DE3443967A1 - Vorrichtung zur pruefung von bauelementen - Google Patents

Vorrichtung zur pruefung von bauelementen

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DE3443967A1
DE3443967A1 DE19843443967 DE3443967A DE3443967A1 DE 3443967 A1 DE3443967 A1 DE 3443967A1 DE 19843443967 DE19843443967 DE 19843443967 DE 3443967 A DE3443967 A DE 3443967A DE 3443967 A1 DE3443967 A1 DE 3443967A1
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voltage
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measuring
measurement
diode
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DE19843443967
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Jürgen Dipl.-Ing.(FH) 7064 Remshalden Knödler
Hanspeter 7313 Reichenbach Leutz
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Robert Bosch GmbH
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Robert Bosch GmbH
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2843In-circuit-testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • GPHYSICS
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    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables

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Description

  • Vorrichtung zur Prüfung
  • von Bauelementen Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Prüfung von elektrischen Bauelementen gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Solche Vorrichtungen sind bereits allgemein bekannt. So wird beispielsweise eine Widerstandsmessung dadurch durchgeführt, in dem ein bekannter Strom durch den Widerstand geschickt wird und der Spannungsabfall gemessen wird.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine solche Vorrichtung zu verbessern, so daß einerseits eine hohe Meßgeschwindigkeit gegeben ist und andererseits auch komplexe Bauelemente bzw. Baugruppen ausmessbar sind.
  • Diese Aufgabe wird durch die im Anspruch 1 gekennzeichneten Merkmale gelöst.
  • Wegen der hohen Meßgeschwindigkeit und der Komplexität der zu prüfenden Bauelemente bzw. Baugruppen wurde ein Wechselspannungsmeßverfahren gewählt. Um eine Beschädigung oder Zerstörung der noch unbekannten Bauelemente zu vermeiden, wird durch eine Regelschaltung die Meßspannung von einem minimalen Wert aus hochgeregelt , bis der Meßstrom erreicht ist. Dann wird der Strom konstant gehalten. Ein zusätzlicher Schutz ist durch eine aktive Strombegrenong gegeben, so daß auch bei der Überprüfung von Halbleiterübergängen eine Zerstörung des Halbleiters ausgeschlossen ist. Die Daten der gemessenen Bauelemente insbesondere der komplexe Widerstand, der Phasenwinkel, das induktive oder kapative Verhalten, Halbleiterübergänge und parallel geschaltete Bauelemente mit Halbleiterelementen werden parallel ausgewertet. Dadurch ergibt sich ein Zeitgewinn beim Auswerten der Meßdaten, ein schonendes Messen der Bauelemente durch die Regelung und eine bessere Auflösung bei niedrigen Meßwerten. Eine Verkürzung der Meßzeit wird mittels einer Sample- and Hold-Schaltung realisiert, die zum Spannungs- und/oder Strommaximum die Werte und ihre zeitliche Zuordnung aufnimmt.
  • Die Dekodierung erfolgt auf einfache Art und Weise mit Flip-Flops und Zählern, mittels denen auch das Phasenverhalten zwischen den Maximalwerten zwischen Strom und Spannung festgestellt wird. Für die Halbleiterauswertung ist es möglich, lediglich eine Halbwelle zu berücksichtigen.
  • Die Figur 1 zeigt ein Blockschaltbild der erfindungsgemäßen Vorrichtung, Figur 2 ein Impulsdiagramm zum besseren Verständnis der Wirkungsweise der Vorrichtung, Figur 3 ein Beispiel eines Stromregelkreises, Figur 4 den Aufbau der Regelstufe und Figur 5 die Anordnung zur Verdeutlichung der Halbleiterauswertung.
  • Die übrigen gezeigten Baugruppen sind entweder per se bekannt oder im Weiteren ausführlich beschrieben.
  • Kurzbeschreibung von Bestückstest und Messablauf Unter Bestückungstest versteht man ein Verfahren, bei dem Bauteile einer guten geprüften Leiterplatte, mit denen einer neu bestückten Leiterplatte verglichen werden, um Fehlbestückungen zu erkennen. Dieser Test soll auch automatisch ablaufen, d.h. Bauteile und -Kombinationen einer guten Leiterplatte werden gemessen, klassifiziert und die Toleranzen bestimmt, diese Werte werden dann abgespeichert (Lernphase). Im Testlauf werden dann diese Werte mit den gleichen Bauteilen und -Kombinationen von neu bestückten Leiterplatten verglichen.
