DE3842131A1 - Einrichtung zur erzeugung eines magnetfeldes - Google Patents
Einrichtung zur erzeugung eines magnetfeldesInfo
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Description
Die Erfindung betrifft die Steuerung von bestrahltem Material
sowie die Strahlentechnologie geladener Teilchen,
und insbesondere einen Elektromagneten mit einem
Luftspalt in der Nähe des zwischen der Teilchenquelle
und dem Target liegenden Raums zum Normalisieren
des Einfallswinkels des Strahls gegenüber der Targetfläche
sowie zum Ablenken der Streuteilchen auf diese
Targetfläche, und eine Steuereinrichtung, durch die
der durch die geladenen Teilchen erzeugte Fluß kompensiert
wird.
Im Fachgebiet der Bestrahlung von Blechen, insbesondere
mit einem Elektronenstrahl, ist zur Erzielung gleichförmiger
Produkteigenschaften ein gleichförmiger
Strahl sowie die Dosisverteilung über die gesamte
Oberfläche kritisch. Es wurden seit der Nutzbarkeit
geladener Teilchen sowie, insbesondere, der Behandlungsmöglichkeit
von Stoffen mit dem Elektronenstrahl
viele Vorrichtungen und Weiterentwicklungen diesbezüglich
zur verbesserten Strahlenverteilung eingeführt,
um die Gleichförmigkeit in der Strahlendosis herbeizuführen.
Der erste gelungene Schritt in diese Richtung
betraf das in stets entgegengesetzter Richtung gesteuerte
(Zeilen)Abtasten oder Scannen des Strahls
gemäß beispielhalber der US-PS 26 02 751. Obgleich
hierdurch Nützlichkeit der Scannertechnologie weitgehend
gefördert wurde, blieben Probleme bezüglich der Produkteinheitlichkeit
oder -gleichförmigkeit auch weiterhin
bestehen. Im allgemeinen erwuchsen diese Probleme
aus der äußeren Gestalt und Form beim Strahlenscannen.
Zur Erhöhung einer größeren Gleichförmigkeit und Einheitlichkeit
wurden daraufhin Zusatz- und Zubehörvorrichtungen
eingeführt. Zu diesen gehören reflektierte
Strahltechniken, wie sie beispielshalber in der US-PS
39 42 017 von Yehara offenbart sind, Ablenk-Streuplatten
(siehe o. a. US-PS 26 02 751) sowie eine große
Anzahl von Geräten und Vorrichtungen zum Manipulieren
des jeweiligen Targetprodukts, durch die das Target
gegenüber dem scannenden Strahl bewegt und verdreht
wird. Die bei der Targetproduktmanipulation verwendeten
Gerätschaften sind in ihrem Aufbau verwickelt und
demgemäß stör- und abnutzungsanfällig. Folglich erwachsen
daraus ernste Wartungsprobleme, insbesondere
wenn es während des Bearbeitungsablaufs zu einer
Störung oder zu einem Ausfall kommt. Dann muß nicht
nur die Herstellung unterbrochen werden sondern es
geht möglicherweise auch ein großer Anteil des Targetprodukts
verloren.
Bei den Strahlverteilungs-Steuervorrichtungen zeigt
sich, daß sie, obgleich sie die Dosisgleichmäßigkeit
des Targetprodukts verbessern, die Aufgabe oftmals
nicht erfüllen, eine allgemein ideale Gleichmäßigkeit
zu erreichen. Die Gleichmäßig- oder -förmigkeit
der Dosisverteilung hängt dabei sowohl von der Dosistoleranz
des Targetmaterials als auch von den Kenndaten
des abgetasteten (scanned) Strahls ab. Es ist der auf
diesem Gebiet vertrauten Fachwelt bekannt, daß mit
der Energieabnahme auch die Gleichförmigkeit eines
Elektronenstrahls zurückgeht. Demgemäß tritt bei
Strahlenenergie unter 1 MeV und, insbesondere, bei
300 bis 400 KeV eine allgemein nachweisbare 5%ige
oder höhere Schwankung der Dosisgleichförmigkeit
auf. Dieser Verlust an Gleichförmigkeit ist die Folge
des Identitätsverlustes der Elektronen bei ihrem
Durchgang durch das (im allgemeinen aus Titanfolie
oder dgl. bestehende) Quellfenster des Elektronenstrahls
und wird noch verstärkt durch das verringerte
Auftreffen der zerstreuten Elektronen auf die Abtast-
oder Scann-Grenzbereiche.
Nachstehend wird zunächst auf den Intensitätsverlust
eingegangen. Die offensichtliche Dicke des Strahl-Quellfensters
und des Luftzwischenraums zwischen Fenster
und Target nimmt zu den Grenz- oder Randbereichen
des Abtastwinkels fortschreitend zu. Obgleich der
Aufbau dergestalt ist, daß er eine minimale Dicke
aufweisen soll, wird Elektronenstreuung sowohl durch
das Fenster als auch durch die Tiefe der zwischen
dem Fenster und der Targetproduktoberfläche bestehenden
Atmosphäre erzeugt. Grundsätzlich gilt, daß je größer
die offensichtliche Dicke ist, desto größer ist auch
der Grad der Elektronenstreuung und desto größer
der Verlust der Strahldosisintensität längs der Abtastgrenzbereiche
(scan boundaries). Dieser Verlust läßt
sich durch das einfache arithmetische Verhältnis
Intensität ≈ 1/cos α
ausdrücken, worin α gleich ist dem Abtastwinkel an
einem gegebenen Punkt. Demzufolge nimmt also beim
Abtasten des Strahls über die gesamte Produktbahn
die Elektronenstreuung von einem Minimum bei einem
normalen Einfallswinkel bis auf ein Maximum bei
den Grenzbereichen des Sweep- oder Ablenkwinkls zu.
Es ist dabei üblich, daß die Produktkanten dem Abtastgrenzbereich
entsprechen. Somit führt die Zunahme
der Streuung zu einem effektiven Dosisverlust und
einer entsprechend verringerten Gleichförmigkeit
der Produktbestrahlung an den Produktkanten.
Einen weiteren größeren Beitrag zur nicht gleichförmigen
Targetbestrahlung aus der zunehmenden offensichtlichen
Dicke, besonders im Falle von flachen
oder blechartigen Materialien, stellt der Verlust
der Dosisintensität von den gestreuten Elektronen
dar. Wie bereits vorstehend dargelegt, nimmt bei
Annäherung des Strahls an die Produktkante (Abtastrandzone)
die offensichtliche Dicke des Fensters und
der Luftzwischenraum zwischen Fenster und Material
zu. Hierbei ist die Streuung insbesondere mit Strahlen
erfaßbar, deren Energien unter 1 MeV liegen. Ein
meßbarer Anteil der durch das Fenster und den Luftspalt
während des Scannens gestreuten Elektronen trifft
auf das Produkt im Randbereich zum Hauptstrahl auf.
Am Rande des Targets treffen jedoch derartig gestreute
Elektronen auf Luft oder auf eine dem Produkt nächstliegende
Fläche. Somit erhalten die Kanten des Targets
vom Strahl bei seiner fortschreitenden Bewegung über
das Target keine verstärkte Streuung und der Beitrag
zur tatsächlichen Dosierung ist demnach an den Targetkanten
nicht vorhanden.
