DE4106627A1 - Verfahren und vorrichtung zur sequentiellen mehrkanalspektroskopie - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur sequentiellen mehrkanalspektroskopie

Info

Publication number
DE4106627A1
DE4106627A1 DE19914106627 DE4106627A DE4106627A1 DE 4106627 A1 DE4106627 A1 DE 4106627A1 DE 19914106627 DE19914106627 DE 19914106627 DE 4106627 A DE4106627 A DE 4106627A DE 4106627 A1 DE4106627 A1 DE 4106627A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
polychromator
optical
sequential
slit
relative movement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19914106627
Other languages
English (en)
Inventor
Adolf Prof Dr Sturm
Rudolf Dr Foerster
Manfred Dipl Ing Bode
Andrea Liebscher
Frithjof Zeppenfeld
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ZITTAU TECH HOCHSCHULE
Original Assignee
ZITTAU TECH HOCHSCHULE
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ZITTAU TECH HOCHSCHULE filed Critical ZITTAU TECH HOCHSCHULE
Publication of DE4106627A1 publication Critical patent/DE4106627A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2889Rapid scan spectrometers; Time resolved spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J2003/1295Plural entry slits, e.g. for different incidences
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/18Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
    • G01J2003/1866Monochromator for three or more wavelengths
    • G01J2003/1876Polychromator
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/2803Investigating the spectrum using photoelectric array detector
    • G01J2003/28132D-array
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/66Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
    • G01N21/67Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/067Electro-optic, magneto-optic, acousto-optic elements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein sequentiell arbeitendes Mehrkanalspektrometer mit einem Gitterpolychromator zur Intensitätsmessung spektral zerlegter elektromagnetischer Strahlung in sichtbaren und benachbarten Gebieten, vorzugsweise im UV-Bereich.
Die Erfindung ist vorrangig anwendbar für die zerstörungsfreie Materialprüfung metallurgischer Roh-, Halb- und Fertigfabrikate auf Basis einer rechnergestützten Spektralanalyse. Haupteinsatzgebiete sind die Identifikation unbekannter Werkstoffe, die Eingangs- und Qualitätskontrolle sowie die Vermeidung von Materialverwechslungen.
Es ist bekannt, daß für eine zerstörungsfreie Identifikation von Stählen und Buntmetallegierungen besonders vor Ort hauptsächlich die Emissionsspektralanalyse Anwendung findet.
Nach K.-H. Näser und G. Peschel (Physikalisch-chemische Meßmethoden, VEB Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie, Leipzig 1986) bestehen solche Spektralgeräte aus:
  • - einer Einrichtung zur Atomatisierung einer Probe (Strahlungssender)
  • - einer Einrichtung zur Erzeugung von Spektrallinien (Strahlungszerleger)
  • - einer Einrichtung zur Erfassung und Auswertung des erzeugten Spektrums (Strahlungsempfänger und Auswerteeinheit).
Grundsätzlich unterscheidet man 2 Arten von Spektrometern:
  • - das Sequenzspektrometer (Monochromator) und
  • - das Mehrkanalspektrometer (Polychromator).
Im Sequenzspektrometer wird im allgemeinen ein Monochromator, bestehend aus einem Eingangsspalt, einem Dispersionsglied, eventuell einer fokussierenden Optik und einem Ausgangsspalt, und ein Emfänger (z. B. Fotodiode) eingesetzt. Zwecks Registrierung eines größeren Spektralbereiches muß eine kontinuierliche oder schrittweise Bewegung des Strahlungszerlegers, d. h. seine einzelnen Teile (Eingangsspalt mit Lichtquelle, Dispersionselement, Spiegel, Ausgangspalt mit Empfänger), erfolgen.
Als Nachteil erweist sich dabei ein erhöhter Zeit- und Materialaufwand, bedingt durch zusätzliche Vorrichtungen zur manuellen oder automatischen Steuerung der einzelnen Bwegungen und zur Eichung, sowie eine größere Störanfälligkeit mechanisch bewegter Teile.
Für dieses Prinzip ist eine Vielzahl von technischen Lösungen bekannt geworden, stellvertretend für die vielen Realisierungsmöglichkeiten wird auf das Handbuch der Physik von S. Flügge, Band XXIX - Optische Instrumente (Springer-Verlag: Berlin, Heidelberg, New York 1967) verwiesen und auf Erfindungsbeschreibungen, in denen solche Lösungen niedergelegt sind:
US 7 42 775 / DD-PS 29 52 901 / DE-PS 37 43 584 / DE-OS 34 36 752.
Das Mehrkanalspektrometer besitzt einen fest angeordneten Strahlungszerleger mit einer größeren Anzahl von Strahlungsempfängern, die
  • a) entweder einzeln hinter der gleichen Anzahl von Austrittsspalten oder
  • b) ohne Ausgangsspalten in Form von Linear- oder Matrixsensoren (z. B. CCD-Zeilen oder CCD-Matrix) vorgesehen sind.
Dem Vorteil einer bei a) fast gleichzeitigen Messung der interessierenden Größen (Wellenlänge, Intensität) und einer damit verbundenen kürzeren Analysendauer stehen besonders bei tragfähigen Geräten die Nachteile in Form einer notwendigen Größe des Strahlungszerlegers, bedingt durch die gleichzeitig unterzubringende Anzahl von Spalten und Empfängern und der damit benötigten großen Auflösung sowie die "Blindheit" gegenüber Elementen, für die kein Meßkanal vorgesehen wurde, gegenüber.
Der Nachteil der Variante b) liegt begründet in der Herstellungstechnologie von Linear- und Matrixsensoren, die die maximale Pixelanzahl pro Sensor begrenzt und somit bei fest angeordneter Zeile oder Matrix in Verbindung mit den physikalischen Kenngrößen des Dispersionselementes nur die Wahl zwischen hoher Auflösung und kleinem Meßbereich oder geringer Auflösung und großem Meßbereich zuläßt.
Lösungsvarianten dieser Art werden bei A. N. Saidel, G. W. Ostrowskaja, J. I. Ostrowski (Technika i praktika spektroskopii: Verlag "Nauka", Moskau 1976), H. Moritz Spektrochemische Betriebsanalyse (Ferdinand Enke Verlag: Stuttgart 1956) und in den Erfindungsbeschreibungen DE-OS 35 31 989, DE-OS 29 38 844 dargelegt.
Um einzelne Nachteile der beiden Grundvarianten von Spektrometern zu beseitigen, wurden technische Lösungen vorgeschlagen, die Merkmale aus beiden Varianten vereinen.
In der Erfindungsbeschreibung (DE-OS 28 23 514) wird ein Spektralapparat beschrieben, der die zu messende Strahlung in einem Bündel von einzelnen Lichtwellenleitern zu mehreren monochromatischen Empfängern leitet.
Ein nicht zu übersehender Nachteil ist der mit einer Realisierung verbundene hohe ökonomische Aufwand sowie die zu erwartenden ungünstigen Gewichts- und Größenrelationen.
Eine Weiterentwicklung dieses Grundgedankens wird in der Patentbeschreibung (US 42 59 014) ausgeführt. Die zu analysierende Strahlung wird von den einzelnen Lichtwellenleitern jetzt unter verschiedenen Flächenkoordinaten zu einem Polychromator geführt und in mehreren Zeilen spektral zerlegt und abgebildet.
Bei dieser Lösung muß bei einer angestrebten Miniaturisierung mit erhöhten Abbildungsfehlern gerechnet werden. Die Kosten für entsprechende hochauflösende Matrixempfänger sind erheblich.
Varianten zur Verschiebung der Strahlungsempfänger von Polychromatoren werden in den Erfindungsbeschreibungen DE-OS 29 05 361/29 47 703/27 31 129 dargestellt. Mechanische Bewegungen in Meßgeräten erhöhen die Störanfälligkeit und verlängern die Meß- bzw. Analysenzeit.
In US-Patentschrift US 43 75 919 ist eine Anordnung beschrieben, in der das zu analysierende Licht mehrdimensional zerlegt, in Lichtleitern zu einer Anordnung von Spalten geführt, dort einzeln in Spektralkomponenten zerlegt und später über einen konkaven Spiegel wieder überlagert wird. Vorteile dieser Anordnung sind die höhere Trennschärfe und der durch die mehrdimensionale Erfassung erreichbare höhere Störabstand; dennoch wird die erfindungsgemäße Aufgabe nicht gelöst.
Es ist das Ziel der Erfindung, ein Multikanalspektrometer zu entwickeln, das möglichst alle technisch wichtigen Metalle in unbekannten Legierungen schnell und sicher analysiert, dabei transportabel, wartungsarm und bedienungsfreundlich ist.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren aufzuzeigen, das es ermöglicht, ein Mehrkanalspektrometer mit hoher Trennschärfe und hohem Auflösungsvermögen zu bauen, ohne die bisher notwendige, hochpräzise Relativbewegung zwischen Spalt und Sensor bzw. ohne die zur Überbrückung der Toträume erforderliche umfangreiche zusätzliche Sensorelektronik.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß der ankommende Lichtstrahl 1.1 durch ein Lichtleiterbündel 1.2 geführt wird (Fig. 1).
Die einzelnen Fasern des Lichtleitkabels 1.2 werden getrennt und einzeln über einen elektrisch steuerbaren optischen Verschluß 1.3 einer Reihe von Eingangsspalten 1.4 des Spektrometers zugeführt. Die durch den Eingangsspalt einfallenden Lichtstrahlen werden durch ein dispergierendes Element 1.5 zerlegt und mittels eines aus mehreren Einzelelementen bestehenden Sensors 1.6 erfaßt.
Die Wirkungsweise ist folgende:
Das Licht der thermoelektrisch angeregten Materialprobe wird über ein Lichtleitkabel 1.2 aufgenommen. Nach der gleichmäßigen Aufteilung in mehrere Faserbündel werden diese einem elektrooptischen Verschluß (z. B. LCD- Element, Kerrzelle od. ä.) zugeführt, der es ermöglicht, die einzelnen Faserbündel zeitlich gestaffelt zuzuschalten.
Das Licht fällt durch einen der Eingangsspalte auf das konkave Dispersionsgitter und wird in seine Spektralkomponenten zerlegt. Ein Teil dieses Spektrums wird mit einem fotoelektrischen Sensor bspw. einer CCD- Zeile aufgenommen. Der erfindungsgemäße Effekt wird erreicht durch die räumlich versetzte Lage der Strahlen und die zeitlich gestaffelte Zuschaltung. (In Fig. 1 sind die beiden Randspektren dargestellt.)
Die Ausgangssignale des fotoelektrischen Sensors können im Hinblick auf eine spektrometrische Auswertung beispielsweise mit geeigneter Rechentechnik verarbeitet werden.
Die elektro-optischen Schalter nehmen für den jeweils geöffneten Meßkanal eine Intensitätsbewertung vor.
Die Erfindung soll nachstehend an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert werden.
Es zeigt
Fig. 1 eine Vorrichtung zur sequentiellen Mehrkanalspektroskopie,
Fig. 2 das Blockschema eines sequentiellen Mehrkanalspektrometers.
Das sequentielle Mehrkanalspektrometer setzt sich zusammen aus den in einem Gehäuse unterbringbaren Teilen des Bogen- oder Funkenerzeugers, der optischen und optoelektronischen Bauteile und des Computers sowie dem zwecks leichterer Handhabung vom Gerät abnehmbaren Sondenkopf mit den dazugehörigen optischen und elektrischen Verbindungskabeln.
Der Lichtbogen- oder Funkenerzeuger 2.1 stellt die Energiequelle zur thermoelektrischen Anregung von Atomen und Ionen der zu analysierenden Materialoberfläche 2.2 dar. Von dieser Energiequelle führt ein flexibles Kabel zum Anschluß an die im Sondenkopf untergebrachte Verdampfungseinrichtung (Elektrode, elektrische Hochfrequenzzündung), zwecks computergesteuerter Erzeugung eines Lichtbogens oder Funkens zwischen Elektrode und Prüfstück.
Zur Realisierung der optischen Aufnahme und Weiterleitung der von der angeregten Materialoberfläche emittierten polychromatischen Strahlung 2.3 durch ein im Sondenkopf installiertes entsprechendes Anschlußteil aus mehreren Lichtwellenleitern.
Die als Bündel vom Sondenkopf zum optischen Teil des Gerätes geführten Lichtwellenleiterfasern werden dort am empfängerseitigen Ende in mehrere kleinere Bündel (z. B. je 5 Lichtleiterfasern) in sogenannte Meßkanäle aufgeteilt. Die Anzahl der notwendigen Meßkanäle wird in Abhängigkeit von der benötigten Auflösung und dem zu erfassenden Meßbereich festgelegt.
Jedes dieser Lichtwellenleiterbündel bildet den Ausgangspunkt eines möglichen Strahlenganges im Polychromator 2.6, bestehend aus einem Eintrittsspaltsystem 2.5, einem korrigierten konkaven Reflexionsgitter und einem bilinearen Aufnahmesensor (CCD-Doppelzeile) 2.7.
In jedem Strahlengang zwischen jeweils einem Meßkanal, dessen Einzelfasern zur Gewährleistung einer gleichmäßigen Spaltausleuchtung innerhalb des Kanals genau senkrecht übereinander liegen und dem jeweiligen dazugehörigen Eintrittsspalt befinden sich ein steuerbarer elektro-optischer Schalter 2.4 und eine Kondensorlinse (oder Kondensorsystem).
Die einzelnen Eintrittsspalte 2.5 des Polychromators 2.6 sind auf dem Umfang eines Rowlandkreises so angeordnet, daß die ankommenden, durch die elektro-optischen Schalter 2.4 sequentiell gesteuerten polychromatischen Lichtstrahlen jeweils unter einem anderen Einfallswinkel auf das konkave Reflexionsgitter 2.6 freigegeben und dabei verschiedene Spektrenausschnitte nacheinander auf einer CCD-Zeile 2.7 abgebildet werden, und zwar so, daß ein größerer Spektralbereich lückenlos erfaßbar ist. Damit auch empfängerseitig die hohe Auflösung des Gitters genutzt werden kann, wird eine CCD-Doppelzeile verwendet, deren Pixel gegeneinander um die Hälfte verschoben sind. Der eingesetzte Computer 2.8 realisiert die Funktionen der Steuerung von Bogen- oder Funkenerzeugung 2.1, elektro-optischen Schaltern 2.4, CCD-Doppelzeile 2.7, den Informationsaustausch, die Speicherung und Auswertung der aufgenommenen Spektren.

