DE4106627A1 - Verfahren und vorrichtung zur sequentiellen mehrkanalspektroskopie - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zur sequentiellen mehrkanalspektroskopieInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title abstract description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 title abstract description 3
- 238000000870 ultraviolet spectroscopy Methods 0.000 title 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 13
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims abstract description 9
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 claims abstract description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 7
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 claims description 3
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 claims description 2
- 230000001953 sensory effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 5
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 2
- 201000004569 Blindness Diseases 0.000 description 1
- CWYNVVGOOAEACU-UHFFFAOYSA-N Fe2+ Chemical compound [Fe+2] CWYNVVGOOAEACU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2889—Rapid scan spectrometers; Time resolved spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J2003/1295—Plural entry slits, e.g. for different incidences
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
- G01J2003/1866—Monochromator for three or more wavelengths
- G01J2003/1876—Polychromator
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
- G01J2003/2813—2D-array
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
- G01N21/67—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/067—Electro-optic, magneto-optic, acousto-optic elements
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein sequentiell arbeitendes
Mehrkanalspektrometer mit einem Gitterpolychromator zur
Intensitätsmessung spektral zerlegter elektromagnetischer
Strahlung in sichtbaren und benachbarten Gebieten,
vorzugsweise im UV-Bereich.
Die Erfindung ist vorrangig anwendbar für die
zerstörungsfreie Materialprüfung metallurgischer Roh-,
Halb- und Fertigfabrikate auf Basis einer
rechnergestützten Spektralanalyse. Haupteinsatzgebiete
sind die Identifikation unbekannter Werkstoffe, die
Eingangs- und Qualitätskontrolle sowie die Vermeidung
von Materialverwechslungen.
Es ist bekannt, daß für eine zerstörungsfreie Identifikation
von Stählen und Buntmetallegierungen besonders vor
Ort hauptsächlich die Emissionsspektralanalyse Anwendung
findet.
Nach K.-H. Näser und G. Peschel (Physikalisch-chemische
Meßmethoden, VEB Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie,
Leipzig 1986) bestehen solche Spektralgeräte aus:
- - einer Einrichtung zur Atomatisierung einer Probe (Strahlungssender)
- - einer Einrichtung zur Erzeugung von Spektrallinien (Strahlungszerleger)
- - einer Einrichtung zur Erfassung und Auswertung des erzeugten Spektrums (Strahlungsempfänger und Auswerteeinheit).
Grundsätzlich unterscheidet man 2 Arten von
Spektrometern:
- - das Sequenzspektrometer (Monochromator) und
- - das Mehrkanalspektrometer (Polychromator).
Im Sequenzspektrometer wird im allgemeinen ein
Monochromator, bestehend aus einem Eingangsspalt, einem
Dispersionsglied, eventuell einer fokussierenden Optik
und einem Ausgangsspalt, und ein Emfänger (z. B.
Fotodiode) eingesetzt. Zwecks Registrierung eines
größeren Spektralbereiches muß eine kontinuierliche oder
schrittweise Bewegung des Strahlungszerlegers, d. h.
seine einzelnen Teile (Eingangsspalt mit Lichtquelle,
Dispersionselement, Spiegel, Ausgangspalt mit Empfänger),
erfolgen.
Als Nachteil erweist sich dabei ein erhöhter Zeit- und
Materialaufwand, bedingt durch zusätzliche Vorrichtungen
zur manuellen oder automatischen Steuerung der einzelnen
Bwegungen und zur Eichung, sowie eine größere
Störanfälligkeit mechanisch bewegter Teile.
Für dieses Prinzip ist eine Vielzahl von technischen
Lösungen bekannt geworden, stellvertretend für die vielen
Realisierungsmöglichkeiten wird auf das Handbuch der
Physik von S. Flügge, Band XXIX - Optische Instrumente
(Springer-Verlag: Berlin, Heidelberg, New York 1967)
verwiesen und auf Erfindungsbeschreibungen, in denen
solche Lösungen niedergelegt sind:
US 7 42 775 / DD-PS 29 52 901 / DE-PS 37 43 584 / DE-OS 34 36 752.
US 7 42 775 / DD-PS 29 52 901 / DE-PS 37 43 584 / DE-OS 34 36 752.
Das Mehrkanalspektrometer besitzt einen fest angeordneten
Strahlungszerleger mit einer größeren Anzahl von
Strahlungsempfängern, die
- a) entweder einzeln hinter der gleichen Anzahl von Austrittsspalten oder
- b) ohne Ausgangsspalten in Form von Linear- oder Matrixsensoren (z. B. CCD-Zeilen oder CCD-Matrix) vorgesehen sind.
