DE3612470A1 - Wirbelstrom-defektoskop - Google Patents
Wirbelstrom-defektoskopInfo
- Publication number
- DE3612470A1 DE3612470A1 DE19863612470 DE3612470A DE3612470A1 DE 3612470 A1 DE3612470 A1 DE 3612470A1 DE 19863612470 DE19863612470 DE 19863612470 DE 3612470 A DE3612470 A DE 3612470A DE 3612470 A1 DE3612470 A1 DE 3612470A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- self
- indicator
- eddy current
- eddy
- excited oscillator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
- G01B7/10—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
- G01B7/105—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance for measuring thickness of coating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Wirbelstrom-Defektoskop zur
zerstörungsfreien Werkstoffprüfung, insbesondere für die
magnetinduktive Defektoskopie und die Schichtdickenmessung.
In der GB-PS 21 41 234 wird ein Wirbelstrom-Defektoskop
vorgeschlagen, das eine Wirbelstromsonde im Schwingkreis
eines selbsterregten Oszillators aufweist, der mit einem
steuerbaren Wechselspannverstärker, gefolgt von einem
Schwellwertschalter und einem automatischen Abgleichzweig,
verbunden ist.
Die Defektanzeige erfolgt bei diesem Wirbelstrom-Defektoskop
nach dem Schwellwertschalter als Ja/Nein-Anzeige.
Mit dem beschriebenen Wirbelstrom-Defektoskop ist es also
nicht möglich, den durch einen Defekt hervorgerufenen
Schädigungsgrad eines leitfähigen Grundmaterials zu ermitteln.
Ebenso ist beim Einsatz dieses Gerätes zur Überprüfung von
nichtleitenden Deckschichten keine quantitative Aussage
über auftretende Dickenverringerungen dieser Schichten
möglich, Schichtdickenerhöhungen werden nicht erfaßt.
Außerdem ist weder eine Bestimmung der Dicke leitfähiger
Überzüge auf dielektrischem Substrat noch eine Messung von
nichtferromagnetischen Schichten auf ferromagnetischer
Unterlage möglich.
Weiterhin ist das vorgeschlagene Wirbelstrom-Defektoskop
nicht in der Lage, zwischen einem Defekt, beispielsweise
einem Riß, und einer lokalen Erhöhung der Leitfähigkeit
bzw. der Permeabilität zu unterscheiden, woraus Pseudodefektanzeigen
entstehen.
Das Wirbelstrom-Defektoskop nach GB-PS 21 41 234 weist
also einen nur beschränkten Gebrauchswert innerhalb eines
begrenzten Anwendungsbereiches auf.
Ziel der Erfindung ist es, ein Wirbelstrom-Defektoskop zu
schaffen, dessen Anwendungsbereich bei gesteigertem Gebrauchswert
deutlich erweitert ist.
Es besteht die Aufgabe, ein Wirbelstrom-Defektoskop zu
entwickeln, das die Ermittlung des durch einen Defekt hervorgerufenen
Schädigungsgrades eines leitfähigen Grundmaterials
ermöglicht und die quantitative Überprüfung nichtleitender
Deckschichten auf leitfähigem, leitfähiger Deckschichten
auf dielektrischem sowie nichtferromagnetischer
Schichten auf ferromagnetischem Grundmaterial gestattet.
Weiterhin soll das Wirbelstrom-Defektoskop Pseudodefektanzeigen,
hervorgerufen durch lokale Permeabilitäts- bzw.
Leitfähigkeitserhöhungen, unterdrücken.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß das
Wirbelstrom-Defektoskop, das einen selbsterregten Oszillator
mit Wirbelstromsonde in seinem Schwingkreis, einen
steuerbaren Wechselspannungsverstärker, einen Schwellwertschalter,
bestehend aus Amplituden- und Schwellendetektor,
und einen automatischen Abgleichzweig sowie einen Defektindikator
aufweist, zusätzlich eine Stelleinheit zur Beeinflussung
der vom automatischen Abgleichzweig erzeugten
Abgleichspannung, eine Pegelselektionseinheit, einen Mehrstufenindikator
und eine Frequenzerfassungseinheit zur
Nutzung der durch lokale Erhöhungen der Permeabilität bzw.
Leitfähigkeit hervorgerufenen Frequenzänderung der Schwingungen
des selbsterregten Oszillators besitzt.
Dabei ist der Eingang der Hintereinanderschaltung von
Pegelselektionseinheit und Mehrstufenindikator mit dem
Ausgang des automatischen Abgleichzweiges verbunden,
während der Ausgang der vorgenannten Stelleinheit derart
mit dem automatischen Abgleichzweig verknüpft ist, daß
eine definierte Veränderung der vom automatischen Abgleichzweig
erzeugten Abgleichspannung möglich wird.
