DE399846C - Double image microscope for measuring distances - Google Patents

Double image microscope for measuring distances

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DE399846C DEZ13724D DEZ0013724D DE399846C DE 399846 C DE399846 C DE 399846C DE Z13724 D DEZ13724 D DE Z13724D DE Z0013724 D DEZ0013724 D DE Z0013724D DE 399846 C DE399846 C DE 399846C
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    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/04Measuring microscopes

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Description

Doppelbildmikroskop zum 1Vfessen von Strecken. Ein bekanntes Hilfsmittel zum mikroskopischen Messen von Strecken, beispielsweise Maßstäben, Gewindegängen, Teilungen o. dgl., ist das Doppelbildmikroskop, mit welchem die Bilder der beiden Endpunkte der Meßstrecke optisch zur Deckung gebracht werden und bei dem das Maß der gegenseitigen Drehung oder Verschiebung der optischen Glieder, das zum Erreichen der Decklage der beiden Bilder erforderlich ist, den gesuchten Wert liefert. Die Hauptstrahlen der abbildenden, dem Gegenstand zugekehrten (gegenstandsseitigen) Strahlenbüschel verlaufen bei den im allgemeinen üblichen Ausführungen dieses 1vIeßgeräts konvergent. Ein derartiger Strahlenverlauf hat den Nachteil, daß kleine Verschiebungen des Mikroskops in seiner Achsenrichtung, also ungenaue Einstellungen des 'lel.iger:its auf den Gegenstand, wegen der Konvergenz der Hauptstrahlen itii Gegenstandsraume eine Änderung der gegenseitigen Lage der Bilder zweier allgebildeten Punkte bewirken. Es kann demzufolge eine einer falschen Einstellung entsprechende Drehung oder Verschiebung optischer Glieder des Doppelbildmikroskops nötig sein, um die beiden Bilder zur Deckung zu bringen. Demgemäß kann der aus dein Maß der Drehung oder Verschiebung ermittelte Wert des Abstandes der beiden Punkte, also der Meßstrecke, mit einem unerwünschten Meßfehler behaftet sein. Diesen Fehler auszuschalten ist der Zweck der Erfindung.Double image microscope for measuring distances. A well-known tool for microscopic measurement of distances, e.g. scales, threads, Divisions or the like, is the double image microscope, with which the images of the two End points of the measuring section are optically brought to congruence and at which the measure the mutual rotation or displacement of the optical links necessary to achieve the top layer of the two images is required, the one you are looking for value supplies. The main rays of the imaging, facing the object (object-side) Beams of rays run in the generally customary designs of this measuring device convergent. Such a beam path has the disadvantage that small displacements of the microscope in its axial direction, i.e. imprecise settings of the 'lel.iger: its on the object, because of the convergence of the chief rays itii object spaces cause a change in the mutual position of the images of two generalized points. As a result, rotation or displacement corresponding to an incorrect setting can occur optical elements of the double image microscope may be necessary to display the two images To bring cover. Accordingly, it can be your degree of rotation or displacement determined value of the distance between the two points, i.e. the measuring distance, with a be subject to undesirable measurement errors. The purpose is to eliminate this error the invention.

Die Lösung dieser Aufgabe gelingt, indem nian von dein bekannten Gedanken Gebrauch macht, den Gang der Hauptstrahlen der abbildenden Büschel gegenstandsseitig einen parallelen Verlauf zu geben. Erstreckt sich, wie im vorliegenden Falle, die Messung nur auf Strecken, also lineare Größen, so genügt es, den Hauptstrahlen der gegenstandsseitigen, die Endpunkte der Meßstrecke abbildenden Büschel in ihrer Projektion auf eine zur optischen Achse des Mikroskops parallele Ebene durch die Meßstrecke parallelen Verlauf zu geben. Die Hauptstrahlen der bildseitigen Büschel sind dann konvergent und schneiden sich in der gleichen Projektion in einem Punkte der Bildebene des 'Mikroskops, wobei der Einfluß ungenauer Einstellung des Mikroskops ausgeschaltet ist.The solution to this problem succeeds by removing nian of your known thoughts Makes use of the course of the main rays of the imaging tufts on the object side to give a parallel course. As in the present case, the Measurement only on distances, i.e. linear quantities, it is sufficient to identify the main rays of the the object-side tufts depicting the end points of the measurement section in their projection on a plane parallel to the optical axis of the microscope through the measuring section to give parallel course. The main rays of the image-side tufts are then convergent and intersect in the same projection at a point on the image plane of the microscope, the influence of inaccurate setting of the microscope being eliminated is.

