DE3879962T2 - Gerät zur regelung der resonanzraumlänge für einen multioszillator. - Google Patents

Gerät zur regelung der resonanzraumlänge für einen multioszillator.

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Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft Inertialsensoren und im besonderen, aber nicht ausschließlich, eine verbesserte Vorrichtung zum Regeln der Resonanzraumlänge von Multioszillator-Ringlaserkreiseln und Beschleunigungsmessern.
  • Die Multioszillatoren wurden zum überwinden des "Lock-In" Problems in Ringlaserkreiseln vorgeschlagen. In der Tat arbeitet der Multioszillator als ein Paar von Zweimode-Ringlaserkreiseln, die einen einzelnen Resonanzraum gemeinsam benutzen. Der Multioszillator-Lichtresonanzraum unterstützt ein im wesentlichen linkskreispolarisiertes (LCP) Strahlenpaar, das einen im Uhrzeigersinn und einen anderen gegen den Uhrzeigersinn umlaufenden Strahl mit Winkelgeschwindigkeiten ωLC bzw. ωLA umfaßt. Ähnlich unterstützt der Multioszillator-Lichtresonanzraum weiter ein im wesentlichen rechtskreispolarisiertes Strahlenpaar (RCP), das ebenfalls aus gegenläufigen Strahlen mit Winkelgeschwindigkeiten ωRC und ωRA besteht. Idealerweise verhält sich jedes Strahlenpaar unabhängig wie ein Zweimoden-Ringlaserkreisel und erfühlt Körperdrehung durch den Sagnac-Effekt.
  • Um eine unabhängige Funktion dieser zwei Kreisel in dem gleichen Resonanzraum zu erzielen, wird eine Einrichtung auf den Resonanzraum angewendet, um sicherzustellen, daß die zwei Strahlenpaare, ein Paar mit LCP-Licht und das andere mit RCP-Licht, um verschiedene Frequenzen arbeiten. Diese Frequenzseparation ist als "Reziprokspaltung" bekannt und ist typisch in der Größe von einigen Hundert MHz. Frühe Multioszillator-Konstruktionen erreichten die erforderliche Reziprokspaltung durch die Anbringung eines passend ausgerichteten, aktiven optischen Elements in einem Drei- oder Vierspiegel-Resonanzraum.
  • Mit der Reziprokspaltungstechnik im Einsatz können die beiden Gruppen der Multioszillator-Anordnung unabhängig arbeiten, aber jede wird noch dem Lock-In-Phänomen unterliegen. Anders als der mechanisch vibrierte Kreisel, bei dem eine AC-Vorbelastung an die Zittereinrichtung angelegt wird, umgeht der Multioszillator dieses Problem durch Anlegen einer DC-Vorbelastung an die zwei Kreisel, so dar jeder um einen Punkt arbeitet, der weit entfernt ist von dem "Totband", wo der Kreisel keinen Ausgang erzeugt. Diese Vorbelastung ist als "Nicht-Reziprokspaltung" bekannt und wird durch Einbringen einer Faraday-Drehung in den Resonanzraum erreicht.
  • Wenn kreispolarisiertes Licht durch einen Faraday-Rotator fließt, erfährt es eine Phasenverschiebung, die von der Ausbreitungsrichtung durch den Rotator abhängt. Auf solche Weise erfahren die rechtsumlaufenden und die linksumlaufenden Strahlen von jedem Kreisel verschiedene Phasenverschiebungen und lasern folglich bei verschiedenen Frequenzen. Typische Werte für die Nicht-Reziprokspaltung in einem Multioszillator sind viel kleiner (etwa 1 MHz) als die der Reziprokspaltung.
  • Nicht-Reziprokspaltung kann allgemein durch die Verwendung eines Resonanzraum-Innenelements aus geeignetem Glas, das innerhalb eines Axialmagnetfeldes angebracht ist, oder durch Umgeben des gasförmigen Verstärkungsmediums des Resonanzraums mit einem Axialmagnetfeld erzielt werden.
