DE4126351A1 - Verfahren zum bearbeiten von werkstueckoberflaechen mit laserstrahlung - Google Patents
Verfahren zum bearbeiten von werkstueckoberflaechen mit laserstrahlungInfo
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- C21D1/00—General methods or devices for heat treatment, e.g. annealing, hardening, quenching or tempering
- C21D1/06—Surface hardening
- C21D1/09—Surface hardening by direct application of electrical or wave energy; by particle radiation
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Bearbei
ten von Werkstückoberflächen mit Laserstrahlung beim Umwand
lungshärten, Legieren, Umschmelzen, Beschichten od. dgl., bei
dem im Strahlquerschnitt geformte Laserstrahlung fokussiert und
mit bahngesteuerten Spiegeln über den Bearbeitungsbereich des
Werkstücks bewegt wird, und bei dem der Bearbeitungsbereich
mittels vom Werkstück emittierter Strahlung optoelektronisch
überwacht wird und ergebnisentsprechend Verfahrensparameter ge
regelt werden.
Aus einem Manuskript zur Tagung ECLAT′90 in Erlangen, Sei
ten 251 bis 263, veröffentlicht im September 1990 ist ein Ver
fahren mit den eingangs genannten Verfahrensschritten bekannt.
Es handelt sich um ein Härtungsverfahren. Als Verfahrensparame
ter wird die Laserleistung in Abhängigkeit vom Überwachungser
gebnis einer zweidimensionalen pyroelektrischen Kamera gere
gelt.
Die Verarbeitung der zweidimensionalen Bilder der pyro
elektrischen Kamera erfordert einen erheblichen Rechenaufwand
für die digitale Bildverarbeitung. Außerdem sind die Einsatz
möglichkeiten der für die Durchführung des Verfahrens erforder
lichen Einrichtungen bei dreidimensionaler Werkstückbearbeitung
infolge des Vorhandenseins der Kamera erheblich eingeschränkt,
weil die Kamera möglichst nahe am Werkstück angeordnet sein muß
und dort wegen ihres Platzbedarfs stört.
Aus der DE 37 10 816 A1 ist es beim Laserschweißen und La
serschneiden bekannt, von der Bearbeitungsstelle des Werkstücks
emittierte Strahlung aus dem Bereich des Strahlengangs der La
serstrahlung mit einer im Strahlengang angeordneten optischen
Auskoppeleinrichtung auf einen optoelektronischen Sensor zu ge
ben, um über eine Auswertungseinrichtung eine Steuereinrichtung
für Verfahrensparameter zu beaufschlagen. Die Kamera beobachtet
ständig den gesamten Bearbeitungsbereich. Dadurch soll mangeln
de Qualität des Bearbeitungsvorgangs erkennbar werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
mit den eingangs genannten Verfahrensmerkmalen so zu verbes
sern, daß eine ortsaufgelöste Messung in einem größeren Bear
beitungsbereich ohne Beeinträchtigung der Flexibilität des Ein
satzes der Lasereinrichtung durch eine Kamera bzw. durch einen
optoelektronischen Sensor durchgeführt werden kann, wie auch
ohne größeren Aufwand bei der Regelung des Verfahrens.
Das wird erreicht durch die Verwendung des eingangs ge
nannten Verfahrens bei der Messung der mittleren Temperatur des
Strahlflecks mit einer im Strahlengang der Laserstrahlung ange
ordneten optischen Auskoppeleinrichtung für die emittierte
Strahlung zur zeitaufgelösten Ausmessung des Bearbeitungsbe
reichs.
Für die Erfindung ist von Bedeutung, daß bahngesteuerte
Spiegel bzw. das in Verbindung mit diesen Spiegeln bekannte
Verfahren beim Umwandlungshärten in Verbindung mit einer zeit
aufgelösten Ausmessung des Bearbeitungsbereichs erfolgt, wofür
die vorhandene Laseroptik in Verbindung mit einer optischen
Auskoppeleinrichtung benutzt wird. Es entfällt eine zeitliche
Auswertung eines sich ständig ändernden zweidimensionalen Bil
des einer Kamera durch Berechnung. Das Überwachungs- bzw. Meß
ergebnis ist stets ohne weiteres auf die jeweils bestrahlte Be
arbeitungsstelle des Werkstücks zu beziehen. Dabei ist die ört
liche Zuordnung zum gesamten Bearbeitungsbereich infolge der
bekannten Bahnsteuerung der Spiegel völlig unproblematisch.
Dementsprechend kann auch die Regelung bzw. Steuerung eines
oder mehrerer Verfahrensparameter entsprechend zeit- bzw. orts
aufgelöst erfolgen, ohne daß hierfür apparativer Aufwand oder
Rechenaufwand notwendig wäre.