Diese Erscheinung wurde vom Stand der Technik zur
Kenntnis genommen, und diesbezüglich wurde die Verwendung
von Zusatzgeräten aufgegriffen, von denen die am
meisten gebräuchlichen elektrisierte Streuplatten
und Keilmagneten sind. Bei den elektrisierten Streuplatten
trifft der Hauptelektronenstrahl auf eine
Platte auf, die unter einem Scanhornfenster angeordnet
ist, das die Erzeugung von sekundären Elektronen
(siehe Fig. 2) bewirkt. Ein Teil der sekundären
Elektronen, die isotropisch von der Streuplatte freigegeben
werden, trifft auf die Produktkanten und führt zu
einer entsprechenden Zunahme in der Bestrahlung der
Produktkante und somit auch zur Produktgleichförmigkeit.
Auch wenn dies durchaus im allgemeinen akzeptabel
ist, so weist ein derartiges Verfahren doch den Nachteil
auf, daß sekundäre Elektronen erzeugt werden, die
von der Streuplatte aus in allen Richtungen streuen.
Wichtiger hierbei ist jedoch noch, daß die sekundären
Elektronen, die nach dem Streuplattenverfahren erzeugt
werden, nicht dieselbe Energie wie die primären Elektronen
besitzt, was seinerseits zu einem geringeren
Grad der Durchdringung jener Elektronen an den Produktkanten
führt. Demzufolge wird auch keine ideale Gleichförmigkeit
erzielt.
Die Verwendung von Keilmagneten, die peripherisch
innerhalb des Scanhorns und unmittelbar über dem
Fenster (siehe die dortige Fig. 3) angeordnet sind,
was also das zweite herkömmliche korrigierende Hauptverfahren
zur Schaffung einer erhöhten Strahlgleichförmigkeit
darstellt, ist in der US-PS 29 93 120 der Anmelderin
Emanuelson eindeutig offenbart. Hierbei erzeugen
die Magneten entsprechend der Höhe des Magneten einen
Magnetfluß in der Scanhornbasis. Ziel des Keilmagnetverfahrens
ist die Erzeugung eines minimalen quergerichteten
Magnetfeldes mittig von Scanhorn (minimale
Höhe), das einen normalisierten Elektronenstrahl
und der fortschreitenden erhöhten Intensität zum
Scanumfang hin (maximale Magnethöhe) entspricht.
Durch dieses Verfahren wird zwar das mit dem Streuplattengerät
verbundene Problem des Energieverlustes jedoch
nicht das Elektronenstreuproblem an den vorstehend
angedeuteten Targetkanten gelöst, so daß diese Kanten
weiterhin eines mit dem Mittelteil des Targetproduktes
gleichwertigen Bestrahlungsanteils verlustig gehen.
Die o. a. Verfahren sind mit dem gemeinsamen Problem
behaftet, daß sie aufgrund einer nichtgleichförmigen
Strahlverteilung und nichtgleichförmigen Teilchenstreuung
über den gesamten Abtastbereich keine gleichförmige
Produktbestrahlung schaffen können.
Es ist somit Aufgabe der Erfindung, die herausgestellten
Probleme auszuräumen, die im Hinblick auf Bestrahlungsstrahlen
mit den dem Stande der Technik bekannten
Vorrichtungen auftreten.
Des weiteren wird erfindungsgemäß eine verbesserte
Gleichförmigkeit der Produkte herbeigeführt, die
durch einen scannenden Ladungsteilchenstrahl produziert
werden. Dabei ist die Vorrichtung nach der Erfindung
einfach und gewählt und weist nur die geringste Anzahl
von Bauteilen auf.
Auch wird nach der Erfindung eine Vorrichtung geschaffen,
durch die sowohl der Einfallswinkel eines abtastenden
geladenen Teilchenstrahls auf ein Target normalisiert
und die Nutzung von gestreuten Ladungsteilchen an den
Targetkanten gefördert wird.
Ein weiteres Ziel der Erfindung ist, einen Magnetfeldformer
zu schaffen, der leicht auf die Produktbestrahlungstechnologie
mit Elektronenstrahl umgestellt werden
kann.
Die Aufgabe der Erfindung beinhaltet auch eine Steuerung
zum Kompensieren des Magnetflusses, der durch Abtasten
mit einem Strahl geladener Teilchen in einem Magnetfeldformer
induziert wird.
Eine diese Ziele und Aufgaben erfüllende Vorrichtung
für eine Bestrahlung gewählter Targets mit geladenen
Teilchen weist eine Einrichtung zum Erzeugen eines
Strahls geladener Teilchen, eine Fenstereinrichtung
zum Abtasten mit dem Strahl in stets entgegengesetzter
Richtung durch eine Ebene und über einen gewählten
Winkel, der ausreicht, die Bestrahlung der Targetkanten
mitzuumfassen, und eine elektromagnetische
Ablenkeinrichtung zum Ablenken der geladenen Teilchen
im Strahl und der vom Fenster gestreuten Teilchen
auf, wobei die elektromagnetische Ablenkeinrichtung
einen Luftspalt besitzt, der eine größere Breite
als die Breite des Strahls hat, und wobei die Ablenkeinrichtung
allgemein nächstliegend zum Fenster sowie
zwischen dem Fenster und dem Target angeordnet liegt,
um einen Magnetfluß senkrecht zur Ebene des Teilchenstrahls
zu erzeugen, um den Einfallswinkel der Teilchen
im Strahl, die vom Fenster gestreut werden, abzulenken
und zu normalisieren.
Diese Zielsetzungen werden darüber hinaus erreicht
durch einen Magnetfeldformer in einem Scann-Hochenergieteilchengerät
zum Bestrahlen von gewählten Targets
mit Außenkanten durch geladene Teilchen, wobei das
Gerät eine Einrichtung zum Erzeugen eines Strahls
geladener Teilchen und eine Einrichtung aufweist,
durch die der Strahl in stets entgegengesetzter Richtung
durch eine Ebene und über einen gewählten Winkel
abtastend geführt wird. Die Hauptmerkmale des Geräts
sind zwei elektromagnetische Ablenkeinrichtungen
zum Ablenken der geladenen Teilchen im Strahl bei
seiner Abtastung quer über den gewählten Winkel,
wobei jede der elektromagnetischen Ablenkeinrichtungen
einen Luftspalt von einer Länge, die größer ist als
die Breite des Strahls, wobei jede Ablenkeinrichtung
entfernt angeordnet ist und sich in einem Abstand
befindet, der von der Erzeugereinrichtung gleichweit
entfernt und allgemein an die Targetkanten angrenzend
liegt, und wobei die magnetische Ablenkeinrichtung
so eingesetzt ist, daß sie einen Magnetfluß senkrecht
zum normalisierten Teilchenstrahl erzeugt. Die Stärke
des Flusses ist umgekehrt proportional zur Entfernung
von der magnetischen Ablenkeinrichtung. Somit wird
durch die magnetische Ablenkeinrichtung der Einfallswinkel
des Teilchenstrahls über den gesamten Abtastwinkel
normalisiert, und hierbei werden durch sie
die gestreuten Elektronen an den Abtastgrenzen in
die Targetkanten abgelenkt.