  • Wenn Nicht-Reziprokspaltung in der vorgeschriebenen Weise auf den Multioszillator angewendet wird, ist die resultierende Vorbelastungsverschiebung in dem linkskreispolarisierten Kreisel gleich, aber im Vorzeichen entgegengesetzt zu der Vorbelastungsverschiebung in dem rechtskreispolarisierten Kreisel. Folglich ist, wenn die Ausgänge der zwei Kreisel summiert werden, das resultierende Signal doppelt empfindlich auf Körperdrehhung, aber unabhängig von der Größe der angelegten Vorbelastung. Auf diese Weise macht die differentielle Natur des Multioszillators ihn inhärent unempfindlich gegen Vorbelastungsschwankungen, die z.B. durch Änderungen im Magnetfeld, Temperatur oder dergleichen, die sich als ein Hauptproblem in Einzelkreisel-, Zweimoden-Konstruktionen, die eine DC-Vorbelastung benutzen, erwiesen haben, verursacht werden können.
  • Es ist wohl bekannt, daß die Resonanzraumlänge nicht-planarer Ringlaserkreisel oder Beschleunigungsmesser inhärent empfindlich gegenüber Änderungen von Temperatur, Druck und ähnlichen Faktoren ist. Verschiedene erfolglose Versuche wurden unternommen, stabile Materialien zur Verwendung bei der Herstellung des Instrumentenblockrahmens solcher Sensoren auszuwählen. Daher wurden Multioszillatoren mit Einrichtungen zum Regeln der Resonanzraumlänge von Inertialsensoren und besonders von nicht-planaren Inertialsensoren vorgeschlagen.
  • Ein solcher Multioszilltor ist in US-A-4 123 162 offengelegt, in dem die Regeleinrichtung die Auswertung der vier Strahlen erfordert, um den optimalen Verstärkungszustand aufrechtzuerhalten. Ahnlich erforden die in US-A-3 937 578, DE-A-2 800 332 und US-A-4 006 989 offengelegten Regelsysteme ebenfalls die Auswertung aller vier Strahlen.
  • Die Verwendung solcher Multioszillatoren hat sich als nicht ganz zufriedenstellend erwiesen, dadurch, daß die versuchten Lösungen im allgemeinen auf der Verwendung relativ teurer optischer Geräte, Sensoren und Polarisatoren am Ausgang von einem oder mehreren partiell durchlässigen Spiegeln beruhen. Außerdem sind die optischen Polarisatoren und Geräte, zusätzlich zu ihren relativ hohen Kosten. relativ unstastabil und bringen daher andere Fehlerquellen ein. Ein anderer Faktor, der wesentlich zu der Ungenauigkeit eines solchen Versuchs beigetragen hat, ist die Tatsache, daß, während die s- und p-Mode Polarisierungen der Lichtstrahlen innerhalb ihres lasernden Resonanzraums zu unterscheiden sind, sie am Ausgang des Ausgangsspiegels nicht deutlich zu unterscheiden sind.
  • Wie zu sehen sein wird, können bestimmte Ausführungen der Erfindung entworfen werden, um die Mängel dieser herkömmlichen Technik zu überwinden oder wenigstens zu mindern. In dieser Hinsicht wird, entsprechend einem ersten Aspekt der Erfindung, eine Vorrichtung zum Regeln der Länge eines Multioszillator-Resonanzraums bereitgestellt, die betriebsfähig ist, ein linkskreispolarisiertes, gegendrehendes Strahlenpaar und ein rechtskreispolarisiertes, gegendrehendes Strahlenpaar zu unterstützen, wobei die Vorrichtung Einrichtung zum Modulieren der Strahlen bei einer Modulationsfrequenz von ωm, Einrichtung zum Mischen einer Mehrzahl der modulierten Strahlen und Einrichtung zum Einstellen der Länge des Resonanzraumes als Reaktion auf die aus der Mischereinrichtung erhaltenen Daten umfaßt, dadurch gekennzeichnet, dar vorhanden sind:
  • Einrichtung zur Amplituden-Demodulation, wobei die Mischereinrichtung betriebsfähig ist, die Mischung von einem Paar der in dem Resonanzraum in der gleichen Richtung drehenden modulierten Strahlen an die Demodulationseinrichtung zu liefern; und
  • Einrichtung zum Ermitteln der Amplitude der Komponente des Ausgangs aus der Demodulationseinrichtung bei der Frequenz ωm, wobei die Einrichtung zum Einstellen der Länge des Resonanzraums auf die Amplitude der Komponente bei Frequenz ωm anspricht.