Dem Vorteil einer bei a) fast gleichzeitigen Messung der
interessierenden Größen (Wellenlänge, Intensität) und
einer damit verbundenen kürzeren Analysendauer stehen
besonders bei tragfähigen Geräten die Nachteile in Form
einer notwendigen Größe des Strahlungszerlegers, bedingt
durch die gleichzeitig unterzubringende Anzahl von
Spalten und Empfängern und der damit benötigten großen
Auflösung sowie die "Blindheit" gegenüber Elementen, für
die kein Meßkanal vorgesehen wurde, gegenüber.
Der Nachteil der Variante b) liegt begründet in der
Herstellungstechnologie von Linear- und Matrixsensoren,
die die maximale Pixelanzahl pro Sensor begrenzt und
somit bei fest angeordneter Zeile oder Matrix in
Verbindung mit den physikalischen Kenngrößen des
Dispersionselementes nur die Wahl zwischen hoher
Auflösung und kleinem Meßbereich oder geringer Auflösung
und großem Meßbereich zuläßt.
Lösungsvarianten dieser Art werden bei A. N. Saidel, G. W.
Ostrowskaja, J. I. Ostrowski (Technika i praktika
spektroskopii: Verlag "Nauka", Moskau 1976), H. Moritz
Spektrochemische Betriebsanalyse (Ferdinand Enke Verlag:
Stuttgart 1956) und in den Erfindungsbeschreibungen DE-OS
35 31 989, DE-OS 29 38 844 dargelegt.
Um einzelne Nachteile der beiden Grundvarianten von
Spektrometern zu beseitigen, wurden technische Lösungen
vorgeschlagen, die Merkmale aus beiden Varianten
vereinen.
In der Erfindungsbeschreibung (DE-OS 28 23 514) wird ein
Spektralapparat beschrieben, der die zu messende
Strahlung in einem Bündel von einzelnen
Lichtwellenleitern zu mehreren monochromatischen
Empfängern leitet.
Ein nicht zu übersehender Nachteil ist der mit einer
Realisierung verbundene hohe ökonomische Aufwand sowie
die zu erwartenden ungünstigen Gewichts- und
Größenrelationen.
Eine Weiterentwicklung dieses Grundgedankens wird in der
Patentbeschreibung (US 42 59 014) ausgeführt. Die zu
analysierende Strahlung wird von den einzelnen
Lichtwellenleitern jetzt unter verschiedenen
Flächenkoordinaten zu einem Polychromator geführt und in
mehreren Zeilen spektral zerlegt und abgebildet.
Bei dieser Lösung muß bei einer angestrebten
Miniaturisierung mit erhöhten Abbildungsfehlern gerechnet
werden. Die Kosten für entsprechende hochauflösende
Matrixempfänger sind erheblich.
Varianten zur Verschiebung der Strahlungsempfänger von
Polychromatoren werden in den Erfindungsbeschreibungen
DE-OS 29 05 361/29 47 703/27 31 129 dargestellt. Mechanische
Bewegungen in Meßgeräten erhöhen die Störanfälligkeit und
verlängern die Meß- bzw. Analysenzeit.
In US-Patentschrift US 43 75 919 ist eine Anordnung
beschrieben, in der das zu analysierende Licht
mehrdimensional zerlegt, in Lichtleitern zu einer
Anordnung von Spalten geführt, dort einzeln in
Spektralkomponenten zerlegt und später über einen
konkaven Spiegel wieder überlagert wird. Vorteile dieser
Anordnung sind die höhere Trennschärfe und der durch die
mehrdimensionale Erfassung erreichbare höhere
Störabstand; dennoch wird die erfindungsgemäße Aufgabe
nicht gelöst.
Es ist das Ziel der Erfindung, ein Multikanalspektrometer
zu entwickeln, das möglichst alle technisch wichtigen
Metalle in unbekannten Legierungen schnell und sicher
analysiert, dabei transportabel, wartungsarm und
bedienungsfreundlich ist.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren aufzuzeigen,
das es ermöglicht, ein Mehrkanalspektrometer mit hoher
Trennschärfe und hohem Auflösungsvermögen zu bauen, ohne
die bisher notwendige, hochpräzise Relativbewegung
zwischen Spalt und Sensor bzw. ohne die zur Überbrückung
der Toträume erforderliche umfangreiche zusätzliche
Sensorelektronik.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß der
ankommende Lichtstrahl 1.1 durch ein Lichtleiterbündel
1.2 geführt wird (Fig. 1).
Die einzelnen Fasern des Lichtleitkabels 1.2 werden
getrennt und einzeln über einen elektrisch steuerbaren
optischen Verschluß 1.3 einer Reihe von Eingangsspalten
1.4 des Spektrometers zugeführt. Die durch den
Eingangsspalt einfallenden Lichtstrahlen werden durch ein
dispergierendes Element 1.5 zerlegt und mittels eines aus
mehreren Einzelelementen bestehenden Sensors 1.6 erfaßt.