Aus der Konvergenz der Hauptstrahlen der bildseitigen Büschel folgt, daß die Projektionen der Büschelduerschnitte zwar in der Bildebene in einem Punkt zusammenfallen, dagegen von jedem Büschel eine Austrittspupille erzeugt wird, deren Projektionen um so weiter voneinander entfernt liegen, je länger die 'Meßstrecke ist. Infolge der Beschränknng der Größe seiner Augenpupille auf wenige 'Millimeter Durchmesser, kann es dem Beobachter deshalb in manchen Fällen unmöglich werden, die zusaininenfallenden Bilder der Endpunkte der 'Meßstrecke gleichzeitig zu sehen. Abgesehen davon kann der Umstand, daß die abbildenden Büschel verhältnismäßig weit auseinanderliegende Teile <fier Augenpupille treffen, infolge der Unregelmäßigkeiten im brechenden Gliede des Auges zu Fehlern bei der Einstellung des Mikroskops auf den Gegenstand führen. Die Hauptstrahlen der abbildenden Büschel, welche, von dein gemeinsamen Bildpunkte in der Bildebene des Mikroskops koinniend, nach den Flächenschwerpunkten der beiden Aus- trittspupillen streben, verlaufen auf ihrem Wege von der Bildebene zum Okular diver- gent. Eine Einstellung des Okulars auf eine von der Bildebene abweichende Ebene oder @ erschiedene Alcl<oniniotlatic:n des Auges lies Beollachters bewirkt deshalb eine lnderung in der scheinbaren Lage der Bilder der Eii(l- punkte der Mel:9strerke ui r1 kann die Ursache eine lleßfelilers sein. Gemäß der Erfindung kann man zur Vermeidung dieses Fehlers das Gerät weiterhin vervollkommnen, indem man durch geeignete Wahl und Anordnung der optischen Teile des Mikroskops dafür sorgt, 4iaß die Hauptstrahlen der bildseitigen, die Endpunkte der 'Meßstrecke abbildenden Büschel in der Projektion auf eire zur opti- schen Achse des 'Mikroskops parallele Ebene durch die Meßstrecke zusammenfallen. Die Projektionen der Austrittspupillen decken. sich dann lwi jeder Lage der Endpunk:e der 'leßstrecke. In den Abbildungen ist an fünf Ausfüh- rungsbeispielen des neuen Meßgeräts der Ver- lauf der allbildenden Strahlenbüschel darge- stellt. Das zweite Beispiel (Abh. .I und ä zeigt sowohl die optische als auch die mecha- nische Einrichtung. die übrigen Beispiele (Abb. i bis 3 und 6 bis i.1) geben in sche- matischer Darstellwig nur die optische H-in- richtung des Instruments wieder. Abb. i zeigt eine Projektion auf eine zur optischen Achse des Mikroskop; parallele Ebene durch eine 'leßstrecke, die durch ihre Endpunkte.-1 und B bezeichnet ist; Abb. 2 stellt einen Schnitt nach der Linie 2-2 der Abb. i im Grundriß dar. Das Mikroskop ist eingestellt auf die Punkte .1 und ß. Das ab- bildende Objektivsvstem besteht aus zwei gleichen Vordergliedern dl und a=', die in Richtung der Meßstrecke gegenläufig beweg- lich sind und deren jeweiliger Mittenabstand an einer Anzeigevorrichtung allgelesen wer- den kann, und einem Hintergliede h. Die Vorderglieder sind als Halbli!isen ausgebil- det, uni sie auch bei sehr kleinen Meßstrecken veru-enden zu können. Die Beobachtung des vorn Objektivsvstem entworfenen Bildes kann finit einem Okular erfolgen, welches aus einer Feldlinse c und einer Augenlinse d besteht. Die von den Punkten .,1 und B ausgesandten Abbildungsstrahlenbüschel halsen infolge der Form der Halblinsen a' und u2 liallikreisfi»)r- inigen Querschnitt. Ihre Haupts-rahlen durchsitzen die Halillinsen in zwei Punkten C und D, welche den Schwerpunkten der Hal?i- kreisflächen entsprechen, Der Verlauf der Hauptstrahlen ist gemäß der Erfindung in der in Abb. r dargestellten Projektion gegenstandsseitig parallel. Zwischen den Linsen des Objektivsystems u1 bzw. a2 und b sind die abbildenden Büschel parallelstrahlig: unter der Voraussetzung richtiger Einstellung muß die ließstrecke A-B demgemäß in der gemeinsamen vorderen Brennebene der Halblinsen a' und a2 und die Bildebene, die von den Büscheln in einem Punkte E durchstoßen wird, in der hinteren Brennebene des Hintergliedes b liegen. Die Büschel schneiden sich im Punkte E und ergeben zwei halbkreisförmige Austrittspupillen e1 und e2, die in Abb. 3 in vergrößertem Maßstabe dargestellt