DE3620491C2 - - Google Patents
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- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
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Description
Die Erfindung richtet sich auf ein Verfahren nach dem
Oberbegriff von Anspruch 1. Ein derartiges Verfahren
ist z. B. aus der DE-OS 32 07 569 oder DE-OS 33 30 824
bekannt.
Mit Hilfe derartiger Prüfverfahren lassen sich
Werkstoffproben entweder in Form eines kontinuier
lich hergestellten Produktes, wie eines Rohres
oder eines Drahtes, oder aber in Form einzelner
Probenstücke untersuchen und überwachen.
Dabei stellt sich häufig das Problem, daß bei
einer bestimmten Einstellung der Meßparameter
die einer bestimmten Probenart zugehörigen Meßpunkte
näher an den einer anderen Probenart zugehörigen
Meßpunkten liegen, während bei einer anderen Para
meterwahl die Entfernung größer ist. Dabei ist
insbesondere zu berücksichtigen, daß die Meßpunkte
für eine bestimmte Probenart nicht - wie dies
im Idealfall wünschenswert wäre - jeweils deckungs
gleich aufeinanderliegen, sondern z.B. durch lokal
unterschiedliche Gefügezustände aufgrund einer
nicht völlig homogenen Wärmebehandlung oder mechani
schen Bearbeitung an unterschiedlichen Punkten
in der komplexen Ebene zu liegen kommen, wobei
diese Abweichungen noch von der jeder physikalischen
Messung immanenten Meßungenauigkeit überlagert
werden. Dementsprechend stellen die Meßpunkte
selbst ein und derselben Probenart ein Streufeld
dar, welches bei der Darstellung der Meßpunkte
in der komplexen Ebene eine durchaus nicht vernach
lässigbare Ausdehnung haben kann.
Dies führt dazu, daß bei bestimmten Meßparameterein
stellungen die im Idealfall ermittelten Meßpunkte
zweier zu differenzierender Probenarten zwar noch
voneinander getrennt werden können, daß unter
Berücksichtigung des realen Streufeldes aber eine
zufriedenstellende Auflösung nicht mehr erzielbar
ist. Dementsprechend ist es für die Durchführung
einer optimalen Messung äußerst wünschenswert, solche
Meßparameter aufzufinden, welche sich für eine Differenzierung
möglichst gut eignen.
Aus H. Heptner, H. Stroppe: Magnetische und magnetinduktive
Werkstoffe; 2. Auflage, Leipzig 1969, VEB
Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie, Seite 261
bis 268, Seite 243, Seite 245 ist es an sich bekannt,
die unterschiedlichen Meßparametern zuzuordnenden
Streufelder zu untersuchen und die Parameter so auszuwählen,
daß die Streufelder einen möglichst großen Abstand
voneinander haben. Eine derartige Auswahl läßt
sich gemäß diesem Stand der Technik deshalb relativ
leicht treffen, weil in sämtlichen dort beschriebenen
Beispielen die Längsachsen der Streufelder parallel
zueinander liegen, d. h. der Abstand der Streufelder
läßt sich einfach durch die geometrische Abstandsdefinition,
d. h. die Länge der senkrechten Verbindungsstrecke
zweier benachbarter Längsachsen definieren.
Hiervon ausgehend liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde,
ein Verfahren der eingangs genannten Art zu
schaffen, welches das Auffinden einer optimalen Meßparametereinstellung
zur Differenzierung von zu untersuchenden
Probenarten gestattet, wobei dieses Verfahren
auch vollautomatisch durchführbar sein soll, so
daß es erforderlichenfalls auch ohne willkürliche Beurteilung
und Einflußnahme durch eine Bedienungsperson
zur Einstellung der jeweils günstigsten Meßverhältnisse
geeignet ist.
Zur Lösung dieser Aufgabe geht die Erfindung aus von
der Erkenntnis, daß eine möglichst gute Auflösung im
praktischen Meß- und Untersuchungsbetrieb nicht allein
dadurch gewonnen werden kann, daß die Meßgeräteeinstellung
so erfolgt, daß die für die jeweiligen Probenarten
zu erwartenden "Idealmeßpunkte" einen möglichst
großen Abstand voneinander haben, wie dies an
sich naheliegend erscheint, sondern daß darüber hinaus
die Form des realen Streufeldes um jeden "Idealmeßpunkt"
berücksichtigt werden muß. Insoweit wurde in
umfangreichen Untersuchungen insbesondere festgestellt,
daß die Streufelder in der Regel nicht eine
isotrope, d.h. gleichmäßige Verteilung um den "Idealpunkt"
herum aufweisen, sondern daß diese Verteilung
anisotrop ist, d.h. eine Vorzugsrichtung z.B. bezogen
auf die reale Achse der komplexen Ebene aufweist. Dabei
ist diese Vorzugsrichtung gemäß den im Rahmen der
Erfindung gewonnenen Erkenntnissen keineswegs für alle
Meßpunkte die gleiche, so daß also die Streufelder der
Meßpunkte, welche zwei unterschiedlichen Probenarten
zuzuordnen sind, durchaus eine ganz unterschiedliche
Streufeld-Anisotropie aufweisen können.
Ausgehend hiervon wird die vorstehend genannte Aufgabe
gelöst durch die Merkmale des kennzeichnenden Teils
von Anspruch 1.
Durch dieses erfindungsgemäße Vorgehen wird für die
Auswahl der optimalen Meßparametereinstellung ein bisher
nicht berücksichtigtes, sehr wesentliches Kriterium
an die Hand gegeben. Durch Bestimmung der Vorzugsrichtung
der Anisotropie ist es nämlich möglich,
gegebenenfalls eine Meßparametereinstellung zu bevorzugen,
welche gegenüber einer anderen Meßparametereinstellung
zwar schwerpunktmäßig näher beieinanderliegende
Idealmeßpunkte liefert, welche aber gleichwohl
eine bessere Differenzierung gestattet, weil die
Streufeld-Anisotropie z.B. im wesentlichen senkrecht
zur Abstandsgeraden der Idealmeßpunkte verläuft, d.h.
die in Betracht stehenden Streufelder mit ihren sämtlichen
Einzelmeßpunkten einen gut auflösbaren Abstand
voneinander aufweisen. Demgegenüber ist es andererseits
vorstellbar, daß bei einer bestimmten Meßparametereinstel
lung zwar die Idealmeßpunkte zweier unterschied
licher Probenarten relativ weit voneinander
entfernt liegen, daß sich die Streufelder dieser
idealen Meßpunkte aber aufeinanderzu erstrecken, so
daß ein Auseinanderhalten schwieriger oder bei einer
Überlappung der Streufelder praktisch unmöglich wird.
Anspruch 2 gibt eine vorteilhafte Ausgestaltung des
erfindungsgemäßen Verfahrens an.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand eines bevorzugten
Ausführungsbeispieles in Verbindung mit der Zeichnung
näher beschrieben. Dabei zeigen
Fig. 1 eine schematische Darstellung der Hüllkurven
von Streufeldern in der komplexen Ebene
für zwei verschiedene Meß-Frequenzen f 1
und f 2 und
Fig. 2 und 3 die Darstellung der Streufelder zweier
unterschiedlicher Probenarten bei einer
Meßfrequenz von 25 KHz bzw. 1,6 KHz.
Bei der in Fig. 1 dargestellten Veranschaulichung
des erfindungsgemäßen Verfahrens sind die einzelnen
Meßpunkte unterschiedlicher Probenarten nicht
dargestellt, sondern der Übersichtlichkeit halber
lediglich im Ausführungsbeispiel als Ellipsen
ausgestaltete Hüllkurven mit den Mittelpunkten
M 11 bzw. M 21 bei der Frequenz f 1 und M 12 bzw.
M₂₂ bei der Frequenz f₂. Zur Auswahl des geeigneten
Meßparameters, im Ausführungsbeispiel also der
entsprechenden Frequenz f wird der Abstand der
Streufelder um die Mittelpunkte M 11 bzw. M 21 und
M 12 bzw. M 22 herangezogen. Der rein geometrische
Abstand wird jedoch gewichtet durch die Anisotropie
der Streufeldverteilung, welche bestimmt werden
kann durch den Winkel α zwischen der großen Halbachse
der jeweiligen Ellipse und der areellen Achse
der komplexen Ebene, den Betrag der großen Halbachse
jeder Ellipse und den Betrag der kleinen Halbachse
jeder Ellipse. Für eine mathematische Auswertung
sind weiterhin die Koordinaten der Mittelpunkte M
der verschiedenen Ellipsen von Bedeutung.
Die erfindungsgemäß vorgesehene und auf ganz unter
schiedliche Art und Weise vornehmbare Gewichtung
des Abstandes der Streufelder, d.h. des Abstandes
der Mittelpunkte der Streufelder, wird nun im
Ausführungsbeispiel so vorgenommen, daß die den
Mittelpunkten M umschriebenen Ellipsen gleichförmig,
d.h. mit dem gleichen Streckfaktor, zentrisch
so gestreckt werden, daß sich die Hüllkurven gerade
berühren. Dies ist durch die Einzeichnung von
Kurvenscharen mit verschiedenen Streckfaktoren
(1,5; 2; 2,5) in Fig. 1 veranschaulicht.
Bei dem in Fig. 1 dargestellten Ausführungsfaktor
wird eine Berührung der Hüllkurven bei einem Streck
faktor von 2,5 bei der Frequenz f 1 und beim Streck
faktor von 3 bei der Frequenz f 2 erreicht.
Als Kriterium für die Auswahl des zu bevorzugenden
Meßparameters wird nun vorgegeben, daß derjenige
Meßparameter, d.h. im Beispiel diejenige Frequenz,
heranzuziehen ist, bei welchem der Streckfaktor
maximal ist. Dies bedeutet, daß im gewählten Beispiel
bei der Frequenz f 2 gemessen werden würde, obwohl
der geometrische Abstand der Mittelpunkte M 12
und M 22 kleiner ist als der geometrische Abstand
der Mittelpunkte M 11 und M 21.
In Fig. 2 und 3 sind Darstellungen der Meßwerte
in der komplexen Ebene veranschaulicht, wie sie
bei unterschiedlichen Frequenzen, nämlich bei
25 KHz bzw. 1,6 KHz bei Messungen an Stahllegierungen
VA4404 (Meßpunkte als Rauten dargestellt) und
VA4571 (Meßpunkte als Striche dargestellt) gewonnen
wurden.
Diese Messungen zeigen, daß die Anisotropie und
die Richtung der anisotropen Verteilung der Streufel
der bei unterschiedlichen Frequenzen ganz signifikant
verschieden ist, und daß dementsprechend die Berück
sichtigung dieser Anisotropie einen wesentlichen
Beitrag zur Verbesserung des Auflösungsvermögens
und der Differenzierungssicherheit bietet.
