
gelb oder blau gefärbt.
Daher kann das Glas für
Anzeige- oder Aufzeichnungszwecke verwendet werden.
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In 21 wird das Verfahren des
Standes der Technik erläutert,
wie es zum Beispiel in DE-OS 3814720 beschrieben ist. Ein lichtempfindliches
Glas 14 wird dem von einer Ultraviolettlampe 13 wie
etwa einer Superhochdruck-Quecksilberlampe emittierten Licht ausgesetzt.
Dieses herkömmliche
Verfahren besitzt verschiedene Probleme, die im Folgenden beschrieben
werden. Erstens dauert die Bestrahlung des Glases sehr lange. Außerdem ist
es wegen der geringen Geradlinigkeit des Lichtstrahls unmöglich, eine
mikroskopische Bearbeitung auszuführen. Die geringe Geradlinigkeit
bildet außerdem
eine Ursache für
eine Unschärfe
des Bestrahlungsmusters auf der Oberfläche 14b gegenüber der
Einfallsfläche 14a, auf
die das Licht einfällt.
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In 22 ist die Spektralverteilung
einer Superhochdruck-Quecksilberlampe, die üblicherweise als Ultraviolettlampe
bekannt ist, gezeigt. Dieser Graph zeigt, daß die spektrale Verteilung
der Quecksilberlampe einen weiten Wellenlängenbereich sowohl von sichtbarem
Licht als auch von ultraviolettem Licht überdeckt. In der Referenz 1
wird festgestellt, daß lichtempfindliches
Glas normalerweise auf Wellenlängen
zwischen 240 nm und 360 nm der von einer Ultraviolett-Strahlungsquelle
emittierten Strahlung anspricht. Das bedeutet, daß bei Verwendung einer
Quecksilberlampe die Wellenlängen
oberhalb von 360 nm zur Bestrahlung des lichtempfindlichen Glases
nicht beitragen. Das heißt,
daß ein
großer
Anteil der Bestrahlungsenergie nutzlos verbraucht wird. Daher ist
die Bestrahlungseffizienz gering und die Bestrahlungszeit lang.
In der Referenz 1 wird ein Beispiel angegeben, in der eine Bestrahlungsoperation unter
Verwendung einer Hg-Xe-Lampe während
13 Minuten ausgeführt
worden ist. Der Anmelder der vorliegenden Erfindung hat ebenfalls
ein entsprechendes Experiment ausgeführt und festgestellt, daß eine Bestrahlung
von 30 Minuten notwendig ist, um lichtempfindliches Glas mit einer
Superhochdruck-Quecksilberlampe von 500 W (hergestellt von Ushio
Electric Co., Ltd unter dem Produktnamen Multilight II Type) zu
bestrahlen.
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Es
ist ein weiterer Nachteil des herkömmlichen Verfahrens, daß einzelne
dünne Platten
von lichtempfindlichem Glas nacheinander bestrahlt werden müssen. Für die Erhöhung der
Produktivität
müssen
teure Bestrahlungsgeräte
in großer
Anzahl vorgesehen werden. Alternativ muß die Bestrahlungszeit abgekürzt werden.
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Gleichzeitig
muß für eine Verfeinerung
des Bestrahlungsmusters und eine Verringerung der Unschärfe des
Musters auf der der Einfallsflä che
gegenüberliegenden
Fläche
die Geradlinigkeit der Lichtquelle verbessert werden. Daher ist
es notwendig, die Lichtquelle so zu fokussieren, daß sie einer
idealen Punktquelle angenähert
wird. Dadurch wird wiederum die Helligkeit der Lichtquelle verringert.
Im Ergebnis wird die Bestrahlungszeit um ein Mehrfaches erhöht. Folglich
wird die Produktivität
in hohem Maß verschlechtert.
Daher besteht die Forderung nach einer Abkürzung der Bestrahlungszeit,
um sowohl den Anwendungsbereich von lichtempfindlichem Glas zu erweitern
als auch die obigen Probleme zu vermeiden.
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Der
Anmelder der vorliegenden Erfindung hat außerdem eine Reihe von Experimenten
ausgeführt,
in denen jeweils für
drei Stunden eine Bestrahlungseinrichtung für die Bearbeitung von Halbleitern verwendet
wurde, um die Grenzen der mikroskopischen Bearbeitung festzustellen.
Das Bestrahlungsgerät
war ein von Canon hergestelltes Masken-Ausrichtgerät PLA. Dieses
Gerät verwendet
eine Lichtquelle mit einer verhältnismäßig guten
Geradlinigkeit. Als Lichtquelle wird eine Superhochdruck-Quecksilberlampe
von 250 W verwendet. Das verwendete lichtempfindliche Glas besteht
hauptsächlich
aus 70-84 % SiO2, 5-20 Li2O,
3-10 % Al2O3, 0,01-0,1
% CeO2, 0,05-0,3 % Ag und 0,1-0,3 As2O3. In einigen der
Experimente wurden Spuren von anderen Substanzen wie etwa Na2O, SnO2, Cu2O, ZnO, K2O, PbO,
CaO, SrO, BaO und ZrO2 hinzugefügt.
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Die
Ergebnisse der Experimente zeigen, daß die Grenzätztiefe durch 48 μm und die
Grenzmustergröße durch
eine Breite von ungefähr
8 μm gegeben sind.
Es besteht jedoch im Bereich der Tintenstrahldruckerköpfe und
der Mikro-Materialbearbeitung die Forderung nach feineren Bearbeitungstechniken.
Die obenerwähnten
Grenzen der mikroskopischen Bearbeitung, die durch die geringe Geradlinigkeit
der Lichtquelle für
die Bestrahlung gesetzt werden, haben die Anwendung von lichtempfindlichem
Glas in diesen Bereichen bisher verhindert.