Die Wirkungsweise ist folgende:
Das Licht der thermoelektrisch angeregten Materialprobe
wird über ein Lichtleitkabel 1.2 aufgenommen. Nach der
gleichmäßigen Aufteilung in mehrere Faserbündel werden
diese einem elektrooptischen Verschluß (z. B. LCD-
Element, Kerrzelle od. ä.) zugeführt, der es ermöglicht,
die einzelnen Faserbündel zeitlich gestaffelt zuzuschalten.
Das Licht fällt durch einen der Eingangsspalte auf das
konkave Dispersionsgitter und wird in seine
Spektralkomponenten zerlegt. Ein Teil dieses Spektrums
wird mit einem fotoelektrischen Sensor bspw. einer CCD-
Zeile aufgenommen. Der erfindungsgemäße Effekt wird
erreicht durch die räumlich versetzte Lage der Strahlen
und die zeitlich gestaffelte Zuschaltung. (In Fig. 1 sind
die beiden Randspektren dargestellt.)
Die Ausgangssignale des fotoelektrischen Sensors können
im Hinblick auf eine spektrometrische Auswertung
beispielsweise mit geeigneter Rechentechnik verarbeitet
werden.
Die elektro-optischen Schalter nehmen für den jeweils
geöffneten Meßkanal eine Intensitätsbewertung vor.
Die Erfindung soll nachstehend an einem
Ausführungsbeispiel näher erläutert werden.
Es zeigt
Fig. 1 eine Vorrichtung zur sequentiellen Mehrkanalspektroskopie,
Fig. 2 das Blockschema eines sequentiellen Mehrkanalspektrometers.
Das sequentielle Mehrkanalspektrometer setzt sich
zusammen aus den in einem Gehäuse unterbringbaren Teilen
des Bogen- oder Funkenerzeugers, der optischen und optoelektronischen
Bauteile und des Computers sowie dem
zwecks leichterer Handhabung vom Gerät abnehmbaren
Sondenkopf mit den dazugehörigen optischen und
elektrischen Verbindungskabeln.
Der Lichtbogen- oder Funkenerzeuger 2.1 stellt die
Energiequelle zur thermoelektrischen Anregung von Atomen
und Ionen der zu analysierenden Materialoberfläche 2.2
dar. Von dieser Energiequelle führt ein flexibles Kabel
zum Anschluß an die im Sondenkopf untergebrachte
Verdampfungseinrichtung (Elektrode, elektrische Hochfrequenzzündung),
zwecks computergesteuerter Erzeugung eines
Lichtbogens oder Funkens zwischen Elektrode und
Prüfstück.
Zur Realisierung der optischen Aufnahme und Weiterleitung
der von der angeregten Materialoberfläche emittierten
polychromatischen Strahlung 2.3 durch ein im Sondenkopf
installiertes entsprechendes Anschlußteil aus mehreren
Lichtwellenleitern.
Die als Bündel vom Sondenkopf zum optischen Teil des
Gerätes geführten Lichtwellenleiterfasern werden dort am
empfängerseitigen Ende in mehrere kleinere Bündel (z. B.
je 5 Lichtleiterfasern) in sogenannte Meßkanäle aufgeteilt.
Die Anzahl der notwendigen Meßkanäle wird in
Abhängigkeit von der benötigten Auflösung und dem zu
erfassenden Meßbereich festgelegt.
Jedes dieser Lichtwellenleiterbündel bildet den
Ausgangspunkt eines möglichen Strahlenganges im
Polychromator 2.6, bestehend aus einem
Eintrittsspaltsystem 2.5, einem korrigierten konkaven
Reflexionsgitter und einem bilinearen Aufnahmesensor
(CCD-Doppelzeile) 2.7.
In jedem Strahlengang zwischen jeweils einem Meßkanal,
dessen Einzelfasern zur Gewährleistung einer
gleichmäßigen Spaltausleuchtung innerhalb des Kanals
genau senkrecht übereinander liegen und dem jeweiligen
dazugehörigen Eintrittsspalt befinden sich ein steuerbarer
elektro-optischer Schalter 2.4 und eine
Kondensorlinse (oder Kondensorsystem).
Die einzelnen Eintrittsspalte 2.5 des Polychromators 2.6
sind auf dem Umfang eines Rowlandkreises so angeordnet,
daß die ankommenden, durch die elektro-optischen Schalter
2.4 sequentiell gesteuerten polychromatischen
Lichtstrahlen jeweils unter einem anderen Einfallswinkel
auf das konkave Reflexionsgitter 2.6 freigegeben und
dabei verschiedene Spektrenausschnitte nacheinander auf
einer CCD-Zeile 2.7 abgebildet werden, und zwar so, daß
ein größerer Spektralbereich lückenlos erfaßbar ist.