Des weiteren werden die Ziele der Erfindung erreicht
durch einen Magnetfeldformer zum Steuern eines Strahls
geladener Teilchen, und zwar mit einer Teilchenstrahlquelle
zum Erzeugen eines ein Fenster aufweisenden
Teilchenstrahls, wobei eine Einheit zum Versorgen
der Spule mit elektrischem Strom, ein magnetisiertes
Joch mit zwei Armen einer gewünschten Länge, die
durch einen Luftspalt einer gewünschten Breite getrennt
sind, und mit einer ihre Arme verbindenden Basis
sowie einer aus einer gewählten Anzahl von Windungen
bestehenden Induktionsspule vorgesehen ist und wobei
die Spule an der Versorgungseinheit angeschlossen
und um die Basis zwischen den Armen angeordnet ist.
Die Steuerung verfügt darüber hinaus über einen Spannungsverstärker
zum Verstärken der durch den Strahl
in einer Spule induzierten Spannung, einen Differentialverstärker
zum Erzeugen eines Bezugssignals, das der
durch den Teilchenstrahl in der Spule induzierten
Spannung entspricht, und schließlich über eine Einrichtung,
durch die das Signal genutzt werden kann, um
aufgrund des Bezugssignals Einstellungen vorzunehmen.
Durch den hier vorgeschlagenen Magnetfeldformer werden
die geladenen Teilchen, und insbesondere die Elektronen,
an den Enden einer Abtastung voller genutzt sowie
die Gleichförmigkeit der Bestrahlung an den Kanten
eines Produkts, die den Enden einer Abtastung entsprechen,
verbessert. Im wesentlichen wird der von der Erfindung
verfolgte Zweck dadurch erreicht, daß zwei Elektromagneten
vorgesehen werden, die einen Luftspalt von
ausreichender Länge besitzen, um einen Magnetfluß
zum Umfassen des aus einem herkömmlichen Scanhorn-Fenster
austretenden Streuelektronenstrahls zu erzeugen.
Bei zweckmäßig ausgerichteten Elektromagneten wird
der Magnetfluß zur Mittellinie der Abtastung, d. h.
senkrecht zum Produkt und zur Strahlenquelle, fortschreitend
abnehmen. Die von den Feldformern erzeugte
magnetische Kraft wird in Bezug zur Reziproken des
Quadrats der Entfernung von den Polflächen variieren,
wodurch der stärkste Effekt an den Polflächen induziert
wird, während exponentiell abnehmende Flußdichte
entsprechend der Entfernung von den Polflächen vorgesehen
wird. Somit werden bei richtiger Ausrichtung der
Magnetpolarität die aus dem Ende des Scannhorn-Fensters
heraustretenden Elektronen normalisiert und in die
Produktkanten abgelenkt.
Darüber hinaus sieht die Erfindung eine Steuereinrichtung
vor, durch die der von dem oszillierenden Teilchenstrahl
auf dem Magnetfeldformer kompensiert wird.
Diese Merkmale der Erfindung und deren technische
Vorteile ergeben sich bei der Durchsicht der nachfolgenden
Beschreibung im Kontext einer Elektronenstrahlquelle.
In den Zeichnungen zeigen:
Fig. 1 ein Diagramm einer Dosisgleichförmigkeitskurve,
Fig. 2 eine perspektivische schematische Ansicht
einer Vorrichtung bekannter Ausführung mit Streuplatte,
Fig. 3 eine Vorderansicht einer Vorrichtung bekannter
Ausführung mit einem Keilmagneten,
Fig. 4 eine die Geometrie wiedergebende schematische
Darstellung des Teilchenstrahls und eines Luftspaltmagneten
nach der Erfindung,
Fig. 5 eine Draufsicht der Erfindung mit eingezeichneten
Flußmustern,
Fig. 6 eine Vorderansicht der Erfindung mit eingezeichneten
Streumustern,
Fig. 7 eine Darstellung der durch die Erfindung
geschaffenen Magnetflußfelder,
Fig. 8 und 9 jeweils eine graphische Darstellung
des durch einen abtastenden Elektronenstrahl in der
Erfindung induzierten Flusses als Funktion der Entfernung
bzw. der Spannung über der Zeit und
Fig. 10 eine schematische Darstellung einer erfindungsgemäßen
Kompensationssteuerung des induzierten Flusses.
Die zum Zwecke der Übersicht und zum graphischen
Verständnis der Erfindung wiedergegebene Darstellung
der Fig. 1 zeigt mit der gestrichelt gezeichneten
Linie 10 den sich abhebenden Verlauf der herkömmlichen
Gleichförmigkeit an, wobei die Amplitude sonst mit der
durch die durchgehende Linie 12 gekennzeichneten
Amplitude, die die ideale Gleichförmigkeit darstellt,
als gleichwertig erscheinen und im wesentlichen mit
dieser Linie 12 zusammenfallen würde. Die hauptsächlichen
Unterschiede zwischen beiden Linien 10 und
12 liegen in den Bereichen 14 bzw. 16. Herkömmliche
Elektronenstrahl-Scanner erbringen eine fast gleichförmige
Targetbestrahlung über die Länge der Abtastung,
ausgenommen an deren Enden. Den Kanten der als Blech
ausgebildeten Targets wird, wie vorstehend bereits
beschrieben, aufgrund offensichtlicher reduzierter
Intensität und unkontrollierter Streuung keine equivalente
Dosierung verabreicht. Aber auch durch bereits
unternommene Korrekturversuche mittels der nunmehr
bekannten Technologie unter Verwendung von Streuplatten
und Keilmagneten (siehe Fig. 2 und 3) konnte ein
wesentlicher Dosierungsverlust über eine Schwankung
von 5% hinaus an der Scann-Peripherie, die durch
den graduellen Kurvenverlauf der Linie 10 in der
Zone 14 dargestellt ist, nicht behoben werden muß. Demgegenüber
zeigt die Linie 12, daß erfindungsgemäß eine
derartige Nichtgleichförmigkeit vermieden wird, was
durch den scharfen Übergang in der Zone 16 deutlich
zu sehen ist. Die Dosierung über der gesamten Abtastlänge
besitzt somit ideale Gleichförmigkeit, d. h.
sie weist weniger als 5% Schwankung auf.
Zur Erzielung der idealen Gleichförmigkeit (Linie
12 werden erfindungsgemäß zwei Grundsätze der Teilchenstrahltechnologie
miteinander verknüpft. Zunächst
wird nach der Erfindung der Einfallswinkel der Primärelektronen
des Strahls gegenüber dem Target normalisiert.
Die Magnetflußlinien verändern den Krümmungsradius
der Bahnen der Primärelektronen in Abhängigkeit
vom Ort der Elektronen relativ zur Abtastung und
zum Target. Der zweite Grundsatz betrifft die Neuausrichtung
und effektive Nutzung der vom Fenster gestreuten
Elektronen sowie dem Luftzwischenraum an den Strahlenenden.
Die Elektronen hätten sonst, wie oben bereits dargelegt,
ihre Bahn außerhalb der Strahlabtastung und jenseits
der Targetkanten.
Den Zeichnungen der Fig. 2 und 3 sind bekannte
Ausführungen des Streuplatten- bzw. Keilmagnet-Steuergeräts
zu entnehmen. Durch das Scannhorn 20 wird der für
die auf das blechartige Erzeugnis 22 auftreffenden
Elektronen bestehende Umfang des Abtastvorgangs 26
des stets in entgegengesetzter Richtung geführten
Elektronenstrahls eingeengt. Beim Austreten von Primärelektronen
aus dem (nicht dargestellten) Fenster
an der Basis des Horns treffen die Elektronen an
der Abtastperipherie auf die Platten 24 auf.
Dann werden Sekundärelektronen niedriger Energie
28 isotopisch erzeugt, von denen einige in die Targetkanten
eindringen. Aufgrund der niedrigeren Energie
der abgegebenen Sekundärelektronen zeigt sich, daß
der Durchdringungsgrad gegenüber den Elektronen des
Strahls niedriger ist. Mit der Technologie unter
Verwendung derartiger Streuplatten wird vorteilhafterweise
die Produktgleichförmigkeit dennoch verbessert,
indem die Targetkanten von den Sekundärelektronen
eine erhöhte Elektronenbestrahlung erfahren.
Die bekannte Ausführungsform nach Fig. 3 unter Verwendung
der bekannten Keilmagnetvorrichtung besteht
aus einem Scannhorn 30, den Keilmagneten 32 sowie
aus dem Fenster 33. Hierbei liegen die Keilmagneten
32 längs der Scannhornbasis über dem Fenster 33 und
werden von der Induktionsspule 34 gespeist. Der Grad
der Elektronenablenkung durch die Magneten 32 entspricht
der Höhe der Magneten. Somit ist die Ablenkung an
der Abtastperipherie am größten. Nachdem die Primärelektronen
abgelenkt wurden und einen Einfallswinkel
besitzen, der allgemein senkrecht zur Ebene des Fensters
33 und zum Targetprodukt 36 liegt, treten die Elektronen
aus dem Fenster 33 aus und treten in den Luftspalt
38 ein. Hierbei streuen die Elektronen, wie dies
durch die Pfeile 39 angedeutet ist, bevor sie auf
das Target 36 auftreffen. Somit wird ein Teil der
verwendbar gestreuten Elektronen an der Peripherie
der Abtastung des Target 36 verfehlen und es wird
sich eine geringere Dosis an den Targetkanten beobachten
lassen
Die Fig. 4, die die Geometrie der Erfindung in schematischer
Darstellung zeigt, läßt die Zunahme der scheinbaren
Dicke des Fensters und des Luftspalts t mit
dem Schwenkungsgrad des Winkels R von der Senkrechten
erkennen. Die Beziehung der Winkelveränderung zur
scheinbaren Dicke entspricht mathematisch der Gleichung:
t/cos R = scheinbare Dicke
Nachdem der Strahl bei einem Winkel R aus dem Fenster
42 austritt, wird er dem vom Eisenjoch 44 und der
Induktionsspule 46 erzeugten magnetischen Feld ausgesetzt.
Als Folge hiervon werden die Primärstrahlelektronen
auf normal abgelenkt und die gestreuten Elektronen
werden neuausgerichtet, um auf die Targetkante
aufzutreffen.
Der erfindungsgemäße Aufbau nach Fig. 5 zeigt die
räumliche Beziehung des Horns 40 mit den Elektromagnet
50, dem Eisenjoch 44 und der Induktionsspule 46.
Die Induktionsspule 46 liegt an einer (nicht dargestellten)
elektrischen Versorgungsstelle. Das Joch
44 besitzt einen Luftspalt 48, dessen Breite die
Breite des aus dem Fenster austretenden Strahls übertreffen
sollte. Allgemein sollte die Breite von Spalt
48 etwa die doppelte Breite des Strahls haben, um
die primären und gestreuten Elektronen zu umfassen,
die aus dem Horn 40 austreten. Das Joch 44 und ein
ähnliches Joch 54 sind von hinreichender Länge und
so angeordnet, daß sie unter den peripheren Kanten
des Horns 40 liegen. Mit einer derartigen Anordnung
werden die Flußlinien 56 und 58 zwischen den Armen
und den Polen der Joche 44 bzw. 54 geschaffen, wobei
die höchste Flußdichte zwischen den Polen und den
Jocharmen erzielt wird und wobei die abnehmende Magnetkraft
der Entfernung von den Polen entspricht. Es
wird des weiteren empfohlen, um komplementären und versetzten
Fluß an der Hornmitte vorzusehen, die Feld formenden
Elektromagnete 50 und 52 so anzuordnen, daß
sie die durch die Pfeile 56 und 58 angedeuteten Magnetfelder
gegenseitiger Polarität erzeugen.
Die Fig. 6 zeigt die räumliche Beziehung zwischen
den Joch-Elektromagneten 50 und 52 auf der einen
Seite und dem Horn 40 sowie dem Target 60 auf der
anderen Seite. Es sollte für den Fachmann verständlich
sein, daß die physikalische Ausführung und Ausgestaltung
der Induktionsspulen 46 sowie der Magnetjoche 44
und 54 zum Aufbau des Horns sowie zur Breite des
Elektronenstrahls in Beziehung stehen. Die Strahlbreite
wird von der Strahlenergie, der Fensterdicke sowie
der Höhe des Luftzwischenraums zwischen dem Fenster
42 und dem Target 60 bestimmt. Hierbei nimmt die
Breite des Strahls 62 aufgrund zunehmender Streuung
mit abnehmender Energie zu. Bei abnehmender Strahlenergie
sollte die Breite der Feldformer-Elektromagneten
am Luftspalt 48 vergrößert und die Höhe der Joche
44 und 54 zum Abändern der Elektronenbahn verändert
werden, um den gewünschten Grad an Ablenkung der
Elektronen 62 zu erzielen. Da die Intensität der
Flußdichte 56, 58 in Abhängigkeit von der Entfernung
von den Polen des Jochs 44, wie vorstehend beschrieben,
abnimmt, verbleibt das stärkste Magnetfeld zwischen
den Jocharmen (Polen), um die maximale Ablenkung
zu induzieren. Wie in der Zeichnung dargestellt,
erfahren die Bahnen der Elektronen 62, die sich zu
den Jochen 44 und 54 am nächsten befinden, die größte
Winkelneuausrichtung, um gegenüber der Ebene des
Targets 60 normalisiert zu werden. Auch die gestreuten
Elektronen mit ihren Bahnen, auf denen sie das Target
60 verfehlen würden, falls sie nicht daran gehindert
werden, werden in die Kante des Targets 60 hinein
neu ausgerichtet.
Es besteht eine unmittelbare und quantifizierbare
Entsprechungsbeziehung zwischen dem Ablenkungsgrad
der aus dem Fenster 42 in den Luftzwischenraum t
austretenden Elektronen 62 und der Stärke der Flußdichte.