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Der
Anmelder der vorliegenden Erfindung hat außerdem ein Experi ment bezüglich der
Musterunschärfe
auf der der Lichteinfallsseite gegenüberliegenden Seite ausgeführt und
die folgenden Tatsachen ermittelt. Selbst wenn ein lichtempfindliches Glas
der obenerwähnten
Zusammensetzung unter Verwendung einer verbesserten Optik bestrahlt
wurde, wurde ein kristalliner Bereich mit einem Streuwinkel von
1,4° in
Bezug auf die Einfallsrichtung ausgebildet. Insbesondere enthielt
die verwendete Optik eine Superhochdruck-Quecksilberlampe von 500
W (hergestellt von Ushio Electric Co., Ltd. unter dem Produktnamen
Multilight II Type). Die Optik wurde so ausgebildet, dass die Geradlinigkeit
verbessert wurde. Im Falle eines lichtempfindlichen Glases mit einer Dicke
von 1 mm streute das Muster auf jeder Seite mit 24 μm, wenn das
Muster die Abmessung 100 μm besaß. Auf der
der Lichteinfallsseite gegenüberliegenden
Seite streute das Muster mit 148 μm.
Daraus ergeben sich vom praktischen Standpunkt aus betrachtet Probleme.
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Ein
Verfahren zum Gravieren von Glas mit Hilfe von Laserlicht, im Speziellen
auch ultraviolettem Laserlicht, ist in "Silikat-Technik" 42 (1990), Seiten 95 bis 99 beschrieben.
Ein Verfahren zur Herstellung von geätztem Glas unter Ausnutzung
einer zusätzlich aufgebrachten
strahlungsempfindlichen Materialschicht, die einem Laserstrahl ausgesetzt
wird, ist in DE-OS 37 42 374 geschildert.
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Die
Druckschrift
GB 2 129
834 A zeigt ein Beschichtungsverfahren zum Beschichten
von dünnen
metallischen Streifen, betrifft aber nicht die optische Behandlung
von fotoempfindlichen Glasplatten.
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Im
Hinblick auf die oben geschilderten Probleme ist es die Aufgabe
der vorliegenden Erfindung, ein Glasbearbeitungsverfahren selbst
für dickes,
evtl. mehrlagiges, lichtempfindliches Glas mit einer hohen Abmessungsgenauigkeit
unter Ausnutzung einer effizienten, präzisen Bestrahlungsoperation
von kurzer Dauer zu schaffen.
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Diese
Aufgaben werden bei einem Verfahren der gattungsgemäßen Art
erfindungsgemäß gelöst durch
die Merkmale im kennzeichnenden Teil der Ansprüche 1 und 2.
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Erfindungsgemäß kann im
Bestrahlungsschritt ein Bestrahlungsmuster dadurch erzeugt werden,
dass ein schart fokussierter Laserstrahl auf die zu bestrahlende
Fläche
des lichtempfindlichen Glases auftrifft, während der Strahl manuell bewegt
wird. Dabei kann ein Abtastsystem verwendet werden, das mittels
einer Schablone oder dergleichen entlang einer Führungskurve bewegt wird oder
das entsprechend einer entweder von einem Computer erzeugten oder
von einer in einem Computer gespeicherten Information bewegt wird.
Erfindungsgemäß kann ein komplexeres
Bestrahlungsmuster dadurch erzeugt werden, daß die Bestrahlung durch den
Laserstrahl entsprechend der entweder vom Computer erzeugten oder
in diesem gespeicherten Information wiederholt ein- und ausgeschaltet
wird, während
das Laserbestrahlungsgerät
relativ zum Glas bewegt wird.
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Wenn
das bestrahlte lichtempfindliche Glas in einer zur Bestrahlungsrichtung
nicht parallelen Richtung in eine Mehrzahl von Teilen zerschnitten wird,
können
eine Mehrzahl von Elementen lichtempfindlichen Glases effizient
ausgebildet werden.
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Der
Bestrahlungsschritt kann erfindungsgemäß die gleichzeitige Bestrahlung
von übereinandergeschichteten
dünnen
Platten lichtempfindlichen Glases umfassen. In diesem Fall können eine
Mehrzahl von dünnen
Platten lichtempfindlichen Glases mit verbesserter Produktivität bearbeitet
werden.
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Der
Bestrahlungsschritt kann erfindungsgemäß auch die Bestrahlung des
lichtempfindlichen Glases mittels eines Laserstrahls umfassen, wobei das
Glas in eine Flüssigkeit
eingetaucht wird, deren Brechungsindex angenähert demjenigen des Glases ist.
In diesem Fall kann die Bestrahlungsoperation mit höherer Produktivität ausgeführt werden.
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Im
Bestrahlungsschritt kann durch die Anordnung einer Bestrahlungsmustermaske
zwischen dem lichtempfindlichen Glas und einem optischen System
für die
Laserbestrahlung eine sehr feine Struktur, die durch die Abmessungen
der Bestrahlungsmustermaske bestimmt wird, wirksam bestrahlt werden.
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In
einem Bestrahlungsschritt, in dem der sehr scharf fokussierte Laserstrahl
verwendet wird, kann erfindungsgemäß ein komplexes Bestrahlungsmuster
durch Verwendung einer Bestrahlungsmustermaske leicht erzeugt werden.
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Weitere
Aufgaben, Merkmale und Vorteile der Erfindung sind in den Unteransprüchen, die
sich auf besondere Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung beziehen, angegeben.
