DE3931542A1

DE3931542A1 - Optischer magnetfeldsensor

Info

Publication number: DE3931542A1
Application number: DE19893931542
Authority: DE
Inventors: Thomas Dr Bosselmann; Gerhard Bueck
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1989-09-21
Filing date: 1989-09-21
Publication date: 1991-04-04

Description

Die Erfindung bezieht sich auf einen optischen Magnetfeldsen sor gemäß dem Oberbegriff des Hauptanspruches.

Zur Messung physikalischer Größen, wie z. B. Strom oder Magnet feld, sind als Meßwertaufnehmer insbesonders optische Sensoren geeignet, welche die zu messende Größe in ein optisches Signal umwandeln. Die Vorteile optischer Sensoren bestehen im wesent lichen darin, daß keine elektrischen Leitungen zur Strom- und Spannungsversorgung des Meßwertaufnehmers zur Signalübertragung zwischen einer Auswerteeinheit und Meßwertaufnehmer erforder lich sind. Meßwertaufnehmer und Auswerteeinheit sind somit galvanisch getrennt und können ohne besondere Schutzmaßnahmen beispielsweise in der Hochspannungstechnik eingesetzt werden. Ein weiterer Vorteil besteht darin, daß faseroptische Sensoren auch bei größeren Übertragungsstrecken unempfindlich gegen elektromagnetische Störfelder sind.

Zur optischen Messung eines Magnetfeldes eignet sich dabei der sogenannte Faraday-Effekt, durch den die Polarisationsebene eines linear polarisierten Lichtes, das sich in einem Medium ausbreitet, gedreht wird. Die Drehung dieser Polarisationsebene hängt dabei sowohl von den Materialeigenschaften des durchstrah lten Mediums, als auch von der Magnetfeldstärke entlang des Lichtweges ab.

In /1/ ist eine Meßanordnung zur Strommessung offenbart, bei der die Faraday-Drehung der Polarisationsebene eines sich in einer optischen Faser ausbreitenden linear polarisierten Licht strahls ausgenutzt wird. Zu diesem Zweck ist die Faser um einen stromführenden Leiter in mehreren Windungen herumgelegt und bildet eine Meßspule. Als optische Faser wird eine Monomode- Lichtleitfaser verwendet. Ein Ende der Faser ist über einen ersten Strahlteiler mit einer Lichtquelle, die monochromati sches, linear polarisiertes Licht erzeugt, optisch gekoppelt. Als Lichtquellen sind beispielsweise He-Ne-Laser oder GaAlAs- Laser geeignet. Das in die Faser eingekoppelte Licht breitet sich im Bereich der Meßspule annähernd parallel zum Magnetfeld aus und erfährt durch das Magnetfeld eine Drehung seiner Pola risationsebene. Der Drehwinkel α hängt von der Länge des Licht wegs, von der Verdet-Konstante und von der entlang des Licht weges wirksamen Komponente des Magnetfeldes ab. Das andere Ende der Faser ist verspiegelt, so daß das Licht dort reflek tiert wird und die Faser in umgekehrter Richtung durchläuft. Mit Hilfe des ersten Strahlteilers wird das Licht über einen zweiten Strahlteiler zwei gekreuzten Analysatoren zugeführt, denen jeweils ein Lichtempfänger, beispielsweise Fotodioden, zugeordnet ist. Die Differenz der mittels der Fotodioden ge messenen Intensitäten stellt ein Maß für den Drehwinkel α dar. Mit einer reflexiven Meßanordnung kann zwar die intrinsische zirkulare Doppelbrechung der optischen Faser weitgehend kom pensiert werden, nicht jedoch deren lineare Doppelbrechungs eigenschaften.

Durch die lineare Doppelbrechung in der magnetfeldempfindlichen Meßstrecke wird im allgemeinen linear polarisiertes Licht in elliptisch polarisiertes Lichtes umgewandelt, dessen Hauptachse gegenüber der Polarisationsebene des eingekoppelten Lichtes auch bei Abwesenheit eines Magnetfeldes verdreht ist. Dieser Effekt spielt insbesondere bei der Verwendung von optischen Lichtleitfasern als magnetfeldempfindliche Meßstrecke eine Rolle, da deren lineare Doppelbrechungseigenschaften besonders ausgeprägt von umgebungsabhängigen Einflüssen, wie beispiels weise der Temperatur und den von außen auf die Faser einwir kenden mechanischen Kräften, unterworfen sind. In den bekannten reflexiven oder transmissiven Meßanordnungen kann dies auch dann zu einer erheblichen Verfälschung des Meßsignals führen, wenn als optische Fasern sogenannte low birefringent-Fasern verwendet werden, da auch bei diesen Fasern eine temperaturab hängige spannungsinduzierte Doppelbrechung nicht vermieden wer den kann (/2/).