Eine Vorrichtung, mit der das vorbeschriebene Verfahren
vorteilhaft durchgeführt werden kann, ist dadurch gekennzeich
net, daß die optische Auskoppeleinrichtung in Richtung der vom
Werkstück emittierten Strahlung hinter den bahngesteuerten
Spiegeln angeordnet ist. Die Auskoppeleinrichtung kann infolge
dessen vom Bearbeitungsbereich entfernt an geschützter und an
geeigneter Stelle der Lasereinrichtung angeordnet werden, wie
auch die Überwachungs- bzw. Meßeinrichtung für die emittierte
Strahlung.
Die Erfindung wird anhand eines in der Zeichnung darge
stellten Ausführungsbeispiels einer Vorrichtung erläutert. Es
zeigt:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer Einrichtung zum
Bewegen eines Laserstrahls über den Bearbeitungsbe
reich eines Werkstücks, und
Fig. 2 eine schematische Darstellung einer Regelanordnung
zur Beeinflussung der Laserleistung.
Gemäß Fig. 1 soll ein Bereich 14 der Werkstückoberfläche 10
eines Werkstücks 15 mit Laserstrahlung 11 bearbeitet werden.
Der Bereich 14 kann also einem Umwandlungshärten, einem Legie
ren, einem Umschmelzen, einem Beschichten oder einem sonstigen
Verfahren ausgesetzt werden, bei dem die Werkstückoberfläche 10
erhitzt oder gar in flüssigem Zustand überführt wird. In jedem
der Fälle sollte die Werkstücktemperatur an der bestrahlten
bzw. bearbeiteten Stelle dem Bearbeitungsziel möglichst optimal
angepaßt sein. Beispielsweise muß beim Härten die Temperatur
der Bearbeitungsstelle mindestens die Umwandlungstemperatur er
reichen, darf aber den Werkstoff nicht aufschmelzen. Außerdem
muß auf die Bauteilgeometrie Rücksicht genommen werden, die
durchaus abweichend von der Darstellung in Fig. 1 sein kann. Die
Bauteile können beispielsweise unterschiedlich dick sein, so
daß infolgedessen dünne Bereiche bei ungeänderter Laserleistung
stärker oder länger erwärmt werden, als dicke Bereiche des
Werkstücks. Das ergibt sich daraus, daß sich die Temperaturver
teilung auf der Werkstückoberfläche 10 in Abhängigkeit von der
Intensitätsverteilung und der Wärmeleitung des Werkstücks ein
stellt. Beispielsweise bei dünnen Werkstückbereichen staut sich
die ins Bauteil eingekoppelte Wärmeenergie und es kann zu uner
wünschten Überhitzungen und Aufschmelzungen kommen. Unter
schiedliche Bereiche des Bearbeitungsbereichs 14 müssen daher
entsprechend individuell ausgemessen werden und auch ihre Er
wärmung muß individuell geregelt werden.
Nach Fig. 1 ist für die Erwärmung des Bearbeitungsbereichs
14 mit Laserstrahlung eine Strahlformung vorgesehen, die mit
mehreren Spiegeln 12, 13 und 18, 19 vorgenommen wird. Zur Auf
nahme von Spiegeln 18, 19 ist ein Spiegelgehäuse 20 vorhanden,
in dessen Öffnung 21 der Laserstrahl 22 eintritt. Dessen Laser
strahlung 11 trifft auf einen Umlenkspiegel einer Auskoppelein
richtung 18, die als dichroitischer Spiegel ausgebildet ist.
Dieser Umlenkspiegel ist für die einfallende Laserstrahlung 11
ein etwa 100%iger Reflektor, so daß die Laserstrahlung 11 mit
ihm auf einen Fokussierspiegel 19 gelenkt wird, von dem aus die
Laserstrahlung 11 zu den beiden beweglichen Spiegeln 12, 13 ge
langt, die in Fig. 1 als Scannerspiegel bezeichnet sind. Der
Spiegel 12 ist um eine zur Darstellungsebene senkrechte Achse
schwenkbeweglich, während der Spiegel 13 um eine in der Dar
stellungsebene liegende Achse schwenkbeweglich ist. Infolgedes
sen kann der Laserstrahl mit einem Strahlfleck 17 den gesamten
Bearbeitungsbereich 14 der Werkstückoberfläche 10 bestreichen.
Hierzu sind die Spiegel 12, 13 bahngesteuert, sie überstreichen
also die Werkstückoberfläche 10 bzw. deren Bearbeitungsbereich
14 wie durch eine Steuerung vorgegeben. Dabei kann auch der
Strahlfleckdurchmesser verändert werden, beispielsweise durch
Veränderung des Arbeitsabstands zwischen dem Spiegelsystem und
dem Werkstuck 15, durch in den Strahlengang eingeschaltete
Blenden oder durch Änderung der Fokussierung. Während derartige
Änderungen darauf hinauslaufen, die Strahlungsintensität im Be
reich des Strahlflecks zu ändern, kann die Größe und die Ge
stalt des bestrahlten Bearbeitungsbereichs 14 am besten durch
die Bahnsteuerung der Scannerspiegel 12, 13 beeinflußt werden.
Bei der Bearbeitung des Werkstücks 15 emittiert diese Wär
mestrahlung 16, die vom Bearbeitungsbereich 14 in die Laserop
tik zurückgelangt. Sie trifft dabei auf die Auskoppeleinrich
tung 18, die sie jedoch infolge ihrer dichroitischen Ausbildung
nicht weiter reflektiert. Insbesondere kann die Auskoppelein
richtung 18 als eine dichroitische ZnSe-Platte ausgebildet wer
den, welche Laserstrahlung mit der Wellenlänge von 10,6 µm zu
99% reflektiert, emittierte Strahlung mit der Wellenlänge von
z. B. 1 µm jedoch durchtreten läßt, so daß diese durch den opti
schen Filter zur Ausgrenzung unerwünschter Wellenlängen auf
einen optoelektronischen Sensor trifft, der als Fotodetektor 23
ausgebildet ist. Das elektrische Signal des Fotodetektors wird
über den Vorverstärker 24 auf den Ausgang 25 der Meßeinrichtung
26 gegeben. Die Auskoppeleinrichtung 18 kann auch ein Scraper
spiegel oder ein Spiegel mit einem Beugungsgitter od. dgl. sein.
Die Auskoppeleinrichtung 18 ist in Richtung der vom Werk
stück 15 emittierten Strahlung hinter den bahngesteuerten Spie
geln 12, 13 angeordnet. Infolgedessen wird die Auskoppeleinrich
tung 18 jegliche aus dem Bereich des Strahlflecks 17 emittierte
Strahlung 16 des Werkstücks 10 erfassen, unabhängig davon, wie
die Spiegel 12, 13 bewegt werden. Es erfolgt immer eine präzise
ausschließlich auf den Strahlfleck 17 beschränkte Messung.
Zugleich mit dieser ortsaufgelösten Messung wird der Bearbei
tungsbereich 14 auch zeitaufgelöst ausgemessen, das heißt in
Abstimmung auf die zeitliche Bewegung des Strahlflecks 17 über
den Bearbeitungsbereich 14. Es ist nicht erforderlich, beim
Messen oder beim Digitalisieren des Meßergebnisses für jeden
Zeitpunkt auf das Verweilverhalten des Strahlflecks 17 auf der
Werkstückoberfläche 10 abzustimmen. Es wird immer nur die Tem
peratur des augenblicklich bestrahlten Bereichs der Werkstück
oberfläche 10 erfaßt, gemittelt über den Strahlfleckdurchmesser
der Laserstrahlung 11. Es ist nur noch erforderlich, den Aus
gang 25 der Meßeinrichtung 26 an den Regler 27 anzukoppeln. Die
Meßeinrichtung stellt eine Regelgröße zur Verfügung, die im
Regler 27 mit einer als Sollwert vorgegebenen Führungsgröße
verglichen wird, so daß der Differenz entsprechend der Laser 28
gesteuert werden kann. Das ist in Fig. 2 blockschaltbildmäßig
dargestellt. Diese Figur läßt im übrigen erkennen, daß vom
Werkstück 10 emittierte Strahlung 16 mittels der nicht darge
stellten Auskoppeleinrichtung 18 in die Meßeinrichtung 26 ge
langt, also ohne daß dafür eine besondere Kamera erforderlich
wäre.
Wenn eine derartige orts- und zeitaufgelöste Ausmessung
des Bearbeitungsbereichs 14 erfolgt, kann ohne Beeinträchtigung
der Flexibilität des Laserhandhabungssystems ortsaufgelöst ge
regelt werden. Beim Härten kompliziert geformter Bauteile ist
es beispielsweise möglich, lokale Überhitzungen rechtzeitig zu
erkennen und durch Temperaturregelung lokale Aufschmelzungen zu
verhindern.
Claims (2)
1. Verfahren zum Bearbeiten von Werkstückoberfläche (10) mit
Laserstrahlung (11) beim Umwandlungshärten, Legieren, Um
schmelzen, Beschichten od. dgl., bei dem im Strahlquer
schnitt geformte Laserstrahlung (11) fokussiert und mit
bahngesteuerten Spiegeln (12, 13) über den Bearbeitungsbe
reich (14) des Werkstücks (15) bewegt wird, und bei dem
der Bearbeitungsbereich (14) mittels vom Werkstück (15)
emittierter Strahlung (16) optoelektronisch überwacht wird
und ergebnisentsprechend Verfahrensparameter geregelt wer
den, gekennzeichnet durch die Verwendung bei der Mes
sung der mittleren Temperatur des Strahlflecks (17) mit
einer im Strahlengang der Laserstrahlung (11) angeordneten
optischen Auskoppeleinrichtung (18) für die emittierte
Strahlung (16) zur zeitaufgelösten Ausmessung des Bearbei
tungsbereichs (14).
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die optische Auskoppeleinrichtung (18) in Richtung der
vom Werkstück (15) emittierten Strahlung (16) hinter den
bahngesteuerten Spiegeln (12, 13) angeordnet ist.
Priority Applications (1)
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8131 | Rejection |