  • Wegen der Bedingung unbekannte Prüflinge automatisch und zerstörungsfrei messen und bestimmten zu können, müssen Messpegel, -Strom und Messablauf folgende Kritierien erfüllen: 1. Die Messpegel müssen bei jeder Messung, auch beim Umschalten in einen anderen Messbereich, von der kleinsten Spannung z.B. iOmV so lange erhöht werden, bis der Messtrom erreicht ist.
  • 2. Eine schnelle Strombegrenzung muß verhindern, daß z.B.
  • eine Diode durch einen zu großen Strom zerstört wird.
  • 3. Nach jeder Messung muß eine Erholzeit zur Verfügung gestellt werden, in der die Regelung die Meßspannung absenkt, den Meßeingang überbrückt, die Meßbereichsschalter und die Relais zum Zu- und Abschalten des Prüflings betätigt.
  • Messablauf: An den Prüfling wird eine kleine Wechselspannung angelegt, die so lange erhöht wird, bis der Meßstrom durch den Prüfling erreicht ist, der dann konstant gehalten wird.
  • Durch Auswerten der Amplitude der Meßpegel (beide Halbwellen getrennt, (Diode)) und der Phase werden die Kenndaten des Prüflings (Z, Phi, induktiv/kapazitiv) ermittelt.
  • Durch Auswerten des Stromes (Überstrom), werden die Kenndaten von Dioden, antiparallen Dioden, Induktivität parallel zur Diode und deren Einbaurichtung erkannt.
  • Kombinationen aus Widerständen, Induktivitäten und Kondensatoren mit Halbleiterübergängen können auch ausgewertet werden.
  • Daten Messzeiten : 20 msec bei 4,8 kHz > Erholzeit 700 msec " 20 Hz > 235 msec.
  • Messtroeme: 10 uA > Messpg. 10 mVs / 100 mVs - 3 Vs 100 uA > 1 mA > max.Messpg. <5 Vs Messfrequ.: 4,8 kH ( R , L , C ,p-n Ueberg.) 20 Hz (nur fuer grosse Kondens.( >1uF,Elko's)) Strombegrenzung: = 2 x Imess.
  • C-Abgleich fuer parasitaere Cs ( z.B. LP, Leitungen usw.) Messbereiche: MB 1, 10uA/4,8kHz 10k - 300k - -MB 2, 100uA " 1k - 30k 1nF - 33nF 33mH - 995mH MB 3, 1mR " 10# - 3k 10nF - 3,3uF 330uH - 99,5mH MB 4, 100uA/ 20 Hz 270nF - 8uF MB 5, 1mA " 2,7uF - 800uF Beschreibung des Meßverfahrens mit Hilfe des Blockschaltbildes nach Figur 1.
  • In einem Regelkreis 2 wird der Prüfling 1 mit einer Wechselspannung steigender Amplitude beaufschlagt, bis der vorgewählte Meßstrom erreicht ist, der dann konstant gehalten wird.
  • Der Regler hat eine nichtlineare Kennlinie, dadurch werden kleine Spannungen höher bewertet (bessere Auflösung bei kleinen Meßwerten). In einer Gleichrichterschaltung 3 wird die Meßspannung in einen positiven und negativen Anteil aufgeteilt und in den aktiven-Filtern 4 (bei 4,8 kHz Messungen) aufintegriert. Die Gleichspannung ist proportional dem Betrag des Widerstandes des Prüflings. Bei der 20 Hz Messung werden die Spannungswerte mit Sample-and Hold-Schaltungen 5 abgetastet und gespeichert, da die Meßzeit beim Aufintegrieren durch Filter wegen deren großer Zeitkonstanten überschritten würde. (tmess 2 Sek,; tats. 700 msec).
  • Die Sample-and Hold-Schaltungen werden durch eine Meßzeitpunktschaltung 6 gesteuert, im Prinzip eine Zählerschaltung, die ihre Zählfrequenz aus der zentralen Frequenzerzeugerstufe 19 (3,6 kHz) erhält und beim Nulldurchgang 9 der Meßpegel gesetzt wird. Sie schaltet bei positiven und negativen Scheitelwerten (900/2700) die jeweilig zuständige Sample-and Hold-Schaltung 5 zu. In der Regel wird die negative Halbwelle ausgewertet, es sei denn, eine Halbleiterstrecke ist parallel zum Prüfling angeordnet, die die negative Halbwelle kurzschließt bzw. bei der die Strombegrenzung anspricht, dann wird die positive Halbwelle ausgewertet.
  • Zur Phi Messung 12 und der Aussage induktives oder kapazitives Verhalten 13 werden die Ausgangssignale der Nulldurchgangsschalter für die Meßpegel 9 und den Meßstrom 10 herangezogen (Phasenverschiebung zwischen Strom und Spannung vor- bzw. nacheilend). Die Nulldurchgangsschalter setzen die Meßspannungs- und -Stromsignale in jeweils phasenrichtige Rechteckimpulse um. (Ansprechempfindlichkeit <10 mV).
  • Aus diesen Impulsen wird ein Differenzimpuls gebildet (Fig. 2).
  • Vier dieser Impulse werden zur Mittelung mit einer Auflösung von 2° ausgezählt (864 kHz für 4,8 kHz Messungen aus den PLL-Frequenzvervielfacher 21, 3,6 kHz für 20 Hz-Messungen). Durch rechtsverschieben des binären Ergebnisses wird die Summe durch zwei geteilt, d.h. das Ergebnis wird in 10 Schritten ausgegeben.
  • Bei der Auswertung induktives oder kapazitives Verhalten 13 wird das negierte Signal des O-Stromschalters 10 auf den D-Eingang eines Flip-Flop gegeben, das O-Spannungssignal 9 auf den Clock Eingang. Im Ruhezustand ist Q = O d.h. C-Verhalten. Ist das negierte O-Stromsignal vorher vorhanden (D-Eingang = 1), bringt das O-Spannungssignal 9 das Flip-Flop zum Kippen, Q wird 1, d.h. L-Verhalten.
  • Um Meßfehler durch das Einschwingen der Schaltung zu vermeiden, wird mit einer Wartezeitschaltung 11 (Zähler), die in ihrer Zeit umschaltbar ist (320 Hz/20 Hz), während der Einschwingzeit die Meßschaltung blockiert. (Wartezeit für 4,8 kHz 12,5 msek.für 20 Hz 200 msek.). Die Strombegrenzungsschaltung 14 spricht bei einem Überstrom von = 2 ' Imess an.
  • Sie begrenzt dann diese Halbwelle der Wechselspannung auf S200 mV und wird mit dem Nulldurchgang der Meßspannung wieder zurückgesetzt. Gleichzeitig wird das Ansprechen der Strombegrenzung zur Erkennung von p-n Übergängen eingesetzt, da hier in der Durchlaßrichtung der Strom stark ansteigt. Das Ansprechen der Schaltung wird, abhängig von der Polarität der Halbwelle, in Flip-Flopsgespeichert, dadurch ist die Richtung des p-n Überganges schon erfaßt (18). Eine "Oder"-Verknüpfung beider Flip-Flop ergibt die Aussage "p-n Übergang vorhanden" (15), eine "UND"-Verknüpfung die Aussage "antiparallele p-n Übergänge" (17).
  • Hat der Meßstrom einen großen Gleichanteil, (Fig. 5), handelt es sich bei dem Prüfling um eine Spule parallel mit p-n-Übergängen. Hier wird der Mittelwert des Meßstromes von 17 gebildet und durch das Ansprechen eines von zwei Komparatoren, a) "Spule mit parallelen p-n-Übergängen" und b) die Einbaurichtung erfaßt.
  • Meßstromregelung (Fig. 3) Daten:
    Meßzeit: 20 msec bei 4,8 kHz
    # Erholzeit 2,5 msec
    700 msec bei 20 Hz Erholzeit2,5 msec
    Meßströme: 10 /uA
    100 uA Meßspannung 1OmV - 3V
    1 mA max. Meßspannung 5V5
    Meßfrequenz: 4,8 kHz (R, L, C, p-n Übergang) 20 Hz (nur für große C's (71/uFuF Elkos) p-nÜb.) Strombegrenzung: 2. Imess. Sie spricht auf Überstrom an, wird gespeichert und nach jeder Halbwelle beim Nulldurchgang der Spannung zurückgesetzt.
  • (Diodenmessungen).
  • C-Abgleich für parasitäre C's (z.B. LP, Leitungen usw.) Meßbereiche Z C L MB 1 10µA/4,8 kHz 10 k - 300 k -MB 2 100 /u/4,8 kHz 1 k - 30 k 1 nF - 33 nF 33 mH-995 Mb MB 3 1 mA/4,8kHz 10 - 3k 10 nF - 3,3 /uF 330 /uH-995,b MB 4 100 µA/20 Hz 27onF-8/uF MB5 5 1 mA/20 Hz 2,7/uF-800 /uF In sämtlichen Meßbereichen müssen p-n Übergänge und deren Einbaurichtung erkannt werden. Um guarden zu können, muß der Ausgangsstrom des Ansteuerverstärkers größer sein, als der maximale Meßstrom. (Ausgangsstrom = maximaler Meßstrom und maximaler Guardstrom).
  • Bei zu großem Guardstrom entstehen aufgrund der Übergangswiderstände (Testnadeln usw.) Meßfehler (bei 10 mA bis 50 ). Wegen der Bedingung, unbekannte Prüflinge automatisch und zerstörungsfrei messen zu können, muß bei jeder Messung, auch beim Umschalten in einen anderen Meßbereich, die Meßspannung von der kleinsten Spannung C10 mV so lange erhöht werden, bis der Meßstrom erreicht ist, der dann konstant gehalten wird. Nach jeder Messung wird eine Erholzeit (2,5 msek.) zur Verfügung gestellt, in der die Regelung die Meßspannung absenkt, den Meßeingang überbrückt, die Meßbereichsschalter und die Relais zum Zu-und Abschalten des Prüflings betätigt werden.
  • Funktionsbeschreibung anhand des Blockschaltbildes (Fig. 3) An einen Prüfling wird in Punkt A eine Meßspannung angelegt. Der resultierende Meßstrom i wird im -Wandler m (IC9) (invert. Op.) in eine proportionale Spannung ui umgesetzt und entsprechend den Meßbereichen gewichtet.
  • Diese Spannung wird, ausgekoppelt über einen Kondensator (4,8 kHz m. L-M.) oder direkt bei 20 Hz, einem Präzisionsdoppelweggleichrichter (IC8) mit veranderlicher Verstärkung zugeführt und gleichgerichtet. Die veränderliche Verstärkung wird bei Messungen mit Dioden benötigt.
  • Um die teilweise fehlenden Halbwellen zu kompensieren, wird hier der Meßwert bei Diodenverhalten (Ansprechen der Strombegrenzung) verstärkt. Das gleichgerichtete Signal wird über Filter dem Regelverstärker (IC5) als Ist-Wert zugeführt. Wegen der großen Frequenzdifferenz (4,8 kHz, 20 Hz) wurde das Filter doppelt ausgeführt, d.h. zum 4,8 kHz Filter wird bei 20 Hz ein zusätzlicher Filterzweig parallel geschaltet, dieser wird aber, um die Einschwingzeit z.B. beim Übergang von MB3 (4,8 kHz) auf MB4 (20 Hz) klein zu halten, auch bei 4,8 kHz-Messungen dauernd nachgeführt.
  • Der Regelverstärker (IC5) wurde als Regler mit Verzögerung ausgeführt. Er ist umschaltbar (4,8 kHz-, 20 Hz-Betrieb), hat eine nichtlineare Ausgangskennlinie und ist innerhalb 2 msek. rücksetzbar, d.h. innerhalb der 2,5 msek. Erholzeit nach einem Meßvorgang muß die Reglerausgangsspannung auf -0,6V und damit die Ansteuerspannung des Prüflings auf den kleinsten möglichen Wert abgeregelt werden. Dies ist nötig, um bei einer nachfolgenden Messung den folgenden Prüfling nicht durch eine noch anstehende Spannung zu beschädigen oder zu zerstören. Wegen der kurzen Meßzeit muß der Regler asymptotisch einschwingen. Ein steiler Anstieg der Reglerausgangsspannung und dadurch der Meßspannung würde: a) Zum Überschwingen führen. Dadurch könnte erst sehr viel später als beim asymptotischen Einschwingen die Meßspannung ausgewertet werden.
  • b) Bei der Messung von Induktivitäten, beim Einschwingen, einen Gleichanteil des Meßstromes zur Folge haben, der wiederum die Regelcharakteristik verändert und eventuell die Strombegrenzung zum Anprechen bringt.
  • Mit dem nichtlinearen, spannungsabhängigen Netzwerk aes Reglers wird bei kleinen Meßspannungen die Ausgangskennlinie verändert, um eine größere Auflösung zu bekommen; gleichzeitig werden Regelcharakteristik und die Kennlinie des Stellgliedes angepaßt. Der Reglerausgangsstrom steuert über eine Leuchtdiode und einen Opto-FET (H11) die Verstärkung eines Verstärkers (IC5 ), an dessen Eingang eine Sinusspannung von 522mm 4,8 kHz/20 Hz liegt. Die Ausgangsspannung des Verstärkers wird über Kondensatoren ausgekoppelt (Offset) und über einen Schalter S dem Treiberverstärker IC7 zugeführt. Der Schalter S soll die Spannungsreduzierung der Meßspannung auf < 200 mV darstellen, die nötig ist, wenn die Überstrombegrenzung anspricht (z.B.
  • bei Dioden als Prüfling).
  • Weitere angeschlossene Baugruppen: C-Kompensation Parallel zum Prüfling liegt eine Schaltung (IC6) zur Kompensation parasitärer Kondensatoren (z.B. LP, Leitungen im EKO usw.). Sie ist über Potentiometer abgleichbar.
  • Nulldurchgangsschalter Spannung (9) Signal: Meßspannung Benötigt für: T -Messung, Rücksetzen der Überstrombegrenzung Nulldurchgangsschalter Strom (10) Signal: Meßstromproport. Ausgangsspanung des I/U-Wandlers (ich) Benötigt für: ff -Messung.
  • Überstrombegrenzung: Signal: s.o. Ausgangsspannung des I/U-Wandlers (IC9) Benötigt für: Begrenzung des Überstromes (z.B. Diodenmessungen) über S; Erkennen von Dioden, antiparallelen Dioden, Induktivitäten parallel Dioden.
  • Induktivitäten parallel zu Dioden: (16) Signal: s.o. Ausgangsspannung I/U-Wandler.
  • Bei einer Induktivität hoher Güte parallel mit einem p-n Übergang bildet sich ein Meßstrom mit so großem Gleichanteil aus, daß die Strombegrenzung anspricht. Die Polarität des Gleichanteiles des Meßstromes gibt die Einbaurichtung des p-n-Überganges an.
  • Das Filter besteht aus zwei Teilen: Teil 1: stellen das Filter für den 4,8 kHz Bereich dar.
  • Teil 2: wird zu Teil 1 parallel geschaltet und bildet mit ihm zusammen das 20 Hz Filter.
  • Der 2. Teil des Filter wird über einen Widerstand, auch bei Messungen im 4,8 kHz Bereich, dauernd nachgeführt. Dies ist nötig, da unmittelbar nach einer 4,8 kHz Messung eine 20 Hz Messung folgen kann z.B. beim Übergang vom MB3 auf MB4 oder beim Testen. Die Zeitkonstante des Filters hängt nicht nur von der Meßfrequenz ab, sondern steht in engem Zusammenhang mit der Regelzeitkonstante und dem Einschwingverhalten des Regelkreises; d.h. bei Änderungen der Filterzeitkonstante müssen diese Faktoren berücksichtigt und überprüft werden.
  • Die Welligkeit der Filterausgangsspannung ist relativ groß, sie wirkt sich jedoch nicht so stark aus, da der Regler selber als Siebglied wirkt.