sind, und deren Flächenschwerpunkte F und G wiederum die Durchstoßpunkte der Hauptstrahlen bilden.From the convergence of the main rays of the tufts on the image side it follows that the projections of the tuft cross sections coincide at one point in the image plane, but each tuft produces an exit pupil, the projections of which are farther apart, the longer the measurement path. As a result of the restriction of the size of the pupil of the eye to a few millimeters in diameter, it may therefore be impossible for the observer in some cases to see the coincident images of the end points of the measuring section at the same time. Apart from this, the fact that the imaging tufts hit parts of the eye pupil that are relatively far apart can lead to errors in the adjustment of the microscope to the object as a result of the irregularities in the refractive element of the eye. the Main rays of the imaging tufts, which, of your common pixels in coinciding with the image plane of the microscope the focal points of the two Stepping pupils strive, run on yours Paths from the image plane to the eyepiece differ gent. An adjustment of the eyepiece to a plane deviating from the image plane or @ different alcl <oniniotlatic: n of the eye reads Beollachters therefore causes a change in the apparent position of the pictures of the Eii (l- Points of Mel: 9strerke ui r1 can be the cause be a lessfelilers. According to the invention one can help avoid this error continue to perfect the device by one by suitable choice and arrangement the optical parts of the microscope for this ensures that the main rays of the image-side, depicting the end points of the 'measuring section Tufts in the projection on eire for optimal c axis of the 'microscope parallel plane coincide through the test section. the Cover projections of the exit pupils. then lwi each position the end point: e the 'lesser distance. The figures show five models examples of the new measuring device of the the course of the all-forming bundles of rays represents. The second example (Dep. I and similar shows both the optical and the mechanical niche facility. the remaining examples (Fig. I to 3 and 6 to i.1) give in matic representation only the optical H-in direction of the instrument again. Fig. I shows a projection on a to optical axis of the microscope; parallel Level through a 'leßstraße, which runs through their Endpoints.-1 and B is labeled; Fig. 2 represents a section along line 2-2 of the Fig. I in plan. The microscope is set to points .1 and ß. The ab- forming lens system consists of two same fore links dl and a = ', which in In the opposite direction of the measuring path. and their respective center-to-center distance be read all on a display device den can, and a hind limb h. the Forelegs are trained as half-legs det, uni it even with very small measuring distances to be able to end. The observation of the image designed in front of the lens system finitely done with an eyepiece, which consists of a Field lens c and an eye lens d. Those sent out by points., 1 and B. Image ray bundles jibe as a result of the Shape of the half lenses a 'and u2 liallikreisfi ») r- small cross-section. Your main owls the halo lenses sit through at two points C and D, which are the focal points of the Hal? i- circular areas correspond, the course of the Principal rays are according to the invention in parallel to the projection shown in Fig. r on the object side. Between the lenses of the objective system u1 or a2 and b, the imaging clusters are parallel-beamed: provided that the setting is correct, the distance AB must accordingly be in the common front focal plane of the half lenses a 'and a2 and the image plane that is formed by the clusters at a point E. is pierced, lie in the rear focal plane of the rear limb b. The tufts intersect at point E and result in two semicircular exit pupils e1 and e2, which are shown on an enlarged scale in Fig. 3, and whose centroids F and G in turn form the intersection points of the main rays.