  • Entsprechend einem weiteren Aspekt der Erfindung wird ein Verfahren zum Regeln der Länge eines Multioszillator-Resonanzraums bereitgestellt, das betriebsfähig ist, ein linkskreispolarisiertes gegendrehendes Strahlenpaar und ein rechtskreispolarisiertes gegendrehendes Strahlenpaar zu unterstützen, wobei das Verfahren die Schritte umfaßt von:
  • Modulieren der Strahlen bei einer Modulationsfrequenz ωm;
  • Mischen einer Mehrzahl der modulierten Strahlen; und
  • Einstellen der Länge des Resonanzraums als Reaktion auf die aus der Mischung erhaltenen Daten, dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren weiter die Schritte umfaßt von:
  • Liefern der Mischung eines Paares von in dem Resonanzraum in der gleichen Richtung drehenden modulierten Strahlen zur Amplituden-Demodulation; und
  • Ermitteln der Amplitude der Komponente des Ergebnisses der Amplituden-Demodulation bei der Frequenz ωm, wobei das Einstellen der Länge des Resonanzraums eine Reaktion auf die Amplitude der Komponente bei Frequenz ωm ist.
  • Zum besseren Verständnis der Erfindung und um zu zeigen, wie diese ausgeführt werden kann, wird nun beispielhaft auf die begleitenden Zeichnungen Bezug genommen, in denen:
  • Figur 1 ist eine graphische Darstellung der Funktionseigenschaften eines Viermode-Multioszillators;
  • Figur 2 ist eine schematische Ansicht einer Resonanzraumlängen-Regelvorrichtung in Anwendung mit einem Multioszillator-Inertialsensor; und
  • Figur 3 ist eine schematische Ansicht einer anderen Ausführung einer Resonanzraumlängen-Regelvorrichtung.
  • Nun zu den Zeichnungen. Fig. 1 ist eine graphische Darstellung der Leistungsverstärkungskurve 10 eines Multioszillationsmode-Inertialsensors, z.B. eines Ringlaserkreisels, eines Ringlaser-Beschleunigungsmessers oder eines linearen Beschleunigungsmessers. Eine ganzzahlige Anzahl von Wellenlängen ist um den Lichtstrahl-Resonanzraumpfad des Inertialsystems herum erforderlich, um Oszillation zu erzeugen. Wie dargestellt, werden vier Oszillationsfrequenzen ωLA, ωLC, ωRC und ωRA durch den Sensor erzeugt.
  • Die Frequenzen ωLA und ωLC werden durch die linken kreispolarisierten Strahlen erzeugt, wobei der Strahl mit der Frequenz ωLC im Uhrzeigersinn läuft und die Welle mit der Frequenz ωLA gegen den Uhrzeigersinn läuft. Die Frequenzen ωRC und ωRA werden durch die rechten kreispolarisierten Strahlen erzeugt, wobei der der Frequenz ωRA entsprechende Strahl gegen den Uhrzeigersinn läuft, während der der Frequenz ωRC entsprechende Strahl im Uhrzeigersinn läuft.
  • Die Kurve 10 wird nachstehend als symmetrisch um eine Mittelachse, die durch ihre Mittel- oder maximale Verstärkungsfrequenz ωc läuft, angenommen. Folglich sind die Leistungsamplituden ALA und ALC, die den Frequenzen ωLA und ωLC entsprechen, in Bezug auf die Mittelachse in der Reihenfolge symmetrisch mit den Leistungsamplituden ARA und ARC.
  • Wie später ausführlicher beschrieben wird, veranlaßt die Resonanzraum- Regelvorrichtung den Inertialsensor bei einer im wesentlichen maximalen Leistungsverstärkung zu arbeiten und veranlaßt die Verriegelung einer solchen Maximalverstärkung. In dieser Hinsicht, und zum Zweck der Aufrechterhaltung einer maximalen Gesamtausgangsleistungsverstärkung für den Inertialsensor werden die den Frequenzen ωLC und ωRC entsprechenden im Uhrzeigersinn umlaufenden Strahlen gemischt und verarbeitet. Es sollte jedoch verstanden werden, daß die den Frequenzen ωLA und ωRA entsprechenden gegen den Uhrzeigersinn umlaufenden Strahlen alternativ gemischt und verarbeitet werden können. Es werden jedoch nur zwei Strahlen benötigt, um die Resonanzraumlänge des Inertialsensors genau zu regeln.
