DE4022028A1 - Verfahren zum bestimmen der guete des vergusses von in bechern eingebauten elektrischen schichtkondensatoren - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen der Güte des Vergusses von in Bechern eingebauten elektrischen Schichtkonden­ satoren.

Elektrische Schicht- bzw. Stapelkondensatoren werden in der Art hergestellt, daß auf eine Trommel metallisierte Kunststoffolien zu einem sogenannten "Mutterkondensator" aufgewickelt werden. Dieser Mutterkondensator wird noch auf der Trommel an den beiden Stirnseiten mit einer Schoopschicht versehen, an die später die elektrischen Anschlüsse des Kondensators ankontaktiert werden. Die Einzelkondensatoren werden durch Zersägen des "Mutterkondensa­ tors" hergestellt.

Durch das geschilderte Verfahren zur Herstellung der Schicht­ kondensatoren liegen somit an den beiden gegenüberliegenden Schnittflächen die regenerierfähig dünnen Metallschichten der Kondensatorbeläge offen und sind den atmosphärischen Einflüssen ungeschützt ausgesetzt. Insbesondere unter dem Einfluß von Feuchtigkeit oxidieren die dünnen Metallschichten, so daß die Kondensatoren mit der Zeit große Kapazitätsverluste aufweisen können.

Um diese Schwierigkeiten zu umgehen, werden die Kondensatoren in Kunststoffbecher eingebaut, wobei die Becher mit einem Gießharz aufgefüllt werden.

Ist dieser Verguß nun aus irgendeinem Grund fehlerhaft, können die geschilderten Schwierigkeiten auftreten, so daß sich die elektrischen Eigenschaften des Kondensators stark verschlech­ tern. Außerdem besitzen fehlerhaft vergossene Kondensatoren eine geringere mechanische Belastbarkeit. Bisher ist es üblich, die vergossenen Kondensatoren manuell und visuell auszusondern, was aber nicht ausreicht, da fehlerhafter Verguß im Inneren, z. B. Luftblasen, von außen nicht sichtbar ist.

Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine sichere Methode zur Er­ kennung von fehlerhaftem Verguß bei in Bechern eingebauten elek­ trischen Schichtkondensatoren anzugeben.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Be­ cheröffnung mit einer Elektrode abgetastet wird, daß die Elek­ trode mit einer Spannungsquelle verbunden ist, deren Massean­ schluß an einen oder beide Anschlüsse des Kondensators gelegt ist und daß im Stromkreis Mittel angeordnet sind, mit denen bei fehlerhaftem Verguß auftretende Stromimpulse bestimmt werden.

Vorteilhafterweise wird das Verfahren mit einer angespitzten Elek­ trode durchgeführt, die vorzugsweise an eine Spannung von 500 bis 1200 Volt gelegt wird.

Das Verfahren nach der Erfindung beruht darauf, daß bei nicht oder nur teilweise vergossenen Kondensatoren die Spannungsfe­ stigkeit der Kondensatorbeläge an der Sägefläche überschritten wird und ein Funkenüberschlag erfolgt. Durch diesen Stromimpuls erkennt man die fehlerhaft vergossenen Kondensatoren, die dann beispielsweise automatisch aussortiert werden können.

Sind die Kondensatoren dagegen vollständig mit Vergußmasse be­ deckt, entsteht durch diese Vergußmasse eine Isolierschicht, so daß ein Funkenüberschlag vermieden wird.

Durch das Verfahren gemäß der Erfindung lassen sich somit in einfacher und sicherer Weise fehlerhaft vergossene Kondensatoren erkennen und aussortieren.

Claims (3)

1. Verfahren zum Bestimmen des Vergusses von in Bechern einge­ bauten elektrischen Schichtkondensatoren, dadurch gekennzeichnet, daß die Becher­ öffnung mit einer Elektrode abgetastet wird, daß die Elektrode mit einer Spannungsquelle verbunden ist, deren Massenanschluß an einen oder beide Anschlüsse des Kondensators gelegt ist und daß im Stromkreis Mittel angeordnet sind, mit denen bei fehler­ haftem Verguß auftretende Stromimpulse bestimmt werden.

2. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeich­ net durch die Verwendung einer angespitzten Elektrode.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß an die Elektrode eine Spannung von 500 bis 1200 V gelegt wird.