DE3913043C2 - Energieanalysator - Google Patents
EnergieanalysatorInfo
- Publication number
- DE3913043C2 DE3913043C2 DE19893913043 DE3913043A DE3913043C2 DE 3913043 C2 DE3913043 C2 DE 3913043C2 DE 19893913043 DE19893913043 DE 19893913043 DE 3913043 A DE3913043 A DE 3913043A DE 3913043 C2 DE3913043 C2 DE 3913043C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- spherical
- source
- energy
- charged particles
- analyzer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/44—Energy spectrometers, e.g. alpha-, beta-spectrometers
- H01J49/46—Static spectrometers
- H01J49/48—Static spectrometers using electrostatic analysers, e.g. cylindrical sector, Wien filter
- H01J49/484—Static spectrometers using electrostatic analysers, e.g. cylindrical sector, Wien filter with spherical mirrors
Description
Die Erfindung bezieht sich auf die Energieanalyse von Bündeln
geladener Teilchen und betrifft insbesondere einen im folgenden
auch als sphärischen Spiegel-Energieanalysator für Bündel geladener
Teilchen bezeichneten Energieanalysator
- - mit einer Quelle für geladene Teilchen,
- - mit einem elektrostatischen Analysator, der aus zwei mit einer Spannung beaufschlagten Kugelsegmentelektroden besteht, welche auf zwei zueinander konzentrischen Kugelflächen angeordnet sind, wobei die innere Kugelsegmentelektrode Fenster zum Durchgang der geladenen Teilchen aufweist, und
- - mit einem ortsauflösenden Detektor für die analysierten Teilchen, wobei Quelle und Detektor symmetrisch zu dem Kugelmittelpunkt angeordnet sind.
Am effektivsten kann die vorliegende Erfindung bei
der Schaffung von neuen elektronischen Spektrometern zur
Untersuchung der Festkörperoberfläche mit Methoden der
Fotoelektronen-, Röntgen- und Auger-Elektronenspektroskopie,
besonders der Rasterspektroskopie, angewendet
werden.
Die Erfindung kann auch noch in weiteren Bereichen
der Energieanalyse der Bündel der geladenen Teilchen,
beispielsweise in der Ionen-Massenspektroskopie der Festkörperoberfläche
nach der Methode einer Energieanalyse
von rückgestreuten Ionen angewendet werden.
Zur Zeit fördert die Entwicklung der Physik der
Festkörperoberfläche eine Vervollkommnung ihrer Forschungsmethoden.
In der Elektronenspektroskopie werden
die Fragen der Erhöhung der Empfindlichkeit und Genauigkeit
der Messungen der Energie- und Winkelverteilung
bei Sekundärelektronen, der Vergrößerung der Oberfläche
bei einer Mikrosondierung eines Untersuchungsobjekts,
die mit Hilfe von Elektronenspektrometern vorgenommen
werden, deren analytisches Element ein Energieanalysator
ist, aufgeworfen.
Die rasche Entwicklung der mikroelektronischen Halbleitertechnologie
machte schnelle und exakte Methoden
zur Gütekontrolle der Oberflächenstruktur von Halbleiterplatten
und Mikroschaltkreisen auf verschiedenen Stufen
ihrer Herstellung erforderlich. Eine dieser Methoden ist
die Beugungs-Fotoelektronen-Röntgenspektroskopie.
Bei dieser
Methode ist die Intensität der verwendeten monochromatischen
Röntgenstrahlung und als Folge dessen die Dichte
der abgelösten Elektronen äußerst gering, weshalb die
Notwendigkeit bestand, einen neuen lichtstarken Energieanalysator
zu entwickeln, um die Analysenzeit von einigen
zehn Stunden auf Minuten zu reduzieren.
Der herkömmliche elektrostatische sphärische Spiegel-Energieanalysator
ist durch zwei Elektroden sphärischer
Form gebildet, an die eine Potentialdifferenz angelegt
wird. Das Bündel der geladenen Teilchen tritt im
Bereich des Ablenkfeldes des Spiegels ein und aus, wobei
es durch die sphärische Innenelektrode durchtritt.