  • Fir. 2 ist eine schematische Darstellung einer Regelvorrichtung 20, die in Verbindung mit einem Multioszillationsmode-Inertialsensor 25 zum genauen Regeln der Länge des internen Resonanzraumpfads des letzteren verwendet wird. Die den Frequenzen ωLC und ωRC entsprechenden im Uhrzeigersinn umlaufenden Strahlen treten durch einen teilweise durchlässigen Spiegel 27 aus und werden durch eine PIN- oder Lawinenphotodiode 30 gemischt. Das im Uhrzeigersinn laufende LCP-Strahlsignal SLC und das im Uhrzeigersinn laufende RCP-Strahlsignal SRC kann durch die folgenden Gleichungen (1) bzw. (2) in Form der Amplituden ALC, ARC und die Winkelfrequenzen ωLC, ωRC als eine Funktion der Zeit ausgedrückt werden:
  • SLC = ALC cos ωLC t (1)
  • SRC = ARC cos ωRC t (2)
  • Die Mischung der zwei Strahlsignale SLC und SRC resultiert in dem folgenden im Uhrzeigersinn laufenden Signal Sc, das am Ausgang der Photodiode 30 erzeugt wird, und das durch die folgenden Gleichungen (3) bis (5) ausgedrückt wird:
  • Sc = SLC SRC (3)
  • Sc = (ALC cos ωLC t) (ARC cos ωRC t) (4)
  • Sc = ½ ALC ARc [cos(ωLC-ωRC)t + cos(ωLC+ωRC)t] (5)
  • Die Summe der zwei Frequenzen ωLC und ωRC ist im wesentlichen zu groß, um durch die Photodiode 30 ermittelt zu werden, und das Signal Sc kann daher durch ein Signal Sc1, wie in der folgenden Gleichung (6) ausgedrückt, angenähert werden:
  • Sc1 = ½ ALC ARc [cos(ωLC-ωRC)t] (6)
  • Das Signal Sc1 wird durch ein Spiegelzittersignal (A cos ωm t), das durch einen Oszillator 33 erzeugt wird moduliert. Die Zitterfrequenz ωm liegt im Bereich von ein (1) KHz und zehn (10) KHz. Die bevorzugte Frequenz ist jedoch etwa vier (4) KHz. Das Signal SCD, einschließlich der Zittermodulation, wird durch die Gleichung (7) wie folgt ausgedrückt:
  • SCD = ½(ALC A'LC A cos(ωmt) (ARC + A'RC A cos(ωmt)[cos(ωLCt+ωRCt+ 2 Mf sin ωmt)+cos (ωLCt-ωRCt)] (7)
  • Worin A die Amplitude des Zittersignals, ωm ist die Winkelfrequenz des Zittersignals, A'Lc ist die Ableitung von ALC in Bezug auf die Amplitude (dALC/dA), A'RC ist die Ableitung von ARC in Bezug auf die Amplitude (dARC/dA) und Mf ist der FM-Modulationsindex für die vier Moden.
  • Wie aus Gleichung (7) zu erkennen ist, ist der Term
  • SCD = ½(ALC A'LC A cos(ωmt) (ARC+A'RC A cos(ωmt) der Amplitudenmodulationsterm, während der Term
  • [cos(ωLCt+ωRCt+2 Mf sinωmt)+cos(ωLCt-ωRCt)] der Frequenzmodulationsterm ist. Folglich verbleibt nach Demodulation des Signals SCD durch einen Amplitudendemodulator 40 nur der Amplitudenmodulationsterm und das demodulierte Signal SDD kann in Gleichung (8) und (9) wie folgt ausgedrückt werden:
  • SDD = (ALC+A'Lc A cos(ωmt)) (A'RC cos(ωmt)) (8)
  • SDD = ALC ARC+(ALC A'RC+ARC A'LC)
  • A cos(ωmt)+½A'LC A'RC A² (1+cos2ωmt). (9)
  • Wie aus Gleichung (9) zu sehen ist, hat daher das Signal SDD einen Maximalwert wenn der Term
  • (ALC A'RC+ARC A'LC)
  • null ist. Ein solcher Term ist jedoch die Ableitung des Terms ALC ARC in Bezug auf die Amplitude, wie in der folgenden Gleichung (10) gezeigt wird:
  • d/da (ALC ARC) = (ALC A'RC+ARC A'LC). (10)
  • Der Maximalwert des Signals SDD entspricht der maximalen Amplitude der im Uhrzeigersinn umlaufenden LCP- und RCP-Amplituden ALC bzw. ARC. Wie auch durch die Leistungsverstärkungskurve 10 in Fig. 1 veranschaulicht wird, entsprechen folglich die optimalen Werte von ALC und ARC den Punkten 45 und 47 auf der Kurve 10, wo die Steigungen der Kurve in der Größe gleich, aber im Vorzeichen entgegengesetzt sind.
  • Das gemischte Signal am Ausgang der Photodiode 30 wird durch einen Hochfrequenz-Transimpedanzverstärker 50 und einen HF-Verstärker 55 geführt, bevor es an einen HF-Spektrumanalysator übertragen wird. Das demodulierte Signal am Ausgang des Amplitudendemodulators 40 wird mit dem Eingang eines Lock-In-Verstärkers 60 verbunden, der den Fehler ermittelt (d.h. cos ωmt Term) und ihn verstärkt.
  • Das verstärkte Signal am Ausgang des Lock-In-Verstärkers 60 wird zu einem Integrator 63 und dann in einen Hochspannungsverstärker 66 zum Verriegeln des Sensors 25 bei seiner maximalen Verstärkungsfunktion geführt. Das verstärkte Signal wird in einen Piezowandler 70 geführt, der bewirkt, dar ein Spiegel 72, anders als der Austrittsspiegel 27, bei einer vorbestimmten Position verriegelt und bei einer Zitterfrequenz ωm, die von einem Oszillator 33 geliefert wird, vibriert wird.
  • Nun zu Figur 3. Dort wird eine andere Resonanzraumlängen-Regelvorrichtung 100 veranschaulicht.
  • Die Vorrichtung 100 ist ähnlich der in Fig. 2 dargestellten Vorrichtung 20 und enthält eine PIN- oder Lawinenphotodiode 102, welche die im Uhrzeigersinn umlaufenden Strahlen am Ausgang des Austrittsspiegels 27 mischt. Das gemischte Signal am Ausgang der Photodiode 102 wird durch einen Hochfrequenz-Vorverstärker 104, durch ein reziprokes Frequenzbandpaßfilter 106 und durch einen HF-Verstärker 108 geführt. Das Signal am Ausgang des Verstärkers 108 wird dann durch einen Amplitudendemodulator 111 demoduliert und dann in ein NF-Bandpaßfilter 115 geführt, bevor es durch einen NF-Synchrondetektor 120 ermittelt wird. Das Referenzsignal wird von einem Oszillator 125 an den Detektor 120 geliefert und ist auch mit dem Piezowandler 70 und dem vibrierten Spiegel 72 über einen Kondensator 74 verbunden.
  • Das Nettofehlersignal am Ausgang des Synchrondetektors 120 wird von einem aktiven Integrator 127 integriert bevor es von einem Piezowandler-Spannungsverstärker 130 zur Verbindung mit dem Piezowandler 70 verstärkt wird.
  • Beide hierin beschriebenen Resonanzraumlängen-Regelvorrichtungen sind somit relativ billiger und weniger kompliziert als die bestehenden Regeleinrichtungen, die optische Komponenten und Polarisatoren einsetzen. Außerdem enthält die vorliegende Resonanzraumlängen-Regelvorrichtung ein Rückkopplungssystem, das automatisch die Länge des Resonanzraumpfades zur genauen Regelung des Multioszillationsmode-Inertialsensors, ungeachtet der Unplanheit oder des nicht-planaren Winkels des Multioszillators, einstellt.