Um mit dem dargestellten Meßgerät eine Strecke zu messen, stellt man das Mikroskop so ein, daß die beiden Endpunkte A und B der Strecke in eine zur Mikroskopachse im Punkt E senkrechte Ebene scharf abgebildet werden, auf welche das Okular eingestellt wird. Man verschiebt dann die Bilder beider Punkte durch Verändern des gegenseitigen Abstandes der beiden Halblinsen a1 und a2 so lange, bis sie in einem Punkte zusammenfallen. Der Abstand der Linsenmittelpunkte entspricht dann der gesuchten Länge der Meßstrecke.In order to measure a distance with the measuring device shown, the microscope is set so that the two end points A and B of the distance are sharply imaged in a plane perpendicular to the microscope axis at point E, on which the eyepiece is adjusted. The images of both points are then shifted by changing the mutual spacing of the two half-lenses a1 and a2 until they coincide at one point. The distance between the lens centers then corresponds to the length of the measurement path sought.

Abb. d. stellt, teilweise im Schnitt, ein zweites Ausführungsbeispiel der Erfindung dar. Am unteren Ende eines zylindrischen Mikroskopkörpers f ist eine Objektivlinse g mit ihrer Fassung g1 angeschraubt, die in eine in der hinteren Brennebene gelegene Blende g2 ausläuft. Im Innern des Mikroskopkörpers f befindet sich ein mit einer Zahnstange lzl ausgeriisteter Innenzylinder 1a2, der die Fassung eines gläsernen Doppelkeils h bildet und mittels eines Triebes f 1 und eines Zahnrades f 2 in der Achsenrichtung des Mikroskops bewegt werden kann. Das Maß dieser Bewegung kann auf einer am Trieb f1 angebrachten Teilung f2 an einem Zeiger f4 abgelesen werden. Am oberen Ende des Mikroskopkörpers f befindet sich ein Okularansatz f 5 mit einer Feldlinse c und einer Augenlinse d. Die Büschel der Abbildungsstrahlen zweier Endpunkte A und B einer Meßstrecke, auf welche das Mikroskop eingestellt ist,. haben infolge ihrer Einschnürung durch die Blend'eg2 kreisförmigen Querschnitt. Ihre Hauptstrahlen verlaufen im Gegenstandsraume parallel und durchsetzen die Blendegl in ihrem Mittelpunkte H. Die Büschel «erden durch den Doppelkeil h einander zugebrochen und bilden die Punkte A und' B auf der in einem Punkte E der 14iikroskopachse senkrechten Bildebene ab. Sie erzeugen zwei Austrittspupillen e1 und e2, die in Abb. 5 in vergrößertern Maßstabe wiedergegeben sind. Diese Austrittspupillen e1 und e2 haben kreisförmigen Querschnitt und werden von den Hauptstrahlen in zwei Punkten. F und G durchstoßen, die sich mit den Kreismittelpunkten decken. Ist die Teilung f ' so geeicht, daß am Zeiger f4 jeweils die der Stelhmg des Innenzylinders lag entsprechende Entfernung der gegenstandsseitigen Hauptstrahlen voneinander angezeigt wird, so kann die Größe der Meßstrecke ohne weiteres abgelesen werden, wenn die Bilder der Endpunkte A und B im Punkte E zum Zusammenfallen gebracht sind. An Stelle des verschiebbaren Doppelkeils Ti. könnten in bekannter Weise auch zwei drehbare, planparallele Platten Verwendung finden, die um zur Mikroskopachse senkrechte Achsen um entgegengesetzt gleiche Winkel drehbar sind.Fig. D. shows, partially in section, a second embodiment of the invention. At the lower end of a cylindrical microscope body f, an objective lens g is screwed with its mount g1, which ends in a diaphragm g2 located in the rear focal plane. Inside the microscope body f there is an inner cylinder 1a2 equipped with a rack lzl, which forms the mount of a glass double wedge h and can be moved in the axial direction of the microscope by means of a drive f 1 and a gear f 2. The extent of this movement can be read from a graduation f2 attached to the drive f1 on a pointer f4. At the upper end of the microscope body f there is an eyepiece attachment f 5 with a field lens c and an eye lens d. The clusters of the imaging rays of two end points A and B of a measuring section to which the microscope is set. have a circular cross-section due to their constriction by the Blend'eg2. Their main rays run parallel in the subject space and pass through the blends at their center point H. The tufts are broken up by the double wedge h and depict points A and B on the image plane perpendicular to a point E of the microscope axis. They generate two exit pupils e1 and e2, which are shown in Fig. 5 on an enlarged scale. These exit pupils e1 and e2 have a circular cross section and are drawn by the chief rays in two points. Pierce F and G, which coincide with the circle centers. Is the pitch f calibrated 'that the pointer to the Stelhmg f4 each of the inner cylinder was corresponding distance of the object-side principal rays is shown from each other, so the size of the measuring section can be read readily when the images of the end points A and B at the point E are brought to collapse. Instead of the displaceable double wedge Ti., Two rotatable, plane-parallel plates could also be used in a known manner, which can be rotated about axes perpendicular to the microscope axis by oppositely equal angles.