Claims (2)
1. Verfahren zur Prüfung bzw. Bestimmung von Werkstoffen
bzw. Werkstoffeigenschaften mit einem Wirbelstrom-
Prüfgerät, insbesondere zur Unterscheidung oder Wiedererkennung
von Metallen, Metallegierungen und Metallgefügen
nach Wärmebehandlungen oder Kaltverfestigungen,
wobei eine Sendespule mit einer Frequenz zur
Erzeugung von Wirbelströmen in dem zu prüfenden Werkstück
betrieben und über eine Auswerteeinrichtung die
Rückwirkung gemessen und die Meßwert-Vektoren in der
komplexen Ebene dargestellt werden, wobei veränderbare
Meßparameter wie Frequenz, Spulenstrom, Vormagnetisierung,
Form des Erregerfeldes einstellbar sind, wobei
die Anisotropie des Streufeldes der Meßwert-Vektoren
in der komplexen Ebene erfaßt wird, wobei eine Reihe
von Probemessungen mit variierenden Meßparametern an
den zu bestimmenden bzw. zu unterscheidenden Proben
durchgeführt wird und die gegebenenfalls unterschiedlichen
Richtungen der Anisotropen der einzelnen
Streufelder der zu bestimmten Probenarten und Parametereinstellungen
gehörenden Meßpunkte in der komplexen
Ebene erfaßt werden, dadurch gekennzeichnet, daß für
die sich an die Probemessungen anschließenden Serienuntersuchungen
zunächst die Anisotropie eines jeden Meßpunkt-
Streufeldes dadurch festgelegt wird, daß eine
anisotrope Hüllkurve, wie ein Rechteck, eine Ellipse
od. dgl. dem Streufeld so zugeordnet wird, daß um die
Meßpunkte eines Streufeldes eine kleinstmögliche Hüllkurve
gelegt wird, und daß dann ermittelt wird, welche
der den zu untersuchenden Proben zugehörigen Streufelder einen möglichst großen Abstand derart aufweisen,
daß wenn die Hüllkurven zentrisch so gestreckt
werden, sie sich gerade berühren, wobei der maximale
der so ermittelten Streckfaktoren als maximaler Abstand
definiert wird, und daß diejenigen Meßparameter
ausgewählt werden bei welchen der Abstand maximal ist.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß zur Werkstoffunterscheidung bzw. -erkennung
diejenige Einstellung der Meßparameter gewählt
wird, bei der der Abstand der Hüllkurven um die
Meßwert-Streufelder verschiedener Probenarten
gewichtet durch die Größe der Anisotropie des
jeweiligen Streufeldes maximal ist.
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
DE19863620491 DE3620491A1 (de) | 1986-06-19 | 1986-06-19 | Verfahren zur pruefung bzw. bestimmung von werkstoffen bzw. werkstoffeigenschaften mit einem wirbelstrom-pruefgeraet |
Applications Claiming Priority (1)
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DE19863620491 DE3620491A1 (de) | 1986-06-19 | 1986-06-19 | Verfahren zur pruefung bzw. bestimmung von werkstoffen bzw. werkstoffeigenschaften mit einem wirbelstrom-pruefgeraet |
Publications (2)
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DE3620491A1 DE3620491A1 (de) | 1987-12-23 |
DE3620491C2 true DE3620491C2 (de) | 1990-03-29 |
Family
ID=6303240
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19863620491 Granted DE3620491A1 (de) | 1986-06-19 | 1986-06-19 | Verfahren zur pruefung bzw. bestimmung von werkstoffen bzw. werkstoffeigenschaften mit einem wirbelstrom-pruefgeraet |
Country Status (1)
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---|---|
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10352422B3 (de) * | 2003-11-10 | 2005-04-21 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren zur quantitativen Längenbestimmung eines Weichzonenbereiches eines teilgehärteten Werkstückes |
Families Citing this family (1)
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---|---|---|---|---|
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Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3207569C2 (de) * | 1982-03-03 | 1986-05-28 | Herbert 8553 Ebermannstadt Baumgartner | Prüfgerät zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung |
DE3330824A1 (de) * | 1982-03-03 | 1985-03-14 | Herbert 8553 Ebermannstadt Baumgartner | Verfahren und vorrichtung zur zerstoerungsfreien werkstoffpruefung |
-
1986
- 1986-06-19 DE DE19863620491 patent/DE3620491A1/de active Granted
Cited By (2)
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DE10352422B3 (de) * | 2003-11-10 | 2005-04-21 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren zur quantitativen Längenbestimmung eines Weichzonenbereiches eines teilgehärteten Werkstückes |
US7423423B2 (en) | 2003-11-10 | 2008-09-09 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. | Method for quantitatively determining the width of a soft zone area of a partially hardened workpiece |
Also Published As
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