DE4103410C1 - - Google Patents
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/302—Contactless testing
- G01R31/305—Contactless testing using electron beams
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
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Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4103410A DE4103410C1 (enExample) | 1991-02-05 | 1991-02-05 | |
| EP92902468A EP0570389B1 (de) | 1991-02-05 | 1992-01-10 | Verfahren und vorrichtung zur kontaktlosen messung elektrischer spannungen in einem messobjekt mit einer isolatoroberfläche |
| US08/104,060 US5444384A (en) | 1991-02-05 | 1992-01-10 | Method and device of contactless measurement of electric voltages in a unit under measurement with an insulating surface |
| PCT/DE1992/000014 WO1992014162A1 (de) | 1991-02-05 | 1992-01-10 | Verfahren und vorrichtung zur kontaktlosen messung elektrischer spannungen in einem messobjekt mit einer isolatoroberfläche |
| DE59200508T DE59200508D1 (de) | 1991-02-05 | 1992-01-10 | Verfahren und vorrichtung zur kontaktlosen messung elektrischer spannungen in einem messobjekt mit einer isolatoroberfläche. |
| JP4502755A JP2516192B2 (ja) | 1991-02-05 | 1992-01-10 | 絶縁表面を有する測定ユニットの電圧の無接触測定の方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4103410A DE4103410C1 (enExample) | 1991-02-05 | 1991-02-05 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE4103410C1 true DE4103410C1 (enExample) | 1992-08-06 |
Family
ID=6424403
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE4103410A Expired - Lifetime DE4103410C1 (enExample) | 1991-02-05 | 1991-02-05 | |
| DE59200508T Expired - Lifetime DE59200508D1 (de) | 1991-02-05 | 1992-01-10 | Verfahren und vorrichtung zur kontaktlosen messung elektrischer spannungen in einem messobjekt mit einer isolatoroberfläche. |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE59200508T Expired - Lifetime DE59200508D1 (de) | 1991-02-05 | 1992-01-10 | Verfahren und vorrichtung zur kontaktlosen messung elektrischer spannungen in einem messobjekt mit einer isolatoroberfläche. |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5444384A (enExample) |
| EP (1) | EP0570389B1 (enExample) |
| JP (1) | JP2516192B2 (enExample) |
| DE (2) | DE4103410C1 (enExample) |
| WO (1) | WO1992014162A1 (enExample) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4412415A1 (de) * | 1993-04-12 | 1994-10-13 | Advantest Corp | Verfahren zur Reduzierung elektrischer Ladung auf einem Isolationsfilm während der Analyse in einem Elektronenstrahl-Testgerät |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| DE102011080341A1 (de) * | 2011-08-03 | 2013-02-07 | Carl Zeiss Nts Gmbh | Verfahren und Teilchenstrahlgerät zur Erzeugung eines Bildes eines Objekts |
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| DE3331931A1 (de) * | 1983-09-05 | 1985-03-21 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur qualitativen oder quantitativen potentialmessung an einer mit einer passivierungsschicht versehenen elektronischen schaltung |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3535516A (en) * | 1966-10-17 | 1970-10-20 | Hitachi Ltd | Electron microscope employing a modulated scanning beam and a phase sensitive detector to improve the signal to noise ratio |
| US3628012A (en) * | 1969-04-03 | 1971-12-14 | Graham Stuart Plows | Scanning stereoscopic electron microscope |
| DE3036708A1 (de) * | 1980-09-29 | 1982-05-13 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Elektronenstrahl-messgeraet zur stroboskopischen messung hochfrequenter periodischer vorgaenge |
| US4864228A (en) * | 1985-03-15 | 1989-09-05 | Fairchild Camera And Instrument Corporation | Electron beam test probe for integrated circuit testing |
| EP0232790A1 (de) * | 1986-02-06 | 1987-08-19 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Anordnung zur Messung zeitabhängiger Signale mit einer Korpuskularsonde |
-
1991
- 1991-02-05 DE DE4103410A patent/DE4103410C1/de not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-01-10 US US08/104,060 patent/US5444384A/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-01-10 DE DE59200508T patent/DE59200508D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1992-01-10 JP JP4502755A patent/JP2516192B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1992-01-10 EP EP92902468A patent/EP0570389B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1992-01-10 WO PCT/DE1992/000014 patent/WO1992014162A1/de not_active Ceased
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Non-Patent Citations (3)
| Title |
|---|
| DE-Dissertation: REINERS, W.: Kapazitiver Potentialkontrast - Theoretische Deutung und technische Nutzung beim Elektronenstrahl-Test passivierter, höchstintegrierter Bausteine, Universität Duisburg, 1989, Fachbereich Elek- trotechnik * |
| GÖRLICH, S., HERRMANN, K.D., REINERS, W., KUBALEK, E.: Capacitive Coupling Voltage Contrast. In: Scanning Electron Microscopy, 1986, II, S.447-464 * |
| US-Z.: MENZEL, E., BUCHANAN, R.: Electron Beam Probing of Integrated Circuits. In: Solid State Technology, Dez. 1985, S.63-70 * |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4412415A1 (de) * | 1993-04-12 | 1994-10-13 | Advantest Corp | Verfahren zur Reduzierung elektrischer Ladung auf einem Isolationsfilm während der Analyse in einem Elektronenstrahl-Testgerät |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0570389B1 (de) | 1994-09-14 |
| WO1992014162A1 (de) | 1992-08-20 |
| JP2516192B2 (ja) | 1996-07-10 |
| JPH06504373A (ja) | 1994-05-19 |
| EP0570389A1 (de) | 1993-11-24 |
| US5444384A (en) | 1995-08-22 |
| DE59200508D1 (de) | 1994-10-20 |
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Legal Events
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| 8100 | Publication of the examined application without publication of unexamined application | ||
| D1 | Grant (no unexamined application published) patent law 81 | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| R071 | Expiry of right |