Die beiden soeben beschriebenen Beispiele betreffen Einrichtungen, die, obwohl .unempfindlich gegen ungenaue Einstellung des Gegenstandes mit dem Objektiv, immerhin noch empfindlich sind gegen ungenaue Einstellung des Okulars auf das in der Bildebene liegende Bild. In den drei folgenden Beispielen sind solche Ausführungen des neuen Meßgeräts dargestellt, die diesen Nachteil nicht haben, da im Bildraume jeweils die Hauptstrahlen der beiden abbildenden Büschel der Endpunkte einer Meßstrecke in der Projektion auf eine zur Mikroskopachse parallele Ebene durch die Meßstrecke zusammenfallen. Im dritten Ausführungsbeispiel, von welchem Abb. 6 einen schematischen Aufriß, Abb. 7 einen Schnitt nach der Linie 7-7 der Abb. 6 im Grundriß darstellt, besteht das Ob j ektivsvstem des Mikroskops aus einem Vordergliede ca und zwei gleichen, halbkreisförmigen Hintergliedern b1 und b2, die in Richtung der Meßstrecke gegenläufig beweglich sind und deren jeweiliger Mittenabstand an einer Anzeigevorrichtung ablesbar gedacht ist. Sie sind als plankonvexe Sammellinsen ausgebildet und liegen mit ihrer Planfläche in der Brennebene des Vordergliedes a, in welcher außerdem eine Blende g2 angebracht ist, deren Mittelpunkt H auf die optische Achse des Mikroskops fällt. Die Beobachtung der entstehenden Bilder kann mit einem aus einer Feldlinse c und einer Augenlinse d bestehenden Okular erfolgen. Die Hauptstrahlen der abbildenden Büschel der beiden Endpunkte A und B einer Meßstrecke sind in der Projektion der Abb. 6 im Gegenstandsraume parallel und haben halbkreisförmigen Querschnitt, der einesteils durch die Blende g2, andernteils zeigevorrichtungablesbar gedacht ist. Sie sind durch die Trennungsfläche der beiden Halblinsen b1 und. b2 bedingt ist. Die gleichfalls halbkreisförmigen, aus dem Einwirken je- weils der anderen der beiden Halblinsen b1 und bz mit den von den Punkten A und B herrührenden, von der Blende g= begrenzten Büschel werden durch die Halblinsen von der Mikroskopachse weggebrochen. Sie sind in der Zeichnung nicht angegeben und kominen für die Abbildung nicht in Betracht. Die Hauptstrahlen der in den Punkten A und B entspringenden Abbildungsbüschel durchsetzen die Blende g2 und die Halblinsen b1 und b2 in zwei Punkte i J und K (Abb. 7), die von der Blendeninitte H verschieden sind und den Schwerpunkten der durch die Trennungsfläche der Halblinsen bi und b2 geschiedenen halben Blendenflächen entsprechen. Iin weiteren Verlaufe schneiden sich die Büschel in einem Punkte E und ergeben zwei halbkreisförmige Austrittspupillen e1 und e2, die in Abb. 8 in vergrößertem Maßstabe dargestellt sind und deren Flächenschwerpunkte F und G wiederum die Durchstoßpunkte der Hauptstrahlen bilden.The two examples just described relate to devices which, although insensitive to imprecise adjustment of the object with the objective, are at least sensitive to imprecise adjustment of the eyepiece to the image lying in the image plane. In the three following examples, those versions of the new measuring device are shown that do not have this disadvantage, since in the image space the main rays of the two imaging clusters of the end points of a measuring section coincide in the projection onto a plane parallel to the microscope axis through the measuring section. In the third embodiment, of which Fig. 6 is a schematic elevation, Fig. 7 is a section along the line 7-7 of Fig. 6 in plan, the objective system of the microscope consists of a front section ca and two identical, semicircular rear sections b1 and b2, which are movable in opposite directions in the direction of the measuring section and whose respective center-to-center spacing is intended to be readable on a display device. They are designed as plano-convex converging lenses and their flat surface lies in the focal plane of the front element a, in which a diaphragm g2 is also attached, the center point H of which falls on the optical axis of the microscope. The resulting images can be observed with an eyepiece consisting of a field lens c and an eye lens d. The main rays of the imaging clusters of the two end points A and B of a measuring section are parallel in the projection of Fig. 6 in the subject space and have a semicircular cross-section, which is intended to be readable on the one hand through the aperture g2 and on the other hand through the pointing device. You are through the separation surface of the two half lenses b1 and. b2 is conditional. The likewise semi-circular, from the action in each case the other of the two half-lenses b1 and bz with coming from the points A and B, of the aperture g = limited tufts are broken away by the half-lenses of the microscope axis. They are not specified in the drawing and cannot be considered for the illustration. The main rays of the image tufts originating in points A and B penetrate the diaphragm g2 and the half-lenses b1 and b2 at two points i J and K (Fig. 7), which are different from the center H of the diaphragm and the centers of gravity of the half-lenses through the separation surface bi and b2 correspond to divided half diaphragm surfaces. In a further course, the tufts intersect at a point E and result in two semicircular exit pupils e1 and e2, which are shown on an enlarged scale in Fig. 8 and whose centroids F and G in turn form the intersection points of the main rays.