Es ist ein Aufbau eines elektrostatischen sphärischen
Spiegels (H. Z. Sar-El "More on the spherical condenser
as an analyzer" - Nucl. Instrum. Meth., 42 (1966),
S. 71-76) bekannt, bei dem eine Punktquelle und
ihre Abbildung im Bereich der sphärischen Innenelektrode
in diametral entgegengesetzten Punkten liegen.
Im obengenannten Beitrag ist gezeigt, daß, wenn
zwischen der kinetischen Energie E der Teilchen und der
Spannung U am elektrostatischen sphärischen Spiegel
ein Verhältnis
besteht, wobei q die Teilchenladung,
R₁ und R₂ die Radien der sphärischen Innen- bzw. Außenelektrode bedeutet, die Punktquelle im diametral entgegengesetzten Punkt ohne sphärische Aberration abgebildet wird.
R₁ und R₂ die Radien der sphärischen Innen- bzw. Außenelektrode bedeutet, die Punktquelle im diametral entgegengesetzten Punkt ohne sphärische Aberration abgebildet wird.
Von Nachteil ist bei dem Aufbau die Abhängigkeit
der linearen Dispersion vom Neigungswinkel
des zu analysierenden Bündels der geladenden Teilchen.
Der genannte Aufbau erwies sich daher
als ungeeignet für den Aufbau von Energieanalysatoren
mit einer hohen Energieauflösung.
Es ist weiterhin ein gattungsgemäßer Energieanalysator (Hiroshi Daimon
"New display-type analyzer for the energy and the angular
distribution of charged particles" - Rev. Sci. Instrum.,
59 (1988), S. 545-549) zur Messung einer Energie-
bzw. Winkelverteilung im Falle von in einem Raumwinkel
von bis zu 2 π emittierten Fotoelektronen bekannt.
Die Funktion des Analysators basiert auf dem Prinzip einer
exakten Winkelfokussierung durch einen elektrostatischen
sphärischen Spiegel, der im vorstehenden Beitrag von Sar-El
vorgeschlagen worden ist.
Nachteilig ist beim Gerät wiederum die starke Abhängigkeit
der Dispersion vom Neigungswinkel der geladenen
Teilchen, was die Energieauflösung des Geräts
stark begrenzt. Ferner sind Forderungen wichtig, die zur
Erreichung guter elektronenoptischer Parameter des Analysators
an Fenster der Innensphäre gestellt werden,
durch die das Bündel der zu untersuchenden geladenen
Teilchen tritt. Die in der ganzen Welt traditionsgemäß
verwendeten Fenster aus einem feinen Metallgitter führen
zu einer Entfokussierung eines weit divergierenden Bündels
der geladenen Teilchen infolge einer an den Gitterzellen
entstehenden Brechkraft und Linsenwirkung, was
seinerseits die Auflösung des Analysators verschlechtert.
Es ist auch ein Energieanalysator für Bündel geladener
Teilchen vom Typ "Keplertron" (R. H. Ritchie, J. S. Cheka,
R. D. Birkhoff "The spherical condenser as a high transmission
particle spectrometer" - Nucl. Instrum. Meth.,
6 (1960) S. 157-163) bekannt, der einen elektrostatischen
Spiegel darstellt, der durch ein Feld erzeugt ist, das
zwischen zwei Elektroden sphärischer Form wirkt. Die
Quelle der geladenen Teilchen weist eine Scheibenform
auf und liegt auf der Oberfläche der sphärischen Innenelektrode.
Das Bündel der aus der Quelle austretenden
geladenen Teilchen wird durch das elektrostatische sphärische
Feld reflektiert und auf den Spalt einer Aufnahmeblende
fokussiert, wodurch ein Ringbild erzeugt wird,
dessen Lage kraft der dem Energieanalysator eigenen Dispersion
von der Teilchenenergie abhängig ist. Das "Keplertron"
besitzt eine beträchtliche Lichtstärke.