Nachstehend wird der Erfindungsgedanke aus
mathematischer Sicht erläutert. Die mathematische
Flußdichte (Kilogauß pro Zentimeter) variiert gegenüber
der Elektronenstrahlenergie, der Fensterdicke sowie
dem Abtastwinkel. Sie wird ausgedrückt durch die
Gleichung
β ρ = [V(V + 2 V o )]1/2/Kc Kilogauß/cm (1)
worin
β = die Flußdichte in Kilogauß, die benötigt
wird, die Elektronen durch einen Radius ρ in Zentimetern
zu krümmen,
V = kinetische Energie der Elektronen (10⁵-10⁷ Elektronenvolt),
V o = Restenergie der Elektronen = 0,511 MeV
c = Lichtgeschwindigkeit = 2,99 × 10⁸m/sek
k = Konversionskonstante = 10-9
Umrechnung von TESLA-Meter in Kilogauß-cm.
V = kinetische Energie der Elektronen (10⁵-10⁷ Elektronenvolt),
V o = Restenergie der Elektronen = 0,511 MeV
c = Lichtgeschwindigkeit = 2,99 × 10⁸m/sek
k = Konversionskonstante = 10-9
Umrechnung von TESLA-Meter in Kilogauß-cm.
Aus der vorstehenden Gleichung, die die kinetische
Energie der Elektronen angibt, läßt sich die magnetische
Flußkraft leicht bestimmen. Die Tabelle I gibt die
magnetische Kraft wieder, die notwendig ist, Elektronen
mit den angegebenen Energien abzulenken.
MeV | |
β ρ Kg/cm | |
0,4 | |
2,52 | |
1,0 | 4,74 |
2,0 | 8,20 |
3,0 | 11,59 |
4,0 | 14,95 |
5,0 | 18,30 |
Kennt man die benötigte Kraft zur Erreichung der
Zielsetzung der Erfindung, lassen sich die strukturellen
Parameter für die Feldformer 50 und 52 mathematisch
ermitteln. Zu diesen Parametern gehören die Anzahl
der Wicklungen und der Strombedarf der Spulen 46,
die Länge des Luftspalts 48 sowie die Höhe der Joche
44 und 54 .
Die erforderliche Induktanz läßt sich durch die Gleichung
NI = L A β/0,4 π (Ampère pro Windung) (2)
ausdrücken, worin
N = die Anzahl der Windungen der Spule 46
I = Strom
L A = Länge des Magnetluftspalts 48 und
β = Flußdichte im Luftspalt in Gauß.
I = Strom
L A = Länge des Magnetluftspalts 48 und
β = Flußdichte im Luftspalt in Gauß.
Die Beziehung des Abtastwinkels, der Krümmung der
Elektronen sowie des Ablenkwinkels wird bestimmt
durch die Gleichung:
wobei
h = Höhe der Joche 44 und 54
ρ = Krümmungsradius der Elektronen
R = Winkel der Elektronenbahnen von normal.
ρ = Krümmungsradius der Elektronen
R = Winkel der Elektronenbahnen von normal.
Bei Einsetzung der entsprechenden Werte, z. B. der
Elektronenenergie von 0,4 MeV, den Abtastwinkel R
von 30°, der Magnetjochhöhe von 7,5 cm und der Luftspaltlänge
von 5 cm ist die Gleichung 2 für NI lösbar:
β ρ = 2,52 kg/cm
Nachstehend wird das Erfassen der Position des Elektronenstrahls
in Bezug zu den Enden der Abtastung und die
Steuerung des Strahls zur Aufrechterhaltung der Soll-Effekt/Position
über einem variablen Energiebereich
des Elektronenstrahls näher beschrieben.
Nach der Darstellung der Fig. 7 sowie der vorstehenden
Beschreibung erfolgt der oszillierende Elektronenstrahl
62 sein eigenes Magnetfeld 63. In dem Maße, wie das
Magnetfeld 63 des abgetasteten Elektronenstrahls
62 sich dem einen oder anderen Eisenkern 44 oder
54 nähert, setzt etwas von dem Magnetfluß 63 durch die Eisenkerne
44 oder 54 mit zunehmender induzierter Spannung zu fließen
ein, wobei sich der nähere Strahl 62 zu den Eisenkernen 44 oder
54 hin bewegt. Da dieser Fluß mit der Zeit variiert, wird eine
Spannung in den Aufnahme- oder Geberwicklungen 64
und 65 induziert. Die induzierte Spannung ist dabei
aber auch eine Funktion der Abtastfrequenz des Strahls,
der Anzahl der Windungen auf den Wicklungen 64 und
65 sowie der Größe des Magnetflusses 63.
Mathematisch folgt der Magnetfluß 63 dem Biot-Sawartgesetz,
das dargestellt ist durch:
β = 0,2µ I/r, (4)
β = Flußdichte in Gauß
µ = Durchlässigkeit des Mediums
I = Strom in Ampère
r = Entfernung in Zentimetern vom Elektronenstahl zu der Stelle, an der der Fluß gemessen werden soll.
µ = Durchlässigkeit des Mediums
I = Strom in Ampère
r = Entfernung in Zentimetern vom Elektronenstahl zu der Stelle, an der der Fluß gemessen werden soll.
Die induzierte Spannung folgt dem Lenzschen Gesetz.
Dies besagt, daß, wennimmer ein Fluß sich gegenüber
einer Spule ändert, wird eine elektromotorische Kraft
(emf) in der Spule nach folgender Formel induziert:
e = -n(d ⌀ /dt) 10-8 Volt, (5)
wobei
n = Anzahl der Windungen der Wicklungen 64, 65
⌀ = Magnetfluß im Kern,
t = Zeit in Sekunden
⌀ = Magnetfluß im Kern,
t = Zeit in Sekunden
Die Gleichung (5), die zur Berücksichtigung der Tatsache
modifiziert wurde, daß der Fluß nach Gleichung (4)
nicht linear ist, gibt die Beziehung von Fluß β im
Eisenkern 44 oder 54 und Flußdichte an mit
⌀ = A β = 0,2 AµI/r, (6)
worin
A = Fläche des Eisenkerns 44 oder 54
in cm², die β abfängt.
Nimmt man das Differential von ⌀ gegenüber r
d⌀/dr = -0,4 AµI/r² (7)
Durch diese Gleichung ist es möglich, r als Funktion der
Länge der Abtastung, der Entfernung auszudrücken,
über die sich der Strahl von der Mitte des abgetasteten
Strahls und r min bewegt. Da es dem Strahl nicht gestattet
ist, die Polflächen der Eisenkerne 44 oder
54 aufzufangen, erhält r einen Minimalwert, der ausgedrückt
wird als
r min = Radius von der Strahlmitte zur Mitte
der Eisenkern-Polfläche.
Aus der Fig. 7 ist diese Beziehung leicht ersichtlich:
x = 0,5 s - r oder r = 0,5 s - x, (8)
wobei
s = Abtastlänge des Elektronenstrahls
x = Entfernung zu jedem Zeitpunkt der Elektronenmitte vom Mittel- oder Halbierungspunkt der Länge des abgetasteten Strahls.
r = Radius des konstanten Flußpotentials von der der Strahlmitte zu den Polflächen der Eisenkern 44 oder 54 (r min ).
x = Entfernung zu jedem Zeitpunkt der Elektronenmitte vom Mittel- oder Halbierungspunkt der Länge des abgetasteten Strahls.
r = Radius des konstanten Flußpotentials von der der Strahlmitte zu den Polflächen der Eisenkern 44 oder 54 (r min ).
Nimmt man das Differential r gegenüber x der Gleichung
(8) und ersetzt es sowie den Wert von r in der Gleichung
(7), dann
r = 0,5 s - x
dr = -dx
d ⌀ = 0,4 A µ I/(0,5 s - x) ²dx (9)
dr = -dx
d ⌀ = 0,4 A µ I/(0,5 s - x) ²dx (9)
Je nachdem, welche Gleichung (9) in der Gleichung (5) ersetzt
wird, ist das Ergebnis
e = -[0,4nAµI/(0,5 s - x)²]10-8 dx/dt. (10)
Aus Gründen der Vereinfachung wird davon ausgegangen,
daß die Änderungsquote von x gegenüber t (dx/dt)
konstant ist, auch wenn die Geschwindigkeit tatsächlich
in dem Maße zunimmt, wie der Strahl von der Abtastmitte
(wo eine konstante Winkelgeschwindigkeit des Strahls
besteht) abweicht. Durch diesen Faktor wird die mathematische
Analyse unnötigerweise verwickelter und bietet
nur einen geringsten Beitrag zum Ergebnis. Aus diesem
Grunde wird er in dieser Analyse nicht berücksichtigt.
Unter Zugrundelegung der vorstehenden Annahme
dx/dt = 0,5 s/0,25 T = 2 s/T = 2 sf, (11)
wobei
t = die Zeitdauer T /4, die zur Überwindung
der Entfernung x = 0,5 s vom Strahl benötigt
wird
T = die Dauer der Frequenz f des abgetasteten Strahls, T = l/f
T = die Dauer der Frequenz f des abgetasteten Strahls, T = l/f
ersetzt man die Gleichung (11) in der Gleichung (10)
e = -[0,8 nAµIsf/(0,5 s - x)²]10-8 (12)
Nunmehr läßt sich die Spannung e aus der Veränderungsquote
vom Fluß mit der Zeit - ob diese nun zu- oder
abnehmen - oder die Veränderungsquote der Bewegung
des Elektronenstrahls - ob diese zu- oder abnimmt -
errechnen. Es zeigt sich hierbei auch, daß die in
den Wicklungen 64 und 65 induzierte Spannung stets
so ist, daß sie sich einer Änderung des Flusses entgegensetzt.
Wenn demzufolge r abnimmt (x nimmt zu), ergibt
sich eine Zunahme des Flusses und eine zunehmende
negative Spannung e. Dementsprechend ergibt sich
bei einer Zunahme von r (x nimmt ab) mit der Zeit
auch eine Abnahme des Flusses sowie eine zunehmende
positive Spannung.
Ausgehend von den vorstehenden mathematischen Formulierungen
wird nachstehend ein der Veranschaulichung
dienendes Beispiel angegeben. Hierbei geht man von
der Annahme aus, daß die folgenden Werte den nachstehenden
Parametern zugeordnet sind:
n = 100 Windungen
A = 7,5 cm² Querschnittsfläche der Vorderseite des Eisenjochpols
I = 0,1 Ampère, Elektronenstrahl
s = 180 cm, Länge des abgetasteten Strahls
f = 200 Hz, Abtastfrequenz
r = Werte zwischen 3 und 90 cm
µ = l (Luft)
A = 7,5 cm² Querschnittsfläche der Vorderseite des Eisenjochpols
I = 0,1 Ampère, Elektronenstrahl
s = 180 cm, Länge des abgetasteten Strahls
f = 200 Hz, Abtastfrequenz
r = Werte zwischen 3 und 90 cm
µ = l (Luft)
Die berechneten periodischen Werte von e als Funktion von
r sind in der Tabelle II aufgeführt.
Die Fig. 8 und 9 geben graphisch die Werte der Entfernung
x sowie der Spannung e aufgetragen als Funktion
der Zeit wieder. Auch wenn hier die Wellenform dreieckig
wiedergegeben ist, werden durch mindere Beitragsfaktoren
wie die Annahme konstanter Geschwindigkeit
(wie vorstehend angegeben) sowie die Entwicklungsinduktanz
und der Schaltungswiderstand die Plötzlichkeit
der Richtungsladungen gemildert.
Eingehend auf die Fig. 10 wird hier eine schematische
Darstellung der Ausrüstungsteile gegeben, die zur
Steuerung der Höhe des Magnetfeldes entworfen wurden,
das von dem Feldformer erzeugt wird und notwendig
ist, den Elektronenstrahl bei niedriger Frequenz
zu beeinflussen. Darüber hinaus führen diese Teile
den Effekt der vom Strahl induzierten Spannung auf
die Feldformer 50, 52 bei höherer Energie zum Erzielen
einer akzeptablen Abtastgleichförmigkeit auf ein
Minimum zurück. Um den gewünschten Effekt für einen besonderen
Fall zu erzielen, bedarf es einer experimentellen
Bestimmung. In diesem Licht können die nachstehende
Beschreibung und Verfahren sich als hilfreich
erweisen.
Erstens sind, wie bereits vorstehend ausgeführt,
die Magnetfeldformer 50 und 52 körperlich in der
Nähe der Enden des Horns 40 angeordnet. Der Elektronenbeschleuniger
wird dann bei minimaler Spannung und
maximalem Strahlstrom in Betrieb genommen. Der Ausgang
des Differentialverstärkers 92 wird von der Additionsstelle
97 getrennt und das Bezugssignal 94 wird angehoben,
um den Sollwert für den Feldformer zu erhalten, dessen
magnetisches Feld das Randzonenfeld des Elektronenstrahls
beeinflußt. Nach Aktivierung des oszillierenden
Strahls wird in den Spulen 64 oder 65 nach vorstehender
Beschreibung einer Spannung einer bestimmbaren Höhe
erzeugt. Die Spannung wird durch den Spannungsverstärker
91 verstärkt, die Spannungsspitze wird vom Detektor
93 erfaßt und das entsprechende Signal wird dem Differentialverstärker
92 zugeführt. In der Zwischenzeit wird
eine Feedbackspannung, die dem Strahlstrom proportional
ist, durch die Einstellsteuerung 95, z. B. einen Stellwiderstand,
zum Differentialverstärker 92 hindurchgeleitet.
Der Ausgang des Differentialverstärkers wird genullt,
indem das Feedback des Strahlstroms eingestellt
wird, so daß jeglicher Einfluß von Veränderungen
des Strahlstroms auf das Magnetfeld 56, 58 ausgeräumt
wird. Hiernach wird der Ausgang dann wieder mit der
Additionsstelle 97 verbunden und dasselbe Signal
wird an die Mikroprozessorsteuerung 96 zur Fehlerprüfaufzeichnung
und Systmabschaltung übertragen, wenn
der Fehler einen bestimmten Wert überschreitet.
Zur Erläuterung der Funktion der Steuerung führt,
wie bereits vorstehend dargelegt, eine Veränderung
der Energie des Elektronenstrahls, beispielshalber
eine Energiezunahme, zu einer Verringerung des Randzonenfeldes
63 des Elektronenstrals sowie eine entsprechende
Verringerung der Spulenspannung 64, 65. Dies führt
zu einer Spannungsminderung vom Spitzendetektor 93.