Damit auch empfängerseitig die hohe Auflösung des Gitters
genutzt werden kann, wird eine CCD-Doppelzeile verwendet,
deren Pixel gegeneinander um die Hälfte verschoben sind.
Der eingesetzte Computer 2.8 realisiert die Funktionen
der Steuerung von Bogen- oder Funkenerzeugung 2.1,
elektro-optischen Schaltern 2.4, CCD-Doppelzeile 2.7, den
Informationsaustausch, die Speicherung und Auswertung der
aufgenommenen Spektren.
Claims (2)
1. Verfahren zur sequentiellen Mehrkanalspektroskopie,
wobei eine Intensitätsmessung spektral zerlegter,
elektromagnetischer Strahlung im sichtbaren und
ultravioletten Bereich erfolgt, gekennzeichnet
dadurch, daß die elektro-optischen Schalter pro
Meßzyklen des bilinearen Sensors jeweils einen anderen
Meßkanal öffnen und wieder schließen, so daß die somit
sequentiell gesteuerte polychromatische Strahlung von
den empfängerseitigen Enden der Lichtwellenleiter
immer unter einem anderen Einfallswinkel durch den
jeweils dazugehörigen Kondensor und Eintrittsspalt auf
das einzeilige dispergierende Element trifft und somit
einen (anderen) Spektralbereich auf dem optoelektronischen
Wandler abbildet, ohne daß eine
Relativbewegung von Gitterpolychromator oder
Lichtstrahl erforderlich wird, und daß der elektro-
optische Schalter für den jeweils geöffneten Meßkanal
eine Intensitätssteuerung vornimmt.
2. Vorrichtung zur sequentiellen Mehrkanalspektroskopie,
unter Einstz eines Gitterpolychromators,
gekennzeichnet dadurch, daß die als Bündel vom
Sondenkopf zum optischen Teil geführten
Lichtwellenleiterfaser am empfängerseitigen Ende
einzeln auf je einen Eintrittsspalt des Polychromators
angeordnet sind, wobei die einzeilig angeordneten
Eintrittsspalte des Polychromators lokal feststehend
auf den Umfang eines Rowlandkreises fixiert sind, so
daß die Lichtstrahlen jeweils unter einem anderen
Einfallswinkel austreten.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD34190790A DD295414A5 (de) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | Verfahren und vorrichtung zur sequentiellen mehrkanalspektroskopie |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4106627A1 true DE4106627A1 (de) | 1992-05-21 |
Family
ID=5619354
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19914106627 Withdrawn DE4106627A1 (de) | 1990-06-21 | 1991-02-27 | Verfahren und vorrichtung zur sequentiellen mehrkanalspektroskopie |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DD (1) | DD295414A5 (de) |
DE (1) | DE4106627A1 (de) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10207742A1 (de) * | 2002-02-22 | 2003-09-11 | Perkin Elmer Bodenseewerk Zwei | Atomabsorptionsspektroskopieverfahren und Atomabsorptionsspektrometer |
WO2006074725A1 (de) * | 2005-01-17 | 2006-07-20 | Spectro Analytical Instruments Gmbh & Co. Kg | Verfahren zum betrieb eines optischen emissionsspektrometers |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19815080C1 (de) * | 1998-04-06 | 1999-09-09 | Inst Physikalische Hochtech Ev | Anordnung zur Erhöhung der spektralen Ortsauflösung eines Spektrometers |
-
1990
- 1990-06-21 DD DD34190790A patent/DD295414A5/de not_active IP Right Cessation
-
1991
- 1991-02-27 DE DE19914106627 patent/DE4106627A1/de not_active Withdrawn
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10207742A1 (de) * | 2002-02-22 | 2003-09-11 | Perkin Elmer Bodenseewerk Zwei | Atomabsorptionsspektroskopieverfahren und Atomabsorptionsspektrometer |
DE10207742B4 (de) * | 2002-02-22 | 2008-11-20 | Berthold Gmbh & Co. Kg | Atomabsorptionsspektroskopieverfahren und Atomabsorptionsspektrometer |
WO2006074725A1 (de) * | 2005-01-17 | 2006-07-20 | Spectro Analytical Instruments Gmbh & Co. Kg | Verfahren zum betrieb eines optischen emissionsspektrometers |
US7911606B2 (en) | 2005-01-17 | 2011-03-22 | Spectro Analytical Instruments Gmbh | Method for operating an optical emission spectrometer |
DE102005002292B4 (de) * | 2005-01-17 | 2016-02-11 | Spectro Analytical Instruments Gmbh & Co. Kg | Verfahren zum Betrieb eines optischen Emissionsspektrometers |
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Publication number | Publication date |
---|---|
DD295414A5 (de) | 1991-10-31 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8122 | Nonbinding interest in granting licenses declared | ||
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |