DE3422988A1 - Verfahren und vorrichtung zum messen der querkontraktion einer laenglichen probe - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zum messen der querkontraktion einer laenglichen probe

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Norbert Dipl.-Phys. Dr. 7507 Pfinztal Eisenreich
Adam Dipl.-Ing. 7529 Karlsdorf-Neu Geißler
Hans-Peter Dipl.-Ing. 7519 Zaisenhausen Kugler
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/16Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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Description

  • Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Querkontraktion einer länglichen
  • Probe Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Messen der Querkontraktion einer länglichen Probe, wie einer Schulterprobe, wobei die Probe an ihren Enden eingespannt und eine Spannung auf sie ausgeübt wird sowie eine Vorrichtung zur Messung der Querkontraktion einer länglichen Probe mit einer Zugeinrichtung sowie einer Einrichtung zur Messung der Breitenänderung der Probe.
  • Zur Messung der Querkontraktion einer länglichen Probe, sei es eine Schulterprobe oder einer Rohrprobe sind bisher mechanische Verfahren bekannt, die mit Dehnungsmeßstreifen oder mit Wegaufnehmer arbeiten. Der Wegauf nehmer muß dabei über ein Gestänge durch Ausgleichsmassen ähnlich dem Tonabnehmer eines Schallplattenspielers genau austariert werden, so daß durch das Gewicht der Meßeinrichtung eine Rückwirkung auf die Probe erfolgt. Es ist ein äußerst genaues Austarieren erforderlich; Erschütterungen beim Messen müssen auf jeden Fall vermieden werden, da sonst das den Wegaufnehmer tragende Gestänge in Bewegung kommt und damit die Messung ungenau wird. Der Wegaufnehmer selbst, weist eine quer zur Probe freibewegliche Meßzunge mit einer Meßspitze auf, die die Probe als Taster berührt. Über eine Justierschraube wird eine auch der Kalibrierung zugrunde liegende Vorspannung aufgebracht, die ausreichen muß, das ausbalancierte System über die Meßspitze an der Probe zu fixieren. Abgesehen von dem hohen Aufwand und der erforderlichen Genauigkeit, mit dem das System eingerichtet werden muß, weist es weitere Nachteile auf. Zum einen bewegen sich bei der Ausübung von Spannung der rauhe Rand der Probe über die Meßspitze hinweg, d.h. wenn die Meßspitze im Ausgangszustand beispielsweise einen leichten, gegebenenfalls rur imum -Bereich liegenden Höcker anlag, so kann dieser sich von der Meßspitze bei der Ausübung der Zugspannung so fortbewegen, daß die Meßspitze in ein Tal am Probenrand zum Eingreifen kommen. Hierdurch wird die gesamte Messung ungenau bzw. es ergeben sich erhebliche Streuungen bei einer solchen Messung.
  • Ein weiterer Nachteil liegt darin, daß die Messung nur mit einer geringen endlichen Geschwindigkeit durchgeführt werden kann, wobei bei bekannten Meßvorrichtungen mit Dehnungsgeschwindigkeiten Yx mit bis zu 10 gearbeitet wurde (die Dehnung ist die relative Längenänderung und damit dimensionslos). Da das Querkontraktionsverhalten oder die Querkontraktion aber von der Dehngeschwindigkeit abhängt, weil bei langsam erfolgenden Dehnungen insbesondere Kunststoffen plastisch ,nachkr i echen", kann dann mit dieser Vorrichtung nicht das rein elastische Verhalten ermittelt werden; auch können keine Schnellreißversuche durchgeführt werden.
  • Zum vorstehend genannten Stand der Technik wird verwiesen auf Meßtechnische Briefe 19 (1983, Heft 3, S.58ff).
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahen und eine Vorrichtung zum Messen der Querkontraktion zu schaffen, die die vorgenannten Nachteile vermeiden und insbesondere weniger aufwendig und unempfindlicher gegen äußere Einflüsse sind sowie Messungen mit höherer Dehnungsgeschwindigkeit erlauben.
