DE3617160A1 - Verfahren und anordnung zum erkennen von strahlung - Google Patents
Verfahren und anordnung zum erkennen von strahlungInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf Strahlungserkennungssysteme und insbesondere,
wenn auch nicht ausschließlich, auf solche Systeme, die für die Erkennung von Bränden oder Explosionen mittels der von diesen emittierter
Strahlung verwendet werden.
Strahlungserfassungssysteme verwenden einen geeigneten Strahlungsdetektor,
der normalerweise hinter einem "Fenster" angeordnet wird, durch den er die zu überwachenden Bereiche sieht, und dieses Fenster kann ein
Strahlungsfilter umfassen, um so den Strahlungssensor auf Strahlung ansprechend zu machen, die innerhalb eines spezifischen engen Bandes liegt.
10 Damit das System korrekt arbeiten kann, ist es offensichtlich notwendig sicherzustellen,-daß das Fenster immer hinreichend sauber ist, damit der
Sensor in der Lage ist, die zu ermittelnde Strahlung erfassen zu können. Eine Form der Anordnung, um die Sauberkeit des Fensters prüfen zu können,
ist demgemäß erforderlich.
Gemäß der Erfindung wird ein Verfahren zum Prüfen der Abdunkelung eines
strahlungsdurchlässigen Fensters vorgesehen, das Strahlung von relativ heißen Quellen jedoch nicht von relativ kalten Quellen übertragen kann,
und das verwendet wird in einem Strahlungserkennungssystem mit einem
strahlungsempfindlichen Mittel, ansprechend ausgebildet auf Strahlung von
relativ heißen und von relativ kalten Quellen und so angeordnet, daß durch das Fenster auftreffende Strahlung erfaßt wird, wobei das Verfahren
die Schritte umfaßt, daß eine Prüfstrahlung auf das strahlungsempfindliche Mittel von einer relativ kalten Quelle gerichtet wird, die sich auf
der bezüglich des strahlungsempfindlichen Mittels abgewandten Seite des
Fensters befindet, wobei der Weg der Prüfstrahlung an dem genannten Fenster
vorbeigeht, jedoch dicht an diesem vorbeiführt, und wobei ein Ausgangssignal überwacht wird, das durch die strahlungsempfindlichen Mittel
im Ansprechen auf die empfangene Prüfstrahlung erzeugt wird, um so den
Grad der genannten Abdunkelung abschätzen zu können.
Die in der Beschreibung und den Ansprüchen verwendeten Ausdrücke "relativ
heiße Quelle" bzw. "relativ kalte Quelle" bedeuten jeweils eine Quelle,
deren Oberflächen- oder Kontakttemperatur relativ heiß bzw. relativ kalt ist.
Gemäß der Erfindung ist auch eine Anordnung vorgesehen für die Prüfung
der Abdunkelung eines strahlungsdurchlässigen Fensters, das Strahlung von relativ heißen Quellen jedoch nicht relativ kalten Quellen durchläßt und
das verwendet wird in einem Strahlungserkennungssystem, welches ein
strahlungsempfindliches Mittel umfaßt, ansprechend ausgebildet auf Strahlung von relativ heißen und von relativ kalten Quellen und angeordnet
zum Erfassen von Strahlung, die das genannte Fenster durchlaufen hat, umfassend eine relativ kalte Quelle zum Erzeugen von Prüfstrahlung, Mittel
zum Richten der Prüfstrahlung auf das strahlungsempfindliche Mittel
von der dem strahlungsempfindlichen Mittel abgewandten Seite des Fensters her, wobei der Weg der Prüfstrahlung an dem genannten Fenster vorbeigeht,
jedoch nahe demselben verläuft, und mit Mitteln für die überwachung des
von dem strahlungsempfindlichen Mittel erzeugten Ausgangssignals im Ansprechen auf die empfangene Prüf strahlung, um so den Grad der genannten
Abdunkelung abschätzen zu können.