Demzufolge ist die Summe des Differentialverstärkers
92 kleiner, so daß der Ausgang des Verstärkers 92
den Ausgang des Summierverstärkers 97 mit der Wirkung
abgeschwächt wird, daß der Gleichstromausgang der
Stromversorgung das Magnetfeld der Magnetfeldformer
50, 52 vermindert.
Nach dem Dargelegten können die Magnetfeldformer
so ausgebildet sein, daß sie für eine Reihe von Situationen
verwendet werden können, wenn erst einmal
die zweckmäßigen Berechnungen zur Erstellung der
erforderlichen Flußdichteinduktivität durchgeführt worden
sind. Dennoch soll der Fachmann hier Vorsicht
walten lassen, da bei den vorstehenden Gleichungen
einige Variable nicht in Betracht gezogen wurden,
die einen geringen Anteil an der Flußdichteerzeugung
haben. Aus Vereinfachungsgründen werden diese aufgrund
ihres geringen Beitrags gegenüber den beträchtlich
mehr in Gewicht fallenden anderen o. a. Beiträgen
nicht mathematisch behandelt.
Auch tragen die vorstehend definierten Gleichungen
den gestreuten Elektronen nicht Rechnung, die aus
dem Hornfenster austreten. Da eine strikte mathematische
Bestimmung ihres Beitrags außerordentlich verwickelt
wäre, wird hier der Vorschlag gemacht, daß eine
empirische Bestimmung des Streubeitrags für die jeweilige
Sondersituation und -struktur experimentell durchgeführt
wird. Zur Erleichterung einer derartigen Bestimmung
wird empfohlen, daß von einem Startpunkt auf der
Grundlage R, des Abtastwinkels, ausgegangen wird.
Aus der vorstehenden Beschreibung ist leicht ersichtlich,
daß verschiedene strukturelle Verbesserungen vorgenommen
werden können. So könnten die Spulen 64 und 65 die
gleichen sein wie die Spulen 46, da letztere durch
Gleichstrom erregt werden und der Abgriff Wechselstrom
ist. Die beiden Ströme lassen sich somit leicht voneinander
unterscheiden. Darüber hinaus können die elektromagnetischen
Feldformer auf einstellbaren Klammern
zum Zwecke der mehrdimensionalen Versetzung sowie
des leichteren Entfernens und Einsetzens angeordnet
werden. Die so gewählten Elektromagnete ließen sich
dann leicht austauschen oder ersetzen und in die
präzise Stellung bringen, je nach den bestehenden
Erfordernissen. Darüber hinaus können auch für bedeutendere
Flußdichteeinstellungen Spulen vorgesehen werden,
die eine unterschiedliche Anzahl von Windungen aufweisen
und auf den Eisenjochen austauschbar sind. Feinere
Einstellungen der Magnetflußkraft können selbstverständlich
erzielt werden, wenn einstell- oder regelbare
Stromversorger verwendet werden. Nach einem weiteren
Abänderungsvorschlag könnten die Polflächen der Eisenkerne
so ausgebildet werden, daß eine Feineinstellung
des Grades der Elektronenstrahlabsenkung an den Enden
der Abtastung erreicht wird.
Die vorstehend beschriebene Ausführungsform betrifft
eine Elektronenstrahlquelle. Der Fachmann dürfte
erkennen, daß die Erfindung auch mit anderen geladene
Teilchen verwendenden Strahlabtastquellen, wie sie
in der US-PS 31 78 604 beschrieben sind, und auch
mit unabgetasteten Elektronenstrahlen verwendbar
ist, beispielshalber der Elektronenvorhang, bei dem
Elektronen senkrecht zum Fenster durchwandern, jedoch
nach dem Austreten gestreut werden.
Diese und ähnliche abgeänderte Ausgestaltungen der
Erfindung sind dem Fachmann geläufig und fallen unter
den Erfindungsgedanken, der in seinem Umfang durch
die Patentansprüche definiert ist.
Claims (14)
1. Einrichtung zur Erzeugung eines Magnetfeldes in
einem mit hochenergetisch geladenen Teilchen arbeitenden
Gerät zur Teilchenbestrahlung von gewählten Targets
mit äußeren Kanten, gekennzeichnet
durch eine Einrichtung zum Erzeugen eines Strahls
geladener Teilchen und mit einem Fenster und durch zwei elektromagnetische
Ablenkeinrichtungen zum Ablenken der
geladenen Teilchen im Strahl bei deren Durchgang
durch das Fenster, wobei jede elektromagnetische Einrichtung
einen Luftspalt von einer Breite besitzt,
die größer ist als die Breite des Strahls, die Ablenkungeinrichtung
zwischen dem Fenster und dem Target in
gleichem Abstand vom Fenster und von einander getrennt
sowie allgemein nächstliegend zu den Targetkanten
angeordnet ist und wobei die Ablenkeinrichtung sich
in einer Stellung befindet, senkrecht zum Teilchenstrahl einen
Magnetfluß zum Normalisieren und Ablenken der gestreuten Teilchen
in das Target zu erzeugen.
2. Einrichtung zur Erzeugung eines Magnetfeldes in
einem Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß als magnetische Ablenkeinrichtung
ein C-förmiges Eisenjoch verwendet wird, das zwei
voneinander räumlich getrennte Pole, zwischen
denen ein Luftspalt gebildet ist, und eine Induktionsspule
besitzt.
3. Einrichtung zur Erzeugung eines Magnetfeldes in einem
Gerät nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß sich die Magnetpole in einer derartigen
Stellung befinden, daß sie einen maximalen Magnetfluß
in unmittelbare Nähe an den Targetkanten induzieren.
4. Einrichtung zur Erzeugung eines Magnetfeldes in
einem Gerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß als geladenes Teilchen Elektronen
verwendet werden und daß darüber hinaus eine Detektor-
und Steuereinrichtung zum Erfassen und Steuern des
Anteils oder Beitrags des vom Elektronenstrahl induzierten
Magnetflusses sowie eine Einrichtung zum abtastenden
Führen des Strahls und ein Abtasthorn
mit einem für Elektronen durchlässigen Fenster vorgesehen
sind, wobei die Elektronen in stets entgegengesetzter
Richtung über einen gewählten räumlichen Winkel geführt
werden, woduch der Einfallswinkel des Elektronenstrahls
quer über den Raumwinkel normalisiert wird.
5. Einrichtung zur Erzeugung eines Magnetfeldes in
einem Gerät nach Anspruch 4, gekennzeichnet
durch eine Einrichtung zum Tragen des Targets, die sich
in einer genau angegebenen Entfernung von der Erzeugereinrichtung
befindet und eine der Breite des Abtastwinkels
gleichwertige Breite hat.