Außerdem ist die Frequenzerfassungseinheit mit dem selbsterregten
Oszillator so verbunden, daß eine durch lokale
Erhöhung der Permeabilität bzw. Leitfähigkeit bedingte
Frequenzänderung der vom selbsterregten Oszillator erzeugten
Wechselspannung erfaßt wird und das diese Information
tragende Signal mit einem Ausgangssignal des
Schwellwertschalters logisch so verknüpft ist, daß nur
eine gleichzeitige Amplituden- und Frequenzverminderung
der vom selbsterregten Oszillator erzeugten Wechselspannung
eine Defektanzeige auslöst.
Der Eingang des Defektindikators des erfindungsgemäßen
Wirbelstrom-Defektoskopes liegt am Verbindungspunkt von
Amplituden- und Schwellendetektor des bereits genannten
Schwellenschalters.
Die Erfindung soll an einem nachfolgenden Ausführungsbeispiel
näher erläutert werden. Dabei zeigen die zugehörigen
Zeichnungen in
Fig. 1: das Blockschaltbild des erfindungsgemäßen Wirbelstrom-
Defektoskopes und
Fig. 2: eine vorteilhafte Schaltvariante zur Einfügung der
Frequenzerfassungseinheit in den selbsterregten
Oszillator.
Gemäß Fig. 1 besitzt das erfindungsgemäße Wirbelstrom-
Defektoskop einen selbsterregten Oszillator 1, in dessen
Schwingkreis eine Wirbelstromsonde 2 eingeschaltet ist,
und dessen Ausgang mit dem Eingang eines steuerbaren
Wechselspannungsverstärkers 3 verbunden ist. Dessen Ausgang
wiederum liegt am Eingang eines automatischen Abgleichzweiges
4, dessen Schwellwertschalter 5, bestehend
aus einem Amplitudendetektor 6 und einem Schwellendetektor
7 von einem Integrator 8 gefolgt wird. Dieser besteht
aus einem Impulsgenerator 9, einer Torschaltung 10, einem
Vor/Rückwärts-Zähler 11 und einem Digital-Analog-Umsetzer
12, wobei die Torschaltung 10 vom Schwellendetektor 7 gesteuert
wird und ihr Ausgang auf den Vorwärtszähleingang
des Vor/Rückwärts-Zählers 11 führt. Element 13 ist eine
Stelleinheit, die mit dem Vorwärts- und dem Rückwärtszähleingang
des Vor/Rückwärts-Zählers 11 verbunden ist.
Die Ausgangsspannung des automatischen Abgleichzweiges 4
gelangt als Abgleichspannung an die Steuereingänge des
Oszillators 1 und des Wechselspannverstärkers 3 sowie
an den Eingang einer Pegelselektionseinheit 14, der ein
Mehrstufenindikator 15 nachgeschaltet ist. Die Eingänge
einer Frequenzerfassungseinheit 16 sind mit den Ausgangsspannungen
des Oszillators 1 und des Schwellwertschalters
5 beschaltet, während ihr Ausgang einen Analogschalter 17
steuert, der die Ausgangsspannung des Amplitudendetektors
6 auf einen Defektindikator 18 schaltet.
Fig. 2 zeigt als besonders vorteilhafte Schaltungsvariante
zur Realisierung des erfindungsgemäßen Wirbelstrom-Defektoskops
die Einfügung der Frequenzerfassungseinheit 16 in
den selbsterregten Oszillator 1.
In diesem Falle besitzt der Oszillator 1 in seinem Rückkopplungszweig
einen Spannungsteiler 20, der frequenzabhängig
ist.
Die Wirkungsweise des beschriebenen Wirbelstrom-Defektoskopes
ist folgende:
Zum Abgleich des Wirbelstrom-Defektoskopes für eine Rißprüfung
wird die Wirbelstromsonde 2 auf eine rißfreie
Stelle eines Prüflings 19 aufgesetzt. Danach werden der
Vor/Rückwärts-Zähler 11 auf Null gesetzt und die Torschaltung
10 geöffnet. In diesem Falle liegt am Ausgang
des Digital-Analog-Umsetzers 12 die maximale Spannung an.
Mit Erhöhung des Zählerstandes des Vor/Rückwärts-Zählers
11 wird diese Ausgangsspannung solange verringert, bis die
Schwingungen des selbsterregten Oszillators 1 einsetzen.