Gemäß der Erfindung wird ferner eine Brand- oder Explosionserkennungsanordnung
vorgeschlagen, umfassend ein Gehäuse mit einem ersten strahlungsdurchlässigen Fenster und einem zweiten benachbarten strahlungsdurchlässigen
Fenster, wobei das erste strahlungsdurchlässige Fenster ein strahlungsdurchlässiges
Filter umfaßt mit einem Durchlaßband entsprechend einem vorgegebenen Wellenlängenband, mit einem Strahlungssensor, der innerhalb
des Gehäuses so angeordnet ist, daß er Strahlung von einem Brand oder einer Explosion außerhalb des Gehäuses durch das erste Fenster empfängt,
wobei das vorgegebene Durchlaßband einem Wellenlängenband entspricht, innerhalb dem ein Brand oder eine Explosion, die zu erkennen
sind, Strahlung erzeugen, mit einer elektrischen Schaltung, die an den Strahlungssensor angeschlossen ist und anspricht auf die genannte empfangene
Strahlung, um so ein entsprechendes Ausgangssignal zu erzeugen, mit einer Quelle für Prüfstrahlung, die außerhalb des Gehäuses montiert
ist und erregbar ist zum Erzeugen von Prüfstrahlung mit einer Wellenlänge
oder Wellenlängen, die durch das zweite durchlässige Fenster, nicht jedoch durch das erste Fenster durchgelassen wird, mit Mitteln für das
Richten der Prüfstrahlung durch das zweite Fenster auf den Strahlungssensor,
mit Mitteln, die auf den Pegel der Prüf strahlung, die von dem
Sensor empfangen wird, ansprechen zum Erzeugen eines entsprechenden elektrischen Signals, das durch die genannten elektrischen Verarbeitungsschaltkreise
geführt wird, und mit Mitteln, die ansprechen auf das so durch die elektrischen Verarbeitungsschaltkreise geführte elektrische
Signal zum Bestimmen, ob der Pegel der Abdunkelung des zweiten Fensters oberhalb oder unterhalb eines vorgegebenen Pegels liegt, was eine Abschätzung
dahingehend ermöglicht, ob der Pegel der Abdunkelung des ersten Fensters oberhalb oder unterhalb eines vorgegebenen Pegels liegt.
Ein Feuererkennungssystem unter Verwendung der Erfindung wird nachstehend
nur beispielshalber unter Bezugnahme auf die beigefügten diagrammartigen
Zeichnungen erläutert, in denen:
Fig. 1 ein schematischer Querschnitt durch das System ist, und
Fig. 2 das Spektralverhalten der verschiedenen Teile des Systems darstellt.
Wie in Fig. 1 gezeigt, liegt das System im Form eines Detektors 4 mit
einem Gehäuse 5 vor, in dessen Inneren ein Infrarotstrahlungssensor 6 in einem Topf 7 montiert ist. In diesem Beispiel ist der Sensor 6 beispielsweise
ein pyroelektrischer Sensor. Der Sensor sieht einen Bereich 8 (den
Bereich innerhalb welchem ein Feuer zu erkennen ist) durch eine Fensterbaugruppe,
die insgesamt bei 10 gezeigt ist. Die Fensterbaugruppe 10 umfaßt ein Saphirfenster 12, hinter dem ein engbandiges Filter 14 montiert
ist, ausgelegt für den Durchlaß von Strahlung innerhalb eines vorgegebenen engen Wellenlängenbandes. Die Fensterbaugruppe 10 wird durch
ein Siliciumfenster 16 vervollständigt, das in Wirklichkeit in den Topf 7
eingebaut ist.
Das Filter 14 stellt sicher, daß nur Strahlung innerhalb des engen Bandes,
zentriert auf 4,4 Micrometer, den Sensor 6 erreicht. Das enge Band,
zentiert auf 4,4 Micrometer, ist dasjenige enge Band, in welchem brennende
Kohlenwasserstoffe einen Spitzenwert der Strahlung emittieren, und dies stellt sicher, daß der Sensor 6 hochempfindlich für Strahlung gemacht
wird, die von einem Kohlenwasserstoffeuer ausgeht und relativ unempfindlich gegenüber Strahlung, die von anderen potentiell interferierenden
Quellen ausgeht, wie etwa Sonnenstrahlung. Die Strahlung innerhalb des engen Bandes heizt den Sensor auf, und das resultierende elektrische
Signal wird einem geeigneten Verarbeitungsschaltkreis zugeführt, der schematisch bei 18 dargestellt ist, über einen FET 20, der als elektrische
Puffer- und Impedanzanpasskomponente dient. Eine solche Anordnung bildet demgemäß ein zweckmäßiges Detektorsystem für die Erkennung von
Kohlenwasserstoffbranden.