6. Vorrichtung zur verbesserten gleichförmigen Bestrahlung
eines länglichen Targets von einer gegenüber
dem abtastenden Elektronenstrahl vorgeschriebenen
Breite, gekennzeichnet durch
eine Einrichtung zum Erzeugen eines hochenergetischen Elektronenstrahls einschließlich mit Abtasthorn und einem für Elektronen durchlässigen Fenster,
eine Einrichtung zum abtastenden Führen des Elektronenstrahls über einen durch die Enden des Abtasthorns begrenzten vorgeschriebenen Winkels,
eine Einrichtung zum Tragen des Targets in einem vom Fenster vorgeschriebenen Abstand und wo die Targetkanten in einem Abstand räumlich voneinander getrennt sind, der annähernd gleich ist mit der Abtasthornbreite, wodurch er den Begrenzungen des Abtastwinkels entspricht,
eine Magnetfeldformereinrichtung zum Erzeugen des Magnetflusses quer über den Abtastwinkel und parallel zum Fenster, wobei der Fluß an den Targetkanten seine maximale Intensität besitzt und fortschreitend zur Mittellinie des Targets in seiner Intensität abnimmt, und wobei die Magnetfeldformereinrichtung im wesentlichen in der Nähe der Targetkanten angeordnet ist, so daß die Elektronen des Strahls abgelenkt werden und der Einfallswinkel der auf das Target auftreffenden Elektronen allgemein gleichförmig quer über die Targetoberfläche gebildet ist.
eine Einrichtung zum Erzeugen eines hochenergetischen Elektronenstrahls einschließlich mit Abtasthorn und einem für Elektronen durchlässigen Fenster,
eine Einrichtung zum abtastenden Führen des Elektronenstrahls über einen durch die Enden des Abtasthorns begrenzten vorgeschriebenen Winkels,
eine Einrichtung zum Tragen des Targets in einem vom Fenster vorgeschriebenen Abstand und wo die Targetkanten in einem Abstand räumlich voneinander getrennt sind, der annähernd gleich ist mit der Abtasthornbreite, wodurch er den Begrenzungen des Abtastwinkels entspricht,
eine Magnetfeldformereinrichtung zum Erzeugen des Magnetflusses quer über den Abtastwinkel und parallel zum Fenster, wobei der Fluß an den Targetkanten seine maximale Intensität besitzt und fortschreitend zur Mittellinie des Targets in seiner Intensität abnimmt, und wobei die Magnetfeldformereinrichtung im wesentlichen in der Nähe der Targetkanten angeordnet ist, so daß die Elektronen des Strahls abgelenkt werden und der Einfallswinkel der auf das Target auftreffenden Elektronen allgemein gleichförmig quer über die Targetoberfläche gebildet ist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß als Magnetfeldformereinrichtung
ein C-förmiger Magnet mit zwei räumlich getrennten,
einen Luftspalt zwischen ihnen bildenden Polen und
eine Induktionsspule verwendet werden.
8. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß als Magnetablenkeinrichtung
ein C-förmiger Magnet mit zwei räumlich getrennten,
einen Luftspalt zwischen ihnen bildenden Polen und
eine Induktionsspule verwendet werden, wobei die
Magnetpole sich in einer solchen Stellung befinden,
daß ein maximaler Magnetfluß zwischen dem Fenster
und den Targetkanten induziert wird.
9. Kombination, gekennzeichnet durch
ein Target, eine Elektronenstrahlquelle einschließlich
einem Abtasthorn von dreieckiger Ausgestaltung, ein
für Elektronen durchlässiges Fenster von vorgeschriebener
Länge, das die Hornbasis bildet, eine Abtasteinrichtung
zum Bilden einer Abtastebene durch abtastendes Führen
eines Elektronenstrahls in stets entgegengesetzter
Richtung über die gesamte Fensterlänge und durch
zwei entfernt C-förmige elektromagnetische Ablenkeinrichtungen
zum Bilden eines Magnetflußfeldes quer
zum Strahlenabtastgang sowie parallel zum Fenster,
wobei die elektromagnetische Ablenkeinrichtung Pole
und einen Luftspalt aufweist, die Stärke des Flusses
zwischen den Polen am größten ist und die exponentiell
abnehmende Stärke dem Quadrat der Entfernung von
den Polen entspricht, die elektromagnetische Ablenkeinrichtung
getrennt ist um einen Abstand, der geringer
ist als die Länge des Fensters, und peripher vom Fenster
angeordnet ist, wo die elektromagnetische Ablenkeinrichtung
die Bahn des Elektronenstrahls sowie die gestreuten,
aus dem Fenster austretenden Elektronen gegenüber
dem Target normalisieren.
10. Kombination nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,
daß die Magnetpole in einer Stellung
eingesetzt sind, daß sie keinen Teil des Targets
beschatten und maximalen Magnetfluß unmittelbar über
den Targetkanten induzieren.
11. Magnetfeldformer zum Steuern eines Strahls geladener
Teilchen, gekennzeichnet durch eine
Teilchenstrahlquelle zum Erzeugen des Teilchenstrahls,
eine Stromversorgung, ein magnetisiertes Joch mit
zwei Armen einer gewünschten Länge, die durch einen
Luftspalt gewünschter Breite getrennt sind, und mit
einer die Arme verbindenden Basis, eine Induktionsspule
bestehend aus einer gewählten Anzahl Windungen, die
elektrisch an den Stromversorger angeschlossen und
um die Basis zwischen den Armen eingesetzt ist, einen
Spannungsverstärker zum Verstärken der in der Spule
durch den Strahl induzierten Spannung, einen Differentialverstärker
zum Erzeugen eines Bezugssignals, das
der vom Teilchenstrahl in der Spule induzierten Spannung
entspricht, eine Einrichtung, durch die das Signal
genutzt wird, um auf der Basis des Bezugssignals
Einstellungen vorzunehmen.
12. Teilchengerät zum Teilchenbestrahlen gewählter
Targets, gekennzeichnet durch
eine Erzeugereinrichtung zum Erzeugen eines Strahls
aus geladenen Teilchen, ein Fenster, durch das der
Strahl zum Bestrahlen des gesamten Targets hindurch
geführt wird, und durch eine elektromagnetische Ablenkeinrichtung
zum Ablenken der geladenen Teilchen im
Strahl und der durch das Fenster gestreuten Teilchen,
wobei die elektromagnetische Ablenkeinrichtung einen
Luftspalt besitzt, der eine Breite hat, die größer
ist als die Breite des Strahls, und allgemein nächstliegend
stromabwärts vom Fenster angeordnet ist sowie
derart eingesetzt ist, daß Magnetfluß senkrecht zur
Ebene des Teilchenstrahls erzeugt wird, um den Einfallswinkel
der vom Fenster gestreuten Teilchen im Strahl
abzulenken und zu normalisieren.
13. Gerät nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet,
daß als Magnetablenkeinrichtung
ein C-förmiges Einsenjoch mit zwei räumlich getrennten,
einen Luftspalt zwischen ihnen bildenden Polen und
einer Induktionsspule verwendet werden.
14. Gerät nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet,
daß als geladene Teilchen Elektronen
verwendet werden, und gekennzeichnet
durch eine Einrichtung zum Erfassen und Steuern des Anteils
oder Beitrags des vom Elektronenstrahl induzierten
Magnetflusses, durch eine Einrichtung zum abtastenden
Führen des Strahls und durch ein Abtasthorn mit einem
für Elektronen durchlässigen Fenster, wobei die Elektronen
in stets entgegengesetzter Richtung über einen
gewählten räumlichen Winkel geführt werden, wodurch
der Einfallswinkel des Elektronenstrahls über dem
räumlichen Winkel normalisiert wird.
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