Claims (2)

1. Verfahren zur sequentiellen Mehrkanalspektroskopie, wobei eine Intensitätsmessung spektral zerlegter, elektromagnetischer Strahlung im sichtbaren und ultravioletten Bereich erfolgt, gekennzeichnet dadurch, daß die elektro-optischen Schalter pro Meßzyklen des bilinearen Sensors jeweils einen anderen Meßkanal öffnen und wieder schließen, so daß die somit sequentiell gesteuerte polychromatische Strahlung von den empfängerseitigen Enden der Lichtwellenleiter immer unter einem anderen Einfallswinkel durch den jeweils dazugehörigen Kondensor und Eintrittsspalt auf das einzeilige dispergierende Element trifft und somit einen (anderen) Spektralbereich auf dem optoelektronischen Wandler abbildet, ohne daß eine Relativbewegung von Gitterpolychromator oder Lichtstrahl erforderlich wird, und daß der elektro- optische Schalter für den jeweils geöffneten Meßkanal eine Intensitätssteuerung vornimmt.
2. Vorrichtung zur sequentiellen Mehrkanalspektroskopie, unter Einstz eines Gitterpolychromators, gekennzeichnet dadurch, daß die als Bündel vom Sondenkopf zum optischen Teil geführten Lichtwellenleiterfaser am empfängerseitigen Ende einzeln auf je einen Eintrittsspalt des Polychromators angeordnet sind, wobei die einzeilig angeordneten Eintrittsspalte des Polychromators lokal feststehend auf den Umfang eines Rowlandkreises fixiert sind, so daß die Lichtstrahlen jeweils unter einem anderen Einfallswinkel austreten.
DE19914106627 1990-06-21 1991-02-27 Verfahren und vorrichtung zur sequentiellen mehrkanalspektroskopie Withdrawn DE4106627A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD34190790A DD295414A5 (de) 1990-06-21 1990-06-21 Verfahren und vorrichtung zur sequentiellen mehrkanalspektroskopie

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE4106627A1 true DE4106627A1 (de) 1992-05-21