Claims (18)

1. Vorrichtung zum Regeln der Länge eines Multioszillator-Resonanzraums, die betriebsfähig ist, ein linkskreispolarisiertes, gegendrehendes Strahlenpaar (ALA, ALC) und ein rechtskreispolarisiertes, gegendrehendes Strahlenpaar (ARC, ARA) zu unterstützen, wobei die Vorrichtung eine Einrichtung (33) zum Modulieren der Strahlen bei einer Modulationsfrequenz von ωm, eine Einrichtung (30) zum Mischen einer Mehrzahl der modulierten Strahlen und eine Einrichtung (63) zum Einstellen der Länge des Resonanzraumes als Reaktion auf die aus der Mischereinrichtung (30) erhaltenen Daten umfaßt, dadurch gekennzeichnet, dar vorhanden sind:
Einrichtung (40) zur Amplituden-Demodulation, wobei die Mischereinrichtung (30) betriebsfähig ist, die Mischung von einem Paar der in dem Resonanzraum in der gleichen Richtung drehenden modulierten Strahlen an die Demodulationseinrichtung (40) zu liefern; und
Einrichtung (60) zum Ermitteln der Amplitude der Komponente des Ausgangs aus der Demodulationseinrichtung bei der Frequenz ωm, wobei die Einrichtung (63) zum Einstellen der Länge des Resonanzraums auf die Amplitude der Komponente bei Frequenz ωm anspricht.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, in der die Einrichtung (30) eine PIN-Photodiode zum Mischen enthält.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1, in der die Einrichtung (30) eine Avalanche-Photodiode zum Mischen enthält.
4. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche und einschließend einen Hochfrequenz-Transimpedanz-Verstärker (50), der zwischen die Mischereinrichtung (30) und die Einrichtung zur Amplituden-Demodulation (40) geschaltet ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4 und einschließend einen HF-Verstärker (55), der zwischen den Hochfrequenz-Transimpedanz-Verstärker (50) und die Einrichtung (40) zur Amplituden-Demodulation geschaltet ist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5 und einschließend ein reziprokes Frequenzbandpaßfilter (106), das zwischen den Hochfrequenz-Verstärker (104) und den HF-Verstärker (108) geschaltet ist.
7. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, in der die Einrichtung zum Modulieren einen Oszillator (33) enthält.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, in der der Oszillator betriebsfähig ist, eine Modulationsfrequenz in dem Bereich von ein KHz bis zehn KHz bereitzustellen.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, in der die Modulationsfrequenz etwa 4 KHz beträgt.
10. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, in der die Einrichtung zum Ermitteln einen Lock-In-Verstärker (60) enthält.
11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, in der die Einrichtung zum Ermitteln einen Niederfrequenz-Synchrondetektor (120) enthält.
12. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, in der die Einrichtung zum Einstellen einen aktiven Integrator (63) enthält.
13. Vorrichtung nach Anspruch 12 einschließend einen Hochspannungsverstärker (66), der zwischen den Integrator (63) und den Multioszillator geschaltet ist.
14. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, einschließend ein Niederfrequenz-Bandpaßfilter (115), das zwischen die Einrichtung zur Amplituden-Demodulation (111) und die Einrichtung zum Ermitteln (120) geschaltet ist.
15. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, in der die Einrichtung zum Einstellen einen Piezowandler (70) enthält.
16. Verfahren zum Regeln der Länge eines Multioszillator-Resonanzraums, das betriebsfähig ist, ein linkskreispolarisiertes, gegendrehendes Strahlenpaar und ein rechtskreispolarisiertes, gegendrehendes Strahlenpaar zu unterstützen, wobei das Verfahren die Schritte umfaßt von:
Modulieren der Strahlen mit einer Modulationsfrequenz ωm:
Mischen einer Mehrzahl der modulierten Strahlen; und
Einstellen der Länge des Resonanzraums als Reaktion auf die aus der Mischung erhaltenen Daten, dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren weiter die Schritte umfaßt von:
Liefern der Mischung eines Paares von in dem Resonanzraum in der gleichen Richtung drehenden modulierten Strahlen zur Amplituden-Demodulation; und
Ermitteln der Amplitude der Komponente des Ergebnisses der Amplituden-Demodulation bei der Frequenz ωm, wobei die Einstellung der Länge des Resonanzraums als Reaktion auf die Amplitude der Komponente bei Frequenz ωm erfolgt.
17. Verfahren nach Anspruch 16, in dem die Länge des Resonanzraums eingestellt wird, um die Leistungsverstärkung des Multioszillators zu optimieren, so daß der Multioszillator bei Frequenzen arbeitet, bei denen die Steigungen der Leistungsverstärkungskurve gleich in der Amplitude und entgegengesetzt im Vorzeichen sind.
18. Verfahren nach Anspruch 17, in dem die Frequenzen den Frequenzen der in der gleichen Richtung drehenden Strahlenpaare entsprechen.
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