Zu den Mängeln dieses Geräts zählen zum einen schlechte
Fokussierungseigenschaften (die Fokussierung erfolgt
lediglich in erster Näherung nach dem Winkel der Anfangsdivergenz
des Bündels), was das Auflösungsvermögen wesentlich
begrenzt, zum anderen die Notwendigkeit der
Ausnutzung einer Blende mit einem Ringspalt zur Detektierung,
die in den Bereich des Spiegelfeldes gebracht
wird, was eine Verzerrung des nutzbaren Feldes bewirkt
und eine Detektierung der geladenen Teilchen erschwert.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Energieanalysator
für Bündel geladener Teilchen zu schaffen, der es gestattet,
eine genaue Winkelfokussierung des Bündels bei konstanter
Dispersion und hoher Lichtstärke sowie eine große Quellfläche
bei eindeutiger
punktweiser Abbildung von Quellfläche auf Detektorfläche
zu gewährleisten.
Die gestellte Aufgabe wird bei einem Energieanalysator
- - mit einer Quelle für geladene Teilchen,
- - mit einem elektrostatischen Analysator, der aus zwei mit einer Spannung beaufschlagten Kugelsegmentelektroden besteht, welche auf zwei zueinander konzentrischen Kugelflächen angeordnet sind, wobei die - im folgenden auch als sphärische Innenelektrode bezeichnete - innere Kugelsegmentelektrode Fenster zum Durchgang der geladenen Teilchen aufweist, und
- - mit einem ortsauflösenden Detektor für die analysierten Teilchen, wobei Quelle und Detektor symmetrisch zu dem Kugelmittelpunkt angeordnet sind,
erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß sowohl die Quelle als auch
der Detektor die Form von Kugelsegmenten, die eindeutig punktweise
aufeinander abgebildet sind, aufweisen und auf der inneren
Kugelfläche angeordnet sind, wobei sich zumindest eines der
Kugelsegmente auf der inneren Kugelsegmentelektrode befindet.
Die vorliegende Erfindung gestattet es, eine ideale
Winkelfokussierung des Bündels der geladenen Teilchen
unter den Bedingungen der Unabhängigkeit der Dispersion
vom Neigungswinkel im Bündel (Isodispersität)
zu gewährleisten. Darüber hinaus wird die
Abbildung der Quelle in Gestalt eines Segments beliebiger
Form auf einem beliebigem Abschnitt des Energiespektrums
durch Aberrationen nicht verzerrt und in einem
Maßstab von 1 : 1 auf einen diametral entgegengesetzten
Abschnitt der sphärischen Innenelektrode oder ihrer geometrischen
Fortsetzung (Authentizität der Abbildung)
übertragen.
Der erfindungsgemäße Energieanalysator gestattet
es also, die Auflösung unter den Bedingungen einer hohen
Lichtstärke und einer Aberrationsfreiheit der Abbildung
großflächiger Abschnitte der Quelle wesentlich zu erhöhen.
Die Erfindung
wird nachstehend
anhand der
beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 schematisch einen erfindungsgemäßen sphärischen
Spiegel-Energieanalysator für Bündel geladener
Teilchen;
Fig. 2 den Bahnverlauf bei einer Innenreflexion
der geladenen Teilchen von einem elektrostatischen sphärischen
Spiegel;
Fig. 3 anschaulich die Eigenschaft einer Authentizität
der Abbildung in einem sphärischen Spiegel;
Fig. 4 eine Ausführungsform der Konstruktion des
erfindungsgemäßen sphärischen Energieanalysators für
Bündel geladener Teilchen;
Fig. 5 schematisch eine weitere Ausführungsform der Konstruktion
des erfindungsgemäßen sphärischen Spiegel-Energieanalysators.
Der - hier auch als sphärischer Spiegel-Energieanalysator für
Bündel geladener Teilchen bezeichnete - Energieanalysator
(Fig. 1) besteht aus zwei auf zwei zueinander konzentrischen
Kugelflächen angeordneten und mit einer Spannung beaufschlagten
Kugelsegmentelektroden - einer Fenster 2 zum Durchgang der geladenen
Teilchen aufweisenden inneren Kugelsegmentelektrode
(sphärische Innenelektrode) 1 mit dem Radius R₁ und einer äußeren
Kugelsegmentelektrode (Außenelektrode) 3 mit dem Radius
R₂, der eine Bremsspannung von einer zugeordneten Quelle (in
der Figur nicht gezeigt) zugeführt wird, einer Quelle 4 eines
Bündels geladener Teilchen, einer sich aus einer Blende 5′ und
einem ortsauflösenden Detektor 6 für die geladenen Teilchen
zusammensetzenden Empfängereinrichtung 5 und einem Generator 7
für eine anregende Strahlung (Elektronen-, Röntgen- oder Ionenkanone).