Aus diesem Grund ist deshalb in /3/ vorgeschlagen worden, die störenden linearen Doppelbrechungseigenschaften der optischen Faser dadurch zu eliminieren, daß die Faser bereits beim Zieh prozeß verdrillt wird, um auf diese Weise die lineare Doppel brechung in eine "quasi-zirkulare" Doppelbrechung umzuwandeln, die sich bei einer reflexiven Meßanordnung durch die Rezipro zität des Lichtwegs praktisch nicht auf das Meßsignal auswirkt. Auch durch diese Maßnahme können jedoch von außen durch mecha nische Kräfte induzierte Doppelbrechungsanteile mit in der Re gel unbekannter Hauptachsen-Orientierung ebenfalls nicht kom pensiert werden, so daß eine restliche lineare Doppelbrechung und eine dadurch hervorgerufene Restelliptizität des Meßstrah les nicht vermieden werden kann.

Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, einen optischen Magnetfeldsensor anzugeben, mit dem eine durch eine elliptische Polarisation des Meßstrahls hervorgerufene Verfälschung des Meßergebnisses weitgehend vermieden werden kann.

Die genannte Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst mit dem Kenn zeichen des Hauptanspruches. Der Polarisationszustand des transmittierten Lichtstrahls nach Durchqueren der magnetfeld empfindlichen Meßstrecke wird sowohl beeinflußt durch die vom Magnetfeld induzierte zirkulare Doppelbrechung als auch durch die intrinsischen Doppelbrechungseigenschaften des in der magnetfeldempfindlichen Meßstrecke verwendeten magnetoopti schen Bauteils. Die Elliptizität des transmittierten Lichtes stellt dabei ein Maß für diese Doppelbrechungseigenschaften dar. Diese Elliptizität wird neben der Lage der Hauptachsen bei einer vollständigen Polarisationsanalyse erfaßt und kann dazu verwendet werden, den durch die Faraday-Drehung alleine her vorgerufenen Drehwinkel α₀ zu bestimmen. Der Faraday-Drehwin kel α₀ kann dabei durch eine von der Elliptizität ε abhängige Korrektur der Lage der Hauptachse α der Polarisationsellipse bestimmt werden. Dies kann beispielsweise dadurch geschehen, daß in einer der Analysatoreinrichtung zugeordneten Auswerte einheit die entsprechenden funktionalen Zusammenhänge α₀ (α, ε) für eine gegebene magnetfeldempfindliche Meß strecke gespeichert sind.

Für die magnetfeldempfindliche Meßstrecke sind dabei insbeson dere magnetooptische Bauteile bevorzugt, deren intrinsischen linearen Doppelbrechungseigenschaften gering sind. In der magnetfeldempfindlichen Meßstrecke sind daher vorzugsweise sogenannte low birefringent optische Fasern vorgesehen.

Geeignete Analysatoreinrichtungen zur vollständigen Polarisa tionsanalyse sind im Stand der Technik bekannt (/4/, /5/). Diese bekannten Polarimeter enthalten jedoch stets wenig stens eine optische Komponente, die zur Polarisationsanalyse mechanisch verdreht oder verschoben werden muß. So muß bei spielsweise bei einem aus einer λ/4-Platte und einem Polari sationsstrahlteiler aufgebauten Polarimeter die λ/4-Platte so lange verdreht werden, bis die elliptische Polarisation des Meßstrahls in eine lineare Polarisation umgewandelt wird. Die Orientierung der λ/4-Platte enthält dann zusammen mit den hin ter dem Polarisationsstrahlteiler gemessenen Intensitäten die komplette Information über den Polarisationszustand. Eine mit beweglichen Teilen versehene Analysatoreinrichtung ist jedoch technisch sehr aufwendig und verschleißanfällig und somit in ihren praktischen Einsatzmöglichkeiten beschränkt.

In einer besonders vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist deshalb eine Analysatoreinrichtung zur vollständigen Pola risationsanalyse vorgesehen, bei der vom transmittierten Licht strahl drei Meßstrahlen abgetrennt werden, die jeweils einem Polarisationsstrahlteiler zugeführt werden. Dabei ist wenig stens einem Polarisationsstrahlteiler eine λ/4-Platte vorge schaltet. Die komplette Information über den Polarisationszu stand läßt sich aus den Intensitäten der aus den Polarisations strahlteilern austretenden polarisierten Teilstrahlen er mitteln. Mit dieser Anordnung ist eine Bestimmung des Polari sationszustandes ohne mechanisch bewegliche Teile möglich.

Besonders einfache Verhältnisse für die Ermittlung des Polari sationszustandes aus den Intensitäten der Teilstrahlen ergeben sich dann, wenn die λ/4-Platte und der ihr nachgeschaltete Po larisationsstrahlteiler bezüglich ihrer Hauptachsen um 45° zu einander gekreuzt sind. Die beiden anderen Polarisationsstrahl teiler sind vorzugsweise ebenfalls zueinander um 45° gekreuzt, wobei die Lage der Hauptachsen eines dieser Polarisations strahlteiler vorzugsweise mit der Lage der Hauptachsen des der λ/4-Platte nachgeschalteten Polarisationsstrahlteilers über einstimmt.

In einer bevorzugten Ausführungsform des optischen Magnetfeld sensors sind die zur Berechnung des Polarisationszustandes aus den gemessenen Intensitäten erforderlichen Mittel in der Analysatoreinrichtung enthalten.

In einer besonders bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung sind außerdem Mittel zur Drehung der Polarisationsebene des in die magnetfeldempfindliche Meßstrecke eingekoppelten polarisierten Lichtstrahls in Abhängigkeit vom Ergebnis der Polarisations analyse vorgesehen. Durch diese Maßnahme kann die Rest elliptizität verringert und die Korrektur des gemessenen Dreh winkels vereinfacht werden.

Zur weiteren Erläuterung der Erfindung wird auf die Zeichnung verwiesen, in deren

Fig. 1 ein optischer Magnetfeldsensor gemäß der Erfindung in einem Blockschaltbild veranschaulicht ist.

Fig. 2 zeigt eine für den optischen Magnetfeldsensor gemäß der Erfindung besonders bevorzugte Analysatoreinrich tung zur vollständigen Polarisationsanalyse, deren Funktionsweise anhand einer in

Fig. 3 schematisch dargestellten bevorzugten Anordnung von Polarisationsstrahlteilern und der in

Fig. 4 dargestellten Polarisationsellipse des Meßstrahls näher erläutert wird. In

Fig. 5 ist eine Einrichtung zur Verarbeitung der von dem opti schen Teil der Analysatoreinrichtung zur Verfügung ge stellten Signale schematisch veranschaulicht.

Gemäß Fig. 1 enthält ein optischer Magnetfeldsensor eine Lichtquelle 1 zum Erzeugen eines linear polarisierten Licht strahls 2, beispielsweise eine Laserdiode mit nachgeschaltetem Polarisator. Der linear polarisierte Lichtstrahl 2 durchquert einen Strahlteiler 4 und wird in eine magnetfeldempfindliche Meßstrecke 6 eingekoppelt, die ein magnetooptisches Bauteil, beispielsweise ein Kristall, beispielsweise Bi₁₂SiO₂₀ oder ZnSe, oder ein Glas mit hoher Verdet-Konstante, enthält. In einer bevorzugten Ausführungsform ist als magnetooptisches Bau teil eine Lichtleitfaser vorgesehen, die beispielsweise zur Messung des Magnetfeldes eines stromdurchflossenen Leiters zu einer Meßspule aufgewickelt ist, deren Wicklungen den Leiter konzentrisch umgeben.

Der Lichtstrahl 2 durchquert die magnetfeldempfindliche Meß strecke 6, wird an einem Spiegel 8 reflektiert und durchquert die Meßstrecke 6 erneut. Der Spiegel 8 kann beispielsweise durch eine Verspiegelung der Endfläche des magnetooptischen Bauteils realisiert werden. Die reflexive Anordnung gemäß der Figur hat dabei gegenüber der transmissiven Anordnung den Vor teil, daß intrinsische zirkulare Doppelbrechungsanteile des in der magnetfeldempfindlichen Meßstrecke 6 verwendeten magneto optischen Bauteils nahezu vollständig eliminiert werden.

