DE4033912C2 - Optical sensor - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft einen optischen Sensor mit einer integriert optischen Anordnung, die einen Wellenleiter, gegebenenfalls mit einer sensitiven Schicht, sowie ein bei diesem Wellenleiter angeordnetes Beugungsgitter zum Einkoppeln von Licht in den Wellenleiter aufweist, wobei Änderungen der effektiven Brechzahl im Wellenleiter gemessen werden.The invention relates to an optical sensor with a integrates optical arrangement that includes a waveguide, optionally with a sensitive layer, and a this waveguide arranged diffraction grating for coupling of light in the waveguide, with changes in effective refractive index in the waveguide can be measured.
Solche optischen Sensoren auf der Basis von Beugungsgittern detektieren bestimmte Meßsubstanzen, messen Brechzahlen von flüssigen Medien oder weisen kleine mechanische Verschiebungen nach, indem die effektive Brechzahl eines Wellenleiters beeinflußt wird. Diese effektive Brechzahl wird mit Hilfe des Beugungsgitters bestimmt, durch das Licht in den Wellenleiter eingekoppelt bzw. aus dem Wellenleiter ausgekoppelt wird.Such optical sensors based on diffraction gratings detect certain measuring substances, measure refractive indices of liquid media or show small mechanical shifts according to the effective refractive index of a waveguide being affected. This effective refractive index is determined using the Diffraction grating determined by the light in the waveguide is coupled in or out of the waveguide.
Sensoren dieser Art sind beispielsweise aus der WO 86/07149 bekannt. Sensors of this type are, for example, from WO 86/07149 known.
Die hohe Genauigkeit dieses Sensors beruht im wesentlichen darauf, daß die Ein- oder Auskopplung des Lichtes in den Wellenleiter bzw. aus diesem Wellenleiter heraus mit Hilfe des Gitters nur unter einem sehr begrenzten Winkelbereich möglich ist.The high accuracy of this sensor is based essentially insists that the coupling or decoupling of the light into the Waveguide or out of this waveguide with the help of Grid only possible under a very limited angular range is.
Dabei erfolgt das Einkoppeln in den Wellenleiter mit einem Parallelstrahl. Zur Auswertung kann eine Messung der Lichtintensität am Ende des Wellenleiters vorgenommen werden. Bei statischer Anordnung mit feststehendem Sensorkopf und bezüglich des Einstrahlwinkels feststehendem Lichtstrahl ist der Meßbereich stark eingeschränkt, da nur in einem kleinen Bereich von effektiven Brechzahlen und entsprechenden Einkoppelwinkeln ein Signal am Detektor gemessen werden kann.It is coupled into the waveguide with a Parallel beam. A measurement of the Light intensity can be made at the end of the waveguide. With a static arrangement with a fixed sensor head and is fixed light beam with respect to the angle of incidence the measuring range is very limited, since only in a small one Range of effective refractive indices and corresponding ones Coupling angle a signal can be measured at the detector.
Da der Einstrahlwinkel des Lichtstrahles in das Beugungsgitter sehr genau (Hundertstel-Grad-Bereich) stimmen muß, um ein Einkoppeln in den Wellenleiter zu erreichen, ist ein hoher Aufwand bezüglich der mechanischen Lagerung der zusammenwirkenden Baugruppen und auch ein hoher Justieraufwand erforderlich.Because the angle of incidence of the light beam into the diffraction grating must be very accurate (hundredths of a degree range) in order to Achieving coupling into the waveguide is a high one Mechanical storage effort interacting modules and also a high adjustment effort required.
Es ist ferner bekannt, eine Drehung oder Schwenkung des Sensorkopfes vorzusehen, so daß ein größerer Bereich von Koppelwinkeln abgetastet werden kann. In diesem Fall sind jedoch zusätzlich präzise mechanische Verstellelemente im Sensorkopf erforderlich.It is also known to rotate or pivot the Provide sensor head so that a larger range of Coupling angles can be scanned. In this case but also precise mechanical adjustment elements in the Sensor head required.
Weiterhin kennt man das Einkoppeln eines Lichtstrahles an der Sensorkopf-Kante (Stirnflächenkopplung) und Auskopplung durch das Gitter. Bei dieser Anordnung ist jedoch bei der Herstellung ein zusätzlicher Bearbeitungsschritt wegen der notwendigen Stirnflächenpolitur erforderlich und auch eine sehr präzise Justierung der Lichtquelle bzw. einer Einkopplungsoptik relativ zur Sensorkopfkante.Furthermore, one knows the coupling of a light beam on the Sensor head edge (end face coupling) and coupling out the grid. With this arrangement, however, the Manufacturing an additional processing step because of the necessary front surface polish required and also a very precise adjustment of the light source or one Coupling optics relative to the sensor head edge.