Die Quelle 4 ist in
Form eines Kugelsegments mit der Mitte im Punkt A ausgeführt
und auf der Oberfläche der Innensphäre der Elektrode 1 oder auf
deren geometrischer Fortsetzung, wie in Fig. 1 angedeutet, angeordnet.
Die Blende 5′ in Form einer Kugelsegmentöffnung in
der inneren Kugelsegmentelektrode 1 mit der Mitte B liegt zentralsymmetrisch
zur Quelle 4, wobei hinter der Blende 5′ der
Detektor 6 für die geladenen Teilchen angeordnet ist; Quelle 4
und Detektor 6 bilden somit symmetrisch zum Kugelmittelpunkt 0
angeordnete Kugelsegmente, die eindeutig punktweise aufeinander
abgebildet sind.
Es ist auch ein invertiertes Schema des sphärischen
Spiegel-Energieanalysators möglich: die Quelle 4 ist im
Punkt B im Bereich der sphärischen Innenelektrode 1 des
Energieanalysators angeordnet, während die Aufnahmeblende
5′ der Quelle 4 diametral entgegengesetzt auf einer
geometrischen Fortsetzung der sphärischen Oberfläche
der Innenelektrode 1 liegt. Im letzten Fall liegt der
Detektor 6 auch außerhalb der sphärischen Innenelektrode
1. Die Parameter des Energieanalysators bleiben
ungeändert. Die Quelle 4 und die Öffnung der Aufnahmeblende
5′ weisen im allgemeinen Fall die Gestalt eines
sphärischen Segments beliebiger Form auf, speziell
können das runde oder viereckige sphärische Segmente oder
schmale Streifen sein.
Der Arbeitsweise des erfindungsgemäßen Energieanalysators
liegen zwei Eigenschaften eines idealen sphärischen
Fokussierungsspiegels: energetische Isodispersität
der Spuren und Authentizität der Abbildung
zugrunde. Um diese Eigenschaften zu erläutern,
betrachten wir die elektronenoptischen Grundgesetzmäßigkeiten
des Durchganges der Bündel der geladenen
Teilchen durch einen elektrostatischen sphärischen
Spiegel in der Betriebsart einer idealen Winkelfokussierung.
In Fig. 2 ist ein Schema dargestellt, das den Verlauf
der Bahn bei einer Innenreflexion eines Teilchens
vom elektrostatischen sphärischen Spiegel erläutert. Es
seien die Punktquelle und ihre Abbildung auf der Symmetrieachse
in den Punkten A und B angeordnet. Geben wir
die Lage der Punkte des Ein- und Austritts der Bahn auf
der Oberfläche der sphärischen Innenelektrode 1 und der
Neigung der Bahn in bezug auf die Symmetrieachse im Bereich
der sphärischen Innenelektrode 1 durch den Winkelkoordinaten
χ₁, χ₂, α und α₁ vor. Aus dem Energie-
und Drehimpulssatz ergeben sich folgende Beziehungen:
worin
ist, wobei
S der Parameter der Reflexion des elektrostatischen sphärischen Spiegels,
q und E der Ladung bzw. die kinetische Energie der Teilchen,
U die an die Elektroden 1, 3 des Spiegels angelegte Spannung ist. Aus Fig. 2 folgt, daß die Entfernung der Quelle und ihrer Abbildung von der Mitte der Sphären
S der Parameter der Reflexion des elektrostatischen sphärischen Spiegels,
q und E der Ladung bzw. die kinetische Energie der Teilchen,
U die an die Elektroden 1, 3 des Spiegels angelegte Spannung ist. Aus Fig. 2 folgt, daß die Entfernung der Quelle und ihrer Abbildung von der Mitte der Sphären
sind.
Drücken wir die linearen Größen in Teilen des Radius
der sphärischen Innenelektrode 1 aus. In der Betriebsart
der idealen Winkelfokussierung ist S = 1. Aus
der Beziehung (3) erhalten wir
x = 2 (χ₁-α). (7)
Durch Einsetzen von (7) in (2) ergibt sich α = α₁ und
auf Grund von (5) und (6) l₁ = l₂ = l. In der Betriebsart
S = 1 sind die beiden Äste einer beliebigen Bahn außerhalb
des sphärischen Feldes zur Symmetrieachse unter ein
und demselben Winkel α geneigt, während die Quelle A
und ihre Abb. B symmetrisch um die Mitte der Sphären
liegen.
Die Energiedispersion D charakterisiert die
Verschiebung Δl der Abbildung im Energieanalysator
bei einer Änderung der Energie des Bündels
Im betrachteten Fall ergibt sich der Ausdruck für die
Dispersion längs der Symmetrieachse durch Differentiation
von (6) nach der Energie
Aus der Formel (9) folgt, daß bei l < 1 die Dispersion
vom Neigungswinkel α der Bahn stark abhängt, mit der
Zunahme von l nähert sich aber die Form der Funktion
D(α) einer Stufenform, und bei l → 1 geht die
Kurve D (α) in eine Stufe mit einer Höhe gleich 2 über. Liegen
also die Quelle 4 und ihre Abbildung auf der Oberfläche
der sphärischen Innenelektrode 1, so ist die
Energiedispersion des sphärischen Spiegels unter den
Bedingungen der idealen Winkelfokussierung (S = 1) maximal,
gleich zwei Radien der sphärischen Innenelektrode
1 und vom Austrittswinkel des Teilchens beim Austritt
desselben aus der Quelle 4 unabhängig (Eigenschaft der
Isodispersität der Bahnen im sphärischen Spiegel). Unter
den Bedingungen der idealen Winkelfokussierung ist der
Vergrößerungsfaktor gleich Eins, weshalb die Abbildung
der Quelle 4 in Form eines auf der Oberfläche der sphärischen
Innenelektrode 1 oder auf deren geometrischer
Fortsetzung liegenden sphärischen Segments wahlfreier
Form zentralsymmetrisch im Verhältnis 1 : 1 auf einen diametral
entgegengesetzten Abschnitt dieser Elektrode 1
übertragen wird (Authentizität der Abbildung).
Fig. 3 veranschaulicht die Eigenschaft der Authentizität
der Abbildung: die räumlichen Bündel, in denen
sich die geladenen Teilchen mit einer der Energie der
Einstellung des sphärischen Spiegels auf die ideale Winkelfokussierung
entsprechenden Energie bewegen, konvergieren,
wobei sie aberrationsfreie Abbildungen von Punktquellen
a, b, c in zentralsymmetrischen Punkten a′, b′,
c′ erzeugen, worin ab = a′b′, bc = b′c′ ist.
Der sphärische Spiegel-Energieanalysator für Bündel
geladener Teilchen arbeitet wie folgt. An die Elektroden
1 und 3 wird eine Spannung U angelegt. Die durch
ein Bündel der Primärstrahlung vom Generator 7 erregte
Quelle 4 emittiert die geladenen Teilchen unter verschiedenen
Winkeln α zur Symmetrieachse, die durch die Fenster
2 hindurch in den Bereich eines elektrostatischen
sphärischen Feldes gelangen. Die Erfüllung der Bedingung
(1) führt dazu, daß sämtliche aus der Quelle 4
ausgetretenen geladenen Teilchen unabhängig vom Neigungswinkel
α nach der Reflexion durch das Feld an der
Segmentöffnung der Blende 5′ gesammelt und dann, nachdem
sie diese passiert haben, durch den Detektor 6 registriert
werden. Die Fig. 1 zeigt nur eine der Vielzahl
der Bündel der durch die Oberfläche der Quelle 4 emittierten
geladenen Teilchen, wobei dieses Bündel nach
der Reflexion vom Spiegel in einem zentralsymmetrischen
Punkt des Fensters der Empfängereinrichtung 5 fokussiert
wird. Bei einem vorgegebenen Wert der Spannung U
werden auf die Öffnung der Aufnahmeblende 5′ Teilchen mit
einer bestimmten kinetischen Energie E, die der Beziehung
(1) genügt, fokussiert. Dank der linearen Dispersion
werden Teilchen anderer Energien auf die
Öffnung der Blende 5′ nicht fokussiert, sondern sie werden gestreut
und treffen die Öffnung der Blende 5′ nur in einer geringen
Menge. Indem man die Spannung U ändert,
registriert man aufeinanderfolgend das gesamte Spektrum
der kinetischen Energien in dem zu analysierenden Bündel
der geladenen Teilchen abschnittsweise.