Family

ID=5619354

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19914106627 Withdrawn DE4106627A1 (de) 1990-06-21 1991-02-27 Verfahren und vorrichtung zur sequentiellen mehrkanalspektroskopie

Country Status (2)

Country Link
DD (1) DD295414A5 (de)
DE (1) DE4106627A1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10207742A1 (de) * 2002-02-22 2003-09-11 Perkin Elmer Bodenseewerk Zwei Atomabsorptionsspektroskopieverfahren und Atomabsorptionsspektrometer
WO2006074725A1 (de) * 2005-01-17 2006-07-20 Spectro Analytical Instruments Gmbh & Co. Kg Verfahren zum betrieb eines optischen emissionsspektrometers

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19815080C1 (de) * 1998-04-06 1999-09-09 Inst Physikalische Hochtech Ev Anordnung zur Erhöhung der spektralen Ortsauflösung eines Spektrometers

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10207742A1 (de) * 2002-02-22 2003-09-11 Perkin Elmer Bodenseewerk Zwei Atomabsorptionsspektroskopieverfahren und Atomabsorptionsspektrometer
DE10207742B4 (de) * 2002-02-22 2008-11-20 Berthold Gmbh & Co. Kg Atomabsorptionsspektroskopieverfahren und Atomabsorptionsspektrometer
WO2006074725A1 (de) * 2005-01-17 2006-07-20 Spectro Analytical Instruments Gmbh & Co. Kg Verfahren zum betrieb eines optischen emissionsspektrometers
US7911606B2 (en) 2005-01-17 2011-03-22 Spectro Analytical Instruments Gmbh Method for operating an optical emission spectrometer
DE102005002292B4 (de) * 2005-01-17 2016-02-11 Spectro Analytical Instruments Gmbh & Co. Kg Verfahren zum Betrieb eines optischen Emissionsspektrometers

Also Published As

Publication number Publication date
DD295414A5 (de) 1991-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2156154B1 (de) Spektrometer mit festkörpersensoren und sekundärelektronenvervielfachern
DE2740724A1 (de) Spektrophotometer mit gleichzeitiger bestimmung der lichtintensitaet
DE19820861A1 (de) Simultanes Röntgenfluoreszenz-Spektrometer
EP0362562A2 (de) Spektrometer zur gleichzeitigen Intensitätsmessung in verschiedenen Spektralbereichen
DE3939148C2 (de)
DE69104114T2 (de) System zur Auswertung der optischen Dispersion.
DE3502059A1 (de) Laserspektralfluorometer
DE3604815A1 (de) Mikroskopphotometer
DE10159721B4 (de) Digitales FTIR-Spektrometer
WO1999061894A1 (de) Vorrichtung zur detektion von substanzen in fluider phase
DE102017127122B4 (de) Spektrometrisches Messgerät
DE69406888T2 (de) Spektrophotometer
WO1996028748B1 (de) Optisches system mit grossen messbereichen
DE19811150C2 (de) Dünnschichtchromatographiegerät
DE4106627A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur sequentiellen mehrkanalspektroskopie
EP1106979B1 (de) Anordnung zur gleichzeitigen Analyse mehrerer optischer Leitungen
DE19845701A1 (de) Anordnungen zur Überwachung der Performance von DWDM-Mehrwellenlängensystemen
EP0767709A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum erkennen, sortieren und/oder trennen verschiedener stoffe bzw. gegenstände
DE19952652A1 (de) Vorrichtung zur multiparallelen Detektion von flüssigen Proben
DE102011082469B4 (de) Spektrometer mit wenigstens einem Zerstreuungselement
DE19506192A1 (de) Edelstein-Absorbtionsspektralphotometer
DE102015109340A1 (de) Spektrometer und Analysevorrichtung
DE3631032A1 (de) Spektrometer, verfahren zur kalibrierung eines spektrometers sowie verfahren zur messeung des remissionsspektrums eines analysegegenstandes mittels eines spektrometers
DE19523140A1 (de) Mehrkanal-Spektrometer mit Zeilensensor
DE102006018287B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur spektralanalytischen Bewertung von Materialien oder Objekten in einem Material- oder Objektstrom

Legal Events

Date Code Title Description
8122 Nonbinding interest in granting licenses declared
8139 Disposal/non-payment of the annual fee