Der "kritische" Einkoppelbereich ist dabei vom Beugungsgitter zur Sensorkopfkante verlagert, wobei aber ebenfalls die Einstrahlstelle in den Wellenleiter, der Dickenabmessung im Mikrometerbereich hat, und der Einstrahlwinkel stimmen und dementsprechend exakt justiert werden müssen.The "critical" coupling area is from the diffraction grating shifted to the sensor head edge, but also the Point of radiation in the waveguide, the thickness dimension in Micrometer range, and the angle of incidence are correct and accordingly must be adjusted exactly.
Nachteilig ist hierbei auch, daß im Übergangsbereich zwischen Lichtquelle bzw. einer Optik und der Sensorkopfkante das Meßergebnis beeinflussendes Streulicht auftreten kann.Another disadvantage is that in the transition area between Light source or optics and the sensor head edge that Scattered light influencing the measurement result can occur.
Aus der WO 88/10418 ist ein optischer Sensor mit einer integriert optischen Anordnung bekannt, mit der chemische, biochemische oder biologische Proben untersucht werden können. Die jeweilige Probe wird dabei in Kontakt mit der Oberfläche der integriert optischen Anordnung gebracht.From WO 88/10418 is an optical sensor with a integrated optical arrangement known with the chemical, biochemical or biological samples can be examined. The respective sample is in contact with the surface brought the integrated optical arrangement.
Die integriert optische Anordnung weist ein Substrat und einen wellenleitenden Film auf, in den über ein Beugungsgitter Licht in den Wellenleiter eingekoppelt werden kann. Änderungen der Eigenschaften des Wellenleiters unter dem Einfluß der zu untersuchenden Probe werden dann analysiert.The integrated optical arrangement has one substrate and one wave-guiding film in which light is diffracted by a grating can be coupled into the waveguide. Changes in Properties of the waveguide under the influence of the examining sample are then analyzed.
Die integriert optische Anordnung wird dazu unter einem oder mehreren Einfallswinkeln mit Licht bestrahlt und es wird das reflektierte, übertragene und/oder sich ausbreitende Licht daraufhin analysiert, ob sich bei einem besonderen Lichteinfallswinkel eine Lichtwelle oder Mode ausbreitet.The integrated optical arrangement is for this purpose under or irradiated with multiple angles of incidence and it will reflected, transmitted and / or propagating light then analyzed whether there was a particular Light incidence angle propagates a light wave or fashion.
Der WO 88/10418 sind konkrete Vorschläge für den praktischen Aufbau der Meßanordnung und Hinweise für eine vereinfachte Handhabung nicht zu entnehmen. Es sind keine in die Praxis umsetzbaren Vorschläge enthalten, um das Problem hinsichtlich der mechanischen Feinjustierung zwischen der Lichtquelle und der integriert optischen Anordnung zu lösen.WO 88/10418 are specific suggestions for the practical structure of the measuring arrangement and instructions for a simplified handling not to be removed. They are not practical Include suggestions to address the problem regarding the mechanical fine adjustment between the light source and the integrated optical arrangement to solve.
Für unterschiedliche Proben ist auch hier ein vergleichsweise aufwendiges Einjustieren der integriert optischen Anordnung relativ zur Lichtquelle erforderlich, was insbesondere bei Serienmessungen einen sich besonders nachteilig auswirkenden, erheblichen Zeitaufwand verursacht und den praktischen Einsatz behindert.For different samples there is also a comparative one complex adjustment of the integrated optical arrangement required relative to the light source, which is particularly the case with Series measurements a particularly disadvantageous, considerable time and practical use with special needs.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, einen kompakt und einfach aufgebauten optischen Sensor anzugeben, der zur Erfassung unterschiedlicher Meßgrößen geeignet ist.The object of the present invention is a compact and simply design optical sensor to specify the Detection of different measured variables is suitable.
Diese Aufgabe wird durch einen optischen Sensor mit den Merkmalen des Anspruches 1 gelöst.This task is accomplished with an optical sensor Features of claim 1 solved.
Durch das einstrahlende, konvergente Lichtstrahlenbündel ist nun keine aufwendige Justage mehr erforderlich, da nur noch sichergestellt sein muß, daß in dem Lichtbündel der "passende" Einkoppellichtstrahl enthalten ist.Because of the incoming, convergent light beam now no more complex adjustment required, since only it must be ensured that the "suitable" in the light beam Coupling light beam is included.