Nach erneuter Durchquerung der Meßstrecke 6 wird der trans mittierte Lichtstrahl 10 über den Strahlteiler 4 einer Analysa toreinrichtung 20 zur vollständigen Polarisationsanalyse zuge führt. In der Analysatoreinrichtung 20 wird der Polarisations zustand des Meßstrahls 10 ermittelt und einem Magnetfeld oder Strom zugeordnet.

In einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung kann auch eine Lichtquelle 1 vorgesehen sein, die linear polarisiertes Licht mit steuerbarer Polarisationsebene emittiert. Die Pola risationsebene kann dann in dieser bevorzugten Ausführungs form von der Analysatoreinrichtung 20 in Abhängigkeit vom Ergebnis der Polarisationsanalyse beispielsweise so eingestellt werden, daß die gemessene Restelliptizität des Meßstrahls 10 minimal wird.

Der optische Teil der Analysatoreinrichtung 20 enthält ent sprechend Fig. 2 ein Fokussierobjektiv 21, das den Meßstrahl 10 über eine Lochblende 22 auf eine Kollimatorlinse 23 projiziert. Der von der Kollimatorlinse 23 parallel gebündelte Meßstrahl 10 beleuchtet eine Zylinderlinse 24, die den Meß strahl auf mehrere parallel zueinander angeordnete Polarisa tionsstrahlteiler 26a, 26b, 26c, vorzugsweise Wollastonprismen, bündelt. Dem Polarisationsstrahlteiler 26c ist eine λ/4-Platte 25c vorgeschaltet. Der transmittierte Lichtstrahl 10 wird somit durch diese Anordnung in drei Meßstrahlen 10a, 10b, 10c aufge trennt, die wiederum durch die Polarisationsstrahlteiler 26a, 26b und 26c jeweils in zwei Teilstrahlen 11a, 12a, 11b, 12b bzw. 11c, 12c aufgespalten werden. Diese Teilstrahlen werden jeweils einem Lichtempfänger 27 zugeführt, der die Intensität dieser Teilstrahlen in ein entsprechendes elektrisches Signal umwandelt. Die Information über den Polarisationszustand des transmittierten Lichtstrahles 10 kann durch Auswertung der Intensitäten der Teilstrahlen 11a, 12a, 11b, 12b und 11c, 12c ermittelt werden.

Eine besonders bevorzugte Orientierung der Hauptachsen der Polarisationsstrahlteiler 26a, 26b und 26c und der λ/4-Platte ist in Fig. 3 veranschaulicht. Die beiden Polarisationsstrahl teiler 26a und 26b sind dabei bezüglich ihrer Hauptachsen zu einander vorzugsweise um 45° verdreht. Der mit der λ/4-Platte 25c versehene Polarisationsstrahlteiler 26c hat im Ausführungs beispiel gemäß der Figur die gleiche Orientierung wie der Pola risationsstrahlteiler 26a. Die vorgeschaltete λ/4-Platte 25c ist jedoch gegenüber dem Polarisationsstrahlteiler 26c gekreuzt, wie es in der Figur durch die eingezeichnete Dia gonale, die beispielsweise die schnelle Hauptachse der λ/4- Platte 25c repräsentiert, veranschaulicht ist.

Die Aufgaben der einzelnen Polarisationsstrahlteiler bei der Analyse können am einfachsten für die beiden Grenzfälle linear und zirkular polarisiertes Licht veranschaulicht werden. Ist beispielsweise der auf die Analysatoreinrichtung auftreffende Lichtstrahl linear polarisiert, so kann die Winkellage α der Polarisationsebene aus den mit dem Lichtempfänger 27 gemessenen Intensitäten I_11a und I_12a der Teilstrahlen 11a und 12a über die Beziehung

ermittelt werden. Dies reicht aber wegen der Gleichheit von cos2α und cos-2α zur vollständigen Lagebestimmung noch nicht aus. Die Festlegung des Vorzeichens von α erfolgt dann mit Hilfe des Polarisationsstrahlteilers 26b, für dessen Teilstrah len 11b, 12b dann bei einer um 45° gekreuzten Anordnung die Beziehung

gilt. Die Beziehung (1) legt somit den Betrag von α und die Beziehung (2) entsprechend ihrem Vorzeichen ebenfalls das Vor zeichen von α fest. Dabei kann wahlweise die Beziehung (1) oder (2) zur Bestimmung des Betrages von α herangezogen wer den. Zweckmäßigerweise wird dabei der Betrag von α mit der Be ziehung ermittelt, die für ein gegebenes α empfindlicher von α abhängt. Für -π/4 < α < π/4 ist dies beispielsweise die Beziehung (2).

Die aus der λ/4-Platte 25c und dem Polarisationsstrahlteiler 26c bestehende Strahlteilerkombination hat die Aufgabe, bei zir kular polarisiertem Licht eine Unterscheidung von links- und rechtszirkular polarisiertem Licht zu ermöglichen. Zirkular po larisiertes Licht wird von der λ/4-Platte in linear polari siertes Licht umgewandelt, dessen Polarisationsebene, je nach dem ob es sich um rechts- oder linkszirkular polarisiertes Licht handelt, um ±π/4 zu einer Hauptachse der λ/4-Platte 25c geneigt ist. Mit Hilfe eines bezüglich seiner Hauptachsen ge genüber den Hauptachsen der λ/4-Platte 25c verdreht angeord neten Polarisationsstrahlteilers 26c kann dann der Drehsinn des zirkular polarisierten Lichtes bestimmt werden. Bei einer vor zugsweise unter 45° gekreuzten Anordnung ergibt sich der Dreh sinn unmittelbar daraus, welcher der beiden den Polarisations strahlteilern 26c nachgeschalteten Lichtempfänger ein von Null verschiedenes Signal empfängt.

Zur Erläuterung der Polarisationsanalyse für den allgemeinen Fall eines elliptisch polarisierten Lichtstrahls ist in Fig. 4 eine Polarisationsellipse in ein Koordinatensystem eingetragen, dessen Achsen x, y beispielsweise in den Hauptachsen des Pola risationsstrahlteilers 26a zusammenfallen. Der Polarisations zustand des transmittierten Lichtes wird dann durch die Elliptizität ε und die Winkellage α der großen Achse der Ellipse charakterisiert. Die Länge a der großen Halbachse ist dabei ein Maß für die Intensität I=a²+b²=a²(1+tan²ε). Der Polarisationszustand kann durch die normierten Stokes parameter

S₀ = I (3)
S₁/S₀ = cos2α cos2ε (4)
S₂/S₀ = sin2α cos2ε (5)
S₃/S₀ = sin2ε (6)

beschrieben werden. Bezeichnet man mit A_x und A_y die Komponen ten des elektrischen Feldes in x- bzw. y-Richtung, so lassen sich die normierten Stokesparameter durch folgende Beziehungen ausdrücken

Mit Hilfe des um π/4 gekreuzten Polarisationsstrahlteilers 26b erhält man mit den Komponenten des elektrischen Feldes A_x′ und A_y′ in x′- bzw. y′-Richtung für den normierten Stokesparameter S₂/S₀ die Beziehung

und der norminierten Stokesparameter S₃/S_o ergibt sich zu

Dabei bedeuten A_x′ und A_y′ die Komponenten des elektrischen Feldes in Richtung der Hauptachsen des Polarisationsstrahltei lers 26c nach Durchqueren der Kombination aus λ/4-Platte 25c und Polarisationsstrahlteiler 26c. Diese Hauptachsen stimmen dabei in der Anordnung gemäß Fig. 3 mit der x- bzw. y-Achse überein. Mit Hilfe der von den Lichtempfängern 27 gemessenen Intensitäten läßt sich somit die Elliptizität ε und die Win kellage α der Polarisationsellipse errechnen.

Die von den Lichtempfängern 27 bereitgestellten, den Inten sitäten der Teilstrahlen 11a, 12a, 11b, 12b und 11c, 12c ent sprechenden elektrischen Signale werden nach einer analogen Signalverarbeitung, beispielsweise einer Strom-Spannungswand lung und Verstärkung, gemäß Fig. 5 einer Auswerteeinheit 40 zugeführt, die aus den gemessenen Intensitäten das Magnetfeld B oder den Strom I berechnet. Die Auswerteeinheit 40 enthält hier zu beispielsweise einen Multiplexer 42, dessen Ausgang über einen Analog-Digital-Wandler 44 mit einem Mikroprozessor 46 verbunden ist, der die zur Berechnung der Orientierung α und Elliptizität ε erforderlichen Rechenoperationen durchführt. Dem Mikroprozessor 46 ist dabei ein Speicher 48 zugeordnet, der für die gemessenen Wertepaare α und ε die korrigierte Faraday-Drehung α₀ in Form von Tabellen enthält. In einer vor teilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist die Auswerteeinheit 40 zusätzlich über eine Steuerleitung 50 mit der Lichtquelle 1 (Fig. 1) zur Steuerung der Polarisationsebene des von der Lichtquelle emittierten linear polarisierten Lichtstrahls verbunden.
(1) Bargmann, W.-D., Winterhoff, H., Techn. Messen, 1983 2, Seiten 69-77
(2) Forman, P.R., Jahoda, F.C., Applied Optics, Vol. 27, No. 15, 1988, Seiten 3008-3096
(3) Li L. Qian J.-R. Payne D.N., Electron Lett., 1986, 22 No. 21, S. 1142-1144
(4) Donati, S., Annovazzi-Lodi, V., Tombasso, T., IEE Proc. Vol. 135, Pt. J, No. 5, 1988, S. 372-382
(5) Bergmann-Schaefer, Lehrbuch der Experimentalphysik, Band III, Optik, 8. Auflage, Berlin, New York 1987, S. 573 ff.

Claims

1. Optischer Magnetfeldsensor zur Messung eines Magnetfeldes (B) mit Hilfe des Faraday-Effektes mit

a) einer Lichtquelle (1) zum Erzeugen eines linear polarisier ten Lichtstrahls (2),
b) einer magnetfeldempfindlichen Meßstrecke (6), die dieser Lichtstrahl (2) durchquert,
c) eine Analysatoreinrichtung (20) für den transmittierten Lichtstrahl (10) zur Ermittlung der vom Magnetfeld hervorge rufenen Drehung der Polarisationsebene, dadurch gekennzeichnet, daß
d) die Analysatoreinrichtung (20) Mittel zur vollständigen Polarisationsanalyse des transmittierten Lichtstrahls (10) enthält.

2. Optischer Magnetfeldsensor nach Anspruch 1, gekenn zeichnet durch eine Analysatoreinrichtung (20) mit den folgenden Merkmalen:

a) In der Analysatoreinrichtung (20) werden vom transmittier ten Lichtstrahl (10) wenigstens drei Meßstrahlen (10a, 10b, 10c) abgetrennt,
b) den Meßstrahlen ist jeweils ein Polarisationsstrahlteiler (26a, 26b, 26c) zur Aufteilung des Meßstrahls in zwei zu einander senkrecht polarisierten Teilstrahlen (11a, 12a, 11b, 12b bzw. 11c, 12c) zugeordnet,
c) wenigstens einem Polarisationsstrahlteiler (26c) ist eine λ/4-Platte (25c) vorgeschaltet,
d) den polarisierten Teilstrahlen (11a, 12a, 11b, 12b, 11c, 12c) ist jeweils ein Lichtempfänger (27) zur Intensitäts messung zugeordnet.

3. Optischer Magnetfeldsensor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die λ/4-Platte (25c) und der ihr nachgeschaltete Polarisationsstrahlteiler (26c) bezüg lich ihrer Hauptachsen zueinander um 45° gekreuzt sind.

4. Optischer Magnetfeldsensor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden anderen Polari sationsstrahlteiler (26a und 26b) zueinander ebenfalls um 45° gekreuzt sind, wobei die Lage der Hauptachsen eines dieser Po larisationsstrahlteiler mit der Lage der Hauptachsen des der λ/4-Platte (25c) nachgeschalteten Polarisationsstrahlteilern (26c) übereinstimmt.

5. Optischer Magnetfeldsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Ana lysatoreinrichtung (20) Mittel zur Berechnung des Polarisations zustandes aus den an den Lichtempfängern (27) gemessenen Inten sitäten enthält.

6. Optischer Magnetfeldsensor nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß Mittel zur Drehung der Po larisationsebene des in die magnetfeldempfindliche Meßstrecke (6) eingekoppelten polarisierten Lichtstrahls in Abhängigkeit vom Ergebnis der Polarisationsanalyse vorgesehen sind.