  • Erfindungsgemäß wird die genannte Aufgabe bei einem Verfahren der eingangs genannten Art dadurch gelöst, daß die Probe mit einem Lichtstrahl endiicher Ausdehnung bestrahlt und der Lichtanteil hinter der Probe gemessen wird.
  • Eine Vorrichtung zur Messung der Querkontraktion sieht vor, daß die Einrichtung zur Messung der Breitenänderung der Probe eine vor der Probe angeordnete Lichtquelle mit einer Abbildungsoptik und eine hinter der Probe auf einer durch Lichtquelle, Abbildungsoptiken und Probe bestimmten optischen Achse angeordneten Lichtempfänger aufweist.
  • Durch das erfindungsgemäße optische Verfahren sowie die optische Vorrichtung wird ein einfaches schnelles und genaues Messen der Querkontraktion möglich, das gegen äußere Einflüsse , wie Erschütterungen nahezu unempfindlich ist. Durch das erfindungsgemäße Verfahren können Messungen mit höchster Genauigkeit und insbesondere Auflösungen unter 1 um durchgeführt werden. Aufgrund der Einfachheit des Verfahrens kann dieses auch in der industriellen Werkstoffprüfung eingesetzt werden, wo die bisherigen aufwendigen mechanischen Verfahren nicht eingesetzt wurden, da sie aufgrund ihres Aufwandes, der Erforderl ichkeit der Genauigkeit des Arbeitens sowie des Zeitaufwandes nur in Wissenschaft und Forschung eingesetzt werden konnten, nicht aber zur regelmäßigen Überwachung der Herstellung von Werkstoffen etc.. Weiterhin ist bei dem erfindungsgemäßen berührungslosen Verfahren keine nachteilige Rückwirkung der Meßanordnung auf die Probe gegeben. Cas erfindungsgemäße Verfahren gestattet eine problemlose Meßwertverarbei tung, mittels Operat i onsver -stärkern, da die Photoempfängeranordnung bereits eine dem Meßwert proportionale Gleichspannung liefert. Darüberhinaus kann das erfindungsgemäße Verfahren auch in einfacher Weise dazu eingesetzt werden5 die gemessene Querkontraktion zum Steuern der Zugspannung in einem System, gegebenenfalls im Sinne eines Regelkreises direkt einzusetzen.
  • Ein weiterer Vorteil der Erfindung liegt darin, daß Messungen mit hohen Dehnungsgeschwindi gkeiten bis zu Schnell rei ßversuchen durchgeführt werden können, womit das Kontraktionsverhalten von Werkstoffen im Bereich der Grenzbeanspruchungen bei großen Z ugspannungsänderungen mit hoher Genauigkeit gemessen werden kann. Darüberhinaus kann durch das erfindungsgemäße Verfahren das rein elastische Verhaiten, d.h. die reine elastische Querkontraktion mit hoher Genauigkeit bestimmt werden, ohne daß hierzu Extrapolationen der geschwind gkei tsabhäng i gen Querkontrakt i onszah 1, die bei niedrigen Dehnungsgeschwindigkeiten neben dem Anteil I des elastischen Verhaltens auch einen des plastischen Verhaltens enthält, notwendig sind.
  • Bevorzugte Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen Verfahrens sehen vor, daß die Probe mit diffusen homogenen Licht bestrahlt wird und daß der auf die Probe auftreffende Lichtstrahl aus einem breiteren Lichtstrahl ausgeblendet wird. Die Breite des auftreffenden Lichtstrahls in Richtung der Erstreckung der Probe wird dabei so gewählt, daß die Rauigkeiten im Randbereich der Probe ausgemittelt werden. Eine Weiterbildung der erfindungsgemäßen Vorrichtung sieht vor, daß die Abbildungsoptik zumindestens einen den Lichtstrahl der Lichtquelle in einem Parallelstrahl abbildende Linse aufweist. Die Ausblendung eines geeigneten schmalen Lichtstrahls erfolgt dadurch, daß die Abbildungsoptik einen zwischen Probe und Lichtquelle angeordneten, sich quer zur Längserstreckung der Probe erstreckenden Spalte aufweist. Zur Untersuchung des Zugverhaltens, beispielsweise einer Rohrprobe o.dgl., können auch gleichzeitig mehrere Messungen aus verschiedenen Richtungen durchgeführt werden.
  • Weitere Vorteile und Merkmale der Erfindung ergeben sich aus den Ansprüchen und aus der nachfolgenden Beschreibung, in der eine Ausführungsbeispiel unter Bezugnahme auf die Zeichnungen im einzelnen erläutert ist.
  • Dabei zeigt: Figur 1 eine schematische Darstellung einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung; Figur 2 die perspektivische Darstellung einer zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens zu verwendenden Schulterprobe; und Figur 3 eine Ausschnittsdarstellung einer Sicht auf die Probe (2) von der Lichtquelle (4) der Figur 1 her.
  • Die in der Figur 1 dargestellte Vorrichtung 1 zum Messender Querdehnung einer Schulterprobe 2 im Zugversuch, weist Klemmeinrichtungen 3 zum Festklemmen der Schulterprobe 2 auf. Die Klemmeinrichtungen 3 sind mit einer Zugeinrichtung verbunden, über die sie mit wählbarer Geschwindigkeit voneinander fortbewegt werden können. Auf einer Seite der Schulterprobe 2 ist ein Beleuchtungselement 4 , wie beispielsweise eine herkömmliche Lampe angeordnet. Zwischen Schulterprobe 2 und Lampe 4 ist eine Abbildungsanordnung 6 vorgesehen, die im einfachsten Falle aus einer optischen Linse besteht, die den von der Beleuchtungseinrichtung 4 ausgesandten Lichtstrahl in einen Paralieistrahl abbildet. Zwischen der Abbildung 6 und der Schulterprobe 2 ist dann weiterhin noch eine Ausblendeinrichtung 7 in Form eines Schlitzes vorgesehen, die aus dem von der Abbildungsoptik 6 kommenden Parallel strahl einen schmalen Strahl ausblendet, dessen Quererstreckung quer zur Ausrichtung der Schulterprobe verläuft. Auf der der Beleuchtungseinrichtung 4 abgewandten Seite der Schulterprobe ist im durch Beleuchtungseinrichtung 4, Abbildungsanordnung 6, Spalt 7 und Schulterprobe 2 bestimmten optischen Achse ein Photodetektor 8 angeordnet.
  • Wird nun die Schulterprobe 2 von der Beleuchtungseinrichtung über die Abbildungsanordnung 6 und den Schlitz 7 beleuchtet, so kann gegebenenfalls die Länge des Schlitzes 7 derart eingestellt werden, daß 1 solange keinerlei Spannung auf die Schulterprobe 2 ausgeübt wird, diese gerade den Schlitz 7 vollständig abdeckt, so daß kein Licht auf den Lichtempfänger 8 fällt.Es kann auch ein elektronischer Nullabgleich der Photospannung bei nicht ausgeübter Zugspannung erfolgen. Wird nun eine Zugspannung auf die Schulterprobe 2 ausgeübt, so zieht sie sich aufgrund der Querkontraktion hin zur Zugrichtung senkrechten Richtung zusammen, vermindert also ihre Breite beispielsweise von b über b' nach b ", wodurch jeweils immer mehr Licht über die Bereiche F1 bei Breite b' und zusätzlich F2 bei Breite b" auf den Lichtempfänger 8 fällt. Die zusätzlich auf den Lichtempfänger fallende Lichtlänge ist dabei der Breitenänderung proportional aufgrund des auf die Probe auffallen< Strahls mit dem Querschnitt eines gestreckten Rechtecks. Ist die Breitenänderung von b nach b', also b - b' gleich der von b' nach b", also b' - b", so sind die Flächenbereiche F1 und F2 ebenballs gleich, wobei diese Flächenbereiche die jeweils durch die Querkontraktion bei der jeweiligen Breitenänderung von der Schulterprobe weiter freigegebene Querschnittsfläche des Lichtstrahls angeben. Aus diesem Grunde ist es auch nicht notwendig, die Länge des Spalts 7 so einzustellen, daß bei Ausübung keiner Spannung kein Licht auf den Empfänger 8 fällt. Der Empfänger 8 und die das von ihm empfangene Lichtsignal verarbeitende Elektronik kann vielmehr so geeicht werden, daß auch bei auffal!endem Anfangslicht die Querkontraktion in Abhängigkeit von Oer auffallenden Lichtmenge jeweils genau in Abhängigkeit von der ausgeübten Zugspannung bestimmt werden kann.
  • Wird vorstehend von Licht gesprochen, so kann es sich hierbei um sichtbares, aber auch um nicht sichtbares, wie Infrarotlicht handeln.
  • Durch das erfindungsgemäße Verfahren und die erfindungsgemäße Vorrichtung wird eine einfache und bequeme Möglichkeit geschaffen, die Querkontraktion einer Probe zu bestimmen, insbesondere bei Schnellreißversuchen, bei denen die herkömmlichen mechanischen Abtaster zu träge sind. Darüberhinaus kann das erfindungsgemäße Verfahren und die Vorrichtung mit Vorteil auf in der regelmäßigen Werkstoffprüfung in Industrielabors eingesetzt werden, bei denen weder die Zeit besteht noch mit der Fräzision gearbeitet werden kann, wie dies in Wissenschaft und Forschung möglich ist. Darüberhinaus gibt die erfindungsgemäße Vorrichtung die Möglichkeit, bei dem Einsatz entsprechender Werkstoffe in industriellen Verfahren, Betriebsabläufen etc. dazu zu nutzen, die ausgeübte Zugspannung beispielsweise in einem Regelkreis zu steuern.
  • In der vorstehenden Beschreibung, in der Zeichnung sowie in den Ansprüchen offenbarten Merkmal der Erfindung können sowohl einzeln als auch in geeigneter Kombinationen für die Verwirkl;chung der Erfindung in ihren verschiederien Ausführungsformen wesentlich sein.
  • -- Leerseite -

Claims (9)

  1. Patentansprüche 1. Verfahren zum Messen der Querkontraktion einer länglichen Probe, wie einer Schulterprobe, wobei die Probe an ihren Enden eingespannt und eine Spannung auf sie ausgeübt wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Probe mit mindestens einem Lichtstrahl endlicher Ausdehnung bestrahlt und der Lichtanteil hinter der Probe gemessen wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Probe mit diffusem homogenen Licht bestrahlt wird.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der auf die Probe auftreffende Lichtstrahl aus einem breiteren Lichtstrahl ausgeblendet wird.
  4. 4. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Lichtstrahl als Lichtband ausgebildet ist.
  5. 5. Vorrichtung zur Messung der Querkontraktion einer länglichen Probe mit einer Zugeinrichtung sowie einer Einrichtung zur Messung der Breitenänderung der Probe, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur Messung der Breitenänderung der Probe eine vor der Probe angeordnete Lichtquelle (4) mit einer Abbildungsoptik (6, 7) und eine hinter der Probe auf einer durch Lichtquelle (4), Abbildungsoptiken (6, 7) und Probe (2) bestimmten optischen Achse (9) angeordneten Lichtempfänger (8) aufweist.
  6. 6. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Abbildungsoptik (6) zumindestens einen den Lichtstrahl der Lichtquelle (4) in einen Parallelstrahl (6) abbildende Linse aufweist.
  7. 7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 4, 6 dadurch gekennzeichnet, daß die Abbildungsoptik einen zwischen Probe (2) und Lichtquelle (4) angeordneten, sich quer zur Längserstreckung der Probe (2) erstreckenden Spalte (7) aufweist.
  8. 8. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß vor der Lichtquelle eine Streuscheibe angeordnet ist.
  9. 9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche5 - 8, dadurch gekennzeichnet, daß bei einem Licht von der Lichtquelle (4) ausblendenden Schlitz die Abbildungsoptik eine zugeordnete den Schlitz auf die Probenebene abb 1 dende Zylinder linse aufweist.
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