Die Winkellage des passenden Einkoppellichtstrahles wird anhand des reflektierten Lichtstrahles bestimmt. Unter dem Winkel, für den die Koppelbedingungen und damit die Beugung in den Wellenleiter erfüllt ist, wird ein Teil des Lichtes durch den Wellenleiter abgeleitet. In diesem Falle entsteht im reflektierten Lichtstrahl unter diesem Winkel eine dunkle Linie, deren Lage, z. B. mit einer Diodenzeile, ausgewertet wird.The angular position of the appropriate coupling light beam is determined based on the reflected light beam. Under the Angle for which the coupling conditions and thus the diffraction in part of the light is transmitted through the waveguide derived the waveguide. In this case, the reflected light beam at this angle a dark one Line whose location, e.g. B. evaluated with a diode row becomes.
Das Auswechseln des Sensorkopfes kann nun trotz der dabei auftretenden, unvermeidlichen Lagedifferenzen problemlos durchgeführt werden, da das Lichtstrahlenbündel einen so großen und den Einkoppellichstrahl miterfassenden Winkelbereich überdeckt, daß auch bei verschiedenen Sensorköpfen eine Messung möglich ist. Dabei sind nun keine Lagenachjustierungen erforderlich.The sensor head can now be replaced despite this occurring, unavoidable differences in location without any problems be carried out because the light beam so large and co-detecting the coupling light beam Angular range covers that even with different Sensor heads a measurement is possible. Now there are none Position readjustments required.
Dies ist bei Serienmessungen, wo der Sensorkopf nur für eine einzige Messung verwendet wird, besonders vorteilhaft. Es ergeben sich erhebliche Zeiteinsparungen und eine vereinfachte Bedienung.This is in series measurements where the sensor head is only for one single measurement is used, particularly advantageous. It this results in considerable time savings and a simplified one Service.
Als sensitive Schichten kommen alle in Form dünner Beschichtungen präparierbaren Substanzen in Frage, die eine hinreichende optische Transparenz aufweisen und ihre optische Eigenschaften durch Adsorption eines bestimmen, nachzuweisenden Stoffes verändern. Zum Beispiel sind verschiedene Polymere oder in Polymere bzw. Siloxane eingebettete organische Funktionsgruppen verwendbar. Besonders vorteilhaft ist es, wenn als sensitive Schicht oder als Wellenleiter Material aus der Substanzklasse der Heteropolysiloxane (HPS) vorgesehen ist, wobei durch gezielte Auswahl der sensitiven Schicht aus dieser Substanzklasse jeweils eine bestimmte Stoffkomponente bestimmbar ist. Bei Einsatz dieser Substanzklasse für die sensitive Schicht können spezielle Stoffe selektiv erfaßt werden. Die sensitive Schicht aus einer solche Substanz ist im verwendeten Wellenlängenbereich transparent und auch homogen, um Streuverluste zu vermeiden.As sensitive layers, all come in thinner form Coatings of preparable substances in question, the one have sufficient optical transparency and their optical Determine properties by adsorbing a Change the substance to be detected. For example different polymers or in polymers or siloxanes embedded organic functional groups can be used. Especially It is advantageous if as a sensitive layer or as Waveguide material from the substance class of Heteropolysiloxane (HPS) is provided, with targeted Selection of the sensitive layer from this substance class a particular substance component can be determined in each case. At Can use this class of substance for the sensitive layer special substances can be detected selectively. The sensitive layer such a substance is used in Wavelength range transparent and also homogeneous to Avoid wastage.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der Zeichnung erläutert, die einen optischen Sensor mit einfallendem und reflektiertem Licht zeigt.The invention is described below with reference to the drawing explained that an optical sensor with incident and shows reflected light.
Ein im ganzem mit 1 bezeichneter optischer Sensor weist einen Sensorkopf 2 mit einem auf einem Substrat 3 befindlichen Wellenleiter 4 auf, der hier als wellenleitender Film ausgebildet ist. Bei dem Wellenleiter 4 befindet sich noch ein Beugungsgitter 5, durch das Licht in den Wellenleiter 4 eingekoppelt werden kann.An optical sensor designated as a whole by 1 has a sensor head 2 with a waveguide 4 located on a substrate 3 , which is designed here as a waveguiding film. The waveguide 4 also has a diffraction grating 5 through which light can be coupled into the waveguide 4 .