Dieser Zustand wird vom Schwellwertschalter 5 erfaßt und
führt zum Sperren der Torschaltung 10, worauf die Ausgangsspannung
des Digital-Analog-Umsetzers 12 konstant
bleibt und das Wirbelstrom-Defektoskop für die Rißprüfung
des Prüflings 19 abgeglichen ist.
Gelangt die Wirbelstromsonde 2 über einen Oberflächenriß,
so verrringert sich die Amplitude der Schwingungen des
Oszillators 1 im Maße der durch den Riß hervorgerufenen
Schädigung des Prüflings 19.
Der Defektindikator 18 zeigt in einer Analoganzeige das
Ausmaß der Schädigung des Prüflings 19 an, während mit
einer akustischen Anzeige das Vorhandensein des Defektes
überhaupt indiziert wird.
Die Unterdrückung einer Pseudodefektanzeige im Falle einer
lokalen Erhöhung der Permeabilität bzw. Leitfähigkeit im
Prüfling 19 wird realisiert durch die Frequenzerfassungseinheit
16. Diese Frequenzerfassungseinheit 16 ermittelt
die bei den vorgenannten Effekten auftretenden Frequenzveränderungen,
die den durch einen tatsächlichen Riß auftretenden
Frequenzverschiebungen entgegengesetzt sind, und
blockiert mittels des Analogschalters 17 den Defektindikator
18.
Im Falle der Realisierung des Wirbelstrom-Defektoskopes
gem. Fig. 2 wird das einen Riß vortäuschende Absinken der
Amplitude der vom Oszillator 1 gelieferten Wechselspannung
mittels des frequenzabhängigen Spannungsteilers 20
verhindert und so eine Pseudodefektanzeige unterdrückt.
Die quantitative Anzeige der Schädigung erfolgt im analogen
Anzeigeteil des Defektindikators 18 bis zum völligen
Abriß der Schwingungen des Oszillators 1. Zur Quantifizierung
größerer Schädigungen oder zur genaueren Bewertung
kleinerer Schädigungen dient die Stelleinheit 13,
mit der eine Veränderung der vom automatischen Abgleichzweig
4 erzeugten Abgleichspannung möglich ist.
Ist die Schädigung so groß, daß es im Oszillator 1 zum
Schwingungsabriß kommt, kann über die Betätigung der
Stelleinheit 13 mit dem Vor/Rückwärts-Zähler 11 die
Schwingungsamplitude des Oszillators 1 wieder so erhöht
werden, daß diese erneut im Anzeigebereich des Defektindikators
18 liegt. Die erforderliche Anzahl der Betätigungen
der Stelleinheit 13 ist nun ein Maß für den Grad
der Schädigung des Prüflings 19.
Zur akustischen Indikation auch kleinerer Defekte wird
die Schwingungsamplitude des Oszillators 1 mit Hilfe der
Stelleinheit 13 verringert, so daß das Wirbelstrom-
Defektoskop näher am Schwellpunkt des Schwellwertschalters
5 arbeitet und die akustische Indikation zeitiger
einsetzt.
Bei der Anwendung des Wirbelstrom-Defektoskopes zur
quantitativen Prüfung von Schichten wird das Gerät auf
einer rißfreien Stelle des Prüflings 19 mit definierter
Schichtdicke, die ggf. auch Null sein kann, abgeglichen.
Dabei wird die Abgleichspannung vom Mehrstufenindikator
15, der von der Pegelselektionseinheit 14 angesteuert
wird, angezeigt.
Diese Pegelselektionseinheit 14 ist nur zum besseren Verständnis
der Funktion des Wirbelstrom-Defektoskopes mit
einem analogen Abgleichzweig eingezeichnet und kann bei
vorliegender digitaler Auslegung des automatischen Abgleichzweiges
4 vorteilhaft entfallen, wobei der Mehrstufenindikator
15 vom Vor/Rückwärts-Zähler 11 zu steuern
ist. Die oben genannte Anzeige der Abgleichspannung
bildet einen Fixpunkt einer Kalibrierkurve, deren zweiter
Fixpunkt durch einen weiteren Abgleich auf einer Stelle
mit anderer definierter Schichtdicke gewonnen wird.
Das Prüfen unbekannter, in ihrer Dicke zwischen diesen
Kalibrierwerten liegender Schichten erfolgt durch Abgleich
auf einer solchen Schicht und anschließender Ergebnisbildung
mittels der festgelegten Kalibrierkurve.
Aus der Funktionsbeschreibung des erfindungsgemäßen Wirbelstrom-
Defektoskopes geht hervor, daß seine Anwendung
deutliche Vorteile mit sich bringt:
Die Möglichkeit der Unterdrückung von Pseudodefektanzeigen
erhöht den Gebrauchswert des Wirbelstrom-Defektoskopes
sehr stark, seine Anwendung kann sich nunmehr auch auf Gebiete
wie die Rißprüfung von austenitischem Material mit
Delta-Ferritzeilen oder von Schweißnähten erstrecken, die
bisher dieser Art von zerstörungsfreier Materialprüfung
i. a. nicht zugänglich waren.
Die quantitative Rißbewertung gestattet wesentlich präzisere
Aussagen über den Schädigungsgrad eines Bauteiles
als es mit den bekannten technischen Lösungen möglich
war.
Dies trägt beispielsweise zur Erhöhung der technischen
Sicherheit moderner Anlagen der Energiegewinnung, der
chemischen und metallverarbeitenden Industrien sowie des
Transportwesens bei.
Die unkomplizierte und ohne Veränderungen am Gerät nutzbare
Zweitfunktion Schichtdickenmessung erweitert den Anwendungsbereich
zusätzlich. Es ist beispielsweise problemlos
möglich, folgende Aufgaben zu lösen:
Dickenmessung von Metallfolien, von Lackschichten auf
ferromagnetischem Material, von metallischen Schutzschichten
auf Stählen u. a. m.
- Aufstellung der Bezugszeichen zur Erfindungsanmeldung
"Wirbelstrom-Defektoskop"
1 Oszillator
2 Wirbelstromsonde
3 Wechselspannungsverstärker
4 Abgleichzweig
5 Schwellwertschalter
6 Amplitudendetektor
7 Schwellendetektor
8 Integrator
9 Impulsgenerator
10 Torschaltung
11 Vor/Rückwärts-Zähler
12 Digital-Analog-Umsetzer
13 Stelleinheit
14 Pegelselektionseinheit
15 Mehrstufenindikator
16 Frequenzerfassungseinheit
17 Analogschalter
18 Defektindikator
19 Prüfling
20 Spannungsteiler
Claims (10)
- Wirbelstrom-Defektoskop, das einen selbsterregten Oszillator mit Wirbelstromsonde in seinem Schwingkreis, einen steuerbaren Wechselspannungsverstärker, einen Schwellwertschalter, bestehend aus Amplituden- und Schwellendetektor, einen automatischen Abgleichzweig sowie einen Defektindikator aufweist, gekennzeichnet dadurch, daß das Wirbelstrom-Defektoskop zusätzlich
- 1) eine Stelleinheit (13) zur Beeinflussung der vom automatischen Abgleichzweig (4) erzeugten Abgleichspannung,
- 2) eine Pegelselektionseinheit (14),
- 3) einen Mehrstufenindikator (15) und
- 4) eine Frequenzerfassungseinheit (16) zur Nutzung der durch lokale Erhöhung der Leitfähigkeit bzw. Permeabilität hervorgerufenen Frequenzänderung der Schwingungen des selbsterregten Oszillators (1) besitzt und daß
- 5) der Eingang der Hintereinanderschaltung von Pegelselektionseinheit (14) und Mehrstufenindikator (15) mit dem Ausgang des automatischen Abgleichzweiges (4) verbunden ist,
- 6) der Ausgang der Stelleinheit (13) derart mit dem automatischen Abgleichzweig (4) verknüpft ist, daß eine definierte Veränderung der vom automatischen Abgleichzweig (4) erzeugten Abgleichspannung möglich ist,
- 7) die Frequenzerfassungseinheit (16) mit dem selbsterregten Oszillator (1) so verbunden ist, daß eine durch lokale Erhöhung der Leitfähigkeit bzw. Permeabilität bedingte Frequenzänderung der vom selbsterregten Oszillator (1) erzeugten Wechselspannung erfaßbar ist,
- 8) das diese Information tragende Signal mit einem Ausgangssignal des Schwellwertschalters (5) logisch so verknüpft ist, daß nur eine gleichzeitige Amplituden- und Frequenzverminderung der vom selbsterregten Oszillator (1) erzeugten Wechselspannung eine Defektanzeige des Defektindikators (18) auslöst und schließlich
- 9) der Eingang des Defektindikators (18) am Verbindungspunkt von Amplituden- und Schwellendetektor (6 und 7) des Schwellenschalters (5) liegt.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD28100485 | 1985-09-25 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3612470A1 true DE3612470A1 (de) | 1987-04-02 |
Family
ID=5571572
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19863612470 Withdrawn DE3612470A1 (de) | 1985-09-25 | 1986-04-14 | Wirbelstrom-defektoskop |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3612470A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0296417A2 (de) * | 1987-06-23 | 1988-12-28 | Institut Dr. Friedrich Förster Prüfgerätebau GmbH & Co. KG | Verfahren zum Untersuchen eines Objektes |