Als die Arbeitsweise des erfindungsgemäßen Energieanalysators
erläuterndes Beispiel dient ein in Fig. 4
dargestelltes Schema. Der Detektor 6 ist in Gestalt einer
Mikrokanalplatte in Form eines sphärischen Segments
ausgeführt, die in die Öffnung der Blende 5′ derart gesteckt
ist, daß deren Außenfläche mit der Oberfläche
der sphärischen Innenelektrode 1 zusammenfällt.
Das Gerät arbeitet folgendermaßen.
Die anregende Mikrosonde in Form
eines fokussierten Elektronen-, Ionen-, Fotonenstrahls
vom Generator 7 tastet
die Oberfläche des Segments der Quelle 4 ab, indem sie
deren Gesamtfläche zeilenweise durchläuft. Die Sekundärelektronen
gelangen in den sphärischen Spiegel, der auf
die Betriebsart der idealen Winkelfokussierung der Elektronen
der vorgegebenen kinetischen Energie, die beispielsweise
einem bestimmten Auger-Übergang in den Atomen
eines chemischen Elements entspricht, eingestellt ist.
Dank der Eigenschaft der Authentizität der Bildübertragung
durch den sphärischen Spiegel synchron zur Bewegung
der Sonde auf der Oberfläche des Segments 4 tastet der
Brennpunkt des Bündels der Sekundärelektronen vorgegebener
kinetischer Energie die Oberfläche der Mikrokanalplatte
6 ab, wobei er den Abtastbereich der Quelle 4 in
der zentralsymmetrischen Abbildung wiedergibt. In jedem
gegebenen Augenblick wird für die Registrierung nur derjenige
lokale Abschnitt der Mikrokanalplatte 6 eingeschaltet,
auf dem der Brennpunkt des Bündels der Sekundärelektronen
augenblicklich ruht. Das von der Mikrokanalplatte
6 abgenommene Signal wird verstärkt und für die Aussteuerung
der Intensität des Elektronenbündels einer Bildkontrolleinrichtung
ausgenutzt, bei der die Strahlabtastung
synchron zur Abtastung der Oberfläche des Segments
4 mit der Mikrosonde erfolgt. Auf dem Bildschirm der
Bildkontrolleinrichtung wird ein Bild erzeugt, das die
Verteilung der Quellen der Sekundärelektronen vorgegebener
Energie über die Abtastfläche des Segments 4 wiedergibt.
Der Generator 7 sendet ein
breites Bündel einer Sekundärelektronen anregenden Strahlung
(Elektronen, Ionen, Fotonen) aus, das die Fläche des
Segments 4 gleichmäßig beleuchtet. Der sphärische Spiegel
ist auf die Betriebsart der idealen Fokussierung der
Sekundärelektronen vorgegebener kinetischer Energie (beispielsweise
der Energie eines bestimmten Auger-Überganges
oder einer Differenz aus der Energie des Anregungsquanten
und der Bindungsenergie eines inneren Atomniveaus) eingestellt,
die Bündel der aus verschiedenen Bereichen des
Segments 4 austretenden Sekundärelektronen werden auf
die Oberfläche des positionsempfindlichen Detektors fokussiert
und erzeugen eine zentralsymmetrische Abbildung
der belichteten Fläche des Segments 4. Samt der Untergrundstrahlung,
deren Quelle entfokussierte Sekundärelektronen
anderer Energien sind, gelangt das Nutzsignal
in ein Registriersystem.
In den beiden Betriebsarten wird die Größe der
zu belichtenden Fläche in der erfindungsgemäßen Einrichtung
dank der Eigenschaft der Authentizität der Abbildung
durch einen sphärischen Spiegel nicht begrenzt; sie
kann einen beträchtlichen Teil der Oberfläche der sphärischen
Innenelektrode 1 einnehmen und die zu sondierende
Fläche bei bekannten elektronischen Spektrometern um
zwei Größenordnungen überschreiten. Bei einem recht
großen Durchmesser der sphärischen Innenelektrode 1
gegenüber der Größe der Quelle 4 kann die letztere
scheibenförmig sein, in diesem Fall kann auch die Oberfläche
des Detektors 6 flach sein, was sich auf die Bündelungsgüte
und den Dispersionsgrad praktisch nicht auswirkt.
In Fig. 5 ist das Schema eines sphärischen Spiegel-Energieanalysators
dargestellt, in dem die Aperturfenster
2 in der sphärischen Innenelektrode 1 in Form einer Vielzahl
von Längsspalten ausgeführt sind, die in auf der
Symmetrieachse konvergierenden Meridionalebenen liegen.
Der Energieanalysator enthält auch ein System von
Ringleitern 8, an die elektrische Potentiale
angelegt werden, um das erforderliche Feld zu
gewährleisten. Die Arbeit des Energieanalysators ist analog
den oben beschriebenen Ausführungsformen. Das Randfeld
des einzelnen Spaltes ist zweidimensional, es hängt vom
Polarwinkel nicht ab, weshalb die Bahnen beim Durchgang
durch das Aperturfenster 2 keine Brechung in den Meridionalebenen
erleiden und die Fokussierung eines weit divergierenden
Bündels nicht verzerrt wird. Die Spalte müssen
recht schmal sein, damit die Feldstörungen auf der Oberfläche
der sphärischen Innenelektrode 1 minimal sind, die
Zwischenräume zwischen den Spalten müssen klein sein,
damit die Durchsichtigkeit des Aperturfensters 2 nicht
verloren geht.
Claims (3)
1. Energieanalysator
- - mit einer Quelle (4) für geladene Teilchen,
- - mit einem elektrostatischen Analysator, der aus zwei mit einer Spannung beaufschlagten Kugelsegmentelektroden (1, 3) besteht, welche auf zwei zueinander konzentrischen Kugelflächen angeordnet sind, wobei die innere Kugelsegmentelektrode (1) Fenster (2) zum Durchgang der geladenen Teilchen aufweist, und
- - mit einem ortsauflösenden Detektor (6) für die analysierten Teilchen, wobei Quelle (4) und Detektor (6) symmetrisch zu dem Kugelmittelpunkt (0) angeordnet sind,
dadurch gekennzeichnet,
daß sowohl die Quelle (4) als auch der Detektor (6) die Form
von Kugelsegmenten, die eindeutig punktweise aufeinander abgebildet
sind, aufweisen und auf der inneren Kugelfläche angeordnet
sind, wobei sich zumindest eines der Kugelsegmente (6) auf
der inneren Kugelsegmentelektrode (1) befindet.
2. Energieanalysator nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Fenster
(2) in Form einer Vielzahl von Längsspalten ausgeführt
sind, die in auf der Symmetrieachse konvergierenden
Meridionalebenen liegen.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4463270 | 1988-07-18 | ||
SU4478794 | 1988-09-05 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3913043A1 DE3913043A1 (de) | 1990-01-25 |
DE3913043C2 true DE3913043C2 (de) | 1994-11-24 |
Family
ID=26666180
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19893913043 Expired - Fee Related DE3913043C2 (de) | 1988-07-18 | 1989-04-20 | Energieanalysator |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0269692A (de) |
DE (1) | DE3913043C2 (de) |
FR (1) | FR2634286B1 (de) |
GB (1) | GB2221082B (de) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5032723A (en) * | 1989-03-24 | 1991-07-16 | Tosoh Corporation | Charged particle energy analyzer |
GB2244369A (en) * | 1990-05-22 | 1991-11-27 | Kratos Analytical Ltd | Charged particle energy analysers |
US5962850A (en) * | 1998-03-04 | 1999-10-05 | Southwest Research Institute | Large aperture particle detector with integrated antenna |
CN109142409B (zh) * | 2018-10-15 | 2023-10-27 | 中国科学院高能物理研究所 | 高、低温环境中材料二次电子特性参数的测量装置和方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8322017D0 (en) * | 1983-08-16 | 1983-09-21 | Vg Instr Ltd | Charged particle energy spectrometer |
-
1989
- 1989-04-13 FR FR8904924A patent/FR2634286B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1989-04-14 GB GB8908504A patent/GB2221082B/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-04-20 DE DE19893913043 patent/DE3913043C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-07-18 JP JP1185843A patent/JPH0269692A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0581875B2 (de) | 1993-11-16 |
JPH0269692A (ja) | 1990-03-08 |
DE3913043A1 (de) | 1990-01-25 |
GB2221082B (en) | 1992-09-23 |
FR2634286A1 (fr) | 1990-01-19 |
FR2634286B1 (fr) | 1993-10-01 |
GB8908504D0 (en) | 1989-06-01 |
GB2221082A (en) | 1990-01-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0189777B1 (de) | Korpuskularstrahl-Messverfahren zum berührungslosen Testen von Leitungsnetzwerken | |
DE3913965A1 (de) | Direkt abbildendes sekundaerionen-massenspektrometer mit laufzeit-massenspektrometrischer betriebsart | |
DE3636316C2 (de) | ||
DE19838600A1 (de) | Energiefilter und Elektronenmikroskop mit Energiefilter | |
DE112014004151T5 (de) | Verfahren zur Korrektur der Neigung eines Strahls geladener Teilchen und mit einem Strahl geladener Teilchen arbeitende Vorrichtung | |
DE3045013C2 (de) | ||
EP1063676A2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur energie- und winkelaufgelösten Elektronenspektroskopie | |
DE2331091B2 (de) | Einrichtung zur Bestimmung der Energie geladener Teilchen | |
DE3913043C2 (de) | Energieanalysator | |
DE2705430C3 (de) | Elektrostatischer Analysator für geladene Teilchen | |
EP1559126B9 (de) | BILDGEBENDER ENERGIEFILTER FüR ELEKTRISCH GELADENE TEILCHEN UND VERWENDUNG DES BILDGEBENDEN ENERGIEFILTERS | |
DE3918249C1 (de) | ||
DE19620821A1 (de) | Elektronenmikroskop und Probenbetrachtungsverfahren unter Verwendung desselben | |
DE69918958T2 (de) | Rasterelektronenmikroskop mit einem ortssensitiven detektor | |
DE112007003536T5 (de) | Ladungsteilchenstrahl-Untersuchungsgerät und einen Ladungsteilchenstrahl verwendendes Untersuchungsverfahren | |
DE2105805C3 (de) | Gerät zur Elektronenspektroskopie | |
DE102020104151B3 (de) | Abbildungsvorrichtung für Elektronen und ein Abbildungsverfahren zur Reduktion des Untergrundsignals in abbildenden elektronenoptischen Geräten | |
DE112012003411B4 (de) | Multipolmessvorrichtung | |
DE2728842A1 (de) | Analysator fuer geladene teilchen | |
DE2730889C2 (de) | Einrichtung zur ortsauflösenden Materialuntersuchung einer Probe | |
EP0254128A2 (de) | Verfahren und Anordnung zur aufladungsfreien Untersuchung einer Probe | |
DE102019101750A1 (de) | Elektronenstrahlvorrichtung | |
DE900876C (de) | Anordnung zur Wiedergabe von Haeufigkeitskurven mittels einer Braunschen Roehre | |
DE102017130072A1 (de) | Impulsauflösendes Photoelektronenspektrometer und Verfahren zur impulsauflösenden Photoelektronenspektroskopie | |
DE1764467A1 (de) | Mikroskop |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |