DE370554C - Micrometer - Google Patents

Micrometer

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DE370554C
DE370554C DESCH60657D DESC060657D DE370554C DE 370554 C DE370554 C DE 370554C DE SCH60657 D DESCH60657 D DE SCH60657D DE SC060657 D DESC060657 D DE SC060657D DE 370554 C DE370554 C DE 370554C
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measuring element
micrometer
bracket
sleeve
spring
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Expired
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DESCH60657D
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WILHELM SCHEFFER DR
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WILHELM SCHEFFER DR
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/18Micrometers

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)

Description

Mikrometer. Die Erfindung betrifft ein Mikrometer, bei dem das bewegliche, mit einem Maßstab versehene Meßorgan in dem Bügel des Mikrometers verschiebbar ist und mit im wesentlichen gleichbleibendem Federdruck selbsttätig gegen den zu messenden Gegenstand gepreßt wird. Mikrometer dieser Art sind bereits bekannt geworden, und zwar auch solche Mikrometer, bei denen eine Feineinstellung möglich ist. Die Bauart dieser bekannten Mikrometer ist jedoch außerordentlich verwickelt, da neben einer beträchtlichen Anzahl von Zahnrädern auch noch Federn erforderlich sind. Die Feinmessung bei derartigen bekannten Mikrometern wird dabei ernstlich dadurch in Frage gestellt, daß das bewegliche Meßorgan sowohl bei der Grob- als auch bei der Feinmessung durch ein und dieselbe Feder gegen den zu messenden Gegenstand gedrückt wird, wobei die Feder das Meßorgan beim Abtasten eines Gegenstandes größeren Durchmessers kräftiger anpreßt als dies bei einem zu messenden Gegenstand kleineren Durchmessers der Fall ist, weil bei stärkerem Querschnitt eine kräftigere Zusammenpressung der Feder notgedrungen erfolgt.Micrometer. The invention relates to a micrometer in which the movable, provided with a measuring element in the bracket of the micrometer is displaceable and with essentially constant spring pressure automatically against the one to be measured Object is pressed. Micrometers of this type are already known, and even micrometers that can be fine-tuned. The type However, this known micrometer is extremely involved, as next to one considerable number of gears springs are also required are. The fine measurement of such known micrometers becomes serious questioned by the fact that the movable measuring element in both the coarse as also with the fine measurement by one and the same spring against the object to be measured is pressed, the spring the measuring element when scanning an object larger Diameter presses more strongly than this with a smaller object to be measured Diameter is the case, because with a stronger cross-section, a stronger compression the spring takes place by necessity.

Der Zweck der Erfindung ist nun, diese Nachteile zu beseitigen und ein in der Bauart bedeutend einfacheres Mikrometer zu schaffen, bei dem das bewegliche Meßorgan stets mit dem gleichen Druck gegen den abzutastenden Gegenstand gepreßt wird, gleichgiltig, ob dieser großen oder kleinen Durchmesser hat. Erfindungsgemäß ist dabei die Bauart so getroffen, daß für die Grobeinstellung nur zwei Federn erforderlich sind, die bei dieser Einstellung selbsttätig noch eine dritte für die Feineinstellung benötigte Feder unter Spannung setzen.The purpose of the invention is now to eliminate these drawbacks and to create a micrometer with a significantly simpler design, in which the movable Measuring element always pressed with the same pressure against the object to be scanned regardless of whether it has a large or small diameter. According to the invention the design is such that only two springs are required for the coarse adjustment which, with this setting, automatically add a third for the fine adjustment Put the required spring under tension.

Auf der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel des Erfindungsgegenstandes dargestellt, und es ist Abb. i eine teilweise geschnittene Ansicht eines Mikrometers gemäß der Erfindung und Abb. 2 ein Schnitt nach der Linie II-II der Abb. i.The drawing shows an embodiment of the subject matter of the invention and Fig. i is a partially sectioned view of a micrometer according to the invention and Fig. 2 is a section along the line II-II of Fig. i.

Der in der üblichen Weise ausgebildete Mikrometerbügel i trägt an einem Ende das feststehende Meßorgan 2, während in einer Aussparung des anderen Endes ia eine gut passende Hülse :1 verschiebbar angeordnet ist. In der Hülse 4. liegt das bewegliche Meßorgan 3, welches zweckmäßig quadratischen Querschnitt hat und eine Skala 311 aufweist. Die Hülse g wird in dem Bügelende i', durch zwei Blattfedern 5 gehalten, die sich gegen die Seitenwandungen der Aussparung in dem Bügel ia legen. Die oberen Enden der Federn 5 sind mit Fingerstücken 6 versehen, die aus der Hülse q herausragen, und gegenüber diesen Fingerstücken sind die Federn mit Ansätzen 7 versehen. Letztere arbeiten mit einer gegen den Bügel ia sich verjüngenden Einschnürung 8 des Meßorganes 3 zusammen. Der obere Teil der Hülse 4. ist durch eine Schraube io abgeschlossen, und zwischen dieser und dem oberen Ende des beweglichen Meßorganes 3 liegt die zweite für die Feineinstellung erforderliche Feder i1.The micrometer bracket i, designed in the usual way, carries on one end of the fixed measuring element 2, while in a recess of the other In the end, a well-fitting sleeve: 1 is slidably arranged. In the sleeve 4. is the movable measuring element 3, which suitably has a square cross-section and a scale 311. The sleeve g is in the temple end i 'by two leaf springs 5 held, which lay against the side walls of the recess in the bracket ia. The upper ends of the springs 5 are provided with finger pieces 6 which emerge from the sleeve q protrude, and opposite these finger pieces are the feathers with lugs 7 Mistake. The latter work with a constriction that generally tapers towards the temple 8 of the measuring element 3 together. The upper part of the sleeve 4. is through a screw io completed, and between this and the upper end of the movable measuring element 3 is the second spring i1 required for fine adjustment.

In dem Bügel i `I kann noch, wie Abb. i zeigt, in bekannter `'eise ein Fernrohr 9 angebracht werden, durch welches die Ablesung der Messung erleichtert wird.As Fig. 1 shows, a telescope 9 can be attached to the bracket in the known manner, by means of which the reading of the measurement is facilitated.

Bei der Benutzung des Mikrometers werden durch Erfassen der Fingerstücke 6 die Federn 5 gegen das bewegliche Meßorgan 3 gedrückt, so daß sie außer Eingriff mit den Seitenwandungen der Aussparung des Mitnehmerbügels ja kommen. Die Hülse .l kann nun zusammen mit dem Meßorgan 3 in dem Bügel verschoben werden, und bei dem Einwärtspressen der Federn 5 arbeiten die Ansätze 7 mit der gegen den Bügel iz sich verjüngenden Einschnürung 8 des Meßorganes 3 zusammen und heben letzteres entgegen der Wirkung der Feder ii ein wenig an. Die Feder ii wird hierdurch gespannt, und sobald bei der Verschiebung der Hülse .4 das Meßorgan 3 gegen den abzutastenden Gegenstand trifft und die Fingerstücke 6 freigegeben werden, kommen die Ansätze 7 der Federn 5 außer Eingriff mit der Einschnürung 8, so daß das Meßorgan 3 nunmehr unter Wirkung der Feder ii stets gleichmäßig gegen den abzutastenden Gegenstand gedrückt und somit die Feineinstellung erzielt wird.When using the micrometer, by grasping the finger pieces 6 the springs 5 pressed against the movable measuring element 3 so that they are disengaged come with the side walls of the recess of the driver bracket yes. The sleeve .l can now be moved together with the measuring element 3 in the bracket, and at the inward pressing of the springs 5, the lugs 7 work with that against the bracket iz tapering constriction 8 of the measuring element 3 together and raise the latter contrary to the action of the spring ii a little. The spring ii is thereby tensioned, and as soon as the displacement of the sleeve .4 the measuring element 3 against the to be scanned Object hits and the finger pieces 6 are released, the approaches come 7 of the springs 5 out of engagement with the constriction 8, so that the measuring element 3 now under the action of the spring ii always evenly against the object to be scanned and fine adjustment is achieved.

Das bewegliche Meßorgan gemäß der Erfindung kann leicht durch ein ähnliches mit anderer Skala ersetzt werden, so daß Messungen in verschiedenen Maßsystemen ohne weiteres vorgenommen werden können.The movable measuring element according to the invention can easily by a the like can be replaced with a different scale, so that measurements are made in different systems of measurement can easily be made.

Claims (2)

PATENT-ANsPRÜcHE: i. Mikrometer, bei dem das bewegliche mit einem Maßstab versehene Meßorgan in dem Bügel des Mikrometers verschiebbar ist und mit im wesentlichen gleichbleibendem Federdruck selbsttätig gegen den zu messenden Gegenstand gepreßt wird, dadurch gekennzeichnet, daß das Meßorgan (3) entgegen der Wirkung einer Feder (ii) verschiebbar in einer durch seitlich gegen den Mitnehmerbügel (ia) pressende Federn (5) in der eingestellten Lage gehaltenen Hülse (4.) angeordnet ist, und an den oberen Enden der Federn (5) aus der Hülse (4.) herausragende Fingerstücke (6) und gegenüber diesen mit einer gegen den Bügel (ia) sich verjüngenden Einschnürung (8) des Meßorganes (3) zusammenarbeitende Ansätze (7) vorgesehen sind. PATENT CLAIMS: i. Micrometer in which the movable with a Scale provided measuring element is displaceable in the bracket of the micrometer and with essentially constant spring pressure automatically against the object to be measured is pressed, characterized in that the measuring element (3) counter to the action a spring (ii) displaceable in a by laterally against the driver bracket (ia) pressing springs (5) arranged in the set position held sleeve (4) is, and at the upper ends of the springs (5) from the sleeve (4.) protruding finger pieces (6) and opposite these with a constriction tapering towards the bracket (ia) (8) of the measuring element (3) cooperating approaches (7) are provided. 2. Mikrometer nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß das obere im Durchmesser vergrößerte und mit Innengewinde versehene Ende der Hülse (4.) durch eine Schraube (io) verschlossen ist, und zwischen letzterer und dem oberen Ende des Meßorganes (3) die Feder (iz) liegt.2. micrometer according to claim i, characterized in that the upper enlarged in diameter and the end of the sleeve (4.) provided with an internal thread is closed by a screw (io) is, and between the latter and the upper end of the measuring element (3) the spring (iz) lies.
DESCH60657D 1921-02-01 1921-02-01 Micrometer Expired DE370554C (en)

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