Zum Messen einer Stecke mit dein Meßgerät stellt man das Mikroskop so ein, daß die beiden Endpunkte A und B in einer zur Mikroskopachse im Punkte E senkrechten Ebene scharf abgebildet werden, auf welche das Okular eingestellt wird. Ist die Anzeigevorrichtung so geeicht, daß jeweils die der Mittenentfernung der Halbl!i-nsen b1 und b2 entsprechende Entfernung der gegenstandsseitigen Hauptstrahlen voneinander angezeigt wird, so kann die Größe der Meßstrecke ohne weiteres abgelesen werden, wenn die Bilder der Punkte A und B durch N-eränd'erung des gegenseitigen Abstandes der beiden Halblinsen im Punkte F_ zum Zusammenfallen gebracht sind.To measure a stretch with your measuring device, the microscope is set so that the two end points A and B are sharply imaged in a plane perpendicular to the microscope axis at point E, on which the eyepiece is set. If the display device is calibrated in such a way that the distance between the main rays on the object side corresponding to the center distance of the halves b1 and b2 is displayed, the size of the measuring path can be read off easily if the images of points A and B are represented by N. change of the mutual distance between the two half lenses are brought to coincide at point F_.

Im vierten und fünften Ausführungsbeispiel, deren Aufrißschemata in den Abb. 9 und 12 wiedergegeben sind, sind Verbesse.. rungen des ersten Ausführungsbeispiels dargestellt. Abh. i o stellt einen Schnitt nach der Linie io-io der Ab. 9, Abb. 13 einen solchen nach der Linie 13-13 der Abb. 1Z im Grundriß dar. Zwischen den Vord'erglie-(leril ai bzw. a2 und dein H'intergliede b, zwischen denen die abbildenden Büschel parallelstrahlig sind, sind Prismen eingeschaltet, deren Aufbau aus den Abb. io und 13 1iervorgeht. In Abb. 9 erfährt das die Halblinse a1 durchsetzende Büschel durch vier gleichschenkligrechtwinklige Prismen i, k, 1 und 1l11 eine sechsmalige Spiegelung mit einer Ablenkung um je 9o°, so daß es parallel mit sich selbst und dem die Halblinse a= durchsetzenden Büschel in die Hinterlinse b eintritt. Die Halblinse a' mit den Prismen i und k ist in Richtung der _Ießstrecke verschiebbar, und ihr jeweiliger ilIittenallstaild von der Mitte der festen Halblinse a2 ist an einer Anzeigevorrichtung ablesbar gedacht. In Abb. 12 werden beide zueinander parallelen Büschel durch je zweimalige Spiegelung finit einer Ablenkung um je 9o° in drei gleichschenkligrechtwinkligen Prismen 1111, z11- und o parallel zu sich selbst verlegt, bevor sie die Hinterlinse b durchsetzen. Bei dieser Anordnung ist die Halblinse a1 mit dem Prisma 11l1 in Richtung der Meßstrecke verschiebbar und der jeweilige Abstand ihres Mittelpunktes von der Mitte der festen Halblinse & wiederum an einer Anzeigevorrichtung ablesbar gedacht. Die in beiden Fällen sich ergebenden Paare halbkreisförmiger Austrittspupillen e1 und' e2 sind in den Abb. i i und 14 in vergrößertem Maßstabe dargestellt und die mit den Schwerpunkten F .und G dieser Flächen zusammenfallenden Durchstoßpunkte der Hauptstrahlen angegeben. Das Meßverfahren entspricht dem beim ersten Ausführungsbeispiel angegebenen Verfahren.In the fourth and fifth exemplary embodiment, the elevation schemes of which are shown in FIGS. 9 and 12, improvements to the first exemplary embodiment are shown. Abh. Io represents a section along the line io-io of Ab. 9, Fig. 13 such a section along the line 13-13 of Fig. 1Z in plan. Between the Vord'erglie- (leril ai or a2 and your Behind elements b, between which the imaging tufts are parallel-beamed, prisms are switched on, the structure of which proceeds from Figs. 10 and 13. In Fig. 9, the tuft penetrating the half lens a1 is made up of four isosceles right-angled prisms i, k, 1 and 1111 a six-fold reflection with a deflection of 90 ° each, so that it enters the rear lens b parallel to itself and the tuft penetrating the half lens a. The half lens a ' with the prisms i and k is displaceable in the direction of the measuring path, and their respective overall profile from the center of the fixed half-lens a2 is intended to be readable on a display device.In Fig. 12, both tufts parallel to one another are finitely deflected by 90 ° in three isosceles right-wins by two reflections each Kligen prisms 1111, z11- and o are laid parallel to themselves before they penetrate the rear lens b. In this arrangement, the half lens a1 can be displaced with the prism 11l1 in the direction of the measuring section and the respective distance of its center point from the center of the fixed half lens is intended to be readable on a display device. The pairs of semicircular exit pupils e1 and 'e2 that result in both cases are shown on an enlarged scale in Figs. The measuring method corresponds to the method specified in the first exemplary embodiment.

Claims (3)

PATENTANSPRÜCHE: i. Doppelbildmikroskop zum Messen von Strecken, dadurch gekennzeichnet, daß die Hauptstrahlen der gegenstandsseitigen, die Endpunkte der Meßstrecke abbildenden Büschel in der Projektion auf eine zur optischen Achse des Mikroskops parallele Ebene durch die Meßstrecke parallel verlaufen. PATENT CLAIMS: i. Double image microscope for measuring distances, thereby characterized in that the main rays of the object-side, the endpoints of the Tufts depicting the measuring section in the projection onto a to the optical axis of the Microscope parallel plane run parallel through the measuring section. 2. Doppelbildmikroskop nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Hauptstrahlen der gegenstandsseitigen, die Endpunkte der Meßstrecke abbildenden Büschel einander parallel sind. 2. Double image microscope according to claim i, characterized in that the main rays of the object-side, the tufts depicting the end points of the measuring section are parallel to one another. 3. Doppelbildmikroskop nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Hauptstrahlen der bildseitigen, die Endpunkte der Meßstrecke abbildenden Büschel in der Projektion auf eine zur optischen Achse des Mikroskops parallele Ebene durch die Meßstrecke zusammenfallen.3. Double image microscope according to claim i, characterized in that the main rays of the image-side, the endpoints of the measuring section depicting tufts in the projection onto a for optical axis of the microscope parallel plane coincide through the measuring section.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE745733C (en) * 1939-03-03 1944-11-27 Projection device for testing and measuring purposes

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DE745733C (en) * 1939-03-03 1944-11-27 Projection device for testing and measuring purposes

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