  • Der Regler (Fig. 4) Mit der Regelschaltung wird der Ist-Wert des Meßstromes, mit dem Sollwert verglichen und so lange nachgeregelt, bis beide Werte identisch sind. Als Koppelelement zum Stellglied (regelbarer Verstärker, IC5) dient ein Optokoppler mit einem FET als veränderlichem Widerstand. Mit diesem FET wird der Rückkoppelwiderstand eines nichtinvertierenden Verstärkers (IC5') verändert, und damit auch seine Verstärkung.
  • Funktion; Ist-Wert.
  • Die Gleichrichterausgangsspannung (prop. T ) wird in einem me s s nachfolgenden Filter integriert und über R47 dem negativen Eingang des Reglers zugeführt. Im eingeschwungenen Zustand der Regelung beträgt die Spannung ungefähr 1,3 V.
  • Soll-Wert.
  • Aus einer 5V Konstangspannungsquelle wird durch einen Spannungsteiler R50, R51, R52, die Sollspannung 1,3V des Reglers erzeugt. Um den Meßstrom einstellen zu können, ist die Spannung abgleichbar.
  • Regler.
  • Die für 4,8 kHz und 20 Hz-Betrieb umschaltbaren Zeitkonstanten bestimmen die Anstiegs zeiten bzw. die Einschwingzeit des Reglers, und unter Berücksichtigung des umschaltbaren Filter hauptsächlich das Verhalten des Regelkreises (Einschwingen, Einschwingverhalten usw.). Die Anstiegszeiten der Reglerausgangsspannung außerhalb des Regelbereichs betragen für 4,8 kHz 1,7 msek./Volt und für 20 Hz 58 msek./Volt.
  • Wegen der kurzen Meßzeiten sollte der Einschwingvorgang sehr schnell sein. Dies hat allerdings zur Folge, daß bei einer Induktivität als Prüfling durch das schnelle Einschwingen ein Gleichanteil des Meßstromes auftritt, der im kritischen Fall die Strombegrenzungsschaltung zum Ansprechen bringen kann.
  • Wegen Welligkeiten wird das Meßsignal in der Amplitude moduliert, d.h. schlechte Auflösung bei kleinen Meßspannungen.
  • Das bedeutet kurze Einschwingzeiten und kleiner Ra wegen der Meßzeiten, lange Einschwingzeiten und großer Ra wegen den Messungen von Induktivitäten und der Auflösung bei kleinen Meßspannungsamplituden.
  • Einflußmöglichkeiten a) IF der Leuchtdiode ist nicht beeinflußbar, aber Ra! b) Schwellenspannung nicht beeinflußbar, c) Vorspannung ist beeinflußbar, aber der Tempgang von D40 - 42 und der LED (H11) muß berücksichtigt werden (Sicherheitsabstand).
  • D.h. der Ausgangswiderstand sollte für kleine Meß-(Regler) Spannungen hochohmig und für große Ausgangsspannungen wegen den Meßzeiten niederohmig sein. Gelöst wurde das Problem mit Hilfe eines nichtlinearen spannungsabhängigen Dioden-Widerstands-Netzwerkes, d.h. für kleine Meßspannung beträgt Ra 1,1 kQ für große > 200 kR (s. Änderungen des Reglerausgangswiderstandes) Nach einer Messung muß während der Erholzeit die Meßspannung abgeregelt werden, d.h. der Regler muß auf seinen Ausgangszustand (URegel ( -0,5V) innerhalb von 2,5 msek. zurückgehen. Hierzu wird S8 geschlossen und über einen Widerstand werden die Kondensatoren C13/C14 umgeladen. D40-42 begrenzen den Ausgangsspannungshub nach unten (Einschwingzeit, Temperaturgang der Diode). Der regelbare Verstärker IC5' ist als nichtinvertierender Verstärker aufgebaut, in dessen Rückkoppelzweig als veränderlicher Widerstand der Opto-FET des Bausteins H11 eingebaut ist. Die Strombegrenzung spricht bei einem Strom an, der dem 2-fachen Meßstrom ist. Dieser Fall tritt ein, wenn z.B. ein p-n Übergang im Meßkreis liegt.
  • Gleichrichtung beider Halbwellen Die Wechselspannung die am Prüfling ansteht ist ein Maß für dessen Größe (ÜZ). Diese Spannung wird gleichgerichtet und der Mittelwert gebildet. Die so erhaltene Gleichspannung wird dem A/D-Wandler 7 zugeführt. Die dem Prüfling proportionale Wechselspannung wird auf eine Polaritätsweiche mit Einweggleichrichtung 3 gegeben. Dies ist notwendig, weil beide Halbwellen ausgewertet werden müssen. Denn man möchte auch eine Aussage über ein Bauteil haben, das parallel zu einer Halbleiterstrecke ist.
  • Die Trennung beider Halbwellen wir über einen Operationsverstärker mit zwei Gegenkopplungspfaden realisiert. In den GegenkopFlungsstrecken befindet sich jeweils eine Diode in Serie zum Gegenkopplungswiderstand. Diese Dioden bestimmen, welche Halbwelle über welchen Gegenkopplungspfad ausgeregelt wird. Vor den Dioden werden die Halbwellen abgenommen und den Filtern zugeführt. Die Drift der Schwellenspannung der Dioden wirkt sich nicht aus, weil der Operationsverstärker diese ausregelt. Die Mittelwertbildung wird mit einem aktiven Filter zweiter Ordnung realisiert.
  • Messung Wenn die Wartezeit (siehe Messverzögerung) abgelaufen ist, wird Reset an einem Flip-Flop (IC1) weggenommen, so daß der nächste Clock-Puls (positve Flanke) den Q-Ausgang auf eine logische 0 setzt. Mit der 0 am Q-Ausgang werden wiederum zwei Zähler freigegeben (über Reset-Eingang). Der eine Zähler (IC4) zählt ein Fenster aus, der Zählerstand entspricht der Phasenverschiebung zwischen Strom und Spannung.
  • Das Fenster wird durch eine UND-Verknüpfung vom NS-û und NS-i erzeugt. Während der Zeit wo das Fenster offen (logische 1) ist, gelangt der Takt zum Zähler (IC4). Bei f = 4,8 me ss kHz beträgt die Taktfrequenz 864 kHz und bei f = 20 Hz mes 5 ist fTakt = 3,6 kHz. Dies ergibt eine Auflösung von 20. Es werden vier Fenster ausgezählt und das Mittel davon gebildet.
  • Halbleiterauswertung (Fig. 5) Mit Hilfe dieses Schaltungsteils bekommt man eine Aussage über: -Dioden -antiparallele Dioden -reine Induktivitäten parallel zu einer Diode -Richtung der Diode Diode steht beispielhaft für pn-Übergang.
  • Für die Diodenerkennung benötigt man 2 Flip Flops, weil zwei verschiedene Einbaurichtungen möglich sind. Das eine Flip Flop wird gesetzt bei "Diode", Polarität "positiv".
  • Das andere Flip Flop wird gesetzt bei "Diode", Polarität "negativ".
  • Die Clock-Pulse für die Flip Flops kommen von den Komparatoren, die für die Überstromerkennung zuständig sind. Da bei Kondensatoren mit parallelen Dioden zwei aufeinanderfolgende Strompulse in unterschiedlicher Richtung auftreten, wird der D-Eingang des einen Flip Flops mit dem Ausgang von NS-u und der D-Eingang des anderen Flip Flops mit dem invertierten Ausgang vom NS-u (NS-ü) verbunden. Dadurch ist sichergestellt, daß während einer Halbwelle nur ein Flip Flop auf 1 gesetzt werden kann. Ohne die Verknüpfung mit NS-u und NS-û würde bei Kondensatoren mit parallelen Dioden, "antiparallele Diode" erkannt werden (beide Flip Flops gesetzt). Der D-Eingang von dem Flip Flop das für Polarität "negativ" zuständig ist, wird mit dem NS-u verknüpft. Denn Polarität "negativ" bedeutet, die negative Halbwelle kann ausgemessen werden (Diode sperrt) und bei der positiven Halbwelle ist die Diode leitend. Und somit wird das Flip Flop bei der positiven Halbwelle angesprochen, und dazu muß der D-Eingang "1" sein, damit der Q-Ausgang des Flip Flops auch "1" wird. Bei positiver Halbwelle ist das Ausgangssignal vom NS-u "1".