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Die
Erfindung wird im folgenden anhand bevorzugter Ausführungsformen
mit Bezug auf die Zeichnungen näher
erläutert;
es zeigen:
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1 einen
Aufriß für die Erläuterung
eines Bestrahlungsschrittes gemäß einer
ersten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung;
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2 einen
Aufriß eines
lichtempfindlichen Glases, das dem in 1 erläuterten
Bestrahlungsschritt unterzogen worden ist;
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3 einen
Aufriß eines
in einem thermischen Entwicklungsschritt bearbeiteten lichtempfindlichen
Glases;
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4 einen
Querschnitt eines lichtempfindlichen Glases, das einem Ätzschritt
unterzogen worden ist;
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5 einen
Querschnitt eines Tintenstrahldruckerkopfes, der aus dem lichtempfindlichen
Glas hergestellt worden ist;
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6 einen
Graph der Spektralverteilung eines Xenonchlorid-Excimer-Lasers;
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7 einen
Aufriß für die Erläuterung
eines Bestrahlungsschrittes unter Verwendung einer Bestrahlungsmustermaske
in der ersten Ausführungsform;
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8 einen
Aufriß eines
lichtempfindlichen Glases, das dem in 7 erläuterten
Bestrahlungsschritt unterzogen worden ist;
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9 einen
Aufriß für die Erläuterung
eines weiteren Beispiels eines Bestrahlungsschrittes unter Verwendung
einer Bestrahlungsmustermaske in der ersten Ausführungsform;
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10 einen
Aufriß des
in 9 gezeigten lichtempfindlichen Glases, das einer
thermischen Entwicklung unterzogen worden ist;
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11 einen
Aufriß des
in 9 gezeigten lichtempfindlichen Glases, das geätzt worden
ist;
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12 einen
Graphen für
die Erläuterung der
Beziehung zwischen der Gesamtenergiemenge des Bestrahlungslichtes
und dem Ätzratenverhältnis in
der ersten Ausführungsform;
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13 einen
Aufriß für die Erläuterung
des Bestrahlungsschrittes gemäß einer
zweiten Ausführungsform
der Erfindung;
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14 einen überhöht gezeichneten
Aufriß für die Erläuterung
des Ätzschrittes
gemäß der zweiten
Ausführungsform;
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15 einen
Aufriß für die Erläuterung
eines Bestrahlungsschrittes unter Verwendung einer Bestrahlungsmustermaske
in der zweiten Ausführungsform;
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16 einen
Aufriß für die Erläuterung
des Bestrahlungsschrittes gemäß einer
dritten Ausführungsform
der Erfindung;
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17 einen
Aufriß für die Erläuterung
eines Bestrahlungsschrittes unter Verwendung einer Bestrahlungsmustermaske
in der dritten Ausführungsform;
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18 einen
Aufriß für die Erläuterung
des Bestrahlungsschrittes gemäß einer
vierten Ausführungsform
der vorliegenden Er findung;
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19 einen
Aufriß für die Erläuterung
eines Bestrahlungsschrittes unter Verwendung einer Bestrahlungsmustermaske
in der vierten Ausführungsform;
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20 einen
Graphen für
die Erläuterung der
Beziehung zwischen der Wellenlänge
des auf das lichtempfindliche Glas einfallenden Lichtes gemäß einer
fünften
Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung und der Durchlässigkeit des Glases;
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21 einen
Aufriß für die Erläuterung
eines herkömmlichen
Bestrahlungsschrittes;
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22 einen
Graphen für
die Darstellung der Spektralverteilung des von einer Quecksilberlampe
emittierten Lichts; und
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23 einen
Aufriß für die Darstellung
eines weiteren herkömmlichen
Bestrahlungsschrittes.
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Nun
werden mit Bezug auf die 1 bis 5 die einzelnen
Schritte des neuen Verfahrens für
die Herstellung eines Tintenstrahldruckerkopfes aus dem lichtempfindlichen
Glas nacheinander beschrieben. Wie in 1 gezeigt,
wird zunächst
eine dünne
Platte eines lichtempfindlichen Glases 1. mit polierten
Vorder- und Rückseiten 1a und 1b auf
einem Schlitten 2 angeordnet. In der vorliegenden Ausführungsform
beträgt
die Dicke der dünnen
Platte 1 1 mm. Ein oberhalb der dünnen Glasplatte angeordneter
Excimer-Laser 3 emittiert einen XeCl-Excimer-Laserstrahl.
Damit werden sämtliche
zu ätzenden
Bereiche der Glasplatte 1 bestrahlt, wie in 2 gezeigt,
indem entweder der Schlitten 2 mittels einer Bewegungsvorrichtung
oder eines (nicht gezeigten) optischen Systems bewegt wird oder
der Laser im (eventuell intermittierenden) Abtastbetrieb arbeitet.
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Nach
dem Ende der Bestrahlung wird die Platte des lichtempfindlichen
Glases 1 auf eine hohe Temperatur von 500 bis 700°C erhitzt,
um die bestrahlten Bereiche 1c zu kristallisieren, wie
in 3 gezeigt ist; hierdurch wird ein thermischer
Entwicklungsschritt ausgeführt.
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Dann
wird diese dünne
Platte des lichtempfindlichen Glases 1 mit einer Ätzflüssigkeit,
die aus einer 5 bis 10%-igen Lösung
von Fluorwasserstoffsäure
(HF) besteht, gespült.
In dieser Phase werden die Zeitintervalle, in denen das lichtempfindliche
Glas in der Ätzflüssigkeit
gebadet wird, von einem Bereich zum nächsten verschieden lang bemessen,
um den Ätzeintrag
zu verändern.
Auf diese Weise werden Tintenkanäle 1d mit
schrägen
Bereichen ausgebildet, wie in 4 gezeigt
ist. In der vorliegenden Ausführungsform
werden die beiden Seiten der Platte des lichtempfindlichen Glases
geätzt,
um auf den Vorder- und Rückseiten
Tintenkanäle 1d auszubilden.
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Nachdem
ein Fluidkanal-Substrat aus der dünnen Platte des lichtempfindlichen
Glases auf diese Weise hergestellt worden ist, werden an das Glas schwingende
Membranen 4 angehaftet, um die Tintenkanäle 1d auf
beiden Oberflächen
zu verschließen.
An den Membranen 4 werden piezoelektrische Elemente 5 angebracht,
um den Tintenstrahldruckerkopf zu vervollständigen, wie dies in 5 gezeigt ist.
Die Tintenkanäle 1d in
diesem Kopf werden von einer (nicht gezeigten) Versorgungseinrichtung
mit Tinte versorgt. Wenn an die piezoelektrischen Elemente elektrische
Leistung geliefert wird, verformen sich die vibrierenden Membranen 4 nach
innen, wodurch die im Inneren der Kanäle befindliche Tinte mit Druck
beaufschlagt wird und so die Tinte ausgespritzt wird.
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In
der vorliegenden Erfindung wird die dünne Platte des lichtempfindlichen
Glases 1 mit einem Laserstrahl bestrahlt, wie in 1 gezeigt
ist. Die Streuung des vom Laser emittierten Lichts kann in hohem Maße verringert
werden. Daher breitet sich das Licht im Wesentlichen geradlinig
aus. Selbst wenn die Platte des lichtempfindlichen Glases 1 ver hältnismäßig dick
ist, können
folglich sowohl die Lichteinfallsfläche 1a als auch die
dieser Fläche
gegenüberliegende
Fläche 1b genau
bestrahlt werden. Wenn daher beide Seiten geätzt werden, können Fluidkanäle oder
dergleichen mit derselben Form in beiden Flächen ausgebildet werden.
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Die
spektrale Verteilung des Lichtes von einem in der vorliegenden Ausführungsform
verwendeten XeCl-Excimer-Lasers ist in 6 gezeigt.
Die Oszillatorwellenlänge
dieses XeCl-Excimer-Lasers beträgt
308 nm. Bei anderen Wellenlängen
ist die Lichtintensitet im Wesentlichen Null. Das heißt, dass außer den
Wellenlängen,
auf die das lichtempfindliche Glas anspricht, im Wesentlichen keine
Wellenlängen
vorhanden sind. Nahezu die gesamte Energie der emittierten Strahlung
wird somit für
die Bestrahlung des lichtempfindlichen Glases verwendet. Aus diesem
Grund ist der Bestrahlungswirkungsgrad hoch, außerdem kann die Betriebszeit
abgekürzt werden.
Wie später
beschrieben, ist die Intensität
der Laserstrahlung stärker
als diejenige des von einer gewöhnlichen
Ultraviolettlampe oder dergleichen emittierten Lichts, so dass das
lichtempfindliche Glas gegenüber
dem Wellenlängenbereich,
der von einer Ultraviolettlampe emittiert wird, in einem weiteren Wellenlängenbereich
zwischen 150 nm und 400 nm, der vom Laser emittiert wird, anspricht.
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In
der vorliegenden Ausführungsform
ist der Laserstrahl mit sehr kleinem Durchmesser so beschaffen,
dass er direkt auf die dünne
Platte des lichtempfindlichen Glases auftrifft, um diese zu bestrahlen.
Dieser Vorgang ist als Strahlbelichtung bekannt. Es ist auch möglich, das
lichtempfindliche Glas mit einem Laserstrahl zu bestrahlen, nachdem
die nicht zu bestrahlenden Bereiche maskiert worden sind. Wenn ein
Bestrahlungsmuster beispielsweise mikroskopische Bereiche aufweist,
die enger als der Durchmesser des Laserstrahls sind und wenn eine
Bestrahlungsoperation ausgeführt
wird, könnte
in Betracht gezogen werden, den Brennpunkt der Optik unter Verwendung
einer Linse zu verändern,
um den Brennpunkt des Laserstrahls nur in den obener wähnten mikroskopischen
Bereichen schärfer
auszubilden. Dadurch wird jedoch der Aufbau in hohem Maß kompliziert.
Folglich wird auf der dünnen
Platte des lichtempfindlichen Glases eine dem mikroskopischen Muster
entsprechende Musterplatte angeordnet. Unter dieser Bedingung wird
das Glas mit dem Laserstrahl belichtet. Auf diese Weise kann das
Glas effizient mit einem einzigen Gerät belichtet werden.
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In
den 7 und 8 ist ein Beispiel eines solchen
Bestrahlungschrittes gezeigt. Genauer wird auf der Platte des lichtempfindlichen
Glases eine Bestrahlungsmustermaske 15 angeordnet. Die
Maske umfaßt
Lichtdurchlaßbereiche 15a,
die dieselbe Form wie die Tintenkanäle 1d besitzen, und Lichtsperrbereiche 15b von
anderer Form. Der Laserstrahl ist so beschaffen, daß er auf
die Platte des lichtempfindlichen Glases 1 durch diese
Maske 15 einfällt.
Wie in 8 gezeigt, werden die Lichtdurchlaßbereiche 15a mit
dem Laserstrahl insgesamt abgetastet. Dann werden der in 3 gezeigte
thermische Entwicklungsschritt und der Ätzschritt auf die gleiche Weise
wie weiter oben beschrieben ausgeführt, um die in 4 gezeigten
Tintenkanäle 1d auszubilden.
Die schwingenden Membranen und die piezoelektrischen Elemente 5 werden
auf starre Weise angebracht, um den in 5 gezeigten
Tintenstrahlkopf zu vervollständigen.
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In
diesem Verfahren lassen die Lichtsperrbereiche 15b das
Laserlicht nicht hindurch, so daß das lichtempfindliche Glas
unter diesen Abschnitten nicht belichtet wird. Folglich kann eine
mikroskopische Bearbeitung ausgeführt werden. Beispielsweise
können Rillen,
die dünner
als der Durchmesser des Laserstrahls sind, etwa die Düsen des
Tintenstrahlkopfes, ausgebildet werden. Außerdem kann die Bearbeitungsgenauigkeit
durch eine genaue Ausbildung der Mustermaske 15 erhöht werden.
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In
der obigen Ausführungsform
wird in dem Fall, in dem eine Fläche,
die breiter als der Durchmesser des Laserstrahls ist, abgetastet
werden soll, bei Verwendung der Bestrahlungsmustermaske ein (eventuell
in termittierender) Abtastbetrieb des Laserstrahls ausgeführt, um
das Glas zu belichten. Das heißt,
daß es
sich hierbei um ein Beispiel einer Strahlbelichtung handelt. Im
folgenden wird ein Beispiel im einzelnen beschrieben, in dem der
Durchmesser des Laserstrahls auf einen Wert erhöht wird, der mit der Bestrahlungsmustermaske
vergleichbar ist oder größer ist,
um die gesamte von der Maske abgedeckte Fläche während einer einzigen Operation
zu bestrahlen.
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Zunächst wird
mit Bezug auf 23 ein herkömmliches Schema dieser Bestrahlung
beschrieben. Das Licht von einer Quecksilberlampe 16 wird von
einem elliptischen, konkaven Spiegel 17 reflektiert und
auf einen ersten Spiegel 18 gerichtet. Das vom ersten Spiegel 18 reflektierte
Licht wird über
einen Integrator (Fliegenaugenlinse) 19 auf einen zweiten
Spiegel 20 gerichtet. Das vom zweiten Spiegel 20 reflektierte
Licht wird über
eine Sammellinse 21 und eine Bestrahlungsmustermaske 22 auf
das lichtempfindliche Glas 23 projiziert, um das Glas zu belichten.
In diesem herkömmlichen
System werden der erste Spiegel 18 und der zweite Spiegel 20 dazu verwendet,
die Optik des Systems klein zu gestalten. Der Integrator 19 wird
für die
Homogenisierung der Lichtintensität verwendet. Die Sammellinse
dient der Verbesserung der Geradlinigkeit des Lichtes. Auch in diesem
herkömmlichen
System wird die Quecksilberlampe 16 verwendet. Daher ist
die Geradlinigkeit des Lichtes nicht ausreichend. Außerdem ist,
wie oben erwähnt,
die Bestrahlungszeit lang.
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Nun
werden mit Bezug auf die 9 bis 11 die
einzelnen Schritte eines neuen Verfahrens zur Bearbeitung von lichtempfindlichem
Glas für die Ätzung mikroskopischer
Rillen beschrieben.
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Wie
in 9 gezeigt, werden in einem ersten Schritt sowohl
die Vorderseite 1a und als auch die Rückseite 1b der dünnen Platte
des lichtempfindlichen Glases 1, die eine Dicke von 1 mm
besitzt, poliert. Oberhalb des Glases wird ein XeCl-Excimer-Laser 3 positioniert.
Die Laserstrahlung beleuchtet durch eine Bestrahlungsmustermaske 15 gleichzeitig die
gesamte Fläche 1a des
lichtempfindlichen Glases. In diesem Beispiel umfasst die Lasereinrichtung 3 nur
einen einzigen Laser. In der Praxis wird jedoch eine Optik ähnlich der
im in 23 gezeigten herkömmlichen
Beispiel verwendeten Optik eingesetzt, um den Durchmesser des dünnen Laserstrahls
ungefähr
auf die Größe des lichtempfindlichen
Glases zu erweitern. Das Glas besitzt die gleiche Zusammensetzung
wie das im herkömmlichen
Beispiel verwendete Glas. Der Wellenlängenbereich des Bestrahlungslichtes,
auf das das lichtempfindliche Glas anspricht, liegt zwischen 240
nm und 360 nm und basiert auf den spektralen Durchlasseigenschaften
für eine
gewöhnliche
ultraviolette Strahlungsquelle. Der Wellenlängenbereich des für die Bestrahlung
verwendeten Laserlichts, auf das das Glas anspricht, liegt zwischen
150 nm und 400 nm.
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Die
Spezifikationen des verwendeten XeCl-Excimer-Lasers 3 sind
die folgenden:
Oszillationswellenlänge: 308 nm; Energie pro Impuls: 80
mJ/cm2; Impulsbreite: 20 ns; Wiederholfrequenz 200
Hz.
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Wie
in 10 gezeigt, wird im zweiten Schritt das bestrahlte
lichtempfindliche Glas 1 auf eine hohe Temperatur von 500
bis 700 °C
erhitzt, um die bestrahlten Bereiche 1c zu kristallisieren.
Das heißt,
dass ein thermischer Entwicklungsschritt ausgeführt wird. Wie in 11 gezeigt,
wird im nächsten Schritt
die Platte des lichtempfindlichen Glases mit einer Ätzflüssigkeit,
die aus einer 5-10%-igen Lösung von
Fluorwasserstoffsäure
besteht, gespült,
um das Glas zu ätzen.
Auf diese Weise werden die kristallisierten bestrahlten Bereiche 1c herausgelöst, um Rillen
auszubilden, die als Tintenkanäle 1d dienen.
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Die
Beziehung zwischen der Impulsanzahl des XeCl-Excimer-Laser-Strahls,
das heißt
der Gesamtenergie des Bestrahlungslichtes und dem Ätzratenverhältnis ist
in 12 gezeigt.
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Die
Energie pro Impuls des XeCl-Excimer-Laser-Strahls betrug 80 mJ/cm2. Damit wurde ein sehr hohes Ätzratenverhältnis von
mehr als 10 erhalten. Es ist ersichtlich, dass Kristalle erzeugt
werden können,
die mit einer viel höheren
Rate als die unbestrahlten Bereiche geätzt werden können.
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Wenn
ein lichtempfindliches Glas mit derselben Zusammensetzung mit einer
Superhochdruck-Quecksilberlampe bestrahlt wurde, war eine Bestrahlungszeit
von 30 Minuten erforderlich, um ein Ätzratenverhältnis zu erhalten, das annähernd gleich dem
obengenannten Verhältnis
war. Mit dem obenerwähnten
XeCl-Excimer-Laser wird mit einer Frequenz von 200 Hz ein Impuls
erzeugt. Daher beträgt die
Zeit 0,005 Sekunden. Daraus folgt, dass die Bestrahlungszeit um
den Faktor 360.000 abgekürzt werden
kann.
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Im
Hinblick auf die mikroskopische Bearbeitung ist bei einer herkömmlichen
Superhochdruck-Quecksilberlampe die Grenze der mikroskopischen Bearbeitung
durch 6 μm
gegeben. Wenn eine Bestrahlungsoperation mit einem XeCl-Excimer-Laser
ausgeführt
wird und die Ätztiefe
10 μm betragen soll,
ist eine Mustergröße von 2 μm möglich. Dies
hat positive Auswirkungen auf die mikroskopische Bearbeitung.
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Die
Streuung des Lichts kann in einem Bereich von 0,23° gehalten
werden. Wenn das eine Dicke von 1 mm besitzende lichtempfindliche
Glas bestrahlt wird und eine Musterbreite von 100 μm erhält, beträgt die Streuung
auf jeder Seite 4 μm.
Daher beträgt
die Größe des Musters
auf der der Lichteinfallsseite gegenüberliegenden Seite 108 μm. Das bedeutet,
dass die Größe im Vergleich
zu der mit der herkömmlichen
Ultrahochdruck-Quecksilberlampe erzielten Größe um den Faktor 6 reduziert
werden kann.
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Die
Mustermaske ist nicht auf eine ein Quarzsubstrat 15 und
auf dem Substrat ausgebildete Lichtsperrbereiche umfassende Maske,
wie sie in 9 gezeigt ist, beschränkt. Es
kann auch eine Maske verwendet werden, die eine Lichtsperrplatte aufweist,
in der in einem gewünsch ten
Muster Löcher ausgebildet
sind.
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Nun
wird eine zweite Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung beschrieben. In 13 ist ein
Block eines lichtempfindlichen Glases 6 mit einer Dicke
von 5 mm gezeigt, der mit Licht von einem XeCl-Laser bestrahlt wird,
um das Glas auf die gleiche Weise wie in der ersten Ausführungsform
zu belichten. Nach dem Ende der Bestrahlung wird der Block 6 entlang
den Schnittlinien 7, die zur Bestrahlungsrichtung im Wesentlichen
senkrecht sind, in kleine Stücke 6a bis 6e zerschnitten.
Zum Schneiden des Blocks 6 wird eine z.B. Abstechdrehmaschine
oder eine Maschine zum Schneiden in Würfel (Dicing-Maschine), die
als Werkzeug zum Schneiden von Halbleiter-Wafern wohlbekannt ist,
verwendet. Nach der thermischen Entwicklung der kleinen Teile 6a bis 6e werden
diese, wie in 14 gezeigt, angeordnet. Eine
Seite eines jeden kleinen Teils wird mit einem Schutzelement 8 abgedeckt.
In diesem Zustand wird von oben (in 14) eine
(nicht gezeigte) Ätzflüssigkeit
auf die kleinen Teile 6a bis 6e geschüttet, um
diese zu ätzen.
Nachdem auf diese Weise geätzt
worden ist, werden die kleinen Teile 6a bis 6e umgedreht. Anschließend wird
die andere Seite auf die gleiche Weise geätzt. Somit wird eine Mehrzahl
von kleinen Teilen 6a und 6e erhalten, deren beide
Seiten auf ähnliche
Weise bearbeitet worden sind.
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In
dieser Ausführungsform
können
die zahlreichen Plattenelemente 6a bis 6e gleichzeitig
bestrahlt werden, so dass die Effizienz des Vorgangs stark verbessert
wird. Außerdem
ist eine Abkürzung der
Betriebszeit möglich.
Wie in 14 gezeigt, werden die Mehrzahl
von Elementen gleichzeitig geätzt. Daher
kann die Betriebszeit weiter abgekürzt werden. Insbesondere bei
der Herstellung einer Mehrzahl von kleinen Teilen mit derselben
Form ist der Betrieb gemäß der vorliegenden
Ausführungsform äußerst effizient.
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Damit
das Bestrahlungslicht normal eintritt, wird die Oberfläche des
lichtempfindlichen Glases poliert. Wenn eine Mehrzahl von Plattenele menten durch
die Verfahren des Standes der Technik hergestellt werden, müssen die
Oberflächen
der Plattenelemente getrennt poliert werden. In der vorliegenden Ausführungsform
der Erfindung ist es lediglich notwendig, eine Seite des Blocks 6 zu
polieren. Dadurch wird die Anzahl der Polierschritte in hohem Maß verringert,
wodurch die Effizienz des Vorgangs verbessert wird.
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In 15 ist
ein Beispiel gezeigt, in dem bei einem solchen Bearbeitungsverfahren
ein Belichtungsbetrieb unter Verwendung einer Bestrahlungsmustermaske
ausgeführt
wird. Genauer wird auf der Oberseite eines Blocks aus lichtempfindlichem
Glas 6 eine aus Lichtdurchlaßbereichen 15a und Lichtsperrbereichen 15b bestehende
Mustermaske 15 angeordnet. Dann wird der Block 6 durch
die Mustermaske 15 hindurch mit Laserstrahlung bestrahlt. Die
anschließenden
Schritte der thermischen Entwicklung, des Ätzens und anderer Schritte
sind ähnlich
denjenigen, wie sie im obigen Beispiel beschrieben worden sind.
Auf diese Weise kann durch die Ausführung einer Bestrahlungsoperation
bei Verwendung der Mustermaske 15 eine mikroskopische und eine
genaue Bearbeitung erzielt werden.
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In 16 ist
eine dritte Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung gezeigt, in der eine Mehrzahl von dünnen Platten
von lichtempfindlichem Glas 9a bis 9e, die jeweils übereinander
angeordnet und miteinander verklebt sind, bestrahlt werden. Auch
bei diesem Verfahren kann die Zeit für den Belichtungsschritt abgekürzt werden.
Außerdem
wird die Effizienz des Vorgangs verbessert. Wie in 17 gezeigt, kann
durch die Ausführung
einer Bestrahlungsoperation unter Verwendung einer Bestrahlungsmustermaske 15 eine
genaue Bearbeitung erzielt werden.
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Da
sich der Laserstrahl sehr geradlinig ausbreitet, treten beim Durchgang
dieses Strahls durch das Glas kaum Streuungen auf, selbst wenn das lichtempfindliche
Glas wie in der zweiten Ausführungsform
dick ist oder wenn eine Mehrzahl von dünnen Platten des lichtempfindlichen Glases übereinandergeschichtet
und verklebt sind. Dadurch ist durch das ganze Glas hindurch von
der Oberseite bis zur Unterseite eine genaue Bestrahlung möglich. Folglich
können
die kleinen Teile 6a bis 6e und 9a bis 9e,
die gemäß der zweiten
bzw. der dritten Ausführungsform
hergestellt werden, mit hoher Abmessungsgenauigkeit geätzt werden.
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In
der ersten bis dritten Ausführungsform wird
die Bestrahlungsoperation dann ausgeführt, wenn sich das lichtempfindliche
Glas in Luft befindet. Wenn die Bestrahlungsoperation so ausgeführt wird, daß das Glas
in eine Flüssigkeit
eingetaucht ist, die einen Brechungsindex besitzt, der demjenigen
des Glases angenähert
ist, wird die Operation durch die Reflexion und die Brechung des
Lichts an der Oberfläche
des Glases weniger stark beeinflußt, so daß das Glas mit höherer Genauigkeit
bestrahlt werden kann. In 18 ist
ein Beispiel hierfür
gezeigt, wobei Platten aus lichtempfindlichem Glas 12a bis 12e in
einem Behälter 11 angeordnet
sind, der mit einer Flüssigkeit 10 gefüllt ist,
deren Brechungsindex dem Brechungsindex (1,51117)
des lichtempfindlichen Glases angenähert ist und die Licht gut
durchläßt. Benzol,
das einen Brechungsindex von 1,5012 besitzt, stellt ein Beispiel
für eine
solche Flüssigkeit
dar. In der vorliegenden Ausführungsform
werden die dünnen
Glasplatten 12a bis 12e mittels (nicht gezeigter) Schablonen übereinandergeschichtet,
derart, daß sich
die Platten in vertikaler Richtung in gegenseitigem Abstand befinden.
In die Spalten zwischen diesen Platten wird die Flüssigkeit 10 eingefüllt. Die Glasplatten
werden unter Verwendung eines Laserstrahls auf die gleiche Weise
wie in der dritten Ausführungsform
bestrahlt. In diesem Fall wird die Operation durch die Reflexion
oder die Brechung des Lichts nicht beeinflußt. Daher können die Platten des lichtempfindlichen
Glases 12a bis 12e genau belichtet werden.
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Als
Flüssigkeit 10,
in die die Platten des lichtempfindlichen Glases eingetaucht werden,
kann jede gewünschte
Flüssigkeit
verwendet werden, solange deren Brechungsindex in der Größenordnung
von 1,5 liegt, das heißt,
solange er in der Nähe
des Brechungsindex des lichtempfindlichen Glases liegt und Licht
gut hindurchläßt. Beispiele
dieser Flüssigkeiten stellen
Tetrachlorkohlenstoff mit einem Brechungsindex von 1,4607 und Paraffinöl mit einem
Brechungsindex von 1,48 dar. In dieser Ausführungsform werden die dünnen Platten
des lichtempfindlichen Glases in die Flüssigkeit 10 gegeben,
wobei sie in gegenseitigem Abstand übereinander geschichtet sind. Wenn
wie in der ersten Ausführungsform
nur ein Plattenelement bestrahlt wird oder wenn wie in der zweiten
Ausführungsform
ein Block bestrahlt wird, kann die Genauigkeit durch die Bestrahlung
des lichtempfindlichen Glases in der Flüssigkeit 10 erhöht werden.
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Selbstverständlich kann
auch in diesem Fall eine feinere Bearbeitung dadurch erzielt werden,
daß die
Platten des lichtempfindlichen Glases 12a bis 12e mit
einem Laserstrahl durch eine Bestrahlungsmustermaske 15 bestrahlt
werden, wie in 19 gezeigt ist.
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Wenn
wie in der ersten bis vierten Ausführungsform das lichtempfindliche
Glas mit einem Laser bestrahlt wird, ist die Streuung des Lichtes
sehr gering, so daß die
Bearbeitungsgenauigkeit verbessert wird. Eine feinere Bearbeitung
ist insbesondere dann möglich,
wenn ein Laserstrahl durch eine Mustermaske auf das lichtempfindliche
Glas auftrifft. Darüber
hinaus wird die Effizienz verbessert, da die Energie der Laserstrahlung
nicht verschwendet wird.
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Nun
wird eine weitere Ausführungsform
beschrieben, in der lichtempfindliches Glas mit einem anderen Laserstrahl
auf die gleiche Weise wie in der ersten Ausführungsform bestrahlt wird.
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Wie
in der in 9 erläuterten Ausführungsform
wurden beide Seiten eines Substrats aus lichtempfindlichem Glas
mit einer Dicke von 1 mm poliert. Dann wurde ein XeF-Excimer-Laser
oberhalb des Glases angeordnet. Die Laserstrahlung wurde durch eine
Bestrahlungsmustermaske auf die Oberfläche des lichtempfindlichen
Glases gerichtet.
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Die
Spezifikationen des verwendeten XeF-Excimer-Lasers waren die folgenden:
Oszillationswellenlänge:
351 nm; Impulsbreite: 20 ns; Energie pro Impuls: 60 mJ/cm2; Wiederholfrequenz: 200 Hz.
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Danach
wurden ein thermischer Verarbeitungsschritt und ein Ätzprozeß auf die
gleiche Weise wie in den obenbeschriebenen Ausführungsformen ausgeführt. Bei
Experimenten mit einer solchen Anordnung und einem solchen Verfahren
hat sich gezeigt, daß sich
das Ätzratenverhältnis nach
fünf Impulsen
der Laserstrahlung stabilisiert. Die Bestrahlung war stabil, wenn
die Gesamtenergie 300 mJ/cm2 überschritten
hat. Die mikroskopische Bearbeitbarkeit und die Geradlinigkeit waren
wie im Falle des XeCl-Excimer-Lasers gut. Die obenerwähnte Wellenlänge von
351 nm liegt außerhalb
des für
die Bestrahlung verwendeten Wellenlängenbereichs, wenn von der
relativen Bestrahlungsempfindlichkeit (22) des
betreffenden lichtempfindlichen Glases unter Verwendung einer üblichen
Ultraviolett-Strahlenquelle ausgegangen wird. Die Anmelder der vorliegenden Erfindung
haben jedoch festgestellt, daß mit
dieser Wellenlänge
bei ausreichender Erfüllung
der praktischen Anforderungen lichtempfindliches Glas unter Normalbedingungen
bestrahlt werden kann, wenn eine Laserstrahlung mit intensiver Lichtenergie
verwendet wird.
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Nun
wird ein weiteres Beispiel beschrieben, in dem Licht von einem ArF-Excimer-Laser
auf das lichtempfindliche Glas gerichtet wird. Beide Seiten eines
Substrats aus lichtempfindlichem Glas, das die gleiche Zusammensetzung
wie das in den obigen Ausführungsformen
verwendete Glas und eine Dicke von 1 mm besitzt, wurden poliert.
Dann wurde oberhalb des Substrats ein ArF-Excimer-Laser angeordnet.
Die Laserstrahlung wurde durch eine Bestrahlungsmustermaske auf
die Oberfläche
des Glases gerichtet. Die Spezifikationen des verwendeten ArF-Excimer-Lasers
waren die folgenden: Oszillationswellenlänge: 193 nm; Impulsbreite:
20 ns; Energie pro Impuls: 5 mJ/cm2; Impulswiederholfrequenz: 1
Hz. Abschließend
wurden ein thermischer Entwick lungsschritt und ein Ätzschritt
ausgeführt.
Ein stabiles Ätzratenverhältnis wurde
nach der Ausstrahlung von 50 Impulsen erhalten.
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Die
erwähnte
Wellenlänge
von 193 nm liegt ebenfalls außerhalb
des Wellenlängenbereichs,
für die
unter Verwendung einer üblichen
Ultraviolett-Strahlenquelle die Bestrahlung (siehe 22) gemessen
wurde und in der Referenz 1 und in anderen Referenzen beschrieben
wird. Es hat sich jedoch herausgestellt, daß mit dieser Wellenlänge die
praktischen Anforderungen für
die Bestrahlung lichtempfindlichen Glases unter Normalbedingungen
in ausreichendem Maß erfüllt werden
können,
wenn eine Laserstrahlung mit intensiver Lichtenergie verwendet wird.
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Somit
kann der Wellenlängenbereich,
der für die
Bestrahlung in den obigen Ausführungsformen verwendet
wird, gegenüber
dem Wellenlängenbereich,
der unter Verwendung von Ultraviolettstrahlen normalerweise für die Bestrahlung
verwendet wird, als breiter angesehen werden. Diese experimentellen
Ergebnisse und die Berücksichtigung
der obigen Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung (ihren zu dem Schluß, daß der Wellenlängenbereich, der
für die
Bestrahlung von lichtempfindlichem Glas verwendet wird, von 150
nm bis 400 nm reicht.
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Wenn
daher ein XeCl-Excimer-Laser verwendet wird, werden die besten Ergebnisse
erhalten. Es können
jedoch auch andere Excimer-Laser wie etwa XeF-, ArF-, KrF- und F2-Excimer-Laser verwendet werden. Außerden kann
auch ein N2-Laser zum Einsatz kommen. Darüber hinaus
können
Lichtquellen, in denen die Grundoszillationswellenlänge eines Nd-:YAG-Lasers,
eines Farbstofflasers, eines Kr-Ionenlasers, eines Ar-Ionenlasers
oder eines Kupferdampflasers mittels eines nichtlinearen optischen Gerätes in eine
außerhalb
des Ultraviolettbereichs liegende Wellenlänge umgewandelt wird, ebenfalls verwendet
werden.
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Nun
wird ein weiteres Beispiel beschrieben, in dem nach der Laserbe strahlung
kein Ätzschritt ausgeführt wird.
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Es
wurden beide Seiten eines Substrates eines lichtempfindlichen Glases,
das die gleiche Zusammensetzung wie das in den obigen Ausführungsformen
verwendete Glas und eine Dicke von 1 mm besitzt, poliert. Dann wurde
ein XeF-Excimer-Laser oberhalb des Substrates angeordnet. Die Laserstrahlung
wurde durch eine Bestrahlungsmustermaske auf die Oberfläche des
Glases gerichet.
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Die
Spezifikationen des verwendeten XeF-Excimer-Lasers waren die folgenden:
Oszillationswellenlänge:
351 nm; Impulsbreite: 20 ns; Energie pro Impuls: 8 mJ/cm2; Impulswiederholfrequenz: 200 Hz.
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Wie
in den obigen Ausführungsformen
wurde anschließend
ein thermischer Entwicklungsschritt ausgeführt. In 20 sind
Beispiele für
die Änderungen
der Durchlässigkeit
der durch die thermische Entwicklung verursachten kristallinen Bereiche
gezeigt. Die Durchlässigkeit
des kristallinen Bereichs vor der thermischen Entwicklung besitzt
eine deutliche Differenz wenigstens dann, wenn die Gesamtlichtmenge
oberhalb von 400 mJ/cm2 liegt. Das heißt, daß in bestimmten
Wellenlängenbereichen
niedrige Durchlaßwerte
erhalten werden. Daher erscheint für den Benutzer der kristalline
Bereich farbig. Das Glas kann für
die Aufzeichnung oder die Anzeige verwendet werden, wenn von dieser
Durchlässigkeitsdifferenz
Gebrauch gemacht wird. In diesem Zeitpunkt ist auch eine mikroskopische
Aufzeichnung mittels Laserbestrahlung wirksam. Es kann eine Aufnahme
mit einem Abstand von weniger als 2 um hergestellt werden.
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Wenn
ein Bestrahlungsschritt unter Verwendung eines Lasers und ohne thermischen
Entwicklungsschritt ausgeführt
wird, wird eine leichte Änderung
der Durchlässigkeit
erhalten, außerdem
erscheint das Glas auf eine nicht im einzelnen beschriebene Weise
farbig. Daher kann dieses Glas für eine
Aufzeichnung oder eine Anzeige verwendet werden, wenn nur der Bestrahlungsschritt
ausgeführt wird.
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Wie
bisher beschrieben, wird erfindungsgemäß die Lichtstreuung durch die
Bestrahlung von lichtempfindlichem Glas mittels einer Laserstrahlung sehr
gering gehalten. Die Bearbeitungsgenauigkeit wird verbessert. Außerdem wird
die Effizienz erhöht, weil
im wesentlichen keine Bestrahlungsenergie verschwendet wird. Außerdem kann
ein dickes lichtempfindliches Glas genau bestrahlt werden. Daher
kann eine Anzahl von lichtempfindlichen Glaselementen mit hoher
Produktivität
in kurzer Zeit bearbeitet werden, indem nach der Bestrahlung ein
Block von lichtempfindlichem Glas in eine Mehrzahl von Teilen unterteilt
wird oder indem eine Mehrzahl von übereinander gehefteten Platten
von lichtempfindlichem Glas gleichzeitig bestrahlt werden.
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Wenn
der Bestrahlungsschritt dann ausgeführt wird, wenn das lichtempfindliche
Glas in eine Flüssigkeit
eingetaucht ist, die einen Brechungsindex besitzt, der angenähert gleich
demjenigen des Glases ist, können
die Reflexions- und Brechungswirkungen des Lichtes klein gehalten
werden. Daher kann der Bestrahlungsschritt mit höherer Genauigkeit ausgeführt werden.