Man erkennt jedoch, daß die Wirksamkeit des Erkennungssystems von der
Sauberkeit der Fensterbaugruppe 10 abhängt. Genauer gesagt wird Schmutz auf der Außenoberfläche des Fensters 12 die Wirksamkeit der Strahlungserfassung
herabsetzen, bis schließlich das System zu unempfindlich wird, um brauchbar zu sein. Es ist deshalb erforderlich, die Sauberkeit der
Fensterbaugruppe 10 periodisch zu prüfen. Es ist jedoch nicht praktisch, die Sauberkeit der Fensterbaugruppe durch eine äußere Strahlungsquelle zu
prüfen und diese durch die Fensterbaugruppe 10 auf den Sensor 6 zu richten und das Ansprechen des letzteren zu überwachen. Der Grund dafür ist,
daß jede solche Prüfung notwendigerweise eine hinreichende Strahlungsmenge innerhalb des engen Durchlaßbandes des Filters 14 erzeugen muß, und
dies erfordert, daß die Strahlungsquelle bei einer erheblichen Temperatur
liegt. Dies ist generell unbefriedigend und vollständig unakzeptabel in
solchen Fällen, wo bestimmte Erfordernisse "inhärenter Sicherheit" befriedigt
werden müssen. Wenn demgemäß die Umgebung innerhalb des Bereiches 8 inhärent sicher gehalten werden muß, ist es offensichtlich unmöglich,
die Sauberkeit der Fensterbaugruppe 10 in der oben erläuterten Weise zu prüfen.
Um die Sauberkeitsprüfung durchzuführen, weist der Detektor deshalb ein
zweites Fenster 22 in Form eines Siliciumfensters auf, das in dem Gehäuse
5 unmittelbar neben der Fensterbaugruppe 10 angeordnet ist. Auf der Außenseite des Gehäuses 5 ist eine Lichtemissionsdiode (LED) 24 hinter einer
Schutzabdeckung 26 montiert. Die LED ist so positioniert, daß die von
ihr ausgehende Strahlung, wenn sie entsprechend elektrisch erregt wird,
das Fenster 22 durchsetzt und einem Strahlungsweg, der mit 28 angedeutet ist, folgt, um auf die Oberfläche eines Spiegels 30 aufzutreffen, der
(durch nicht dargestellte Mittel) innerhalb des Gehäuses 5 gehalten ist.
Die reflektierte Strahlung folgt dann einem Weg 32, um auf die Innenoberfläche
des Filters 14 aufzutreffen, das sie längs eines Weges 34 reflektiert, so daß sie durch das Siliciumfenster 16 auf den Sensor 6
trifft, der in noch zu erläuternder Weise so ausgebildet ist, daß er ein
entsprechendes elektrisches Signal erzeugt, das dem Schaltkreis 18 zugeführt wird, wo sein Pegel überwacht wird. Auf diese Weise braucht demgemäß
die Strahlung von der LED 24 nicht durch das Filter 14 zu verlaufen, um den Sensor 6 zu erreichen. Die Schutzabdeckung 26 dient auch dazu,
jegliche Fremdstrahlung zu blockieren, die sonst demselben Wege wie das Licht von der LED 24 folgen würde.
Der am Sensor 6 erzeugte Ausgangspegel im Ansprechen auf die Strahlung,
die ihn von der LED 24 erreicht, hängt ersichtlich von der Sauberkeit des Fensters 22 ab. Da die Strahlung von der LED 24 jedoch durch das Fenster
22 verläuft, nicht jedoch durch die Fensterbaugruppe 10, ist diese Anordnung nur dann als Prüfung für die Sauberkeit der Fensterbaugruppe 10
wirksam, wenn angenommen werden kann, daß der Sauberkeitszustand des Fensters 22 ein hinreichendes Maß für den Sauberkeitszustand der Fensterbaugruppe
10 ist. Unter der Voraussetzung, daß das Fenster 22 hinreichend nahe der Fensterbaugruppe 10 ist und bei Fehlen abnormaler Umgebungsbedingungen,
stellt sich heraus, daß diese Annahme korrekt ist.