EP0459441A2 (de) * | 1990-05-30 | 1991-12-04 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von einem elektrisch leitfähigen Film mit Wirbelströmen sowie deren Anwendung zur Produktion von optischen Glasfasern |
DE19511397C1 (de) * | 1995-03-28 | 1996-09-12 | Norbert Nix | Gerät zur Feststellung eines Lackschadens |
-
1986
- 1986-04-14 DE DE19863612470 patent/DE3612470A1/de not_active Withdrawn
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0296417A2 (de) * | 1987-06-23 | 1988-12-28 | Institut Dr. Friedrich Förster Prüfgerätebau GmbH & Co. KG | Verfahren zum Untersuchen eines Objektes |
DE3720686A1 (de) * | 1987-06-23 | 1989-01-05 | Foerster Inst Dr Friedrich | Verfahren zum untersuchen eines objektes |
EP0296417A3 (en) * | 1987-06-23 | 1989-11-29 | Institut Dr. Friedrich Forster Prufgeratebau Gmbh & Co. Kg | Method for testing an object |
EP0459441A2 (de) * | 1990-05-30 | 1991-12-04 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von einem elektrisch leitfähigen Film mit Wirbelströmen sowie deren Anwendung zur Produktion von optischen Glasfasern |
EP0459441A3 (en) * | 1990-05-30 | 1993-02-10 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Method and system for inspection of electroconductive film using eddy current and process and system for production of optical fibers using method and system |
DE19511397C1 (de) * | 1995-03-28 | 1996-09-12 | Norbert Nix | Gerät zur Feststellung eines Lackschadens |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0100009B1 (de) | Vorrichtung zum zerstörungsfreien Messen der Einhärtetiefe von Werkstoffen | |
DE3930939C2 (de) | ||
WO2004027217A1 (de) | Verfahren zur zerstörungsfreien prüfung eines bauteils sowie zur herstellung einer gasturbinenschaufel | |
DE19529630A1 (de) | Elektromagnetisches Induktionsprüfgerät | |
EP0296417B1 (de) | Verfahren zum Untersuchen eines Objektes | |
DE3125732A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur werkstoffpruefung nach dem wirbelstromprinzip | |
DE3612470A1 (de) | Wirbelstrom-defektoskop | |
DE3401058A1 (de) | Verfahren zum zerstoerungsfreien identifizieren unterschiedlicher arten von konstruktions-walzstaehlen | |
DD256996A3 (de) | Wirbelstrom-Defektoskop | |
DE2044331A1 (de) | Vorrichtung fur die zerstörungsfreie Werkstoffprüfung | |
DE2557658A1 (de) | Verfahren zur pruefung von bauteilen auf anrisse oder fehlstellen | |
EP1216414A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur zerstörungsfreien materialcharakterisierung ferromagnetischer stoffe | |
DE3126379A1 (de) | Geraet zum messen einer magnetischen remanenzinduktion | |
DE1141099B (de) | Verfahren zur zerstoerungsfreien Werkstoffpruefung, insbesondere von Mittel- und Grobblechen, mit Hilfe von Transversalschwingungen | |
DE3120522A1 (de) | "absolutmessung der elektrischen leitfaehigkeit und der magnetischen permeabilitaet ohne eichnormale" | |
DE102005040743A1 (de) | Verfahren und Anordnung zur zerstörungsfreien Prüfung | |
DE846312C (de) | Pruefanordnung zur magnet-induktiven Werkstoff-Fehlerpruefung | |
AT232297B (de) | Gerät zur elektromagnetischen Feststellung von Fehlern an metallischen Prüflingen | |
DE102020214569A1 (de) | Prüfvorrichtung und Verfahren zur magnetischen Prüfung | |
DE3006412A1 (de) | Vorrichtung zur fehlerermittlung in elektrisch leitenden werkstoffen | |
DE102019216374A1 (de) | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Ermitteln einer Position eines Ankers innerhalb einer Spule | |
DD249339A1 (de) | Schaltungsanordnung zur bestimmung magnetischer kenngroessen von werkstoffen | |
DD209528A1 (de) | Pruefanordnung zur unterdrueckung des permeabilitaetseinflusses beim wirbelstromeinfrequenzverfahren | |
DD233197A1 (de) | Verfahren zur erkennung der aeusseren schichten von verbundwerkstoffen | |
DD299678A5 (de) | Verfahren zum bewerten von elektrisch leitfaehigen materialbereichen mit und ohne trennung und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8141 | Disposal/no request for examination |