Zu dem Sensor 1 gehört noch eine Lichtquelle 6, eine Fokussieroptik 7 sowie eine Meßeinrichtung 8, mittels der Änderungen der effektiven Brechzahl gemessen werden können.The sensor 1 also includes a light source 6 , focusing optics 7 and a measuring device 8 by means of which changes in the effective refractive index can be measured.
Die effektive Brechzahl ist im wesentlichen von dem Substrat 3 und dem Wellenleiter 4 abhängig, wobei deren Brechzahl und auch die Schichtdicken bestimmend sind.The effective refractive index is essentially dependent on the substrate 3 and the waveguide 4 , their refractive index and also the layer thicknesses being decisive.
Die effektive Brechzahl kann durch Anlagerung einer Meßsubstanz 9 an den Wellenleiter 4 beeinflußt werden.The effective refractive index can be influenced by the addition of a measuring substance 9 to the waveguide 4 .
Um solche Änderungen der effektiven Brechzahl erkennen zu können, wird über das Beugungsgitter 5 im wesentlichen monochromatisches Licht 10 in den Wellenleiter 4 eingekoppelt. In order to be able to recognize such changes in the effective refractive index, essentially monochromatic light 10 is coupled into the waveguide 4 via the diffraction grating 5 .
Änderungen der effektiven Brechzahl machen sich sowohl am Ende des Wellenleiters 4 als Intensitätsänderungen als auch im Reflexionsbereich 11 durch Positionsverschiebungen bemerkbar. Bei dem erfindungsgemäßen, optischen Sensor 1 erfolgt eine Auswertung im Reflexionsbereich 11.Changes in the effective refractive index are noticeable both at the end of the waveguide 4 as changes in intensity and in the reflection region 11 through position shifts. In the optical sensor 1 according to the invention, an evaluation takes place in the reflection area 11 .
Das Ein- oder Auskoppeln des Lichtes in den Wellenleiter 4 bzw. aus diesem heraus ist mit Hilfe des Beugungsgitters 5 nur in einem sehr eng begrenzten Winkelbereich möglich. In der Figur ist die Lage des passenden Einkoppellichtstrahles 12 durch eine strichpunktierte Linie dargestellt. Nur bei exakter Einhaltung dieser Winkellage relativ zum Beugungsgitter erfolgt auch ein Einkoppeln in den Wellenleiter 4. Auch innerhalb dieses Wellenleiters 4 ist der Einkoppellichtstrahl 12 strichpunktiert angedeutet.Coupling the light into or out of the waveguide 4 or out of it is possible with the aid of the diffraction grating 5 only in a very narrowly limited angular range. In the figure, the position of the appropriate coupling light beam 12 is shown by a dash-dotted line. Coupling into the waveguide 4 only takes place if this angular position relative to the diffraction grating is observed exactly. The coupling light beam 12 is also indicated by dash-dotted lines within this waveguide 4 .
Um nun aufwendige mechanische Justiereinrichtungen zum exakten Einstellen des Einkoppellichtstrahles 12 zu vermeiden, ist bei der vorliegenden Sensoranordnung ein konvergentes Einkoppel- Lichstrahlenbündel 13 vorhanden, welches den passenden Einkoppellichstrahl 12 mit überdeckt. Dementsprechend ist keine exakte Einjustierung eines einzelnen Einkoppellichtstrahles 12 mehr erforderlich, sondern es genügt hier ein ungefähres und sehr unkritisches Ausrichten des Lichtstrahlenbündels 13. Innerhalb dieses Lichtstrahlenbündels 13 liegen eine Vielzahl von nicht parallelen Lichtstrahlen, die somit alle unter einem anderen Winkel beim Beugungsgitter 5 einstrahlen. Auch bei Lageverschiebungen der Lichtquelle 6 und Sensorkopf 2 sind keine Nachjustierarbeiten erforderlich, da innerhalb des Lichtstrahlenbündels 13 der jeweils passende Einkoppellichstrahl 12 enthalten ist.In order to avoid complex mechanical adjustment devices for the exact setting of the coupling light beam 12 , a convergent coupling light beam 13 is present in the present sensor arrangement, which also covers the matching coupling light beam 12 . Accordingly, an exact adjustment of an individual coupling light beam 12 is no longer necessary, but an approximate and very uncritical alignment of the light beam 13 is sufficient here. Within this bundle of light rays 13 there are a large number of non-parallel light rays, which thus all shine in at a different angle at the diffraction grating 5 . Even when the light source 6 and sensor head 2 are shifted in position, no readjustment work is necessary, since the appropriate coupling light beam 12 is contained within the light beam 13 .