Damit die Strahlung von der LED 24 für die Prüfung der Sauberkeit der
Fensterbaugruppe 10 brauchbar ist, ist es natürlich notwendig, daß die LED Strahlung mit einer Wellenlänge und Intensität emittiert, welche
hinreichen, daß der Sensor ein entsprechendes Signal erzeugt. Der Sensor 6 kann selbst direkt das elektrische Ausgangssignal im Ansprechen auf die
Strahlung von der LED 24 erzeugen. Wenn der Sensor 6 selbst jedoch nicht in der Lage ist, ein entsprechendes Ansprechsignal auf die Strahlung
empfangen von LED 24 zu erzeugen, kann ein zusätzlicher Sensor, in geeigneter Weise angeordnet, für hinreichendes Ansprechen auf jene Strahlung
vorgesehen werden, und beispielsweise innerhalb des Topfes 7 eingebaut sein. Irgendein solcher zusätzlicher Sensor ist so ausgebildet, daß
/It
sein Ausgangssignal über den gleichen Schaltkreis 18 geführt wird wie der
des Hauptsensors 6. Es läßt sich tatsächlich feststellen, daß der FET 20 selbst hinreichend empfindlich auf Strahlung zwischen 1 und 1,5 Micrometer
ist und ein entsprechend hohes elektrisches Ausgangssignal erzeugen kann, um die Erfordernisse für den Test zu erfüllen.
Fig. 2 zeigt bei A die spektrale Transmission der Siliciumfenster 16 und
22. Das Spektralverhalten des Filters 14 ist bei B gezeigt. Schließlich ist die spektrale Emission der LED 24 bei C dargestellt. Man erkennt, daß
die von der LED 24 emittierte Strahlung nicht in der Lage ist, durch das Filter 14 übertragen zu werden, und es folgt demgemäß, daß diese Strahlung
nicht verwendet werden könnte, um die Sauberkeit der Fensterbaugruppe 10 mittels Passierenlassens der Strahlung direkt durch die Fensterbaugruppe
zu prüfen. Die LED 24 emittiert jedoch eine vernünftige Strahlungsmenge bei etwa 1,5 Micrometer, die demgemäß durch die SiIiciumfenster
22 und 16 passieren kann.
Eine LED ist ein "kalter" Strahlungssender, d.h. wenn sie durch elektrische
Anregung zur Emission von Strahlung gebracht wird, steigt ihre Temperatur nicht merklich an und sicherlich nicht über die Grenzwerte, die
vorgegeben sind durch die Erfordernisse der inhärenten Sicherheit. Darüber hinaus befriedigt auch die erforderliche elektrische Erregung, notwendig
für die LED, ebenfalls die Erfordernisse der inhärenten Sicherheit.
Der Verarbeitungsschaltkreis 18 kann so ausgebildet sein, daß er nach
Bedarf in einen Prüfmodus geschaltet werden kann. Beispielsweise kann der Detektor mit einem von der Bedienungsperson gesteuerten Prüfschalter
versehen sein. Wenn dieser betätigt wird, wird die LED 24 erregt und gleichzeitig der Verarbeitungsschaltkreis 18 in den Prüfmodus geschaltet,
in welchem er den resultierenden Ausgang vom Sensor 6 (oder vom FET 20
oder irgendeinem anderen zusätzlichen vorgesehenen Sensor) überwacht.
Wenn die Intensität der von der LED 24 empfangenen Strahlung hinreicht,
um entsprechende Sauberkeit des Fensters 22 (und damit der Fensterbaugruppe 10 ebenfalls) anzuzeigen, wird eine entsprechende Anzeige gegeben.
Stattdessen kann jedoch der Prüfprozess auch automatisch in periodischen Intervallen eingeleitet werden.