  • Demzufolge muß der D-Eingang von dem Flip Flop, das für Polarität "positiv" zuständig ist, mit NS-u verbunden werden. Die beiden Flip Flop-Ausgänge werden mit einem ODER-Gatter verknüpft. Der Ausgang dieser Verknüpfung gibt darüber Auskunft, ob eine Diode als Prüfling oder als Teil eines Prüflings vorhanden ist. Eine Aussage über antiparallele Dioden bekommt man, in dem die beiden Flip Flop-Ausgänge mit einem UND-Gatter verknüpft werden. Die Information über die Richtung der Diode bekommt man, wenn der Ausgang eine' Flip Flops dazu herangezogen wird.
  • Es wurde festgelegt: Richtung positiv" e t Diese Information wird nicht direkt herausgegeben, sondern mit Induktivität parallel Diode verknüpft. Wenn keine Induktivität parallel zur Diode geschaltet ist'dann gilt die Information über die Richtung einer Diode (falls eine vorhanden ist), die von der eben beschriebenen Dioden-Erkennung ermittelt wurde. Wenn ein Induktivität parallel zu einer Diode geschaltet ist, dann wird die Richtungsinformation der Dioden-Erkennung abgeschaltet und es gilt die Richtung, die von der Induktivität parallel zur Diode-Erkennung ermittelt wird.
  • Induktivität parallel zu Diode: Bei reiner Induktivität parallel zu einem pn-Übergang bekommt man einen Gleichanteil des Stromes von ca. 2 . 1 . Dadurch, daß durch die me ss Diode eine Halbwelle begrenzt wird (C 200 mV ), entsteht ein Gleichanteil bei der Spannung. Dies bewirkt einen Gleichanteil des Stroms durch die Spule, der sich auf ca. 2 . l mess einpendelt, weil bei ca. 2 . lmess die Strombegrezung einme ss geschaltet wird. Wenn der Gleichanteil des Stroms durch die Spule diesen Wert erreicht hat, wird die Strombegrenzung nicht mehr ausgeschaltet und es kann kein Betrag des Widerstandes gemessen werden (uj 200 mV). Bei einer reinen Spule baut sich der Gleichanteil langsam ab. Wenn nun der Strom durch die Spule 2 . lmess wird, kann die Strombenie ss grenzung abschalten (bei der Halbwelle, wo die Diode sperrt).
  • Dadurch entsteht aber wieder ein Gleichanteil bei der Spannung und somit steigt der Gleichanteil des Stroms ebenfalls wieder an. Von der Ausgangsspannung des I/U-Wandlers wird der Mittelwert gebildet. Bei der Spannung, die ca. 2 . Ai entnie ss spricht, schaltet einer der beiden Komparatoren. Ein Komparator schaltet bei der positiven Auslenkung, er andere bei der negativen Auslenkung. Die Ausgänge der Komparatoren werden über eine ODER-Verknüpfung miteinander verbunden. Der Ausgang dieser Verknüpfung sagt aus, ob eine Induktivität parallel zu einer Diode vorhanden ist oder nicht. Für die Information über die Polarität wird ein Ausgang eines Komparators verwendet und mit der Polarität von der Dioden-Erkennung verknüpft. (Polarität ^ Richtung).

Claims (1)

  1. Anspruch Vorrichtung zur Prüfung von elektrischen Bauelementen mittels einer Strom- und/oder Spannungsmessung, dadurch gekennzeichnet, daß als Prüfsignal eine Wechselspannung Verwendung findet, deren Strom durch den Prüfling langsam bis zu einem vorgegebenen Wert erhöht wird, und daß die über dem Prüfling abfallende Spannung und/oder ihre Phase zum Strom und/oder das Verhalten einer jeden Halbwelle der Spannung oder des Stromes zur Bestimmung des Prüflings dient.
DE19843443967 1984-12-01 1984-12-01 Vorrichtung zur pruefung von bauelementen Withdrawn DE3443967A1 (de)

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