Unter dem Strahlenwinkel, für den die Koppelbedingungen und damit die Beugung in den Wellenleiter 4 erfüllt ist, wird ein Teil des Lichtes durch den Wellenleiter 4 abgeleitet. Im Reflexionsbereich 11 ergibt sich unter dem Reflexionswinkel des Einkoppellichtstrahles 12 eine dunkle Linie 14, die zur Verdeutlichung in der Figur durch doppelpunktstrichlinierte Linien abgegrenzt, dargestellt ist. Aus der Lageveränderung dieser dunklen Linie 14, die als Zeiger dient, sind Änderungen der effektiven Brechzahl erkennbar. Da hier die Lage des durch die dunkle Linie 14 gebildeten Zeigers und nicht die Intensität maßgebend ist, sind auch keine Referenz-Signale zum Ausblenden von Helligkeitsschwankungen erforderlich bzw. wird eine Referenzintensität durch die in jedem Fall miterfaßten hellen Bereich im Reflex automatisch gewonnen.At the beam angle for which the coupling conditions and thus the diffraction in the waveguide 4 are fulfilled, part of the light is diverted through the waveguide 4 . In the reflection region 11 results in a dark line 14, is shown delineated for clarity in the figure by doppelpunktstrichlinierte lines at the reflection angle of the Einkoppellichtstrahles 12th Changes in the effective refractive index can be seen from the change in position of this dark line 14 , which serves as a pointer. Since here the position of the pointer formed by the dark line 14 and not the intensity is decisive, no reference signals are required to mask out fluctuations in brightness, or a reference intensity is automatically obtained by the bright area in the reflex, which is also included in each case.
Als Meßeinrichtung 8 im Bereich des reflektierten Lichtstrahles 15 kann ein Fotodioden-Array vorgesehen sein.A photodiode array can be provided as the measuring device 8 in the region of the reflected light beam 15 .
Wie bereits vorerwähnt, wird die effektive Brechzahl durch an dem wellenleitenden Film 4 angelagerte Meßsubstanz 9 verändert. Dementsprechend würde sich auch die dunkle Linie 14 innerhalb des divergierenden, reflektierten Lichtstrahles 15 verändern.As already mentioned, the effective refractive index is changed by measuring substance 9 attached to the waveguiding film 4 . Accordingly, the dark line 14 within the diverging, reflected light beam 15 would also change.
In der Figur ist strichliniert eine auf dem Wellenleiter 4 bzw. dem wellenleitenden Film befindliche sensitive Schicht 16 angedeutet. Diese sensitive Schicht kann bevorzugt aus einem Material der Substanzklasse Heteropolysiloxane (HPS) bestehen. Eine solche HPS-Schicht ändert unter dem Einfluß des zu messenden Stoffes ihre Brechzahl und beeinflußt damit auch die effektive Brechzahl.In the figure, a sensitive layer 16 located on the waveguide 4 or the waveguiding film is indicated by dashed lines. This sensitive layer can preferably consist of a material of the substance class heteropolysiloxanes (HPS). Such an HPS layer changes its refractive index under the influence of the substance to be measured and thus also influences the effective refractive index.
Besonders vorteilhaft ist bei Verwendung einer HPS-Schicht 16, daß auch Gasmessungen durchgeführt werden können. Die HPS- Schicht kann auch selbst die lichtleitende Schicht 4 bilden.It is particularly advantageous when using an HPS layer 16 that gas measurements can also be carried out. The HPS layer can also form the light-guiding layer 4 itself.
Durch gezielte Auswahl der sensitiven Schicht 16 oder des Wellenleiters 4 aus der Substanzklasse der Heteropolysiloxane können spezielle Stoffe selektiv erfaßt werden.By specifically selecting the sensitive layer 16 or the waveguide 4 from the substance class of the heteropolysiloxanes, special substances can be detected selectively.
Erwähnt sei noch, daß bei Verwendung einer HPS-Schicht sowohl Flüssigkeiten als auch Gase gemessen werden können. It should also be mentioned that when using an HPS layer, both Liquids as well as gases can be measured.
Erwähnt sein noch, daß auf dem Substrat 3 auch mehrere Meßbereiche nebeneinander angeordnet sein können. Beispielsweise könnten in den unterschiedlichen Bereichen auch unterschiedliche sensitive Schichten 16 vorgesehen sein, so daß bei der Untersuchung eines Stoffes unterschiedliche Stoffkomponenten bestimmbar sind.It should also be mentioned that a plurality of measuring ranges can also be arranged next to one another on the substrate 3 . For example, different sensitive layers 16 could also be provided in the different areas, so that different substance components can be determined when examining a substance.
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