Wenn der Sensor 6 selbst ausgebildet ist zum Ansprechen auf die Prüfstrahlung,
empfangen von der LED 24, so erkennt man, daß die Prüfprozedur nicht nur die Sauberkeit des Fensters 22 testet und demgemäß der Fensterbaugruppe
10, sondern auch den Schaltkreis des Sensors 6 und seiner Schaltungsanschlüsse überprüft. Wenn der Sensor 6 nicht selbst verwendet
wird, um die Prüf strahlung von der LED 24 zu testen, jedoch ein Hilf ssensor, ebenfalls angeschlossen an Schaltkreis 18, für diesen Zweck verwendet
wird (wie der FET 20), so erkennt man, daß ein solcher Hilfssensor wiederum nicht nur die Sauberkeit der Fenster überprüft, sondern auch den
Schaltkreis 18 und seine Anschlüsse.
- Leerseite -
Claims (27)
1. Verfahren zum Prüfen der Abdunkelung eines strahlungsdurchlässigen
Fensters (10), das in einem Strahlungsdetektorsystem verwendet
wird, welches eine auf Strahlung ansprechende Komponente (6) umfaßt, ausgebildet zum Erfassen von Strahlung, die das genannte Fenster (10)
passiert, dadurch gekennzeichnet, daß das Fenster (10) Strahlung von relativ heißen Quellen, jedoch nicht von relativ kalten Quellen übertragend
ausgebildet ist, und daß die strahlungsempfindliche Komponente (6) auf
Strahlung von sowohl relativ heißen als auch relativ kalten Quellen ansprechend
ausgebildet ist, und durch die Schritte des Richtens von Prüfstrahlung auf die strahlungsempfindliche Komponente (6) von einer relativ
kalten Quelle (24), die auf der gegenüberliegenden Seite des genannten
Fensters (10) bezüglich der strahlungsempfindlichen Komponente (6) angeordnet ist, wobei der Weg (28, 32, 34) der Prüfstrahlung an dem genannten
Fenster (10) vorbeiführt, jedoch nahe desselben verläuft, und überprüfen
eines Ausgangssignals, das durch die strahlungsempfindliche Komponente (6) im Ansprechen auf die empfangene Prüfstrahlung erzeugt wird, um so
den Grad der genannten Abdunkelung abzuschätzen.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die strahlungsempfindliche Komponente einen einzigen Strahlungssensor (6)
umfaßt, der sowohl auf Strahlung von der relativ heißen Quelle als auch
auf Strahlung von der relativ kalten Quelle (24) anspricht.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die strahlungsempfindliche Komponente zwei getrennte jedoch nebeneinander
angeordnete Strahlungssensoren umfaßt, von denen der erste (6) auf Strahlung von der relativ heißen Quelle anspricht und der zweite (20) auf
Strahlung von der relativ kalten Quelle (24).
. . ΐ J.
—2-
4. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei die strahlungsempfindliche Komponente (6) ein elektrisches Signal im Ansprechen
auf erfaßte Strahlung von der relativ heißen Quelle erzeugt, das durch elektrische Verarbeitungsschaltkreise (18) verarbeitet wird, zum
Erzeugen eines entsprechenden Ausgangssignals, gekennzeichnet durch den Schritt der Führung des Ausgangssignals, erzeugt durch die strahlungsempfindliche
Komponente (6) im Ansprechen auf die empfangene Prüfstrahlung, durch dieselben elektrischen Verarbeitungsschaltkreise (18) zum Abschätzen
des Grades der Abdunkelung.
5. Verfahren nach den Ansprüchen 3 und 4, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Strahlungssensor ein Feldeffekttransistor (20) ist, der
mit dem ersten Strahlungssensor (6) verschaltet ist und Teil der genannten elektrischen Verarbeitungsschaltkreise ist.
6. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß der genannte Weg der Prüfstrahlung durch ein zweites Fenster (22) nahe dem ersterwähnten Fenster (10) führt, das für die
Prüfstrahlung durchlässig ist.
7. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, gekennzeichnet
durch den Schritt der Reflexion der Prüfstrahlung innerhalb des genannten Weges.
8. Verfahren nach Anspruch 7, bei dem das ersterwähnte Fenster (6)
einen Strahlungsfilter (14) umfaßt, mit einem Durchlassband entsprechend einem vorgegebenen Wellenlängenband, angepaßt an die Strahlung von den
relativ heißen Quellen, und dadurch gekennzeichnet, daß der Reflexionsschritt die Reflexion der Prüfstrahlung von einer Oberfläche des Filters
(14) umfaßt.
9. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß die relativ kalte Quelle (24) eine inhärent sichere Quelle ist.
-3-
10. Anordnung für die Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 und für die Prüfung der Abdunkelung eines strahlungsdurchlässigen Fensters
(10), das in einem Strahlungserkennungssystem verwendet wird, welches
eine strahlungsempfindliche Komponente (6) umfaßt, angeordnet zum Erfassen von das Fenster (10) passierender Strahlung, gekennzeichnet
durch eine relativ kalte Quelle (24), die Prüfstrahlung erzeugt, eine
Vorrichtung (22, 30, 14) für das Richten der Prüfstrahlung auf die strahlungsempfindliche Komponente (6) von der dem Fenster (10) bezüglich
der strahlungsemfindliehen Komponente (6) abgewandten Seite, wobei der
Weg der Prüfstrahlung an dem Fenster (10) vorbeigeführt ist, jedoch nahe desselben verläuft, und durch eine Vorrichtung (18) für die überwachung
des von der strahlungsempfindlichen Komponente (6) im Ansprechen auf die
empfangene Prüfstrahlung erzeugten Ausgangssignals, um so den Grad der genannten Abdunkelung abzuschätzen.
11. Anordnung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die strahlungsempfindliche Komponente (6) einen einzigen Strahlungssensor (6)
umfaßt, der sowohl auf Strahlung von der relativ heißen Quelle als auch auf Strahlung von der relativ kalten Quelle (24) anspricht.
12. Anordnung nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, daß
die strahlungsempfindliche Komponente zwei getrennte, jedoch nebeneinander
angeordnete Strahlungssensoren umfaßt, von denen der erste (6) auf Strahlung von der relativ heißen Quelle ansprechend ausgebildet ist, und
der zweite (20) auf Strahlung von der relativ kalten Quelle (24) ansprechend ausgebildet ist.
13. Anordnung nach einem der Ansprüche von 10 bis 12, bei der die strahlungsempfindliche Komponente (6) ein elektrisches Signal im Ansprechen
auf erfaßte Strahlung von der relativ heißen Quelle erzeugt, das durch elektrische Verarbeitungsschaltkreise (18, 20) verarbeitet wird,
zum Erzeugen eines entsprechenden Ausgangssignals, und dadurch gekennzeichnet, daß die überwachungsanordnung dieselben genannten elektrischen
Verarbeitunsschaltkreise (18) umfaßt und das von der strahlungsempfindlichen Komponente (6) erzeugte Ausgangssignal im Ansprechen auf die empfangeffe
Prüfstrahlung durch diese elektrischen Verarbeitungsschaltkreise 2Θ) geführt wird.
14. Anordnung nach den Ansprüchen 12 und 13, dadurch gekennzeichnet,
daß der zweite Strahlungssensor ein Feldeffekttransistor (20) ist, der mit dem ersten Strahlungssensor (6) verschaltet ist und einen Teil der
genannten elektrischen Verarbeitungsschaltkreise (18, 20) bildet.
15. Anordnung nach einem der Ansprüche von 10 bis 14, dadurch gekennzeichnet,
daß der genannte Weg (28, 32, 34) der Prüfstrahlung durch ein zweites Fenster (22) verläuft, das nahe dem ersterwähnten Fenster
(10) angeordnet ist und für die Prüfstrahlung durchlässig ist.
16. Anordnung nach einem der Ansprüche von 10 bis 15, dadurch gekennzeichnet,
daß die Prüfstrahlung zu der strahlungsempfindlichen Komponente (6) über einen Weg (28, 32, 34) verläuft, der einen Strahlungsreflektor
(14) umfaßt.
17. Anordnung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß das ersterwähnte Fenster (10) einen Strahlungsfilter (14) mit einem Durchlaßband
umfaßt, entsprechend einem vorgegebenen Wellenlängenband, angepaßt
an die Strahlung von den relativ heißen Quellen und daß die Reflexionsanordnung dieses Filter umfaßt.
18. Anordnung nach einem der Ansprüche von 10 bis 17, dadurch gekennzeichnet,
daß die relativ kalte Quelle 24 eine inhärent sichere Quelle ist.
19. Brand- oder Explosionserkennungsanordnung für die Durchführung
des Verfahrens nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch ein Gehäuse (5) mit einem ersten strahlungsdurchlässigen Fenster (10) und einem zweiten nahe
bei dem ersten angeordneten strahlungsdurcMässigen Fenster (22), von
denen das erste strahlungsdurchlässige Fenster (10) einen Strahlungsübertragungsfilter
(14) mit einem Durchlaßband umfaßt entsprechend einem vorgegebenen Wellenlängenband, durch einen Strahlungssensor (6 oder 6 und
20), angeordnet innerhalb des Gehäuses derart, daß er Strahlung von einem Brand oder einer Explosion außerhalb des Gehäuses (5) durch das erste
Fenster (10) empfängt, wobei das vorgegebene Durchlaßband einem Wellenlängenband
entspricht, innerhalb dem ein Brand oder eine Explosion, die zu erkennen sind, Strahlung erzeugen, durch elektrische Schaltkreise (18
-5-
und 20 oder 18), angeschlossen an den Strahlungssensor (6 oder 6 und 20)
und ansprechend auf die genannte empfangene Strahlung, um so ein entsprechendes Ausgangssignal zu erzeugen, durch eine Quelle (24) für Prüfstrahlung,
die außerhalb des Gehäuses (5) angeordnet ist und erregbar ist zum Erzeugen von Prüfstrahlung mit einer Wellenlänge oder mit Wellenlängen,
die durch das zweite durchlässige Fenster (22) durchgelassen werden, nicht jedoch durch das erste Fenster (10), durch eine Vorrichtung (30,
14) für das Richten der Prüfstrahlung durch das zweite Fenster (22) auf
den Strahlungssensor (6 oder 6 und 20), durch eine Vorrichtung (6 oder
20), die auf den Pegel der Prüfstrahlung, empfangen beim Sensor (6 oder 6
und 20) ansprechend ist, zum Erzeugen eines entsprechenden elektrischen Signals, das durch die genannten elektrischen Verarbeitungsschaltkreise
(28) geführt wird und durch eine auf das so durch die elektrischen Verarbeitungsschaltkreise
übertragene elektrische signalansprechende Vorrichtung zum Bestimmen, ob der Pegel der Abdunkelung des zweiten Fensters
(22) oberhalb oder unterhalb eines vorgegebenen Pegels liegt, um so eine Abschätzung durchzuführen, ob der Pegel der Abdunkelung des ersten Fensters
(10) oberhalb oder unterhalb eines vorgegebenen Pegels liegt.
20. Anordnung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlungssensor (6) selbst auf die Prüfstrahlung ansprechend ausgebildet
ist.
21. Anordnung nach Anspruch 19, gekennzeichnet durch einen Hilfssensor
(20), der unmittelbar neben dem Strahlungssensor (6) für die Erfassung der Prüfstrahlung montiert ist.
22. Anordnung nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß der Hilfssensor einen Feldeffekttransistor (20) umfaßt, der elektrisch mit
dem Strahlungssensor (6) verbunden ist und einen Teil der genannten elektrischen
Verarbeitungsschaltkreise (18, 20) bildet.
23. Anordnung nach einem der Ansprüche von 19 bis 22, dadurch gekennzeichnet,
daß der Weg für die Prüfstrahlung einen Strahlungsreflektor (14) umfaßt.
24. Anordnung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß der Reflektor
(14) eine Oberfläche des Strahlungsfilters (14) umfaßt.
25. Anordnung nach einem der Ansprüche von 19 bis 24, dadurch gekennzeichnet,
daß die PrüfstrahlungsquelIe (24) eine inhärent sichere
Quelle ist.
26. Anordnung nach einem der Ansprüche von 19 bis 25, dadurch gekennzeichnet,
daß das Durchlaßband des Filters (14) ein enges Band einschließlich 4,4 Micrometer umfaßt.
27. Anordnung nach einem der Ansprüche von 19 bis 26, dadurch gekennzeichnet,
daß die PrüfstrahlungsquelIe eine Lichtemissionsdiode (24)
umfaßt, die Strahlung zwischen etwa 1 und 1,5 Micrometer emittiert.
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| 8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: KIDDE-GRAVINER LTD., DERBY, DERBYSHIRE, GB |
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| 8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |